JP7329579B2 - 制御装置 - Google Patents
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Description
電気負荷を駆動する出力回路を制御するMCU側出力回路制御部と、故障情報処理部と、を有するMCUを搭載した制御装置であって、
前記MCUとシリアル通信を介して接続され、前記MCUの異常状態を検出するMCU異常情報処理部と、前記MCUを初期化し得るMCU初期化回路と、前記MCUの異常時に前記電気負荷を駆動する前記出力回路を制御する監視制御回路側出力回路制御部と、を有する監視制御回路と、
前記MCUに供給する電圧を生成するMCU用電圧生成部と、前記MCU用電圧生成部の故障を検出するMCU用電圧監視部と、を有するMCU用電源生成部と、
前記監視制御回路に供給する電圧を生成する監視制御回路用電圧生成部と、前記監視制御回路用電圧生成部の故障を検出する監視制御回路用電圧監視部と、を有する監視制御回路用電源生成部と、
外部から受診した入力信号を前記MCU又は前記監視制御回路に送信し、前記MCU側出力回路制御部又は前記監視制御回路側出力回路制御部から受信した制御信号を前記出力回路に送信するように構成されるとともに、前記出力回路の故障を検出する故障検出回路を有する入出力I/Fと、
前記MCU用電圧生成部の故障と、前記監視制御回路用電圧生成部の故障と、前記出力回路の故障と、のうちの少なくとも一つの故障に従属して影響を受ける構成要素と、前記影響の度合いと、に関してあらかじめ分析した結果を格納した従属故障分析結果格納部と、
を備え、
前記MCU異常情報処理部が前記MCUの異常状態を検出したとき、前記MCU初期化回路により前記MCUを初期化するとともに、前記監視制御回路側出力回路制御部により前記電気負荷を制御するように構成され、
前記MCU用電圧監視部と、前記監視制御回路用電圧監視部と、前記故障検出回路と、のうちの何れかが前記故障を検出したとき、その故障情報を前記監視制御回路に送信するように構成され、
前記監視制御回路は、受信した前記故障情報を前記MCUに対して、前記シリアル通信、又はバス通信、により送信するように構成され、
前記MCUは、受信した前記故障情報に基づいて前記従属故障分析結果格納部から前記分析の結果を読み出し、前記故障の影響を受ける構成要素の少なくとも一部の機能を制限するように構成され、
前記入出力I/Fにおける前記故障検出回路は、自己診断機能により自己診断されるように構成され、
前記自己診断は、
前記MCUが前記監視制御回路の診断制御出力にあらかじめ定められた信号を送信し、
前記故障検出回路は、前記あらかじめ定められた信号が送信された前記診断制御出力に基づいて判定した故障情報を前記MCUに送信し、前記MCUは、前記診断制御出力と前記故障情報とに基づいて、前記故障検出回路の故障の有無を判断する、
ように構成され、
前記MCUは、
前記シリアル通信により前記故障情報を受信するときは、あらかじめ定められた回数以上前記故障情報を受信したときに前記故障情報を確定させ、
前記バス通信より前記故障情報を受信するときは、あらかじめ定められた時間以上、連続して前記故障情報を受信したときに前記故障情報を確定させる
ように構成されている、
ことを特徴とする。
以下、実施の形態1による制御装置について、図に基づいて説明する。図1は、実施の形態1による制御装置およびその周辺回路を示す構成図である。図1において、車載電子制御装置として構成された制御装置5は、MCU14と、MCU用電源生成部10と、監視制御回路19と、監視制御回路用電源生成部6と、入出力I/F25と、を備えている。
図3は、実施の形態2による制御装置およびその周辺回路を示す構成図である。以下、実施の形態1による制御装置との相違点を中心に説明する。図3に示す実施の形態2による制御装置5は、第1の入出力I/F25aと、第2の入出力I/F25bと、を備えている。
する。
つぎに、実施の形態3による制御装置について説明する。図4は、実施の形態3による制御装置およびその周辺回路を示す構成図である。図4に示す実施の形態3による制御装置5では、MCU14は、入出力I/Fを介して外部のアナログ入力群、デジタル入力群、および電気負荷群とは接続されておらず、制御装置5は、監視制御回路19に接続された入出力I/F25を介してのみ外部のアナログ入力群2、デジタル入力群3、および電気負荷群4と接続されている。その他の構成及び動作は、実施の形態2における制御装置と同様である。
する。
つぎに、実施の形態4による制御装置について説明する。図5は、実施の形態4による制御装置およびその周辺回路を示す構成図である。図5に示す実施の形態4による制御装置5では、MCU14以外の全ての回路、つまり監視制御回路用電源生成部6と、MCU用電源生成部10と、監視制御回路19と、それに接続される入出力I/F25と、が1つの集積回路280により構成されている点で、実施の形態3による制御装置と相違する。その他の構成及び動作は実施の形態3による制御装置と同様である。その他の構成及び動作は、実施の形態3における制御装置と同様である。
つぎに、実施の形態5による制御装置について説明する。図5は、実施の形態5による制御装置およびその周辺回路を示す構成図である。図5に示す実施の形態5による制御装置5では、MCU14に接続された外部メモリ33に従属故障分析結果が格納されており、故障情報を受信したMCU14は、外部メモリ33に格納された分析結果を読み込み、故障情報処理部17で処理を行うことで、出力回路の一部又は出力回路の全体の制限もしくは抑制を行う。その他の構成は、実施の形態1による制御装置と同様である。
2b 第2のアナログ入力群、3 デジタル入力群、3a 第1のデジタル入力群、
3b 第2のデジタル入力群、4 電気負荷群、4a 第1の電気負荷群、
4b 第2の電気負荷群、5 制御装置、6 監視制御回路用電源生成部、
7 監視制御回路用基準電源生成回路、8 監視制御回路用電圧生成部、
9 監視制御回路用電圧監視部、10 MCU用電源生成部、
11 MCU用基準電源生成回路、12 MCU用電圧生成部、
13 MCU用電圧監視部、14 MCU、15 MCU側シリアルI/F、
16 MCU側出力回路制御部、17 故障情報処理部、18 従属故障分析結果格納部、
19 監視制御回路、20 クロック生成回路、21 MCU異常情報処理部、
22 監視制御回路側出力回路制御部、23 監視制御回路側シリアルI/F、
24 MCU初期化回路、25 入出力I/F、25a 第1の入出力I/F、
25b 第2の入出力I/F、26 故障検出回路、26a 第1の故障検出回路、
26b 第2の故障検出回路、27 外部制御装置、28 マルチプレクサ、
29 比較器、30 判定器、31 判定値、32 診断制御出力、33 外部メモリ、
280 集積回路。
Claims (5)
- 電気負荷を駆動する出力回路を制御するMCU側出力回路制御部と、故障情報処理部と、を有するMCUを搭載した制御装置であって、
前記MCUとシリアル通信を介して接続され、前記MCUの異常状態を検出するMCU異常情報処理部と、前記MCUを初期化し得るMCU初期化回路と、前記MCUの異常時に前記電気負荷を駆動する前記出力回路を制御する監視制御回路側出力回路制御部と、を有する監視制御回路と、
前記MCUに供給する電圧を生成するMCU用電圧生成部と、前記MCU用電圧生成部の故障を検出するMCU用電圧監視部と、を有するMCU用電源生成部と、
前記監視制御回路に供給する電圧を生成する監視制御回路用電圧生成部と、前記監視制御回路用電圧生成部の故障を検出する監視制御回路用電圧監視部と、を有する監視制御回路用電源生成部と、
外部から受診した入力信号を前記MCU又は前記監視制御回路に送信し、前記MCU側出力回路制御部又は前記監視制御回路側出力回路制御部から受信した制御信号を前記出力回路に送信するように構成されるとともに、前記出力回路の故障を検出する故障検出回路を有する入出力I/Fと、
前記MCU用電圧生成部の故障と、前記監視制御回路用電圧生成部の故障と、前記出力回路の故障と、のうちの少なくとも一つの故障に従属して影響を受ける構成要素と、前記影響の度合いと、に関してあらかじめ分析した結果を格納した従属故障分析結果格納部と、
を備え、
前記MCU異常情報処理部が前記MCUの異常状態を検出したとき、前記MCU初期化回路により前記MCUを初期化するとともに、前記監視制御回路側出力回路制御部により前記電気負荷を制御するように構成され、
前記MCU用電圧監視部と、前記監視制御回路用電圧監視部と、前記故障検出回路と、のうちの何れかが前記故障を検出したとき、その故障情報を前記監視制御回路に送信するように構成され、
前記監視制御回路は、受信した前記故障情報を前記MCUに対して、前記シリアル通信、又はバス通信、により送信するように構成され、
前記MCUは、受信した前記故障情報に基づいて前記従属故障分析結果格納部から前記分析の結果を読み出し、前記故障の影響を受ける構成要素の少なくとも一部の機能を制限するように構成され、
前記入出力I/Fにおける前記故障検出回路は、自己診断機能により自己診断されるように構成され、
前記自己診断は、
前記MCUが前記監視制御回路の診断制御出力にあらかじめ定められた信号を送信し、
前記故障検出回路は、前記あらかじめ定められた信号が送信された前記診断制御出力に基づいて判定した故障情報を前記MCUに送信し、前記MCUは、前記診断制御出力と前記故障情報とに基づいて、前記故障検出回路の故障の有無を判断する、
ように構成され、
前記MCUは、
前記シリアル通信により前記故障情報を受信するときは、あらかじめ定められた回数以上前記故障情報を受信したときに前記故障情報を確定させ、
前記バス通信より前記故障情報を受信するときは、あらかじめ定められた時間以上、連続して前記故障情報を受信したときに前記故障情報を確定させる
ように構成されている、
ことを特徴とする制御装置。 - 前記入出力I/Fは、第1の入出力I/Fと、第2の入出力I/Fと、からなり、
前記第1の入出力I/Fは、前記外部から受診した入力信号を前記MCUに直接送信するように構成され、
第2の入出力I/Fは、前記外部から受診した入力信号を前記監視制御回路を介して前記MCUに送信するように構成されている、
ことを特徴とする請求項1に記載の制御装置。 - 前記MCU以外の構成要素のうちの少なくとも一部は、単一の集積回路により構成されている、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の制御装置。 - 前記従属故障分析結果格納部は、前記MCUに格納されている、
ことを特徴とする請求項1から3のうちの何れか一項に記載の制御装置。 - 前記従属故障分析結果格納部は、前記MCUに外付けされたメモリに格納されている、
ことを特徴とする請求項1から3のうちの何れか一項に記載の制御装置。
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JP2013247706A (ja) | 2012-05-23 | 2013-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | 電源装置およびディジタル保護リレー装置 |
JP2014137607A (ja) | 2013-01-15 | 2014-07-28 | Omron Corp | 制御システム、制御装置、制御システムの制御方法、および制御プログラム |
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JP2009129267A (ja) | 2007-11-26 | 2009-06-11 | Mitsubishi Electric Corp | 監視制御回路を有する車載電子制御装置 |
JP2013247706A (ja) | 2012-05-23 | 2013-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | 電源装置およびディジタル保護リレー装置 |
JP2014137607A (ja) | 2013-01-15 | 2014-07-28 | Omron Corp | 制御システム、制御装置、制御システムの制御方法、および制御プログラム |
JP2019121033A (ja) | 2017-12-28 | 2019-07-22 | 株式会社東芝 | 航空機用制御装置、および相互診断方法 |
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