JP7322823B2 - optical sorter - Google Patents

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Description

本発明は、光学式選別機のエジェクタノズルの動作設定を、ユーザが容易に行うことが可能な、光学式選別機に関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to an optical sorting machine that allows a user to easily set the operation of an ejector nozzle of the optical sorting machine.

従来、光学式選別機では不良品と判別された穀粒を除去するため、エジェクタノズルから不良品と判別された穀粒に圧縮空気を噴射することによって除去している。不良品を確実に除去して、選別後に高品質の穀粒を得ようとする場合は、不良品に対して長い時間及び広い範囲で圧縮空気を当てるようにすればよい。しかし、このようにすると、良品である整粒が圧縮空気の巻き添えとなって除去されてしまい、歩留まりが低下してしまう。そこで、上記した整粒の巻き添えを減らして高歩留まりとしたい場合は、不良品に対して短い時間及び狭い範囲で圧縮空気を当てるように設定することが行われていた(例えば、特許文献1)。 Conventionally, in an optical sorter, in order to remove grains determined as defective products, the grains determined as defective products are removed by injecting compressed air from an ejector nozzle. If it is desired to reliably remove rejects and obtain high quality grain after sorting, the rejects may be exposed to compressed air over a long period of time and over a wide area. However, if this is done, the non-defective sized grains are removed by the compressed air, resulting in a decrease in yield. Therefore, when it is desired to increase the yield by reducing the involvement of the above-described sizing, it has been set to apply compressed air to the defective product for a short time and in a narrow range (for example, Patent Document 1). .

特許第4206522号公報Japanese Patent No. 4206522

しかし、上記した従来の光学式選別機におけるエジェクタノズルの動作設定は、遅れ時間、噴射時間等の個々の項目ごとの設定はできるものの、歩留まりの高低を調整したりする際には、高歩留まりとするのか、普通又は高品質に選別するのかに応じて、個々の項目に対して、専門のメンテナンスエンジニアがトライ&エラーを繰り返して、時間をかけてエジェクタノズルの動作設定を行わなければならず、普通のユーザが簡便、容易に設定を行うことは困難であった。 However, although the operation settings of the ejector nozzle in the above-mentioned conventional optical sorting machine can be set for each item such as delay time and injection time, when adjusting the yield level, it is difficult to achieve high yield and high yield. Depending on whether to select normal or high quality, a specialized maintenance engineer must spend time setting the ejector nozzle for each item by repeating trial and error. It has been difficult for ordinary users to simply and easily make settings.

そこで、本発明が解決しようとする課題は、光学式選別機のエジェクタノズルの動作設定を、ユーザが容易に行うことが可能な、光学式選別機を提供することにある。 Therefore, the problem to be solved by the present invention is to provide an optical sorting machine that allows a user to easily set the operation of the ejector nozzle of the optical sorting machine.

本願請求項1に係る発明は、移送手段で移送される粒状物に光学的検査を行う検査部と、前記検査部による光学的検査に基づいて、前記粒状物が良品であるか不良品であるかを判別する判定部と、複数のエジェクタノズルを有するとともに、前記不良品に該エジェクタノズルから圧縮空気を吹き付けて、該不良品と前記良品とを選別するエジェクタ制御部と、前記エジェクタ制御部における選別強度を設定可能な選別強度設定部と、を有し、前記選別強度は、複数の選別強度レベルから構成され、前記選別強度設定部は、前記選別強度レベルごとに、前記エジェクタノズルの動作を制御する複数種類の動作設定パラメータをプリセット可能であることを特徴とする光学式選別機である。 The invention according to claim 1 of the present application is characterized by: an inspection unit that optically inspects the granular material transferred by the transfer means; an ejector control unit that has a plurality of ejector nozzles and that blows compressed air from the ejector nozzles onto the defective products to sort out the defective products from the good products; a sorting intensity setting unit capable of setting a sorting intensity, wherein the sorting intensity is composed of a plurality of sorting intensity levels, and the sorting intensity setting unit controls the operation of the ejector nozzle for each of the sorting intensity levels. This optical sorting machine is characterized in that it is possible to preset a plurality of types of operation setting parameters to be controlled.

本願請求項2に係る発明は、前記エジェクタ制御部は、前記複数の選別強度レベルに応じて、前記複数のエジェクタノズルによる圧縮空気の噴射範囲を異ならせることが可能である請求項1に記載の光学式選別機である。 The invention according to claim 2 of the present application is the invention according to claim 1, wherein the ejector control unit can vary the injection range of the compressed air by the plurality of ejector nozzles according to the plurality of selection strength levels. It is an optical sorting machine.

本願請求項3に係る発明は、前記エジェクタ制御部は、前記不良品における欠陥エリアを特定可能な欠陥エリア特定手段を有し、前記欠陥エリア特定手段は、横方向に連続したエリア欠陥画素に対して、該エリア欠陥画素の中心線部分を欠陥画素として残す細線化処理を行うことが可能である請求項1又は2に記載の光学式選別機である。 In the invention according to claim 3 of the present application, the ejector control unit has defective area specifying means capable of specifying a defective area in the defective product, and the defective area specifying means detects area defective pixels that are continuous in the lateral direction. 3. The optical sorting machine according to claim 1 or 2, wherein thinning processing is performed to leave the center line portion of the area defective pixels as defective pixels.

本願請求項4に係る発明は、前記複数種類の動作設定パラメータは、前記エジェクタノズルによる噴射時間と、隣接する前記エジェクタノズルの境界ラインを挟んで、互いの噴射範囲を跨ぐオーバーラップエリアの広さであるオーバーラップ値と、を少なくとも含み、前記エジェクタ制御部は、前記欠陥エリアの少なくとも一部が前記オーバーラップエリア内にある場合に、隣接する前記エジェクタノズルをともに噴射動作させる請求項3に記載の光学式選別機である。 In the invention according to claim 4 of the present application, the plurality of types of operation setting parameters are the ejection time of the ejector nozzle and the width of an overlap area that straddles the ejection ranges of the adjacent ejector nozzles across a boundary line. and an overlap value of , wherein the ejector control unit causes the adjacent ejector nozzles to perform an ejection operation together when at least part of the defect area is within the overlap area. is an optical sorting machine.

本願請求項5に係る発明は、前記選別強度設定部は、光学式選別機のユーザが前記選別強度レベルを選択することが可能な設定入力手段と接続され、選択された前記選別強度レベルに応じて、歩留まりを調整可能である請求項1乃至4のいずれかに記載の光学式選別機である。 In the invention according to claim 5 of the present application, the sorting intensity setting unit is connected to setting input means for allowing a user of the optical sorter to select the sorting intensity level, and the sorting intensity level is set according to the selected sorting intensity level. 5. The optical sorting machine according to any one of claims 1 to 4, wherein the yield can be adjusted by

本願請求項6に係る発明は、前記設定入力手段は、前記選別強度レベルごとに、前記動作設定パラメータのプリセット操作が可能である請求項5に記載の光学式選別機である。 The invention according to claim 6 of the present application is the optical sorting machine according to claim 5, wherein the setting input means is capable of presetting the operation setting parameters for each of the sorting intensity levels.

本願請求項7に係る発明は、前記設定入力手段は、一つの選別強度レベルにおける前記動作設定パラメータのプリセット操作に応じて、他の選別強度レベルにおける前記動作設定パラメータのプリセットが操作することなく設定可能である請求項6に記載の光学式選別機である。 The invention according to claim 7 of the present application is characterized in that the setting input means sets the operation setting parameters at another sorting strength level in response to the operation of presetting the operation setting parameters at one sorting strength level without presetting the operation setting parameters at another sorting strength level. An optical sorting machine according to claim 6, which is possible.

請求項1に係る発明によれば、不良品である粒状物を、選別強度設定部で設定した選別強度レベルに応じて制御される複数のエジェクタノズルによって除去することが可能となり、さらに、上記選別強度レベルは複数の選別強度レベルごとに、エジェクタノズルの動作を制御する複数種類の動作設定パラメータをプリセット可能に構成されている。したがって、従来のように、時間をかけてエジェクタノズルの動作設定を行う必要がなく、ユーザが求める歩留まりや品質に応じて、ユーザ自身が極めて容易に光学式選別機の設定を行うことが可能となる。 According to the first aspect of the invention, it is possible to remove defective granular materials by a plurality of ejector nozzles controlled in accordance with the sorting intensity level set by the sorting intensity setting unit. The intensity level is configured so that a plurality of types of operation setting parameters for controlling the operation of the ejector nozzle can be preset for each of the plurality of sorting intensity levels. Therefore, there is no need to spend time setting the operation of the ejector nozzle as in the past, and the user can very easily set the optical sorting machine according to the yield and quality desired by the user. Become.

請求項2に係る発明によれば、複数の選別強度レベルに応じて、複数のエジェクタノズルによる圧縮空気の噴射範囲を異ならせるように調整されるので、ユーザの要求する歩留まりや品質に応じて適切に不良品の選別除去が可能となる。 According to the second aspect of the invention, since the ejection ranges of compressed air from the plurality of ejector nozzles are adjusted to differ according to the plurality of sorting strength levels, it is possible to select an appropriate range according to the yield and quality required by the user. It is possible to sort and remove defective products.

請求項3に係る発明によれば、不良品における欠陥エリアを特定するとともに、横方向に連続したエリア欠陥画素に対して、当該エリア欠陥画素の中心線部分を欠陥画素として残す細線化処理が可能となっている。このような処理を行うことで、複数のエジェクタノズルによる圧縮空気の噴射範囲を狭めることが可能となり、歩留まりを高めることが可能となる。 According to the third aspect of the invention, it is possible to specify a defective area in a defective product, and to perform a thinning process that leaves the center line portion of the area defective pixel that is continuous in the horizontal direction as a defective pixel. It has become. By performing such processing, it becomes possible to narrow the injection range of the compressed air by the plurality of ejector nozzles, and it becomes possible to increase the yield.

請求項4に係る発明によれば、エジェクタノズルに対する動作設定パラメータとして、エジェクタノズルによる噴射時間と、隣接するエジェクタノズルの境界ラインを挟んで、互いの噴射範囲を跨ぐオーバーラップエリアの広さであるオーバーラップ値と、を少なくとも設定可能とし、粒状物における欠陥エリアの少なくとも一部が上記オーバーラップエリア内に入った場合に、隣接する2つのエジェクタノズルをともに噴射動作するように構成したので、オーバーラップ値を調整することによって圧縮空気の噴射範囲を調整することが可能となり、ユーザが求める歩留まりや品質に応じた選別除去が可能となる。 According to the fourth aspect of the invention, the operation setting parameters for the ejector nozzle are the ejection time by the ejector nozzle and the size of the overlap area that straddles the ejection ranges of the adjacent ejector nozzles across the boundary line. At least the overlap value and are settable, and when at least a part of the defective area in the granular material enters the overlap area, two adjacent ejector nozzles are configured to perform an ejection operation together. By adjusting the wrap value, it becomes possible to adjust the injection range of the compressed air, and it is possible to select and remove according to the yield and quality desired by the user.

請求項5に係る発明によれば、光学式選別機のユーザが設定入力手段を使用し、例えば図4に示されるような操作画面により、ユーザが求める歩留まりや品質に応じて、極めて容易に選別強度レベルを選択することが可能となる。 According to the fifth aspect of the invention, the user of the optical sorting machine uses the setting input means, for example, by using the operation screen as shown in FIG. It is possible to select the intensity level.

請求項6に係る発明によれば、例えば図10に示されるような操作画面から、メンテナンスエンジニア等が、選別強度レベルごとに、動作設定パラメータを容易にプリセットすることが可能となる。 According to the sixth aspect of the invention, a maintenance engineer or the like can easily preset operation setting parameters for each sorting strength level, for example, from an operation screen as shown in FIG.

請求項7に係る発明によれば、一つの選別強度レベルにおける動作設定パラメータをプリセットすることによって、他の選別強度レベルにおける動作設定パラメータが所定の設定ルールに基づいて自動的に設定されように構成されている。このような構成により、全ての選別強度レベルに対して、個々に動作設定パラメータをプリセット操作する手間を省くことが可能となる。 According to the seventh aspect of the invention, by presetting operation setting parameters for one sorting intensity level, operation setting parameters for other sorting intensity levels are automatically set based on predetermined setting rules. It is With such a configuration, it is possible to save the trouble of presetting operation setting parameters individually for all sorting intensity levels.

本発明の一実施形態における、光学式選別機の内部構造を示す概略縦断面図である。1 is a schematic longitudinal sectional view showing the internal structure of an optical sorting machine in one embodiment of the present invention; FIG. 本発明の一実施形態における、光学式選別機の制御処理手段のブロック図である。It is a block diagram of the control processing means of an optical sorting machine in one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態における、選別強度レベルの概要を説明する図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an overview of sorting strength levels in one embodiment of the present invention; 本発明の一実施形態において、液晶ディスプレイにおける選別強度レベル調整画面の表示態様を示した図である。FIG. 4 is a diagram showing a display mode of a sorting strength level adjustment screen on a liquid crystal display in one embodiment of the present invention; 本発明の一実施形態における、噴射エリア決定に際して行われる穀粒の画像処理を説明する図である。It is a figure explaining the image processing of the grain performed at the time of ejection area determination in one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態において、光学式選別機を用いた1次選別における各動作設定パラメータ及び噴射エリアの概念図である。(選別強度レベル5~3)1 is a conceptual diagram of operation setting parameters and injection areas in primary sorting using an optical sorter in one embodiment of the present invention. FIG. (Sorting intensity level 5 to 3) 本発明の一実施形態において、光学式選別機を用いた1次選別における各動作設定パラメータ及び噴射エリアの概念図である。(選別強度レベル2、1)1 is a conceptual diagram of operation setting parameters and injection areas in primary sorting using an optical sorter in one embodiment of the present invention. FIG. (Sorting strength level 2, 1) 本発明の一実施形態において、光学式選別機を用いた2次選別及び3次選別における各動作設定パラメータ及び噴射エリアの概念図である。(選別強度レベル5~3)FIG. 4 is a conceptual diagram of operation setting parameters and injection areas in secondary sorting and tertiary sorting using an optical sorter in one embodiment of the present invention. (Sorting intensity level 5 to 3) 本発明の一実施形態において、光学式選別機を用いた2次選別及び3次選別における各動作設定パラメータ及び噴射エリアの概念図である。(選別強度レベル2、1)FIG. 4 is a conceptual diagram of operation setting parameters and injection areas in secondary sorting and tertiary sorting using an optical sorter in one embodiment of the present invention. (Sorting strength level 2, 1) 本発明の一実施形態において、液晶ディスプレイにおけるメンテナンスエンジニア用の設定画面の表示態様を示した図である。FIG. 4 is a diagram showing a display mode of a setting screen for maintenance engineers on a liquid crystal display in one embodiment of the present invention.

以下、本発明の光学式選別機について、その一実施形態を図面に基づいて説明する。図1は、本実施形態における光学式選別機1の内部構造を示す概略縦断面図であり、図2は、光学式選別機1の制御処理手段の構成を示したブロック図である。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of an optical sorting machine of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic longitudinal sectional view showing the internal structure of an optical sorting machine 1 according to this embodiment, and FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of control processing means of the optical sorting machine 1. As shown in FIG.

(光学式選別機の構成)
図1に示すように、光学式選別機1は、機枠2内に、穀粒100の移送手段として水平位置から約60度の角度で傾斜して穀粒100を移送するシュート4と、穀粒100を貯留するための貯留タンク5と、貯留タンク5からシュート4に穀粒100を搬送するための振動フィーダ6と、シュート4の下端から落下する穀粒100の落下軌跡の上下を挟んで設けられる光学検出部7a、7bと、さらに下方に設けたエジェクタ8と、当該エジェクタ8下方においてシュート4と同傾斜線上にあり、エジェクタノズル80からの噴風を受けずにそのまま落下軌跡を落下する穀粒100を受ける良品回収樋9と、当該良品回収樋9に並設され、エジェクタノズル80からの噴風を受けた不良粒を回収するための不良品回収樋10と、エジェクタノズル80からの噴風を受け損ねて、周囲の部材に当たって跳ね返った不良粒を回収するための補助不良品回収樋11とが備えられている。
(Configuration of optical sorting machine)
As shown in FIG. 1, the optical sorter 1 includes a chute 4 for transporting grains 100 inclined at an angle of about 60 degrees from a horizontal position as a means for transporting grains 100 in a machine frame 2, and a grain A storage tank 5 for storing grains 100, a vibrating feeder 6 for conveying grains 100 from the storage tank 5 to a chute 4, and a drop trajectory of grains 100 falling from the lower end of the chute 4. The optical detection units 7a and 7b provided, the ejector 8 provided further below, and the ejector 8 are on the same slope line as the chute 4 below the ejector 8, and fall along the drop trajectory without receiving the blowing air from the ejector nozzle 80. A non-defective product recovery gutter 9 that receives the grains 100, a defective product recovery gutter 10 that is installed in parallel with the non-defective product recovery gutter 9 and receives the blow from the ejector nozzle 80 to recover the defective grains, and the ejector nozzle 80. An auxiliary defective product recovery gutter 11 is provided for recovering defective grains that have failed to receive the blowing wind and bounce off surrounding members.

また、シュート4の形状は、穀粒100を広幅で帯状に滑走させるために、溝部のない平板形状で形成されており、シュート4からの穀粒100の溢流を防止するため、かつ、穀粒100がシュート4を滑走中に底面から浮き上がるのを防止するために、底面から所定間隔をあけてシュートカバー4aが設けられている。 In addition, the shape of the chute 4 is formed in a flat plate shape without grooves in order to allow the grains 100 to slide in a wide belt shape, and to prevent the grains 100 from overflowing from the chute 4. A chute cover 4a is provided at a predetermined distance from the bottom surface in order to prevent the grains 100 from rising from the bottom surface while sliding on the chute 4. - 特許庁

振動フィーダ6は、支持部6b上にフィーダトラフ6aが支持され、電磁駆動コイル6cなどの振動部材を作動させることによって穀粒100をシュート4に供給することができるように構成されている。なお、上記したシュート4の形状は、溝部を形成するようにしてもよく、溝部の断面形状としては、U字状のもの、V字状のもの、凹字状のもの等、適宜採用することができる。 The vibrating feeder 6 has a feeder trough 6a supported on a support portion 6b, and is configured such that grains 100 can be supplied to the chute 4 by operating a vibrating member such as an electromagnetic drive coil 6c. The shape of the chute 4 described above may be a groove, and the cross-sectional shape of the groove may be U-shaped, V-shaped, U-shaped, or the like, as appropriate. can be done.

光学的検査を行う検査部となる光学検出部7a、7bは、それぞれ箱体12a、12bにより囲繞されて形成されており、穀粒100の落下軌跡の前側にある箱体12aには、可視光用のCCDカメラ13aと、近赤外光用のNIRカメラ14と、蛍光灯等からなる可視光源15a、15bと、ハロゲンランプ等からなる近赤外光源16aと、光学検出部7bの対向用バックグラウンド17aとが内装されている。 The optical detection units 7a and 7b serving as inspection units for performing optical inspection are surrounded by boxes 12a and 12b, respectively. CCD camera 13a, NIR camera 14 for near-infrared light, visible light sources 15a and 15b such as fluorescent lamps, near-infrared light source 16a such as a halogen lamp, and a back for facing the optical detection unit 7b A ground 17a is provided.

また、穀粒100の落下軌跡の後側にある箱体12bには、可視光用のCCDカメラ13bと、蛍光灯等からなる可視光源15c、15dと、ハロゲンランプ等からなる近赤外光源16bと、光学検出部7aの対向用バックグラウンド17b、17cとが内装されている。そして、箱体12a、12bの穀粒100の落下軌跡側には、透明ガラスからなる窓部材18a、18bが嵌め込まれている。 In addition, in the box 12b on the rear side of the falling trajectory of the grain 100, there are a CCD camera 13b for visible light, visible light sources 15c and 15d such as fluorescent lamps, and a near infrared light source 16b such as a halogen lamp. and backgrounds 17b and 17c for facing the optical detection unit 7a. Window members 18a and 18b made of transparent glass are fitted to the sides of the box bodies 12a and 12b on which the grains 100 fall.

本実施形態の光学式選別機1におけるエジェクタ8には、シュート4の幅方向と同じ方向に、48個のエジェクタノズル80が一列に等間隔で設けられており、各エジェクタノズル80には、それぞれ圧縮空気の噴射をON/OFFするエジェクタ電磁弁81が備えられている。なお、エジェクタノズル80の個数は、シュート4の幅寸法等に応じて、適宜その数を変更することが可能である。また、本実施形態のエジェクタ8は内部に圧縮空気を貯留することが可能となっており、エアー供給パイプ22を介して、不図示のエアコンプレッサからエアーが供給されるように構成されている。なお、エジェクタ8とエアコンプレッサとの間に、空気を一旦貯留する不図示のサブタンクを1つ又は複数設けてもよく、このように構成することで、エジェクタノズル80から噴射されるエアー量が多い場合であっても、エアー不足に陥るおそれがない。 In the ejector 8 in the optical sorting machine 1 of the present embodiment, 48 ejector nozzles 80 are provided in a row at equal intervals in the same direction as the width direction of the chute 4, and each ejector nozzle 80 has An ejector solenoid valve 81 is provided to turn on/off the injection of compressed air. The number of ejector nozzles 80 can be appropriately changed according to the width dimension of chute 4 and the like. Also, the ejector 8 of this embodiment can store compressed air inside, and is configured to be supplied with air from an air compressor (not shown) via an air supply pipe 22 . One or a plurality of sub-tanks (not shown) that temporarily store air may be provided between the ejector 8 and the air compressor. Even in such a case, there is no risk of air shortage.

機枠2の前方の傾斜壁には、エアシリンダ23によって上下方向に回動可能な前面ドア24が設けられ、これにより、清掃等のメンテナンス作業を容易に行うことが可能である。また、前面ドア24の下方には、タッチパネルからなる操作盤及びモニタが兼用された設定入力手段として機能する液晶ディスプレイ25と、不図示の電源スイッチが設けられている。操作者の目の高さ位置に液晶ディスプレイ25及び電源スイッチを配設することで、機械操作を容易に行うことが可能な構成となっている。 A front door 24 that can be rotated vertically by an air cylinder 23 is provided on the inclined wall in front of the machine frame 2, so that maintenance work such as cleaning can be easily performed. Further, below the front door 24, there are provided a liquid crystal display 25 which functions as a setting input means which also serves as an operation panel and a monitor made up of a touch panel, and a power switch (not shown). By arranging the liquid crystal display 25 and the power switch at the eye level of the operator, it is possible to easily operate the machine.

また、選別された穀粒100の受け口として、図1に示されるように、不良品受口27と、良品受口28と、補助不良品受口29が設けられ、さらに、不良品受口27の上方にはサンプル取出部30が設けられている。 As shown in FIG. 1, a defective product receiving port 27, a non-defective product receiving port 28, and an auxiliary defective product receiving port 29 are provided as a receiving port for the sorted grains 100, and the defective product receiving port 27 is provided. A sample extractor 30 is provided above the .

続いて、図2を参照して光学式選別機1の制御処理手段の構成を説明する。可視光用のCCDカメラ13a、13bと、近赤外光用のNIRカメラ14は、取得した画像を2値化処理するために信号処理部31に電気的に接続され、さらに、当該信号処理部31は画像を格納して必要な処理を行うメモリ部32に接続されている。そしてメモリ部32には、前述した液晶ディスプレイ25が電気的に接続されている。 Next, the configuration of the control processing means of the optical sorting machine 1 will be described with reference to FIG. The CCD cameras 13a and 13b for visible light and the NIR camera 14 for near-infrared light are electrically connected to a signal processing unit 31 for binarizing the acquired images. 31 is connected to a memory unit 32 for storing images and performing necessary processing. The liquid crystal display 25 described above is electrically connected to the memory section 32 .

さらに信号処理部31は、画像データを一時的に格納する画像データ取得部33と、取得した画像データについて良品とするか不良品とするかを決定するしきい値データを格納する、しきい値データ格納メモリ34と、取得した画像データを2値化処理するための2値化計算機構35と、良品か不良品かを判別する判定部として機能する良品/不良品判定部36と、エジェクタ8の動作を制御するエジェクタ制御部37とを、少なくとも備えている。 Further, the signal processing unit 31 includes an image data acquisition unit 33 that temporarily stores image data, and a threshold value data that stores threshold data for determining whether the acquired image data is a non-defective product or a defective product. a data storage memory 34; a binarization calculation mechanism 35 for binarizing acquired image data; and an ejector control unit 37 for controlling the operation of.

また、可視光用のCCDカメラ13a、13bと、近赤外光用のNIRカメラ14は、光量検出値を電圧値に変換する不図示のI/V変換器を介し、当該電圧値を増幅させる増幅器にそれぞれ接続されている。そして増幅された電圧値(検出信号)に基づいて、良品/不良品判定部36において、しきい値データ格納メモリ34に格納されたしきい値と比較して良品と不良品とを判別している。 In addition, the CCD cameras 13a and 13b for visible light and the NIR camera 14 for near-infrared light amplify the voltage value through an I/V converter (not shown) that converts the light amount detection value into a voltage value. Each is connected to an amplifier. Then, based on the amplified voltage value (detection signal), the non-defective product/defective product determination unit 36 compares it with the threshold value stored in the threshold data storage memory 34 to determine whether it is a non-defective product or a defective product. there is

また、メモリ部32は、画像データ取得部33からのデータを必要に応じて格納する画像データ格納メモリ38と、当該画像データ格納メモリ38に格納された画像データに基づいて、穀粒が良品か不良品かを判別するためのしきい値を計算する、しきい値データ計算機構39と、エジェクタ8に対する動作設定を行う選別強度設定部40と、液晶ディスプレイ25のタッチ操作の信号を受信したり、処理後の画像データを液晶ディスプレイ25に出力したりするための操作信号受信機構41とを、少なくとも備えている。 The memory unit 32 also stores an image data storage memory 38 that stores the data from the image data acquisition unit 33 as necessary, and based on the image data stored in the image data storage memory 38, determines whether the grain is a non-defective product. A threshold data calculation mechanism 39 for calculating a threshold value for determining whether a product is defective, a sorting strength setting unit 40 for setting the operation of the ejector 8, and a touch operation signal for the liquid crystal display 25 are received. , and an operation signal receiving mechanism 41 for outputting the processed image data to the liquid crystal display 25 .

信号処理部31内の良品/不良品判定部36は、エジェクタ制御部37と電気的に接続されており、当該エジェクタ制御部37は、メモリ部32の選別強度設定部40において設定したエジェクタ8の動作条件に基づいて、不良品の穀粒100を除去するべく、エジェクタ駆動回路42を制御している。 A non-defective product/defective product determination unit 36 in the signal processing unit 31 is electrically connected to an ejector control unit 37. Based on operating conditions, the ejector drive circuit 42 is controlled to remove the defective grain 100 .

また、図2に示されるように、上記エジェクタ駆動回路42は、各エジェクタノズル80による圧縮空気の噴射をON/OFFする各エジェクタ電磁弁81にそれぞれ電気的に接続されており、駆動信号が入力されることで各エジェクタ電磁弁81が開閉するように構成されている。前述したように、本実施形態のエジェクタ8は48個のエジェクタノズル80を備えており、それぞれ1対1対応でエジェクタ電磁弁81を備えている。なお、図2には、48個のエジェクタ電磁弁81のうち、隣接して1粒の穀粒100全体に圧縮空気を噴射可能な第1エジェクタ電磁弁81a、第2エジェクタ電磁弁81b、第3エジェクタ電磁弁81cが図示されている。 Further, as shown in FIG. 2, the ejector drive circuit 42 is electrically connected to each ejector electromagnetic valve 81 for turning ON/OFF the injection of compressed air by each ejector nozzle 80, and a drive signal is input. Each ejector solenoid valve 81 is configured to be opened and closed by being pressed. As described above, the ejector 8 of this embodiment has 48 ejector nozzles 80, each of which has an ejector electromagnetic valve 81 in one-to-one correspondence. In addition, in FIG. 2, among the 48 ejector solenoid valves 81, a first ejector solenoid valve 81a, a second ejector solenoid valve 81b, a third An ejector solenoid valve 81c is shown.

(選別処理構成)
続いて、本実施形態における光学式選別機1の選別処理について、以下に詳細に説明する。
(Sorting process configuration)
Next, the sorting process of the optical sorter 1 in this embodiment will be described in detail below.

本実施形態における光学式選別機1は、エジェクタ8によって不良品と判定された穀粒100を除去する際の選別強度を、予め設定することが可能となっている。すなわち、図3に示されているように、レベル5からレベル1までの5段階で選別強度が設定可能となっており、例えば、レベル1は選別強度が高く、確実に不良品を選別することが可能であるため、一部の良品がエジェクタノズル80から噴射される圧縮空気の巻き添えとなって除去されて低歩留まりとなるが、高品質の穀粒100を得ることができる。一方、レベル5は選別強度が低く、一部の不良品がエジェクタ8によって除去されないことがあるため、得られる穀粒100が低品質となるが、高歩留まりとなる。なお、各選別強度におけるエジェクタ8の動作態様の詳細については後述する。 The optical sorting machine 1 according to the present embodiment can preset the sorting intensity for removing the grains 100 judged to be defective by the ejector 8 . That is, as shown in FIG. 3, the sorting intensity can be set in five stages from level 5 to level 1. For example, level 1 has a high sorting intensity and can reliably sort out defective products. is possible, some non-defective grains are removed by the compressed air ejected from the ejector nozzle 80, resulting in a low yield, but high-quality grains 100 can be obtained. On the other hand, level 5 has a low sorting strength, and some defective products may not be removed by the ejector 8, so the quality of the obtained grains 100 is low, but the yield is high. Details of the operation mode of the ejector 8 at each sorting intensity will be described later.

図4には、液晶ディスプレイ25における表示態様の一例が示されており、光学式選別機1を使用するユーザが、エジェクタ設定アイコン253を指でタッチすることによって、図示されるような選別強度レベルの調整画面が表示されるように構成されている。そして、レベルアップアイコン251及びレベルダウンアイコン252をタッチすることによって、エジェクタ8による所望の選別強度レベルを容易に選択することができる。なお、図中、丸型の設定レベルアイコン255をタッチし、所望のレベル位置へフリック操作することにっよって選別強度レベルを選択できるようにしてもよい。 FIG. 4 shows an example of the display mode on the liquid crystal display 25, and the user using the optical sorting machine 1 touches the ejector setting icon 253 with a finger to change the sorting strength level as illustrated. is configured to display the adjustment screen for By touching the level-up icon 251 and the level-down icon 252, a desired sorting strength level by the ejector 8 can be easily selected. It should be noted that the sorting strength level may be selected by touching a round setting level icon 255 in the drawing and performing a flick operation to a desired level position.

続いて、図5に基づいて、エジェクタ8によって不良品を除去する場合の、不良品となる穀粒100の識別態様について説明する。まず、Step1で、良品/不良品判定部36において穀粒100の物体画像が取得され、Step2において、物体画像から得られた光量検出値に基づく検線量により、穀粒100内の不良エリアを特定する。Step3では、予め設定された所定のしきい値に基づいて、不良品として判別される不良サイズを満たす欠陥エリアを特定する。Step4では、横方向に連続した欠陥エリアの欠陥画素に対し、その中心線のみを欠陥エリアとして残す「細線化」処理を行う。詳しくは後述するが、この細線化処理によって歩留まりを向上させる効果を得ることができる。そしてStep5では、特定された欠陥エリアに基づいて、予め設定した選別強度レベル(レベル5~1)に応じたエジェクタノズル80による圧縮空気の噴射範囲が決定される。なお、図5に示されるように、Step4の細線化処理は必須ではなく、必要に応じ、細線化処理することなく、Step5の噴射範囲の設定が行われるようにしてもよい。 Subsequently, based on FIG. 5 , a description will be given of how the grain 100 to be a defective product is identified when the defective product is removed by the ejector 8 . First, in Step 1, an object image of the grain 100 is acquired by the non-defective/defective product determination unit 36, and in Step 2, the defective area in the grain 100 is specified by the amount of calibration based on the light intensity detection value obtained from the object image. do. In Step 3, based on a predetermined threshold value set in advance, a defective area that satisfies the size of a defective product that is determined as a defective product is specified. In Step 4, a "thinning" process is performed to leave only the center line of defective pixels in a defect area that is continuous in the horizontal direction as a defect area. Although the details will be described later, the effect of improving the yield can be obtained by this thinning process. Then, in Step 5, the ejection range of the compressed air by the ejector nozzle 80 corresponding to the preset sorting intensity level (levels 5 to 1) is determined based on the identified defect area. Note that as shown in FIG. 5, the thinning process in Step 4 is not essential, and if necessary, the injection range setting in Step 5 may be performed without performing the thinning process.

次に、本実施形態における、各選別強度レベル(レベル5~1)における動作設定パラメータについて説明する。 Next, operation setting parameters for each sorting strength level (levels 5 to 1) in this embodiment will be described.

図6及び図7には、選別強度レベル(レベル5~1)ごとにプリセットされた各動作設定パラメータと、不良品の穀粒100に対する圧縮空気の噴射エリア等について概略図が示されている。なお、図6及び図7は、平板形状のシュート4を備えた光学式選別機1による1次選別の実施形態を示したものである。加えて、図8及び図9は、U字状のシュート4を備えた光学式選別機1による2次選別及び3次選別の実施形態を示したものである。また、図6~図9の概略図には、前述した48個のエジェクタノズル80のうち、隣接して1粒の穀粒100全体に圧縮空気を噴射可能な第1エジェクタノズル80a、第2エジェクタノズル80b、第3エジェクタノズル80cが図示されている。 6 and 7 show schematic diagrams of operation setting parameters preset for each sorting intensity level (levels 5 to 1), areas of compressed air injection to defective grains 100, and the like. 6 and 7 show an embodiment of primary sorting by an optical sorter 1 having a plate-shaped chute 4. FIG. In addition, FIGS. 8 and 9 show embodiments of secondary and tertiary sorting by an optical sorter 1 equipped with a U-shaped chute 4. FIG. 6 to 9, of the 48 ejector nozzles 80 described above, a first ejector nozzle 80a capable of injecting compressed air to the entire grain 100 of adjacent grains, a second ejector A nozzle 80b and a third ejector nozzle 80c are shown.

本実施形態では、図6~図9に示されるように、選別強度レベル(レベル5~1)ごとに、圧縮空気の「噴射時間」と、図示されるように、隣接するエジェクタノズル80との境界を挟んで、互いの噴射範囲を跨ぐオーバーラップエリア内に欠陥エリアがある場合、両エジェクタノズル80を作動させることが可能な「オーバーラップ値」と、横方向に連続した不良品の欠陥エリアの欠陥画素に対し、その中心線のみを欠陥エリアとして残す「細線化」のON/OFF設定とが、動作設定パラメータとしてプリセットされている。 In this embodiment, as shown in FIGS. 6 to 9, for each sorting intensity level (levels 5 to 1), the "injection time" of compressed air and, as shown, the distance between adjacent ejector nozzles 80. When there is a defect area in the overlap area straddling the mutual ejection ranges across the boundary, the "overlap value" that allows both ejector nozzles 80 to operate, and the defect area of the defective product that is continuous in the lateral direction ON/OFF setting of "thinning" for leaving only the center line of the defective pixel as a defective area is preset as an operation setting parameter.

続いて、動作設定パラメータと不良品の穀粒100に対するエジェクタ8の動作態様について説明する。図6に示された「レベル5」の設定は、高歩留まりとなる設定となっており、噴射時間が「10」、オーバーラップ値が「0」、細線化の処理が「ON」にプリセットされている。なお、噴射時間「10」の単位は時間単位ではなく、任意に規定した数値であって、実際には、落下中の穀粒100に対して、図中の両矢印で示された範囲に圧縮空気が当たる時間となっている。もちろん、設定する数値を時間単位の数値とすることも可能である。 Next, operation setting parameters and operation modes of the ejector 8 with respect to the defective grain 100 will be described. The setting of "level 5" shown in FIG. 6 is a setting for a high yield, and the injection time is preset to "10", the overlap value is preset to "0", and the thinning process is preset to "ON". ing. In addition, the unit of the injection time "10" is not a unit of time, but an arbitrarily specified numerical value. It's time to hit the air. Of course, the numerical value to be set can also be a numerical value in units of time.

また、図6に示された「レベル5」の設定では、オーバーラップ値が「0」となっており、この場合は特定された欠陥エリアに圧縮空気を噴射することが可能な第2エジェクタノズル80bのみが動作することとなる。さらに、「レベル5」の設定では、細線化の処理が「ON」に設定されているので、図示されるような線状の欠陥エリアが特定され、実際の欠陥エリアよりもその範囲が小さくなっている。 Also, in the setting of "level 5" shown in FIG. 6, the overlap value is "0", and in this case, the second ejector nozzle capable of injecting compressed air to the identified defect area Only 80b will operate. Furthermore, in the setting of "level 5", since the thinning process is set to "ON", a linear defect area as shown in the figure is specified and its range becomes smaller than the actual defect area. ing.

続いて、図6に示された「レベル4」の設定は、前述の「レベル5」よりも選別強度が高く設定され、歩留まりが若干低くなるが、得られる穀粒100の品質は若干高くなる設定となっている。そして、噴射時間は「レベル5」よりも1.5倍ほど長い「15」、オーバーラップ値が「4」、細線化の処理が「ON」にプリセットされている。なお、オーバーラップ値「4」は具体的な単位があるわけではなく、任意に規定した数値である。例えば、撮像素子の横幅方向の画素の数とすることが可能であり、図示されるオーバーラップエリアの幅方向の長さに相当する数値となる。もちろん、設定するオーバーラップ値を距離(寸法)単位の数値とすることも可能である。 Next, the setting of “level 4” shown in FIG. 6 has a higher sorting intensity than the above-mentioned “level 5”, and the yield is slightly lower, but the quality of the obtained grain 100 is slightly higher. It is set. The injection time is preset to "15" which is about 1.5 times longer than "level 5", the overlap value is preset to "4", and the thinning process is preset to "ON". It should be noted that the overlap value "4" does not have a specific unit and is an arbitrarily specified numerical value. For example, it can be the number of pixels in the horizontal width direction of the imaging device, which is a numerical value corresponding to the length of the illustrated overlap area in the width direction. Of course, it is also possible to set the overlap value to be a numerical value in units of distance (dimension).

図6に示された「レベル4」の設定では、オーバーラップ値が「4」となっているため、図示されるように、隣接する第1エジェクタノズル80aと第2エジェクタノズル80bとの境界ライン、及び、第2エジェクタノズル80bと第3エジェクタノズル80cとの境界ラインを挟んで、互いの噴射範囲を跨ぐオーバーラップエリアが設定される。図示される実施形態では、細線化された欠陥エリアがオーバーラップエリアに入ることなく、第2エジェクタノズル80bの噴射範囲にあるため、第2エジェクタノズル80bのみが動作することとなる。 In the setting of "level 4" shown in FIG. 6, the overlap value is "4", so as shown in the figure, the boundary line between the adjacent first ejector nozzle 80a and second ejector nozzle 80b , and an overlap area that straddles the ejection ranges of the second ejector nozzle 80b and the third ejector nozzle 80c is set across the boundary line. In the illustrated embodiment, the thinned defect area does not fall within the overlap area and is within the ejection range of the second ejector nozzle 80b, so only the second ejector nozzle 80b will operate.

続いて、図6に示された「レベル3」の設定は、前述の「レベル4」よりも選別強度が高く設定されている。そして、噴射時間は「レベル5」の2倍の長さとなる「20」、オーバーラップ値が「レベル4」の2倍となる「8」、細線化の処理が「ON」にプリセットされている。「レベル3」の設定では、オーバーラップ値が「8」となって、オーバーラップエリアの幅が「レベル4」のときの2倍となっているが、図示される実施形態では、細線化された欠陥エリアがオーバーラップエリアに入ることなく、第2エジェクタノズル80bの噴射範囲にあるため、第2エジェクタノズル80bのみが動作することとなる。 Next, the setting of "level 3" shown in FIG. 6 has a higher sorting strength than that of the above-described "level 4". The injection time is preset to "20" which is twice as long as "level 5", the overlap value is preset to "8" which is twice as long as "level 4", and the thinning process is preset to "ON". . At "Level 3" setting, the overlap value is "8" and the width of the overlap area is doubled at "Level 4", but in the illustrated embodiment, the line is thinned. Since the defective area does not fall within the overlap area and is within the ejection range of the second ejector nozzle 80b, only the second ejector nozzle 80b operates.

続いて、図7に示された「レベル2」の設定は、前述の「レベル3」よりも選別強度が高く設定されている。そして、噴射時間は「レベル5」の2.5倍の長さとなる「25」、オーバーラップ値が「レベル3」の2倍近くとなる「14」、細線化の処理が「OFF」にプリセットされている。 Next, the setting of "level 2" shown in FIG. 7 has a higher sorting strength than that of the above-described "level 3". The injection time is 25, which is 2.5 times longer than level 5. The overlap value is 14, which is nearly double that of level 3. Thinning is preset to OFF. It is

図7に示された「レベル2」の設定では、オーバーラップ値が「14」となって、オーバーラップエリアの幅が、図示されるように「レベル3」のときの2倍近くとなっている。そして、図示される実施形態では、欠陥エリア(細線化OFF)の右上部分が、第2エジェクタノズル80bと第3エジェクタノズル80cとの間に設定されたオーバーラップエリアに入っている。これにより、第2エジェクタノズル80bに加えて第3エジェクタノズル80cも動作することとなり、図示されるような噴射エリアとなって穀粒100に圧縮空気が噴射されるように構成されている。 In the "level 2" setting shown in FIG. 7, the overlap value is "14" and the width of the overlap area is nearly double that of "level 3" as shown. there is In the illustrated embodiment, the upper right portion of the defect area (thinning OFF) is included in the overlap area set between the second ejector nozzle 80b and the third ejector nozzle 80c. As a result, the third ejector nozzle 80c is activated in addition to the second ejector nozzle 80b, and the compressed air is jetted to the kernel 100 as an ejection area as shown in the drawing.

続いて、図7に示された「レベル1」の設定は、前述の「レベル2」よりも選別強度が高く設定されている。そして、噴射時間は「レベル5」の3倍の長さとなる「30」、オーバーラップ値が「レベル4」の約1.5倍となる「20」、細線化の処理が「OFF」にプリセットされている。 Next, the setting of "level 1" shown in FIG. 7 has a higher sorting strength than that of the above-described "level 2". Then, the injection time is preset to "30", which is three times longer than "level 5", the overlap value is "20", which is about 1.5 times longer than "level 4", and the thinning process is preset to "OFF". It is

図7に示された「レベル1」の設定では、オーバーラップ値が「20」となって、オーバーラップエリアの幅が、図示されるように「レベル2」のときの約1.5倍となっている。そして、図示される実施形態では、欠陥エリア(細線化OFF)の右上部分と左下部分が、それぞれ、第2エジェクタノズル80bと第3エジェクタノズル80cとの境界ラインを跨いで設定されたオーバーラップエリアと、第2エジェクタノズル80bと第1エジェクタノズル80aとの間に設定されたオーバーラップエリアに入っている。これにより、第2エジェクタノズル80bに加えて第3エジェクタノズル80c及び第1エジェクタノズル80aも動作することとなり、図示されるような噴射エリアとなって穀粒100に圧縮空気が噴射されるように構成されている。 In the setting of "level 1" shown in FIG. 7, the overlap value is "20" and the width of the overlap area is approximately 1.5 times that of "level 2" as shown. It's becoming In the illustrated embodiment, the upper right portion and the lower left portion of the defect area (thinning OFF) are overlap areas set across the boundary line between the second ejector nozzle 80b and the third ejector nozzle 80c. , the overlap area set between the second ejector nozzle 80b and the first ejector nozzle 80a. As a result, in addition to the second ejector nozzle 80b, the third ejector nozzle 80c and the first ejector nozzle 80a also operate, forming an ejection area as shown in the figure so that the compressed air is ejected to the grain 100. It is configured.

したがって、「レベル1」の設定では、穀粒100の外形よりも広い範囲がエジェクタノズル80による噴射エリアとなる。しかし、穀粒100は粒同士が近接して連続的に帯状に流下してくるので、不良品の近傍の良品がエジェクタノズル80から噴射される圧縮空気の巻き添えとなって除去される。このため、低歩留まりとなるが、不良品は確実に除去できるようになるので、高品質の穀粒100を得ることができる。 Therefore, in the setting of “level 1”, the ejection area of the ejector nozzle 80 is a range wider than the outline of the grain 100 . However, since the grains 100 are closely adjacent to each other and continuously flow down in a belt shape, the non-defective grains in the vicinity of the defective grains are removed by the compressed air ejected from the ejector nozzle 80 . Therefore, although the yield is low, defective products can be reliably removed, so that high-quality grains 100 can be obtained.

続いて、図8及び図9に示された、2次選別及び3次選別における動作設定パラメータと不良品の穀粒100に対するエジェクタ8の動作態様について説明する。なお、2次選別及び3次選別とは、光学式選別機1による1次選別が行われて得られた穀粒100を、さらに光学式選別機1に投入して、2次選別、3次選別と、繰り返し行われる選別工程である。また、上記2次選別及び3次選別では、一粒の穀粒100が流下できる程度の幅寸法を有するU字状の溝が複数形成されたシュート4が使用され、図8及び図9の概略図に示されるように、1個のエジェクタノズル80による圧縮空気の噴射エリアは、穀粒100の幅と同程度となっている。 Next, operation setting parameters in the secondary sorting and the tertiary sorting shown in FIGS. 8 and 9 and the operation mode of the ejector 8 with respect to the defective grain 100 will be described. In addition, the secondary sorting and tertiary sorting refer to the grains 100 obtained by performing the primary sorting by the optical sorter 1, and further inputting the grains 100 into the optical sorter 1, secondary sorting, and tertiary sorting. Sorting and repetitive sorting processes. Further, in the secondary sorting and tertiary sorting, a chute 4 in which a plurality of U-shaped grooves having a width dimension that allows one grain 100 to flow down is used, and the outline of FIGS. 8 and 9 As shown in the figure, the area of compressed air injection by one ejector nozzle 80 is approximately the same as the width of the grain 100 .

図8に示された「レベル5」の設定は、高歩留まりとなる設定となっており、噴射時間が「10」、オーバーラップ値が「0」、細線化の処理が「ON」にプリセットされている。「レベル5」の設定では、オーバーラップ値が「0」となっており、この場合は特定された欠陥エリアに圧縮空気を噴射することが可能な第2エジェクタノズル80bのみが動作することとなる。さらに、「レベル5」の設定では、細線化の処理が「ON」に設定されているので、図示されるような線状の欠陥エリアが特定され、実際の欠陥エリアよりもその範囲が小さくなっている。 The setting of "level 5" shown in FIG. 8 is a setting for a high yield, and the injection time is preset to "10", the overlap value is preset to "0", and the thinning process is preset to "ON". ing. In the setting of "level 5", the overlap value is "0", and in this case only the second ejector nozzle 80b capable of injecting compressed air to the identified defect area will operate. . Furthermore, in the setting of "level 5", since the thinning process is set to "ON", a linear defect area as shown in the figure is specified and its range becomes smaller than the actual defect area. ing.

続いて、図8に示された「レベル4」の設定は、前述の「レベル5」よりも選別強度が高く設定され、歩留まりが若干低くなるが、得られる穀粒100の品質は若干高くなる設定となっている。そして、噴射時間は「レベル5」よりも1.5倍ほど長い「15」、オーバーラップ値が「0」、細線化の処理が「ON」にプリセットされている。 Next, the setting of "level 4" shown in FIG. 8 has a higher sorting intensity than the above-described "level 5", and the yield is slightly lower, but the quality of the obtained grain 100 is slightly higher. It is set. The injection time is preset to "15" which is about 1.5 times longer than "level 5", the overlap value is preset to "0", and the thinning process is preset to "ON".

続いて、図8に示された「レベル3」の設定は、前述の「レベル4」よりも選別強度が高く設定され、さらに歩留まりが低くなるが、得られる穀粒100の品質は若干高くなる設定となっている。そして、噴射時間は「レベル5」の2倍となる「20」、オーバーラップ値が「0」、細線化の処理が「ON」にプリセットされている。 Next, the “level 3” setting shown in FIG. 8 has a higher sorting intensity than the above-described “level 4”, and the yield is lower, but the quality of the obtained grain 100 is slightly higher. It is set. The injection time is preset to "20" which is twice "level 5", the overlap value is preset to "0", and the thinning process is preset to "ON".

続いて、図9に示された「レベル2」の設定は、前述の「レベル3」よりも選別強度が高く設定され、さらに歩留まりが低くなるが、得られる穀粒100の品質は高くなる設定となっている。そして、噴射時間は「レベル5」の2.5倍となる「25」、オーバーラップ値が「8」、細線化の処理が「OFF」にプリセットされている。 Next, the setting of “level 2” shown in FIG. 9 has a higher sorting intensity than the above-described “level 3”, and the yield is lower, but the quality of the obtained grain 100 is higher. It has become. The injection time is preset to "25" which is 2.5 times "level 5", the overlap value is preset to "8", and the thinning process is preset to "OFF".

図9に示された「レベル2」の設定では、オーバーラップ値が「8」となっているため、図示されるように、隣接する第1エジェクタノズル80aと第2エジェクタノズル80bとの間、及び、第2エジェクタノズル80bと第3エジェクタノズル80cとの間にオーバーラップエリアが設定される。図示される実施形態では、欠陥エリア(細線化OFF)がオーバーラップエリアに入ることなく、第2エジェクタノズル80bの噴射範囲にあるため、第2エジェクタノズル80bのみが動作することとなる。 In the setting of "level 2" shown in FIG. 9, the overlap value is "8", so as shown in the figure, between the adjacent first ejector nozzle 80a and second ejector nozzle 80b, An overlap area is set between the second ejector nozzle 80b and the third ejector nozzle 80c. In the illustrated embodiment, the defect area (thinning OFF) does not fall within the overlap area and is within the ejection range of the second ejector nozzle 80b, so only the second ejector nozzle 80b will operate.

続いて、図9に示された「レベル1」の設定は、前述の「レベル2」よりも選別強度が高く設定されている。そして、噴射時間は「レベル5」の3倍の長さとなる「30」、オーバーラップ値が「レベル2」の2倍となる「16」、細線化の処理が「OFF」にプリセットされている。 Next, the setting of "level 1" shown in FIG. 9 has a higher sorting strength than that of the above-described "level 2". The injection time is preset to "30" which is three times longer than "level 5", the overlap value is preset to "16" which is twice as long as "level 2", and the thinning process is preset to "OFF". .

図9に示された「レベル1」の設定では、オーバーラップ値が「16」となって、オーバーラップエリアの幅が、図示されるように「レベル2」のときの2倍となっている。そして、図示される実施形態では、欠陥エリア(細線化OFF)の左側部分が、第2エジェクタノズル80bと第1エジェクタノズル80aとの境界ラインを跨いで設定されたオーバーラップエリアに入っている。これにより、第2エジェクタノズル80bに加えて第1エジェクタノズル80aも動作することとなり、図示されるような噴射エリアとなって穀粒100に圧縮空気が噴射されるように構成されている。 In the "level 1" setting shown in FIG. 9, the overlap value is "16" and the width of the overlap area is double that of "level 2" as shown. . In the illustrated embodiment, the left side portion of the defect area (thinning OFF) is included in the overlap area set across the boundary line between the second ejector nozzle 80b and the first ejector nozzle 80a. As a result, the first ejector nozzle 80a is activated in addition to the second ejector nozzle 80b, and the ejection area as shown in the figure is formed so that the compressed air is ejected to the kernel 100. FIG.

したがって、「レベル1」の設定では、穀粒100の外形よりも広い範囲がエジェクタノズル80による噴射エリアとなる。しかし、穀粒100は粒同士が近接して連続的に帯状に流下してくるので、不良品の近傍の良品がエジェクタノズル80から噴射される圧縮空気の巻き添えとなって除去される。このため、低歩留まりとなるが、不良品は確実に除去できるようになるので、高品質の穀粒100を得ることができる。 Therefore, in the setting of “level 1”, the ejection area of the ejector nozzle 80 is a range wider than the outline of the grain 100 . However, since the grains 100 are closely adjacent to each other and continuously flow down in a belt shape, the non-defective grains in the vicinity of the defective grains are removed by the compressed air ejected from the ejector nozzle 80 . Therefore, although the yield is low, defective products can be reliably removed, so that high-quality grains 100 can be obtained.

以上、本実施形態における各選別強度レベルにおける動作設定パラメータの一例を説明したが、48個のエジェクタノズル80のうち、両端部にあるエジェクタノズル80には隣接するエジェクタノズル80は一方側にしかない。したがって、オーバーラップ値を設定した場合には、隣接するエジェクタノズル80が存在する一方側にのみオーバーラップエリアが設定され、エジェクタノズル80が動作することとなる。また、上記した「噴射時間」、「オーバーラップ」、「細線化」の各動作設定パラメータの設定は、メンテナンスエンジニアによりプリセットされるものであり、光学式選別機1のユーザは前述したように、図4に示されたような設定画面で選別強度レベルの指定をするだけよい。したがって、従来のように、度々、メンテナンスエンジニアが各動作設定パラメータを設定し、さらに、トライ&エラーを行い、時間をかけてエジェクタ8の動作設定を行うような手間を大幅に削減することが可能となる。 An example of operation setting parameters for each sorting strength level in this embodiment has been described above. Therefore, when the overlap value is set, the overlap area is set only on one side where the adjacent ejector nozzles 80 exist, and the ejector nozzles 80 operate. In addition, the setting of each operation setting parameter of "injection time", "overlap", and "thinning" is preset by a maintenance engineer, and the user of the optical sorting machine 1 can, as described above, All that is required is to specify the sorting strength level on the setting screen as shown in FIG. Therefore, it is possible to greatly reduce the time and effort required for a maintenance engineer to frequently set each operation setting parameter, perform trial and error, and spend time setting the operation of the ejector 8, as in the past. becomes.

なお、図10には、メンテナンスエンジニア専用の設定画面の一例が図示されており、表示画面右上の詳細設定アイコン254をタッチすることによって不図示の詳細設定画面に移行し、各選別強度レベルにおける「噴射時間」、「オーバーラップ」、「細線化」の各動作設定パラメータの設定が可能となっている。また、動作設定パラメータの設定の際、レベル5~1のいずれかで動作設定パラメータを設定すれば、他の選別強度レベルにおける動作設定パラメータが、レベルに応じて自動的に設定されるように構成されている。このような構成によれば、動作設定パラメータの設定や変更を行う場合に、他の全ての選別強度レベルに対して動作設定パラメータを入力するような手間を省くことが可能となる。 In addition, FIG. 10 shows an example of a setting screen dedicated to maintenance engineers. By touching the detail setting icon 254 on the upper right of the display screen, the screen shifts to a detail setting screen (not shown), and " Operation setting parameters such as injection time, overlap, and thinning can be set. Also, when setting the operation setting parameters, if the operation setting parameters are set at any of levels 5 to 1, the operation setting parameters at other sorting strength levels are automatically set according to the level. It is According to such a configuration, when setting or changing operation setting parameters, it is possible to save the trouble of inputting operation setting parameters for all other sorting strength levels.

(その他の実施形態)
以上、本発明の光学式選別機について、一の実施形態について説明した。しかし、本発明は前述の実施形態に必ずしも限定されるものではなく、例えば以下のような変形例も含まれる。
(Other embodiments)
One embodiment of the optical sorting machine of the present invention has been described above. However, the present invention is not necessarily limited to the above-described embodiments, and includes, for example, the following modifications.

例えば、前述の実施形態では穀粒100の選別方法について説明したが、必ずしも穀粒100に限定されるものではなく、選別対象はペレット、ビーズ等の樹脂片、豆類、医薬品、鉱石類、シラス等の細かい物品を含む粒状物を選別する場合にも、本発明の光学式選別機は有効に適用することが可能である。 For example, in the above-described embodiment, a method for sorting grains 100 was described, but the grains 100 are not necessarily limited to sorting objects, and the sorting objects are pellets, resin pieces such as beads, beans, pharmaceuticals, ores, whitebait, etc. The optical sorting machine of the present invention can be effectively applied even when sorting granular materials including fine-sized articles.

また、前述の実施形態では、選別強度レベルを「レベル5」から「レベル1」までの5段階としたが、必ずしも5段階に限定されるものではなく、任意の数の段階的な選別強度レベルを設定することが可能である。 In addition, in the above-described embodiment, the sorting intensity level is set to five levels from "level 5" to "level 1", but the number is not necessarily limited to five, and any number of stepwise sorting intensity levels can be used. can be set.

また、前述の実施形態では、選別強度レベルにおいてプリセットされる設定項目として、「噴射時間」、「オーバーラップ」、「細線化」の3種類とした。これらの設定項目は歩留まりや品質に大きく影響するため、これらの項目をプリセット可能に構成することで効果的に歩留まりや品質を調整することが可能となる。しかし、設定項目は必ずしもこれらに限定されるものではなく、他の種類の設定項目を複数プリセット可能に構成してもよい。 In the above-described embodiment, three types of "injection time", "overlap", and "thinning" are used as setting items preset in the sorting intensity level. Since these setting items greatly affect the yield and quality, it is possible to effectively adjust the yield and quality by configuring these items so that they can be preset. However, the setting items are not necessarily limited to these, and a plurality of other types of setting items may be preset.

また、前述の実施形態では、図4に示されるように、低歩留まりから高歩留まりまでレベル調整を可能に構成したが、必ずしもこのような構成に限定されるものではなく、例えば、得られる粒状物の品質に重点を置いて各動作設定パラメータを選別強度レベルごとに設定し、低品質から高品質までレベル調整できるようにしてもよい。そして、図4に示されるようなレベル選択画面において、低歩留まりから高歩留まりのレベル選択に加えて、低品質から高品質のレベル選択を行えるようにしてもよい。 Further, in the above-described embodiment, as shown in FIG. 4, it is configured to enable level adjustment from low yield to high yield, but the configuration is not necessarily limited to such a configuration. Each operation setting parameter may be set for each sorting intensity level, with emphasis on the quality of , so that the level can be adjusted from low quality to high quality. Then, in the level selection screen as shown in FIG. 4, in addition to the level selection from low yield to high yield, level selection from low quality to high quality may be performed.

また、図4に示されるような選別強度レベルの選択機能を、ON/OFFするような切替え手段を追加して搭載してもよく、このように構成することで、ユーザの要望に応じて選択機能をOFFし、各動作設定パラメータを個々に細かく設定することが可能となる。 In addition, switching means for turning ON/OFF the sorting strength level selection function as shown in FIG. 4 may be added and installed. It is possible to turn off the function and finely set each operation setting parameter individually.

以上、本発明の実施形態及びいくつかの変形例について説明したが、上記した発明の実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定するものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得るとともに、本発明にはその均等物が含まれる。また、上述した課題の少なくとも一部を解決できる範囲、または、効果の少なくとも一部を奏する範囲において、特許請求の範囲および明細書に記載された各構成要素の組み合わせ、または、省略が可能である。 Although the embodiments and some modifications of the present invention have been described above, the above-described embodiments are intended to facilitate understanding of the present invention and do not limit the present invention. The present invention may be modified and improved without departing from its spirit, and the present invention includes equivalents thereof. In addition, within the range where at least part of the above problems can be solved or where at least part of the effect is achieved, the components described in the claims and the specification can be combined or omitted. .

1 光学式選別機
2 機体
4 シュート
4a シュートカバー
5 貯留タンク
6 振動フィーダ
6a フィーダトラフ
6b 支持部
6c 電磁駆動コイル
7a 光学検出部
7b 光学検出部
8 エジェクタ
9 良品回収樋
10 不良品回収樋
11 補助不良品回収樋
12a 箱体
12b 箱体
13a CCDカメラ
13b CCDカメラ
14 NIRカメラ
15a 可視光源
15b 可視光源
15c 可視光源
15d 可視光源
16a 近赤外光源
16b 近赤外光源
17a 対向用バックグラウンド
17b 対向用バックグラウンド
17c 対向用バックグラウンド
18a 窓部材
18b 窓部材
22 エアー供給パイプ
24 前面ドア
25 液晶ディスプレイ
27 不良品受口
28 良品受口
29 補助不良品受口
30 サンプル取出部
31 信号処理部
32 メモリ部
33 画像データ取得部
34 しきい値データ格納メモリ
35 2値化計算機構
36 良品/不良品判定部
37 エジェクタ制御部
38 画像データ格納メモリ
39 しきい値データ計算機構
40 選別強度設定部
41 操作信号受信機構
42 エジェクタ駆動回路
80 エジェクタノズル
80a 第1エジェクタノズル
80b 第2エジェクタノズル
80c 第3エジェクタノズル
81 エジェクタ電磁弁
81a 第1エジェクタ電磁弁
81b 第2エジェクタ電磁弁
81c 第3エジェクタ電磁弁
100 穀粒
251 レベルアップアイコン
252 レベルダウンアイコン
253 エジェクタ設定アイコン
254 詳細設定アイコン
255 設定レベルアイコン
1 Optical sorting machine 2 Machine body 4 Chute 4a Chute cover 5 Storage tank 6 Vibration feeder 6a Feeder trough 6b Support part 6c Electromagnetic drive coil 7a Optical detection part 7b Optical detection part 8 Ejector 9 Good product collection gutter 10 Defective product recovery gutter 11 No auxiliary Good product collection gutter 12a Box 12b Box 13a CCD camera 13b CCD camera 14 NIR camera 15a Visible light source 15b Visible light source 15c Visible light source 15d Visible light source 16a Near infrared light source 16b Near infrared light source 17a Opposing background 17b Opposing background 17c Opposing background 18a Window member 18b Window member 22 Air supply pipe 24 Front door 25 Liquid crystal display 27 Defective item receiving port 28 Nondefective item receiving port 29 Auxiliary defective item receiving port 30 Sample extracting unit 31 Signal processing unit 32 Memory unit 33 Image data Acquisition unit 34 Threshold data storage memory 35 Binary calculation mechanism 36 Non-defective/defective product determination unit 37 Ejector control unit 38 Image data storage memory 39 Threshold data calculation mechanism 40 Sorting strength setting unit 41 Operation signal reception mechanism 42 Ejector drive circuit 80 ejector nozzle 80a first ejector nozzle 80b second ejector nozzle 80c third ejector nozzle 81 ejector solenoid valve 81a first ejector solenoid valve 81b second ejector solenoid valve 81c third ejector solenoid valve 100 grain 251 level up icon 252 Level down icon 253 Ejector setting icon 254 Detailed setting icon 255 Setting level icon

Claims (7)

移送手段で移送される粒状物に光学的検査を行う検査部と、
前記検査部による光学的検査に基づいて、前記粒状物が良品であるか不良品であるかを判別する判定部と、
複数のエジェクタノズルを有するとともに、前記不良品に該エジェクタノズルから圧縮空気を吹き付けて、該不良品と前記良品とを選別するエジェクタ制御部と、
前記エジェクタ制御部における選別強度を設定可能な選別強度設定部と、を有し、
前記選別強度は、複数の選別強度レベルから構成され、
前記選別強度設定部は、前記選別強度レベルごとに、前記エジェクタノズルの動作を制御する複数種類の動作設定パラメータをプリセット可能である
ことを特徴とする光学式選別機。
an inspection unit that optically inspects the granular material transferred by the transfer means;
a determination unit that determines whether the granular material is a non-defective product or a defective product based on the optical inspection by the inspection unit;
an ejector control unit that has a plurality of ejector nozzles and blows compressed air from the ejector nozzles onto the defective products to separate the defective products from the good products;
a sorting strength setting unit capable of setting a sorting strength in the ejector control unit,
the sorting strength is composed of a plurality of sorting strength levels;
The optical sorting machine, wherein the sorting intensity setting unit can preset a plurality of types of operation setting parameters for controlling the operation of the ejector nozzle for each of the sorting intensity levels.
前記エジェクタ制御部は、前記複数の選別強度レベルに応じて、前記複数のエジェクタノズルによる圧縮空気の噴射範囲を異ならせることが可能である
請求項1に記載の光学式選別機。
The optical sorting machine according to claim 1, wherein the ejector control unit is capable of varying the ejection ranges of the compressed air from the plurality of ejector nozzles according to the plurality of sorting strength levels.
前記エジェクタ制御部は、前記不良品における欠陥エリアを特定可能な欠陥エリア特定手段を有し、
前記欠陥エリア特定手段は、横方向に連続したエリア欠陥画素に対して、該エリア欠陥画素の中心線部分を欠陥画素として残す細線化処理を行うことが可能である
請求項1又は2に記載の光学式選別機。
The ejector control unit has defective area specifying means capable of specifying a defective area in the defective product,
3. The defective area specifying means according to claim 1, wherein the defective area identifying means is capable of performing thinning processing on horizontally continuous area defective pixels, leaving a center line portion of the area defective pixels as defective pixels. Optical sorting machine.
前記複数種類の動作設定パラメータは、前記エジェクタノズルによる噴射時間と、隣接する前記エジェクタノズルの境界ラインを挟んで、互いの噴射範囲を跨ぐオーバーラップエリアの広さであるオーバーラップ値と、を少なくとも含み、
前記エジェクタ制御部は、前記欠陥エリアの少なくとも一部が前記オーバーラップエリア内にある場合に、隣接する前記エジェクタノズルをともに噴射動作させる
請求項3に記載の光学式選別機。
The plurality of types of operation setting parameters include at least the ejection time of the ejector nozzle and an overlap value that is the size of an overlap area that straddles the ejection ranges of the adjacent ejector nozzles across a boundary line. including
4. The optical sorting machine according to claim 3, wherein the ejector control unit causes the adjacent ejector nozzles to operate together when at least part of the defect area is within the overlap area.
前記選別強度設定部は、光学式選別機のユーザが前記選別強度レベルを選択することが可能な設定入力手段と接続され、選択された前記選別強度レベルに応じて、歩留まりを調整可能である
請求項1乃至4のいずれかに記載の光学式選別機。
The sorting intensity setting unit is connected to setting input means that allows a user of the optical sorter to select the sorting intensity level, and is capable of adjusting the yield according to the selected sorting intensity level. Item 5. The optical sorting machine according to any one of Items 1 to 4.
前記設定入力手段は、前記選別強度レベルごとに、前記動作設定パラメータのプリセット操作が可能である
請求項5に記載の光学式選別機。
6. The optical sorting machine according to claim 5, wherein the setting input means is capable of presetting the operation setting parameters for each of the sorting intensity levels.
前記設定入力手段は、一つの選別強度レベルにおける前記動作設定パラメータのプリセット操作に応じて、他の選別強度レベルにおける前記動作設定パラメータのプリセットが操作することなく設定可能である
請求項6に記載の光学式選別機。
7. The setting input means according to claim 6, wherein the setting input means can set the presetting of the operation setting parameters at another sorting intensity level without operation in accordance with the operation of presetting the operation setting parameters at one sorting intensity level. Optical sorting machine.
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