JP7411682B2 - 光シート顕微鏡および試料空間内の物体の屈折率を特定するための方法 - Google Patents
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Description
dmech.=dopt.・(ng/nim) (1)
に従って計算可能であり、ここで、dmech.は、機械的厚さを示し、dopt.は、光学的厚さを示し、ngは、カバーガラスまたは載物ガラスの屈折率を示し、nimは、浸漬媒体の屈折率を示す。
さらなる特徴および利点は、複数の実施形態を添付の図面と併せてより詳細に説明している以下の記載から明らかになる。
102 照明装置
104 伝送光学系
106 検出装置
107 光学システム
108 中間画像空間
110 プロセッサ
111 z駆動部
112 光源
114 照明対物レンズ
116 試料空間
117 包埋媒体
118 カバーガラスまたは載物ガラス
119 浸漬媒体
120 対物レンズ
122 チューブレンズ
124,126 接眼レンズ
128 チューブレンズ
130 投影対物レンズ
132 グリッドミラー
134 光シート
136 入射瞳
138 前面
140 背面
142,142a,142b 反射光束
144 検出対物レンズ
146 チューブレンズ
148 フィルタ
150 センサ
152 光シートの一部
154 メモリ
200 光シート顕微鏡
202 センサ
204 ビームスプリッタユニット
300,400 光シート顕微鏡
A 光の伝播方向
B 伸長方向
C 走査方向
O1,O2,O3 光軸
α,β,γ 角度
Claims (14)
- 光シート顕微鏡(100,200,300,400)であって、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、試料空間(116)を含み、前記試料空間(116)内にカバーガラスまたは載物ガラス(118)を配置することができ、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)は、部分反射性の界面を画定する表面(138,140)と、部分反射性のさらなる界面を画定するさらなる表面(138,140)と、を有し、2つの界面は、対物レンズ(120)からそれぞれ異なる距離を置いて配置されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、
前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の方を向いた対物レンズ(120)を有する光学システム(107)と、
光シート(134)を生成するように構成された照明装置(102)と、
センサ(150)と、
プロセッサ(110)と、
を含み、
前記2つの界面は、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の2つの表面に隣接する2つの光学媒体(117,119)が前記試料空間(116)内に装着可能であることによって形成されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、測定量を検出するための測定装置を形成し、
前記測定装置は、
前記光シート(134)を、前記光学システム(107)によって前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)上に斜めの入射で向け、
前記界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、反射光束(142,142a,142b)を生成し、
前記さらなる界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、さらなる反射光束(142,142a,142b)を生成し、
2つの反射光束(142,142a,142b)を前記光学システム(107)によって受信して、前記センサ(150)に向ける、
ように構成されており、
前記センサ(150)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の強度および/または入射位置を検出するように構成されており、
前記プロセッサは、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度および/または前記入射位置に基づいて、前記測定量を特定するように構成されており、
前記プロセッサ(110)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度に基づいて、前記2つの光学媒体(117,119)のうちの一方の光学媒体の屈折率を、前記測定量として特定するように構成されており、
前記プロセッサは、前記2つの反射光束(142,142a,142b)のうちの一方の検出された前記入射位置に基づいて、前記対物レンズ(120)の光軸(O2)に沿った、前記対物レンズ(120)から前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)までの距離を、前記測定量として特定するように構成されている、
光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の前記2つの表面は、互いに平面平行に形成されている、
請求項1記載の光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 光シート顕微鏡(100,200,300,400)であって、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、試料空間(116)を含み、前記試料空間(116)内にカバーガラスまたは載物ガラス(118)を配置することができ、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)は、部分反射性の界面を画定する表面(138,140)と、部分反射性のさらなる界面を画定するさらなる表面(138,140)と、を有し、2つの界面は、対物レンズ(120)からそれぞれ異なる距離を置いて配置されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、
前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の方を向いた対物レンズ(120)を有する光学システム(107)と、
光シート(134)を生成するように構成された照明装置(102)と、
センサ(150)と、
プロセッサ(110)と、
を含み、
前記2つの界面は、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の2つの表面に隣接する2つの光学媒体(117,119)が前記試料空間(116)内に装着可能であることによって形成されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、測定量を検出するための測定装置を形成し、
前記測定装置は、
前記光シート(134)を、前記光学システム(107)によって前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)上に斜めの入射で向け、
前記界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、反射光束(142,142a,142b)を生成し、
前記さらなる界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、さらなる反射光束(142,142a,142b)を生成し、
2つの反射光束(142,142a,142b)を前記光学システム(107)によって受信して、前記センサ(150)に向ける、
ように構成されており、
前記センサ(150)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の強度および/または入射位置を検出するように構成されており、
前記プロセッサは、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度および/または前記入射位置に基づいて、前記測定量を特定するように構成されており、
前記プロセッサ(110)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度に基づいて、前記2つの光学媒体(117,119)のうちの一方の光学媒体の屈折率を、前記測定量として特定するように構成されており、
前記プロセッサ(110)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記入射位置に基づいて、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の厚さを、前記測定量として特定するように構成されている、
光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 一方の前記光学媒体(117)は、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の前記2つの表面のうちの一方の表面に隣接する、試料のための包埋媒体である、
請求項1から3までのいずれか1項記載の光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 光シート顕微鏡(100,200,300,400)であって、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、試料空間(116)を含み、前記試料空間(116)内にカバーガラスまたは載物ガラス(118)を配置することができ、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)は、部分反射性の界面を画定する表面(138,140)と、部分反射性のさらなる界面を画定するさらなる表面(138,140)と、を有し、2つの界面は、対物レンズ(120)からそれぞれ異なる距離を置いて配置されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、
前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の方を向いた対物レンズ(120)を有する光学システム(107)と、
光シート(134)を生成するように構成された照明装置(102)と、
センサ(150)と、
プロセッサ(110)と、
を含み、
前記2つの界面は、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の2つの表面に隣接する2つの光学媒体(117,119)が前記試料空間(116)内に装着可能であることによって形成されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、測定量を検出するための測定装置を形成し、
前記測定装置は、
前記光シート(134)を、前記光学システム(107)によって前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)上に斜めの入射で向け、
前記界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、反射光束(142,142a,142b)を生成し、
前記さらなる界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、さらなる反射光束(142,142a,142b)を生成し、
2つの反射光束(142,142a,142b)を前記光学システム(107)によって受信して、前記センサ(150)に向ける、
ように構成されており、
前記センサ(150)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の強度および/または入射位置を検出するように構成されており、
前記プロセッサは、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度および/または前記入射位置に基づいて、前記測定量を特定するように構成されており、
前記プロセッサ(110)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度に基づいて、前記2つの光学媒体(117,119)のうちの一方の光学媒体の屈折率を、前記測定量として特定するように構成されており、
他方の前記光学媒体(119)は、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)のうちの他方の表面および前記対物レンズ(120)に隣接する浸漬媒体である、
光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 光シート顕微鏡(100,200,300,400)であって、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、試料空間(116)を含み、前記試料空間(116)内にカバーガラスまたは載物ガラス(118)を配置することができ、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)は、部分反射性の界面を画定する表面(138,140)と、部分反射性のさらなる界面を画定するさらなる表面(138,140)と、を有し、2つの界面は、対物レンズ(120)からそれぞれ異なる距離を置いて配置されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、
前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の方を向いた対物レンズ(120)を有する光学システム(107)と、
光シート(134)を生成するように構成された照明装置(102)と、
センサ(150)と、
プロセッサ(110)と、
を含み、
前記2つの界面は、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の2つの表面に隣接する2つの光学媒体(117,119)が前記試料空間(116)内に装着可能であることによって形成されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、測定量を検出するための測定装置を形成し、
前記測定装置は、
前記光シート(134)を、前記光学システム(107)によって前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)上に斜めの入射で向け、
前記界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、反射光束(142,142a,142b)を生成し、
前記さらなる界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、さらなる反射光束(142,142a,142b)を生成し、
2つの反射光束(142,142a,142b)を前記光学システム(107)によって受信して、前記センサ(150)に向ける、
ように構成されており、
前記センサ(150)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の強度および/または入射位置を検出するように構成されており、
前記プロセッサは、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度および/または前記入射位置に基づいて、前記測定量を特定するように構成されており、
前記プロセッサ(110)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度に基づいて、前記2つの光学媒体(117,119)のうちの一方の光学媒体の屈折率を、前記測定量として特定するように構成されており、
前記測定装置は、前記光シート(134)により、前記界面において測定パターンを生成し、前記測定パターンを、前記反射光束(142,142a,142b)によって前記センサ(150)上に結像するように構成されており、
前記センサ(150)は、前記測定パターンを空間強度分布(V)の形態で検出するように構成されており、
前記プロセッサ(110)は、前記空間強度分布(V)から前記反射光束(142,142a,142b)の強度を特定するように構成されている、
光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 前記センサ(150)は、エリア検出器またはライン検出器である、
請求項1から6までのいずれか1項記載の光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 光シート顕微鏡(100,200,300,400)であって、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、試料空間(116)を含み、前記試料空間(116)内にカバーガラスまたは載物ガラス(118)を配置することができ、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)は、部分反射性の界面を画定する表面(138,140)と、部分反射性のさらなる界面を画定するさらなる表面(138,140)と、を有し、2つの界面は、対物レンズ(120)からそれぞれ異なる距離を置いて配置されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、
前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の方を向いた対物レンズ(120)を有する光学システム(107)と、
光シート(134)を生成するように構成された照明装置(102)と、
センサ(150)と、
プロセッサ(110)と、
を含み、
前記2つの界面は、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の2つの表面に隣接する2つの光学媒体(117,119)が前記試料空間(116)内に装着可能であることによって形成されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、測定量を検出するための測定装置を形成し、
前記測定装置は、
前記光シート(134)を、前記光学システム(107)によって前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)上に斜めの入射で向け、
前記界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、反射光束(142,142a,142b)を生成し、
前記さらなる界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、さらなる反射光束(142,142a,142b)を生成し、
2つの反射光束(142,142a,142b)を前記光学システム(107)によって受信して、前記センサ(150)に向ける、
ように構成されており、
前記センサ(150)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の強度および/または入射位置を検出するように構成されており、
前記プロセッサは、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度および/または前記入射位置に基づいて、前記測定量を特定するように構成されており、
前記プロセッサ(110)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度に基づいて、前記2つの光学媒体(117,119)のうちの一方の光学媒体の屈折率を、前記測定量として特定するように構成されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、
試料から発せられた検出光を検出するためのさらなるセンサ(202)を有する検出装置(106)と、
前記反射光束(142,142a,142b)を前記センサ(150)に向け、かつ、前記検出光を前記さらなるセンサ(202)に向けるように構成されたビームスプリッタユニット(204)と、
を含む、
光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 前記プロセッサ(110)は、メモリ(154)を含み、前記メモリ(154)内に、前記測定量を特定するためのパラメータを格納することができる、
請求項1から8までのいずれか1項記載の光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 光シート顕微鏡(100,200,300,400)であって、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、試料空間(116)を含み、前記試料空間(116)内にカバーガラスまたは載物ガラス(118)を配置することができ、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)は、部分反射性の界面を画定する表面(138,140)と、部分反射性のさらなる界面を画定するさらなる表面(138,140)と、を有し、2つの界面は、対物レンズ(120)からそれぞれ異なる距離を置いて配置されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、
前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の方を向いた対物レンズ(120)を有する光学システム(107)と、
光シート(134)を生成するように構成された照明装置(102)と、
センサ(150)と、
プロセッサ(110)と、
を含み、
前記2つの界面は、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の2つの表面に隣接する2つの光学媒体(117,119)が前記試料空間(116)内に装着可能であることによって形成されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、測定量を検出するための測定装置を形成し、
前記測定装置は、
前記光シート(134)を、前記光学システム(107)によって前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)上に斜めの入射で向け、
前記界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、反射光束(142,142a,142b)を生成し、
前記さらなる界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、さらなる反射光束(142,142a,142b)を生成し、
2つの反射光束(142,142a,142b)を前記光学システム(107)によって受信して、前記センサ(150)に向ける、
ように構成されており、
前記センサ(150)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の強度および/または入射位置を検出するように構成されており、
前記プロセッサは、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度および/または前記入射位置に基づいて、前記測定量を特定するように構成されており、
前記プロセッサ(110)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度に基づいて、前記2つの光学媒体(117,119)のうちの一方の光学媒体の屈折率を、前記測定量として特定するように構成されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、前記反射光束(142,142a,142b)に対して非透過性であって、かつ、前記センサ(150)の上流に接続可能なフィルタ(148)を含む、
光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 光シート顕微鏡(100,200,300,400)であって、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、試料空間(116)を含み、前記試料空間(116)内にカバーガラスまたは載物ガラス(118)を配置することができ、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)は、部分反射性の界面を画定する表面(138,140)と、部分反射性のさらなる界面を画定するさらなる表面(138,140)と、を有し、2つの界面は、対物レンズ(120)からそれぞれ異なる距離を置いて配置されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、
前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の方を向いた対物レンズ(120)を有する光学システム(107)と、
光シート(134)を生成するように構成された照明装置(102)と、
センサ(150)と、
プロセッサ(110)と、
を含み、
前記2つの界面は、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の2つの表面に隣接する2つの光学媒体(117,119)が前記試料空間(116)内に装着可能であることによって形成されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、測定量を検出するための測定装置を形成し、
前記測定装置は、
前記光シート(134)を、前記光学システム(107)によって前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)上に斜めの入射で向け、
前記界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、反射光束(142,142a,142b)を生成し、
前記さらなる界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、さらなる反射光束(142,142a,142b)を生成し、
2つの反射光束(142,142a,142b)を前記光学システム(107)によって受信して、前記センサ(150)に向ける、
ように構成されており、
前記センサ(150)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の強度および/または入射位置を検出するように構成されており、
前記プロセッサは、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度および/または前記入射位置に基づいて、前記測定量を特定するように構成されており、
前記プロセッサ(110)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度に基づいて、前記2つの光学媒体(117,119)のうちの一方の光学媒体の屈折率を、前記測定量として特定するように構成されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、前記光シート(134)を走査軸に沿って移動させるように構成された走査要素(132)を含む、
光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 前記測定装置は、前記光シート(134)を、前記対物レンズ(120)によって前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)上に斜めの入射で向けるように構成されており、かつ/または、
前記測定装置は、前記反射光束(142,142a,142b)を、前記対物レンズ(120)によって受信して、前記センサ(150)に向けるように構成されている、
請求項1から11までのいずれか1項記載の光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 光シート顕微鏡(100,200,300,400)であって、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、試料空間(116)を含み、前記試料空間(116)内にカバーガラスまたは載物ガラス(118)を配置することができ、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)は、部分反射性の界面を画定する表面(138,140)と、部分反射性のさらなる界面を画定するさらなる表面(138,140)と、を有し、2つの界面は、対物レンズ(120)からそれぞれ異なる距離を置いて配置されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、
前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の方を向いた対物レンズ(120)を有する光学システム(107)と、
光シート(134)を生成するように構成された照明装置(102)と、
センサ(150)と、
プロセッサ(110)と、
を含み、
前記2つの界面は、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の2つの表面に隣接する2つの光学媒体(117,119)が前記試料空間(116)内に装着可能であることによって形成されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、測定量を検出するための測定装置を形成し、
前記測定装置は、
前記光シート(134)を、前記光学システム(107)によって前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)上に斜めの入射で向け、
前記界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、反射光束(142,142a,142b)を生成し、
前記さらなる界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、さらなる反射光束(142,142a,142b)を生成し、
2つの反射光束(142,142a,142b)を前記光学システム(107)によって受信して、前記センサ(150)に向ける、
ように構成されており、
前記センサ(150)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の強度および/または入射位置を検出するように構成されており、
前記プロセッサは、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度および/または前記入射位置に基づいて、前記測定量を特定するように構成されており、
前記プロセッサ(110)は、前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度に基づいて、前記2つの光学媒体(117,119)のうちの一方の光学媒体の屈折率を、前記測定量として特定するように構成されており、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)は、伝送光学系(104)を含み、
前記伝送光学系(104)は、中間画像空間内で前記照明装置(102)によって生成された前記光シート(134)を試料内に結像するように構成されている、
光シート顕微鏡(100,200,300,400)。 - 光シート顕微鏡(100,200,300,400)を用いて測定量を検出するための方法であって、
前記光シート顕微鏡(100,200,300,400)の試料空間(116)内にカバーガラスまたは載物ガラス(118)が配置され、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)は、部分反射性の界面を画定する表面(138,140)と、部分反射性のさらなる界面を画定するさらなる表面(138,140)と、を有し、2つの界面は、対物レンズ(120)からそれぞれ異なる距離を置いて配置されており、
光シート(134)は、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)上に斜めの入射で向けられ、
前記界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、反射光束(142,142a,142b)が生成され、
前記さらなる界面で前記光シート(134)が部分的に反射されることにより、さらなる反射光束(142,142a,142b)が生成され、
前記2つの界面は、前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)の2つの表面に隣接する2つの光学媒体(117,119)が前記試料空間(116)内に導入されることによって形成されており、
2つの反射光束(142,142a,142b)が受信されて、センサ(150)に向けられ、
前記2つの反射光束(142,142a,142b)の強度および/または入射位置が検出され、
前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度および/または前記入射位置に基づいて、前記測定量が特定され、
前記2つの反射光束(142,142a,142b)の検出された前記強度に基づいて、前記2つの光学媒体(117,119)のうちの一方の光学媒体の屈折率が、前記測定量として特定され、
前記2つの反射光束(142,142a,142b)のうちの一方の検出された前記入射位置に基づいて、前記対物レンズ(120)の光軸(O2)に沿った、前記対物レンズ(120)から前記カバーガラスまたは載物ガラス(118)までの距離が、前記測定量として特定される、
方法。
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Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005503547A (ja) | 2001-09-21 | 2005-02-03 | ケイマック | 多層薄膜の厚さ形状及び屈折率分布を二次元反射光度計の原理を利用して測定する装置とその測定方法 |
Family Cites Families (21)
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---|---|---|---|---|
JPS587986Y2 (ja) * | 1977-03-22 | 1983-02-12 | 株式会社ユアサコーポレーション | 電池 |
US6731380B2 (en) * | 2001-06-18 | 2004-05-04 | Applied Optics Center Of Delaware, Inc. | Method and apparatus for simultaneous measurement of the refractive index and thickness of thin films |
EP1840623B1 (en) * | 2006-03-31 | 2013-05-08 | Yokogawa Electric Corporation | Microscope comprising a focus error detecting optical system |
DE102007043937B4 (de) | 2006-09-13 | 2010-10-07 | Innovent E.V. | Verfahren zur Bestimmung der Dicke und des Brechungsindex von optisch transparenten Schichten auf optisch transparenten planparallelen Substraten |
GB0814039D0 (en) | 2008-07-31 | 2008-09-10 | Imp Innovations Ltd | Optical arrangement for oblique plane microscopy |
EP2433087B1 (en) * | 2009-05-19 | 2015-01-21 | BioNano Genomics, Inc. | Devices and methods for dynamic determination of sample spatial orientation and dynamic repositioning |
TWI448055B (zh) | 2010-06-07 | 2014-08-01 | Richtek Technology Corp | 切換式電源供應器之控制電路及其控制方法以及用於其中之電晶體元件 |
DE102010030430B4 (de) | 2010-06-23 | 2015-01-29 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Triangulierende Autofokuseinrichtung für Mikroskope und Verwendungen hiervon |
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EP2891916A4 (en) * | 2012-10-15 | 2016-04-27 | Sony Corp | IMAGE RECORDING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING THE OBJECT CARRIER |
CA2921979C (en) | 2013-08-22 | 2021-12-14 | Thorlabs,Inc. | Autofocus apparatus |
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DE102014216227B4 (de) * | 2014-08-14 | 2020-06-18 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen eines Abstandes zweier voneinander entlang einer ersten Richtung beabstandeter optischer Grenzflächen |
US20160187633A1 (en) * | 2014-12-24 | 2016-06-30 | Applied Scientific Instrumentation Inc. | Dual oblique view single plane illumination microscope |
DE102015221044A1 (de) * | 2015-10-28 | 2017-05-04 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Probenbegrenzungselement, Mikroskopierverfahren und Mikroskop |
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DE102016212019A1 (de) | 2016-07-01 | 2018-01-04 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Neigungsmessung und -korrektur des Deckglases im Strahlengang eines Mikroskops |
DE202016008115U1 (de) * | 2016-07-01 | 2017-03-01 | Carl Zeiss Ag | Anordnung zur Mikroskopie und zur Korrektur von Aberrationen |
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DE102017217380A1 (de) * | 2017-09-29 | 2019-04-04 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Immersionsvorrichtung zur dynamischen Anpassung eines Mediums an eine Probe |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005503547A (ja) | 2001-09-21 | 2005-02-03 | ケイマック | 多層薄膜の厚さ形状及び屈折率分布を二次元反射光度計の原理を利用して測定する装置とその測定方法 |
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