JP7370547B1 - 弾性波デバイスおよびその弾性波デバイスを備えるモジュール - Google Patents

弾性波デバイスおよびその弾性波デバイスを備えるモジュール Download PDF

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Abstract

【課題】耐電力が向上した弾性波デバイスを提供する。【解決手段】圧電基板と、前記圧電基板上に形成された複数の共振器とを備え、前記複数の共振器の少なくとも1つは、直列に分割された、入力される電気信号が最初に入力される第1分割共振器と、入力される電気信号が最後に入力される第2分割共振器と、前記第1分割共振器と前記第2分割共振器の間に配置された第3分割共振器とを含む多段分割共振器であり、前記第3分割共振器のキャパシタンスは、前記第1分割共振器のキャパシタンスおよび前記第2分割共振器のキャパシタンスよりも大きい弾性波デバイス。【選択図】図3

Description

本開示は、弾性波デバイスおよびその弾性波デバイスを備えるモジュールに関連する。
近年の技術的進歩により、移動体通信端末に代表されるスマートフォンなどは、目覚ましく小型化、軽量化されている。このような移動通信端末に用いられる弾性波デバイスとしては、小型化が可能な弾性波デバイスが用いられている。また、移動体通信システムとして、同時送受信する通信システムが急増しデュプレクサの需要が急増している。
移動通信システムの変化に伴い、弾性波デバイスの要求仕様がより厳しくなってきている。すなわち、従来に比してより小型化された弾性波デバイスが必要となっている。しかし、弾性波デバイスを小型化すると、SAW共振器を小型化せざるを得ず、耐電力が低下する。
SAW共振器の電極は印加電圧及び周波数に応じて内部応力を繰り返し受けることになるが、応力によって電極を構成する金属原子が粒界に沿って拡散移動し易く、突起生成による短絡や空隙生成による断線を引き起こして、特性が著しく劣化してしまう問題がある。この現象は一般的にストレスマイグレーションと呼ばれている。したがって、弾性波デバイスの小型化に伴い、SAW共振器の電極の耐電力性を向上させる必要がある。
特許文献1には、耐電力性を向上させるため、SAW共振器を直列に分割する技術が開示されている。
特開2006-74202号公報
しかしながら、特許文献1に記載の弾性波デバイスにおいては、3つ以上に分割された直列分割共振器において、内側に配置された分割共振器の熱が逃げにくい。このため、内側に配置された分割共振器にストレスマイグレーションが生じやすく、弾性波デバイスの耐電力が十分でない。
本開示は、上述の課題を解決するためになされた。本開示の目的は、耐電力向上を目的として採用された直列分割共振器のストレスマイグレーションをさらに抑制し、より耐電力性が向上した弾性波デバイスおよびその弾性波デバイスを備えるモジュールを提供することである。また、より消費電力が少ない、環境性能に優れた弾性波デバイスおよびその弾性波デバイスを備えるモジュールを提供することである。
本開示に係る弾性波デバイスは、
圧電基板と、
前記圧電基板上に形成された複数の共振器と
を備え、
前記複数の共振器の少なくとも1つは、直列に分割された、入力される電気信号が最初に入力される第1分割共振器と、入力される電気信号が最後に入力される第2分割共振器と、前記第1分割共振器と前記第2分割共振器の間に配置された第3分割共振器とを含む多段分割共振器であり、
前記第3分割共振器のキャパシタンスは、前記第1分割共振器のキャパシタンスおよび前記第2分割共振器のキャパシタンスよりも大きく、
前記複数の共振器のそれぞれは、IDT電極を有する表面弾性波共振器である弾性波デバイスとした。
前記第1分割共振器の共振周波数および前記第2分割共振器の共振周波数は、前記第3分割共振器の共振周波数よりも低いことが、本開示の一形態とされる。
前記多段分割共振器は、前記第1分割共振器と前記第3分割共振器の間に配置された第4分割共振器と、前記第2分割共振器と前記第3分割共振器の間に配置された第5分割共振器とを含むことが、本開示の一形態とされる。
前記第3分割共振器、前記第4分割共振器および前記第5分割共振器のキャパシタンスは、前記第1分割共振器および前記第2分割共振器のキャパシタンスよりも大きいことが、本発明の一形態とされる。
前記第1分割共振器および前記第2分割共振器の共振周波数は、前記第3分割共振器、前記第4分割共振器および前記第5分割共振器の共振周波数よりも低いことが、本発明の一形態とされる。
前記第3分割共振器のキャパシタンスは、前記第4分割共振器および前記第5分割共振器のキャパシタンスよりも大きいことが、本開示の一形態とされる。
前記第4分割共振器および前記第5分割共振器の共振周波数は、前記第3分割共振器の共振周波数よりも低いことが、本開示の一形態とされる。
前記圧電基板は、ニオブ酸リチウムまたはタンタル酸リチウムの単結晶からなる基板であることが、本開示の一形態とされる。
前記圧電基板の前記複数の共振器が形成された主面とは反対の主面に支持基板を備え、前記支持基板は、サファイア、シリコン、アルミナ、スピネル、水晶またはガラスからなる基板であることが、本開示の一形態とされる。
前記複数の共振器は、デュプレクサとして機能することが、本開示の一形態とされる。
前記弾性波デバイスを備えるモジュールが、本開示の一形態とされる。
本開示によれば、弾性波デバイスの耐電力性を向上することができる。
図1は実施の形態1における弾性波デバイスの縦断面図である。 図2は実施の形態1における弾性波デバイスの弾性波素子(共振器)の例を示す図である。 図3は実施の形態1における弾性波デバイスの例を示す図である。 図4は、実施の形態1における第2直列共振器と比較例の共振器の耐電力を示す図である。 図5は、実施の形態1における第2直列共振器の5つの直列分割共振器のキャパシタンスをすべて同じ値にし、かつ、第3直列分割共振器D3の共振周波数を最も高くし、次いで、第4直列分割共振器D4および第5直列分割共振器D5の共振周波数を高くし、第1直列分割共振器D1および第2直列分割共振器D2の共振周波数を最も低くした変形例と、第2比較例の共振器の耐電力を示す図である。 図6は、実施の形態1における第2直列共振器と比較例の共振器の消費電力を示す図である。 図7は、変形例の共振器と第2比較例の共振器の消費電力を示す図である。 図8は、実施の形態1の弾性波デバイスが適用されるモジュールの縦断面図である。
実施の形態について添付の図面に従って説明する。なお、各図中、同一または相当する部分には同一の符号が付される。当該部分の重複説明は適宜に簡略化ないし省略される。
実施の形態1.
図1は実施の形態1における弾性波デバイスの縦断面図である。
図1に示すように、弾性波デバイス20は、配線基板23、外部接続端子24、デバイスチップ25、電極パッド26、バンプ27および封止部28を備える。
例えば、配線基板23は、樹脂からなる多層基板である。例えば、配線基板23は、複数の誘電体層からなる低温同時焼成セラミックス(Low Temperature Co-fired Ceramics:LTCC)多層基板である。
外部接続端子24は、配線基板23の下面に複数形成される。
電極パッド26は、配線基板23の主面に複数形成される。例えば、電極パッド26は、銅または銅を含む合金で形成される。例えば、電極パッド26の厚みは、10μmから20μmである。
バンプ27は、電極パッド26のそれぞれの上面に形成される。例えば、バンプ27は、金バンプである。例えば、バンプ27の高さは、10μmから50μmである。
配線基板23とデバイスチップ25の間は、空隙29が形成されている。
デバイスチップ25は、バンプ27を介して、配線基板23にフリップチップボンディングにより実装される。デバイスチップ25は、複数のバンプ27を介して複数の電極パッド26と電気的に接続される。
デバイスチップ25は、例えば表面弾性波デバイスチップである。デバイスチップ25は、圧電材料で形成された圧電基板を備えている。圧電基板は、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウムまたは水晶などの圧電単結晶で形成された基板である。
圧電基板の厚みは、例えば、100μmから300μmとすることができる。別の例によれば、圧電基板は、圧電セラミックスで形成された基板である。
さらに別の例によれば、デバイスチップ25は、圧電基板と支持基板とが接合された基板である。支持基板は、例えば、サファイア、シリコン、アルミナ、スピネル、水晶またはガラスで形成された基板である。この場合の圧電基板の厚みは、例えば、0.3μmから5μmとすることができる。
圧電基板上に、弾性波素子52が形成される。例えば、デバイスチップ25の主面において、複数の弾性波素子52を含む、送信用フィルタまたは受信用フィルタが形成される。
別の例によれば、デバイスチップ25の主面上に、送信フィルタおよび受信用フィルタを含むデュプレクサが形成される。
送信用フィルタは、所望の周波数帯域の電気信号が通過し得るように形成される。例えば、送信用フィルタは、複数の直列共振器と複数の並列共振器からなるラダー型フィルタである。
受信用フィルタは、所望の周波数帯域の電気信号が通過し得るように形成される。例えば、受信用フィルタは、ラダー型フィルタである。
封止部28は、デバイスチップ25を覆うように形成される。例えば、封止部28は、合成樹脂等の絶縁体により形成される。例えば、封止部28は、金属で形成される。
封止部28が合成樹脂で形成される場合、当該合成樹脂は、エポキシ樹脂、ポリイミドなどである。好ましくは、封止部28は、エポキシ樹脂を用い、低温硬化プロセスを用いてエポキシ樹脂で形成される。
次に、図2を用いて、デバイスチップ25上に形成された弾性波素子52の例を説明する。図2は実施の形態1における弾性波デバイスの弾性波素子(共振器)の例を示す図である。
図2に示されるように、IDT(Interdigital Transducer)電極52aと一対の反射器52bとは、デバイスチップ25の主面に形成される。IDT電極52aと一対の反射器52bは、弾性波(主にSH波)を励振し得るように設けられる。
例えば、IDT電極52aと一対の反射器52bとは、アルミニウムと銅の合金で形成される。例えば、IDT52aと一対の反射器52bとは、アルミニウム、モリブデン、イリジウム、タングステン、コバルト、ニッケル、ルテニウム、クロム、ストロンチウム、チタン、パラジウム、銀などの適宜の金属もしくはこれらの合金で形成される。
例えば、IDT電極52aと一対の反射器52bとは、複数の金属層が積層した積層金属膜により形成される。例えば、IDT電極52aと一対の反射器52bとの厚みは、150nmから450nmである。
IDT電極52aは、一対の櫛形電極52cを備える。一対の櫛形電極52cは、互いに対向する。櫛形電極52cは、複数の電極指52dとバスバー52eとを備える。
複数の電極指52dは、長手方向を合わせて配置される。バスバー52eは、複数の電極指52dを接続する。
一対の反射器52bの一方は、IDT電極52aの一側に隣接する。一対の反射器52bの他方は、IDT電極52aの他側に隣接する。
次に、図3を用いて、デバイスチップ25上に形成された送信フィルタの例を説明する。図3は実施の形態1における弾性波デバイスの例を示す図である。
図3に示されるように、デバイスチップ25上に、バンドパスフィルタである送信フィルタ30が形成されている。送信フィルタ30は、例えば、複数の直列共振器である、第1直列共振器S1および第2直列共振器S2を含んでいる。送信フィルタ30は、例えば複数の並列共振器である、第1並列共振器P1および第2並列共振器P2を含み、また、入力パッドIN、アンテナパッドANTおよびグランドパッドGNDを含む、ラダー型フィルタである。
第1直列共振器S1は、複数の直列分割共振器を含んでいる。第2直列共振器S2は、複数の直列分割共振器、すなわち、第1直列分割共振器D1、第2直列分割共振器D2、第3直列分割共振器D3、第4直列分割共振器D4および第5直列分割共振器D5を含んでいる。
第1直列分割共振器D1、第2直列分割共振器D2、第3直列分割共振器D3、第4直列分割共振器D4および第5直列分割共振器D5は、IDT電極を含むことができる。
第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、第1直列分割共振器D1は、入力パッドINに印加された電気信号が最初に印加される位置に配置された直列分割共振器である。第1直列分割共振器D1のキャパシタンスと共振周波数は、例えば、Band7の送信フィルタにおいて、例えば、2.54pF、2543.2MHzとすることができる。
第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、第2直列分割共振器D2は、入力パッドINに印加された電気信号が最後に印加される位置に配置された直列分割共振器である。第2直列分割共振器D2のキャパシタンスと共振周波数は、例えば、Band7の送信フィルタにおいて、例えば、2.54pF、2543.2MHzとすることができる。
第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、第3直列分割共振器D3は、第1直列分割共振器D1と第2直列分割共振器D2の間に配置された直列分割共振器である。第3直列分割共振器D3のキャパシタンスと共振周波数は、例えば、Band7の送信フィルタにおいて、例えば、2.61pF、2549.3MHzとすることができる。
第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、第4直列分割共振器D4は、第1直列分割共振器D1と第3直列分割共振器D3の間に配置された直列分割共振器である。第4直列分割共振器D4のキャパシタンスと共振周波数は、例えば、Band7の送信フィルタにおいて、例えば、2.56pF、2546.2MHzとすることができる。
第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、第5直列分割共振器D5は、第2直列分割共振器D2と第3直列分割共振器D3の間に配置された直列分割共振器である。第5直列分割共振器D5のキャパシタンスと共振周波数は、例えば、Band7の送信フィルタにおいて、例えば、2.56pF、2546.2MHzとすることができる。

入力パッドIN、アンテナパッドANTおよびグランドパッドGNDには、それぞれにバンプ27が配置され、配線基板23上に形成されたバンプパッド26と電気的に接続される。
ここで、直列分割共振器を含む共振器は、電気信号が印加され、励起することで発熱する。放熱が十分でないと、高温状態が長く継続することで、ストレスマイグレーション現象が生じやすく、共振器は、破壊されやすい。共振器は、主に配線を通してバンプから放熱される。また、圧電基板を通しても放熱するものの、圧電基板は熱伝導性が一般的に悪く、放熱されにくい。
ここで、第1直列分割共振器D1と第2直列分割共振器D2は、第3直列分割共振器D3と比べて、入力パッドINに形成されるバンプ27との距離、第グランドパッドGNDに形成されるバンプ27との距離よりも小さい。よって、第1直列分割共振器D1と第2直列分割共振器D2は、第3直列分割共振器D3よりも放熱されやすい。
換言すれば、第3直列分割共振器D3は、第1直列分割共振器D1と第2直列分割共振器D2よりも放熱されにくく、放熱の観点からより耐電力が要請される。
さらに、第3直列分割共振器D3は、中央に配置された直列分割共振器である。第3直列分割共振器D3が励起し発熱するときは、第1直列分割共振器D1および第2直列分割共振器D2も励起し発熱する。第3直列分割共振器D3は、発熱体に挟まれ、かつ、放熱経路から放熱できる放熱量が第1直列分割共振器D1および第2直列分割共振器D2に比較して少ない。
よって、第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、中央に配置された第3直列分割共振器D3は、放熱の観点から、より耐電力が要請される。
第4直列分割共振器D4は、第1直列分割共振器D1と第3直列分割共振器D3の間に配置された直列分割共振器である。第4直列分割共振器D4が励起し発熱するときは、第1直列分割共振器D1および第3直列分割共振器D3も励起し発熱する。第4直列分割共振器D4は、発熱体に挟まれ、かつ、放熱経路から放熱できる放熱量が第1直列分割共振器D1に比較して少ないが、第3直列分割共振器D3に比較すると放熱されやすい。
よって、第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、第4直列分割共振器D4は、放熱の観点から、第1直列分割共振器D1より耐電力が要請されるが、第3直列分割共振器D3よりは耐電力が要請されない。
第5直列分割共振器D5は、第2直列分割共振器D2と第3直列分割共振器D3の間に配置された直列分割共振器である。第5直列分割共振器D5が励起し発熱するときは、第2直列分割共振器D2および第3直列分割共振器D3も励起し発熱する。第5直列分割共振器D5は、発熱体に挟まれ、かつ、放熱経路から放熱できる放熱量が第2直列分割共振器D2に比較して少ないが、第3直列分割共振器D3に比較すると放熱されやすい。
よって、第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、第5直列分割共振器D5は、放熱の観点から、第2直列分割共振器D2より耐電力が要請されるが、第3直列分割共振器D3よりは耐電力が要請されない。
ここで、一般に、共振器は、キャパシタンスが大きいほど、IDT電極の変位量が小さくなり、耐電力が大きくなる。よって、第3直列分割共振器D3は、第1直列分割共振器D1と第2直列分割共振器D2よりもキャパシタンスを大きくした。これにより、第2直列共振器S2の耐電力が向上する。
また、第4直列分割共振器D4および第5直列分割共振器D5は、第1直列分割共振器D1および第2直列分割共振器D2よりもキャパシタンスを大きくした。これにより、さらに第2直列共振器S2の耐電力が向上する。
このように、熱がたまりやすい中央に配置される直列分割共振器ほど、キャパシタンスを大きくして、変位量を下げる。そのかわり、外側に配置される直列分割共振器は、キャパシタンスが小さくならざるを得なくなり、変位量が大きくなり、耐電力が下がるが、共振器のサイズが限られたなかで、共振器の全体としてみたときに、耐電力がより高くなる。
送信フィルタ30の通過帯域は、例えば、Band7において、2500MHz~2570MHzとすることができる。
ここで、ラダー型フィルタの直列共振器は、その共振周波数が、通過帯域において最も高い周波数である2570MHz(システム周波数)よりも高周波側において、2570MHzに近づくほど、発熱しやすい。
よって、第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、耐電力が最も要求される第3直列分割共振器D3の共振周波数を2549.3MHzとし、第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、例えば最も放熱がよい第1直列分割共振器D1の共振周波数を2543.2MHzとした。これにより、さらに第2直列共振器S2の耐電力が向上する。
図4は、実施の形態1における第2直列共振器と比較例の共振器の耐電力を示す図である。実線は実施の形態1における第2直列共振器の耐電力を示している。破線は比較例における共振器の耐電力を示している。
比較例における共振器は、いずれも同じキャパシタンスを有する5つの直列分割共振器を備える。
ここで耐電力は、消費電力と電極指の変位量の積を、共振器の面積で除した値であるSDV値を用いて比較する。SDV値は、SAW durability valueであって、共振器がその単位面積当たりにおいてかかる負荷を示しており、低い値ほど耐電力が高いことを意味する。
図4に示す通り、実施の形態1における第2直列共振器のほうが、比較例の共振器よりも耐電力が優れていることがわかる。
図5は、実施の形態1における第2直列共振器の5つの直列分割共振器のキャパシタンスをすべて同じ値にし、かつ、第3直列分割共振器D3の共振周波数を最も高くし、次いで、第4直列分割共振器D4および第5直列分割共振器D5の共振周波数を高くし、第1直列分割共振器D1および第2直列分割共振器D2の共振周波数を最も低くした変形例と、第2比較例の共振器の耐電力を示す図である。実線は実施の形態1における変形例の耐電力を示している。破線は第2比較例における共振器の耐電力を示している。
第2比較例における共振器は、いずれも同じキャパシタンスおよび共振周波数を有する5つの直列分割共振器を備える。
図5に示す通り、変形例の共振器ほうが第2比較例の共振器よりも耐電力が優れていることがわかる。
図6は、実施の形態1における第2直列共振器と比較例の共振器の消費電力を示す図である。実線は実施の形態1における第2直列共振器の消費電力を示している。破線は比較例における共振器の消費電力を示している。
図6に示す通り、実施の形態1における第2直列共振器のほうが、比較例の共振器よりも消費電力が少なく、環境性能が優れていることがわかる。
図7は、変形例の共振器と第2比較例の共振器の消費電力を示す図である。実線は変形例の共振器の消費電力を示している。破線は第2比較例における共振器の消費電力を示している。
図7に示す通り、変形例の共振器のほうが、第2比較例の共振器よりも消費電力が少なく、環境性能が優れていることがわかる。
以上で説明された実施の形態1によれば、耐電力が求められる直列分割共振器された共振器において、そのサイズを大きくしなくとも、耐電力を向上させることができる。よって、耐電力が向上した弾性波デバイスを提供することができる。また、消費電力が少ない、環境性能に優れた弾性波デバイスを提供することができる。
実施の形態2.
図8は、実施の形態1の弾性波デバイスが適用されるモジュールの縦断面図である。なお、実施の形態1の部分と同一又は相当部分には同一符号が付される。当該部分の説明は省略される。
図8において、モジュール100は、配線基板130と複数の外部接続端子131と集積回路部品ICと弾性波デバイス20とインダクタ111と封止部117とを備える。
複数の外部接続端子131は、配線基板130の下面に形成される。複数の外部接続端子131は、予め設定された移動通信端末のマザーボードに実装される。
例えば、集積回路部品ICは、配線基板130の内部に実装される。集積回路部品ICは、スイッチング回路とローノイズアンプとを含む。
弾性波デバイス20は、配線基板130の主面に実装される。
インダクタ111は、配線基板130の主面に実装される。インダクタ111は、インピーダンスマッチングのために実装される。例えば、インダクタ111は、Integrated Passive Device(IPD)である。
封止部117は、弾性波デバイス20を含む複数の電子部品を封止する。
以上で説明された実施の形態2によれば、モジュール100は、弾性波デバイス20を備える。このため、より耐電力が向上した弾性波デバイスを備えるモジュールを提供できる。
少なくとも一つの実施形態のいくつかの側面が説明されたが、様々な改変、修正および改善が当業者にとって容易に想起されることを理解されたい。かかる改変、修正および改善は、本開示の一部となることが意図され、かつ、本開示の範囲内にあることが意図される。
理解するべきことだが、ここで述べられた方法および装置の実施形態は、上記説明に記載され又は添付図面に例示された構成要素の構造および配列の詳細への適用に限られない。方法および装置は、他の実施形態で実装し、様々な態様で実施又は実行することができる。
特定の実装例は、例示のみを目的としてここに与えられ、限定されることを意図しない。
本開示で使用される表現および用語は、説明目的であって、限定としてみなすべきではない。ここでの「含む」、「備える」、「有する」、「包含する」およびこれらの変形の使用は、以降に列挙される項目およびその均等物並びに付加項目の包括を意味する。
「又は(若しくは)」の言及は、「又は(若しくは)」を使用して記載される任意の用語が、当該記載の用語の一つの、一つを超える、およびすべてのものを示すように解釈され得る。
前後左右、頂底上下、横縦、表裏への言及は、いずれも、記載の便宜を意図する。当該言及は、本開示の構成要素がいずれか一つの位置的又は空間的配向に限られるものではない。したがって、上記説明および図面は、例示にすぎない。
20 弾性波デバイス、 23 配線基板、 24 外部接続端子
25 デバイスチップ、 26 電極パッド、 27 バンプ 28 封止部
52 弾性波素子、 52a IDT電極、 52b 反射器
52c 櫛形電極、 52d 電極指、 52e バスバー
30 送信フィルタ、 S1 第1直列共振器、 S2 第2直列共振器
P1 第1並列共振器、 P2 第2並列共振器
IN 入力パッド、 ANT アンテナパッド、 GND グランドパッド
D1 第1直列分割共振器、 D2 第2直列分割共振器、 D3 第3直列分割共振器、 D4 第4直列分割共振器、 D5 第5直列分割共振器
100 モジュール、 130 配線基板、 131 外部接続端子
IC 集積回路部品、 111 インダクタ、 117 封止部

Claims (11)

  1. 圧電基板と、
    前記圧電基板上に形成された複数の共振器と
    を備え、
    前記複数の共振器の少なくとも1つは、直列に分割された、入力される電気信号が最初に入力される第1分割共振器と、入力される電気信号が最後に入力される第2分割共振器と、前記第1分割共振器と前記第2分割共振器の間に配置された第3分割共振器とを含む多段分割共振器であり、
    前記第3分割共振器のキャパシタンスは、前記第1分割共振器のキャパシタンスおよび前記第2分割共振器のキャパシタンスよりも大きく、
    前記複数の共振器のそれぞれは、IDT電極を有する表面弾性波共振器である弾性波デバイス。
  2. 前記第1分割共振器の共振周波数および前記第2分割共振器の共振周波数は、前記第3分割共振器の共振周波数よりも低い請求項1に記載の弾性波デバイス。
  3. 前記多段分割共振器は、前記第1分割共振器と前記第3分割共振器の間に配置された第4分割共振器と、前記第2分割共振器と前記第3分割共振器の間に配置された第5分割共振器とを含む請求項1に記載の弾性波デバイス。
  4. 前記第3分割共振器、前記第4分割共振器および前記第5分割共振器のキャパシタンスは、前記第1分割共振器および前記第2分割共振器のキャパシタンスよりも大きい請求項3に記載の弾性波デバイス。
  5. 前記第1分割共振器および前記第2分割共振器の共振周波数は、前記第3分割共振器、前記第4分割共振器および前記第5分割共振器の共振周波数よりも低い請求項3に記載の弾性波デバイス。
  6. 前記第3分割共振器のキャパシタンスは、前記第4分割共振器および前記第5分割共振器のキャパシタンスよりも大きい請求項3に記載の弾性波デバイス。
  7. 前記第4分割共振器および前記第5分割共振器の共振周波数は、前記第3分割共振器の共振周波数よりも低い請求項3に記載の弾性波デバイス。
  8. 前記圧電基板は、ニオブ酸リチウムまたはタンタル酸リチウムの単結晶からなる基板である請求項1から7のいずれか一項に記載の弾性波デバイス。
  9. 前記圧電基板の前記複数の共振器が形成された主面とは反対の主面に支持基板を備え、前記支持基板は、サファイア、シリコン、アルミナ、スピネル、水晶またはガラスからなる基板である請求項1から7のいずれか一項に記載の弾性波デバイス。
  10. 前記複数の共振器は、デュプレクサとして機能する請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の弾性波デバイス。
  11. 請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の弾性波デバイスを備えるモジュール。
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