JPH02265199A - X線撮影装置 - Google Patents
X線撮影装置Info
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- JPH02265199A JPH02265199A JP8535489A JP8535489A JPH02265199A JP H02265199 A JPH02265199 A JP H02265199A JP 8535489 A JP8535489 A JP 8535489A JP 8535489 A JP8535489 A JP 8535489A JP H02265199 A JPH02265199 A JP H02265199A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、X線源から曝射され被検体を透過したX線を
検出手段により検出しこの検出信号を電気信号に変換し
て積分回路により積分しこの出力とX線曝射条件を設定
した基準値とを比較手段により比較して一定のフィルム
黒化度を得るようにX線曝射を制御するX線撮影装置に
関する。
検出手段により検出しこの検出信号を電気信号に変換し
て積分回路により積分しこの出力とX線曝射条件を設定
した基準値とを比較手段により比較して一定のフィルム
黒化度を得るようにX線曝射を制御するX線撮影装置に
関する。
(従来の技術)
X線撮影装置においては、被検体を所定の位置に設定し
該被検体に対して比較的多量のX線を曝射し、フィルム
に該被検体のX線撮影を行なっている。例えば被検体の
***をX線撮影する***X線撮影装置においては、一定
量のX線をフィルムに与えるべく次のようなフォトタイ
マ制御(自動露出制御)が行なわれている。すなわちX
線源としてのX線管の管電圧kVを被検体に応じて一定
値に設定しX線管から被検体の***にX線を曝射し、乳
房を透過したX線をX線検出器例えばフオドタイマに入
力する。そしてこのX線検出器に入力したX線を電気信
号に変換し、この電気信号を積分回路により積分する。
該被検体に対して比較的多量のX線を曝射し、フィルム
に該被検体のX線撮影を行なっている。例えば被検体の
***をX線撮影する***X線撮影装置においては、一定
量のX線をフィルムに与えるべく次のようなフォトタイ
マ制御(自動露出制御)が行なわれている。すなわちX
線源としてのX線管の管電圧kVを被検体に応じて一定
値に設定しX線管から被検体の***にX線を曝射し、乳
房を透過したX線をX線検出器例えばフオドタイマに入
力する。そしてこのX線検出器に入力したX線を電気信
号に変換し、この電気信号を積分回路により積分する。
さらにこの積分出力とX線曝射条件例えば管電圧kVの
設定や被検体厚み値の因子等の設定による基準値とを比
較し、フィルム黒化度が一定となるようにX線曝射を制
御している。つまり一定値の管電圧kVでX線を曝射す
ることにより、X線検出器の受光X線量が基準値となる
ようX線曝射時間を制御している。
設定や被検体厚み値の因子等の設定による基準値とを比
較し、フィルム黒化度が一定となるようにX線曝射を制
御している。つまり一定値の管電圧kVでX線を曝射す
ることにより、X線検出器の受光X線量が基準値となる
ようX線曝射時間を制御している。
またこのようなX線曝射の制御は、例えば特開昭58−
45599.特開昭58−49997.特開昭ei−3
4900、特開昭58−163200.特開昭80−3
2299で既に公知である。すなわち特開昭56−45
599.特開昭58−49997はフォトタイマで被検
体の透過X線量を検知してX線曝射時間の短縮化をはか
ったものである。特開昭131−34900は撮影部位
の透過X線量を検出し管電圧を制御することによりX線
管電圧を制御するようにした自動露出制御装置に関する
ものである。特開昭58−163200は連続撮影シス
テムにおけるフィルムのX線自動露出制御に関する。特
開昭60−32299はパノラマX線撮影装置、特に歯
科診断用としてのX線撮影装置におけるフィルムの自動
黒化度調整装置に関する。
45599.特開昭58−49997.特開昭ei−3
4900、特開昭58−163200.特開昭80−3
2299で既に公知である。すなわち特開昭56−45
599.特開昭58−49997はフォトタイマで被検
体の透過X線量を検知してX線曝射時間の短縮化をはか
ったものである。特開昭131−34900は撮影部位
の透過X線量を検出し管電圧を制御することによりX線
管電圧を制御するようにした自動露出制御装置に関する
ものである。特開昭58−163200は連続撮影シス
テムにおけるフィルムのX線自動露出制御に関する。特
開昭60−32299はパノラマX線撮影装置、特に歯
科診断用としてのX線撮影装置におけるフィルムの自動
黒化度調整装置に関する。
(発明が解決しようとする課題)
然し乍ら、従来の上記X線撮影装置にあっては、共通し
て次のような問題がある。すなわち従来のX線曝射制御
にあっては、被検体の質等の差異を曝射時間のみで制御
しているため、例えば管電圧が一定で被検体厚みが変化
した場合には、被検体厚みが厚くなる程曝射時間が長く
なる。しかし、曝射時間が長くなると、フィルムの散乱
線吸収が増え、すなわち長時間曝射時の被検体厚み等の
散乱線の増加により画質的に濃度が濃くなったり、ボケ
た感じになってくる。またX線管最大負荷防止回路の動
作、運動ボケ発生、フィルム光露光の相反則不規の影響
等により画質の劣化となり、均一な黒化度が得られない
という問題があった。
て次のような問題がある。すなわち従来のX線曝射制御
にあっては、被検体の質等の差異を曝射時間のみで制御
しているため、例えば管電圧が一定で被検体厚みが変化
した場合には、被検体厚みが厚くなる程曝射時間が長く
なる。しかし、曝射時間が長くなると、フィルムの散乱
線吸収が増え、すなわち長時間曝射時の被検体厚み等の
散乱線の増加により画質的に濃度が濃くなったり、ボケ
た感じになってくる。またX線管最大負荷防止回路の動
作、運動ボケ発生、フィルム光露光の相反則不規の影響
等により画質の劣化となり、均一な黒化度が得られない
という問題があった。
そこで本発明の目的は、被検体の質等に関係なく、長時
間曝射時の被検体厚み等の散乱線の増加等の影響により
画質の劣化を生じることなく、フィルムの均一な黒化度
を得るX線撮影装置を提供することにある。
間曝射時の被検体厚み等の散乱線の増加等の影響により
画質の劣化を生じることなく、フィルムの均一な黒化度
を得るX線撮影装置を提供することにある。
[発明の構成]
(課題を解決する為の手段)
本発明は上記の課題を解決し目的を達成する為に次のよ
うな手段を講じた。すなわち本発明は、X線源の電圧設
定に対応した電圧を高電圧発生回路で発生させることに
より、該X線源から曝射され被検体を透過したX線を検
出手段により検出しこの検出信号を電気信号に変換して
積分回路により積分しこの出力とX線曝射条件を設定し
た基準値とを比較手段により比較して一定のフィルム黒
化度を得るようにX線曝射を制御するX線撮影装置にお
いて、X線曝射開始から略数msの期間前記検出手段か
ら入力する検出信号の最大値を検出しこの最大値に応じ
て前記X線源の電圧を可変するように前記高電圧発生回
路に指令する手段と、この手段による前記X線源の電圧
可変に伴って前記基準値を補正しこの補正値を前記比較
手段に出力する手段とを備えたものである。
うな手段を講じた。すなわち本発明は、X線源の電圧設
定に対応した電圧を高電圧発生回路で発生させることに
より、該X線源から曝射され被検体を透過したX線を検
出手段により検出しこの検出信号を電気信号に変換して
積分回路により積分しこの出力とX線曝射条件を設定し
た基準値とを比較手段により比較して一定のフィルム黒
化度を得るようにX線曝射を制御するX線撮影装置にお
いて、X線曝射開始から略数msの期間前記検出手段か
ら入力する検出信号の最大値を検出しこの最大値に応じ
て前記X線源の電圧を可変するように前記高電圧発生回
路に指令する手段と、この手段による前記X線源の電圧
可変に伴って前記基準値を補正しこの補正値を前記比較
手段に出力する手段とを備えたものである。
(作用)
このような手段を講じたことにより、次のような作用を
呈する。X線曝射開始から数msの期間検出手段により
検出された最大値に応じて電圧が可変するので、撮影時
間を最適な範囲に制御できる。その結果、長時間曝射時
の被検体厚み等の散乱線の増加等の影響により画質の劣
化を生じることなく、フィルムの均一な黒化度を得るこ
とかできる。これにより最適な撮影条件で撮影されるの
で、術者の負担を軽減できる。
呈する。X線曝射開始から数msの期間検出手段により
検出された最大値に応じて電圧が可変するので、撮影時
間を最適な範囲に制御できる。その結果、長時間曝射時
の被検体厚み等の散乱線の増加等の影響により画質の劣
化を生じることなく、フィルムの均一な黒化度を得るこ
とかできる。これにより最適な撮影条件で撮影されるの
で、術者の負担を軽減できる。
(実施例)
第1図は本発明を***X線撮影装置に適用した一実施例
を示す概略ブロック図、第2図(a)(b)は標準被検
体厚の曝射時間に対する受光パワー及び比較基準値を示
すタイミング図、第3図は(a)(b)は被検体厚が厚
い場合の曝射時間に対する受光パワー及び比較基準値の
可変を示すタイミング図、第4図は(a)(b)は被検
体厚が薄い場合の曝射時間に対する受光パワー及び比較
基準値の可変を示すタイミング図である。本実施例か特
徴とするところは、最大値検出器8.電圧補正基準設定
回路7b、被検体補正基準設定回路7cを設けた点にあ
る。第1図に示す***X線撮影装置は、次のように構成
される。
を示す概略ブロック図、第2図(a)(b)は標準被検
体厚の曝射時間に対する受光パワー及び比較基準値を示
すタイミング図、第3図は(a)(b)は被検体厚が厚
い場合の曝射時間に対する受光パワー及び比較基準値の
可変を示すタイミング図、第4図は(a)(b)は被検
体厚が薄い場合の曝射時間に対する受光パワー及び比較
基準値の可変を示すタイミング図である。本実施例か特
徴とするところは、最大値検出器8.電圧補正基準設定
回路7b、被検体補正基準設定回路7cを設けた点にあ
る。第1図に示す***X線撮影装置は、次のように構成
される。
X線源としてのX線管1は、被検体の***2にX線を曝
射するものである。管電圧設定回路10は前記X線管1
の管電圧を所望値に設定するものであり、高電圧発生回
路11は、前記管電圧設定回路10から入力する設定信
号に対応した高電圧を発生するものである。高圧スイッ
チ12は、前記高電圧発生回路12から入力する電圧発
生信号と後述する比較器6から入力する比較信号とに基
き、適切なX線曝射時間だけオン動作するものである。
射するものである。管電圧設定回路10は前記X線管1
の管電圧を所望値に設定するものであり、高電圧発生回
路11は、前記管電圧設定回路10から入力する設定信
号に対応した高電圧を発生するものである。高圧スイッ
チ12は、前記高電圧発生回路12から入力する電圧発
生信号と後述する比較器6から入力する比較信号とに基
き、適切なX線曝射時間だけオン動作するものである。
一方、検出手段としてのX線検出器3は、前記被検体の
***2を透過したX線を検出し検出信号を出力するもの
である。光電変換器4は、前記X線検出器3から入力す
る検出信号を電気信号に変換するものである。積分回路
5は、前記光電変換器4から入力する電気信号を積分し
て比較手段としての比較器6に出力する。
***2を透過したX線を検出し検出信号を出力するもの
である。光電変換器4は、前記X線検出器3から入力す
る検出信号を電気信号に変換するものである。積分回路
5は、前記光電変換器4から入力する電気信号を積分し
て比較手段としての比較器6に出力する。
最大値検出器8は、前記光電変換器4から入力する電気
信号化された検出信号の最大値を検出しこの最大値に対
応するX線管1の電圧を可変するように制御信号を前記
高電圧発生回路11に出力するものである。この最大値
検出器8は、前記光電変換器4から入力する電気信号を
ディジタル信号に変換するA/D変換器15.このA/
D変換器15から入力するX線曝射開始から数InS間
のディジタル信号の最大値を検出する受光パワー検出器
1B。
信号化された検出信号の最大値を検出しこの最大値に対
応するX線管1の電圧を可変するように制御信号を前記
高電圧発生回路11に出力するものである。この最大値
検出器8は、前記光電変換器4から入力する電気信号を
ディジタル信号に変換するA/D変換器15.このA/
D変換器15から入力するX線曝射開始から数InS間
のディジタル信号の最大値を検出する受光パワー検出器
1B。
この受光パワー検出器16から入力する最大値に応じて
管電圧を可変させる管電圧可変回路17とを備えている
。また曝射条件基準設定回路7aは、前記X線管lのX
線曝射条件設定による基準値を設定するものである。電
圧補正基準回路設定回路7bは、前記管電圧を補正する
ために基準値を設定するものであり、被検体補正基準設
定回路7Cは、被検体補正による基準値を設定するもの
である。比較手段としての比較器6は、前記積分回路5
からの積分出力と、前記基準設定回路7a、 7b、
7cからの基準値を入力しこれらを比較して比較出力を
前記高電圧スイッチ12に出力するものである。
管電圧を可変させる管電圧可変回路17とを備えている
。また曝射条件基準設定回路7aは、前記X線管lのX
線曝射条件設定による基準値を設定するものである。電
圧補正基準回路設定回路7bは、前記管電圧を補正する
ために基準値を設定するものであり、被検体補正基準設
定回路7Cは、被検体補正による基準値を設定するもの
である。比較手段としての比較器6は、前記積分回路5
からの積分出力と、前記基準設定回路7a、 7b、
7cからの基準値を入力しこれらを比較して比較出力を
前記高電圧スイッチ12に出力するものである。
次にこのように構成された実施例の作用について図面を
参照して説明する。
参照して説明する。
まず被検体が標準的な厚みを有する場合には、第2図に
示すように標準時間Tに対して受光パワーを一定とし、
且つ比較基準値を直線的に変化させる。
示すように標準時間Tに対して受光パワーを一定とし、
且つ比較基準値を直線的に変化させる。
すなわち管電圧設定回路10により管電圧を設定すると
、この設定電圧に対応した電圧が高電圧発生回路11に
より発生する。そうすると、この高電圧発生回路11か
らの発生電圧は、高圧スイッチ12を介してX線管lを
駆動する。そしてX線管1からX線が曝射されると、こ
のX線は被検体の***2を透過し、この透過X線はX線
検出器3に入力する。そしてこのX線検出器3により検
出された検出信号は、光電変換器4により電気信号に変
換され、電気信号は最大値検出器8および積分回路5に
入力する。最大値8に入力した検出信号は、A/D変換
器15によりディジタル信号に変換され、受光パワー検
出器16によりX線曝射開始から数msの期間、前記デ
ィジタル信号の最大値を検出する。
、この設定電圧に対応した電圧が高電圧発生回路11に
より発生する。そうすると、この高電圧発生回路11か
らの発生電圧は、高圧スイッチ12を介してX線管lを
駆動する。そしてX線管1からX線が曝射されると、こ
のX線は被検体の***2を透過し、この透過X線はX線
検出器3に入力する。そしてこのX線検出器3により検
出された検出信号は、光電変換器4により電気信号に変
換され、電気信号は最大値検出器8および積分回路5に
入力する。最大値8に入力した検出信号は、A/D変換
器15によりディジタル信号に変換され、受光パワー検
出器16によりX線曝射開始から数msの期間、前記デ
ィジタル信号の最大値を検出する。
すなわち受光パワーは標準時間の期間中宮に一定値であ
るので、管電圧可変回路17により管電圧を可変される
ことなく、高電圧発生発生回路11は一定電圧を発生す
る。したがって、第2図(a)に示すように受光パワー
は常に一定値POとなり、比較器6に入力する積分回路
5からの積分出力すなわち第2図(b)に示す比較基準
値は曝射時間とともに標準曝射時間Tまで直線的に増加
する。
るので、管電圧可変回路17により管電圧を可変される
ことなく、高電圧発生発生回路11は一定電圧を発生す
る。したがって、第2図(a)に示すように受光パワー
は常に一定値POとなり、比較器6に入力する積分回路
5からの積分出力すなわち第2図(b)に示す比較基準
値は曝射時間とともに標準曝射時間Tまで直線的に増加
する。
そしてこの比較基準値と曝射条件基準設定回路7aに設
定された基準値とが一致すると、比較器6から高電圧ス
イッチ12に指令を与え、スイッチ12を閉じることに
よりX線曝射を停止させる。
定された基準値とが一致すると、比較器6から高電圧ス
イッチ12に指令を与え、スイッチ12を閉じることに
よりX線曝射を停止させる。
次に被検体が厚い場合を第3図(a)(b)を参照して
説明する。この場合には被検体が厚いため、被検体を透
過したX線も標準の被検体に比較して低い値となる。こ
のため、X線曝射開始から数msの期間すなわち期間t
dの間、受光パワー検出器16に入力する受光パワーも
低い値P Lを示す。
説明する。この場合には被検体が厚いため、被検体を透
過したX線も標準の被検体に比較して低い値となる。こ
のため、X線曝射開始から数msの期間すなわち期間t
dの間、受光パワー検出器16に入力する受光パワーも
低い値P Lを示す。
そして最大値を検出して管電圧可変回路17により管電
圧を可変させ、高電圧発生回路11で標準電圧POを発
生させる。すなわち期間td経過後から標準曝射時間T
まで可変電圧を上昇させることによりX線管lから比較
的多量のX線を曝射し、受光パワー検出゛器16に大き
い受光パワーを得る。また比較器6により積分回路5か
らの積分出力と、曝射条件基準設定回路7a、電圧補正
基準設定回路7bおよび被検体補正基準設定回路Ta1
lからの基準値とが比較されて標準時間Tで比較結果が
零となり、スイッチ12を閉じることによりX線曝射が
停止する。
圧を可変させ、高電圧発生回路11で標準電圧POを発
生させる。すなわち期間td経過後から標準曝射時間T
まで可変電圧を上昇させることによりX線管lから比較
的多量のX線を曝射し、受光パワー検出゛器16に大き
い受光パワーを得る。また比較器6により積分回路5か
らの積分出力と、曝射条件基準設定回路7a、電圧補正
基準設定回路7bおよび被検体補正基準設定回路Ta1
lからの基準値とが比較されて標準時間Tで比較結果が
零となり、スイッチ12を閉じることによりX線曝射が
停止する。
したがって、X線曝射開始から数ms後のX線検出器3
の出力信号を判定し、管電圧を上昇することにより、X
線検出器3が受けるパワーが大きくなるので、曝射時間
が短くなる。その結果、X線量の一定調整を図るととも
に、散乱線による影響を受けなくなり、濃度の均一化し
たものが得られる。これにより被検体の質等に関係なく
、長時間曝射時の被検体厚み等の散乱線の増加等の影響
により画質の劣化を生じることなく、フィルムの均−な
黒化度が得られる。また最適な撮影条件で撮影されるの
で、術者の負担を軽減し得る。
の出力信号を判定し、管電圧を上昇することにより、X
線検出器3が受けるパワーが大きくなるので、曝射時間
が短くなる。その結果、X線量の一定調整を図るととも
に、散乱線による影響を受けなくなり、濃度の均一化し
たものが得られる。これにより被検体の質等に関係なく
、長時間曝射時の被検体厚み等の散乱線の増加等の影響
により画質の劣化を生じることなく、フィルムの均−な
黒化度が得られる。また最適な撮影条件で撮影されるの
で、術者の負担を軽減し得る。
次に被検体が薄い場合を第4図(a)(b)を参照して
説明する。この場合には被検体が薄いため、被検体を透
過したX線も標準の被検体に比較して高い値となる。こ
のため、X線曝射開始から数msの期間すなわち期間t
dの間、受光パワー検出器16に入力する受光パワーも
高い値PHを示す。
説明する。この場合には被検体が薄いため、被検体を透
過したX線も標準の被検体に比較して高い値となる。こ
のため、X線曝射開始から数msの期間すなわち期間t
dの間、受光パワー検出器16に入力する受光パワーも
高い値PHを示す。
そして最大値を検出して管電圧可変回路17により管電
圧を可変させ、高電圧発生回路11で標準電圧POを発
生させる。すなわち期間td経過後から標準曝射時間T
まで可変電圧を減少させることによりX線管1から比較
的少量のX線を曝射し、受光パワー検出器1Bに小さい
受光パワーを得る。また比較器6により積分回路5から
の積分出力と、曝射条件基準設定回路7a、電圧補正基
準設定回路7bおよび被検体補正基準設定回路7af4
からの基準値とが比較されて標準時間Tで比較結果が零
となり、スイッチ12を閉じることによりX線曝射が停
止する。
圧を可変させ、高電圧発生回路11で標準電圧POを発
生させる。すなわち期間td経過後から標準曝射時間T
まで可変電圧を減少させることによりX線管1から比較
的少量のX線を曝射し、受光パワー検出器1Bに小さい
受光パワーを得る。また比較器6により積分回路5から
の積分出力と、曝射条件基準設定回路7a、電圧補正基
準設定回路7bおよび被検体補正基準設定回路7af4
からの基準値とが比較されて標準時間Tで比較結果が零
となり、スイッチ12を閉じることによりX線曝射が停
止する。
したがって、X線曝射開始から数ms後のX線検出器3
の出力信号を判定し、管電圧を減少させることにより、
X線検出器3が受けるパワーが小さくなるので、曝射時
間が長くなる。その結果、被検体厚が薄い場合であって
も、上述と同様な効果が得られる。
の出力信号を判定し、管電圧を減少させることにより、
X線検出器3が受けるパワーが小さくなるので、曝射時
間が長くなる。その結果、被検体厚が薄い場合であって
も、上述と同様な効果が得られる。
なお本発明は上述した実施例に限定されるものではなく
、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能で
あるのは勿論である。
、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能で
あるのは勿論である。
[発明の効果コ
本発明によれば、X線曝射開始から略数msの期間前記
検出手段から入力する検出信号の最大値を検出しこの最
大値に応じて前記X線源の電圧を可変するように前記高
電圧発生回路に指令する手段と、この手段による前記X
線源の電圧可変に伴って前記基準値を補正しこの補正値
を前記比較手段に出力する手段とを備えたので、X線曝
射開始から数ilsの期間検出手段により検出された最
大値に応じて電圧が可変して撮影時間を最適な範囲に制
御できる。その結果、長時間曝射時の被検体厚み等の散
乱線の増加等の影響により画質の劣化を生じることなく
、フィルムの均一な黒化度を得ることができる。これに
より最適な撮影条件で撮影されるので、術者の負担を軽
減し得るX線撮影装置を提供できる。
検出手段から入力する検出信号の最大値を検出しこの最
大値に応じて前記X線源の電圧を可変するように前記高
電圧発生回路に指令する手段と、この手段による前記X
線源の電圧可変に伴って前記基準値を補正しこの補正値
を前記比較手段に出力する手段とを備えたので、X線曝
射開始から数ilsの期間検出手段により検出された最
大値に応じて電圧が可変して撮影時間を最適な範囲に制
御できる。その結果、長時間曝射時の被検体厚み等の散
乱線の増加等の影響により画質の劣化を生じることなく
、フィルムの均一な黒化度を得ることができる。これに
より最適な撮影条件で撮影されるので、術者の負担を軽
減し得るX線撮影装置を提供できる。
第1図は本発明を***X線撮影装置に適用した一実施例
を示す概略ブロック図、第2図は標準被検体厚の曝射時
間に対する受光パワー及び比較基準値を示すタイミング
図、第3図は被検体厚が厚い場合の曝射時間に対する受
光パワー及び比較基準値の可変を示すタイミング図、第
4図は被検体厚が薄い場合の曝射時間に対する受光パワ
ー及び比較基準値の可変を示すタイミング図である。 1・・・X線管、2・・・被検体の***、3・・・X線
検出器、4・・・光電変換器、5・・・積分回路、6・
・・比較器、7a・・・曝射条件基準設定回路、7b・
・・電圧補正基準設定回路、7c・・・被検体補正基準
設定回路、8・・・最大値検出器、10・・・管電圧設
定回路、11・・・高電圧発生回路、12・・・高圧ス
イッチ、15・・・A/D変換器、l6・・・受光パワ 検出器、 17・・・管電圧可変回路。 ノ ■ j(jυ司) 第 図 第 図 第
を示す概略ブロック図、第2図は標準被検体厚の曝射時
間に対する受光パワー及び比較基準値を示すタイミング
図、第3図は被検体厚が厚い場合の曝射時間に対する受
光パワー及び比較基準値の可変を示すタイミング図、第
4図は被検体厚が薄い場合の曝射時間に対する受光パワ
ー及び比較基準値の可変を示すタイミング図である。 1・・・X線管、2・・・被検体の***、3・・・X線
検出器、4・・・光電変換器、5・・・積分回路、6・
・・比較器、7a・・・曝射条件基準設定回路、7b・
・・電圧補正基準設定回路、7c・・・被検体補正基準
設定回路、8・・・最大値検出器、10・・・管電圧設
定回路、11・・・高電圧発生回路、12・・・高圧ス
イッチ、15・・・A/D変換器、l6・・・受光パワ 検出器、 17・・・管電圧可変回路。 ノ ■ j(jυ司) 第 図 第 図 第
Claims (1)
- X線源の電圧設定に対応した電圧を高電圧発生回路で発
生させることにより、該X線源から曝射され被検体を透
過したX線を検出手段により検出しこの検出信号を電気
信号に変換して積分回路により積分しこの出力とX線曝
射条件を設定した基準値とを比較手段により比較して一
定のフィルム黒化度を得るようにX線曝射を制御するX
線撮影装置において、X線曝射開始から略数msの期間
前記検出手段から入力する検出信号の最大値を検出しこ
の最大値に応じて前記X線源の電圧を可変するように前
記高電圧発生回路に指令する手段と、この手段による前
記X線源の電圧可変に伴って前記基準値を補正しこの補
正値を前記比較手段に出力する手段とを備えたことを特
徴とするX線撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8535489A JPH02265199A (ja) | 1989-04-04 | 1989-04-04 | X線撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8535489A JPH02265199A (ja) | 1989-04-04 | 1989-04-04 | X線撮影装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02265199A true JPH02265199A (ja) | 1990-10-29 |
Family
ID=13856356
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8535489A Pending JPH02265199A (ja) | 1989-04-04 | 1989-04-04 | X線撮影装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02265199A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007289247A (ja) * | 2006-04-21 | 2007-11-08 | Shimadzu Corp | X線診断装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5340078A (en) * | 1976-09-25 | 1978-04-12 | Osukaa Kougiyou Kk | Method of continuous manufacturing of mat for bathroom |
JPS5610000A (en) * | 1979-07-04 | 1981-01-31 | Toshiba Corp | X-ray photographing apparatus |
JPS6354298B2 (ja) * | 1984-09-17 | 1988-10-27 | Idemitsu Kosan Co |
-
1989
- 1989-04-04 JP JP8535489A patent/JPH02265199A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5340078A (en) * | 1976-09-25 | 1978-04-12 | Osukaa Kougiyou Kk | Method of continuous manufacturing of mat for bathroom |
JPS5610000A (en) * | 1979-07-04 | 1981-01-31 | Toshiba Corp | X-ray photographing apparatus |
JPS6354298B2 (ja) * | 1984-09-17 | 1988-10-27 | Idemitsu Kosan Co |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007289247A (ja) * | 2006-04-21 | 2007-11-08 | Shimadzu Corp | X線診断装置 |
JP4654967B2 (ja) * | 2006-04-21 | 2011-03-23 | 株式会社島津製作所 | X線診断装置 |
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