JPH01144600A - 診断用x線装置 - Google Patents
診断用x線装置Info
- Publication number
- JPH01144600A JPH01144600A JP62186534A JP18653487A JPH01144600A JP H01144600 A JPH01144600 A JP H01144600A JP 62186534 A JP62186534 A JP 62186534A JP 18653487 A JP18653487 A JP 18653487A JP H01144600 A JPH01144600 A JP H01144600A
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- rays
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、イメージインテンシファイアを介してX線間
接撮影を行う診断用X線装置に関する。
接撮影を行う診断用X線装置に関する。
(従来の技術)
X線源から被検体に対してX線を曝射し被検体を透過し
たX線を一度光信号に変換した後、この光信号に応じた
X線像をフィルムに撮影して診断情報として用いること
が行われている。第5図はこのようなX線像を得る診断
用X線装置の従来の構成を示すブロック図で、図示しな
いコントローラから撮影信号を受けたX線制御器1はX
線発生器2に対して第6図(a)のようなX −ray
信号を送り、これによってX線発生器2はX線管3
。
たX線を一度光信号に変換した後、この光信号に応じた
X線像をフィルムに撮影して診断情報として用いること
が行われている。第5図はこのようなX線像を得る診断
用X線装置の従来の構成を示すブロック図で、図示しな
いコントローラから撮影信号を受けたX線制御器1はX
線発生器2に対して第6図(a)のようなX −ray
信号を送り、これによってX線発生器2はX線管3
。
へ所定の電圧及び電流を供給して寝台4に配置されてい
る被検体5に対してX線を曝射させる。被検体5を透過
したX線はイメージインテンシファイア(土malJe
I ntensifier、以下I 、1と称する
)6に入射し、光信号に変換された俊この光信号は光学
系7を介して間接カメラ8に伝達されてフィルムにX線
像として撮影される。
る被検体5に対してX線を曝射させる。被検体5を透過
したX線はイメージインテンシファイア(土malJe
I ntensifier、以下I 、1と称する
)6に入射し、光信号に変換された俊この光信号は光学
系7を介して間接カメラ8に伝達されてフィルムにX線
像として撮影される。
すなわち、被検体5を透過したX線は1度この量に応じ
た光信号に変換された後、フィルムに間接的に撮影され
る。このような撮影を行う場合フィルムに撮影されるX
線像の濃度を適正に制御することが重要であり、このた
めII6の出力側にII出力光を検出する検出器9を配
置して常にこの検出信号をX線自動露出制御装置(以下
露出制御装置と称する>10へフィードバックすること
が行われる。これに基づいて露出制御装置10は入力信
号を逐次積分しこの値が一定に達すると、X線制御器1
に対しX線遮断信号を供給してX−ray信号の発生を
停止させる。
た光信号に変換された後、フィルムに間接的に撮影され
る。このような撮影を行う場合フィルムに撮影されるX
線像の濃度を適正に制御することが重要であり、このた
めII6の出力側にII出力光を検出する検出器9を配
置して常にこの検出信号をX線自動露出制御装置(以下
露出制御装置と称する>10へフィードバックすること
が行われる。これに基づいて露出制御装置10は入力信
号を逐次積分しこの値が一定に達すると、X線制御器1
に対しX線遮断信号を供給してX−ray信号の発生を
停止させる。
こうして間接カメラ8に入射される光量を一定に保つこ
とにより、常に一定濃度のフィルム像が得られるような
制御がmされている。11はカメラコントローラ、12
はTVモニタである。
とにより、常に一定濃度のフィルム像が得られるような
制御がmされている。11はカメラコントローラ、12
はTVモニタである。
(発明が解決しようとする問題点)
ところで従来の装置においては、特に撮影時間を短く設
定した場合にX線管電圧波形の波尾の影響を受けて一定
濃度のフィルム像が得られないという問題がある。
定した場合にX線管電圧波形の波尾の影響を受けて一定
濃度のフィルム像が得られないという問題がある。
すなわち、X線発生器2からのケーブルを介してX線管
3へ所定の電圧及び電流を供給するときケーブル等には
電荷が蓄積されるので、この影響でX線遮断信号が供給
されてもX線管3の管電圧は瞬時に零とはならず、第6
図(b)のように指数関数的に減少するようになりいわ
ゆる波尾が発生する。R影時間が充分長く設定された場
合には波尾によるX線発生量はトータルのX線量に比べ
少ないので無視できるが、特にIIR影時開時間く設定
された場合にはこの波尾によるX線量は無視できず、こ
れに応じて第6図(C)のようにII出力波形の光量が
増加するのでフィルム像の濃度を増加させるようになる
。
3へ所定の電圧及び電流を供給するときケーブル等には
電荷が蓄積されるので、この影響でX線遮断信号が供給
されてもX線管3の管電圧は瞬時に零とはならず、第6
図(b)のように指数関数的に減少するようになりいわ
ゆる波尾が発生する。R影時間が充分長く設定された場
合には波尾によるX線発生量はトータルのX線量に比べ
少ないので無視できるが、特にIIR影時開時間く設定
された場合にはこの波尾によるX線量は無視できず、こ
れに応じて第6図(C)のようにII出力波形の光量が
増加するのでフィルム像の濃度を増加させるようになる
。
このような現象は短時間特性をと称されているがこれを
改善するため、例えばX −rayオン時から一定時間
tx (−例として5秒間)内の回路ゲインを上げるこ
とにより、予め第6図(e)。
改善するため、例えばX −rayオン時から一定時間
tx (−例として5秒間)内の回路ゲインを上げるこ
とにより、予め第6図(e)。
(f)のように波尾による光量を先取りした積分りを得
てトータルの光量を一定に補正する補正機能を持たせる
ことが行われている。しかしこのような機能は電圧、電
流が一定の場合は効果的であるが、両者が異なる場合は
波尾の大きさも異なるため効果的でない。特に間接撮影
ではシステムの感度が高く構成されているので、波尾の
影響を避けることができない。
てトータルの光量を一定に補正する補正機能を持たせる
ことが行われている。しかしこのような機能は電圧、電
流が一定の場合は効果的であるが、両者が異なる場合は
波尾の大きさも異なるため効果的でない。特に間接撮影
ではシステムの感度が高く構成されているので、波尾の
影響を避けることができない。
本発明はこのような事情に対処してなされたもので、短
時間撮影を行う場合でも波尾の影響を受けることのない
診断用X線装置を提供することを目的とするものである
。
時間撮影を行う場合でも波尾の影響を受けることのない
診断用X線装置を提供することを目的とするものである
。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
上記目的を達成するために本発明は、X線遮断信号発生
後に間接カメラに入射される光量を遮断する手段を設け
たことを特徴とするものである。
後に間接カメラに入射される光量を遮断する手段を設け
たことを特徴とするものである。
(作 用)
間接カメラに入射される光量がxm′a断信号発生後に
遮断されることにより、波尾によるX線は発生しない。
遮断されることにより、波尾によるX線は発生しない。
従って短時間撮影の場合でも一定濃度のフィルム像を得
ることができる。
ることができる。
(実施例)
第1図は本発明の第1実施例の診断用X線装置を示すも
ので、1はX線制御器、2はX線発生器、3はX線管、
4は寝台、5は被検体、6はII(イメージインテンシ
ッフイヤ)、7は光学系、8は間接カメラ、9は検出器
、10は露出制御1IIl装置(X線自動露出制御装置
〉、11はカメラコントローラ、12はTVモニタで以
上の構成は従来と同一である。
ので、1はX線制御器、2はX線発生器、3はX線管、
4は寝台、5は被検体、6はII(イメージインテンシ
ッフイヤ)、7は光学系、8は間接カメラ、9は検出器
、10は露出制御1IIl装置(X線自動露出制御装置
〉、11はカメラコントローラ、12はTVモニタで以
上の構成は従来と同一である。
13はIIブランキング制御器で、前記露出制御装置1
0からX線遮断信号がX線制御器7に供給されることに
よりこのX線制御器1から発生した制御信号が加えられ
、このタイミングでII6に対してIfブランキング信
号を加えてその動作をオフさせるように動く。
0からX線遮断信号がX線制御器7に供給されることに
よりこのX線制御器1から発生した制御信号が加えられ
、このタイミングでII6に対してIfブランキング信
号を加えてその動作をオフさせるように動く。
次に本実施例の作用を説明する。
第2図(a)のようなX −ray信号に基づいてX線
管3から被検体5に対してX線曝射が行われ、透過X線
がII6によって光信号に変換された後このII比出力
検出器9を介して露出制御装置10へ加えられ積分が行
われる。この積分値が−定に達すると露出制御装置10
はX線遮断信号を発生してX線制御器1に供給する。
管3から被検体5に対してX線曝射が行われ、透過X線
がII6によって光信号に変換された後このII比出力
検出器9を介して露出制御装置10へ加えられ積分が行
われる。この積分値が−定に達すると露出制御装置10
はX線遮断信号を発生してX線制御器1に供給する。
このタイミングでX線制御器1はX線発生器2に対しX
−ray信号の発生を停止させると同時にIIブラン
キング制御器13に対し制御信号を加える。これにより
IIブランキングIJ’fJB器13は第2図(C)の
ようなIIブランキング信号を発生してII6に加える
。この瞬間にII出力波形は第2図(d)のように零レ
ベルに変化し、第2図(b)のような管電圧波形の波尾
による光信号は出力しない。これによって積分器入力波
形は第2図(e)のよ1うに一定となり、その積分波形
は第2図(f)のように一定の割合で増加するようにな
る。尚、X −rayオン時は透視信号第2図(g)の
ようにオフ状態になっており、透視信号をオンに切り換
えることによりIIブランキング信号は解除される。
−ray信号の発生を停止させると同時にIIブラン
キング制御器13に対し制御信号を加える。これにより
IIブランキングIJ’fJB器13は第2図(C)の
ようなIIブランキング信号を発生してII6に加える
。この瞬間にII出力波形は第2図(d)のように零レ
ベルに変化し、第2図(b)のような管電圧波形の波尾
による光信号は出力しない。これによって積分器入力波
形は第2図(e)のよ1うに一定となり、その積分波形
は第2図(f)のように一定の割合で増加するようにな
る。尚、X −rayオン時は透視信号第2図(g)の
ようにオフ状態になっており、透視信号をオンに切り換
えることによりIIブランキング信号は解除される。
このように本実施例によれば、X線遮断信号発生後にX
線管3のX線曝射を停止させると同時にII6の動作を
ブランキングさせるので、管電圧波形に波尾か発生して
もこれに応じてII出力波形が増加することはなくなる
。従って光学系7を介して間接カメラ8に入射される光
量は増加しないので、短時間Vji影の場合でも一定濃
度のフィルム像を得ることができる。
線管3のX線曝射を停止させると同時にII6の動作を
ブランキングさせるので、管電圧波形に波尾か発生して
もこれに応じてII出力波形が増加することはなくなる
。従って光学系7を介して間接カメラ8に入射される光
量は増加しないので、短時間Vji影の場合でも一定濃
度のフィルム像を得ることができる。
第3図は本発明の第2実施例を示すもので、光学系7と
間接カメラ8間にオートアイリス1を設けると共に、こ
のオートアイリス14の動作を制御するオートアイリス
制御器15を設けるようにしたものである。
間接カメラ8間にオートアイリス1を設けると共に、こ
のオートアイリス14の動作を制御するオートアイリス
制御器15を設けるようにしたものである。
X線遮断信号が供給されとX線制御器1はX−ray信
号の発生を停止させると同時にオートアイリス制御器1
5に対し制御信号を加える。これによりオートアイリス
制御器15は第4図(h>のようにそれまで発生してい
た蹟影用電圧V1より高い電圧V2を発生してオートア
イリス14に加える。この瞬間にオートアイリスは仝閉
されるので間接カメラ8におけるフィルム入射光波形は
第4図(i)のように零レベルに変化し、第4図(b)
のような管電圧波形の波尾による光は入射しない。これ
より第1実施例と同様な作用、効果を得ることができる
。
号の発生を停止させると同時にオートアイリス制御器1
5に対し制御信号を加える。これによりオートアイリス
制御器15は第4図(h>のようにそれまで発生してい
た蹟影用電圧V1より高い電圧V2を発生してオートア
イリス14に加える。この瞬間にオートアイリスは仝閉
されるので間接カメラ8におけるフィルム入射光波形は
第4図(i)のように零レベルに変化し、第4図(b)
のような管電圧波形の波尾による光は入射しない。これ
より第1実施例と同様な作用、効果を得ることができる
。
[発明の効果コ
以上述べたように本発明にれば、間接カメラに入射され
る光量をX線遮断信号発生後に遮断するようにしたので
、短時間敵影における管電圧波形の波尾の影響を防止す
ることができる。
る光量をX線遮断信号発生後に遮断するようにしたので
、短時間敵影における管電圧波形の波尾の影響を防止す
ることができる。
第1図は本発明の第1実施例の診断用X線装置を示すブ
ロック図、第2図の(a)乃至(CX)は第1実施例の
作用を説明するタイムチャート、第3図は本発明の第2
実施例を示すブロック図、第4図の(a)、(b)、(
d)、(e)乃至(i)は第2実施例の作用を説明する
タイムチャート、第5図は従来例を示すブロック図、第
6図の(a>、(b)、(d)、(e)、(f)は従来
例の作用を説明するタイムチャートである。 1・・・X線制御器、2・・・X線発生器、3・・・X
線管、5・・・被検体、 6・・・II(イメージインテンシファイヤ)、8・・
・間接カメラ、10・・・X線自動露出制御装置、13
・・・IIブランキング制御器、 14・・・オートアイリス、 15・・・オートアイリス制御器。 代理人 弁理士 則 近 憲 憎同 近
藤 猛手続補正書(方式) 平成元年1月lと日
ロック図、第2図の(a)乃至(CX)は第1実施例の
作用を説明するタイムチャート、第3図は本発明の第2
実施例を示すブロック図、第4図の(a)、(b)、(
d)、(e)乃至(i)は第2実施例の作用を説明する
タイムチャート、第5図は従来例を示すブロック図、第
6図の(a>、(b)、(d)、(e)、(f)は従来
例の作用を説明するタイムチャートである。 1・・・X線制御器、2・・・X線発生器、3・・・X
線管、5・・・被検体、 6・・・II(イメージインテンシファイヤ)、8・・
・間接カメラ、10・・・X線自動露出制御装置、13
・・・IIブランキング制御器、 14・・・オートアイリス、 15・・・オートアイリス制御器。 代理人 弁理士 則 近 憲 憎同 近
藤 猛手続補正書(方式) 平成元年1月lと日
Claims (3)
- (1)被検体を透過したX線を検出して光信号に変換す
るイメージインテンシフアイア及びこれからの出力信号
をフィルムに撮影する間接カメラを備えた診断用X線装
置において、X線遮断信号発生後に前記間接カメラに入
射される光量を遮断する手段を備えたことを特徴とする
診断用X線装置。 - (2)X線遮断信号に同期したブランキング信号をイメ
ージインテンシフアイアに加えて前記光量を遮断する特
許請求の範囲第1項記載の診断用X線装置。 - (3)X線遮断信号に同期した制御信号により前記間接
カメラの絞りを全閉して前記光量を遮断する特許請求の
範囲第1項記載の診断用X線装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62186534A JPH01144600A (ja) | 1987-07-28 | 1987-07-28 | 診断用x線装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62186534A JPH01144600A (ja) | 1987-07-28 | 1987-07-28 | 診断用x線装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01144600A true JPH01144600A (ja) | 1989-06-06 |
Family
ID=16190175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62186534A Pending JPH01144600A (ja) | 1987-07-28 | 1987-07-28 | 診断用x線装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01144600A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0585172A1 (fr) * | 1992-08-26 | 1994-03-02 | Catalin Stoichita | Procédé d'acquisition d'images par rayons X et agencement pour la mise en oeuvre de ce procédé |
JP2012115576A (ja) * | 2010-12-02 | 2012-06-21 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置、放射線撮影装置、放射線撮影システム |
-
1987
- 1987-07-28 JP JP62186534A patent/JPH01144600A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0585172A1 (fr) * | 1992-08-26 | 1994-03-02 | Catalin Stoichita | Procédé d'acquisition d'images par rayons X et agencement pour la mise en oeuvre de ce procédé |
JP2012115576A (ja) * | 2010-12-02 | 2012-06-21 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置、放射線撮影装置、放射線撮影システム |
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