JP7382551B2 - Component mounting equipment and component mounting method, mounting board manufacturing system and mounting board manufacturing method, and mounted component inspection equipment - Google Patents

Component mounting equipment and component mounting method, mounting board manufacturing system and mounting board manufacturing method, and mounted component inspection equipment Download PDF

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Description

本開示は、はんだ部が形成された基板に部品を搭載する部品搭載装置および部品搭載方法、それを用いた実装基板製造システムおよび実装基板製造方法、ならびに搭載済部品検査装置に関する。 The present disclosure relates to a component mounting device and a component mounting method for mounting a component on a board on which a solder portion is formed, a mounted board manufacturing system and a mounted board manufacturing method using the same, and a mounted component inspection device.

基板に電子部品を実装して実装基板を製造する実装基板製造システムは、はんだ印刷装置、部品搭載装置、リフロー装置などの複数の部品実装用設備を連結して構成されている。このような構成の実装基板製造システムにおいて、基板におけるはんだ接合用のランドに対して、はんだの印刷位置がずれると、このずれに起因する実装不良が発生する。このような実装不良を防止することを目的として、はんだ印刷後の基板におけるはんだ位置情報を後工程に対してフィードフォワードする位置補正技術が用いられている。このはんだ位置情報のフィードフォワードに基づく位置補正では、はんだの印刷位置を実際に計測して求めたはんだ位置情報が、後工程の部品搭載装置に対して送られる。部品搭載装置では送られたはんだ位置情報に基づいて搭載位置が補正される(例えば特許文献1参照)。特許文献1に示された技術では、部品搭載装置は、フィードフォワードされたはんだ位置情報を適用して部品搭載を実行する第1の実装モードと、はんだ位置情報を適用せずに部品搭載を実行する第2の実装モードとを選択的に実行する。 A mounted board manufacturing system that manufactures a mounted board by mounting electronic components on a board is configured by connecting a plurality of component mounting equipment such as a solder printing device, a component mounting device, and a reflow device. In a mounted board manufacturing system having such a configuration, if the printed position of the solder deviates from the solder bonding land on the board, a mounting defect occurs due to this deviation. In order to prevent such mounting defects, a position correction technique is used that feeds forward solder position information on a board after solder printing to a subsequent process. In position correction based on feedforward of solder position information, solder position information obtained by actually measuring the solder printing position is sent to a component mounting device in a subsequent process. In the component mounting device, the mounting position is corrected based on the sent solder position information (see, for example, Patent Document 1). In the technology disclosed in Patent Document 1, the component mounting device has two modes: a first mounting mode in which component mounting is performed by applying feedforward solder position information, and a first mounting mode in which component mounting is performed without applying solder position information. A second implementation mode is selectively executed.

特開2014-103191号公報Japanese Patent Application Publication No. 2014-103191

本開示の実装基板製造システムは、実装点の位置を含む実装点位置データを、基板を識別する識別情報と関連付けて記憶する実装点位置データ記憶部と、前記基板にはんだ部を形成するはんだ部形成装置と、前記はんだ部形成装置によって前記基板に形成された前記はんだ部を計測して、前記はんだ部の位置を含むはんだ部位置データを作成するはんだ部検査装置と、前記はんだ部位置データを、前記識別情報と関連付けて記憶するはんだ部位置データ記憶部と、前記識別情報で特定される前記実装点位置データと前記はんだ部位置データとに基づいて、前記識別情報で特定される前記基板における部品の搭載目標位置を含む搭載目標位置データを作成する搭載目標位置データ作成部と、前記はんだ部検査装置により前記はんだ部の前記位置を計測した前記基板を作業位置に位置させ、前記基板の前記識別情報に関連付けられた前記搭載目標位置データで特定された前記搭載目標位置に前記部品を搭載する搭載ヘッドを有する部品搭載装置と、を備え、前記部品搭載装置は、前記部品搭載装置の経時変動に起因する前記部品の搭載位置のずれを補正するためのキャリブレーションデータを使用して、前記搭載目標位置に前記部品を搭載する際の前記搭載ヘッドの停止位置を補正し、前記部品搭載装置により前記部品がそれぞれ搭載された複数の部品搭載済基板のそれぞれについて、前記搭載位置のずれを計測し、前記搭載位置のずれに関する部品搭載ずれデータを出力する搭載済部品検査装置と、前記複数の部品搭載済基板の前記部品搭載ずれデータに基づいて、前記キャリブレーションデータを算出するキャリブレーションデータ算出部と、をさらに備え、前記搭載済部品検査装置は、前記複数の部品搭載済基板のそれぞれについて前記搭載位置のずれを計測する場合に、前記複数の部品搭載済基板のそれぞれの前記識別情報に関連付けられた前記搭載目標位置データを、前記搭載位置のずれを計測する基準として使用する。 The mounted board manufacturing system of the present disclosure includes a mounting point position data storage unit that stores mounting point position data including the position of the mounting point in association with identification information for identifying the board , and a solder that forms a solder part on the board. a solder part forming device; a solder part inspection device that measures the solder part formed on the substrate by the solder part forming device to create solder part position data including the position of the solder part; and the solder part position data. a solder part position data storage unit that stores the solder part position data in association with the identification information, and the board specified by the identification information based on the mounting point position data and the solder part position data specified by the identification information. a mounting target position data creation unit that creates mounting target position data including the mounting target position of the component; and positioning the board whose position of the solder part has been measured by the solder part inspection device at a working position; a component mounting device having a mounting head that mounts the component at the mounting target position specified by the mounting target position data associated with the identification information, the component mounting device Using calibration data for correcting deviations in the mounting position of the component due to fluctuations, the stop position of the mounting head when mounting the component at the target mounting position is corrected, and the component mounting device a mounted component inspection device that measures a deviation in the mounting position of each of a plurality of component-mounted boards on which the component is mounted , and outputs component mounting deviation data regarding the deviation in the mounting position; The mounted component inspection apparatus further includes a calibration data calculation unit that calculates the calibration data based on the component mounting deviation data of the component mounted boards, and the mounted component inspection apparatus is configured to inspect each of the plurality of component mounted boards. When measuring the deviation of the mounting position for the mounting position, the mounting target position data associated with the identification information of each of the plurality of component-mounted boards is used as a reference for measuring the deviation of the mounting position.

本開示の実装基板製造方法は、部品を基板の実装点に搭載する搭載ヘッドを有する部品搭載装置を使用した実装基板製造方法であって、前記実装点の位置を含む実装点位置データを、前記基板を識別する識別情報と関連付けて記憶するステップと、前記基板にはんだ部を形成するステップと、前記基板に形成された前記はんだ部を計測して、前記はんだ部の位置を含むはんだ部位置データを作成するステップと、前記はんだ部位置データを前記識別情報と関連付けて記憶するステップと、前記識別情報で特定される前記実装点位置データと、前記はんだ部位置データとに基づいて、前記識別情報で特定される前記基板における前記部品の搭載目標位置を含む搭載目標位置データを作成するステップと、前記部品搭載装置によって、前記はんだ部の前記位置を計測した前記基板を作業位置に位置させ、前記基板の前記識別情報に関連付けられた前記搭載目標位置データで特定された前記搭載目標位置に前記部品を搭載するステップと、を備え、前記部品搭載装置の経時変動に起因する前記部品の搭載位置のずれを補正するためのキャリブレーションデータを使用して、前記搭載目標位置に前記部品を搭載する際の前記搭載ヘッドの停止位置を補正し、前記部品搭載装置により前記部品がそれぞれ搭載された複数の部品搭載済基板のそれぞれについて、前記搭載位置のずれを計測し、前記搭載位置のずれに関する部品搭載ずれデータを作成するステップと、前記複数の部品搭載済基板の前記部品搭載ずれデータに基づいて前記キャリブレーションデータを算出するステップと、をさらに備え、前記複数の部品搭載済基板のそれぞれについて前記搭載位置のずれを計測する場合に、前記複数の部品搭載済基板のそれぞれの前記識別情報に関連付けられた前記搭載目標位置データを前記搭載位置のずれを計測する基準として使用する。 A mounting board manufacturing method according to the present disclosure uses a component mounting device having a mounting head for mounting a component on a mounting point of a board, the mounting point position data including the position of the mounting point being storing in association with identification information for identifying a board; forming a solder part on the board; and measuring the solder part formed on the board, and solder part position data including the position of the solder part. a step of storing the solder part position data in association with the identification information; and a step of storing the solder part position data in association with the identification information; and based on the mounting point position data specified by the identification information and the solder part position data, the identification information a step of creating target mounting position data including a target mounting position of the component on the board specified by the component mounting device; mounting the component at the target mounting position specified by the target mounting position data associated with the identification information of the board; Calibration data for correcting the deviation is used to correct the stop position of the mounting head when mounting the component at the target mounting position, and the component mounting device corrects the position of the mounting head when mounting the component at the target mounting position. measuring the deviation of the mounting position for each of the component-mounted boards, and creating component mounting deviation data regarding the deviation of the mounting position; and based on the component mounting deviation data of the plurality of component -mounted boards. further comprising the step of calculating the calibration data, and when measuring the deviation of the mounting position for each of the plurality of component-mounted boards, associating it with the identification information of each of the plurality of component-mounted boards. The loaded target position data thus obtained is used as a reference for measuring the deviation of the loaded position.

本開示の部品搭載装置は、固有の識別情報が付与され、はんだ部が形成され、前記はんだ部の位置が計測された基板を受け取って作業位置に位置させ、部品の搭載が済んだ部品搭載済基板を前記作業位置から下流の設備へ搬出する基板搬送部と、前記基板の実装点の位置を含む実装点位置データと、前記実装点位置データと同一の前記識別情報で特定され、前記はんだ部を実測して得られた前記はんだ部の前記位置を含むはんだ部位置データとに基づいて算出された搭載目標位置データを取得する搭載目標位置データ取得部と、前記作業位置に位置する前記基板の前記識別情報に関連付けられた搭載目標位置データで特定された搭載目標位置に、前記部品を搭載する搭載ヘッドを有する搭載作業部と、を備え、前記搭載作業部は、部品搭載装置の経時変動に起因する前記部品の搭載位置のずれを補正するためのキャリブレーションデータを使用して、前記搭載目標位置に前記部品を搭載する際の前記搭載ヘッドの停止位置を補正し、前記部品搭載済基板は、複数の部品搭載済基板のひとつであり、前記部品搭載装置は、前記複数の部品搭載済基板について計測された前記搭載位置のずれに関するデータを基に前記キャリブレーションデータを算出するキャリブレーションデータ算出部を、さらに備え、前記複数の部品搭載済基板の前記搭載位置のずれに関する前記データを取得する部品搭載ずれデータ取得部をさらに備え、前記キャリブレーションデータ算出部は、前記部品搭載ずれデータ取得部で取得した前記搭載位置のずれに関する前記データに基づいて前記キャリブレーションデータを算出し、前記搭載位置のずれは、前記複数の部品搭載済基板のそれぞれの前記識別情報に関連付けられた前記搭載目標位置データを基準として計算される。 The component mounting device of the present disclosure receives a board that has been given unique identification information, has a solder part formed thereon, and has measured the position of the solder part, positions it at a working position, and places the board on which the component has been mounted. A board transport unit that transports the board from the work position to downstream equipment, mounting point position data including the position of the mounting point of the board, and the soldering part identified by the identification information that is the same as the mounting point position data. a mounting target position data acquisition unit that obtains mounting target position data calculated based on the solder part position data including the position of the solder part obtained by actually measuring the solder part position data, and a mounting work section having a mounting head that mounts the component at a mounting target position specified by mounting target position data associated with the identification information; The stopping position of the mounting head when mounting the component at the target mounting position is corrected using calibration data for correcting a deviation in the mounting position of the component due to is one of a plurality of component-mounted boards, and the component mounting device calculates the calibration data based on data regarding the deviation of the mounting position measured for the plurality of component -mounted boards. further comprising a data calculation section, further comprising a component mounting displacement data acquisition section that acquires the data regarding the displacement of the mounting positions of the plurality of component-mounted boards, and the calibration data calculation section is configured to calculate the component mounting displacement. The calibration data is calculated based on the data regarding the deviation of the mounting position acquired by the data acquisition unit, and the deviation of the mounting position is calculated based on the data regarding the deviation of the mounting position obtained by the data acquisition unit. Calculated based on onboard target position data.

本開示の部品搭載方法は、搭載ヘッドで部品を保持して固有の識別情報が付与された基板に前記部品を搭載する部品搭載装置における部品搭載方法であって、前記基板を上流の設備から受け取って前記搭載ヘッドによる作業位置に位置させるステップと、前記基板の実装点の位置を含む実装点位置データと、前記実装点位置データと同一の前記識別情報で特定され、前記基板に設けられたはんだ部を実測して得られた前記はんだ部の位置を含むはんだ部位置データとに基づいて算出された搭載目標位置データを取得するステップと、前記作業位置に位置する前記基板の前記識別情報に関連付けられた搭載目標位置データで特定された搭載目標位置に前記搭載ヘッドで前記部品を搭載するステップと、を備え、前記部品搭載装置の経時変動に起因する前記部品の搭載位置のずれを補正するためのキャリブレーションデータを使用して、前記搭載目標位置に前記部品を搭載する際の前記搭載ヘッドの停止位置を補正し、前記部品搭載装置により前記部品がそれぞれ搭載された複数の部品搭載済基板のそれぞれについて、前記搭載位置のずれを計測することで作成された、前記搭載位置のずれに関する部品搭載ずれデータに基づいて前記キャリブレーションデータを算出するステップと、前記搭載目標位置に関する部品搭載目標位置データを、前記部品の前記搭載位置のずれを計測する基準とするために、前記部品搭載目標位置データを前記識別情報と関連付けて出力するステップをさらに備えたThe component mounting method of the present disclosure is a component mounting method in a component mounting device that holds a component with a mounting head and mounts the component on a board to which unique identification information is given, and the component mounting method is a component mounting method in a component mounting device that holds the component with a mounting head and mounts the component on a board that has been given unique identification information. mounting point position data including the position of the mounting point on the board, and solder provided on the board identified by the same identification information as the mounting point position data; and obtaining target mounting position data calculated based on solder part position data including the position of the solder part obtained by actually measuring the solder part, and associating it with the identification information of the board located at the working position. and a step of mounting the component with the mounting head at the target mounting position specified by the target mounting position data, and correcting a deviation in the mounting position of the component due to a change over time of the component mounting device. Using the calibration data of For each, calculating the calibration data based on component mounting deviation data regarding the deviation of the mounting position created by measuring the deviation of the mounting position, and component mounting target position data regarding the target mounting position. The method further includes the step of outputting the component mounting target position data in association with the identification information in order to use the data as a reference for measuring the deviation of the mounting position of the component.

本開示の搭載済部品検査装置は、本開示の実装基板製造システムに含まれ、固有の識別情報で識別される基板の実装点に搭載された部品の搭載位置のずれを計測する。この検査装置は、作業ステージと、データ取得部と、検査部とを有する。作業ステージは、部品搭載装置によって部品が搭載された部品搭載済基板を保持する。データ取得部は、作業ステージに保持された基板の識別マークに関連付けされた搭載目標位置データを取得する。搭載目標位置データは、実装基板製造システムの情報管理装置における搭載目標位置データ作成部で予め作成されている。検査部は、作業ステージに保持された基板の実装点に搭載された部品の搭載位置のずれを求める。すなわち検査部は、搭載目標位置データに基づいて設定された搭載目標位置に対する部品の搭載位置のずれを求める。 The mounted component inspection device of the present disclosure is included in the mounted board manufacturing system of the present disclosure, and measures the displacement of the mounting position of a component mounted at a mounting point of a board identified by unique identification information. This inspection device includes a work stage, a data acquisition section, and an inspection section. The work stage holds a component-mounted board on which components are mounted by a component mounting device. The data acquisition unit acquires mounting target position data associated with the identification mark of the substrate held on the work stage. The mounting target position data is created in advance by a mounting target position data creation unit in the information management device of the mounting board manufacturing system. The inspection unit determines the displacement of the mounting position of the component mounted at the mounting point of the board held on the work stage. That is, the inspection unit determines the deviation of the mounting position of the component from the mounting target position set based on the mounting target position data.

本開示によれば、基板を実測して得られた、その基板の実装点の正確な位置情報とはんだ位置情報とを適用することで、高度な部品実装品質を実現することができる。 According to the present disclosure, high component mounting quality can be achieved by applying accurate position information of mounting points on a board and solder position information obtained by actually measuring the board.

本開示の実施の形態に係る実装基板製造システムの構成説明図Configuration explanatory diagram of a mounting board manufacturing system according to an embodiment of the present disclosure 図1に示す実装基板製造システムを構成するスクリーン印刷装置の構成説明図An explanatory diagram of the configuration of a screen printing device that constitutes the mounting board manufacturing system shown in FIG. 1 図1に示す実装基板製造システムを構成するスクリーン印刷装置の機能説明図Functional explanatory diagram of the screen printing device that constitutes the mounting board manufacturing system shown in Figure 1 図1に示す実装基板製造システムを構成する基板計測装置、はんだ部検査装置、搭載済部品検査装置、実装基板検査装置の構成説明図A configuration explanatory diagram of a board measuring device, a solder part inspection device, a mounted component inspection device, and a mounted board inspection device that constitute the mounted board manufacturing system shown in Figure 1. 図1に示す実装基板製造システムを構成する部品搭載装置の構成説明図An explanatory diagram of the configuration of a component mounting device that constitutes the mounting board manufacturing system shown in Figure 1. 図1に示す実装基板製造システムにおける情報管理装置および部品搭載装置の制御系の構成を示すブロック図A block diagram showing the configuration of the control system of the information management device and component mounting device in the mounted board manufacturing system shown in FIG. 図1に示す実装基板製造システムにおける搭載済部品検査装置の制御系の構成を示すブロック図A block diagram showing the configuration of the control system of the mounted component inspection device in the mounted board manufacturing system shown in Figure 1. 図4に示す基板計測装置における処理を示すフローチャートFlowchart showing processing in the board measuring device shown in FIG. 4 図4に示す実装基板製造システムを構成する基板計測装置における処理を示す工程説明図A process explanatory diagram showing the processing in the board measuring device that constitutes the mounted board manufacturing system shown in Fig. 4 図2に示すスクリーン印刷装置における処理を示すフローチャートFlowchart showing processing in the screen printing device shown in FIG. 2 図2に示すスクリーン印刷装置における処理を示す工程説明図Process explanatory diagram showing processing in the screen printing apparatus shown in FIG. 2 図4に示すはんだ部検査装置における処理を示すフローチャートFlowchart showing processing in the solder part inspection device shown in FIG. 4 図4に示すはんだ部検査装置における処理を示す工程説明図Process explanatory diagram showing processing in the solder part inspection device shown in FIG. 4 図6に示す情報管理装置における処理を示すフローチャートFlowchart showing processing in the information management device shown in FIG. 6 図6に示す情報管理装置における処理を示す工程説明図Process explanatory diagram showing processing in the information management device shown in FIG. 6 図6に示す部品搭載装置における処理を示すフローチャートFlowchart showing processing in the component mounting device shown in FIG. 6 図6に示す部品搭載装置における処理を示す工程説明図Process explanatory diagram showing processing in the component mounting device shown in FIG. 6 図7に示す搭載済部品検査装置における処理を示すフローチャートFlowchart showing processing in the mounted parts inspection device shown in FIG. 7 図7に示す搭載済部品検査装置における処理を示す工程説明図Process explanatory diagram showing processing in the mounted component inspection device shown in FIG. 7 図4に示す実装基板検査装置における処理を示すフローチャートFlowchart showing processing in the mounted board inspection device shown in FIG. 4 図4に示す実装基板検査装置における処理を示す工程説明図Process explanatory diagram showing processing in the mounted board inspection device shown in FIG. 4 本開示の実施の形態の実装基板製造システムの作業対象となる基板に形成された第1パターンのランドの断面図A cross-sectional view of a first pattern of lands formed on a substrate to be worked by a mounted substrate manufacturing system according to an embodiment of the present disclosure. 図15Aに示す第1パターンのランドの上面図Top view of the land of the first pattern shown in FIG. 15A 本開示の実施の形態の実装基板製造システムの作業対象となる基板に形成された第2パターンのランドの断面図A cross-sectional view of a second pattern of lands formed on a substrate to be worked by a mounted substrate manufacturing system according to an embodiment of the present disclosure. 図16Aに示す第2パターンのランドの上面図Top view of second pattern land shown in FIG. 16A コンピュータのハードウェア構成の一例を示す図Diagram showing an example of the hardware configuration of a computer

本開示は、はんだ位置情報を適用した位置補正の精度を向上させて、部品実装品質を高度に実現することができる部品搭載装置および部品搭載方法、ならびにこれらを用いた実装基板製造システムおよび実装基板製造方法を提供する。また本開示は、実装基板製造システムにて使用される搭載済部品検査装置を提供する。 The present disclosure provides a component mounting device and a component mounting method that can improve the accuracy of position correction using solder position information and achieve a high level of component mounting quality, as well as a mounted board manufacturing system and a mounted board using the same. A manufacturing method is provided. The present disclosure also provides a mounted component inspection device used in a mounted board manufacturing system.

次に図面を参照しながら本開示の実施の形態を説明する。まず図1、図2を参照して、本実施の形態における実装基板製造システム1の構成および機能について説明する。実装基板製造システム1は、図2に示す基板4に電子部品(以下、部品と称す)が実装された実装基板を製造する。図1において、実装基板製造システム1は、複数の部品実装用設備を連結した部品実装ライン1aを主体としている。部品実装ライン1aを構成する各設備は通信ネットワーク2によって相互に接続されるとともに、通信ネットワーク2を介して情報管理装置3に接続されている。 Next, embodiments of the present disclosure will be described with reference to the drawings. First, with reference to FIGS. 1 and 2, the configuration and functions of the mounting board manufacturing system 1 in this embodiment will be described. The mounted board manufacturing system 1 manufactures a mounted board in which electronic components (hereinafter referred to as components) are mounted on a board 4 shown in FIG. In FIG. 1, a mounting board manufacturing system 1 mainly includes a component mounting line 1a that connects a plurality of component mounting equipment. Each piece of equipment constituting the component mounting line 1a is interconnected by a communication network 2, and is also connected to an information management device 3 via the communication network 2.

部品実装ライン1aでは、上流から順に、基板供給装置M1、基板識別情報付与装置M2、基板計測装置M3、スクリーン印刷装置M4、はんだ部検査装置M5、部品搭載装置M6、M7、搭載済部品検査装置M8、リフロー装置M9、実装基板検査装置M10、基板回収装置M11が、基板搬送方向(X軸の正方向)に直列に接続されている。これらの部品実装用設備には、部品保持ノズルで部品を保持してはんだ部が形成された基板4の実装点に搭載する部品搭載装置M6、M7が含まれている。 In the component mounting line 1a, in order from upstream, there are a board supply device M1, a board identification information providing device M2, a board measurement device M3, a screen printing device M4, a solder part inspection device M5, component mounting devices M6 and M7, and a mounted component inspection device. M8, a reflow device M9, a mounted board inspection device M10, and a board recovery device M11 are connected in series in the board transport direction (positive direction of the X-axis). These component mounting equipment includes component mounting devices M6 and M7 that hold components with component holding nozzles and mount them on mounting points of the board 4 on which solder portions are formed.

基板供給装置M1は生産対象となる未実装の基板4を下流の基板識別情報付与装置M2へ供給する。基板識別情報付与装置M2は、基板供給装置M1から供給された基板4に、基板4を識別するための固有の識別情報を付与する。例えば、基板識別情報付与装置M2は、基板4に識別情報である識別コードをレーザにより印字するレーザーマーカである。 The board supply device M1 supplies unmounted boards 4 to be produced to the downstream board identification information providing device M2. The substrate identification information providing device M2 provides unique identification information for identifying the substrate 4 to the substrate 4 supplied from the substrate supply device M1. For example, the board identification information applying device M2 is a laser marker that prints an identification code, which is identification information, on the board 4 using a laser.

基板計測装置M3は、基板4を撮像することにより、基板4に形成された基準マークとはんだ接続用のランドの位置(ランド位置)やサイズを実測する。そして、計測されたランド位置やサイズを含むランド計測データを、計測対象の基板4の識別情報とともに通信ネットワーク2を介して情報管理装置3に送信する。また、基板計測装置M3は、計測結果から実装点の位置を算出する。実装点の位置は、基板4の基準マークとの相対的な位置関係で特定される。具体的には、実装点の位置は、基準マークによって定まる座標系における座標で特定される。基板計測装置M3は、計測結果から基板4の基準マークと実装点との位置関係を含んだ実装点位置データを算出し、基板4の識別情報と関連付けて通信ネットワーク2を介して情報管理装置3に送信する。この実装点位置データは、情報管理装置3によって下流の装置群である、スクリーン印刷装置M4、はんだ部検査装置M5、部品搭載装置M6、M7、搭載済部品検査装置M8、実装基板検査装置M10にフィードフォワードされる。 The board measuring device M3 takes an image of the board 4 to actually measure the position (land position) and size of the reference mark formed on the board 4 and the land for solder connection. Then, land measurement data including the measured land position and size is transmitted to the information management device 3 via the communication network 2 together with identification information of the board 4 to be measured. Further, the board measuring device M3 calculates the position of the mounting point from the measurement result. The position of the mounting point is specified by the relative positional relationship with the reference mark on the board 4. Specifically, the position of the mounting point is specified by coordinates in a coordinate system determined by the reference mark. The board measuring device M3 calculates mounting point position data including the positional relationship between the reference mark of the board 4 and the mounting point from the measurement results, and sends the data to the information management device 3 via the communication network 2 in association with the identification information of the board 4. Send to. This mounting point position data is transmitted by the information management device 3 to a downstream device group, such as a screen printing device M4, a solder part inspection device M5, component mounting devices M6 and M7, a mounted component inspection device M8, and a mounted board inspection device M10. Feed forward.

本実施の形態では、基板計測装置M3が、実装点位置データ取得部として機能する。すなわち、実装点位置データ取得部は、実測によって得られた基板の基準マークと実装点との位置関係に関する実装点位置データを取得する。なお、基板計測装置M3以外の装置(例えば、情報管理装置3が、実装点位置データを算出してもよい。この場合、基板計測装置M3と実装点位置データを算出する装置とが実装点位置データ取得部として機能する。あるいは、情報管理装置3を経由せず、基板計測装置M3が、直接、下流の装置群に実装点位置データをフィードフォワードしてもよい。 In this embodiment, the board measuring device M3 functions as a mounting point position data acquisition section. That is, the mounting point position data acquisition unit acquires mounting point position data regarding the positional relationship between the reference mark on the board and the mounting point obtained by actual measurement. Note that a device other than the board measuring device M3 (for example, the information management device 3) may calculate the mounting point position data. In this case, the board measuring device M3 and the device that calculates the mounting point position data Functions as a data acquisition unit. Alternatively, the board measuring device M3 may directly feed forward the mounting point position data to a downstream device group without going through the information management device 3.

また、スクリーン印刷装置M4、部品搭載装置M6、M7、搭載済部品検査装置M8には、実装点位置データは必須ではない。したがって、これらの装置をフィードフォワードの対象から除外してもよい。このように、実測による計測結果に基づいて実装点位置データを取得することにより、製造過程における基板の変形などに起因する位置誤差を排除して、実装点と基板4の基準マークとの位置関係を正確に求めることができる。 Further, the mounting point position data is not essential for the screen printing device M4, the component mounting devices M6 and M7, and the mounted component inspection device M8. Therefore, these devices may be excluded from feedforward targets. In this way, by acquiring the mounting point position data based on the actual measurement results, positional errors caused by deformation of the board during the manufacturing process can be eliminated, and the positional relationship between the mounting point and the reference mark on the board 4 can be determined. can be determined accurately.

スクリーン印刷装置M4は、基板4に形成されたランドにスクリーン印刷によりはんだ部を形成する。したがってスクリーン印刷装置M4は基板4にはんだ部を形成するはんだ部形成装置として機能する。なお、はんだ部を形成するには、スクリーン印刷装置を用いる以外にも、例えば、ランドにはんだを塗布することによってはんだ部を形成するはんだ塗布装置を用いてもよい。 The screen printing device M4 forms solder portions on lands formed on the substrate 4 by screen printing. Therefore, the screen printing device M4 functions as a solder portion forming device that forms solder portions on the substrate 4. Note that in order to form the solder portion, in addition to using a screen printing device, for example, a solder coating device that forms the solder portion by applying solder to the land may be used.

はんだ部検査装置M5は、スクリーン印刷装置M4よって基板4に形成されたはんだ部の位置を計測して、基準マークとはんだ部との位置関係を含むはんだ部位置データを作成する。すなわち、はんだ部位置データは、基準マークによって定まる座標系におけるはんだ部の座標を含む。本実施の形態においては、このはんだ部位置データと同一の識別情報で特定される実装点位置データとに基づいて、はんだ部の位置ずれを考慮に入れた搭載目標位置が算出される。 The solder portion inspection device M5 measures the position of the solder portion formed on the substrate 4 by the screen printing device M4, and creates solder portion position data including the positional relationship between the reference mark and the solder portion. That is, the solder part position data includes the coordinates of the solder part in the coordinate system determined by the reference mark. In this embodiment, the mounting target position is calculated based on the solder part position data and the mounting point position data specified by the same identification information, taking into account the positional deviation of the solder part.

部品搭載装置M6、M7は、部品保持ノズルで部品を保持して、スクリーン印刷装置M4によってはんだ部が形成された基板4の実装点に部品を搭載する。本実施の形態では、部品搭載装置M6、M7の作業対象となる基板4には、基板識別情報付与装置M2によって固有の識別情報が付与されている。これにより、上述のはんだ部位置データと実装点位置データとの対応関係が、基板4に印加された識別情報を介して正しく判断される。 The component mounting devices M6 and M7 hold the component with component holding nozzles and mount the component on the mounting point of the board 4 on which the solder portion is formed by the screen printing device M4. In this embodiment, unique identification information is assigned to the board 4 that is the work target of the component mounting devices M6 and M7 by the board identification information assigning device M2. Thereby, the correspondence between the solder part position data and the mounting point position data described above can be correctly determined via the identification information applied to the board 4.

搭載済部品検査装置M8は、部品搭載装置M6、M7で部品が搭載された基板4(以下、部品搭載済基板と称す)における、部品の搭載位置のずれ(以下、搭載ずれと称す)を計測する。搭載済部品検査装置M8は、この搭載ずれに関する部品搭載ずれデータを出力する。本実施の形態においては、この部品搭載ずれデータを搭載済部品検査装置M8が部品搭載装置M6、M7にフィードバックすることにより、部品搭載装置M6、M7の経時変動に起因する部品の搭載ずれが補正される。すなわち、キャリブレーションが実行される。なお、搭載済部品検査装置M8は、上述の部品搭載済み基板における部品の搭載ずれを計測する場合は、部品搭載済み基板の識別情報に関連付けられた搭載目標位置データを部品の搭載ずれ計測の基準として使用する。 The mounted component inspection device M8 measures the deviation of the mounting position of the component (hereinafter referred to as mounting deviation) on the board 4 on which the component is mounted by the component mounting devices M6 and M7 (hereinafter referred to as the component mounted board). do. The mounted component inspection device M8 outputs component mounting deviation data regarding this mounting deviation. In this embodiment, the mounted component inspection device M8 feeds back this component mounting deviation data to the component mounting devices M6 and M7, thereby correcting component mounting deviations caused by changes over time in the component mounting devices M6 and M7. be done. That is, calibration is performed. In addition, when measuring the component mounting deviation on the above-mentioned component-mounted board, the mounted component inspection device M8 uses the mounting target position data associated with the identification information of the component-mounted board as a standard for measuring the component mounting deviation. Use as.

リフロー装置M9は、部品搭載済基板を所定の加熱プロファイルにしたがって加熱することにより、ランドのはんだ部を溶融し、固化させて部品を基板4にはんだ接合する。実装基板検査装置M10は、リフロー後の基板4を撮像して取得された画像に基づき、実装基板の良否を判定するための検査を行う。すなわち実装基板検査装置M10は、取得された画像を認識処理することにより、基板4の実装状態、すなわちはんだ接合後の部品の位置や姿勢などの良否を検査する。基板回収装置M11は、実装基板検査装置M10が検査した後の、完成した良品の実装基板を回収する。 The reflow device M9 heats the board on which the component is mounted according to a predetermined heating profile, melts and solidifies the solder portion of the land, and joins the component to the board 4 by soldering. The mounted board inspection apparatus M10 performs an inspection to determine the quality of the mounted board based on an image obtained by imaging the board 4 after reflow. That is, the mounted board inspection apparatus M10 inspects the quality of the mounting state of the board 4, that is, the position and orientation of the components after soldering, by performing recognition processing on the acquired image. The board collection device M11 collects the completed and non-defective mounting boards that have been inspected by the mounting board inspection device M10.

次に、図2~図5を参照して、上述の部品実装ライン1aを構成する実装用設備の構成を説明する。なお、ここではこれらの実装用設備のうち、スクリーン印刷装置M4、基板計測装置M3、はんだ部検査装置M5、搭載済部品検査装置M8、実装基板検査装置M10、部品搭載装置M6、M7についてのみ説明し、他の設備については説明を省略する。 Next, with reference to FIGS. 2 to 5, the configuration of the mounting equipment that constitutes the above-mentioned component mounting line 1a will be explained. Of these mounting equipment, only the screen printing device M4, board measuring device M3, solder part inspection device M5, mounted component inspection device M8, mounted board inspection device M10, and component mounting devices M6 and M7 will be explained here. However, descriptions of other equipment will be omitted.

まず図2を参照して、スクリーン印刷装置M4の構成を説明する。基板位置決め部11は、アライメント機構である印刷ステージXYΘテーブル(以下、テーブル)11aと、テーブル11aの上面に設けられた印刷ステージ昇降機構(以下、昇降機構)11bとを有する。テーブル11aには、以下に説明する各部を制御するスクリーン印刷制御部(以下、制御部)10が内蔵されている。昇降機構11bには、昇降テーブル13aを介して印刷ステージ13が保持されている。 First, with reference to FIG. 2, the configuration of the screen printing device M4 will be described. The substrate positioning unit 11 includes a print stage XYΘ table (hereinafter referred to as a table) 11a, which is an alignment mechanism, and a print stage elevating mechanism (hereinafter referred to as an elevating mechanism) 11b provided on the upper surface of the table 11a. The table 11a has a built-in screen printing control section (hereinafter referred to as a control section) 10 that controls each section described below. The printing stage 13 is held in the elevating mechanism 11b via an elevating table 13a.

テーブル11aを駆動することにより、印刷ステージ13はXYΘ方向に水平移動し、昇降機構11bを駆動することにより印刷ステージ13は昇降する。昇降テーブル13aの上面には、基板サポートピン14aを有する基板サポート部14が設けられている。基板サポート部14は、基板サポート部昇降機構(以下、昇降機構)14bにより昇降駆動する。 By driving the table 11a, the printing stage 13 is moved horizontally in the XYΘ directions, and by driving the elevating mechanism 11b, the printing stage 13 is moved up and down. A substrate support section 14 having substrate support pins 14a is provided on the upper surface of the lifting table 13a. The substrate support section 14 is driven up and down by a substrate support section elevating mechanism (hereinafter referred to as an elevating mechanism) 14b.

さらに昇降テーブル13aは、基板搬送部15を構成する印刷ステージコンベア15bを下方から支持している。基板搬送部15は印刷ステージコンベア15bの上流に位置する搬入コンベア15aと、下流に位置する搬出コンベア15cをさらに含む。上流から搬入コンベア15aに搬入された基板4は印刷ステージコンベア15bに受け渡され、以下に説明するスクリーン印刷部16によるスクリーン印刷の対象となる。スクリーン印刷後の基板4は搬出コンベア15cを経て下流へ搬出される。 Furthermore, the elevating table 13a supports a print stage conveyor 15b that constitutes the substrate transport section 15 from below. The substrate transport unit 15 further includes an input conveyor 15a located upstream of the print stage conveyor 15b, and an output conveyor 15c located downstream. The substrate 4 carried into the carry-in conveyor 15a from upstream is delivered to the printing stage conveyor 15b, and is subjected to screen printing by the screen printing section 16 described below. The board 4 after screen printing is carried out downstream via the carrying out conveyor 15c.

印刷ステージ13の上方には、スクリーン印刷部16が配置されている。スクリーン印刷部16は、基板4にはんだを印刷するための印刷パターンが設けられたスクリーンマスク18を含む。スクリーンマスク18の上方には、スキージ17およびスキージ17をスクリーンマスク18に当接させてスキージング動作を行わせるためのスキージ駆動機構17aが設けられている。 A screen printing section 16 is arranged above the printing stage 13. The screen printing unit 16 includes a screen mask 18 provided with a printing pattern for printing solder on the substrate 4. Above the screen mask 18, a squeegee 17 and a squeegee drive mechanism 17a are provided for bringing the squeegee 17 into contact with the screen mask 18 to perform a squeezing operation.

印刷ステージ13とスクリーンマスク18との間には、マスクカメラ19aと基板カメラ19bとを含むカメラユニット19が配置されている。カメラユニット19はカメラ移動機構(図示省略)によりX軸、Y軸に沿って移動可能である。これにより、マスクカメラ19aは、スクリーンマスク18の所望の位置を撮像し、基板カメラ19bは、基板4の所望の位置を撮像する。この撮像により取得された画像を認識処理することにより、スクリーンマスク18、基板4の水平方向の位置が検出される。そしてこの位置検出結果に基づいて、印刷ステージ13を水平移動させることにより、基板4とスクリーンマスク18とを位置合わせすることができる。 A camera unit 19 including a mask camera 19a and a substrate camera 19b is arranged between the print stage 13 and the screen mask 18. The camera unit 19 is movable along the X-axis and the Y-axis by a camera movement mechanism (not shown). Thereby, the mask camera 19a images the desired position of the screen mask 18, and the board camera 19b images the desired position of the substrate 4. By performing recognition processing on the image obtained by this imaging, the horizontal positions of the screen mask 18 and the substrate 4 are detected. Then, by horizontally moving the print stage 13 based on this position detection result, the substrate 4 and the screen mask 18 can be aligned.

スクリーン印刷装置M4によるはんだのスクリーン印刷においては、図3に示すように、印刷ステージコンベア15bに基板4を保持させた状態で、昇降機構11bを駆動して印刷ステージ13を上昇させる(矢印a)。これとともに、昇降機構14bを駆動して基板サポート部14を基板サポートピン14aとともに上昇させる(矢印b)。さらに、基板4を下面から基板サポートピン14aによって下受けして基板4をスクリーンマスク18の下面に押しつける。そしてこの状態でスキージ17を下降させて(矢印c)、スクリーンマスク18に当接させる。次いでスキージ17をY軸に沿って移動させる。これにより、基板4にはスクリーンマスク18に形成されたパターン孔を介してはんだがスクリーン印刷され、基板4のランドにははんだ部が形成される。 In screen printing of solder by the screen printing device M4, as shown in FIG. 3, the printing stage 13 is raised by driving the lifting mechanism 11b with the substrate 4 held on the printing stage conveyor 15b (arrow a). . At the same time, the lifting mechanism 14b is driven to raise the board support part 14 together with the board support pin 14a (arrow b). Further, the substrate 4 is supported from below by the substrate support pins 14a, and the substrate 4 is pressed against the lower surface of the screen mask 18. In this state, the squeegee 17 is lowered (arrow c) and brought into contact with the screen mask 18. Next, the squeegee 17 is moved along the Y axis. As a result, solder is screen printed on the substrate 4 through the pattern holes formed in the screen mask 18, and solder portions are formed on the lands of the substrate 4.

次に、図4を参照して、基板計測装置M3、はんだ部検査装置M5、搭載済部品検査装置M8、実装基板検査装置M10の構成および機能を説明する。なお、これらの装置は検査・計測の対象が異なることから詳細構成は装置毎に異なっているが、検査・計測の対象をカメラで撮像して光学的に認識する点では共通している。以下、基板計測装置M3を代表して説明する。 Next, with reference to FIG. 4, the configurations and functions of the board measuring device M3, the solder part testing device M5, the mounted component testing device M8, and the mounted board testing device M10 will be described. Note that these devices have different detailed configurations because the objects to be inspected and measured are different, but they have in common that the object to be inspected and measured is imaged with a camera and recognized optically. Hereinafter, the substrate measuring device M3 will be explained as a representative.

基台21には処理部20が内蔵されている。処理部20は、基板計測装置M3における各種の作業動作や処理、例えば基板搬送動作、撮像処理、撮像により得られた画像の認識処理や画像に基づく検査・計測処理を制御する。基台21の上面には、基板搬送部22が配列されている。基板搬送部22は上流から搬入された検査・計測対象の基板4を搬送して、以下に説明する検査ヘッド24による検査・計測作業位置に基板4を位置させる。 A processing section 20 is built into the base 21 . The processing unit 20 controls various work operations and processes in the substrate measuring device M3, such as substrate transport operations, imaging processing, recognition processing of images obtained by imaging, and inspection/measurement processing based on images. On the upper surface of the base 21, a substrate transport section 22 is arranged. The substrate transport unit 22 transports the substrate 4 to be inspected and measured, which has been carried in from upstream, and positions the substrate 4 at a position where an inspection head 24, which will be described below, performs inspection and measurement.

検査ヘッド24は、鏡筒部24aと、鏡筒部24aの下端部に設けられた照明ユニット24bとを有し、XYテーブルで構成された検査ヘッド移動機構25によって、X軸、Y軸に沿って水平移動する。カメラ26は、その撮像方向を下向きにして鏡筒部24aに内蔵されている。この構成により、カメラ26を、基板4の所望の部位の上方に位置させることができる。照明ユニット24bには、上段照明28a、下段照明28bが内蔵されている。 The inspection head 24 has a lens barrel portion 24a and an illumination unit 24b provided at the lower end of the lens barrel portion 24a, and is moved along the X-axis and the Y-axis by an inspection head movement mechanism 25 configured with an to move horizontally. The camera 26 is built into the lens barrel portion 24a with its imaging direction facing downward. With this configuration, the camera 26 can be positioned above a desired portion of the substrate 4. The lighting unit 24b includes an upper lighting 28a and a lower lighting 28b.

カメラ26が撮像する時には、処理部20は、撮像対象に適した照明条件に応じて上段照明28a、下段照明28bのいずれかまたは双方を点灯させる。さらに鏡筒部24aの側面には同軸照明28cが設けられている。同軸照明28cを点灯することにより、鏡筒部24aの内部に配置されたハーフミラー27を介して基板4をカメラ26の撮像方向と同軸方向から照明することができる。上段照明28a、下段照明28b、同軸照明28cは、照明光源部28を構成している。 When the camera 26 captures an image, the processing unit 20 turns on either or both of the upper stage illumination 28a and the lower stage illumination 28b according to illumination conditions suitable for the object to be imaged. Further, a coaxial illumination 28c is provided on the side surface of the lens barrel portion 24a. By turning on the coaxial illumination 28c, the substrate 4 can be illuminated from a direction coaxial with the imaging direction of the camera 26 via the half mirror 27 arranged inside the lens barrel section 24a. The upper illumination 28a, the lower illumination 28b, and the coaxial illumination 28c constitute an illumination light source section 28.

このように、照明条件を切り替えることにより、同一のカメラ26によって異なる用途の検査・計測を実行することができる。基板計測装置M3は、基板4を計測して実装点位置データを取得(作成)し、はんだ部検査装置M5は、はんだ部を検査してはんだ部位置データを取得(作成)する。また、搭載済部品検査装置M8は、基板4に搭載された部品の搭載ずれを計測して、部品搭載ずれデータを取得(作成)し、実装基板検査装置M10は、はんだ付けされた部品を検査して、実装基板検査データを取得(作成)する。 In this way, by switching the illumination conditions, the same camera 26 can perform inspections and measurements for different purposes. The board measuring device M3 measures the board 4 to acquire (create) mounting point position data, and the solder portion inspection device M5 inspects the solder portion to acquire (create) solder portion position data. Furthermore, the mounted component inspection device M8 measures the mounting misalignment of the components mounted on the board 4 and acquires (creates) component mounting misalignment data, and the mounted board inspection device M10 inspects the soldered components. Then, the mounting board inspection data is acquired (created).

次に、図5を参照して、部品搭載装置M6、M7の構成および機能を説明する。部品搭載装置M6、M7の基本構成は共通しているので、代表して部品搭載装置M6について説明する。部品搭載装置M6は、部品保持ノズル37bで部品を保持して固有の識別情報が付与された基板4の実装点に搭載する。基台31には、部品搭載制御部(以下、制御部)30が内蔵されている。制御部30は、以下に説明する部品搭載装置M6の作業動作を制御する。制御部30は、例えば基板搬送動作、部品搭載機構による部品搭載作業を制御する。また制御部30は、部品搭載装置M6が有する部品認識カメラ36、基板認識カメラ39によって取得された画像の認識処理を行う。以下、部品認識カメラ36、基板認識カメラ39を第1カメラ36、第2カメラ39と称する。 Next, with reference to FIG. 5, the configuration and functions of the component mounting devices M6 and M7 will be explained. Since the component mounting devices M6 and M7 have the same basic configuration, component mounting device M6 will be explained as a representative. The component mounting device M6 holds a component with a component holding nozzle 37b and mounts the component at a mounting point on the board 4 to which unique identification information has been given. A component mounting control section (hereinafter referred to as a control section) 30 is built into the base 31 . The control unit 30 controls the work operation of the component mounting device M6, which will be described below. The control unit 30 controls, for example, a substrate transport operation and a component mounting operation by a component mounting mechanism. The control unit 30 also performs recognition processing of images acquired by the component recognition camera 36 and board recognition camera 39 of the component mounting device M6. Hereinafter, the component recognition camera 36 and the board recognition camera 39 will be referred to as a first camera 36 and a second camera 39.

基台31の上面には、1対の基板搬送コンベアを有する基板搬送部35が基板搬送方向を示すX軸に沿って配置されている。基板搬送部35は、作業対象の基板4をX軸に沿って搬送する。基台31の上面において、基板搬送部35の間には、基板下受け部34が配備されている。基板下受け部34は、複数のサポートピン34aと、サポートピン34aを昇降させるサポートピン昇降機構34bとを有する。基板4が搭載作業位置に搬入された状態において、制御部30がサポートピン昇降機構34bを駆動してサポートピン34aを上昇させることにより、複数のサポートピン34aが基板4の下面を支持する。 On the upper surface of the base 31, a substrate transport section 35 having a pair of substrate transport conveyors is arranged along the X-axis indicating the direction of substrate transport. The substrate transport unit 35 transports the substrate 4 to be worked on along the X-axis. On the upper surface of the base 31 , a substrate lower receiving section 34 is provided between the substrate transport sections 35 . The substrate lower receiving part 34 includes a plurality of support pins 34a and a support pin lifting mechanism 34b that moves the support pins 34a up and down. When the substrate 4 is carried into the mounting position, the control unit 30 drives the support pin lifting mechanism 34b to raise the support pins 34a, so that the plurality of support pins 34a support the lower surface of the substrate 4.

基台31のY軸の方向の両側には、それぞれ部品供給用の台車32がセットされている。台車32の上面には、部品供給ユニットであるテープフィーダ33が装着されている。テープフィーダ33は、基板4に搭載される部品を収納したキャリアテープをピッチ送りすることにより、以下に説明する部品搭載機構による部品取出し位置に部品を供給する。 Carts 32 for supplying components are set on both sides of the base 31 in the Y-axis direction. A tape feeder 33, which is a parts supply unit, is mounted on the upper surface of the cart 32. The tape feeder 33 pitch-feeds a carrier tape containing components to be mounted on the board 4, thereby supplying the components to a component extraction position by a component mounting mechanism, which will be described below.

次に、部品搭載機構の構成を説明する。基台31によって支持されたフレーム部(図示省略)には、搭載ヘッド移動機構(以下、移動機構)38がY軸に沿って配置されている。移動機構38には、移動部材37aを介して搭載ヘッド37が装着されている。搭載ヘッド37の下端部には部品保持ノズル37bが設けられている。移動機構38を駆動することにより、搭載ヘッド37はX軸およびY軸に沿って移動する。これにより、搭載ヘッド37は、基板搬送部35に位置決め保持された基板4とテープフィーダ33との間で移動する。そして、部品保持ノズル37bによってテープフィーダ33から取り出した部品を基板4に搭載する。 Next, the configuration of the component mounting mechanism will be explained. A mounting head moving mechanism (hereinafter referred to as a moving mechanism) 38 is arranged along the Y-axis on a frame portion (not shown) supported by the base 31. The mounting head 37 is attached to the moving mechanism 38 via a moving member 37a. A component holding nozzle 37b is provided at the lower end of the mounting head 37. By driving the moving mechanism 38, the mounting head 37 moves along the X-axis and the Y-axis. As a result, the mounting head 37 moves between the tape feeder 33 and the substrate 4 that is positioned and held by the substrate transport section 35 . Then, the component taken out from the tape feeder 33 is mounted on the board 4 by the component holding nozzle 37b.

基板搬送部35とテープフィーダ33との間には第1カメラ36がそれぞれ配置されている。テープフィーダ33から部品を取り出した搭載ヘッド37を第1カメラ36の上方に位置させた状態で、第1カメラ36は、搭載ヘッド37に保持された部品を下方から撮像する。これにより、搭載ヘッド37に保持された状態の部品が認識され、部品の識別や位置ずれの検出が行われる。 A first camera 36 is arranged between the substrate transport section 35 and the tape feeder 33, respectively. With the mounting head 37 that has taken out the component from the tape feeder 33 positioned above the first camera 36, the first camera 36 images the component held by the mounting head 37 from below. Thereby, the component held by the mounting head 37 is recognized, and component identification and positional shift detection are performed.

移動部材37aには、第2カメラ39が撮像方向を下向きにして配置されている。第2カメラ39を搭載ヘッド37とともに移動させて基板4の上方に位置させた状態で、第2カメラ39は、基板搬送部35に保持された基板4を撮像する。この撮像により取得された基板4の識別情報や基準マークおよび実装点の画像を認識処理することにより、制御部30は、基板4の識別や位置検出を行うことができる。部品搭載装置M6、M7による部品搭載においては、このようにして取得された基板4の識別結果や位置検出結果に基づいて、部品搭載機構による部品搭載動作が補正される。 A second camera 39 is arranged on the moving member 37a with the imaging direction facing downward. With the second camera 39 moved together with the mounting head 37 and positioned above the substrate 4, the second camera 39 images the substrate 4 held by the substrate transport section 35. The control unit 30 can identify and position the board 4 by performing recognition processing on the identification information of the board 4 and images of the reference marks and mounting points acquired through this imaging. In the component mounting by the component mounting devices M6 and M7, the component mounting operation by the component mounting mechanism is corrected based on the thus obtained identification results and position detection results of the board 4.

上述構成において、基板搬送部35は以下の機能を有している。はんだ部形成装置としてのスクリーン印刷装置M4によってはんだ部が形成され、はんだ部検査装置M5によるはんだ部の計測が済んだ後、まず基板搬送部35は、基板4を受け取って部品保持ノズル37bによる作業位置に位置させる。次いで部品保持ノズル37bによる部品の搭載が済んだ部品搭載済基板を作業位置から下流の設備へ搬出する。 In the above configuration, the substrate transport section 35 has the following functions. After the solder part is formed by the screen printing device M4 as a solder part forming device and the solder part is measured by the solder part inspection device M5, first, the board transfer unit 35 receives the board 4 and performs work using the component holding nozzle 37b. position. Next, the component-mounted board on which components have been mounted by the component holding nozzle 37b is carried out from the work position to downstream equipment.

次に、図6を参照して、実装基板製造システム1を構成する情報管理装置3および部品搭載装置M6、M7の制御系の構成について説明する。情報管理装置3は通信ネットワーク2を介して部品搭載装置M6、M7の制御部30と接続されている。情報管理装置3は内部処理機能としての実装点位置データ記憶部41、はんだ部位置データ記憶部42、搭載目標位置データ作成部43および搭載目標位置データ記憶部44を有している。以下、実装点位置データ記憶部41を第1記憶部41、はんだ部位置データ記憶部42を第2記憶部42、搭載目標位置データ作成部43を作成部43、搭載目標位置データ記憶部44を第3記憶部44と称する。第1記憶部41は、はんだ部検査装置M5から受信した実装点位置データを、基板4を個別に識別する識別情報と関連付けて記憶する。実装点位置データとは、基板4を実測して得られた基板4の基準マークと実装点との位置関係に関するデータである。 Next, with reference to FIG. 6, the configuration of the control system of the information management device 3 and component mounting devices M6 and M7 that constitute the mounted board manufacturing system 1 will be described. The information management device 3 is connected via the communication network 2 to the control units 30 of the component mounting devices M6 and M7. The information management device 3 has a mounting point position data storage section 41, a solder section position data storage section 42, a mounting target position data creation section 43, and a mounting target position data storage section 44 as internal processing functions. Hereinafter, the mounting point position data storage unit 41 will be referred to as the first storage unit 41, the solder part position data storage unit 42 will be referred to as the second storage unit 42, the mounting target position data creation unit 43 will be referred to as the creation unit 43, and the mounting target position data storage unit 44. It is called a third storage section 44. The first storage unit 41 stores the mounting point position data received from the solder part inspection device M5 in association with identification information that individually identifies the board 4. The mounting point position data is data regarding the positional relationship between the reference mark on the board 4 and the mounting point obtained by actually measuring the board 4.

第2記憶部42は、はんだ部位置データを記憶する。はんだ部は、はんだ部形成装置であるスクリーン印刷装置M4によって基板4に形成され、はんだ部位置データは、はんだ部検査装置M5で計測して得られている。作成部43は、同一の識別情報で特定される実装点位置データとはんだ部位置データとに基づいて、その識別情報で特定される基板4における部品の搭載目標位置データを作成する。実装点位置データとはんだ部位置データとに基づいて搭載目標位置データを作成する目的は、溶融した液状のはんだ(以下、溶融はんだと称する)の表面張力による部品の挙動などを考慮した位置に部品を搭載するためである。第3記憶部44は、作成部43によって作成された搭載目標位置データを記憶する。搭載目標位置データは、対応する基板4の識別情報と関連付けされて記憶される。搭載目標位置データは、基板4の基準マークで定まる座標系における搭載目標位置の座標を含む。 The second storage unit 42 stores solder position data. The solder portion is formed on the substrate 4 by a screen printing device M4, which is a solder portion forming device, and the solder portion position data is obtained by measuring with a solder portion inspection device M5. The creation unit 43 creates target mounting position data for the component on the board 4 specified by the identification information, based on the mounting point position data and the solder part position data specified by the same identification information. The purpose of creating the mounting target position data based on the mounting point position data and the solder part position data is to place the parts in a position that takes into account the behavior of the parts due to the surface tension of molten liquid solder (hereinafter referred to as molten solder). This is because it is equipped with. The third storage unit 44 stores the mounting target position data created by the creation unit 43. The mounting target position data is stored in association with the identification information of the corresponding board 4. The mounting target position data includes the coordinates of the mounting target position in the coordinate system determined by the reference mark on the board 4.

さらに情報管理装置3は、第1の情報処理部45と、第2の情報処理部46と、第3の情報処理部47とを有している。第1の情報処理部45、第2の情報処理部46、第3の情報処理部47はそれぞれ、部品実装ライン1aのうちの1つ以上の特定の装置と通信可能に構成されている。そして、その1つ以上の特定の装置との間で、1つ以上の特定の装置に応じた特定のデータを授受する。第1の情報処理部45は、はんだ部検査装置M5および部品搭載装置M6、M7と通信可能となっている。第1の情報処理部45は、はんだ部検査装置M5によって作成されたはんだ部位置データを受信して第2記憶部42に記憶する。また、第1の情報処理部45は、第3記憶部44に記憶されている搭載目標位置データを部品搭載装置M6、M7へ送信する。具体的には、第1の情報処理部45は、部品搭載装置M6、M7からこれから部品の搭載が行われる基板4の識別情報を受信すると、その識別情報に関連する搭載目標位置データを部品搭載装置M6、M7に出力する。 Further, the information management device 3 includes a first information processing section 45, a second information processing section 46, and a third information processing section 47. The first information processing section 45, the second information processing section 46, and the third information processing section 47 are each configured to be able to communicate with one or more specific devices in the component mounting line 1a. Then, specific data corresponding to the one or more specific devices is exchanged with the one or more specific devices. The first information processing unit 45 is capable of communicating with the solder part inspection device M5 and the component mounting devices M6 and M7. The first information processing unit 45 receives the solder part position data created by the solder part inspection device M5 and stores it in the second storage part 42. Further, the first information processing section 45 transmits the mounting target position data stored in the third storage section 44 to the component mounting devices M6 and M7. Specifically, when the first information processing unit 45 receives the identification information of the board 4 on which the component will be mounted from the component mounting devices M6 and M7, the first information processing unit 45 uses the mounting target position data related to the identification information to perform the component mounting process. Output to devices M6 and M7.

第2の情報処理部46は、少なくとも搭載済部品検査装置M8と通信可能となっている。第2の情報処理部46は、搭載済部品検査装置M8で検査される基板4の識別情報に関連する搭載目標位置データを第3記憶部44から読みだして搭載済部品検査装置M8へ提供する。これは、搭載済部品検査装置M8に搭載目標位置に関する部品搭載目標位置データを部品の搭載ずれ計測の基準として利用させるためである。第2の情報処理部46は、搭載済部品検査装置M8から基板4の識別情報を受信するとその識別情報に関連する搭載目標位置データを搭載済部品検査装置M8に送信する。 The second information processing unit 46 is capable of communicating with at least the mounted component inspection device M8. The second information processing unit 46 reads the mounting target position data related to the identification information of the board 4 to be inspected by the mounted component inspection device M8 from the third storage unit 44 and provides it to the mounted component inspection device M8. . This is to allow the mounted component inspection device M8 to use component mounting target position data regarding the mounting target position as a reference for measuring component mounting deviation. When the second information processing unit 46 receives the identification information of the board 4 from the mounted component inspection device M8, it transmits the mounting target position data related to the identification information to the mounted component inspection device M8.

第3の情報処理部47は、複数の部品搭載装置(ここでは部品搭載装置M6、M7)および搭載済部品検査装置M8と通信可能となっている。そして第3の情報処理部47は、搭載済部品検査装置M8から出力された部品搭載ずれデータを、その搭載ずれに係る部品の搭載を実行した部品搭載装置に振り分けて、それぞれの部品搭載装置に提供する。具体的には、部品搭載装置は、第1部品を基板4に搭載する部品搭載装置M6と、第2部品を同じ基板4に搭載する部品搭載装置M7とを含む。搭載済部品検査装置M8は、複数の部品搭載済基板のそれぞれについて、第1部品の第1搭載位置のずれと、第2部品の第2搭載位置のずれとを計測する。そして、部品搭載ずれデータとして、第1搭載位置のずれに関する第1部品搭載ずれデータを出力するとともに、第2搭載位置のずれに関する第2部品搭載ずれデータを出力する。第3の情報処理部47は、搭載済部品検査装置M8から出力された部品搭載ずれデータのうち、第1部品搭載ずれデータを部品搭載装置M6に提供し、第2部品搭載ずれデータを部品搭載装置M7に提供する。 The third information processing unit 47 is capable of communicating with a plurality of component mounting devices (here, component mounting devices M6 and M7) and a mounted component inspection device M8. The third information processing unit 47 then distributes the component mounting deviation data output from the mounted component inspection device M8 to the component mounting devices that have executed the mounting of the component related to the mounting deviation, and sends the component mounting deviation data output from the mounted component inspection device M8 to each component mounting device. provide. Specifically, the component mounting device includes a component mounting device M6 that mounts a first component onto the board 4, and a component mounting device M7 that mounts a second component onto the same board 4. The mounted component inspection device M8 measures the deviation of the first mounting position of the first component and the deviation of the second mounting position of the second component for each of the plurality of component-mounted boards. Then, as the component mounting deviation data, first component mounting deviation data regarding the deviation in the first mounting position is outputted, and second component mounting deviation data regarding the deviation in the second mounting position is outputted. The third information processing unit 47 provides the first component mounting deviation data to the component mounting device M6 among the component mounting deviation data output from the mounted component inspection device M8, and provides the second component mounting deviation data to the component mounting device M6. Provided to device M7.

なお、上述の第1の情報処理部45、第2の情報処理部46、第3の情報処理部47の構成および区分は任意である。例えば本実施の形態に示すように、第1の情報処理部45、第2の情報処理部46、第3の情報処理部47をそれぞれ専用の機能を有する単独の情報処理装置としてもよく、また第2の情報処理部46、第3の情報処理部47の機能をまとめて単一の情報処理装置としてもよい。さらに、第1の情報処理部45、第2の情報処理部46、第3の情報処理部47の機能を全てまとめて、全体で一つの情報処理装置を構成するようにしてもよい。 Note that the configuration and division of the first information processing section 45, second information processing section 46, and third information processing section 47 described above are arbitrary. For example, as shown in this embodiment, the first information processing section 45, the second information processing section 46, and the third information processing section 47 may each be a single information processing device having a dedicated function, or The functions of the second information processing section 46 and the third information processing section 47 may be combined into a single information processing device. Furthermore, the functions of the first information processing section 45, the second information processing section 46, and the third information processing section 47 may all be combined to form one information processing device as a whole.

制御部30は、搭載ヘッド37、移動機構38、基板搬送部35と接続されて、これらを制御する。また制御部30には第2カメラ39、第1カメラ36による撮像結果が取り込まれる。 The control section 30 is connected to the mounting head 37, the moving mechanism 38, and the substrate transport section 35, and controls these. Further, the control unit 30 receives the imaging results obtained by the second camera 39 and the first camera 36 .

制御部30は、内部処理機能として、基板認識部51、部品認識部52、部品搭載処理部54、実装点位置データ取得部55、搭載目標位置データ取得部56、キャリブレーションデータ算出部57、部品搭載ずれデータ取得部58、データ出力部59を有している。さらに制御部30は、内部メモリとしての生産関連データ記憶部53、実装点位置データ記憶部55a、搭載目標位置データ記憶部56a、部品搭載ずれデータ記憶部58aを有している。以下、実装点位置データ取得部55、搭載目標位置データ取得部56、キャリブレーションデータ算出部57、部品搭載ずれデータ取得部58を第1取得部55、第2取得部56、算出部57、第3取得部58と称し、生産関連データ記憶部53、実装点位置データ記憶部55a、搭載目標位置データ記憶部56a、部品搭載ずれデータ記憶部58aを第4記憶部53、第5記憶部55a、第6記憶部56a、第7記憶部58aと称する。 The control section 30 has internal processing functions such as a board recognition section 51, a component recognition section 52, a component mounting processing section 54, a mounting point position data acquisition section 55, a mounting target position data acquisition section 56, a calibration data calculation section 57, and a component mounting processing section 54. It has a mounting deviation data acquisition section 58 and a data output section 59. Furthermore, the control section 30 has a production-related data storage section 53 as an internal memory, a mounting point position data storage section 55a, a mounting target position data storage section 56a, and a component mounting deviation data storage section 58a. Hereinafter, the mounting point position data acquisition section 55, the mounting target position data acquisition section 56, the calibration data calculation section 57, and the component mounting deviation data acquisition section 58 are referred to as the first acquisition section 55, the second acquisition section 56, the calculation section 57, and the 3 acquisition section 58, which includes a production-related data storage section 53, a mounting point position data storage section 55a, a mounting target position data storage section 56a, a component mounting deviation data storage section 58a, a fourth storage section 53, a fifth storage section 55a, They will be referred to as a sixth storage section 56a and a seventh storage section 58a.

基板認識部51は、第2カメラ39によって取得された画像を認識処理し、部品認識部52は、第1カメラ36によって取得された画像を認識処理する。すなわち、基板認識部51は、基板搬送部35によって搬送されて基板下受け部34に位置保持された基板4の識別情報を検出し、基準マーク、実装点の位置を認識する。また、部品認識部52は、搭載ヘッド37に保持された状態の部品を識別し、部品の位置ずれ状態を検出する。 The board recognition unit 51 recognizes the image acquired by the second camera 39, and the component recognition unit 52 recognizes the image acquired by the first camera 36. That is, the board recognition unit 51 detects the identification information of the board 4 transported by the board transport unit 35 and held in position on the board lower receiving part 34, and recognizes the positions of the reference marks and mounting points. Further, the component recognition unit 52 identifies the component held by the mounting head 37 and detects a positional shift state of the component.

部品搭載処理部54は、基板搬送部35、搭載ヘッド37、移動機構38を制御することにより、搬入されたはんだ部形成済み基板に部品を搭載する部品搭載処理を実行させる。この部品搭載処理において参照される実装データなどの各種の生産関連データは、第4記憶部53に記憶されている。 The component mounting processing unit 54 controls the board transport unit 35, the mounting head 37, and the moving mechanism 38 to execute a component mounting process of mounting a component on the carried-in board on which solder portions are formed. Various production-related data such as mounting data referred to in this component mounting process are stored in the fourth storage unit 53.

第1取得部55は、情報管理装置3の第1記憶部41に格納されている実装点位置データを取得する。この実装点位置データは、基板計測装置M3による基板4の実測によって得られた基準マークと実装点との位置関係に関する。第5記憶部55aは、第1取得部55によって取得された実装点位置データを記憶する。 The first acquisition unit 55 acquires mounting point position data stored in the first storage unit 41 of the information management device 3. This mounting point position data relates to the positional relationship between the mounting point and the reference mark obtained by actually measuring the board 4 using the board measuring device M3. The fifth storage unit 55a stores the mounting point position data acquired by the first acquisition unit 55.

第2取得部56は、情報管理装置3の作成部43によって作成された搭載目標位置データを取得する。この搭載目標位置データは、実装点位置データと、はんだ部検査装置で計測されたはんだ部の位置を含むはんだ部位置データに基づいて算出されている。これらの実装点位置データとはんだ部位置データは、同一の識別情報で特定される。第6記憶部56aは、第2取得部56によって取得された搭載目標位置データを記憶する。 The second acquisition unit 56 acquires the mounting target position data created by the creation unit 43 of the information management device 3. This mounting target position data is calculated based on mounting point position data and solder part position data including the position of the solder part measured by the solder part inspection device. These mounting point position data and solder part position data are specified by the same identification information. The sixth storage unit 56a stores the mounting target position data acquired by the second acquisition unit 56.

算出部57は、部品搭載装置M6の経時変動に起因する部品の搭載ずれを補正するためのキャリブレーションデータを算出する。このキャリブレーションデータは、複数の部品搭載済基板について搭載済部品検査装置M8で計測された部品の搭載ずれに関する部品搭載ずれデータに基づいて計算されている。部品搭載作業においては、部品搭載装置M6は、部品搭載装置M6の経時変動に起因する部品の搭載ずれを補正するためのキャリブレーションデータを使用して、搭載目標位置に部品を搭載する際の部品保持ノズル37bの停止位置を補正する。算出部57は、部品搭載装置M7についても同様のキャリブレーションデータを算出し、部品搭載装置M7もまた、そのキャリブレーションデータを使用して部品保持ノズル37bの停止位置を補正する。 The calculation unit 57 calculates calibration data for correcting component mounting deviations caused by changes in the component mounting device M6 over time. This calibration data is calculated based on component mounting deviation data regarding component mounting deviations measured by the mounted component inspection device M8 on a plurality of component-mounted boards. During component mounting work, the component mounting device M6 uses calibration data to correct component mounting deviations caused by changes in the component mounting device M6 over time, and adjusts the components when mounting the component at the target mounting position. The stop position of the holding nozzle 37b is corrected. The calculation unit 57 calculates similar calibration data for the component mounting device M7, and the component mounting device M7 also uses the calibration data to correct the stop position of the component holding nozzle 37b.

第3取得部58は、搭載済部品検査装置M8で計測された部品の搭載ずれに関する部品搭載ずれデータを取得する。第3取得部58は、前述の第3の情報処理部47によって振り分けられた部品搭載ずれデータを取得する。第7記憶部58aは、第3取得部58によって取得された部品搭載ずれデータを記憶する。算出部57は、上述のキャリブレーションデータの算出に際し、第7記憶部58aに記憶された部品搭載ずれデータを参照する。 The third acquisition unit 58 acquires component mounting deviation data regarding component mounting deviation measured by the mounted component inspection device M8. The third acquisition unit 58 acquires component mounting deviation data distributed by the third information processing unit 47 described above. The seventh storage unit 58a stores component mounting deviation data acquired by the third acquisition unit 58. The calculation unit 57 refers to the component mounting deviation data stored in the seventh storage unit 58a when calculating the above-mentioned calibration data.

データ出力部59は、部品搭載装置M6、M7で収集されたログ情報等を含む稼働情報を、情報管理装置3や通信ネットワーク2を介して接続された監視システム(図示せず)にアップロードする。ログ情報は、部品を供給する際に使用された部品供給ユニット(テープフィーダ33)や部品保持ノズル37bを識別するための情報の他、エラー情報等を含む。 The data output unit 59 uploads operation information including log information and the like collected by the component mounting devices M6 and M7 to the information management device 3 and a monitoring system (not shown) connected via the communication network 2. The log information includes information for identifying the component supply unit (tape feeder 33) and component holding nozzle 37b used when supplying components, as well as error information and the like.

上記構成において、搭載ヘッド37、第2カメラ39、移動機構38、第1カメラ36、基板認識部51、部品認識部52、第4記憶部53、部品搭載処理部54は、部品を搭載する作業を実行する搭載作業部40を構成する。すなわち搭載作業部40は、搭載ヘッド37による作業位置に位置する基板4の基準マークの位置を検出する。そして、検出した基準マークの位置と、基板4の識別情報に関連付けられた搭載目標位置データとから、作業位置における部品の搭載目標位置を認識する。さらに、この搭載目標位置を目標に部品保持ノズル37bで部品を搭載する。 In the above configuration, the mounting head 37, the second camera 39, the moving mechanism 38, the first camera 36, the board recognition section 51, the component recognition section 52, the fourth storage section 53, and the component mounting processing section 54 perform the work of mounting components. A loading work unit 40 is configured to execute the following. That is, the mounting work unit 40 detects the position of the reference mark on the substrate 4 located at the work position of the mounting head 37. Then, the target mounting position of the component at the work position is recognized from the position of the detected reference mark and the target mounting position data associated with the identification information of the board 4. Further, the component is mounted using the component holding nozzle 37b, aiming at this mounting target position.

次に、図7を参照して、実装基板製造システム1を構成する搭載済部品検査装置M8の制御系の構成について説明する。情報管理装置3は通信ネットワーク2を介して搭載済部品検査装置M8の処理部20と接続されている。処理部20は、内部処理機能として、基板認識部20a、検査部20b、データ取得部20e、データ出力部20fを有している。さらに処理部20は、内部メモリとしての検査関連データ記憶部20c、検査結果記憶部20dを有している。以下、検査関連データ記憶部20c、検査結果記憶部20dを第8記憶部20c、第9記憶部20dと称する。 Next, with reference to FIG. 7, the configuration of the control system of the mounted component inspection apparatus M8 that constitutes the mounted board manufacturing system 1 will be described. The information management device 3 is connected to the processing section 20 of the mounted parts inspection device M8 via the communication network 2. The processing section 20 has a board recognition section 20a, an inspection section 20b, a data acquisition section 20e, and a data output section 20f as internal processing functions. Furthermore, the processing section 20 includes an examination-related data storage section 20c and an examination result storage section 20d as internal memories. Hereinafter, the test-related data storage section 20c and the test result storage section 20d will be referred to as an eighth storage section 20c and a ninth storage section 20d.

基板搬送部22は部品搭載装置M7から送られてきた部品搭載済基板を搬入するとともにその中央部に保持する。すなわち、基板搬送部22は搭載済部品検査装置M8における作業ステージとして機能する。 The board transport unit 22 carries in the component-mounted board sent from the component mounting device M7 and holds it in the center thereof. That is, the board transport section 22 functions as a work stage in the mounted component inspection apparatus M8.

基板認識部20aは、カメラ26によって取得された画像を認識処理する。すなわち、基板認識部20aは、基板搬送部22によって搬送されてきた基板4の識別情報を検出し、基板4の基準マークを認識する。 The board recognition unit 20a performs recognition processing on the image acquired by the camera 26. That is, the board recognition unit 20a detects the identification information of the board 4 transported by the board transport unit 22, and recognizes the reference mark on the board 4.

検査部20bは、カメラ26によって取得された画像を解析することで基板4に搭載された部品の位置や状態等を検査する。具体的には、部品の搭載目標位置からの位置ずれ(部品搭載ずれ)、部品の有無などを検査する。検査部20bは、第8記憶部20cに記憶されている検査関連データを使用して、基板4に搭載された部品を検査する。第9記憶部20dは検査部20bによる検査結果を記憶する。検査結果は、基板識別情報毎に作成されたレコードに記録され、基板単位で検査結果を参照可能になっている。 The inspection unit 20b inspects the position, condition, etc. of the components mounted on the board 4 by analyzing the image acquired by the camera 26. Specifically, the positional deviation of the component from the target mounting position (component mounting deviation), the presence or absence of the component, etc. are inspected. The inspection unit 20b inspects the components mounted on the board 4 using the inspection related data stored in the eighth storage unit 20c. The ninth storage section 20d stores the inspection results by the inspection section 20b. The inspection results are recorded in records created for each board identification information, and the inspection results can be referenced on a board-by-board basis.

データ取得部20eは、通信ネットワーク2を通じて検査に必要なデータを取得する。検査に必要なデータとしては、情報管理装置3の第3記憶部44に記憶されている搭載目標位置データが含まれる。データ取得部20eによって取得されたデータは第8記憶部20cに記憶される。すなわち、データ取得部20eは、作成部43で作成され、作業ステージ(基板搬送部22)に保持された搭載目標位置データを取得するデータ取得部として機能する。搭載目標位置データは、基板4の識別マークに関連付けられている。 The data acquisition unit 20e acquires data necessary for testing through the communication network 2. The data necessary for the inspection includes the loading target position data stored in the third storage unit 44 of the information management device 3. The data acquired by the data acquisition section 20e is stored in the eighth storage section 20c. That is, the data acquisition section 20e functions as a data acquisition section that acquires the mounting target position data created by the creation section 43 and held on the work stage (substrate transport section 22). The mounting target position data is associated with the identification mark on the board 4.

検査部20bは、データ取得部20eが取得した搭載目標位置データに基づいて設定された搭載目標位置に対する部品の搭載ずれを求める。具体的には、実装点に搭載された部品の位置と搭載目標位置との位置ずれを部品搭載ずれとして求める。 The inspection unit 20b determines the mounting deviation of the component relative to the set target mounting position based on the target mounting position data acquired by the data acquisition unit 20e. Specifically, the positional deviation between the position of the component mounted at the mounting point and the target mounting position is determined as the component mounting deviation.

なお、前述のように、基板計測装置M3、はんだ部検査装置M5、実装基板検査装置M10は搭載済部品検査装置M8と同様の構成を有する。ただし、制御系、特に検査部20b、第8記憶部20c、第9記憶部20dについては、それぞれの装置の目的に応じて対象とする部位やデータが異なっている。 Note that, as described above, the board measuring device M3, the solder portion inspection device M5, and the mounted board inspection device M10 have the same configuration as the mounted component inspection device M8. However, regarding the control system, particularly the inspection section 20b, the eighth storage section 20c, and the ninth storage section 20d, target parts and data differ depending on the purpose of each device.

次に、図8A~図14Bを参照して、基板計測装置M3から実装基板検査装置M10までの各装置における処理のフローおよびこれらの処理において実行される作業内容を説明する。ここでは、基板供給装置M1から供給されて基板識別情報付与装置M2によって識別情報である識別コードが付与された後の基板4を対象として、以下の処理が順次行われる。これらの処理は、部品保持ノズル37bが部品を保持して、はんだ部が形成された基板4の実装点に搭載する部品搭載装置における部品搭載方法、この部品搭載装置を使用した実装基板製造方法を示している。 Next, with reference to FIGS. 8A to 14B, the flow of processing in each device from the board measuring device M3 to the mounted board inspecting device M10 and the contents of the work performed in these processing will be described. Here, the following processes are sequentially performed on the substrate 4 that has been supplied from the substrate supply device M1 and has been given an identification code as identification information by the board identification information giving device M2. These processes include a component mounting method in a component mounting device in which the component holding nozzle 37b holds the component and mounts it on a mounting point of the board 4 on which a solder portion is formed, and a mounting board manufacturing method using this component mounting device. It shows.

まず図8A、図8Bを参照して、基板計測装置M3における処理について説明する。図8Aに示すように、基板4が図4に示す基板搬送部22によって搬入され、検査ヘッド24の直下に位置決めされる(ST1)。次いで基準マーク計測(ST2)が行われる。基準マーク計測では、基板4における基準マークをカメラ26が撮像し、取得された画像を処理部20(基板認識部20a)が認識処理することにより基準マークの位置を検出する。なお、ここでは基準マークの図示を省略している。 First, with reference to FIGS. 8A and 8B, processing in the substrate measuring device M3 will be described. As shown in FIG. 8A, the substrate 4 is carried in by the substrate transport section 22 shown in FIG. 4 and positioned directly below the inspection head 24 (ST1). Next, reference mark measurement (ST2) is performed. In the reference mark measurement, the camera 26 images the reference mark on the board 4, and the processing unit 20 (board recognition unit 20a) performs recognition processing on the acquired image to detect the position of the reference mark. Note that illustration of the reference mark is omitted here.

次いで図8Bに示すランドLが計測される(ST3)。基板4には部品のはんだ接合のためにランドLが形成されている。ランドLの位置は製造過程における誤差などの要因により、以下に説明する設計データ上のランド(L)の位置とは一致せず、位置ずれしている場合が多い。このため本実施の形態では、ST3によって求められた位置ずれに基づいて、処理部20が実装点Jの位置を定める。 Next, the land L shown in FIG. 8B is measured (ST3). Lands L are formed on the board 4 for soldering parts. Due to factors such as errors in the manufacturing process, the position of the land L does not match the position of the land (L) on the design data described below, and is often misaligned. Therefore, in this embodiment, the processing unit 20 determines the position of the mounting point J based on the positional deviation determined in ST3.

そのため、基板4に形成されたランドの位置および寸法が計測される。すなわち、処理部20は、カメラ26が撮影した画像からランドの位置および寸法を算出する。なお基板4において、破線で示す(L)、(J)は、設計データ上のランド(L)、実装点(J)をそれぞれ示している。また実線で示すL、Jは、実際の基板4におけるランドL、実装点Jをそれぞれ示している。実装点Jの位置はその実装点Jに実装される部品をはんだ接合する複数のランドLの位置によって定められる。ここでは、実装される部品が両端に接続端子を有する矩形型のチップ部品であり、このチップ部品をはんだ接合する複数のランドのパターンとして1対のランドLが設けられた例を示している。この例では処理部20は、1対のランドLを結ぶ直線の中点を実装点Jに定めている。 Therefore, the positions and dimensions of the lands formed on the substrate 4 are measured. That is, the processing unit 20 calculates the position and dimensions of the land from the image taken by the camera 26. Note that in the board 4, broken lines (L) and (J) indicate lands (L) and mounting points (J) on the design data, respectively. Further, L and J indicated by solid lines indicate the land L and the mounting point J on the actual board 4, respectively. The position of the mounting point J is determined by the positions of a plurality of lands L to which components mounted at the mounting point J are soldered. Here, an example is shown in which the component to be mounted is a rectangular chip component having connection terminals at both ends, and a pair of lands L are provided as a pattern of a plurality of lands to which the chip component is soldered. In this example, the processing unit 20 determines the midpoint of the straight line connecting the pair of lands L as the mounting point J.

なお、本実施の形態においては、部品の端子がはんだ接合される実際のランドと、基板4の表面を覆って保護するレジスト膜4aにランド本体部Laに対応して形成された開口部との組み合わせを、はんだ接合用のランドと定義している。実際のランドは、図15A~図16Bに示すランド本体部Laに相当し、開口部は、開口部4bに相当する。そして本実施の形態では、部品のはんだ接合のために形成されるランドとして、はんだ接合時に基板4の表面を覆って保護するレジスト膜4aの形態が異なる2種類のパターンのいずれをも採用可能となっている。この2種類のパターンとは、図15A、図15Bに示す第1パターンのランドLAと、図16A、図16Bに示す第2パターンのランドLBである。 In this embodiment, the actual land to which the terminal of the component is soldered is connected to the opening formed in the resist film 4a that covers and protects the surface of the substrate 4 in correspondence with the land main body La. The combination is defined as a land for soldering. The actual land corresponds to the land main body La shown in FIGS. 15A to 16B, and the opening corresponds to the opening 4b. In this embodiment, as a land formed for soldering parts, it is possible to adopt either of two types of patterns with different forms of the resist film 4a that covers and protects the surface of the substrate 4 during soldering. It has become. These two types of patterns are the lands LA of the first pattern shown in FIGS. 15A and 15B, and the lands LB of the second pattern shown in FIGS. 16A and 16B.

まず、図15A、図15Bを参照して、基板4の上面に形成される第1パターンのランドLAについて説明する。図15A、図15Bは、それぞれ基板4の断面図、平面図で、図15Aは、図15Bに示す15A-15A線における断面を示している。図15Bに示すように、基板4の上面には基板4に実装されるチップ部品の接続端子に対応した位置に、銅などの金属膜で形成された1対のランド本体部Laが矩形に形成されている。ランド本体部Laの周囲には基板4の上面を覆うレジスト膜4aが形成されている。レジスト膜4aにおいて、ランド本体部Laに対応する位置には矩形の開口部4bが形成されている。なお、図15Bは、開口部4bの周縁近傍を除いてレジスト膜4aを省略して示している。 First, the first pattern of lands LA formed on the upper surface of the substrate 4 will be described with reference to FIGS. 15A and 15B. 15A and 15B are a cross-sectional view and a plan view of the substrate 4, respectively, and FIG. 15A shows a cross-section taken along line 15A-15A shown in FIG. 15B. As shown in FIG. 15B, a pair of rectangular land bodies La made of a metal film such as copper are formed on the upper surface of the board 4 at positions corresponding to connection terminals of chip components mounted on the board 4. has been done. A resist film 4a covering the upper surface of the substrate 4 is formed around the land body portion La. In the resist film 4a, a rectangular opening 4b is formed at a position corresponding to the land main body La. Note that, in FIG. 15B, the resist film 4a is omitted except for the vicinity of the periphery of the opening 4b.

開口部4bの内周縁に位置する、レジスト膜4aの開口縁部4cは、ランド本体部Laの外周縁であるランド縁部Lbを、ランド本体部Laの上面および側面から覆っている。この構成では、ランド本体部Laおよび開口部4bは、レジスト膜4aがランド本体部Laのランド縁部Lbを覆う第1パターンのランドLAを形成する。そして、ST3においては、開口縁部4cを検出することによりそれぞれの第1パターンのランドLAが検出され、1対のランドLAの中点が実装点Jとして特定される。 The opening edge 4c of the resist film 4a located at the inner peripheral edge of the opening 4b covers the land edge Lb, which is the outer peripheral edge of the land main body La, from the top and side surfaces of the land main body La. In this configuration, the land main body La and the opening 4b form a first pattern of land LA in which the resist film 4a covers the land edge Lb of the land main body La. Then, in ST3, the lands LA of each first pattern are detected by detecting the opening edges 4c, and the midpoint of the pair of lands LA is specified as the mounting point J.

次に図16A、図16Bを参照して、第2パターンのランドLBについて説明する。図16A、図16Bは、それぞれ基板4の断面図、平面図で、図16Aは、図16Bに示す16A-16A線における断面を示している。図16Bに示すように、基板4の上面には、図15Bと同様に、1対のランド本体部Laが矩形に形成され、ランド本体部Laの周囲には基板4の上面を覆うレジスト膜4aが形成されている。レジスト膜4aにおいて、ランド本体部Laに対応する位置には矩形の開口部4bが形成されている。なお、図16Bは、開口部4bの周縁近傍を除いてレジスト膜4aの図示を省略して示している。 Next, the lands LB of the second pattern will be described with reference to FIGS. 16A and 16B. 16A and 16B are a cross-sectional view and a plan view of the substrate 4, respectively, and FIG. 16A shows a cross-section taken along line 16A-16A shown in FIG. 16B. As shown in FIG. 16B, a pair of rectangular land bodies La are formed on the upper surface of the substrate 4, similar to FIG. 15B, and a resist film 4a covering the upper surface of the substrate 4 is formed around the land body La. is formed. In the resist film 4a, a rectangular opening 4b is formed at a position corresponding to the land main body La. Note that, in FIG. 16B, illustration of the resist film 4a is omitted except for the vicinity of the periphery of the opening 4b.

開口部4bは、内周縁がランド本体部Laの外周縁から所定の縁部隙間4c’だけ隔てた位置となるように形状およびサイズが設定されている。これにより、ランド本体部Laの全体が開口部4b内において露呈されている。この構成において、ランド本体部Laおよび開口部4bは、ランド本体部Laの全体が開口部4b内において露呈された第2パターンのランドLBを形成する。そして、ST3においては、ランド本体部Laを検出することによりそれぞれのランドLBが検出され、1対のランドLBの中点が実装点Jとして特定される。なお図15A~図16Bに示す例では、ランド本体部La、開口部4bの形状が矩形である例を示したが、ランド本体部La、開口部4bは矩形以外の形状であってもよく、さらに複数のランド本体部La、開口部4bによってランドLA、ランドLBを形成してもよい。 The shape and size of the opening 4b are set such that the inner peripheral edge is spaced apart from the outer peripheral edge of the land body part La by a predetermined edge gap 4c'. Thereby, the entire land body portion La is exposed within the opening 4b. In this configuration, the land main body La and the opening 4b form a second pattern of lands LB in which the entire land main body La is exposed within the opening 4b. Then, in ST3, each land LB is detected by detecting the land body portion La, and the midpoint of the pair of lands LB is specified as the mounting point J. Note that in the examples shown in FIGS. 15A to 16B, the land main body La and the opening 4b have rectangular shapes, but the land main body La and the opening 4b may have a shape other than rectangular. Furthermore, the land LA and the land LB may be formed by a plurality of land body parts La and openings 4b.

次いで計測されたランド位置に基づいて、処理部20が実装点の位置を計算する(ST4)。前述のように、本実施の形態では、部品が実際にはんだ接合されるランドの位置もしくはランドに対応するレジスト開口部の位置に基づいて、実装点の位置が特定される。一対の端子を有するチップ部品が実装される実装点の場合は、計測によって求められた1対のランドLのランド位置L1,L2を結ぶ直線の中点を計算する。なおこの例では、ランド位置L1,L2はそれぞれ、平面視においてランドLの重心に相当する。そして、計算された中点が実装点Jとして特定される。そして処理部20は、特定された実装点Jの位置を基板4の識別情報と関連付けて、実装点位置データとして通信ネットワーク2を介してアップロードする(ST5)。 Next, the processing unit 20 calculates the position of the mounting point based on the measured land position (ST4). As described above, in this embodiment, the position of the mounting point is specified based on the position of the land where the component is actually soldered or the position of the resist opening corresponding to the land. In the case of a mounting point where a chip component having a pair of terminals is mounted, the midpoint of a straight line connecting land positions L1 and L2 of a pair of lands L determined by measurement is calculated. In this example, the land positions L1 and L2 each correspond to the center of gravity of the land L in plan view. Then, the calculated midpoint is specified as the mounting point J. Then, the processing unit 20 associates the position of the identified mounting point J with the identification information of the board 4 and uploads it as mounting point position data via the communication network 2 (ST5).

アップロードされた実装点位置データは、情報管理装置3の第1記憶部41に記憶される。すなわち第1記憶部41は、基板4を実測して得られた基準マークと実装点との位置関係に関する実装点位置データを、基板4を個別に識別する識別情報と関連付けて記憶する(実装点位置データ記憶工程)。この後、基板4は下流に搬出されて(ST6)、基板計測装置M3による処理を終了する。なお、本実施の形態では、基板計測装置M3によって実装点Jの位置を計算(ST4)しているが、基板計測装置M3以外の他装置(例えば情報管理装置3)で実装点Jの位置を計算してもよい。 The uploaded mounting point position data is stored in the first storage unit 41 of the information management device 3. That is, the first storage unit 41 stores mounting point position data regarding the positional relationship between the reference mark and the mounting point obtained by actually measuring the board 4 in association with identification information that individually identifies the board 4 (mounting point position data storage process). After this, the substrate 4 is carried out downstream (ST6), and the processing by the substrate measuring device M3 is completed. In this embodiment, the position of the mounting point J is calculated by the board measuring device M3 (ST4), but the position of the mounting point J is calculated by another device other than the board measuring device M3 (for example, the information management device 3). You can calculate it.

次に図9A、図9Bを参照して、スクリーン印刷装置M4における処理について説明する。図9Aに示すように、基板4は、図2に示す搬入コンベア15aによってスクリーン印刷装置M4内部に搬入され、印刷ステージコンベア15bに受け渡される。そして制御部10は、スクリーン印刷部16による印刷作業位置に基板4を位置決めする(ST11)。次いで、制御部10は、情報管理装置3から実装点位置データを取得する(ST12)。次に、制御部10は、基板認識を実行して印刷作業位置における実装点Jまたは基板4の位置を認識する(ST13)。基板認識は、基板の基準マークを基板カメラ19bで撮像して印刷作業位置における基準マークの位置を検出する。そして制御部10は、検出された基準マークの位置と、取得した実装点位置データとによって、図9Bに示す印刷作業位置における実装点Jの位置を計算する。または、検出された基準マークの位置に基づいて印刷作業位置における基板4の位置を計算する。 Next, processing in the screen printing device M4 will be described with reference to FIGS. 9A and 9B. As shown in FIG. 9A, the substrate 4 is carried into the screen printing apparatus M4 by the carrying-in conveyor 15a shown in FIG. 2, and is delivered to the printing stage conveyor 15b. Then, the control unit 10 positions the substrate 4 at a printing work position by the screen printing unit 16 (ST11). Next, the control unit 10 acquires mounting point position data from the information management device 3 (ST12). Next, the control unit 10 executes board recognition to recognize the position of the mounting point J or the board 4 at the printing work position (ST13). In board recognition, the position of the reference mark at the printing work position is detected by capturing an image of the reference mark on the board using the board camera 19b. Then, the control unit 10 calculates the position of the mounting point J at the printing work position shown in FIG. 9B based on the detected position of the reference mark and the acquired mounting point position data. Alternatively, the position of the substrate 4 at the printing work position is calculated based on the position of the detected reference mark.

次いで制御部10は、マスクカメラ19a、基板カメラ19bによってそれぞれスクリーンマスク18、基板4を撮像して位置認識し、位置認識結果に基づいて基板4をスクリーンマスク18に対して位置合わせする(ST14)。これにより、基板4がスクリーンマスク18の下面に接触した状態で位置合わせされる。また、スクリーンマスク18と基板4との位置合わせにおいては、基板認識で特定した実装点Jの位置または基板4の位置に基づいて制御部10がテーブル11aを制御する。これにより基板4のランドLとスクリーンマスク18のパターン孔とを精度よく一致させることができる。 Next, the control unit 10 images the screen mask 18 and the board 4 using the mask camera 19a and the board camera 19b to recognize the positions thereof, and aligns the board 4 with respect to the screen mask 18 based on the position recognition results (ST14). . Thereby, the substrate 4 is aligned with the lower surface of the screen mask 18 in contact with it. Further, in aligning the screen mask 18 and the board 4, the control unit 10 controls the table 11a based on the position of the mounting point J or the position of the board 4 specified by board recognition. Thereby, the lands L of the substrate 4 and the pattern holes of the screen mask 18 can be aligned with high accuracy.

次いで、印刷が実行される(ST15)。すなわち図3に示すように、制御部10は、基板4をスクリーンマスク18の下面に当接させた状態で、はんだペーストが供給されたスクリーンマスク18の上面でスキージ17をスキージングさせる。これにより、スクリーンマスク18に形成されたパターン孔を介して基板4にははんだが印刷され、はんだ部Sが形成される(はんだ部形成工程)。このとき、印刷により形成されるはんだ部Sの位置は基板4の上面のランドLに正しく一致しているとは限らず、図9Bに示すように、ランドLから位置ずれ(はんだ位置ずれ)している場合がある。このはんだ位置ずれは、次工程のはんだ部検査装置M5によるはんだ検査にて計測される。 Next, printing is executed (ST15). That is, as shown in FIG. 3, the control unit 10 causes the squeegee 17 to squeegee the upper surface of the screen mask 18 to which the solder paste has been supplied, with the substrate 4 in contact with the lower surface of the screen mask 18. As a result, solder is printed on the substrate 4 through the pattern holes formed in the screen mask 18, and the solder portions S are formed (solder portion forming step). At this time, the position of the solder part S formed by printing does not necessarily correspond to the land L on the top surface of the substrate 4, and as shown in FIG. 9B, the position of the solder part S may be shifted from the land L (solder position shift). There may be cases where This solder position shift is measured in the solder inspection performed by the solder portion inspection device M5 in the next step.

このようにしてスクリーン印刷が完了した後には版離れが実行され、スクリーンマスク18と基板4とが分離される(ST16)。すなわち、印刷ステージ13に保持された基板4を印刷ステージ13とともに下降させることにより、基板4に印刷されたはんだ部をスクリーンマスク18のパターン孔から抜き出す。以上で、基板計測装置M3における処理が完了し、基板4は下流へ搬出される(ST17)。 After screen printing is completed in this manner, plate separation is performed to separate the screen mask 18 and the substrate 4 (ST16). That is, by lowering the substrate 4 held on the printing stage 13 together with the printing stage 13, the solder portions printed on the substrate 4 are extracted from the pattern holes of the screen mask 18. With this, the processing in the substrate measuring device M3 is completed, and the substrate 4 is carried out downstream (ST17).

次に図10A、図10Bを参照して、はんだ部検査装置M5における処理について説明する。図10Aに示すように、基板4は、図4に示す基板搬送部22によりはんだ部検査装置M5内部へ搬入され、検査・計測作業位置に位置決めされる(ST21)。次いで、処理部20は、情報管理装置3からランド計測データと実装点位置データを取得する(ST22)。 Next, with reference to FIGS. 10A and 10B, processing in the solder portion inspection device M5 will be described. As shown in FIG. 10A, the board 4 is carried into the solder part inspection apparatus M5 by the board transport section 22 shown in FIG. 4, and is positioned at an inspection/measurement work position (ST21). Next, the processing unit 20 acquires land measurement data and mounting point position data from the information management device 3 (ST22).

次いで、処理部20は、基板認識を実行して検査・計測作業位置におけるランド位置や実装点を認識する(ST23)。基板認識では、基板4の基準マークをカメラ26が撮像し、取得された画像を処理部20が処理し、検査・計測作業位置における基準マークの位置を検出する。そして検出された基準マークの位置と取得したランド計測データと実装点位置データとによって、処理部20は、図10Bに示す検査・計測作業位置における実際のランドLおよび実装点Jを計算する。なお、はんだ部検査装置M5において実装点位置データの取得は必須ではなく省略してもよい。 Next, the processing unit 20 executes board recognition to recognize the land position and mounting point at the inspection/measurement work position (ST23). In board recognition, the camera 26 images the reference mark on the board 4, the processing unit 20 processes the acquired image, and detects the position of the reference mark at the inspection/measurement work position. Based on the detected position of the reference mark, the acquired land measurement data, and the mounting point position data, the processing unit 20 calculates the actual land L and mounting point J at the inspection/measurement work position shown in FIG. 10B. Note that the acquisition of mounting point position data in the solder part inspection device M5 is not essential and may be omitted.

次いで、はんだ部形成済みの基板4をカメラ26が撮像し、取得された画像を処理部20が処理し、基板4に形成されたはんだ部Sの位置や面積、3次元計測が可能な場合は体積を計測する(ST24)。すなわち、はんだ部形成工程によって基板4に形成されたはんだ部Sの位置S1、S2を計測して、基準マークとはんだ部Sとの位置関係を含むはんだ部位置データを作成する(はんだ部位置データ作成工程)。なおこの例では、はんだ部Sの位置S1,S2はそれぞれ、平面視においてはんだ部Sの重心に相当する。 Next, the camera 26 takes an image of the board 4 on which the solder part has been formed, and the processing unit 20 processes the acquired image to determine the position and area of the solder part S formed on the board 4, if three-dimensional measurement is possible. The volume is measured (ST24). That is, the positions S1 and S2 of the solder part S formed on the substrate 4 in the solder part forming process are measured, and solder part position data including the positional relationship between the reference mark and the solder part S is created (solder part position data creation process). In this example, the positions S1 and S2 of the solder portion S each correspond to the center of gravity of the solder portion S in plan view.

このようにして作成されたはんだ部位置データは、基板4の識別情報と関連付けられて、通信ネットワーク2を介して情報管理装置3にアップロードされ(ST25)、第2記憶部42に基板4の識別情報と関連付けて記憶される(はんだ部位置データ記憶工程)。以上で、はんだ部検査装置M5における処理が完了し、基板4は下流へ搬出される(ST26)。 The solder part position data created in this way is associated with the identification information of the board 4, uploaded to the information management device 3 via the communication network 2 (ST25), and stored in the second storage unit 42 with the identification information of the board 4. It is stored in association with the information (solder part position data storage step). With the above steps, the processing in the solder part inspection device M5 is completed, and the board 4 is carried out downstream (ST26).

次に図11A、図11Bを参照して、情報管理装置3における処理について説明する。図11Aに示すように、まず図6に示す作成部43が、実装点位置データ、はんだ部位置データの読み取る(ST31)。すなわち基板計測装置M3、はんだ部検査装置M5で取得されてそれぞれ第1記憶部41、第2記憶部42に記憶された実装点位置データ、はんだ部位置データが読み取られる。次いで、作成部43は、はんだパターン位置SPの位置を計算する(ST32)。はんだパターン位置SPは、実装点Jに実装される部品をはんだ接合するために形成された複数のはんだ部Sから定められる。実装される部品が両端に接続端子を有する矩形型のチップ部品である場合、1対のランドLに形成された一対のはんだ部Sを結ぶ直線の中点がはんだパターン位置SPと特定される。 Next, processing in the information management device 3 will be described with reference to FIGS. 11A and 11B. As shown in FIG. 11A, first, the creation unit 43 shown in FIG. 6 reads mounting point position data and solder part position data (ST31). That is, the mounting point position data and solder part position data acquired by the board measuring device M3 and the solder part inspection device M5 and stored in the first storage section 41 and the second storage section 42, respectively, are read. Next, the creation unit 43 calculates the position of the solder pattern position SP (ST32). The solder pattern position SP is determined from a plurality of solder portions S formed for soldering the components mounted at the mounting point J. When the component to be mounted is a rectangular chip component having connection terminals at both ends, the midpoint of a straight line connecting a pair of solder portions S formed on a pair of lands L is specified as the solder pattern position SP.

次いで、作成部43は、計算されたはんだパターン位置SPと実装点位置データで特定される実装点Jとの位置ずれを計算する(ST33)。ここでは、実装点Jに対するはんだパターン位置SPの偏差が求められる。すなわち図10Bに示すように、はんだ部Sが本来形成されるべき位置と実際に形成されたはんだ部Sの位置とのずれ量を示すはんだパターンずれ(ΔX、ΔY)が求められる。はんだ部SがランドLに位置ずれなく形成されていれば実装点Jとはんだパターン位置SPは同じ位置となり、はんだパターンずれ(ΔX、ΔY)もゼロとなる。一方、はんだ部SとランドLの位置ずれが大きくなると、はんだパターンずれ(ΔX、ΔY)も大きくなる。 Next, the creation unit 43 calculates the positional deviation between the calculated solder pattern position SP and the mounting point J specified by the mounting point position data (ST33). Here, the deviation of the solder pattern position SP with respect to the mounting point J is determined. That is, as shown in FIG. 10B, the solder pattern deviation (ΔX, ΔY) indicating the amount of deviation between the position where the solder part S should originally be formed and the position of the solder part S that is actually formed is determined. If the solder portion S is formed on the land L without misalignment, the mounting point J and the solder pattern position SP will be at the same position, and the solder pattern misalignment (ΔX, ΔY) will also be zero. On the other hand, as the positional deviation between the solder portion S and the land L increases, the solder pattern deviation (ΔX, ΔY) also increases.

次いで、作成部43は、搭載目標位置を計算する(ST34:搭載目標位置データ作成工程)。図11Bに示すように作成部43は、実装点位置データによって与えられる実装点Jとはんだ部位置データによって与えられるはんだパターン位置SPとの中間に、基板4に部品Pを搭載する場合の目標となる搭載目標位置MPを設定する。すなわち作成部43は、同一の識別情報で特定される実装点位置データおよびはんだ部位置データに基づいて、その識別情報で特定される基板4における搭載目標位置データを作成する。搭載目標位置データは、部品Pの搭載目標位置MPを含む。図11Bにおいて破線で示す部品Pは、搭載目標位置MPに部品Pを搭載した場合の部品Pの外形を示している。作成された搭載目標位置データは、第3記憶部44に記憶される(ST35)。 Next, the creation unit 43 calculates a loading target position (ST34: loading target position data creation step). As shown in FIG. 11B, the creation unit 43 creates a target for mounting the component P on the board 4 between the mounting point J given by the mounting point position data and the solder pattern position SP given by the solder part position data. Set the target loading position MP. That is, the creation unit 43 creates mounting target position data on the board 4 specified by the identification information, based on the mounting point position data and the solder part position data specified by the same identification information. The target mounting position data includes the target mounting position MP of the component P. A part P indicated by a broken line in FIG. 11B shows the outer shape of the part P when the part P is mounted at the target mounting position MP. The created mounting target position data is stored in the third storage section 44 (ST35).

なお、搭載目標位置MPは、リフロー装置M9によるリフロー過程における溶融はんだによる部品の挙動などを考慮して、実装点Jとはんだパターン位置SPの間に適宜設定される。溶融はんだの表面張力の影響を受けやすい微小部品の場合、作成部43は、その影響の度合いや実装点Jとはんだパターン位置SPのずれの大きさに応じて搭載目標位置MPを調整する。図11Bに示す例では、実装点Jとはんだパターン位置SPとの略中間位置に搭載目標位置MPが設定されている。また、溶融はんだの表面張力の影響を受けにくい大型部品や、基板4にリードを挿入して装着される挿入部品のようにその影響を考慮する必要のないものについては、作成部43は、実装点Jを搭載目標位置として設定する。 Note that the mounting target position MP is appropriately set between the mounting point J and the solder pattern position SP, taking into account the behavior of the component due to molten solder during the reflow process by the reflow device M9. In the case of microcomponents that are easily affected by the surface tension of molten solder, the creation unit 43 adjusts the mounting target position MP depending on the degree of the effect and the magnitude of the deviation between the mounting point J and the solder pattern position SP. In the example shown in FIG. 11B, the mounting target position MP is set at a substantially intermediate position between the mounting point J and the solder pattern position SP. In addition, for large components that are not easily affected by the surface tension of molten solder or insert components that are mounted by inserting leads into the board 4, the creation unit 43 Point J is set as the loading target position.

次に図12A、図12Bを参照して、部品搭載装置M6における処理について説明する。なお、部品搭載装置M7の処理も、搭載する部品と搭載する位置等が異なる以外は部品搭載装置M6と同じなのでここでは部品搭載装置M6の処理についてのみ説明する。図12Aに示すように、まず基板4が搬入され、部品搭載の作業位置に位置される。すなわち図5に示す制御部30は、基板搬送部35を制御して、基板4を上流の設備であるはんだ部検査装置M5から受け取らせ、基板4を搭載ヘッド37の部品保持ノズル37bによる部品搭載の作業位置に位置させる(ST41:基板受け入れ工程)。 Next, with reference to FIGS. 12A and 12B, processing in the component mounting device M6 will be described. Note that the processing of the component mounting device M7 is also the same as that of the component mounting device M6 except that the components to be mounted and the mounting positions are different, so only the processing of the component mounting device M6 will be described here. As shown in FIG. 12A, the board 4 is first carried in and positioned at a work position for mounting components. That is, the control unit 30 shown in FIG. 5 controls the board transport unit 35 to receive the board 4 from the solder part inspection device M5, which is upstream equipment, and causes the board 4 to be mounted by the component holding nozzle 37b of the mounting head 37. (ST41: substrate receiving step).

次に、実装点位置データが取得される(ST42:実装点位置データ取得工程)。すなわち制御部30は、実装点位置データを、図6に示す第1取得部55の機能により取得する。前述のように、実装点位置データは、基板4の基準マークと実装点との位置関係に関しており、基板計測装置M3での実測によって予め得られている。なお、実装点位置データの取得のタイミングは特に限定されず、基板4が作業位置に到達する以前であればどのタイミングでもよい。さらに、部品搭載装置M6において実装点位置データの取得は必須ではなく省略してもよい。 Next, mounting point position data is acquired (ST42: mounting point position data acquisition step). That is, the control unit 30 acquires the mounting point position data using the function of the first acquisition unit 55 shown in FIG. As described above, the mounting point position data relates to the positional relationship between the reference mark on the board 4 and the mounting point, and is obtained in advance by actual measurement with the board measuring device M3. Note that the timing of acquiring the mounting point position data is not particularly limited, and may be any timing before the board 4 reaches the work position. Furthermore, acquisition of mounting point position data in the component mounting apparatus M6 is not essential and may be omitted.

次に搭載目標位置データが取得される(ST43:搭載目標位置取得工程)。すなわち制御部30は、情報管理装置3によって作成された搭載目標位置データを、図6に示す第2取得部56の機能により取得する。具体的には、第2取得部56は、基板受け入れ工程で搬入された基板4の識別情報を情報管理装置3の第1の情報処理部45へ送信して、同じ基板4の搭載目標位置データを第1の情報処理部45に要求する。そして、第1の情報処理部45から所望の搭載目標位置データを受信すると第2取得部56は、そのデータを第6記憶部56aに記憶する。 Next, the mounting target position data is acquired (ST43: mounting target position acquisition step). That is, the control unit 30 acquires the loading target position data created by the information management device 3 using the function of the second acquisition unit 56 shown in FIG. Specifically, the second acquisition unit 56 transmits the identification information of the board 4 carried in in the board receiving process to the first information processing unit 45 of the information management device 3, and obtains the mounting target position data of the same board 4. is requested from the first information processing unit 45. Then, upon receiving the desired mounting target position data from the first information processing section 45, the second acquisition section 56 stores the data in the sixth storage section 56a.

次に部品搭載ずれデータが更新され、キャリブレーションデータが算出される(ST44:キャリブレーションデータ算出工程)。すなわち、制御部30は、搭載済部品検査装置M8で計測された最新の部品搭載ずれデータを、図6に示す第3取得部58の機能により取得して、第7記憶部58aに記憶されたデータを更新する。また制御部30は、算出部57の機能により、更新した部品搭載ずれデータからキャリブレーションデータを算出する。キャリブレーションデータは実装点毎に算出される。キャリブレーションデータの算出は、同一の実装点において複数の枚数分の基板から集めた部品搭載ずれを統計的に処理して求められる。 Next, the component mounting deviation data is updated and calibration data is calculated (ST44: calibration data calculation step). That is, the control unit 30 acquires the latest component mounting deviation data measured by the mounted component inspection device M8 using the function of the third acquisition unit 58 shown in FIG. 6, and stores it in the seventh storage unit 58a. Update data. Further, the control unit 30 uses the function of the calculation unit 57 to calculate calibration data from the updated component mounting deviation data. Calibration data is calculated for each mounting point. Calibration data is calculated by statistically processing component mounting deviations collected from a plurality of boards at the same mounting point.

次に制御部30は、基板認識を実行して、図12Bに示す搭載作業位置における部品Pの搭載目標位置MPを認識する(ST45:基板認識工程)。基板認識工程では、認識によって検出された基準マークの位置と、基準マークと搭載目標位置MPとの位置関係とに基づいて、搭載作業位置における搭載目標位置MPを認識する。基準マークと搭載目標位置MPとの位置関係は、搭載目標位置データによって与えられる。 Next, the control unit 30 executes board recognition and recognizes the target mounting position MP of the component P at the mounting work position shown in FIG. 12B (ST45: board recognition step). In the board recognition step, the target mounting position MP at the mounting work position is recognized based on the position of the reference mark detected by recognition and the positional relationship between the reference mark and the target mounting position MP. The positional relationship between the reference mark and the mounting target position MP is given by the mounting target position data.

この後、部品Pが搭載される(ST46:部品搭載工程)。部品搭載工程において制御部30は、キャリブレーションデータを使用して、搭載目標位置MPに部品Pを搭載する際の部品保持ノズル37bの停止位置を補正する。部品搭載装置M6による部品Pの搭載が全て完了したら、データ出力部59が稼働情報をアップロードする(ST47:データ出力工程)。その後、基板搬送部35が基板4を搬出し(ST48)、部品搭載装置M6による処理を終了する。 After this, the component P is mounted (ST46: component mounting step). In the component mounting process, the control unit 30 uses the calibration data to correct the stop position of the component holding nozzle 37b when mounting the component P at the target mounting position MP. When the component mounting device M6 completes the mounting of all the components P, the data output unit 59 uploads the operation information (ST47: data output step). Thereafter, the board transport unit 35 carries out the board 4 (ST48), and the processing by the component mounting device M6 ends.

次に図13A、図13Bを参照して、搭載済部品検査装置M8における処理について説明する。図13Aに示すように、部品搭載済の基板4が図4に示す基板搬送部22によって搬入され、検査・計測作業位置に位置決めされる(ST51:部品搭載済基板受け入れ工程)。次いで、図7に示すデータ取得部20eが、情報管理装置3から実装点位置データを取得し(ST52)、第3記憶部44から搭載目標位置データを取得する(ST53:計測基準取得工程)。データ取得部20eは基板搬送部22に搬入された部品搭載済の基板4の識別情報を情報管理装置3の第1の情報処理部45へ送信して、同じ基板4の搭載目標位置データを第1の情報処理部45に要求する。そして、第1の情報処理部45から所望の搭載目標位置データを受信すると、データ取得部20eは第8記憶部20cにそのデータを記憶させる。すなわち、検査・計測作業位置に位置決めされた基板4に付与されている識別情報で特定される搭載目標位置データが取得される。 Next, with reference to FIGS. 13A and 13B, processing in the mounted component inspection apparatus M8 will be described. As shown in FIG. 13A, the board 4 with components mounted thereon is carried in by the board transport section 22 shown in FIG. 4, and positioned at an inspection/measurement work position (ST51: component-mounted board receiving step). Next, the data acquisition unit 20e shown in FIG. 7 acquires mounting point position data from the information management device 3 (ST52), and acquires mounting target position data from the third storage unit 44 (ST53: measurement standard acquisition step). The data acquisition unit 20e transmits the identification information of the board 4 loaded with components carried into the board transport unit 22 to the first information processing unit 45 of the information management device 3, and transmits the mounting target position data of the same board 4 to the first information processing unit 45. A request is made to the information processing unit 45 of No. 1. Then, upon receiving the desired mounting target position data from the first information processing section 45, the data acquisition section 20e stores the data in the eighth storage section 20c. That is, the mounting target position data specified by the identification information given to the board 4 positioned at the inspection/measurement work position is acquired.

次に図7に示す基板認識部20aは、基板認識を実行して検査・計測作業位置における実装点Jと搭載目標位置MPを認識する(ST54:基板認識工程)。基板認識工程では、カメラ26で撮像した基板4の基準マークから、基板認識部20aは、検査・計測作業位置における基準マークの位置を検出する。そして基板認識部20aは、検出された基準マークの位置と、取得された実装点位置データとから、検査・計測作業位置における実装点Jの位置を計算する。また基板認識部20aは、検出された基準マークの位置と、取得された搭載目標位置データとから、検査・計測作業位置における搭載目標位置MPを計算する。なお、搭載目標位置MPの計算には、検査・計測作業位置に位置決めされた基板4の識別情報で特定される搭載目標位置データが使用される。 Next, the board recognition unit 20a shown in FIG. 7 executes board recognition and recognizes the mounting point J and the mounting target position MP at the inspection/measurement work position (ST54: board recognition step). In the board recognition step, the board recognition unit 20a detects the position of the reference mark at the inspection/measurement work position from the reference mark of the board 4 captured by the camera 26. Then, the board recognition unit 20a calculates the position of the mounting point J at the inspection/measurement work position from the detected position of the reference mark and the acquired mounting point position data. The board recognition unit 20a also calculates the target mounting position MP at the inspection/measurement work position from the detected position of the reference mark and the acquired target mounting position data. Note that the target mounting position data specified by the identification information of the board 4 positioned at the inspection/measurement work position is used to calculate the target mounting position MP.

次いで、搭載済部品位置が計測される(ST55:部品搭載位置計測工程)。ここでは図13Bに示すように、まず部品搭載装置M6(またはM7)によって搭載された搭載済の部品P’をカメラ26が撮像する。そして、図7に示す検査部20bは、画像認識等によって、撮像された画像から部品P’を検出するとともに部品P’の搭載位置を検出する。部品P’が角チップの場合、部品中心PCが部品搭載位置として検出される。次いで、検査部20bは計測結果に基づき、部品搭載位置のずれを計算する(ST56:部品搭載ずれデータ作成工程)。すなわち検査部20bは、第3記憶部44から、検査・計測作業位置に位置決めされた基板4の識別情報で特定された搭載目標位置データを取得する。そして検査部20bは、取得されたデータに基づく搭載目標位置MPと部品搭載位置(部品中心PC)との偏差を、部品搭載ずれデータ(ΔX’、ΔY’)として求める。すなわち検査部20bは、部品搭載装置M6(またはM7)による部品搭載工程により部品が搭載された部品搭載済基板について、部品の搭載位置のずれを計測する。さらに、搭載位置のずれに関する部品搭載ずれデータを作成する。1枚の部品搭載済基板のすべての実装点について、部品搭載ずれデータ作成工程が完了すると、図7に示すデータ出力部20fは部品搭載ずれデータをアップロードする(ST57)。この後、処理部20は、図4に示す基板搬送部22を制御して基板4を下流へ搬出して(ST58)、搭載済部品検査装置M8における処理を完了する。 Next, the mounted component position is measured (ST55: component mounting position measurement step). Here, as shown in FIG. 13B, first, the camera 26 images the mounted component P' mounted by the component mounting device M6 (or M7). Then, the inspection unit 20b shown in FIG. 7 detects the component P' from the captured image and also detects the mounting position of the component P' by image recognition or the like. When the component P' is a square chip, the component center PC is detected as the component mounting position. Next, the inspection unit 20b calculates the deviation of the component mounting position based on the measurement result (ST56: component mounting deviation data creation step). That is, the inspection unit 20b acquires the mounting target position data specified by the identification information of the board 4 positioned at the inspection/measurement work position from the third storage unit 44. The inspection unit 20b then obtains the deviation between the target mounting position MP and the component mounting position (component center PC) based on the acquired data as component mounting deviation data (ΔX', ΔY'). That is, the inspection unit 20b measures the displacement of the component mounting position on the component-mounted board on which the component is mounted in the component mounting process by the component mounting device M6 (or M7). Furthermore, component mounting deviation data regarding deviations in mounting positions is created. When the component mounting deviation data creation process is completed for all the mounting points on one component-mounted board, the data output unit 20f shown in FIG. 7 uploads the component mounting deviation data (ST57). Thereafter, the processing section 20 controls the substrate transport section 22 shown in FIG. 4 to carry out the substrate 4 downstream (ST58), and completes the processing in the mounted component inspection apparatus M8.

ST57にてアップロードされた部品搭載ずれデータは、図6に示す情報管理装置3の第3の情報処理部47によって部品搭載装置M6、M7にフィードバックされ、算出部57によるキャリブレーションデータの算出に用いられる。すなわち部品搭載装置M6,M7は、複数の部品搭載済基板について搭載済部品検査装置M8で計測された部品の搭載位置のずれに関する部品搭載ずれデータを取得し(部品搭載ずれデータ取得工程)、第7記憶部58aのデータを更新する。 The component mounting deviation data uploaded in ST57 is fed back to the component mounting devices M6 and M7 by the third information processing unit 47 of the information management device 3 shown in FIG. 6, and is used by the calculation unit 57 to calculate calibration data. It will be done. That is, the component mounting devices M6 and M7 acquire component mounting deviation data regarding deviations in the mounting positions of components measured by the mounted component inspection device M8 for a plurality of component-mounted boards (component mounting deviation data acquisition step). 7. Update the data in the storage section 58a.

そして前述のように、算出部57は、取得された部品搭載ずれデータを基にキャリブレーションデータを計算する(ST44:キャリブレーションデータ算出工程)。すなわち本実施の形態において経時変動に起因する部品の搭載位置のずれを補正するためのキャリブレーションデータは、複数の部品搭載済基板について搭載済部品検査装置M8で計測された部品の搭載位置のずれに関するデータを基に計算されている。 Then, as described above, the calculation unit 57 calculates calibration data based on the acquired component mounting deviation data (ST44: calibration data calculation step). In other words, in this embodiment, the calibration data for correcting deviations in component mounting positions due to changes over time is based on the deviations in component mounting positions measured by the mounted component inspection device M8 on a plurality of component-mounted boards. Calculated based on data related to

なお本実施の形態では、部品実装ライン1aが部品搭載装置M6,M7を有する。このように部品実装ラインが複数の部品搭載装置を有する場合には、これら複数の部品搭載装置でそれぞれキャリブレーションデータ算出工程を実行する。そして前述の部品搭載ずれデータ作成工程においては、各部品搭載装置で参照された搭載目標位置データが搭載位置のずれの計測の基準として使用される。また複数の部品搭載装置で前述の部品搭載工程を実行する場合には、前述の部品搭載ずれデータ作成工程で作成された搭載ずれデータを、その搭載ずれに係る部品を搭載した部品搭載装置に振り分けて、各々の部品搭載装置に提供する(部品搭載ずれデータ処理工程)。 Note that in this embodiment, the component mounting line 1a includes component mounting devices M6 and M7. In this way, when a component mounting line has a plurality of component mounting devices, the calibration data calculation process is executed by each of these plurality of component mounting devices. In the above-mentioned component mounting deviation data creation step, the mounting target position data referenced by each component mounting device is used as a reference for measuring the mounting position deviation. In addition, when performing the above-mentioned component mounting process with multiple component mounting devices, the mounting deviation data created in the above-mentioned component mounting deviation data creation process is distributed to the component mounting device that has mounted the component related to the mounting deviation. and provides it to each component mounting device (component mounting deviation data processing step).

次に図14A、図14Bを参照して、実装基板検査装置M10における処理について説明する。実装基板検査装置M10によって行われる実装基板検査では、リフロー装置M9におけるリフローによってはんだ接合された状態の部品Pの位置を含む実装状態の良否が検査される。図14Aに示すように、実装基板が、図4に示す基板搬送部22によって搬入され、検査・計測作業位置に位置決めされる(ST61)。次いで、処理部20は、情報管理装置3から実装点位置データを取得する(ST62)。 Next, with reference to FIGS. 14A and 14B, processing in the mounted board inspection apparatus M10 will be described. In the mounted board inspection performed by the mounted board inspection device M10, the quality of the mounting state including the position of the component P soldered by reflow in the reflow device M9 is inspected. As shown in FIG. 14A, a mounting board is carried in by the board transport section 22 shown in FIG. 4, and positioned at an inspection/measurement work position (ST61). Next, the processing unit 20 acquires mounting point position data from the information management device 3 (ST62).

次に処理部20は、基板認識を実行して検査・計測作業位置における実装点Jを認識する(ST63)。基板認識では、カメラ26で撮像した基板4の基準マークから、検査・計測作業位置における基準マークの位置が検出される。そして処理部20は、検出された基準マークの位置と、取得された実装点位置データとから、検査・計測作業位置における実装点Jの位置を計算する。 Next, the processing unit 20 executes board recognition and recognizes the mounting point J at the inspection/measurement work position (ST63). In board recognition, the position of the reference mark at the inspection/measurement work position is detected from the reference mark of the board 4 captured by the camera 26. Then, the processing unit 20 calculates the position of the mounting point J at the inspection/measurement work position from the detected position of the reference mark and the acquired mounting point position data.

次いで検査が実行される(ST64)。すなわち処理部20は、求められた部品中心Pmの座標と、正しい実装点Jとの偏差を、実装位置ずれΔXm、ΔYmとして求める。リフロー後の基板4を撮像して取得された画像においては、図14Bに示すように、はんだ部Sが溶融固化してはんだ部S’が形成されている。なお、ランドLは、はんだ部S’によってその全面が覆われる。 Next, an inspection is performed (ST64). That is, the processing unit 20 determines the deviation between the determined coordinates of the component center Pm and the correct mounting point J as the mounting position deviations ΔXm and ΔYm. In the image obtained by imaging the board 4 after reflow, as shown in FIG. 14B, the solder portion S is melted and solidified to form a solder portion S'. Note that the land L is entirely covered by the solder portion S'.

リフロー過程における溶融はんだの挙動により、部品P’の部品中心に相当する部品中心Pmの位置は必ずしも実装点Jとは一致せず、実装位置ずれΔXm、ΔYmが存在する。これらの実装位置ずれの少なくとも一方が、それぞれの許容値を超える場合には不良と判定される。そして全ての検査対象部品について検査処理が終了すると検査結果がアップロードされ(ST65)、基板4は下流へ搬出される(ST66)。 Due to the behavior of the molten solder in the reflow process, the position of the component center Pm corresponding to the component center of the component P' does not necessarily coincide with the mounting point J, and there are mounting position deviations ΔXm and ΔYm. If at least one of these mounting positional deviations exceeds the respective allowable value, it is determined to be defective. When the inspection process is completed for all parts to be inspected, the inspection results are uploaded (ST65), and the board 4 is carried downstream (ST66).

以上説明したように、本実施の形態に示す実装基板製造システム1は、実装点位置データ記憶部(第1記憶部)41と、はんだ部形成装置としてのスクリーン印刷装置M4と、はんだ部検査装置M5と、はんだ部位置データ記憶部(第2記憶部)42と、搭載目標位置データ作成部(作成部)43と、部品搭載装置M6(M7)とを有する。第1記憶部41は、基板4を実測して得られた実装点Jの位置を含む実装点位置データを、基板4を識別する識別情報と関連付けて記憶する。例えば、実装点位置データは、基板4の基準マークと実装点Jとの位置関係に関する。スクリーン印刷装置M4は、基板4にはんだ部Sを形成する。はんだ部検査装置M5は、スクリーン印刷装置M4によって基板4に形成されたはんだ部Sを計測して、はんだ部Sの位置を含むはんだ部位置データを作成する。例えば、はんだ部位置データは、基準マークとはんだ部Sとの位置関係を含む。第2記憶部42は、はんだ部位置データを、識別情報と関連付けて記憶する。作成部43は、識別情報で特定される実装点位置データとはんだ部位置データとに基づいて、識別情報で特定される基板4における部品Pの搭載目標位置を含む搭載目標位置データを作成する。部品搭載装置M6(M7)は、はんだ部検査装置M5によりはんだ部Sの位置を計測した基板4を作業位置に位置させる。また部品搭載装置M6(M7)は搭載ヘッド37を有する。搭載ヘッド37は、作業位置に位置した基板4における搭載目標位置に部品Pを搭載する。搭載目標位置は、基板4の識別情報に関連付けられた搭載目標位置データで特定される。この構成により、はんだ位置情報を適用した位置補正の精度を向上させて、高度な部品実装品質を実現することができる。 As described above, the mounted board manufacturing system 1 according to the present embodiment includes the mounting point position data storage unit (first storage unit) 41, the screen printing device M4 as a solder portion forming device, and the solder portion inspection device. M5, a solder part position data storage section (second storage section) 42, a mounting target position data creation section (creation section) 43, and a component mounting device M6 (M7). The first storage unit 41 stores mounting point position data including the position of the mounting point J obtained by actually measuring the board 4 in association with identification information for identifying the board 4. For example, the mounting point position data relates to the positional relationship between the reference mark on the board 4 and the mounting point J. The screen printing device M4 forms a solder portion S on the substrate 4. The solder portion inspection device M5 measures the solder portion S formed on the substrate 4 by the screen printing device M4, and creates solder portion position data including the position of the solder portion S. For example, the solder portion position data includes the positional relationship between the reference mark and the solder portion S. The second storage unit 42 stores solder part position data in association with identification information. The creation unit 43 creates target mounting position data including the target mounting position of the component P on the board 4 specified by the identification information, based on the mounting point position data and the solder part position data specified by the identification information. The component mounting device M6 (M7) positions the board 4 whose position of the solder portion S has been measured by the solder portion inspection device M5 at a working position. Further, the component mounting device M6 (M7) has a mounting head 37. The mounting head 37 mounts the component P at a target mounting position on the board 4 located at the working position. The target mounting position is specified by target mounting position data associated with the identification information of the board 4. With this configuration, it is possible to improve the accuracy of position correction using solder position information and achieve high component mounting quality.

また、本実施の形態に示す部品搭載装置M6(M7)は、基板搬送部35と、搭載目標位置データ取得部(第2取得部)56と、搭載作業部40とを有する。基板搬送部35は、固有の識別情報が付与され、はんだ部Sが形成され、はんだ部Sの位置が計測された基板4を受け取って作業位置に位置させる。基板搬送部35はさらに、部品Pの搭載が済んだ部品搭載済の基板4を作業位置から下流の設備へ搬出する。第2取得部56は、実装点位置データと、実装点位置データと同一の識別情報で特定されるはんだ部位置データとに基づいて算出された搭載目標位置データを取得する。実装点位置データは、基板4を実測して得られ、基板4の実装点Jの位置を含む。はんだ部位置データは、はんだ部Sを実測して得られたはんだ部Sの位置を含む。搭載作業部40は、搭載ヘッド37を有する。搭載ヘッド37は、作業位置に位置した基板4における搭載目標位置に部品Pを搭載する。搭載目標位置は、基板4の識別情報に関連付けられた搭載目標位置データで特定される。この構成により、はんだ位置情報を適用した位置補正の精度を向上させて、高度な部品実装品質を実現することができる。 Further, the component mounting apparatus M6 (M7) shown in this embodiment includes a substrate transport section 35, a mounting target position data acquisition section (second acquisition section) 56, and a mounting operation section 40. The substrate transport unit 35 receives the substrate 4, which has been given unique identification information, has the solder portion S formed thereon, and has measured the position of the solder portion S, and positions it at a working position. The board transport unit 35 further transports the component-mounted board 4, on which the component P has been mounted, from the work position to downstream equipment. The second acquisition unit 56 acquires the mounting target position data calculated based on the mounting point position data and the solder part position data specified by the same identification information as the mounting point position data. The mounting point position data is obtained by actually measuring the board 4 and includes the position of the mounting point J on the board 4. The solder part position data includes the position of the solder part S obtained by actually measuring the solder part S. The mounting work section 40 has a mounting head 37. The mounting head 37 mounts the component P at a target mounting position on the board 4 located at the working position. The target mounting position is specified by target mounting position data associated with the identification information of the board 4. With this configuration, it is possible to improve the accuracy of position correction using solder position information and achieve high component mounting quality.

また、本実施の形態に示す搭載済部品検査装置M8は、本実施の形態に示す実装基板製造システム1に含まれ、固有の識別情報で識別される基板4の実装点Jに搭載された部品Pの搭載位置のずれを計測する。搭載済部品検査装置M8は、作業ステージとしての基板搬送部22と、データ取得部20eと、検査部20bとを有する。基板搬送部22は、部品搭載装置M6(M7)によって部品Pが搭載された部品搭載済の基板4を保持する。データ取得部20eは、基板搬送部22に保持された基板4の識別マークに関連付けされた搭載目標位置データを取得する。搭載目標位置データは、実装基板製造システムの情報管理装置3における搭載目標位置データ作成部43で予め作成されている。検査部20bは、基板搬送部22に保持された基板4の実装点Jに搭載された部品Pの搭載位置のずれを求める。すなわち検査部20bは、搭載目標位置データに基づいて設定された搭載目標位置に対する部品Pの搭載位置のずれを求める。 Moreover, the mounted component inspection apparatus M8 shown in this embodiment is included in the mounted board manufacturing system 1 shown in this embodiment, and is used to detect components mounted at the mounting point J of the board 4 identified by unique identification information. Measure the deviation in the mounting position of P. The mounted component inspection device M8 includes a substrate transport section 22 as a work stage, a data acquisition section 20e, and an inspection section 20b. The board transport unit 22 holds the component-loaded board 4 on which the component P is mounted by the component mounting device M6 (M7). The data acquisition unit 20e acquires mounting target position data associated with the identification mark of the substrate 4 held by the substrate transport unit 22. The mounting target position data is created in advance by the mounting target position data creation unit 43 in the information management device 3 of the mounting board manufacturing system. The inspection unit 20b determines the displacement of the mounting position of the component P mounted at the mounting point J of the board 4 held by the board transport unit 22. That is, the inspection unit 20b determines the deviation of the mounting position of the component P with respect to the mounting target position set based on the mounting target position data.

図17は、コンピュータのハードウェア構成の一例を示す図である。上述した実施の形態における情報管理装置3や部品搭載装置M6、M7における制御部30、搭載済部品検査装置M8における処理部20の機能は、例えば、コンピュータ2100が実行するプログラムにより実現される。 FIG. 17 is a diagram showing an example of the hardware configuration of a computer. The functions of the information management device 3, the control section 30 in the component mounting devices M6 and M7, and the processing section 20 in the mounted component inspection device M8 in the embodiments described above are realized by, for example, a program executed by the computer 2100.

コンピュータ2100は、入力ボタン、タッチパッド等の入力装置2101、ディスプレイ、スピーカ等の出力装置2102、CPU2103、ROM(Read Only Memory)2104、RAM(Random Access Memory)2105を有する。また、コンピュータ2100は、ハードディスク装置、SSD(Solid State Drive)等の記憶装置2106、DVD-ROM(Digital Versatile Disk Read Only Memory)、USB(Universal Serial Bus)メモリ等の記録媒体から情報を読み取る読取装置2107、ネットワークを介して通信を行う送受信装置2108を有する。上述した各部は、バス2109により接続されている。 The computer 2100 includes an input device 2101 such as an input button or a touch pad, an output device 2102 such as a display or a speaker, a CPU 2103, a ROM (Read Only Memory) 2104, and a RAM (Random Access Memory) 2105. In addition, the computer 2100 has a storage device 2106 such as a hard disk device, an SSD (Solid State Drive), a DVD-ROM (Digital Versatile Disk Read Only Memory), a USB (Universal Serial Bus) memory, etc. A reading device that reads information from a medium 2107, it has a transmitting/receiving device 2108 that performs communication via a network. The above-mentioned units are connected by a bus 2109.

そして、読取装置2107は、上記各部の機能を実現するためのプログラムを記録した非一時的な記録媒体からそのプログラムを読み取り、記憶装置2106に記憶させる。あるいは、送受信装置2108が、ネットワークに接続されたサーバ装置と通信を行い、サーバ装置からダウンロードした上記各部の機能を実現するためのプログラムを記憶装置2106に記憶させる。 Then, the reading device 2107 reads the program from the non-temporary recording medium in which the program for realizing the functions of each part is recorded, and stores the program in the storage device 2106. Alternatively, the transmitting/receiving device 2108 communicates with a server device connected to the network, and causes the storage device 2106 to store a program downloaded from the server device to implement the functions of each section described above.

そして、CPU2103が、記憶装置2106に記憶されたプログラムをRAM2105にコピーし、そのプログラムに含まれる命令をRAM2105から順次読み出して実行する。これにより、情報管理装置3の作成部43、第1の情報処理部45~第3の情報処理部47の機能や、制御部30の第4記憶部53~第7記憶部58a以外の機能ブロックの機能、処理部20の第8記憶部20c、第9記憶部20d以外の機能ブロックの機能が実現される。また、プログラムを実行する際、RAM2105または記憶装置2106には、上述の各種処理で得られた情報が記憶され、適宜利用される。 Then, the CPU 2103 copies the program stored in the storage device 2106 to the RAM 2105, and sequentially reads instructions included in the program from the RAM 2105 and executes them. As a result, the functions of the creation unit 43, the first information processing unit 45 to the third information processing unit 47 of the information management device 3, and the functional blocks other than the fourth storage unit 53 to the seventh storage unit 58a of the control unit 30 are controlled. The functions of the functional blocks other than the eighth storage section 20c and the ninth storage section 20d of the processing section 20 are realized. Further, when a program is executed, information obtained through the various processes described above is stored in the RAM 2105 or the storage device 2106 and is used as appropriate.

なお、他の例として、情報管理装置3の機能ブロックや制御部30、処理部20は、専用のIC(integrated circuit)、LSI(large-scale integration)などの物理的な回路として実現することもできる。あるいは、このような汎用コンピュータとソフトウェアの組み合わせと専用回路とを組み合わせて情報管理装置3の機能ブロックや制御部30、処理部20を構成してもよい。あるいは、情報管理装置3の機能ブロックや制御部30、処理部20の機能ブロックのうち、2つ以上を、物理的に一体の回路として構成してもよい。 As another example, the functional blocks, control unit 30, and processing unit 20 of the information management device 3 may be realized as a physical circuit such as a dedicated IC (integrated circuit) or LSI (large-scale integration). can. Alternatively, the functional blocks, control section 30, and processing section 20 of the information management device 3 may be configured by combining such a combination of a general-purpose computer and software with a dedicated circuit. Alternatively, two or more of the functional blocks of the information management device 3, the control unit 30, and the processing unit 20 may be configured as a physically integrated circuit.

情報管理装置3、制御部30、処理部20に含まれる各記憶部は、ROM2104、RAM2105、ハードディスク装置、SSD(Solid State Drive)等の記憶装置2106や、そのいずれかを含むサーバ装置で構成される。これらの記憶部のうち、2つ以上を、物理的に一体の記憶装置やサーバ装置で構成してもよい。またこれらの記憶部のうち、1つ以上をクラウドサーバに構成してもよい。 Each storage unit included in the information management device 3, the control unit 30, and the processing unit 20 is composed of a storage device 2106 such as a ROM 2104, a RAM 2105, a hard disk device, or an SSD (Solid State Drive), or a server device including any of these. Ru. Two or more of these storage units may be configured as a physically integrated storage device or server device. Further, one or more of these storage units may be configured as a cloud server.

本開示の部品搭載装置および部品搭載方法は、はんだ位置情報を適用した位置補正の精度を向上させて、高度な部品実装品質を実現することができるという効果を有し、部品保持ノズルで部品を保持してはんだ部が形成された基板の実装点に搭載する技術分野において有用である。 The component mounting device and component mounting method of the present disclosure have the effect of improving the accuracy of position correction using solder position information and achieving a high level of component mounting quality. It is useful in the technical field of holding and mounting on a mounting point of a board on which a solder portion is formed.

1 実装基板製造システム
1a 部品実装ライン
2 通信ネットワーク
3 情報管理装置
4 基板
4a レジスト膜
4b 開口部
4c 開口縁部
4c’ 縁部隙間
10 スクリーン印刷制御部(制御部)
11 基板位置決め部
11a 印刷ステージXYΘテーブル(テーブル)
11b 印刷ステージ昇降機構(昇降機構)
13 印刷ステージ
13a 昇降テーブル
14 基板サポート部
14a 基板サポートピン
14b 基板サポート部昇降機構(昇降機構)
15 基板搬送部
15a 搬入コンベア
15b 印刷ステージコンベア
15c 搬出コンベア
16 スクリーン印刷部
17 スキージ
17a スキージ駆動機構(昇降機構)
18 スクリーンマスク
19 カメラユニット
19a マスクカメラ
19b 基板カメラ
20 処理部
20a 基板認識部
20b 検査部
20c 検査関連データ記憶部(第8記憶部)
20d 検査結果記憶部(第9記憶部)
20e データ取得部
20f データ出力部
21,31 基台
22 基板搬送部
24 検査ヘッド
24a 鏡筒部
24b 照明ユニット
25 検査ヘッド移動機構(移動機構)
26 カメラ
27 ハーフミラー
28 照明光源部
28a 上段照明
28b 下段照明
28c 同軸照明
30 部品搭載制御部(制御部)
32 台車
33 テープフィーダ
34 基板下受け部
34a サポートピン
34b サポートピン昇降機構(昇降機構)
35 基板搬送部
36 部品認識カメラ(第1カメラ)
37 搭載ヘッド
37a 移動部材
37b 部品保持ノズル
38 搭載ヘッド移動機構(移動機構)
39 基板認識カメラ(第2カメラ)
40 搭載作業部
41 実装点位置データ記憶部(第1記憶部)
42 はんだ部位置データ記憶部(第2記憶部)
43 搭載目標位置データ作成部(作成部)
44 搭載目標位置データ記憶部(第3記憶部)
45 第1の情報処理部
46 第2の情報処理部
47 第3の情報処理部
51 基板認識部
52 部品認識部
53 生産関連データ記憶部(第4記憶部)
54 部品搭載処理部
55 実装点位置データ取得部(第1取得部)
55a 実装点位置データ記憶部(第5記憶部)
56 搭載目標位置データ取得部(第2取得部)
56a 搭載目標位置データ記憶部(第6記憶部)
57 キャリブレーションデータ算出部(算出部)
58 部品搭載ずれデータ取得部(第3取得部)
58a 部品搭載ずれデータ記憶部(第7記憶部)
59 データ出力部
2100 コンピュータ
2101 入力装置
2102 出力装置
2103 CPU
2104 ROM
2105 RAM
2106 記憶装置
2107 読取装置
2108 送受信装置
2109 バス
M1 基板供給装置
M2 基板識別情報付与装置
M3 基板計測装置
M4 スクリーン印刷装置
M5 はんだ部検査装置
M6,M7 部品搭載装置
M8 搭載済部品検査装置
M9 リフロー装置
M10 実装基板検査装置
M11 基板回収装置
L,LA,LB ランド
L1,L2 ランド位置
La ランド本体部
Lb ランド縁部
J 実装点
S,S’ はんだ部
S1,S2 位置
SP はんだパターン位置
MP 搭載目標位置
P 部品
P’ 搭載済部品
PC,Pm 部品中心
1 Mounting board manufacturing system 1a Component mounting line 2 Communication network 3 Information management device 4 Substrate 4a Resist film 4b Opening 4c Opening edge 4c' Edge gap 10 Screen printing control section (control section)
11 Substrate positioning section 11a Printing stage XYΘ table (table)
11b Printing stage lifting mechanism (lifting mechanism)
13 Printing stage 13a Elevating table 14 Board support section 14a Board support pin 14b Board support section elevating mechanism (elevating mechanism)
15 Substrate transport section 15a Carrying-in conveyor 15b Printing stage conveyor 15c Carrying-out conveyor 16 Screen printing section 17 Squeegee 17a Squeegee drive mechanism (elevating mechanism)
18 Screen mask 19 Camera unit 19a Mask camera 19b Board camera 20 Processing section 20a Board recognition section 20b Inspection section 20c Inspection-related data storage section (eighth storage section)
20d Test result storage unit (9th storage unit)
20e Data acquisition section 20f Data output section 21, 31 Base 22 Substrate transport section 24 Inspection head 24a Lens barrel section 24b Illumination unit 25 Inspection head moving mechanism (moving mechanism)
26 Camera 27 Half mirror 28 Illumination light source section 28a Upper stage illumination 28b Lower stage illumination 28c Coaxial illumination 30 Component mounting control section (control section)
32 Dolly 33 Tape feeder 34 Board lower receiving part 34a Support pin 34b Support pin lifting mechanism (lifting mechanism)
35 Board transfer unit 36 Component recognition camera (first camera)
37 Mounting head 37a Moving member 37b Component holding nozzle 38 Mounting head moving mechanism (moving mechanism)
39 Board recognition camera (second camera)
40 Mounting work section 41 Mounting point position data storage section (first storage section)
42 Solder part position data storage unit (second storage unit)
43 Onboard target position data creation section (creation section)
44 Onboard target position data storage unit (third storage unit)
45 First information processing unit 46 Second information processing unit 47 Third information processing unit 51 Board recognition unit 52 Component recognition unit 53 Production-related data storage unit (fourth storage unit)
54 Component mounting processing section 55 Mounting point position data acquisition section (first acquisition section)
55a Mounting point position data storage section (fifth storage section)
56 Onboard target position data acquisition unit (second acquisition unit)
56a Mounted target position data storage unit (sixth storage unit)
57 Calibration data calculation unit (calculation unit)
58 Component mounting misalignment data acquisition unit (3rd acquisition unit)
58a Component mounting deviation data storage unit (7th storage unit)
59 Data output unit 2100 Computer 2101 Input device 2102 Output device 2103 CPU
2104 ROM
2105 RAM
2106 Storage device 2107 Reading device 2108 Transmission/reception device 2109 Bus M1 Board supply device M2 Board identification information giving device M3 Board measuring device M4 Screen printing device M5 Solder part inspection device M6, M7 Component mounting device M8 Mounted component inspection device M9 Reflow device M10 Mounted board inspection device M11 Board recovery device L, LA, LB Lands L1, L2 Land position La Land main body Lb Land edge J Mounting points S, S' Solder parts S1, S2 Position SP Solder pattern position MP Mounting target position P Component P' Installed parts PC, Pm Main parts

Claims (15)

実装点の位置を含む実装点位置データを、基板を識別する識別情報と関連付けて記憶する実装点位置データ記憶部と、
前記基板にはんだ部を形成するはんだ部形成装置と、
前記はんだ部形成装置によって前記基板に形成された前記はんだ部を計測して、前記はんだ部の位置を含むはんだ部位置データを作成するはんだ部検査装置と、
前記はんだ部位置データを、前記識別情報と関連付けて記憶するはんだ部位置データ記憶部と、
前記識別情報で特定される前記実装点位置データと前記はんだ部位置データとに基づいて、前記識別情報で特定される前記基板における部品の搭載目標位置を含む搭載目標位置データを作成する搭載目標位置データ作成部と、
前記はんだ部検査装置により前記はんだ部の前記位置を計測した前記基板を作業位置に位置させ、前記基板の前記識別情報に関連付けられた前記搭載目標位置データで特定された前記搭載目標位置に前記部品を搭載する搭載ヘッドを有する部品搭載装置と、を備え、
前記部品搭載装置は、前記部品搭載装置の経時変動に起因する前記部品の搭載位置のずれを補正するためのキャリブレーションデータを使用して、前記搭載目標位置に前記部品を搭載する際の前記搭載ヘッドの停止位置を補正し、
前記部品搭載装置により前記部品がそれぞれ搭載された複数の部品搭載済基板のそれぞれについて、前記搭載位置のずれを計測し、前記搭載位置のずれに関する部品搭載ずれデータを出力する搭載済部品検査装置と、
前記複数の部品搭載済基板の前記部品搭載ずれデータに基づいて、前記キャリブレーションデータを算出するキャリブレーションデータ算出部と、をさらに備え、
前記搭載済部品検査装置は、前記複数の部品搭載済基板のそれぞれについて前記搭載位置のずれを計測する場合に、前記複数の部品搭載済基板のそれぞれの前記識別情報に関連付けられた前記搭載目標位置データを、前記搭載位置のずれを計測する基準として使用する、実装基板製造システム。
a mounting point position data storage unit that stores mounting point position data including the position of the mounting point in association with identification information for identifying the board ;
a solder part forming device for forming a solder part on the substrate;
a solder part inspection device that measures the solder part formed on the substrate by the solder part forming device and creates solder part position data including the position of the solder part;
a solder part position data storage unit that stores the solder part position data in association with the identification information;
a mounting target position for creating mounting target position data including a mounting target position of a component on the board specified by the identification information based on the mounting point position data and the solder part position data specified by the identification information; data creation department,
The board whose position of the solder part has been measured by the solder part inspection device is positioned at a working position, and the component is placed at the target mounting position specified by the target mounting position data associated with the identification information of the board. a component mounting device having a mounting head for mounting a component mounting device;
The component mounting device uses calibration data for correcting deviations in the mounting position of the component due to changes over time of the component mounting device, when mounting the component at the target mounting position. Correct the stop position of the head,
a mounted component inspection device that measures a deviation in the mounting position of each of a plurality of component-mounted boards on which the component is mounted by the component mounting device, and outputs component mounting deviation data regarding the deviation in the mounting position; ,
further comprising a calibration data calculation unit that calculates the calibration data based on the component mounting deviation data of the plurality of component- mounted boards,
When measuring the deviation of the mounting position for each of the plurality of component-mounted boards, the mounted-component inspection device detects the mounting target position associated with the identification information of each of the plurality of component-mounted boards. A mounting board manufacturing system that uses data as a reference for measuring the deviation of the mounting position.
前記実装点位置データは、実測によって得られた基板に形成された基準マークとはんだ接続用のランドの位置を含む、請求項1に記載の実装基板製造システム。 2. The mounting board manufacturing system according to claim 1, wherein the mounting point position data includes positions of a reference mark formed on the board and a land for solder connection obtained by actual measurement. 前記はんだ部検査装置および前記部品搭載装置と通信するように構成された第1の情報処理部をさらに備え、
前記第1の情報処理部は、前記はんだ部位置データ記憶部と前記搭載目標位置データ作成部とを含む、
請求項1または2に記載の実装基板製造システム。
further comprising a first information processing unit configured to communicate with the solder part inspection device and the component mounting device,
The first information processing unit includes the solder part position data storage unit and the mounting target position data creation unit.
The mounting board manufacturing system according to claim 1 or 2.
前記部品搭載装置は、前記キャリブレーションデータ算出部を有する、
請求項1から3のいずれかに記載の実装基板製造システム。
The component mounting device includes the calibration data calculation section.
The mounting board manufacturing system according to any one of claims 1 to 3.
前記搭載済部品検査装置と通信するように構成された第2の情報処理部をさらに備え、
前記第2の情報処理部は、前記部品搭載装置で参照された前記搭載目標位置データを前記搭載済部品検査装置へ提供する、
請求項1から4のいずれかに記載の実装基板製造システム。
further comprising a second information processing unit configured to communicate with the mounted component inspection device,
The second information processing unit provides the mounting target position data referenced by the component mounting device to the mounted component inspection device.
The mounting board manufacturing system according to any one of claims 1 to 4.
前記部品搭載装置は、第1部品を前記基板に搭載する第1部品搭載装置と、第2部品を前記基板に搭載する第2部品搭載装置とを含み、
前記実装基板製造システムは、前記第1部品搭載装置、前記第2部品搭載装置、および前記搭載済部品検査装置と通信可能な第3の情報処理部をさらに備え、
前記搭載済部品検査装置は、前記複数の部品搭載済基板のそれぞれについて、前記第1部品の第1搭載位置のずれと、前記第2部品の第2搭載位置のずれとを計測して、前記部品搭載ずれデータとして前記第1搭載位置のずれに関する第1部品搭載ずれデータを出力するとともに前記第2搭載位置のずれに関する第2部品搭載ずれデータを出力し、
前記第3の情報処理部は、前記搭載済部品検査装置から出力された前記部品搭載ずれデータのうち、前記第1部品搭載ずれデータを前記第1部品搭載装置に提供し、前記第2部品搭載ずれデータを前記第2部品搭載装置に提供する、
請求項4に記載の実装基板製造システム。
The component mounting device includes a first component mounting device that mounts a first component on the board, and a second component mounting device that mounts a second component on the board,
The mounted board manufacturing system further includes a third information processing unit capable of communicating with the first component mounting device, the second component mounting device, and the mounted component inspection device,
The mounted component inspection device measures the deviation of the first mounting position of the first component and the deviation of the second mounting position of the second component for each of the plurality of component-mounted boards, and measures the deviation of the first mounting position of the first component and the deviation of the second mounting position of the second component. Outputting first component mounting deviation data regarding the deviation of the first mounting position as component mounting deviation data, and outputting second component mounting deviation data regarding the deviation of the second mounting position;
The third information processing unit provides the first component mounting deviation data, out of the component mounting deviation data output from the mounted component inspection device, to the first component mounting device, and provides the first component mounting deviation data to the second component mounting device. providing displacement data to the second component mounting device;
The mounting board manufacturing system according to claim 4.
部品を基板の実装点に搭載する搭載ヘッドを有する部品搭載装置を使用した実装基板製造方法であって、
前記実装点の位置を含む実装点位置データを、前記基板を識別する識別情報と関連付けて記憶するステップと、
前記基板にはんだ部を形成するステップと、
前記基板に形成された前記はんだ部を計測して、前記はんだ部の位置を含むはんだ部位置データを作成するステップと、
前記はんだ部位置データを前記識別情報と関連付けて記憶するステップと、
前記識別情報で特定される前記実装点位置データと、前記はんだ部位置データとに基づいて、前記識別情報で特定される前記基板における前記部品の搭載目標位置を含む搭載目標位置データを作成するステップと、
前記部品搭載装置によって、前記はんだ部の前記位置を計測した前記基板を作業位置に位置させ、前記基板の前記識別情報に関連付けられた前記搭載目標位置データで特定された前記搭載目標位置に前記部品を搭載するステップと、を備え、
前記部品搭載装置の経時変動に起因する前記部品の搭載位置のずれを補正するためのキャリブレーションデータを使用して、前記搭載目標位置に前記部品を搭載する際の前記搭載ヘッドの停止位置を補正し、
前記部品搭載装置により前記部品がそれぞれ搭載された複数の部品搭載済基板のそれぞれについて、前記搭載位置のずれを計測し、前記搭載位置のずれに関する部品搭載ずれデータを作成するステップと、
前記複数の部品搭載済基板の前記部品搭載ずれデータに基づいて前記キャリブレーションデータを算出するステップと、をさらに備え、
前記複数の部品搭載済基板のそれぞれについて前記搭載位置のずれを計測する場合に、前記複数の部品搭載済基板のそれぞれの前記識別情報に関連付けられた前記搭載目標位置データを前記搭載位置のずれを計測する基準として使用する、実装基板製造方法。
A mounting board manufacturing method using a component mounting device having a mounting head for mounting components on a mounting point of a board, the method comprising:
storing mounting point position data including the position of the mounting point in association with identification information for identifying the board;
forming a solder portion on the substrate;
measuring the solder portion formed on the substrate to create solder portion position data including the position of the solder portion;
storing the solder part position data in association with the identification information;
creating target mounting position data including a target mounting position of the component on the board specified by the identification information, based on the mounting point position data specified by the identification information and the solder part position data; and,
The component mounting device positions the board on which the position of the solder portion has been measured at a working position, and places the component at the target mounting position specified by the target mounting position data associated with the identification information of the board. comprising a step equipped with;
Correcting the stop position of the mounting head when mounting the component at the target mounting position using calibration data for correcting deviations in the mounting position of the component due to changes over time of the component mounting device. death,
measuring the deviation of the mounting position for each of the plurality of component-mounted boards on which the component is mounted by the component mounting device, and creating component mounting deviation data regarding the deviation of the mounting position;
further comprising the step of calculating the calibration data based on the component mounting deviation data of the plurality of component -mounted boards,
When measuring the deviation of the mounting position for each of the plurality of component-mounted boards, the mounting target position data associated with the identification information of each of the plurality of component-mounted boards is used to measure the deviation of the mounting position. Mounting board manufacturing method used as a measurement standard.
前記実装点位置データは、実測によって得られた基板に形成された基準マークとはんだ接続用のランドの位置を含む、請求項7に記載の実装基板製造方法。 8. The mounting board manufacturing method according to claim 7, wherein the mounting point position data includes positions of a reference mark formed on the board and a land for solder connection obtained by actual measurement. 前記部品搭載装置が前記キャリブレーションデータを算出し、
前記部品搭載ずれデータを作成する際に、前記部品搭載装置で参照された前記搭載目標位置データを前記搭載位置のずれを計測する基準として使用する、
請求項7または8に記載の実装基板製造方法。
the component mounting device calculates the calibration data;
When creating the component mounting deviation data, the mounting target position data referenced by the component mounting device is used as a reference for measuring the deviation of the mounting position.
The mounting board manufacturing method according to claim 7 or 8.
前記部品搭載装置は、第1部品を前記基板に搭載する第1部品搭載装置と、第2部品を前記基板に搭載する第2部品搭載装置とを含み、
前記部品搭載ずれデータを作成する際に、前記複数の部品搭載済基板のそれぞれについて、前記第1部品の第1搭載位置のずれと、前記第2部品の第2搭載位置のずれとを計測して、前記部品搭載ずれデータとして前記第1搭載位置のずれに関する第1部品搭載ずれデータを出力するとともに前記第2搭載位置のずれに関する第2部品搭載ずれデータを出力し、
出力された前記部品搭載ずれデータのうち、前記第1部品搭載ずれデータを前記第1部品搭載装置に提供し、前記第2部品搭載ずれデータを前記第2部品搭載装置に提供する、
請求項7から9のいずれかに記載の実装基板製造方法。
The component mounting device includes a first component mounting device that mounts a first component on the board, and a second component mounting device that mounts a second component on the board,
When creating the component mounting deviation data, for each of the plurality of component-mounted boards, a deviation in a first mounting position of the first component and a deviation in a second mounting position of the second component are measured. outputting first component mounting deviation data regarding the deviation of the first mounting position as the component mounting deviation data, and outputting second component mounting deviation data regarding the deviation of the second mounting position;
Of the output component mounting deviation data, providing the first component mounting deviation data to the first component mounting device, and providing the second component mounting deviation data to the second component mounting device;
The mounting board manufacturing method according to any one of claims 7 to 9.
固有の識別情報が付与され、はんだ部が形成され、前記はんだ部の位置が計測された基板を受け取って作業位置に位置させ、部品の搭載が済んだ部品搭載済基板を前記作業位置から下流の設備へ搬出する基板搬送部と、
前記基板の実装点の位置を含む実装点位置データと、前記実装点位置データと同一の前記識別情報で特定され、前記はんだ部を実測して得られた前記はんだ部の前記位置を含むはんだ部位置データとに基づいて算出された搭載目標位置データを取得する搭載目標位置データ取得部と、
前記作業位置に位置する前記基板の前記識別情報に関連付けられた搭載目標位置データで特定された搭載目標位置に、前記部品を搭載する搭載ヘッドを有する搭載作業部と、を備え、
前記搭載作業部は、部品搭載装置の経時変動に起因する前記部品の搭載位置のずれを補正するためのキャリブレーションデータを使用して、前記搭載目標位置に前記部品を搭載する際の前記搭載ヘッドの停止位置を補正し、
前記部品搭載済基板は、複数の部品搭載済基板のひとつであり、
前記部品搭載装置は、前記複数の部品搭載済基板について計測された前記搭載位置のずれに関するデータを基に前記キャリブレーションデータを算出するキャリブレーションデータ算出部を、さらに備え、
前記複数の部品搭載済基板の前記搭載位置のずれに関する前記データを取得する部品搭載ずれデータ取得部をさらに備え、
前記キャリブレーションデータ算出部は、前記部品搭載ずれデータ取得部で取得した前記搭載位置のずれに関する前記データに基づいて前記キャリブレーションデータを算出し、
前記搭載位置のずれは、前記複数の部品搭載済基板のそれぞれの前記識別情報に関連付けられた前記搭載目標位置データを基準として計算される、部品搭載装置。
A board that has been given unique identification information, a solder part has been formed, and the position of the solder part has been measured is received and placed at a working position, and the component-mounted board on which components have been mounted is moved downstream from the working position. A board transport unit for transporting to the equipment,
Mounting point position data including the position of the mounting point on the board; and a solder part including the position of the solder part identified by the same identification information as the mounting point position data and obtained by actually measuring the solder part. an onboard target position data acquisition unit that acquires onboard target position data calculated based on the position data;
a mounting work unit having a mounting head for mounting the component on a mounting target position specified by mounting target position data associated with the identification information of the board located at the work position;
The mounting operation section uses calibration data for correcting deviations in the mounting position of the component due to changes in the component mounting device over time to correct the mounting position when mounting the component at the target mounting position. Correct the stop position of the head,
The component-loaded board is one of a plurality of component-loaded boards,
The component mounting device further includes a calibration data calculation unit that calculates the calibration data based on data regarding the displacement of the mounting position measured for the plurality of component- mounted boards,
further comprising a component mounting displacement data acquisition unit that acquires the data regarding the displacement of the mounting positions of the plurality of component -mounted boards,
The calibration data calculation unit calculates the calibration data based on the data regarding the deviation of the mounting position acquired by the component mounting deviation data acquisition unit,
In the component mounting device, the deviation of the mounting position is calculated based on the mounting target position data associated with the identification information of each of the plurality of component-mounted boards.
前記実装点位置データは、実測によって得られた基板に形成された基準マークとはんだ接続用のランドの位置を含む、請求項11に記載の部品搭載装置。 12. The component mounting apparatus according to claim 11, wherein the mounting point position data includes positions of a reference mark formed on the board and a land for solder connection obtained by actual measurement. 搭載ヘッドで部品を保持して固有の識別情報が付与された基板に前記部品を搭載する部品搭載装置における部品搭載方法であって、
前記基板を上流の設備から受け取って前記搭載ヘッドによる作業位置に位置させるステップと、
前記基板の実装点の位置を含む実装点位置データと、前記実装点位置データと同一の前記識別情報で特定され、前記基板に設けられたはんだ部を実測して得られた前記はんだ部の位置を含むはんだ部位置データとに基づいて算出された搭載目標位置データを取得するステップと、
前記作業位置に位置する前記基板の前記識別情報に関連付けられた搭載目標位置データで特定された搭載目標位置に前記搭載ヘッドで前記部品を搭載するステップと、を備え、
前記部品搭載装置の経時変動に起因する前記部品の搭載位置のずれを補正するためのキャリブレーションデータを使用して、前記搭載目標位置に前記部品を搭載する際の前記搭載ヘッドの停止位置を補正し、
前記部品搭載装置により前記部品がそれぞれ搭載された複数の部品搭載済基板のそれぞれについて、前記搭載位置のずれを計測することで作成された、前記搭載位置のずれに関する部品搭載ずれデータに基づいて前記キャリブレーションデータを算出するステップと、
前記搭載目標位置に関する部品搭載目標位置データを、前記部品の前記搭載位置のずれを計測する基準とするために、前記部品搭載目標位置データを前記識別情報と関連付けて出力するステップをさらに備えた、部品搭載方法。
A component mounting method in a component mounting device that holds a component with a mounting head and mounts the component on a board to which unique identification information is given, the component mounting method comprising:
receiving the substrate from upstream equipment and positioning it in a working position by the loading head;
Mounting point position data including the position of the mounting point on the board, and the position of the solder part identified by the same identification information as the mounting point position data and obtained by actually measuring the solder part provided on the board. a step of acquiring mounting target position data calculated based on the solder part position data including the solder part position data;
mounting the component with the mounting head at a mounting target position specified by mounting target position data associated with the identification information of the board located at the work position;
Correcting the stop position of the mounting head when mounting the component at the target mounting position using calibration data for correcting deviations in the mounting position of the component due to changes over time of the component mounting device. death,
Based on component mounting deviation data regarding the deviation of the mounting position, which is created by measuring the deviation of the mounting position for each of a plurality of component-mounted boards on which the component is respectively mounted by the component mounting device. a step of calculating calibration data;
further comprising the step of outputting the component mounting target position data in association with the identification information in order to use the component mounting target position data regarding the mounting target position as a reference for measuring a deviation of the mounting position of the component; How to mount parts.
前記実装点位置データは、実測によって得られた基板に形成された基準マークとはんだ接続用のランドの位置を含む、請求項13に記載の部品搭載方法。 14. The component mounting method according to claim 13, wherein the mounting point position data includes positions of a reference mark formed on the board and a land for solder connection obtained by actual measurement. 請求項1記載の実装基板製造システムに含まれ、前記識別情報で識別される前記基板の前記実装点に搭載された前記部品の前記搭載位置のずれを計測する搭載済部品検査装置であって、
前記部品搭載装置によって前記部品が搭載された前記部品搭載済基板を保持する作業ステージと、
前記搭載目標位置データ作成部で作成され、前記作業ステージに保持された前記基板の前記識別情報に関連付けされた搭載目標位置データを取得するデータ取得部と、
前記作業ステージに保持された前記基板の前記実装点に搭載された前記部品の前記搭載位置のずれを求める検査部と、を備え、
前記検査部は前記搭載目標位置データに基づいて設定された搭載目標位置に対する前記部品の前記搭載位置のずれを求める、
搭載済部品検査装置。
A mounted component inspection device included in the mounted board manufacturing system according to claim 1, which measures a displacement of the mounting position of the component mounted at the mounting point of the board identified by the identification information,
a work stage that holds the component-mounted board on which the component is mounted by the component mounting device;
a data acquisition unit that acquires target loading position data created by the target loading position data creation unit and associated with the identification information of the substrate held on the work stage;
an inspection unit that determines a shift in the mounting position of the component mounted at the mounting point of the board held on the work stage;
The inspection unit determines a deviation of the mounting position of the component from a target mounting position set based on the target mounting position data.
Installed parts inspection equipment.
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