JP7370546B1 - 弾性波デバイス - Google Patents

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Abstract

Figure 0007370546000001
【課題】耐電力がより向上した弾性波デバイスを提供する。
【解決手段】弾性波デバイスは、圧電基板と、複数の直列共振器を備える。複数の直列共振器は、第1直列共振器S1と第2直列共振器S2を含む。第1直列共振器は、少なくとも第1~第3直列分割共振器D1~D3を含む。第2直列共振器は、少なくとも第4~第6直列分割共振器D4~D6を含む。第1直列分割共振器D1、第2直列分割共振器D2及び第3直列分割共振器D3のうち、最初に電気信号が印加される位置に配置された直列分割共振器の***振周波数は第1***振周波数であり、他の直列分割共振器の***振周波数は第2***振周波数であり、第4直列分割共振器D4、第5直列分割共振器D5及び第6直列分割共振器D6のうち、中央に配置された直列分割共振器の***振周波数は第2***振周波数であり、他の直列分割共振器の***振周波数は第1***振周波数である。
【選択図】図3

Description

本開示は、弾性波デバイスに関する。詳しくはSH波を用いる弾性表面波デバイス、例えば、フィルタ、デュプレクサまたはマルチプレクサに関する。
スマートフォンを代表とする移動通信端末の高周波通信用システムにおいて、通信に使用する周波数帯以外の不要な信号を除去するために、高周波フィルタ等が用いられている。
高周波フィルタ等には、弾性表面波(SAW:Surface acoustic wave)素子等を有する弾性波デバイスが用いられている。SAW素子は、圧電基板上に一対の櫛型電極を有するIDT(Interdigital Transducer)を形成した素子である。
例えば、弾性表面波デバイスは、以下のように製造される。まず、弾性波を伝搬させる圧電基板とこの圧電基板よりも小さな熱膨張係数を持つ支持基板とを接合した多層膜基板を作成する。次に、その多層膜基板にフォトリソグラフィ技術を用いて多数のIDT電極を形成し、その後、ダイシングにより所定のサイズに切り出して弾性表面波デバイスとする。この製造方法では、多層膜基板を利用することにより、温度が変化したときの圧電基板の大きさの変化が支持基板により抑制されるため、弾性波デバイスとしての周波数特性が安定化する。
例えば、特許文献1には、耐電力を向上させるため、弾性波共振器を直列に分割する技術が開示されている。
特開2006-74202号公報
しかしながら、3個以上に分割された直列分割共振器は、真ん中に近い直列分割共振器ほど、放熱経路がなく、熱が滞留する。その結果、耐電力が十分に向上しない。
本開示は、上述の課題を解決するためになされた。本開示の目的は、耐電力がより向上した弾性波デバイスを提供することである。
本発明にかかる弾性波デバイスは、
圧電基板と、
前記圧電基板上に形成された入力パッドと、
前記圧電基板上に形成された出力パッドと、
前記圧電基板上に形成されたグランドパッドと、
前記圧電基板上に形成された複数の直列共振器および複数の並列共振器と、
を備え、
前記複数の直列共振器および前記複数の並列共振器はバンドパスフィルタを構成しており、
前記複数の直列共振器は、第1直列共振器と第2直列共振器を含む、3個以上の直列共振器を有し、
前記第1直列共振器は、少なくとも第1直列分割共振器、第2直列分割共振器および第3直列分割共振器を含み、
前記第2直列共振器は、前記第1直列共振器よりも前記入力パッドから電気的に離れた位置に配置され、前記入力パッド、前記出力パッドおよび前記グランドパッドのいずれとも直接接続されておらず、前記第1直列共振器よりも放熱されにくく、かつ、少なくとも第4直列分割共振器、第5直列分割共振器および第6直列分割共振器を含み、
前記第1直列分割共振器、前記第2直列分割共振器および前記第3直列分割共振器のうち、最初に前記入力パッドから印加された電気信号が印加される位置に配置された直列分割共振器の***振周波数は、第1***振周波数であり、前記最初に前記入力パッドから印加された電気信号が印加される位置に配置された直列分割共振器以外の直列分割共振器の***振周波数は、前記第1***振周波数よりも高周波である第2***振周波数であり、
前記第1***振周波数および前記第2***振周波数は前記バンドパスフィルタの通過帯域において最も高い周波数よりも高い周波数であり、
前記第4直列分割共振器、前記第5直列分割共振器および前記第6直列分割共振器のうち、中央に配置された直列分割共振器の***振周波数は、前記第2***振周波数であり、前記中央に配置された直列分割共振器以外の直列分割共振器の***振周波数は、前記第1***振周波数である弾性波デバイスとした。
前記複数の直列共振器および前記複数の並列共振器は複数の電極指を有するIDT電極を含み、
前記第1直列分割共振器、前記第2直列分割共振器および前記第3直列分割共振器のうち、最初に前記入力パッドから印加された電気信号が印加される位置に配置された直列分割共振器は、前記第4直列分割共振器、前記第5直列分割共振器および前記第6直列分割共振器のうち、中央に配置された直列分割共振器よりも電極指の数が多いことが、本開示の一形態とされる
前記圧電基板は、ニオブ酸リチウムまたはタンタル酸リチウムの単結晶からなる基板であることが、本発明の一形態とされる。
前記圧電基板の前記複数の直列共振器および前記複数の並列共振器が形成された主面とは反対の主面に支持基板を備え、前記支持基板は、サファイア、シリコン、アルミナ、スピネル、水晶またはガラスからなる基板であることが、本発明の一形態とされる。
前記弾性波デバイスを備えるモジュールであることが、本開示の一形態とされる。
本開示によれば、耐電力がより向上した弾性波デバイスを提供できる。
図1は、実施の形態1にかかる弾性波デバイスを示す断面図である。 図2は実施の形態1における弾性波デバイスの弾性波素子の例を示す図である。 図3は実施の形態1における弾性波デバイスの例を示す図である。 図4は、実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタと比較例の通過特性を示す図である。 図5は、実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタと比較例の第5直列分割共振器D5の耐電力を示す図である。 図6は、実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタと比較例の第1直列分割共振器D1の耐電力を示す図である。 図7は、変形例にかかる第1直列分割共振器D1を採用した実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタと比較例の耐電力試験の結果を示す図である。 図8は、実施の形態2の弾性波デバイスが適用されるモジュールの縦断面図である。
実施の形態について添付の図面に従って説明する。なお、各図中、同一または相当する部分には同一の符号が付される。当該部分の重複説明は適宜に簡略化ないし省略される。
実施の形態1.
図1は、実施の形態1にかかる弾性波デバイスを示す断面図である。
図1に示すように、弾性波デバイス20は、配線基板23、外部接続端子24、デバイスチップ25、電極パッド26、バンプ27および封止部28を備える。
例えば、配線基板23は、樹脂からなる多層基板である。例えば、配線基板23は、複数の誘電体層からなる低温同時焼成セラミックス(Low Temperature Co-fired Ceramics:LTCC)多層基板である。
外部接続端子24は、配線基板23の下面に複数形成される。
電極パッド26は、配線基板23の主面に複数形成される。例えば、電極パッド26は、銅または銅を含む合金で形成される。例えば、電極パッド26の厚みは、10μmから20μmである。
バンプ27は、電極パッド26のそれぞれの上面に形成される。例えば、バンプ27は、金バンプである。例えば、バンプ27の高さは、10μmから50μmである。
配線基板23とデバイスチップ25の間は、空隙29が形成されている。
デバイスチップ25は、バンプ27を介して、配線基板23にフリップチップボンディングにより実装される。デバイスチップ25は、複数のバンプ27を介して複数の電極パッド26と電気的に接続される。
デバイスチップ25は、例えば表面弾性波デバイスチップである。デバイスチップ25は、圧電材料で形成された圧電基板を備えている。圧電基板は、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウムまたは水晶などの圧電単結晶で形成された基板である。
圧電基板の厚みは、例えば、0.3μmから5μmとすることができる。別の例によれば、圧電基板は、圧電セラミックスで形成された基板である。
さらに別の例によれば、圧電基板は、圧電基板と支持基板とが接合された基板である。支持基板は、例えば、サファイア、シリコン、アルミナ、スピネル、水晶またはガラスで形成された基板である。
圧電基板上に、弾性波素子52が形成される。例えば、デバイスチップ25の主面において、複数の弾性波素子52を含む、送信用フィルタがまたは受信用フィルタが形成される。
別の例によれば、デバイスチップ25の主面上に、送信フィルタおよび受信用フィルタを含むデュプレクサが形成される。
送信用フィルタは、所望の周波数帯域の電気信号が通過し得るように形成される。例えば、送信用フィルタは、複数の直列共振器と複数の並列共振器からなるラダー型フィルタである。
受信用フィルタは、所望の周波数帯域の電気信号が通過し得るように形成される。例えば、受信用フィルタは、ラダー型フィルタである。
封止部28は、デバイスチップ25を覆うように形成される。例えば、封止部28は、合成樹脂等の絶縁体により形成される。例えば、封止部28は、金属で形成される。
封止部28が合成樹脂で形成される場合、当該合成樹脂は、エポキシ樹脂、ポリイミドなどである。好ましくは、封止部28は、エポキシ樹脂を用い、低温硬化プロセスを用いてエポキシ樹脂で形成される。
次に、図2を用いて、デバイスチップ25上に形成された弾性波素子52の例を説明する。図2は実施の形態1における弾性波デバイスの弾性波素子(共振器)の例を示す図である。
図2に示されるように、IDT(Interdigital Transducer)52aと一対の反射器52bとは、デバイスチップ25の主面に形成される。IDT52aと一対の反射器52bは、弾性波(主にSH波)を励振し得るように設けられる。
例えば、IDT52aと一対の反射器52bとは、アルミニウムと銅の合金で形成される。例えば、IDT52aと一対の反射器52bとは、アルミニウム、モリブデン、イリジウム、タングステン、コバルト、ニッケル、ルテニウム、クロム、ストロンチウム、チタン、パラジウム、銀などの適宜の金属もしくはこれらの合金で形成される。
例えば、IDT52aと一対の反射器52bとは、複数の金属層が積層した積層金属膜により形成される。例えば、IDT52aと一対の反射器52bとの厚みは、150nmから450nmである。
IDT52aは、一対の櫛形電極52cを備える。一対の櫛形電極52cは、互いに対向する。櫛形電極52cは、複数の電極指52dとバスバー52eとを備える。
複数の電極指52dは、長手方向を合わせて配置される。バスバー52eは、複数の電極指52dを接続する。
一対の反射器52bの一方は、IDT52aの一側に隣接する。一対の反射器52bの他方は、IDT52aの他側に隣接する。
次に、図3を用いて、デバイスチップ25上に形成された送信フィルタの例を説明する。図3は実施の形態1における弾性波デバイスの例を示す図である。
図3に示されるように、デバイスチップ25上に、バンドパスフィルタである送信フィルタ30が形成されている。送信フィルタ30は、第1直列共振器S1、第2直列共振器S2、第1並列共振器P1、第2並列共振器P2、入力パッドIN、アンテナパッドANTおよびグランドパッドGNDを含む、ラダー型フィルタである。
第1直列共振器S1は、第1直列分割共振器D1、第2直列分割共振器D2および第3直列分割共振器D3を含んでいる。第2直列共振器S2は、第4直列分割共振器D4、第5直列分割共振器D5および第6直列分割共振器D6を含んでいる。
第1直列分割共振器D1、第2直列分割共振器D2、第3直列分割共振器D3、第4直列分割共振器D4、第5直列分割共振器D5および第6直列分割共振器D6は、IDTを含むことができる。
一例によれば、第1直列分割共振器D1、第2直列分割共振器D2、第3直列分割共振器D3、第4直列分割共振器D4、第5直列分割共振器D5および第6直列分割共振器D6の電極指の数は、ぞれぞれ、328本、314本、314本、328本、314本、328本とすることができる。
第1直列共振器S1の直列分割共振器のうち、第1直列分割共振器D1は、入力パッドINに印加された電気信号が最初に印加される位置に配置された直列分割共振器である。第1直列分割共振器D1の***振周波数は、例えば、Band7の送信フィルタにおいて、例えば、2638MHzとすることができる。
第1直列共振器S1の直列分割共振器のうち、第2直列分割共振器D2および第3直列分割共振器D3は、入力パッドINに印加された電気信号が最初に印加される位置に配置された直列分割共振器以外の直列分割共振器である。第2直列分割共振器D2および第3直列分割共振器D3の***振周波数は、例えば、Band7の送信フィルタにおいて、例えば、2645MHzとすることができる。
第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、第5直列分割共振器D5は、中央に配置された直列分割共振器である。第5直列分割共振器D5の***振周波数は、例えば、Band7の送信フィルタにおいて、例えば、2645MHzとすることができる。
第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、第4直列分割共振器D4および第6直列分割共振器D6は、中央に配置された直列分割共振器以外の直列分割共振器である。第4直列分割共振器D4および第6直列分割共振器D6の***振周波数は、例えば、Band7の送信フィルタにおいて、例えば、2638MHzとすることができる。
入力パッドIN、アンテナパッドANTおよびグランドパッドGNDには、それぞれにバンプ27が配置され、配線基板23上に形成されたバンプパッド26と電気的に接続される。
共振器は、電気信号が印加され、励起することで発熱する。放熱が十分でないと、高温状態が長く継続することで、共振器は、破壊されやすい。共振器は、主に配線を通してバンプから放熱される。
ここで、第1直列共振器S1と入力パッドINに形成されるバンプ27の距離は、第2直列共振器S2と入力パッドINに形成されるバンプ27の距離よりも小さい。よって、第1直列共振器S1は、第2直列共振器S2よりも放熱されやすい。
換言すれば、第2直列共振器S2は、第1直列共振器S1よりも放熱されにくく、放熱の観点からより耐電力が要請される。
第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、第5直列分割共振器D5は、中央に配置された直列分割共振器である。第5直列分割共振器D5が励起し発熱するときは、第4直列分割共振器D4および第6直列分割共振器D6も励起し発熱する。第5直列分割共振器D5は、発熱体に挟まれ、かつ、放熱経路から放熱できる放熱量が第4直列分割共振器D4および第6直列分割共振器D6に比較して少ない。
よって、第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、中央に配置された第5直列分割共振器D5は、放熱の観点から、より耐電力が要請される。
第1直列共振器S1の直列分割共振器のうち、入力パッドINに印加された電気信号が最初に印加される位置に配置された第1直列分割共振器D1は、最もバンプに近いため、放熱がよい。
送信フィルタ30の通過帯域は、例えば、Band7において、2500MHz~2570MHzとすることができる。第1直列分割共振器D1、第4直列分割共振器D4および第6直列分割共振器D6の***振周波数は、2638MHz(第1***振周波数)であり、第2直列分割共振器D2、第3直列分割共振器D3および第5直列分割共振器D5の***振周波数は2645MHz(第2***振周波数)である。
ここで、ラダー型フィルタの直列共振器は、その***振周波数が、通過帯域において最も高い周波数である2570MHz(システム周波数)よりも高周波側において、2570MHzに近づくほど、発熱しやすい。よって、第2直列共振器S2の直列分割共振器のうち、耐電力が最も要求される第5直列分割共振器D5の***振周波数を2545MHzとし、第1直列共振器S1の直列分割共振器のうち、最も放熱がよい第1直列分割共振器D1の***振周波数を2638MHzとした。
図4は、実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタと比較例の通過特性を示す図である。実線は実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタの通過特性を示している。破線は比較例にかかる送信フィルタの通過特性を示している。
比較例にかかる送信フィルタは、第5直列分割共振器D5の***振周波数を2638MHzとし、第1直列分割共振器D1を2645MHzとした。その他の構成は実施の形態1にかかる弾性波デバイス送信フィルタと同様である。
図4に示すとおり、実施の形態1にかかる弾性波デバイスと比較例の送信フィルタの通過特性は、ほとんど変わりはない。すなわち、本発明を適用することによる通過特性への悪影響はほとんどないと考えられる。
図5は、実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタと比較例の第5直列分割共振器D5の耐電力を示す図である。実線は実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタの第5直列分割共振器D5の耐電力を示している。破線は比較例にかかる送信フィルタの第5直列分割共振器D5の耐電力を示している。
ここで耐電力は、消費電力と電極指の変位量の積を、共振器の面積で除した値であるSDV値を用いて比較する。SDV値は、SAW durability valueであって、共振器がその単位面積当たりにおいてかかる負荷を示しており、低い値ほど耐電力が高いことを意味する。
図5に示すとおり、実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタの第5直列分割共振器D5は、比較例の第5直列分割共振器D5に比べて、SDV値が大幅に低減され、耐電力が大幅に向上していることがわかる。
図6は、実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタと比較例の第1直列分割共振器D1の耐電力を示す図である。実線は実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタの第1直列分割共振器D1の耐電力を示している。破線は比較例にかかる送信フィルタの第1直列分割共振器D1の耐電力を示している。
さらに、一点鎖線は、実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタの第1直列分割共振器D1の変形例の耐電力を示す。変形例は、電極指の数を400本とし、第5直列分割共振器D5の電極指の数よりも多くしたものである。
図6に示すとおり、実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタの第1直列分割共振器D1は、比較例の第5直列分割共振器D5に比べて、SDV値が上昇し、耐電力が低下していることがわかる。一方で、実施の形態1に比べて、変形例の第1直列分割共振器D1の耐電力は向上したことがわかる。
図7は、変形例にかかる第1直列分割共振器D1を採用した実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタと比較例の耐電力試験の結果を示す図である。実線は変形例にかかる第1直列分割共振器D1を採用した実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタの耐電力を示している。破線は比較例にかかる送信フィルタの耐電力を示している。
耐電力試験は、変形例にかかる第1直列分割共振器D1を採用した実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタと比較例をそれぞれ試作し、印加する電力を漸次上げていき、ヒューズするまでの印加電力を記録するものである。
図7に示すとおり、変形例にかかる第1直列分割共振器D1を採用した実施の形態1にかかる弾性波デバイスの送信フィルタは、比較例に比べて、耐電力が大幅に向上していることがわかる。
以上で説明された実施の形態1によれば、耐電力がより向上した弾性波デバイスを提供することができる。
実施の形態2.
図8は、実施の形態2の弾性波デバイスが適用されるモジュールの縦断面図である。なお、実施の形態2の部分と同一又は相当部分には同一符号が付される。当該部分の説明は省略される。
図8において、モジュール100は、配線基板130と複数の外部接続端子131と集積回路部品ICと弾性波デバイス20とインダクタ111と封止部117とを備える。
複数の外部接続端子131は、配線基板130の下面に形成される。複数の外部接続端子131は、予め設定された移動通信端末のマザーボードに実装される。
例えば、集積回路部品ICは、配線基板130の内部に実装される。集積回路部品ICは、スイッチング回路とローノイズアンプとを含む。
弾性波デバイス20は、配線基板130の主面に実装される。
インダクタ111は、配線基板130の主面に実装される。インダクタ111は、インピーダンスマッチングのために実装される。例えば、インダクタ111は、Integrated Passive Device(IPD)である。
封止部117は、弾性波デバイス20を含む複数の電子部品を封止する。
以上で説明された実施の形態2によれば、モジュール100は、弾性波デバイス20を備える。このため、より耐電力が向上した弾性波デバイスを備えるモジュールを提供できる。
少なくとも一つの実施形態のいくつかの側面が説明されたが、様々な改変、修正および改善が当業者にとって容易に想起されることを理解されたい。かかる改変、修正および改善は、本開示の一部となることが意図され、かつ、本開示の範囲内にあることが意図される。
理解するべきことだが、ここで述べられた方法および装置の実施形態は、上記説明に記載され又は添付図面に例示された構成要素の構造および配列の詳細への適用に限られない。方法および装置は、他の実施形態で実装し、様々な態様で実施又は実行することができる。
特定の実装例は、例示のみを目的としてここに与えられ、限定されることを意図しない。
本開示で使用される表現および用語は、説明目的であって、限定としてみなすべきではない。ここでの「含む」、「備える」、「有する」、「包含する」およびこれらの変形の使用は、以降に列挙される項目およびその均等物並びに付加項目の包括を意味する。
「又は(若しくは)」の言及は、「又は(若しくは)」を使用して記載される任意の用語が、当該記載の用語の一つの、一つを超える、およびすべてのものを示すように解釈され得る。
前後左右、頂底上下、横縦、表裏への言及は、いずれも、記載の便宜を意図する。当該言及は、本開示の構成要素がいずれか一つの位置的又は空間的配向に限られるものではない。したがって、上記説明および図面は、例示にすぎない。
20 弾性波デバイス
23 配線基板
24 外部接続端子
25 デバイスチップ
26 電極パッド
27 バンプ
28 封止部
29 空隙
30 送信フィルタ
IN 入力パッド
ANT アンテナパッド
GNG グランドパッド
S1 第1直列共振器
S2 第2直列共振器
D1~D6 第1直列分割共振器~第6直列分割共振器
P1 第1並列共振器
P2 第2並列共振器
52 弾性波素子、 52a IDT、 52b 反射器、 52c 櫛形電極、 52d 電極指
100 モジュール、 111 インダクタ、 117 封止部、 130 配線基板、 131 外部接続端子、 IC 集積回路部品


Claims (7)

  1. 圧電基板と、
    前記圧電基板上に形成された入力パッドと、
    前記圧電基板上に形成された出力パッドと、
    前記圧電基板上に形成されたグランドパッドと、
    前記圧電基板上に形成された複数の直列共振器および複数の並列共振器と、
    を備え、
    前記複数の直列共振器および前記複数の並列共振器はバンドパスフィルタを構成しており、
    前記複数の直列共振器は、第1直列共振器と第2直列共振器を含む、3個以上の直列共振器を有し、
    前記第1直列共振器は、少なくとも第1直列分割共振器、第2直列分割共振器および第3直列分割共振器を含み、
    前記第2直列共振器は、前記第1直列共振器よりも前記入力パッドから電気的に離れた位置に配置され、前記入力パッド、前記出力パッドおよび前記グランドパッドのいずれとも直接接続されておらず、前記第1直列共振器よりも放熱されにくく、かつ、少なくとも第4直列分割共振器、第5直列分割共振器および第6直列分割共振器を含み、
    前記第1直列分割共振器、前記第2直列分割共振器および前記第3直列分割共振器のうち、最初に前記入力パッドから印加された電気信号が印加される位置に配置された直列分割共振器の***振周波数は、第1***振周波数であり、前記最初に前記入力パッドから印加された電気信号が印加される位置に配置された直列分割共振器以外の直列分割共振器の***振周波数は、前記第1***振周波数よりも高周波である第2***振周波数であり、
    前記第1***振周波数および前記第2***振周波数は前記バンドパスフィルタの通過帯域において最も高い周波数よりも高い周波数であり、
    前記第4直列分割共振器、前記第5直列分割共振器および前記第6直列分割共振器のうち、中央に配置された直列分割共振器の***振周波数は、前記第2***振周波数であり、前記中央に配置された直列分割共振器以外の直列分割共振器の***振周波数は、前記第1***振周波数である弾性波デバイス。
  2. 前記複数の直列共振器および前記複数の並列共振器は複数の電極指を有するIDT電極を含み、
    前記第1直列分割共振器、前記第2直列分割共振器および前記第3直列分割共振器のうち、最初に前記入力パッドから印加された電気信号が印加される位置に配置された直列分割共振器は、前記第4直列分割共振器、前記第5直列分割共振器および前記第6直列分割共振器のうち、中央に配置された直列分割共振器よりも電極指の数が多い請求項1に記載の弾性波デバイス。
  3. 前記圧電基板は、ニオブ酸リチウムまたはタンタル酸リチウムの単結晶からなる基板である請求項1に記載の弾性波デバイス。
  4. 前記圧電基板の前記複数の直列共振器および前記複数の並列共振器が形成された主面とは反対の主面に支持基板を備える請求項1に記載の弾性波デバイス。
  5. 前記支持基板は、サファイア、シリコン、アルミナ、スピネル、水晶またはガラスからなる基板である請求項4に記載の弾性波デバイス。
  6. 前記圧電基板と前記支持基板は、ファンデルワールス力により接合されている請求項4に記載の弾性波デバイス。
  7. 請求項1から6のいずれか一項に記載の弾性波デバイスを備えるモジュール。
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