JP7481238B2 - 層厚解析方法 - Google Patents
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Description
本実施形態は、以下の態様を含む。
<1> 繊維強化樹脂の繊維方向が第1方向とされた第1層と、前記繊維強化樹脂の繊維方向が前記第1方向と交差する第2方向とされて巻回された第2層とが交互に積層された円筒状の積層体を備える高圧タンクを解析対象とし、前記第2層の繊維方向に対する接線方向に沿って照射されて前記積層体を透過したX線の投影画像を撮像手段により撮像し、撮像により得られた前記投影画像から前記積層体について径方向に沿うX線の散乱強度分布を取得し、前記繊維強化樹脂についてX線の光軸と繊維方向とのなす角度に対するX線の散乱強度を示す光学特性に基づき、前記X線の散乱強度分布における前記第2層の周面の径方向位置を解析し、該周面の径方向位置から前記第1層及び前記第2層の径方向に沿う層厚を解析する、ことを含む積層体の層厚解析方法。
<3> 前記積層体の投影画像の撮像に先立って、前記第1層及び前記第2層を形成する前記繊維強化樹脂を用い、前記撮像手段により該繊維強化樹脂の繊維方向につての前記X線の光軸に対するに角度に応じた投影画像を取得し、該投影画像に基づいて前記光学特性を設定することを含む<1>又は<2>の層厚解析方法。
<6> 前記第1層及び前記第2層を形成する前記繊維強化樹脂を用い、前記撮像手段により撮像された前記繊維強化樹脂についての前記X線の光軸に対するに繊維方向の角度に応じた投影画像を受け付ける受付手段と、前記受付手段により受け付けた前記投影画像に基づいて前記光学特性を設定する設定手段と、をさらに含む<4>又は<5>の層厚解析装置。
図9における上端座標は、解析対象として想定した積層体14のフープ層16B、ヘリカル層18B、フープ層16B、ヘリカル層18A及びライナ層20の径方向外側の周面の位置(想定座標位置)を示している。また、下端座標は、解析対象として想定した積層体14のフープ層16B、ヘリカル層18B、フープ層16B、ヘリカル層18A及びライナ層20の径方向内側の周面の位置(想定座標位置)を示している。上端座標及び下端座標は、各々実測プロファイルにより検証された各層の周面の位置としている。
12 高圧タンク
14 積層体
14A 繊維
16(16A、16B) フープ層(第2層)
18(18A、18B) ヘリカル層(第1層)
22 検出器(撮像手段)
26 特性設定部(設定手段)
28 記憶部
30 プロファイル生成部(取得手段)
32 タンク情報入力部(受付手段)
34 理論プロファイル生成部(解析手段)
36 検証部(解析手段)
Claims (1)
- 繊維強化樹脂の繊維方向が第1方向とされた第1層と、前記繊維強化樹脂の繊維方向が前記第1方向と交差する第2方向とされて巻回された第2層とが交互に積層された円筒状の積層体を備える高圧タンクを解析対象とし、前記第2層の繊維方向に対する接線方向に沿って照射されて前記積層体を透過したX線の投影画像を撮像手段により撮像し、
撮像により得られた前記投影画像から前記積層体について径方向に沿うX線の散乱強度分布を取得し、
前記繊維強化樹脂についてX線の光軸と繊維方向とのなす角度に対するX線の散乱強度を示す光学特性に基づき、前記X線の散乱強度分布における前記第2層の周面の径方向位置を解析し、該周面の径方向位置から前記第1層及び前記第2層の径方向に沿う層厚を解析する、
ことを含む積層体の層厚解析方法。
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