JP7428559B2 - ヒューズエレメント及びヒューズユニット - Google Patents
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Description
[1]
導電体と、前記導電体を構成する材料の融点よりも低い融点を有する低融点材料から構成された低融点体と、を備えるヒューズエレメントであって、
前記導電体は、
当該導電体に電流が流れたときに当該導電体の温度が最も高くなる発熱部と、
前記発熱部からの距離が異なる複数の箇所に設けられる複数の配置部と、を有し、
前記低融点体は、
前記複数の前記配置部のうち、一の前記配置部に配置され、前記一の前記配置部以外の前記配置部には配置されない、
ヒューズエレメントであること。
[2]
上記[1]に記載のヒューズエレメントにおいて、
前記導電体は、
矩形平板状の溶断部を有し、
前記複数の前記配置部は、前記導電体を貫通する孔形状を有し、前記溶断部の軸方向に沿って並ぶように設けられ、
隣り合う前記配置部に挟まれる前記導電体の長さが、前記配置部と前記溶断部の側縁とに挟まれる前記導電体の長さ以下である、
ヒューズエレメントであること。
[3]
複数の導電体と、前記複数の前記導電体を構成する材料の融点よりも低い融点を有する低融点材料から構成されて前記複数の前記導電体の各々に設けられる低融点体と、を備えるヒューズユニットであって、
前記複数の前記導電体の各々は、
当該導電体に電流が流れたときに当該導電体の温度が最も高くなる発熱部を有し、
前記複数の前記導電体の少なくとも一つは、
前記発熱部からの距離が異なる複数の箇所に設けられる複数の配置部と、前記複数の前記配置部のうち、一の前記配置部に配置され、前記一の前記配置部以外の前記配置部には配置されない前記低融点体と、を有する、
ヒューズユニットであること。
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態に係るヒューズエレメント10、及び、ヒューズエレメント10を用いるヒューズユニット1について説明する。
以上、本実施形態に係るヒューズエレメント10によれば、ヒューズエレメント10のヒューズ部40にあらかじめ設けられている複数の配置部45の少なくとも一つに、低融点体50が配置される。複数の配置部45の各々と、ヒューズ部40への通電時に最も高温となる発熱部44と、の距離は、互いに相違している。そのため、ヒューズ部40(ヒューズエレメント10)への通電時、複数の配置部45の各々の温度は、発熱部44との距離に基づいて異なる。よって、低融点体50を設ける配置部45を異ならせれば、ヒューズ部40が溶断に至る際の電流値が異なることになる。したがって、本実施形態に係るヒューズエレメント10は、ヒューズ部40(即ち、ヒューズエレメント10)の形状を異ならせることなく、定格電流の大きさを調整可能である。
なお、本発明は上記各実施形態に限定されることはなく、本発明の範囲内において種々の変形例を採用することができる。例えば、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数、配置箇所、等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。
[1]
導電体(40)と、前記導電体(40)を構成する材料の融点よりも低い融点を有する低融点材料から構成された低融点体(50)と、を備えるヒューズエレメント(10)であって、
前記導電体(40)は、
当該導電体(40)に電流が流れることによって当該導電体(40)の温度が最も高くなる発熱部(44)と、
前記発熱部(44)からの距離が異なる複数の箇所に設けられる複数の配置部(45)と、を有し、
前記低融点体(50)は、
前記複数の前記配置部(45)の少なくとも一つに配置される、
ヒューズエレメント(10)。
[2]
上記[1]に記載のヒューズエレメント(10)において、
前記導電体(40)は、
矩形平板状の溶断部(43)を有し、
前記複数の前記配置部(45)は、前記導電体(40)を貫通する孔形状を有し、前記溶断部(43)の軸方向に沿って並ぶように設けられ、
隣り合う前記配置部(45)に挟まれる前記導電体(40)の長さ(a1,a2)が、前記配置部(45)と前記溶断部(43)の側縁とに挟まれる前記導電体(40)の長さ(b)以下である、
ヒューズエレメント(10)。
[3]
複数の導電体(40)と、前記複数の前記導電体(40)を構成する材料の融点よりも低い融点を有する低融点材料から構成されて前記複数の前記導電体(40)の各々に設けられる低融点体(50)と、を備えるヒューズユニット(1)であって、
前記複数の前記導電体(40)の各々は、
当該導電体(40)に電流が流れることによって当該導電体(40)の温度が最も高くなる発熱部(44)を有し、
前記複数の前記導電体(40)の少なくとも一つは、
前記発熱部(44)からの距離が異なる複数の箇所に設けられる複数の配置部(45)と、前記複数の前記配置部(45)の少なくとも一つに配置される前記低融点体(50)と、を有する、
ヒューズユニット(1)。
10 ヒューズエレメント
40 ヒューズ部(導電体)
43 溶断部
44 発熱部
45 配置部
50 低融点体
Claims (3)
- 導電体と、前記導電体を構成する材料の融点よりも低い融点を有する低融点材料から構成された低融点体と、を備えるヒューズエレメントであって、
前記導電体は、
当該導電体に電流が流れたときに当該導電体の温度が最も高くなる発熱部と、
前記発熱部からの距離が異なる複数の箇所に設けられる複数の配置部と、を有し、
前記低融点体は、
前記複数の前記配置部のうち、一の前記配置部に配置され、前記一の前記配置部以外の前記配置部には配置されない、
ヒューズエレメント。 - 請求項1に記載のヒューズエレメントにおいて、
前記導電体は、矩形平板状の溶断部を有し、
前記複数の前記配置部は、前記導電体を貫通する孔形状を有し、前記溶断部の軸方向に沿って並ぶように設けられ、
隣り合う前記配置部に挟まれる前記導電体の長さが、前記配置部と前記溶断部の側縁とに挟まれる前記導電体の長さ以下である、
ヒューズエレメント。 - 複数の導電体と、前記複数の前記導電体を構成する材料の融点よりも低い融点を有する低融点材料から構成されて前記複数の前記導電体の各々に設けられる低融点体と、を備えるヒューズユニットであって、
前記複数の前記導電体の各々は、
当該導電体に電流が流れたときに当該導電体の温度が最も高くなる発熱部を有し、
前記複数の前記導電体の少なくとも一つは、
前記発熱部からの距離が異なる複数の箇所に設けられる複数の配置部と、前記複数の前記配置部のうち、一の前記配置部に配置され、前記一の前記配置部以外の前記配置部には配置されない前記低融点体と、を有する、
ヒューズユニット。
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JP2020048294A JP7428559B2 (ja) | 2020-03-18 | 2020-03-18 | ヒューズエレメント及びヒューズユニット |
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JP2008243757A (ja) | 2007-03-29 | 2008-10-09 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | ヒューズエレメント |
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JP2018101506A (ja) | 2016-12-19 | 2018-06-28 | 矢崎総業株式会社 | ヒューズエレメント及びヒューズユニット |
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