JP7481238B2 - Layer thickness analysis method - Google Patents

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Description

本発明は、積層体の層厚を解析するための層厚解析方法に関する。 The present invention relates to a layer thickness analysis method for analyzing the layer thickness of a laminate.

燃料電池自動車に備えられる燃料電池には、高圧の水素ガスが充填される水素タンクが用いられている。水素タンクなどの高圧タンクには、例えば、炭素繊維強化樹脂(CFRP)などの繊維強化樹脂が用いられ、繊維方向(繊維配向)がタンク軸方向に沿うヘリカル層と繊維方向がタンク軸方向と交差する方向に沿うフープ層とが交互に積層されて形成されている。 The fuel cells installed in fuel cell vehicles use hydrogen tanks that are filled with high-pressure hydrogen gas. High-pressure tanks such as hydrogen tanks use fiber-reinforced resins such as carbon fiber reinforced plastic (CFRP), and are formed by alternately laminating helical layers whose fiber direction (fiber orientation) is along the tank axial direction and hoop layers whose fiber direction is in a direction that intersects with the tank axial direction.

特許文献1には、三次元構造の特徴量を算出して、特徴量の特定方向の分布を表示できる画像解析装置が開示されている。この画像解析装置では、X線CT装置を用いて解析対象を撮像した三次元画像データから特定方向にスライスした二次元画像データを抽出し、抽出した二次元画像データについて、繊維配向方向などを特徴量とし、特定方向の複数位置にわたって特徴量の分布を算出する。また、画像解析装置では、特定方向に沿う特徴量の分布を表すマップを作成することで、特徴量の異なる各層の積層厚が得られるようにしている。 Patent Document 1 discloses an image analysis device that can calculate the feature quantities of a three-dimensional structure and display the distribution of the feature quantities in a specific direction. This image analysis device extracts two-dimensional image data sliced in a specific direction from three-dimensional image data of an analysis target captured using an X-ray CT scanner, and calculates the distribution of the feature quantities over multiple positions in the specific direction for the extracted two-dimensional image data, using the fiber orientation direction and other features as feature quantities. The image analysis device also creates a map that shows the distribution of feature quantities along a specific direction, making it possible to obtain the layer thickness of each layer with different feature quantities.

特開2018-091765号公報JP 2018-091765 A

ところで、高圧タンクの製造時には、ヘリカル層やフープ層にボイドが入り易く、特にヘリカル層にボイドが入りやすい。また、ヘリカル層及びフープ層へのボイドの入り方は、高圧タンクごとに異なる。このため、高圧タンクの各層の層厚の解析においては、ボイドの解析のための解析領域が必要となり(例えば、10mm程度)、高圧タンクの各層の層厚解析においては改善の余地がある。 When manufacturing a high-pressure tank, voids are likely to occur in the helical layer and hoop layer, and voids are particularly likely to occur in the helical layer. Furthermore, the way voids occur in the helical layer and hoop layer differs for each high-pressure tank. For this reason, when analyzing the layer thickness of each layer of a high-pressure tank, an analysis area for void analysis is required (for example, about 10 mm), and there is room for improvement in the analysis of the layer thickness of each layer of a high-pressure tank.

本発明は、上記事実を鑑みて成されたものであり、繊維強化樹脂が積層された積層体において各層の層厚を容易に解析できる層厚解析方法を提供することを目的とする。 The present invention was made in consideration of the above facts, and aims to provide a layer thickness analysis method that can easily analyze the layer thickness of each layer in a laminate in which fiber-reinforced resin is laminated.

上記目的を達成するための本発明の層厚解析方法は、繊維強化樹脂の繊維方向が第1方向とされた第1層と、前記繊維強化樹脂の繊維方向が前記第1方向と交差する第2方向とされて巻回された第2層とが交互に積層された円筒状の積層体を備える高圧タンクを解析対象とし、前記第2層の繊維方向に対する接線方向に沿って照射されて前記積層体を透過したX線の投影画像を撮像手段により撮像し、撮像により得られた前記投影画像から前記積層体について径方向に沿うX線の散乱強度分布を取得し、前記繊維強化樹脂についてX線の光軸と繊維方向とのなす角度に対するX線の散乱強度を示す光学特性に基づき、前記X線の散乱強度分布における前記第2層の周面の径方向位置を解析し、該周面の径方向位置から前記第1層及び前記第2層の径方向に沿う層厚を解析する、ことを含む。 The layer thickness analysis method of the present invention for achieving the above object includes the following steps: a high-pressure tank is analyzed, which includes a cylindrical laminate in which a first layer in which the fiber direction of the fiber reinforced resin is a first direction and a second layer in which the fiber direction of the fiber reinforced resin is a second direction intersecting the first direction are alternately laminated; an imaging means captures a projection image of X-rays that are irradiated along a tangential direction to the fiber direction of the second layer and transmitted through the laminate; a scattering intensity distribution of X-rays along the radial direction of the laminate is obtained from the projection image obtained by imaging; a radial position of the circumferential surface of the second layer in the scattering intensity distribution of X-rays is analyzed based on optical characteristics of the fiber reinforced resin that indicate the scattering intensity of X-rays with respect to the angle between the optical axis of the X-rays and the fiber direction; and a layer thickness of the first layer and the second layer along the radial direction is analyzed from the radial position of the circumferential surface.

本発明の層厚解析方法では、高圧タンクにおいて、繊維強化樹脂の繊維方向が互いに交差するようにして交互に積層された円筒状の積層体を解析対象とする。高圧タンクには、積層体の外側から第2層の繊維方向の接線方向に沿ってX線が照射され、積層体を透過したX線の投影画像が撮像手段により撮像される。この投影画像により、積層体について高圧タンクの径方向に沿うX線の散乱強度分布が取得される。 In the layer thickness analysis method of the present invention, the analysis target is a cylindrical laminate in a high-pressure tank, in which the fiber directions of the fiber-reinforced resin are alternately laminated so that they intersect with each other. X-rays are irradiated from the outside of the laminate along the tangential direction of the fiber direction of the second layer to the high-pressure tank, and a projection image of the X-rays that have passed through the laminate is captured by the imaging means. From this projection image, the scattering intensity distribution of the X-rays along the radial direction of the high-pressure tank is obtained for the laminate.

第2層は、繊維方向が第1層の繊維方向と交差する方向とされて繊維強化樹脂が巻回されて形成されており、第2層では、照射されたX線に対し第1層に比して透過するX線の散乱強度が大きい。このため、X線の投影画像では、第2層においてX線に強い散乱が生じ、投影画像から得られるX線の散乱強度分布では、第2層の周面位置が明瞭でなくなる。 The second layer is formed by winding fiber-reinforced resin with the fiber direction intersecting with the fiber direction of the first layer, and the second layer has a higher scattering intensity of the X-rays that penetrate the second layer compared to the first layer. For this reason, in the X-ray projection image, the X-rays are strongly scattered in the second layer, and the peripheral position of the second layer is not clear in the X-ray scattering intensity distribution obtained from the projection image.

ここで、繊維強化樹脂におけるX線の散乱強度は、X線の光軸と繊維方向とのなす角度に応じて変化し、X線の散乱強度は、繊維強化樹脂についてX線の光軸と繊維方向とのなす角度に対するX線の散乱強度を示す光学特性に基づいている。 Here, the scattering intensity of X-rays in fiber-reinforced resins varies depending on the angle between the optical axis of the X-rays and the fiber direction, and the scattering intensity of X-rays is based on the optical properties that indicate the scattering intensity of X-rays with respect to the angle between the optical axis of the X-rays and the fiber direction for fiber-reinforced resins.

ここから、第2層の周面位置の特定においては、繊維強化樹脂についてX線の光軸と繊維方向とのなす角度に対するX線の散乱強度を示す光学特性に基づき、X線の散乱強度分布における第2層の周面の径方向位置を解析する。また、各々の層厚は、特定した第2層の周面の径方向位置に基づいて、第1層及び第2層の各々の径方向に沿う層厚を解析して特定する。これにより、第1層及び第2層の各々の層厚を容易に解析できる。 To identify the peripheral position of the second layer, the radial position of the peripheral surface of the second layer in the X-ray scattering intensity distribution is analyzed based on the optical characteristics of the fiber-reinforced resin that indicate the scattering intensity of X-rays relative to the angle between the optical axis of the X-rays and the fiber direction. In addition, the thickness of each layer is identified by analyzing the layer thickness along the radial direction of each of the first and second layers based on the identified radial position of the peripheral surface of the second layer. This makes it easy to analyze the thickness of each of the first and second layers.

本発明の層厚解析方法によれば、繊維強化樹脂についてX線の光軸と繊維方向とのなす角度に対するX線の散乱強度を示す光学特性を用いることで、第1層及び第2の層の各々の層厚を容易に解析できる、という効果を有する。また、本発明の層厚解析方法によれば、第1層及び第2の層の各々の層厚を精度よく解析できる。 The layer thickness analysis method of the present invention has the advantage that the thickness of each of the first and second layers can be easily analyzed by using the optical characteristics of the fiber-reinforced resin that indicate the scattering intensity of X-rays with respect to the angle between the optical axis of the X-rays and the fiber direction. In addition, the layer thickness analysis method of the present invention can accurately analyze the thickness of each of the first and second layers.

本実施形態に係る層厚解析装置の概略構成を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a schematic configuration of a layer thickness analysis device according to an embodiment of the present invention. 層厚解析のための構成の概略を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing an outline of a configuration for layer thickness analysis. (A)は、X線の光軸に対する炭素繊維強化樹脂の繊維方向の概略を示す模式図、(B)は、繊維角度θに対するX線の強度(散乱強度)の概略を示す線図、(C)は、積層体の主要部と検出器との配置の概略を示す模式図である。FIG. 1A is a schematic diagram showing an outline of the fiber direction of a carbon fiber reinforced resin relative to the optical axis of an X-ray; FIG. 1B is a diagram showing an outline of the X-ray intensity (scattering intensity) versus the fiber angle θ; and FIG. 1C is a schematic diagram showing an outline of the arrangement of a main part of a laminate and a detector. (A)は、光学特性設定処理の概略を示す流れ図、(B)は、取得処理の概略を示す流れ図、(C)は、解析処理の概略を示す流れ図である。1A is a flowchart showing an outline of an optical characteristic setting process, FIG. 1B is a flowchart showing an outline of an acquisition process, and FIG. 1C is a flowchart showing an outline of an analysis process. (A)~(C)は、光学特性設定処理における炭素繊維強化樹脂についてのX線の散乱強度の測定結果の一例を示す図表である。13A to 13C are diagrams showing an example of measurement results of X-ray scattering intensity for a carbon fiber reinforced resin in an optical property setting process. 計測処理の概略を示す模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing an outline of a measurement process. (A)は、計測処理における投影画像の一例を示す概略図、(B)は、実測プロファイルの一例を示す線図である。1A is a schematic diagram showing an example of a projected image in measurement processing, and FIG. 1B is a diagram showing an example of an actual measurement profile. タンク情報の一例を示す図表である。11 is a table showing an example of tank information. 境界面となる各層の下端位置の演算結果の一例を示す図表である。13 is a table showing an example of a calculation result of the lower end position of each layer that serves as a boundary surface. 図9に基づく散乱強度の変化を示す線図である。FIG. 10 is a diagram showing the change in scattering intensity based on FIG. 9 .

以下、図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。
本実施形態は、以下の態様を含む。
<1> 繊維強化樹脂の繊維方向が第1方向とされた第1層と、前記繊維強化樹脂の繊維方向が前記第1方向と交差する第2方向とされて巻回された第2層とが交互に積層された円筒状の積層体を備える高圧タンクを解析対象とし、前記第2層の繊維方向に対する接線方向に沿って照射されて前記積層体を透過したX線の投影画像を撮像手段により撮像し、撮像により得られた前記投影画像から前記積層体について径方向に沿うX線の散乱強度分布を取得し、前記繊維強化樹脂についてX線の光軸と繊維方向とのなす角度に対するX線の散乱強度を示す光学特性に基づき、前記X線の散乱強度分布における前記第2層の周面の径方向位置を解析し、該周面の径方向位置から前記第1層及び前記第2層の径方向に沿う層厚を解析する、ことを含む積層体の層厚解析方法。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
The present embodiment includes the following aspects.
<1> A method for analyzing a layer thickness of a laminate, the method including: analyzing a high-pressure tank having a cylindrical laminate in which a first layer, in which the fiber direction of a fiber reinforced resin is a first direction, and a second layer, in which the fiber direction of the fiber reinforced resin is a second direction intersecting the first direction, are alternately stacked; capturing a projection image of X-rays that are irradiated along a tangential direction to the fiber direction of the second layer and transmitted through the laminate by an imaging means; obtaining a scattering intensity distribution of X-rays along a radial direction for the laminate from the projection image obtained by imaging; analyzing a radial position of a circumferential surface of the second layer in the scattering intensity distribution of X-rays based on optical characteristics that indicate the scattering intensity of X-rays with respect to an angle between an optical axis of the X-ray and a fiber direction for the fiber reinforced resin; and analyzing layer thicknesses of the first layer and the second layer along the radial direction from the radial position of the circumferential surface.

<2> 前記光学特性には、前記繊維強化樹脂についてのX線の光軸に対する繊維方向の角度とX線の散乱強度との関係式が用いられる<1>の層厚解析方法。
<3> 前記積層体の投影画像の撮像に先立って、前記第1層及び前記第2層を形成する前記繊維強化樹脂を用い、前記撮像手段により該繊維強化樹脂の繊維方向につての前記X線の光軸に対するに角度に応じた投影画像を取得し、該投影画像に基づいて前記光学特性を設定することを含む<1>又は<2>の層厚解析方法。
<2> The layer thickness analysis method according to <1>, wherein a relational expression between an angle of a fiber direction with respect to an optical axis of an X-ray for the fiber-reinforced resin and a scattering intensity of the X-ray is used as the optical property.
<3> The layer thickness analysis method according to <1> or <2>, including: prior to capturing a projection image of the laminate, using the fiber-reinforced resin that forms the first layer and the second layer, acquiring a projection image by the imaging means according to an angle with respect to an optical axis of the X-ray in a fiber direction of the fiber-reinforced resin, and setting the optical characteristics based on the projection image.

<4> 繊維強化樹脂の繊維方向が第1方向とされた第1層と、前記繊維強化樹脂の繊維方向が前記第1方向と交差する第2方向とされて巻回された第2層とが交互に積層された円筒状の積層体を備える高圧タンクを解析対象とし、前記第2層の繊維方向に対する接線方向に沿って照射されて前記積層体を透過したX線の投影画像を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像されて投影画像から前記積層体の径方向に沿うX線の散乱強度分布を取得する取得手段と、前記繊維強化樹脂についてのX線の光軸と繊維方向とのなす角度に対するX線の散乱を示す光学特性に基づき、前記取得手段により取得された前記X線の散乱強度分布における前記第2層の周面の径方向位置を解析し、該周面の径方向位置から前記第1層及び前記第2層の径方向に沿う層厚を解析する解析手段と、を含む層厚解析装置。 <4> A layer thickness analysis device that analyzes a high-pressure tank having a cylindrical laminate in which a first layer in which the fiber direction of the fiber reinforced resin is a first direction and a second layer wound with the fiber direction of the fiber reinforced resin in a second direction intersecting the first direction are alternately stacked, the device including: an imaging means for capturing a projection image of X-rays irradiated along a tangential direction to the fiber direction of the second layer and transmitted through the laminate; an acquisition means for acquiring a scattering intensity distribution of X-rays along the radial direction of the laminate from the projection image captured by the imaging means; and an analysis means for analyzing the radial position of the circumferential surface of the second layer in the scattering intensity distribution of X-rays acquired by the acquisition means based on optical characteristics indicating the scattering of X-rays with respect to the angle between the optical axis of the X-ray and the fiber direction of the fiber reinforced resin, and analyzing the layer thicknesses of the first layer and the second layer along the radial direction from the radial position of the circumferential surface.

<5> 前記光学特性として前記繊維強化樹脂についてのX線の光軸に対する繊維方向の角度とX線の散乱強度との関係式が用いられた<4>の層厚解析装置。
<6> 前記第1層及び前記第2層を形成する前記繊維強化樹脂を用い、前記撮像手段により撮像された前記繊維強化樹脂についての前記X線の光軸に対するに繊維方向の角度に応じた投影画像を受け付ける受付手段と、前記受付手段により受け付けた前記投影画像に基づいて前記光学特性を設定する設定手段と、をさらに含む<4>又は<5>の層厚解析装置。
<5> The layer thickness analysis device according to <4>, wherein a relational expression between an angle of a fiber direction with respect to an optical axis of an X-ray in the fiber-reinforced resin and a scattering intensity of the X-ray is used as the optical characteristic.
<6> The layer thickness analysis device of <4> or <5>, further including: a receiving means for receiving a projection image of the fiber reinforced resin imaged by the imaging means according to an angle of a fiber direction with respect to an optical axis of the X-ray, using the fiber reinforced resin that forms the first layer and the second layer; and a setting means for setting the optical characteristics based on the projection image received by the receiving means.

図1には、本実施形態に係る層厚解析装置10の主要部の概略構成がブロック図にて示されており、図2には、層厚解析装置10を用いた層厚の解析のための構成の主要部が斜視図にて示されている。 Figure 1 shows a block diagram of the schematic configuration of the main parts of the layer thickness analysis device 10 according to this embodiment, and Figure 2 shows a perspective view of the main parts of the configuration for analyzing layer thickness using the layer thickness analysis device 10.

図1及び図2に示すように、本実施形態では、層厚解析装置10の解析対象として高圧水素タンクとして用いられる高圧タンク12を適用している。高圧タンク12は、例えば、燃料電池自動車において燃料としての水素ガスの充填に用いられる。なお、解析対象は、燃料電池用の水素ガスに限らず、各種の高圧ガスの充填に用いられる高圧タンクなど、第1層と第2層とが交互に積層されて所要の断面形状とされた各種の高圧タンクを適用できる。 As shown in Figures 1 and 2, in this embodiment, a high-pressure tank 12 used as a high-pressure hydrogen tank is applied as the analysis target of the layer thickness analysis device 10. The high-pressure tank 12 is used, for example, to fill hydrogen gas as fuel in a fuel cell vehicle. Note that the analysis target is not limited to hydrogen gas for fuel cells, and various high-pressure tanks in which first and second layers are alternately stacked to form a required cross-sectional shape can be applied, such as high-pressure tanks used to fill various high-pressure gases.

高圧タンク12は、タンク体を形成する外形略円筒状(径方向断面が略円筒状)の積層体14を備えており、積層体14は、高圧タンク12の軸方向の中間部を形成する。層厚解析装置10は、高圧タンク12について、積層体14におけるフープ層16及びヘリカル層18の各々の径方向に沿う厚さである層厚を解析する。なお、高圧タンク12の径方向は、積層体14の各層の層厚方向とされる。 The high-pressure tank 12 is equipped with a laminate 14 having a generally cylindrical external shape (with a generally cylindrical radial cross section) that forms the tank body, and the laminate 14 forms the axial middle portion of the high-pressure tank 12. The layer thickness analysis device 10 analyzes the layer thickness of the high-pressure tank 12, which is the thickness along the radial direction of each of the hoop layers 16 and helical layers 18 in the laminate 14. The radial direction of the high-pressure tank 12 is the layer thickness direction of each layer of the laminate 14.

積層体14は、第2層としてのフープ層16と、第1層としてのヘリカル層18とが交互に形成されており、積層体14は、径方向内側からヘリカル層18A、フープ層16A、ヘリカル層18B、及びフープ層16Bが順に積層されている。また、高圧タンク12には、ヘリカル層18Aの径方向内側に水素ガスの透過を防止するための樹脂製とされたライナ層20が形成されている。 The laminate 14 is formed by alternating hoop layers 16 as second layers and helical layers 18 as first layers, and the laminate 14 is formed by stacking helical layer 18A, hoop layer 16A, helical layer 18B, and hoop layer 16B in that order from the radially inner side. In addition, the high-pressure tank 12 is formed with a liner layer 20 made of resin on the radially inner side of the helical layer 18A to prevent hydrogen gas from passing through.

積層体14(フープ層16及びヘリカル層18)には、各々繊維強化樹脂(FRP:Fiber Reinforced Plastic)としての炭素繊維強化樹脂(CFRP:Carbon Fiber Reinforced Plastic)が用いられている。炭素繊維強化樹脂(繊維強化樹脂も同様)には、複数の繊維(炭素繊維)が一方向(繊維の配向方向。以下、繊維方向という)に配列されている。積層体14は、繊維方向が第1方向としての高圧タンク12の軸線方向とされて炭素繊維強化樹脂が設けられてヘリカル層18が形成され、繊維方向が第1の方向と交差する第2方向としての高圧タンク12の周方向とされて炭素繊維強化樹脂が巻回されてフープ層16が形成されている。これにより、フープ層16とヘリカル層18とは、径方向視で繊維方向が略直交するように配置されている。このような積層体14は、例えば、シート状の繊維強化樹脂により繊維方向が軸方向とされて円筒状に形成されたヘリカル層18と、シート状の繊維強化樹脂により繊維方向が周方向とされて円筒状に形成されたフープ層16とを交互に積層して形成できる。 The laminate 14 (hoop layer 16 and helical layer 18) uses carbon fiber reinforced plastic (CFRP) as fiber reinforced plastic (FRP). In the carbon fiber reinforced resin (similar to fiber reinforced resin), multiple fibers (carbon fibers) are arranged in one direction (the fiber orientation direction, hereinafter referred to as the fiber direction). In the laminate 14, the fiber direction is the axial direction of the high-pressure tank 12 as the first direction, and the helical layer 18 is formed by providing carbon fiber reinforced resin, and the fiber direction is the circumferential direction of the high-pressure tank 12 as the second direction intersecting the first direction, and the hoop layer 16 is formed by winding carbon fiber reinforced resin. As a result, the hoop layer 16 and the helical layer 18 are arranged so that the fiber directions are approximately perpendicular when viewed in the radial direction. Such a laminate 14 can be formed, for example, by alternately stacking a helical layer 18 formed into a cylindrical shape with the fiber direction axially made of a sheet-like fiber-reinforced resin, and a hoop layer 16 formed into a cylindrical shape with the fiber direction circumferentially made of a sheet-like fiber-reinforced resin.

図1及び図2に示すように、層厚解析装置10では、繊維からの微小な散乱を捉える機構としてのX線散乱強度測定装置(図示省略)が用いられる。X線散乱強度測定装置は、例えば、位相コントラストイメージングを実現するタルボ・ロー干渉計、X線源(何れも図示省略)、及び撮像手段としての検出器(検出体)22を備える。X線散乱強度測定装置は、コヒーレント光源とされた図示しないX線源から平行光とされ、かつ検出器22の検出面22Aに垂直に照射されるX線(図面に二点鎖線にて示す)を射出する。検出器22は、X線源から出射されたX線を検出面22Aにおいて受光(撮像)し、高圧タンク12から散乱強度に応じて透過したX線の投影画像(透過画像)の画像データを出力する。 As shown in Figures 1 and 2, the layer thickness analysis device 10 uses an X-ray scattering intensity measurement device (not shown) as a mechanism for capturing minute scattering from the fibers. The X-ray scattering intensity measurement device includes, for example, a Talbot-Lau interferometer that realizes phase contrast imaging, an X-ray source (both not shown), and a detector (detector) 22 as an imaging means. The X-ray scattering intensity measurement device emits X-rays (shown by a two-dot chain line in the drawing) that are collimated from an X-ray source (not shown) that is a coherent light source and are irradiated perpendicularly to the detection surface 22A of the detector 22. The detector 22 receives (images) the X-rays emitted from the X-ray source at the detection surface 22A, and outputs image data of a projection image (transmission image) of the transmitted X-rays according to the scattering intensity from the high-pressure tank 12.

図3(A)には、X線の光軸に対する炭素繊維強化樹脂の繊維方向の概略が模式図にて示され、図3(B)には、光軸と繊維方向との間の角度に対する散乱されたX線の強度(散乱強度F)の概略が線図にて示されている。また、図3(C)には、撮像のための積層体14の主要部と検出器22との配置の概略が模式図にて示されている。なお、以下の説明では、X線の光軸と炭素繊維強化樹脂の繊維方向との間においてX線源側(検出器22とは反対側)の角度を繊維角度θとする。また、繊維角度θは、繊維方向が高圧タンク12の径外側(高圧タンク12の中心側とは反対側)に向かう方向を正(プラス)とし、繊維方向が高圧タンク12の径内側(高圧タンク12の中心側)に向かう方向を負(マイナス)とする。さらに、炭素繊維強化樹脂によるX線の散乱の強さを散乱強度Fと言い、計測された散乱強度Fには、散乱の頻度及び散乱角の大小が含まれる。高圧タンク12において、散乱が強いとは、散乱体としての炭素繊維が多いことを意味し、散乱角が大きいとは、炭素繊維の角度とX線入射角との差が小さいことを意味する。このような散乱強度は、位相コントラストイメージング法における干渉性(ビジビリティ)の低下という形で計測できる。 3A shows a schematic diagram of the fiber direction of the carbon fiber reinforced resin relative to the optical axis of the X-ray, and FIG. 3B shows a diagram of the intensity of the scattered X-ray (scattering intensity F) relative to the angle between the optical axis and the fiber direction. FIG. 3C shows a schematic diagram of the arrangement of the main part of the laminate 14 for imaging and the detector 22. In the following description, the angle on the X-ray source side (opposite the detector 22) between the optical axis of the X-ray and the fiber direction of the carbon fiber reinforced resin is called the fiber angle θ. In addition, the fiber angle θ is positive (plus) when the fiber direction faces the radial outside of the high-pressure tank 12 (opposite the center side of the high-pressure tank 12), and negative (minus) when the fiber direction faces the radial inside of the high-pressure tank 12 (the center side of the high-pressure tank 12). Furthermore, the strength of the scattering of the X-ray by the carbon fiber reinforced resin is called the scattering intensity F, and the measured scattering intensity F includes the frequency of scattering and the magnitude of the scattering angle. In the high-pressure tank 12, strong scattering means that there is a lot of carbon fiber as a scatterer, and a large scattering angle means that the difference between the angle of the carbon fiber and the X-ray incidence angle is small. Such scattering intensity can be measured in the form of a decrease in coherence (visibility) in the phase contrast imaging method.

一般に、炭素繊維強化樹脂(繊維強化樹脂も同様)では、X線が照射されることで、照射されたX線が透過し、炭素繊維強化樹脂では、透過するX線に対して炭素繊維が散乱を生じさせる。 In general, when carbon fiber reinforced resin (and fiber reinforced resin as well) is irradiated with X-rays, the irradiated X-rays penetrate the resin, and in carbon fiber reinforced resin, the carbon fibers scatter the penetrating X-rays.

図3(A)及び図3(B)に示すように、炭素繊維強化樹脂は、X線の光軸に対する繊維(炭素繊維)14Aの角度である繊維角度θ=0°においてX線の散乱強度Fが最も大きくなり、繊維角度θがθ1、θ2(0°<θ1<θ2<90°)と大きくなるにしたがって(繊維角度θが90°に近づくにしたがって)、X線の散乱強度Fが減少するという光学的特性を有する。高圧タンク12では、径方向に照射されたX線に対し、フープ層16における散乱強度Fがヘリカル層18における散乱強度Fよりも大きく、フープ層16におけるX線の散乱がヘリカル層18におけるX線の散乱よりも強くなる。 As shown in Figures 3(A) and 3(B), carbon fiber reinforced resin has an optical characteristic in which the X-ray scattering intensity F is greatest when the fiber angle θ = 0°, which is the angle of the fibers (carbon fibers) 14A relative to the optical axis of the X-ray, and the X-ray scattering intensity F decreases as the fiber angle θ increases to θ1, θ2 (0° < θ1 < θ2 < 90°) (as the fiber angle θ approaches 90°). In the high-pressure tank 12, for X-rays irradiated in the radial direction, the scattering intensity F in the hoop layer 16 is greater than the scattering intensity F in the helical layer 18, and the scattering of X-rays in the hoop layer 16 is stronger than the scattering of X-rays in the helical layer 18.

このため、積層体14を透過したX線は、フープ層16側とヘリカル層18側とで輝度(明暗)が異なる(X線散乱法)。これにより、図3(C)に示すように、検出器22の検出面22A上(投影画像上)のフープ層16の周面位置としてのフープ層16とヘリカル層18との境界(界面)位置は、X線に散乱が生じていないと仮定した位置(図3(C)の破線参照)よりもヘリカル層18側にずれているように見える(図3(C)の二点鎖線参照)。なお、図3(C)では、積層体14を簡略化してフープ層16とヘリカル層18の2層として示している。 For this reason, the X-rays transmitted through the laminate 14 have different brightness (light and dark) on the hoop layer 16 side and the helical layer 18 side (X-ray scattering method). As a result, as shown in FIG. 3(C), the boundary (interface) position between the hoop layer 16 and the helical layer 18 as the peripheral surface position of the hoop layer 16 on the detection surface 22A of the detector 22 (on the projected image) appears to be shifted toward the helical layer 18 side (see the two-dot chain line in FIG. 3(C)) from the position where it is assumed that no scattering of the X-rays occurs (see the dashed line in FIG. 3(C)). Note that in FIG. 3(C), the laminate 14 is simplified and shown as two layers, the hoop layer 16 and the helical layer 18.

層厚解析装置10は、検出器22を用い、積層体14についてX線の透過画像(投影画像)を撮像する。この際、積層体14を透過したX線にフープ層16の繊維14Aにより散乱が促進されることで、透過画像は、X線の散乱に応じて輝度が分布した画像(散乱強度分布を得ることができる明暗画像)となる。 The layer thickness analysis device 10 uses the detector 22 to capture an X-ray transmission image (projection image) of the laminate 14. At this time, the fibers 14A of the hoop layer 16 promote scattering of the X-rays that have passed through the laminate 14, so that the transmission image becomes an image in which brightness is distributed according to the scattering of the X-rays (a light-dark image from which a scattering intensity distribution can be obtained).

このような炭素繊維強化樹脂におけるX線の散乱強度についての光学的特性は、光の光学特性に適用される関係式であるローレンツ関数やガウシアン関数などの一般的関数に近似できる。層厚解析装置10では、検出器22で検出されるフープ層16における散乱に応じて輝度が分布した投影画像(画像データ)を用い、フープ層16及びヘリカル層18の層厚を解析する。この際、層厚解析装置10では、炭素繊維強化樹脂について繊維14Aに対するX線の散乱強度の光学特性として、炭素繊維強化樹脂について繊維角度θに対するX線の散乱強度Fを示す関係式を用いる。 The optical characteristics of the scattering intensity of X-rays in such carbon fiber reinforced resin can be approximated by general functions such as Lorentzian function and Gaussian function, which are relational expressions applied to the optical characteristics of light. In the layer thickness analysis device 10, a projection image (image data) in which brightness is distributed according to scattering in the hoop layer 16 detected by the detector 22 is used to analyze the layer thickness of the hoop layer 16 and the helical layer 18. In this case, the layer thickness analysis device 10 uses a relational expression showing the scattering intensity F of X-rays with respect to the fiber angle θ for the carbon fiber reinforced resin as the optical characteristics of the scattering intensity of X-rays for the fibers 14A for the carbon fiber reinforced resin.

層厚解析装置10では、解析対象のフープ層16及びヘリカル層18に用いられる炭素繊維強化樹脂について、X線の光軸に対する繊維角度θを変化させた複数の投影画像(散乱強度分布を示す画像)を取得し、繊維角度θに応じたX線の散乱強度から繊維角度θに対するX線の散乱強度Fを近似できる関係式を定める。 The layer thickness analysis device 10 obtains multiple projection images (images showing the scattering intensity distribution) of the carbon fiber reinforced resin used in the hoop layer 16 and helical layer 18 to be analyzed, varying the fiber angle θ relative to the optical axis of the X-ray, and determines a relational equation that can approximate the X-ray scattering intensity F for the fiber angle θ from the X-ray scattering intensity corresponding to the fiber angle θ.

さらに、層厚解析装置10では、X線の投影画像の画像データから積層体14の層厚方向に沿う散乱強度Fの変化を示す実測プロファイルを作成すると共に、炭素繊維強化樹脂の繊維角度θに対するX線の散乱強度の関係式に基づいて、理論上のプロファイルとしての理論プロファイルを生成する。層厚解析装置10では、実測プロファイル及び理論プロファイルを用いて、フープ層16の周面位置を解析する。具体的には、層厚解析装置10は、実測プロファイルを用いて理論プロファイルを検証することで、フープ層16の周面位置を解析し、ヘリカル層18(18A、18B)の間のフープ層16(16A)の層厚、及びフープ層16(16A、16B)の間のヘリカル層18(18B)の層厚を解析する。なお、径方向の内側のヘリカル層18A及びフープ層16Bの層厚については、積層体14の内径及び外径を用いて解析できる。 Furthermore, the layer thickness analysis device 10 creates an actual measurement profile showing the change in scattering intensity F along the layer thickness direction of the laminate 14 from the image data of the X-ray projection image, and generates a theoretical profile as a theoretical profile based on the relational equation of the scattering intensity of X-rays with respect to the fiber angle θ of the carbon fiber reinforced resin. The layer thickness analysis device 10 analyzes the peripheral position of the hoop layer 16 using the actual measurement profile and the theoretical profile. Specifically, the layer thickness analysis device 10 analyzes the peripheral position of the hoop layer 16 by verifying the theoretical profile using the actual measurement profile, and analyzes the layer thickness of the hoop layer 16 (16A) between the helical layers 18 (18A, 18B) and the layer thickness of the helical layer 18 (18B) between the hoop layers 16 (16A, 16B). The layer thicknesses of the radially inner helical layer 18A and the hoop layer 16B can be analyzed using the inner diameter and outer diameter of the laminate 14.

図1に示すように、層厚解析装置10は、画像処理部24、設定手段としての特性設定部26、及び記憶手段としての記憶部28を備えている。また、層厚解析装置10は、取得手段としてのプロファイル生成部30、受付手段としてのタンク情報入力部32、理論プロファイル生成部34、検証部36、層厚算出部38及び出力部40を備えており、理論プロファイル生成部34及び検証部36が解析手段を構成する。 As shown in FIG. 1, the layer thickness analysis device 10 includes an image processing unit 24, a characteristic setting unit 26 as a setting means, and a storage unit 28 as a storage means. The layer thickness analysis device 10 also includes a profile generation unit 30 as an acquisition means, a tank information input unit 32 as a reception means, a theoretical profile generation unit 34, a verification unit 36, a layer thickness calculation unit 38, and an output unit 40, and the theoretical profile generation unit 34 and the verification unit 36 constitute the analysis means.

層厚解析装置10は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、ストレージ、通信インタフェース、表示部及び操作部の構成を有し、各構成がバスを介して相互に通信可能に接続されたマイクロコンピュータ(図示省略)を備えている。 The layer thickness analysis device 10 is equipped with a microcomputer (not shown) that has a configuration of a CPU (Central Processing Unit), ROM (Read Only Memory), RAM (Random Access Memory), storage, a communication interface, a display unit, and an operation unit, and each component is connected to each other via a bus so that they can communicate with each other.

ROMは、各種プログラムおよび各種データを格納する。RAMは、作業領域として一時的にプログラムやデータを記憶する。ストレージは、HDD(Hard Disk Drive)又はSSD(Solid State Drive)などにより構成され、オペレーティングシステムを含む各種プログラム、及び各種データが格納される。通信インタフェースは、サーバ、印刷機等の他の機器と通信するためのインタフェースであり、例えば、イーサネット(登録商標)、FDDI、Wi-Fi(登録商標)等の規格が用いられる。操作部は、マウス等のポインティングデバイス及びキーボードを含み、各種の入力を行うために使用される。また、表示部は、例えば、液晶ディスプレイであり、各種の情報を表示する。表示部は、タッチパネル方式を採用して、操作部として機能しても良い。 The ROM stores various programs and data. The RAM temporarily stores programs and data as a working area. The storage is composed of an HDD (Hard Disk Drive) or SSD (Solid State Drive), and stores various programs including the operating system and various data. The communication interface is an interface for communicating with other devices such as a server or printer, and uses standards such as Ethernet (registered trademark), FDDI, and Wi-Fi (registered trademark). The operation unit includes a pointing device such as a mouse and a keyboard, and is used to perform various inputs. The display unit is, for example, an LCD display, and displays various information. The display unit may be a touch panel type and function as the operation unit.

層厚解析装置10では、ROM又はストレージに層厚解析のための層厚解析プログラムが格納されており、CPUがROM又はストレージから層厚解析プログラムを読み出し、RAMを作業領域として実行することで、層厚解析プログラムに応じた機能が実現される。これにより、層厚解析装置10では、画像処理部24、特性設定部26、プロファイル生成部30、理論プロファイル生成部34、検証部36、及び層厚算出部38の各機能が実現されている。また、層厚解析装置10では、ストレージによって記憶部28の機能が実現され、操作部によってタンク情報入力部32の機能が実現され、表示部などにより出力部40の機能が実現される。なお、タンク情報入力部32及び出力部40の機能は、通信インタフェースなどが用いられた入力機能及び出力機能によって実現されてもよい。 In the layer thickness analysis device 10, a layer thickness analysis program for layer thickness analysis is stored in the ROM or storage, and the CPU reads the layer thickness analysis program from the ROM or storage and executes it using the RAM as a working area to realize functions according to the layer thickness analysis program. As a result, in the layer thickness analysis device 10, the functions of the image processing unit 24, the characteristic setting unit 26, the profile generation unit 30, the theoretical profile generation unit 34, the verification unit 36, and the layer thickness calculation unit 38 are realized. In addition, in the layer thickness analysis device 10, the function of the memory unit 28 is realized by the storage, the function of the tank information input unit 32 is realized by the operation unit, and the function of the output unit 40 is realized by a display unit or the like. Note that the functions of the tank information input unit 32 and the output unit 40 may be realized by input functions and output functions using a communication interface or the like.

層厚解析装置10には、検出器22が電気的に接続されており、積層体14について検出器22から出力された画像データが画像処理部24に入力される。画像処理部24は、入力された画像データに対して所定の(公知の)画像処理を行うことで、X線の散乱強度分布に応じた画像データを出力する。 The layer thickness analysis device 10 is electrically connected to a detector 22, and image data output from the detector 22 for the laminate 14 is input to an image processing unit 24. The image processing unit 24 performs a predetermined (known) image processing on the input image data, thereby outputting image data corresponding to the scattering intensity distribution of the X-rays.

特性設定部26は、炭素繊維強化樹脂について繊維角度θごとのX線の投影画像が撮像されることで、該投影画像から得られる繊維角度θに応じたX線の投影画像を用い、積層体14に用いた炭素繊維強化樹脂についての光学特性としての繊維角度θに対するX線の散乱強度(散乱強度の変化)を示す関係式を設定する。関係式には、繊維角度θに対するX線の散乱強度Fを示す散乱強度関数F(θ)が適用され、特性設定部26では、繊維角度θに対するX線の散乱強度が近似されるように散乱強度関数F(θ)を設定する。記憶部28には、特性設定部26において設定された散乱強度関数F(θ)が格納される。 The characteristic setting unit 26 uses the X-ray projection images corresponding to the fiber angle θ obtained from the X-ray projection images taken for the carbon fiber reinforced resin for each fiber angle θ to set a relational expression indicating the X-ray scattering intensity (change in scattering intensity) with respect to the fiber angle θ as an optical characteristic of the carbon fiber reinforced resin used in the laminate 14. A scattering intensity function F(θ) indicating the X-ray scattering intensity F with respect to the fiber angle θ is applied to the relational expression, and the characteristic setting unit 26 sets the scattering intensity function F(θ) so that the X-ray scattering intensity with respect to the fiber angle θ is approximated. The memory unit 28 stores the scattering intensity function F(θ) set in the characteristic setting unit 26.

一方、図2に示すように、層厚解析装置10を用いた層厚解析処理では、X線散乱強度測定装置のX線源と検出器22との間に高圧タンク12が配置される。これにより、層厚解析装置10では、検出器22により高圧タンク12の積層体14の所定部位におけるフープ層16の繊維方向の接線方向に沿って照射されたX線の投影画像を検出でき、X線の投影画像からX線の散乱強度の分布に応じた画像データを取得できる。層厚解析装置10のプロファイル生成部30では、画像処理部24によって画像処理されて得られるX線の散乱強度の分布に応じた画像データから、積層体14の径方向に沿うX線の散乱強度分布を示すプロファイル(実測プロファイル)を生成する。 On the other hand, as shown in FIG. 2, in the layer thickness analysis process using the layer thickness analysis device 10, the high-pressure tank 12 is placed between the X-ray source of the X-ray scattering intensity measurement device and the detector 22. As a result, in the layer thickness analysis device 10, the detector 22 can detect a projection image of X-rays irradiated along the tangential direction of the fiber direction of the hoop layer 16 at a predetermined portion of the laminate 14 of the high-pressure tank 12, and image data corresponding to the distribution of the scattering intensity of the X-rays can be obtained from the projection image of the X-rays. The profile generation unit 30 of the layer thickness analysis device 10 generates a profile (actual measurement profile) showing the scattering intensity distribution of the X-rays along the radial direction of the laminate 14 from image data corresponding to the distribution of the scattering intensity of the X-rays obtained by image processing by the image processing unit 24.

一方、タンク情報入力部32には、解析対象の高圧タンク12のタンク情報が入力される。このタンク情報には、積層体14の層構成、及び高圧タンク12の外径(積層体14の外側半径)等の情報が含まれ、積層体14の層構成には、各層においてXの散乱に影響する炭素繊維強化樹脂の巻き方向(繊維方向)を特定できる情報が含まれる。また、タンク情報には、高圧タンク12におけるライナ層20を除いた内径(積層体14の内径に対応するライナ層20の外側半径)等の情報が含まれてもよい。 Meanwhile, tank information of the high-pressure tank 12 to be analyzed is input to the tank information input unit 32. This tank information includes information such as the layer structure of the laminate 14 and the outer diameter of the high-pressure tank 12 (the outer radius of the laminate 14), and the layer structure of the laminate 14 includes information that can identify the winding direction (fiber direction) of the carbon fiber reinforced resin that affects the scattering of X in each layer. The tank information may also include information such as the inner diameter excluding the liner layer 20 in the high-pressure tank 12 (the outer radius of the liner layer 20 that corresponds to the inner diameter of the laminate 14).

理論プロファイル生成部34は、タンク情報及び散乱強度関数F(θ)に基づき、実測プロファイルに対応する積層体14の層厚方向に対する理論上のX線の散乱強度の分布を生成する。この際、理論プロファイル生成部34は、理論上のX線の散乱強度の値の分布(X線の散乱強度の理論値の分布)を示すプロファイル(理論プロファイル)を生成する。また、理論プロファイル生成部34では、X線の散乱強度の大きい(散乱の強い)層であるフープ層16(16A、16B)を対象として、フープ層16の周面位置(軸心を原点とする座標位置)を仮定(仮に設定)し、仮定した位置をフープ層16の周面とする理論プロファイルを生成する。また、仮定するフープ層16の周面位置としては、径方向の内側及び径方向外側の少なくとも一方の周面を適用できる。 Based on the tank information and the scattering intensity function F(θ), the theoretical profile generator 34 generates a theoretical distribution of X-ray scattering intensity in the layer thickness direction of the laminate 14 corresponding to the measured profile. At this time, the theoretical profile generator 34 generates a profile (theoretical profile) showing the theoretical distribution of X-ray scattering intensity values (distribution of theoretical values of X-ray scattering intensity). In addition, the theoretical profile generator 34 assumes (temporarily sets) the peripheral position (coordinate position with the axis as the origin) of the hoop layer 16 for the hoop layer 16 (16A, 16B), which is a layer with a large X-ray scattering intensity (strong scattering), and generates a theoretical profile with the assumed position as the peripheral surface of the hoop layer 16. In addition, at least one of the radially inner and radially outer peripheral surfaces can be applied as the assumed peripheral surface position of the hoop layer 16.

検証部36は、実測プロファイルと理論プロファイルとを照合し、理論プロファイルが実測プロファイルに一致(実質的に一致している場合を含む)しているかを検証する。この際、検証部36は、フープ層16の周面位置を設定し、設定した周面位置に基づいて理論プロファイスを生成し、生成した理論プロファイルが実測プロファイルと一致するか否かを検証する。層厚算出部38は、検証部36において実測プロファイルと一致しているとみなせる理論プロファイルに基づいて各層の層厚を算出し、算出結果を出力部40から出力する。 The verification unit 36 compares the measured profile with the theoretical profile and verifies whether the theoretical profile matches (including cases where they substantially match) the measured profile. In this case, the verification unit 36 sets the peripheral position of the hoop layer 16, generates a theoretical profile based on the set peripheral position, and verifies whether the generated theoretical profile matches the measured profile. The layer thickness calculation unit 38 calculates the layer thickness of each layer based on the theoretical profile that the verification unit 36 considers to match the measured profile, and outputs the calculation result from the output unit 40.

以下に、本実施形態の作用として、層厚解析装置10を用いた解析対象の高圧タンク12における積層体14の層厚解析処理を説明する。 Below, we will explain the operation of this embodiment, which involves the layer thickness analysis process of the laminate 14 in the high-pressure tank 12 to be analyzed using the layer thickness analysis device 10.

層厚解析装置10を用いた層厚解析処理では、取得処理及び解析処理が実行される。また、層厚解析装置10を用いた層厚解析処理では、取得処理に先立って光学特性設定処理を実行できる。 In the layer thickness analysis process using the layer thickness analysis device 10, an acquisition process and an analysis process are performed. In addition, in the layer thickness analysis process using the layer thickness analysis device 10, an optical property setting process can be performed prior to the acquisition process.

取得処理には、高圧タンク12の積層体14に対するX線の投影画像を撮像して、X線の散乱強度分布を計測する計測処理を含む。取得処理では、層厚解析装置10が計測処理の計測結果に基づいて積層体14の層厚方向に沿うX線の散乱強度Fの分布を示す実測プロファイルを生成する。また、解析処理においては、層厚解析装置10が予め設定している散乱強度関数F(θ)を用いて、積層体14における層厚方向に沿う理論上のX線の散乱強度の分布を示す理論プロファイルを生成する。また、解析処理では、理論プロファイルについて、実測プロファイルを用いて検証して各層の層厚を解析する。また、光学特性設定処理は、取得処理又は計測処理に先立って実行でき、光学特性設定処理では、層厚解析装置10が炭素繊維強化樹脂における繊維角度θに対するX線の散乱強度を示す散乱強度関数F(θ)を設定する。 The acquisition process includes a measurement process in which an X-ray projection image of the laminate 14 of the high-pressure tank 12 is captured and the scattering intensity distribution of the X-ray is measured. In the acquisition process, the layer thickness analysis device 10 generates an actual measurement profile showing the distribution of the X-ray scattering intensity F along the layer thickness direction of the laminate 14 based on the measurement results of the measurement process. In the analysis process, the layer thickness analysis device 10 generates a theoretical profile showing the theoretical distribution of the X-ray scattering intensity along the layer thickness direction of the laminate 14 using a scattering intensity function F(θ) set in advance. In the analysis process, the theoretical profile is verified using the actual measurement profile to analyze the layer thickness of each layer. In addition, the optical property setting process can be performed prior to the acquisition process or the measurement process, and in the optical property setting process, the layer thickness analysis device 10 sets the scattering intensity function F(θ) showing the scattering intensity of the X-ray with respect to the fiber angle θ in the carbon fiber reinforced resin.

図4(A)には、光学特性設定処理の概略が流れ図にて示され、図4(B)には、計測処理(撮像処理)を含む取得処理の概略が流れ図にて示され、図4(C)には、解析処理の概略が流れ図にて示されている。また、図5(A)~図5(C)には、光学特性設定処理において取得された炭素繊維強化樹脂についてのX線の散乱強度の概略が線図にて示されている。 Figure 4(A) shows an outline of the optical property setting process in a flow diagram, Figure 4(B) shows an outline of the acquisition process including the measurement process (imaging process) in a flow diagram, and Figure 4(C) shows an outline of the analysis process in a flow diagram. Also, Figures 5(A) to 5(C) show outlines of the X-ray scattering intensity for carbon fiber reinforced resin obtained in the optical property setting process in a line diagram.

図4(A)に示すように、光学特性設定処理では、最初のステップ100において、繊維角度θに応じたX線の輝度(散乱強度)を計測する。光学特性取得処理では、積層体14のフープ層16及びヘリカル層18に用いたのと同様の炭素繊維強化樹脂をX線源と検出器22との間に配置し、炭素繊維強化樹脂におけるX線の光軸に対する繊維14Aの繊維角度θを所定の範囲で変化させながら、炭素繊維強化樹脂を透過したX線を撮像する。 As shown in FIG. 4(A), in the optical property setting process, in the first step 100, the brightness (scattering intensity) of the X-rays according to the fiber angle θ is measured. In the optical property acquisition process, the same carbon fiber reinforced resin as that used for the hoop layer 16 and helical layer 18 of the laminate 14 is placed between the X-ray source and the detector 22, and the X-rays transmitted through the carbon fiber reinforced resin are imaged while the fiber angle θ of the fibers 14A relative to the optical axis of the X-rays in the carbon fiber reinforced resin is changed within a predetermined range.

繊維角度θの範囲は、X線の散乱強度が最も強い状態に比して無視できる角度の範囲を適用でき、例えば、ヘリカル層18における散乱強度と同等の散乱強度となる角度(繊維角度θ=90°)までの範囲や、X線の散乱強度が最大値に対して所定比率以下となる角度の範囲などを適用できる。 The range of fiber angle θ can be a range of angles that can be ignored compared to the strongest scattering intensity of X-rays, such as a range up to an angle (fiber angle θ = 90°) where the scattering intensity is equivalent to the scattering intensity in the helical layer 18, or a range of angles where the scattering intensity of X-rays is a specified ratio or less of the maximum value.

次のステップ102において、層厚解析装置10は、検出器22により検出される繊維角度θごとのX線の投影画像を読み込む。これにより、層厚解析装置10は、繊維角度θごとのX線の散乱強度Fが得られる投影画像を取得する。この後、ステップ104において、層厚解析装置10は、炭素繊維強化樹脂についてX線の散乱強度Fの光学特性を示す関係式として散乱強度関数F(θ)を設定する。 In the next step 102, the layer thickness analysis device 10 reads in the X-ray projection images for each fiber angle θ detected by the detector 22. As a result, the layer thickness analysis device 10 acquires projection images that provide the X-ray scattering intensity F for each fiber angle θ. After this, in step 104, the layer thickness analysis device 10 sets the scattering intensity function F(θ) as a relational expression that indicates the optical characteristics of the X-ray scattering intensity F for the carbon fiber reinforced resin.

X線の投影画像は、繊維におけるX線の散乱強度に応じた輝度となる。ここから、層厚解析装置10では、繊維角度θごとのX線の輝度から繊維角度θごとのX線の散乱強度を取得して、取得したX線の散乱強度をプロットする。これにより、図5(A)に示すように、層厚解析装置10では、X線の光軸と炭素繊維強化樹脂における繊維14Aの繊維方向との角度差である繊維角度θに応じたX線の散乱強度Fが得られる。層厚解析装置10では、例えば、繊維角度θを繊維角度θの正接(tanθ)に変換し(図5(B)参照)、繊維角度θに応じたtanθ(繊維角度θの正接)に対するX線の散乱強度Fの変化特性を示す曲線を取得する(図5(C)参照)。 The X-ray projection image has a brightness corresponding to the scattering intensity of the X-ray in the fiber. From this, the layer thickness analysis device 10 obtains the scattering intensity of the X-ray for each fiber angle θ from the brightness of the X-ray for each fiber angle θ, and plots the obtained scattering intensity of the X-ray. As a result, as shown in FIG. 5(A), the layer thickness analysis device 10 obtains the scattering intensity F of the X-ray corresponding to the fiber angle θ, which is the angle difference between the optical axis of the X-ray and the fiber direction of the fiber 14A in the carbon fiber reinforced resin. For example, the layer thickness analysis device 10 converts the fiber angle θ into the tangent (tan θ) of the fiber angle θ (see FIG. 5(B)), and obtains a curve showing the change characteristic of the scattering intensity F of the X-ray with respect to tan θ (tangent of the fiber angle θ) corresponding to the fiber angle θ (see FIG. 5(C)).

層厚解析装置10では、繊維角度θ(tanθ)に対するX線の散乱強度の光学特性を示すための関係式(関係関数)の一例として(1)式に示すローレンツ関数F(θ)を適用している。 In the layer thickness analysis device 10, the Lorentz function F(θ) shown in equation (1) is used as an example of a relational expression (relational function) for indicating the optical characteristics of the X-ray scattering intensity with respect to the fiber angle θ (tan θ).

上記ローレンツ関数F(θ)は、定数A、Bにより演算値のピーク(最大値)及び各角度θにおける演算値が変化する。層厚解析装置10は、炭素繊維強化樹脂における繊維角度θについてのX線の散乱強度の変化を示す曲線が近似されるようにローレンツ関数F(θ)の定数A、Bを設定し、設定したローレンツ関数F(θ)を散乱強度関数F(θ)に設定する。この後、ステップ106において、層厚解析装置10は、設定した散乱強度関数F(θ)を記憶部28に記憶し、光学特性設定処理を終了する。 The Lorentz function F(θ) changes the peak (maximum value) of the calculated value and the calculated value at each angle θ depending on the constants A and B. The layer thickness analysis device 10 sets the constants A and B of the Lorentz function F(θ) so as to approximate the curve showing the change in X-ray scattering intensity for the fiber angle θ in the carbon fiber reinforced resin, and sets the set Lorentz function F(θ) as the scattering intensity function F(θ). After this, in step 106, the layer thickness analysis device 10 stores the set scattering intensity function F(θ) in the memory unit 28, and ends the optical characteristic setting process.

次に、層厚解析装置10を用いた層厚解析処理では、解析対象の計測処理を含む取得処理(図4(B)参照)が実行され、解析処理(図4(C)参照)が実行される。なお、図6には、計測処理の概略が模式図にて示されている。また、図7(A)には、計測処理における投影画像の一例が示され、図7(B)には、計測結果に基づいた実測プロファイルの一例が線図にて示されている。さらに、図8には、タンク情報の一例が図表にて示され、図9には、界面となる各層の下端位置の演算結果の一例が図表にて示され、図10には、図9の演算結果に基づいた層厚方向位置に対する散乱強度Fの変化が線図にて示さている。 Next, in the layer thickness analysis process using the layer thickness analysis device 10, an acquisition process (see FIG. 4(B)) including a measurement process of the analysis target is performed, and an analysis process (see FIG. 4(C)) is performed. FIG. 6 shows an outline of the measurement process in a schematic diagram. FIG. 7(A) shows an example of a projected image in the measurement process, and FIG. 7(B) shows an example of an actual measurement profile based on the measurement results in a line diagram. FIG. 8 shows an example of tank information in a diagram, FIG. 9 shows an example of a calculation result of the bottom end position of each layer that is the interface in a diagram, and FIG. 10 shows a line diagram of the change in scattering intensity F versus the layer thickness direction position based on the calculation result of FIG. 9.

図4(B)に示すように、取得処理では、最初のステップ110において、X線散乱強度測定装置を用いて高圧タンク12の積層体14を撮像する計測処理を行う。図6に示すように、計測処理では、X線源と検出器22との間に高圧タンク12の積層体14(高圧タンク12の外周部)を配置し、積層体14に向けてX線を照射し、積層体14を透過して検出器22の検出面22Aに照射されたX線を受光する。これにより、積層体14の径方向の位置Pにおけるフープ層16の繊維方向の接線方向に沿い、かつ検出器22の検出面22Aに垂直となるようにX線が照射され、図7(A)に示される如き、積層体14を透過したX線の散乱強度の分布に応じた投影画像が得られる。 As shown in FIG. 4B, in the acquisition process, in the first step 110, a measurement process is performed to image the laminate 14 of the high-pressure tank 12 using an X-ray scattering intensity measurement device. As shown in FIG. 6, in the measurement process, the laminate 14 of the high-pressure tank 12 (the outer periphery of the high-pressure tank 12) is placed between the X-ray source and the detector 22, X-rays are irradiated toward the laminate 14, and the X-rays that have passed through the laminate 14 and are irradiated on the detection surface 22A of the detector 22 are received. As a result, X-rays are irradiated along the tangential direction of the fiber direction of the hoop layer 16 at the radial position P of the laminate 14 and perpendicular to the detection surface 22A of the detector 22, and a projection image corresponding to the distribution of the scattering intensity of the X-rays that have passed through the laminate 14 is obtained, as shown in FIG. 7A.

図4(B)のステップ112において、層厚解析装置10は、検出器22からX線の投影画像の画像データを読み込む。これにより、層厚解析装置10は、積層体14を透過したX線の散乱強度の分布画像(例えば、図7(A)に示す投影画像:明暗画像)を取得する。 In step 112 of FIG. 4(B), the layer thickness analysis device 10 reads image data of the X-ray projection image from the detector 22. As a result, the layer thickness analysis device 10 obtains a distribution image of the scattering intensity of the X-rays transmitted through the stack 14 (for example, the projection image shown in FIG. 7(A): light-dark image).

この後、ステップ114において、層厚解析装置10は、X線の投影画像の画像データに基づき、積層体14における層厚方向に対するX線の散乱強度の変化を示す実測プロファイルを作成する。実測プロファイルは、投影画像上における高圧タンク12の軸方向の所定位置P(図7(A)参照)について、積層体14の層厚方向におけるX線の散乱強度Fの変化を示している(図7(B)に参照)。 After that, in step 114, the layer thickness analysis device 10 creates a measured profile that indicates the change in X-ray scattering intensity in the layer thickness direction of the laminate 14 based on the image data of the X-ray projection image. The measured profile indicates the change in X-ray scattering intensity F in the layer thickness direction of the laminate 14 for a specific position P in the axial direction of the high-pressure tank 12 on the projection image (see FIG. 7(A)) (see FIG. 7(B)).

図4(C)に示すように、解析処理では、最初のステップ120においてタンク情報が入力されることで、層厚解析装置10が入力されたタンク情報を受け付ける。図8に示すように、タンク情報には、高圧タンク12の外径寸法(外径R)、及び積層体14を形成する各層を特定する情報が含まれる。各層の情報としては、高圧タンク12の径方向の内側から積層順序1、2、3、4、5として、各々ライナ層20、ヘリカル層18A、フープ層16A、ヘリカル層18B、及びフープ層16Bの各々を特定できる情報が入力される。積層体14を形成するヘリカル層18A、フープ層16A、ヘリカル層18B、及びフープ層16Bの各々を特定できる情報には、積層体14における炭素繊維強化樹脂の巻き方向(繊維方向)を示す情報が含まれる。このようなタンク情報としては、高圧タンク12の設計情報を用いることができる。 As shown in FIG. 4(C), in the analysis process, tank information is input in the first step 120, and the layer thickness analysis device 10 accepts the input tank information. As shown in FIG. 8, the tank information includes the outer diameter dimension (outer diameter R) of the high-pressure tank 12 and information identifying each layer forming the laminate 14. As information on each layer, information that can identify each of the liner layer 20, helical layer 18A, hoop layer 16A, helical layer 18B, and hoop layer 16B as stacking orders 1, 2, 3, 4, and 5 from the radial inside of the high-pressure tank 12 is input. Information that can identify each of the helical layer 18A, hoop layer 16A, helical layer 18B, and hoop layer 16B that form the laminate 14 includes information indicating the winding direction (fiber direction) of the carbon fiber reinforced resin in the laminate 14. As such tank information, the design information of the high-pressure tank 12 can be used.

図4(C)のステップ122において、層厚解析装置10は、積層体14の径方向におけるフープ層16の周面位置の一つを設定し、ステップ124において、設定した位置をフープ層16の周面位置として散乱強度関数F(θ)((1)式参照)に基づいて層厚方向に沿ったX線の理論上の強度を示す理論プロファイルを生成する。また、層厚解析装置10は、ステップ126において実測プロファイルを用いて理論プロファイルを検証し、理論プロファイルが実測プロファイルに一致しているとみなせると、ステップ126において肯定判定して、ステップ128に移行する。ステップ128では、層厚解析装置10が実測プロファイルに一致すると判定された理論プロファイルにおいて設定したフープ層16の周面位置から積層体14を形成する各層の層厚を算出する。 In step 122 of FIG. 4(C), the layer thickness analysis device 10 sets one of the peripheral positions of the hoop layer 16 in the radial direction of the laminate 14, and in step 124, a theoretical profile showing the theoretical intensity of X-rays along the layer thickness direction is generated based on the scattering intensity function F(θ) (see equation (1)) with the set position as the peripheral position of the hoop layer 16. In addition, in step 126, the layer thickness analysis device 10 verifies the theoretical profile using the measured profile, and if the theoretical profile is deemed to match the measured profile, the device makes a positive determination in step 126 and proceeds to step 128. In step 128, the layer thickness analysis device 10 calculates the layer thickness of each layer forming the laminate 14 from the peripheral position of the hoop layer 16 set in the theoretical profile determined to match the measured profile.

ここで、解析処理の具体例を説明する。図6に示すように、積層体14(高圧タンク12)の中心を原点するX-Y平面のY軸上におけるフープ層16内の位置yのX線の散乱強度I(y)は、(2)式で示される。また、位置Pにおける円筒状の積層体14では、Y軸を対称線とする線対称とみなすことができるので、(2)式を(3)式に変形して用いることができる。なお、(3)式では、角度θaが光軸方向であるX軸上の位置xaにおける繊維角度θ、角度-θaがX軸上の位置-xaにおける繊維角度θとしている(図示省略)。また、位置yは、積層体14の中心(原点0)からの距離を示す。 Here, a specific example of the analysis process will be described. As shown in FIG. 6, the scattering intensity I(y) of X-rays at position y in the hoop layer 16 on the Y axis of the X-Y plane, which has the center of the laminate 14 (high-pressure tank 12) as the origin, is expressed by formula (2). Furthermore, the cylindrical laminate 14 at position P can be considered to be symmetrical about the Y axis, so formula (2) can be modified to formula (3) for use. In formula (3), angle θa is the fiber angle θ at position xa on the X axis, which is the optical axis direction, and angle -θa is the fiber angle θ at position -xa on the X axis (not shown). Furthermore, position y indicates the distance from the center of the laminate 14 (origin 0).

また、(4)式の左辺において、(ab+b)>0とすると、(4)の右辺が成り立つ。ここから、(3)式は、(4)を用いることで、(5)式に変形でき、フープ層16上の位置yにおけるX線の散乱強度I(y)は、(5)式を演算することで得られる。なお、Rはタンク情報として受け付けた積層体14の半径であり、定数A、Bは光学特性設定処理において定められている。 Furthermore, if (ab+ b2 )>0 is set on the left side of equation (4), the right side of equation (4) holds. From this, equation (3) can be transformed into equation (5) by using (4), and the scattering intensity I(y) of X-rays at position y on the hoop layer 16 can be obtained by calculating equation (5). Note that R is the radius of the laminate 14 accepted as tank information, and constants A and B are determined in the optical characteristic setting process.



理論プロファイルの生成では、Y軸上におけるフープ層16の径方向内側の周面の位置y’を仮に設定し、設定した周面の位置y’を基準として、原点(y=0)から外周位置(y=R)までの範囲で散乱強度I(y)を演算する。また、理論プロファイルの生成では、複数のフープ層16(16A、16B)の各々について、径方向内側の周面の位置y’の各々を仮に設定し、設定した各々位置y’を基準として散乱強度I(y)が演算される。 In generating the theoretical profile, the position y' of the radially inner peripheral surface of the hoop layer 16 on the Y axis is provisionally set, and the scattering intensity I(y) is calculated in the range from the origin (y = 0) to the outer peripheral position (y = R) based on the set peripheral surface position y'. In generating the theoretical profile, the position y' of the radially inner peripheral surface of each of the multiple hoop layers 16 (16A, 16B) is provisionally set, and the scattering intensity I(y) is calculated based on each set position y'.

理論プロファイルは、各位置y’についてY軸上の位置yごとの散乱強度I(y)を合成することで得られる。なお、設定するフープ層16の周面の位置は、径方向内側の周面の位置y’のみでなく、径方向外側の周面の位置y”も適用できる。 The theoretical profile is obtained by combining the scattering intensity I(y) for each position y on the Y axis for each position y'. Note that the position of the circumferential surface of the hoop layer 16 to be set can be not only the position y' of the radially inner circumferential surface, but also the position y" of the radially outer circumferential surface.

この後、実測プロファイルを用いて理論プロファイルを検証する。検証では、例えば、実測プロファイル及び理論プロファイルの各々を正規化し、理論プロファイルが実測プロファイルを一致しているか否か(近似できるか否かでもよい)を判定する。理論プロファイルが実測プロファイルを一致又は近似できていると判定されることで、理論プロファイルにおいて位置y’を解析対象の積層体14におけるフープ層16の径方向内側の周面の位置とみなす。このフープ層16の径方向内側の周面の位置が得られることで、得られたフープ層16の周面の位置をタンク情報とから、フープ層16の各々の層厚が得られ、フープ層16の間のヘリカル層18の層厚が得られる。 Then, the theoretical profile is verified using the measured profile. In the verification, for example, the measured profile and the theoretical profile are each normalized, and it is determined whether the theoretical profile matches the measured profile (or can be approximated). When it is determined that the theoretical profile matches or approximates the measured profile, the position y' in the theoretical profile is regarded as the position of the radially inner circumferential surface of the hoop layer 16 in the laminate 14 to be analyzed. By obtaining the position of the radially inner circumferential surface of this hoop layer 16, the layer thickness of each of the hoop layers 16 is obtained from the obtained position of the circumferential surface of the hoop layer 16 and the tank information, and the layer thickness of the helical layer 18 between the hoop layers 16 is obtained.

ここで、図9には、論理プロファイルの演算結果の一実施例が示され、図10には、図9の演算結果に基づいた層厚方向(径方向)の位置yに対する散乱強度が線図にて示されている。
図9における上端座標は、解析対象として想定した積層体14のフープ層16B、ヘリカル層18B、フープ層16B、ヘリカル層18A及びライナ層20の径方向外側の周面の位置(想定座標位置)を示している。また、下端座標は、解析対象として想定した積層体14のフープ層16B、ヘリカル層18B、フープ層16B、ヘリカル層18A及びライナ層20の径方向内側の周面の位置(想定座標位置)を示している。上端座標及び下端座標は、各々実測プロファイルにより検証された各層の周面の位置としている。
FIG. 9 shows an example of the calculation results of a logical profile, and FIG. 10 shows a diagram of the scattering intensity versus position y in the layer thickness direction (radial direction) based on the calculation results of FIG.
9 indicates the positions (assumed coordinate positions) of the radially outer peripheral surfaces of the hoop layer 16B, helical layer 18B, hoop layer 16B, helical layer 18A, and liner layer 20 of the laminate 14 assumed to be analyzed. Also, the bottom coordinate indicates the positions (assumed coordinate positions) of the radially inner peripheral surfaces of the hoop layer 16B, helical layer 18B, hoop layer 16B, helical layer 18A, and liner layer 20 of the laminate 14 assumed to be analyzed. The top coordinate and bottom coordinate are the positions of the peripheral surfaces of each layer verified by the actual measured profile.

散乱強度I(y)、I(y)、I(y)、I(y)、I(y)は、各々フープ層16Bの位置y’、フープ層16Aの位置(ヘリカル層18Bの径方向外側の周面の位置)y”、フープ層16Aの位置y’、ヘリカル層18の径方向内側の周面の位置(ライナ層20の径方向外側の周面の位置)、及びライナ層20の径方向内側の周面の位置)に対応している。また、yは、散乱強度I(y)としての散乱強度I(y)、I(y)、I(y)、I(y)、I(y)の演算におけるY軸上の位置(y座標)を示している。なお、図9では、演算及び演算結果を簡略化するためにyを粗くして示している(5mmごととしている)。 Scattering intensities I0 (y), I1 (y), I2 (y), I3 (y), and I4 (y) correspond to position y' of hoop layer 16B, position y" of hoop layer 16A (position of the radially outer circumferential surface of helical layer 18B), position y' of hoop layer 16A, position of the radially inner circumferential surface of helical layer 18 (position of the radially outer circumferential surface of liner layer 20), and position of the radially inner circumferential surface of liner layer 20, respectively. Furthermore, y indicates the position on the Y axis (y coordinate) in the calculation of scattering intensities I0 (y), I1 (y), I2 (y), I3 (y), and I4 (y) as scattering intensity I(y). Note that in Figure 9, y is shown roughly (every 5 mm) to simplify the calculation and the calculation results.

また、図10では、理論プロファイルに対応する縦軸の散乱強度をIs(y)=I(y)-I(y)+I(y)-I(y)-I(y)とし、横軸が積層体14の中心(原点)からの距離(径方向寸法)としており、Y軸方向の位置(Y軸座標)を示している。 In addition, in Figure 10, the scattering intensity on the vertical axis corresponding to the theoretical profile is Is(y) = I0 (y) - I1 (y) + I2 (y) - I3 (y) - I4 (y), and the horizontal axis represents the distance (radial dimension) from the center (origin) of the stack 14, and indicates the position in the Y-axis direction (Y-axis coordinate).

図9及び図10に示すように、炭素繊維強化樹脂について設定したX線の散乱強度関数F(θ)を用いることで、散乱強度Is(y)(Is(y)=I(y)-I(y)+I(y)-I(y)-I(y))から解析対象の積層体14について、フープ層16Bの径方向外側の周面の位置、フープ層16Bの径方向内側の周面の位置(ヘリカル層18Bの径方向外側の周面の位置)、フープ層16Aの径方向外側の周面の位置(ヘリカル層18Bの径方向外側の周面位置)、及びフープ層16Aの径方向内側の周面の位置(ヘリカル層18Aの径方向外側の周面の位置)の各々を精度よく特定できるプロファイルが得られる。 As shown in Figures 9 and 10, by using the X-ray scattering intensity function F(θ) set for carbon fiber reinforced resin, a profile can be obtained from the scattering intensity Is(y) (Is(y) = I0 (y) - I1 (y) + I2 (y) - I3 (y) - I4 (y)) that can accurately identify each of the following positions of the radially outer circumferential surface of the hoop layer 16B, the radially inner circumferential surface of the hoop layer 16B (the radially outer circumferential surface position of the helical layer 18B), the radially outer circumferential surface position of the hoop layer 16A (the radially outer circumferential surface position of the helical layer 18B), and the radially inner circumferential surface position of the hoop layer 16A (the radially outer circumferential surface position of the helical layer 18A) for the laminate 14 to be analyzed.

したがって、層厚解析装置10では、フープ層16の各々の径方向内側の周面の位置y’を設定して演算した散乱強度I(y)から論理プロファイルを生成し、実装プロファイルに近似する論理プロファイルを検証することで、フープ層16の周面の位置y’を特定できる。この理論プロファイルIs(y)が実測プロファイルと近似することで、理論プロファイルIs(y)において設定したフープ層16の各々の位置y’からフープ層16の各々の径方向内側の位置yを特定できる。 Therefore, in the layer thickness analysis device 10, a logical profile is generated from the scattering intensity I(y) calculated by setting the radially inner peripheral position y' of each of the hoop layers 16, and the logical profile that approximates the implementation profile is verified, thereby making it possible to identify the peripheral position y' of the hoop layer 16. As this theoretical profile Is(y) approximates the actual measurement profile, it is possible to identify the radially inner position y of each of the hoop layers 16 from the position y' of each of the hoop layers 16 set in the theoretical profile Is(y).

しかも、層厚解析装置10では、散乱強度I(y)の総和である散乱強度Is(y)を用いることで、フープ層16の径方向外側の位置を特定できて、フープ層16の間のヘリカル層18(18B)の層厚を特定できる。 Moreover, the layer thickness analysis device 10 can identify the radially outer position of the hoop layer 16 by using the scattering intensity Is(y), which is the sum of the scattering intensities I(y), and can identify the layer thickness of the helical layer 18 (18B) between the hoop layers 16.

なお、フープ層16の径方向外側の周面の位置y”を仮定して、理論プロファイルを生成した場合においても、同様にフープ層16の各々の層厚及びフープ層16の間のヘリカル層18の層厚を特定できる。 Even if a theoretical profile is generated assuming a radially outer peripheral position y" of the hoop layer 16, the layer thickness of each of the hoop layers 16 and the layer thickness of the helical layer 18 between the hoop layers 16 can be determined in a similar manner.

このように層厚解析装置10では、予め記憶部28に記憶された散乱強度関数F(θ)を用い、タンク情報に基づいて特定したフープ層16について、フープ層16を透過したX線の散乱強度を示す理論プロファイルを生成する。 In this way, the layer thickness analysis device 10 uses the scattering intensity function F(θ) stored in advance in the memory unit 28 to generate a theoretical profile showing the scattering intensity of X-rays transmitted through the hoop layer 16 for the hoop layer 16 identified based on the tank information.

また、層厚解析装置10の検証部36は、理論プロファイルが実測プロファイルに合っているか否かを検証することで、理論プロファイルにおいて仮定したフープ層16の径方向内側の周面の位置y’が実測プロファイルにおけるフープ層16の径方向内側の周面の位置に合っているか否かを検証する。 The verification unit 36 of the layer thickness analysis device 10 also verifies whether the theoretical profile matches the measured profile, thereby verifying whether the position y' of the radially inner peripheral surface of the hoop layer 16 assumed in the theoretical profile matches the position of the radially inner peripheral surface of the hoop layer 16 in the measured profile.

これにより、理論プロファイルが実測プロファイルに合っていると検証されることで、理論プロファイルにおいて設定した周面の位置y’が、解析対象の積層体14におけるフープ層16の径方向内側の周面の位置として特定できる。なお、検証部36によって理論プロファイルが実測プロファイルに合っていないとされた場合、理論プロファイル生成部34では、設定する周面位置を更新し、新たに設定した周面位置についての理論プロファイルを生成する。 By verifying that the theoretical profile matches the measured profile, the peripheral position y' set in the theoretical profile can be identified as the radially inner peripheral position of the hoop layer 16 in the laminate 14 being analyzed. If the verification unit 36 determines that the theoretical profile does not match the measured profile, the theoretical profile generation unit 34 updates the set peripheral position and generates a theoretical profile for the newly set peripheral position.

層厚解析装置10では、フープ層16の周面位置の各々が得られることで、積層体14におけるフープ層16におけるヘリカル層18との境界面の位置を得ることができる。層厚解析装置10の層厚算出部38は、このようにして得られたフープ層16とヘリカル層18との境界面の位置に基づいて、フープ層16(16A、16B)及びヘリカル層18(18A、18B)の各々の層厚を算出する。これにより、層厚解析装置10では、積層体の14の各層の層厚を容易に解析できる。しかも、層厚解析装置10では、積層体14の各層の層厚を精度よく解析できる。 By obtaining each peripheral position of the hoop layer 16, the layer thickness analysis device 10 can obtain the position of the boundary surface between the hoop layer 16 and the helical layer 18 in the laminate 14. The layer thickness calculation unit 38 of the layer thickness analysis device 10 calculates the layer thickness of each of the hoop layers 16 (16A, 16B) and the helical layer 18 (18A, 18B) based on the position of the boundary surface between the hoop layer 16 and the helical layer 18 obtained in this manner. This allows the layer thickness analysis device 10 to easily analyze the layer thickness of each layer of the laminate 14. Moreover, the layer thickness analysis device 10 can accurately analyze the layer thickness of each layer of the laminate 14.

なお、以上説明した本実施形態では、繊維方向が軸方向とされたヘリカル層18と繊維方向が周方向とされフープ層16とが交互に積層された積層体14を例に説明した。しかしながら、高圧タンクの積層体は、繊維強化樹脂の繊維方向が第1方向とされた第1層と、前記繊維強化樹脂の繊維方向が前記第1方向と交差する第2方向とされて巻回された第2層とが交互に積層された円筒状であればよく、例えば、第1層と第2層の各々が互いの繊維方向が交差する方向とされて螺旋状に巻回されて形成されてもよい。この場合、積層体の投影画像は、第2層の繊維方向の接線方向に沿って照射されたX線が用いられて撮像されればよい。 In the above-described embodiment, the laminate 14 is formed by alternately stacking the helical layer 18 whose fiber direction is the axial direction and the hoop layer 16 whose fiber direction is the circumferential direction. However, the laminate of the high-pressure tank may be a cylindrical body formed by alternately stacking a first layer whose fiber direction of the fiber reinforced resin is a first direction and a second layer whose fiber direction of the fiber reinforced resin is a second direction intersecting the first direction. For example, the first layer and the second layer may be wound in a spiral shape with their fiber directions intersecting each other. In this case, the projected image of the laminate may be captured by using X-rays irradiated along the tangential direction of the fiber direction of the second layer.

なお、上記実施形態でCPUがソフトウェア(プログラム)を読み込んで実行した解析処理を、CPU以外の各種のプロセッサが実行してもよい。この場合のプロセッサとしては、FPGA(Field-Programmable Gate Array)等の製造後に回路構成を変更可能なPLD(Programmable Logic Device)、及びASIC(Application Specific Integrated Circuit)等の特定の処理を実行させるために専用に設計された回路構成を有するプロセッサである専用電気回路等が例示される。また、分布導出処理及び確率導出処理を、これらの各種のプロセッサのうちの1つで実行してもよいし、同種又は異種の2つ以上のプロセッサの組み合わせ(例えば、複数のFPGA、及びCPUとFPGAとの組み合わせ等)で実行してもよい。また、これらの各種のプロセッサのハードウェア的な構造は、より具体的には、半導体素子等の回路素子を組み合わせた電気回路である。 In the above embodiment, the analysis process executed by the CPU by reading the software (program) may be executed by various processors other than the CPU. Examples of processors in this case include a PLD (Programmable Logic Device) such as an FPGA (Field-Programmable Gate Array) whose circuit configuration can be changed after manufacture, and an ASIC (Application Specific Integrated Circuit) which is a dedicated electric circuit that is a processor having a circuit configuration designed exclusively for executing a specific process. In addition, the distribution derivation process and the probability derivation process may be executed by one of these various processors, or may be executed by a combination of two or more processors of the same or different types (for example, multiple FPGAs, or a combination of a CPU and an FPGA). In addition, the hardware structure of these various processors is, more specifically, an electric circuit that combines circuit elements such as semiconductor elements.

また、上記実施形態では、解析処理のプログラムがROM又はストレージに予め記憶(インストール)されている態様を説明したが、これに限定されない。プログラムは、CD-ROM(Compact Disk Read Only Memory)、DVD-ROM(Digital Versatile Disk Read Only Memory)、及びUSB(Universal Serial Bus)メモリ等の記録媒体に記録された形態で提供されてもよい。また、プログラムは、ネットワークを介して外部装置からダウンロードされる形態としてもよい。 In the above embodiment, the analysis processing program is pre-stored (installed) in ROM or storage, but the present invention is not limited to this. The program may be provided in a form recorded on a recording medium such as a CD-ROM (Compact Disk Read Only Memory), a DVD-ROM (Digital Versatile Disk Read Only Memory), or a USB (Universal Serial Bus) memory. The program may also be downloaded from an external device via a network.

10 層厚解析装置
12 高圧タンク
14 積層体
14A 繊維
16(16A、16B) フープ層(第2層)
18(18A、18B) ヘリカル層(第1層)
22 検出器(撮像手段)
26 特性設定部(設定手段)
28 記憶部
30 プロファイル生成部(取得手段)
32 タンク情報入力部(受付手段)
34 理論プロファイル生成部(解析手段)
36 検証部(解析手段)
10 Layer thickness analysis device 12 High pressure tank 14 Laminate 14A Fiber 16 (16A, 16B) Hoop layer (second layer)
18 (18A, 18B) Helical layer (first layer)
22 Detector (imaging means)
26 characteristic setting unit (setting means)
28 Storage unit 30 Profile generation unit (acquisition means)
32 Tank information input unit (reception means)
34 Theoretical profile generation unit (analysis means)
36 Verification unit (analysis means)

Claims (1)

繊維強化樹脂の繊維方向が第1方向とされた第1層と、前記繊維強化樹脂の繊維方向が前記第1方向と交差する第2方向とされて巻回された第2層とが交互に積層された円筒状の積層体を備える高圧タンクを解析対象とし、前記第2層の繊維方向に対する接線方向に沿って照射されて前記積層体を透過したX線の投影画像を撮像手段により撮像し、
撮像により得られた前記投影画像から前記積層体について径方向に沿うX線の散乱強度分布を取得し、
前記繊維強化樹脂についてX線の光軸と繊維方向とのなす角度に対するX線の散乱強度を示す光学特性に基づき、前記X線の散乱強度分布における前記第2層の周面の径方向位置を解析し、該周面の径方向位置から前記第1層及び前記第2層の径方向に沿う層厚を解析する、
ことを含む積層体の層厚解析方法。
A high-pressure tank is analyzed, which includes a cylindrical laminate in which a first layer, in which the fiber direction of a fiber-reinforced resin is a first direction, and a second layer, in which the fiber direction of the fiber-reinforced resin is wound in a second direction intersecting the first direction, are alternately laminated, and a projection image of X-rays that are irradiated along a tangential direction to the fiber direction of the second layer and transmitted through the laminate is captured by an imaging means,
A scattering intensity distribution of X-rays along a radial direction of the stack is obtained from the projection image obtained by imaging;
Based on optical characteristics of the fiber-reinforced resin that indicate the scattering intensity of X-rays with respect to an angle between an optical axis of the X-rays and a fiber direction, a radial position of a circumferential surface of the second layer in the scattering intensity distribution of the X-rays is analyzed, and layer thicknesses of the first layer and the second layer along the radial direction are analyzed from the radial position of the circumferential surface.
A method for analyzing layer thickness of a laminate, comprising:
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