JP7300275B2 - 検査装置、実装装置及び検査方法 - Google Patents

検査装置、実装装置及び検査方法 Download PDF

Info

Publication number
JP7300275B2
JP7300275B2 JP2019023991A JP2019023991A JP7300275B2 JP 7300275 B2 JP7300275 B2 JP 7300275B2 JP 2019023991 A JP2019023991 A JP 2019023991A JP 2019023991 A JP2019023991 A JP 2019023991A JP 7300275 B2 JP7300275 B2 JP 7300275B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
mark
leads
work
lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019023991A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2020136327A (ja
Inventor
康貴 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Mechatronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibaura Mechatronics Corp filed Critical Shibaura Mechatronics Corp
Priority to JP2019023991A priority Critical patent/JP7300275B2/ja
Publication of JP2020136327A publication Critical patent/JP2020136327A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7300275B2 publication Critical patent/JP7300275B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Combinations Of Printed Boards (AREA)

Description

本発明は、検査装置、実装装置及び検査方法に関する。
液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ等の表示装置は、ガラス板の上に回路及び信号線を形成するアレイ工程、一対のガラス板を貼り合せて表示領域を構成する基板としてのパネルを形成するセル工程、パネルにおける表示領域の外側に駆動用のドライバIC等を取り付けるモジュール工程を経て製造される。
ドライバICの実装方法として、従来から、COF(chip on film)等のドライバICを搭載したフレキシブルなフィルム状の電子部品を用いた方法が行われている。これは、パネルの表示領域の周囲から、表示面と平行な水平方向に露出して形成された電極に対して、電子部品の端子を圧着して接続する方法である。
以下、このような圧着対象となる基板、電子部品等の部材をそれぞれワークと呼ぶ。また、ワークの電極、端子等の導電性を有する部分をリードと呼ぶ。リードは、一対のワークを合わせたときに、互いに電気的に接続されるべき部分である。
ワーク同士の接続には、加熱圧着により、それぞれのワークのリード間の導電性を確保する異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)が用いられている。異方性導電フィルムは、基材となる樹脂の中に、小さな導電粒子が多数入ったシート状の部材である。基材の樹脂としては、熱硬化性樹脂が用いられている。
基板と電子部品には、互いのリードの位置合わせのために基準マークが設けられている。一対のワークの基準マークを撮像により検出して、両者の位置が一致するように位置決めする。そして、リード間に異方性導電フィルムを挟んだ一対のワークを、加熱しながら加圧すると、互いのリードの部分がワークの表面よりも出っ張っているので、その部分の導電粒子が押し潰されることによりリード同士が電気的に接続される。他の部分は押し潰されずに厚みが維持されるので、導電性が生じることがなく、絶縁性が確保される。熱硬化性樹脂の基材は、加熱により硬化するので、ワーク同士が機械的に接続される。
特開2002-227217号公報
以上のように、基板に設けられたリードと、それに対応する電子部品のリードとを異方性導電フィルム(ACF)を介して接続しても、接続後の端子同士の位置がずれていると電気的な接続状態が悪くなる。例えば、基板と電子部品との平行度が出ていない場合や、荷重が偏っている場合、ずれが生じる。
このため、接続後のリード同士の位置ずれを測定することにより、不良品を判別することが考えられる。このようなリード同士の位置ずれについても、撮像により検出することができる。但し、リード同士は、ほぼ完全に重なっている場合もあれば、大きくずれている場合もある。しかも、基板のリード、電子部品のリードは異なる輝度で撮像されるとともに、リード以外の背景は、通常、両者のリードの輝度の中間の輝度となる。
このため、接続後の双方のリード同士の境界、各リードと背景との境界を正確に検出するために、境界を検出する箇所毎に、適切なしきい値と走査方向とを設定しなければならず、設定作業が煩雑となり、オペレータの負担が増大する。
本発明は、上述のような課題を解決するために提案されたものであり、重ね合わされるべきリードの位置ずれを、簡易な設定で正確に検出できる検査装置、実装装置及び検査方法を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明の検査装置は、互いに重ね合わされて電気的に接続されるべきリードと、前記リードの位置合わせのための基準マークとを有する第1のワークと、前記リードと互いに重ね合わせて電気的に接続されるべきリードと、前記基準マークと同じ大きさであって、その外縁が一致する形状の基準マークを有する第2のワークと、検査対象が、圧着された前記第1のワーク及び前記第2のワークの基準マークが含まれるように撮像部によって撮像された撮像画像を、2値化することにより前記第1のワークの基準マークの画像を抽出した第1のマーク画像の部分を黒色とする第1の抽出画像を生成する第1の抽出部と、
前記撮像画像を、2値化することにより前記第2のワークの基準マークの画像を抽出した第2のマーク画像の部分を黒色とする第2の抽出画像を生成する第2の抽出部と、
前記第1の抽出画像及び前記第2の抽出画像に基づいて、前記第1のワークのリードと前記第2のワークのリードとの位置ずれを検出する検出部と、
記第1の抽出画像と前記第2の抽出画像を、前記撮像部が撮像した共通の前記撮像画像における座標上の位置を変えずに合成した合成マーク画像を含む合成画像を生成する合成部と、を有し、
前記検出部は、
前記第1のマーク画像に含まれる前記リードの端部のx座標であるX1と、前記第2のマーク画像に含まれる前記リードの端部のx座標であるX2と、前記第1のマーク画像に含まれる前記基準マークの一端部のy座標であるYT1と、前記合成マーク画像に含まれる前記基準マークの最上端部のy座標であるYT2と、前記第1のマーク画像に含まれる前記基準マークのうち、前記YT1の端部と反対側の下端部のy座標であるYB1と、前記合成マーク画像に含まれる前記基準マークのうち、前記YT2の端部と反対側の最下端部のy座標であるYB2と、を検出する位置検出部と、
前記位置検出部により検出された前記X1、X2、YT1、YT2、YB1、YB2の座標に基づいて、下記(1)式からx方向のずれ量Dxを求め、下記(2)式からy方向のずれ量Dyを求め、
Dx=X2-X1 式(1)
Dy=2{AVE(YT2、YB2)-AVE(YT1、YB1)}
=2(YC2-YC1) 式(2)
前記第1のワークのリードと前記第2のワークのリードの位置ずれの量を測定する測定部と、
を有する。
本発明の実装装置は、異方性導電フィルムを介して、第1のワーク及び第2のワークの互いのリードを加熱圧着する圧着装置と、前記検査装置と、を有する。
本発明の検査方法は、第1の抽出部が、互いに重ね合わされて電気的に接続されるべきリードと、前記リードの位置合わせのための基準マークを有する第1のワークと、前記リードと互いに重ね合わせて電気的に接続されるべきリードと、前記基準マークと同じ大きさであって、その外縁が一致する形状の基準マークとを有する第2のワークと、検査対象が、圧着された前記第1のワーク及び前記第2のワークの前記基準マークが含まれるように撮像部によって撮像された撮像画像を、2値化することにより前記第1のワークの基準マークの画像を抽出した第1のマーク画像の部分を黒色とする第1の抽出画像を生成し、
第2の抽出部が、前記撮像画像を、2値化することにより前記第2のワークの基準マークの画像を抽出した第2のマーク画像の部分を黒色とする第2の抽出画像を生成し、
合成部が、前記第1の抽出画像と前記第2の抽出画像を、前記撮像部が撮像した共通の前記撮像画像における座標上の位置を変えずに合成した合成マーク画像を含む合成画像を生成し、
検出部が、前記第1のマーク画像に含まれる前記リードの端部のx座標であるX1と、前記第2のマーク画像に含まれる前記リードの端部のx座標であるX2と、前記第1のマーク画像に含まれる前記基準マークの一端部のy座標であるYT1と、前記合成マーク画像に含まれる前記基準マークの最上端部のy座標であるYT2と、前記第1のマーク画像に含まれる前記基準マークのうち、前記YT1の端部と反対側の下端部のy座標であるYB1と、前記合成マーク画像に含まれる前記基準マークのうち、前記YT2の端部と反対側の最下端部のy座標であるYB2と、を検出し、
測定部が、前記検出部により検出された前記X1、X2、YT1、YT2、YB1、YB2の座標に基づいて、下記(1)式からx方向のずれ量Dxを求め、下記(2)式からy方向のずれ量Dyを求め、
Dx=X2-X1 式(1)
Dy=2{AVE(YT2、YB2)-AVE(YT1、YB1)}
=2(YC2-YC1) 式(2)
前記第1のワークのリードと前記第2のワークのリードの位置ずれの量を測定する
する。
本発明は、重ね合わされるべきリードの位置ずれを、簡易な設定で正確に検出できる。
検査対象を示す斜視図である。 検査対象のリードを示す平面図である。 撮像部により撮像された画像を示す図である。 検査対象の圧着部分の熱圧着前(A)と熱圧着後(B)を示す断面図である。 実施形態の圧着装置及び検査装置を示すブロック図である。 圧着装置を示す構成図である。 検査装置を示す構成図である。 実施形態の制御装置を示すブロック図である。 第1の抽出画像(A)、第2の抽出画像(B)、合成画像(C)を示す図である。 合成画像を示す図である。 検査装置の動作手順を示すフローチャートである。
本発明の実施の形態(以下、本実施形態と呼ぶ)について、図面を参照して具体的に説明する。
[検査対象]
図1~図3を参照して、本実施形態による検査対象Tを説明する。検査対象Tは、互いに重ね合わされて電気的に接続されるべきリード11、21を有する第1のワーク1及び第2のワーク2である。第1のワーク1及び第2のワーク2は、リード11、21の位置合わせのための基準マーク11a、21a(図3参照)を有する。本実施形態の検査対象Tは、第1のワーク1及び第2のワーク2と、リード11、21を電気的及び機械的に接続するためのACF3を含む。
第1のワーク1は、図1及び図2に示すように、導電性を有する部分であるリード11を有するとともに、透光性を有する基板である。第1のワーク1の基材1aは、柔軟性のある樹脂により形成されたフレキシブルなシートである。リード11は、銅などの金属材料からなる電極である。
本実施形態の第1のワーク1は、例えば、COF(chip on film)等の電子部品である。COFは、フレキシブルなシートに、ドライバICを搭載するとともにプリント配線を形成した部材である。
リード11は、図2に示すように、第1のワーク1の辺の近傍に設けられている。各リード21は、ドライバIC(不図示)に信号線を介して接続されている。リード21は、所定の間隔を空けて、複数本が並べて配置されている。
さらに、図3に示すように、第1のワーク1には、基準マーク11aが設けられている。基準マーク11aは、幾何学的な形状とする。本実施形態の基準マーク11aは、複数のリード11のうちの一つのリード11、より具体的には、複数のリード11のうち端に位置するリード11から、リード11の並び方向に延びた部分と、リード11の長手方向に延びた部分とが交差した十字形状である。基準マーク11aは、リード11を構成する材質と共通の材質であり、リード11とともに形成される。
第2のワーク2は、導電性を有する部分であるリード21を有するとともに、透光性を有する基板である。透光性を有するとは、赤外線、可視光線又は紫外線を透過することをいう。透光性は、光源からの光を透過できればよい。このため、赤外線、可視光線、紫外線の少なくとも一種を透過できればよい。第2のワーク2の基材2aは、例えば、ガラス又は樹脂により形成されている。リード21は、ITО(酸化インジウムスズ)などの透光性を有する材料からなる電極である。リード21は、第1のワーク1のリード21と、ACF3を介して電気的に接続するための部分である。
本実施形態の第2のワーク2は、例えば、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ等の表示領域を有する表示パネルである。このような表示パネルは、その大きさにより、図1(A)に示すように、第1のワーク1が複数圧着される場合と、図1(B)に示すように、単一の第1のワーク1が圧着される場合がある。
リード21は、図2に示すように、第2のワーク2の辺の近傍に複数設けられている。各リード21は、表示領域内の回路に信号線を介して接続されている。リード21は、所定の間隔を空けて、複数本が並べて配置されている。
さらに、図3に示すように、第2のワーク2には、基準マーク21aが設けられている。基準マーク21aは、幾何学的な形状とする。本実施形態の基準マーク21aは、複数のリード21のうちの一つのリード21、より具体的には、複数のリード21のうち端に位置するリード21から、リード21の並び方向に延びた部分と、リード21の長手方向に延びた部分とが交差した十字形状である。基準マーク21aは、リード21を構成する材質と共通の材質であり、リード21とともに形成される。基準マーク21aは、基準マーク11aと重なり合った場合に、その外縁が一致する形状と大きさである。
第1のワーク1のリード11、第2のワーク2のリード21は、互いに接続されるべき対応関係が決まっていて、対応するリード11、21同士の位置が合うように圧着される必要がある。このため、リード11、21の間隔も一致している。この一致は、対応するリード11、21同士の導電性が確保できるとともに、他の隣接するリード11、21との絶縁性が確保できる程度であればよい。また、基準マーク11aと基準マーク21aは、互いに外縁が一致するように重なり合った場合に、リード11、21同士の位置が合う位置に設けられている。
ACF3は、異方性導電部材であり、図4(A)に示すように、基材31に導電粒子32を分散させ、膜状としたフィルムである。基材31としては、加熱により硬化する熱硬化性樹脂であって、透光性のある材料が用いられる。なお、導電粒子32は、透光性を有しない。つまり、赤外線、可視光線又は紫外線を透過しない。
ACF3は、第1のワーク1と第2のワーク2との間に挟まれて、加熱されながら加圧される。すると、図4(B)に示すように、リード11とリード21との間に位置する導電粒子32がリード11、21で挟まれて潰れることにより、リード21とリード11との厚み方向の導電性と、厚み方向に交差する面方向の絶縁性を実現する。また、加熱により基材31の熱硬化性樹脂が硬化して、第1のワーク1を第2のワーク2に接着させる。つまり、加熱圧着により、リード11とリード21との電気的接続と、第1のワーク1と第2のワーク2との機械的接続が実現できる。
このように、第1のワーク1のリード11と第2のワーク2のリード21とが互いの位置が合うようにACF3を介して加熱圧着されたものが、検査対象Tとなる。但し、本実施形態は、リード11とリード21のずれを検査する装置であるため、検査対象Tには、リード21とリード11とがずれて、電気的接続が不良となっているものも含む。
[実装装置]
本実施形態の実装装置100は、図5に示すように、圧着装置40によって、ACF3を介して第1のワーク1及び第2のワーク2の互いのリード11、21を加熱圧着し、この第1のワーク1及び第2のワーク2を検査対象Tとして、検査装置50がリード11、21の位置ずれを検査する装置である。まず、圧着装置40について説明する。
[圧着装置の構成]
圧着装置40の構成を、図6を参照して説明する。なお、図中、第1のワーク1及び第2のワーク2が加圧される加圧方向に沿う方向をz方向とする。z方向に直交する平面において、複数のリード11、21の並び方向をx方向とし、x方向に直交するリード11、21の長手方向に沿う方向をy方向とする。これらの方向は、各装置の各構成の位置関係を述べるための表現であり、各装置が設置対象に設置された際の位置関係や方向を限定するものではない。
圧着装置40は、圧着部41、圧力受部42、支持部43を有する。圧着部41は、ACF3を介して、第1のワーク1及び第2のワーク2のリード11及びリード21を加熱圧着する構成部である。圧着部41は、加圧部材41a、加熱部41b、圧力調整部41cを有する。なお、第1のワーク1は、圧着装置40の前工程に配置された仮圧着装置によって、第2のワーク2にACF3を介して仮圧着された状態で、圧着装置40に供給されるものとして説明する。
加圧部材41aは、第1のワーク1を加圧する部材である。加圧部材41aは、幅方向に長尺な略直方体形状であり、第2のワーク2に仮圧着された複数の第1のワーク1を一括して加熱圧着できる長さを有している。この加熱圧着を本圧着と呼ぶ。加圧部材41aにおける第1のワーク1に対向する面には、帯状に突出した加圧部411を有する。この加圧部411は、第1のワーク1に平行に対向する平坦な加圧面を有する。
なお、図6では図示を省略しているが、加圧部材41aと第1のワーク1との間には、クッションシートが介在する。クッションシートは、加圧時の緩衝用のシートであり、図示しない供給リールに巻装されていて回動により送り出されて、回収リールに巻き取られて回収される。
加熱部41bは、加圧部材41aを加熱するヒータ等の部材である。圧力調整部41cは、加熱部41bによって加熱された加圧部材41aによって、第1のワーク1を加圧させる。圧力調整部41cは、図示はしないが、加圧源、駆動機構を有する。加圧源は、エアシリンダ等により加圧部材41aに圧力を与える装置である。駆動機構は、加圧源とともに、加圧部材41aを第1のワーク1に接離する方向に駆動するボールねじ等の機構である。
圧力受部42は、加圧部材41aの加圧部411との間で、第1のワーク1及び第2のワーク2を挟持する部材である。圧力受部42は、不図示の昇降機構により昇降自在の略直方体形状の部材であり、加圧部材41aと幅方向に同等の長さを有する。加熱部42bは、圧力受部42に内蔵され、バックアップ部42aを加熱するヒータ等の部材である。
支持部43は、第2のワーク2を支持する装置である。支持部43は、ステージ43a、移動装置43bを有する。ステージ43aは、第2のワーク2をxy平面で支持する台である。本実施形態では、ステージ43aは水平方向の平坦面で第2のワーク2を支持する。ステージ43aには、図示はしないが、真空源に接続された複数の穴が形成され、第2のワーク2を吸着保持可能に構成されている。移動装置43bは、ステージ43aをx方向、y方向に移動自在に且つz方向を軸として回動自在に支持する装置である。
支持部43は、仮圧着装置等の前工程から、第1のワーク1がACF3を介して仮圧着された第2のワーク2を受け取り、第1のワーク1が、加圧部411によって第2のワーク2に圧着される圧着位置に来るように、第2のワーク2を移動させる。また、支持部43は、圧着作業が完了して第1のワーク1が圧着された第2のワーク2、つまり検査対象Tを、導通検査のための検査装置等の後工程へと受け渡す。
[検査装置の構成]
次に、検査装置50の構成を、図7を参照して説明する。検査装置50は、ステージ60、撮像部70、照明部80、制御装置90を有する。なお、以下の説明では、リード11、21を撮像するための光軸に沿う方向がz方向である。
(ステージ)
ステージ60は、ACF3を介して加熱圧着済みの検査対象Tを載置する部材である。ステージ60は、水平方向の板状の部材である。ステージ60の上面は、第1のワーク1とは反対側の第2のワーク2の面が接するxy平面である載置面610を有する。
ステージ60は、保持部611、開口612を有する。保持部611は、検査対象Tを保持する。保持部611は、図示はしないが、載置面610に形成された吸着孔を有し、吸着孔に接続された図示しない空気圧回路に接続され、負圧による吸着を行うことができる。これにより、検査対象Tの第1のワーク1は、載置面610に吸着保持される。
開口612は、保持部611に保持される検査対象Tのリード11、21及び基準マーク11a、21aに対応する位置に、ステージ60を上下に貫通するように設けられている。
(撮像部)
撮像部70は、検査対象Tを撮像する。つまり、検査対象Tの基準マーク11a、21aが含まれるように、検査対象Tを撮像する。基準マーク11a、21aが含まれるとは、基準マーク11a、21aの少なくとも一部が含まれていればよい。また、基準マーク11a、21a以外のリード11、21が含まれていてもよい。本実施形態では、基準マーク11a、21aとともに、リード11、21の一部が含まれるように撮像する。なお、本実施形態では、撮像部70に近い側が第1のワーク1であって上側となり、遠い側が第2のワーク2となって下側となるように重ね合わされるが、これと逆であってもよい。
撮像部70は、カメラ71を有する。カメラ71は、レンズ等を含む光学部材、撮像素子であるCCD、CCDの受光量に応じて画像データを生成する画像処理回路を有するCCDカメラである。CCDは、筐体72に収容され、光学部材は鏡筒73に収容されている。カメラ71は、図3に示すように、少なくとも基準マーク11a、21a、本実施形態では、基準マーク11a、21a及びこれに連続したリード11、21が視野に収まるように、図示しない移動機構によって位置決め可能に設けられている。なお、カメラ71は、移動と撮像を繰り返し行い、撮像された画像を合成することにより所望の視野の画像を得るラインスキャンカメラとして構成してもよい。
(照明部)
照明部80は、検査対象Tに対して光を照射する。照明部80は、第1の照明装置81、第2の照明装置82、第3の照明装置83を有する。第1の照明装置81は、光源からの光を、カメラ71の光軸と平行な方向で照射する同軸落射照明装置である。第1の照明装置81は、カメラ71のレンズを内蔵した鏡筒73の側面から、鏡筒73内に光を照射するLED等の光源と、光源からの光の方向を変換して検査対象Tに照射させるハーフミラーを有する。
第2の照明装置82は、撮像部70の光軸の周囲から光を照射するリング照明装置である。第2の照明装置82は、複数のLED等の光源をリング状に配置して、光源からの光を検査対象Tに対して360°方向から照射する。第2の照明装置82のリング状の発光部分は、カメラ71と検査対象Tとの間に、カメラ71の光軸と同軸に配置されている。第3の照明装置83は、LED等の光源を、検査対象Tを挟んで、カメラ71と反対側に配置した透過照明装置である。
撮像部70のカメラ71は、第1の照明装置81及び第2の照明装置82から検査対象Tに照射された光の反射光及び第3の照明装置83から検査対象Tに照射された光の透過光を受光して、画像処理回路により、画像データである撮像画像を生成して出力する。照明部80の光量は、図3に示すように、撮像部70が撮像した撮像画像CP内において、第1のワーク1のリード11及び基準マーク11aが輝度が最小の黒、第2のワーク2のリード21及び基準マーク21aが輝度が最大の白、第1のワーク1の基材1a及び第2のワーク2の基材2a(背景)が白と黒の間の輝度となるように調整されている。すなわち、256階調のグレースケールの撮像画像CPを、第1のワーク1のリード11及び基準マーク11aの画素値が最小の0(黒)、第2のワーク2のリード21及び基準マーク21aの画素値が最大の255(白)、背景がその間の画素値となるように調整されている。なお、実際には、リード11、21や基準マーク11a、21aの画素値が0や255になる必要はなく、一方が画素値0に近く、他方が画素値255に近く、背景がその間の画素値となっていればよいが、本実施形態では説明を解り易くするために、輝度が黒と白に調整されるものとする。
(制御装置)
制御装置90は、圧着装置40、検査装置50を制御する装置である。制御装置90は、例えば、専用の電子回路若しくは所定のプログラムで動作するコンピュータ等によって構成される。制御装置90は、各部の制御内容のプログラムがメモリに記憶されており、PLCやCPUなどの処理装置によりそのプログラムが読み出されて実行される。
制御装置90は、図8に示すように、機構制御部91、第1の抽出部92、第2の抽出部93、合成部94、検出部95、判定部96、記憶部97、入出力制御部98を有する。機構制御部91は、圧着装置40、検査装置50の各部の動作、発光等を制御する。
第1の抽出部92は、図3に示すように撮像部70が撮像した撮像画像CPから、図9(A)に示すように、第1のワーク1の基準マーク11aの画像を抽出した第1のマーク画像M1を含む画像データである第1の抽出画像CPaを生成する。本実施形態では、第1のマーク画像M1には、リード11の画像も含まれる。抽出は、基準マーク11a及びリード11の領域とそれ以外の領域が区別された画像とすることをいう。第1の抽出画像CPaの抽出は、撮像画像CPを、2値化することにより行う。つまり、図3に示すように、基準マーク11a及びリード11の黒の部分とその他の部分とを識別する輝度(画素値)のしきい値に基づいて、撮像画像CPにおける黒の部分を黒とし、その他の部分を白に変換する。
第2の抽出部93は、図3に示すように、撮像部70が撮像した撮像画像CPから、図9(B)に示すように、第2のワーク2の基準マーク21aを抽出した第2のマーク画像M2を含む画像データである第2の抽出画像CPbを生成する。本実施形態では、第2のマーク画像M2には、リード21の画像も含まれる。抽出は、基準マーク21a及びリード21の領域とそれ以外の領域が区別された画像とすることをいう。第2の抽出画像CPbの抽出は、撮像画像CPを、2値化することにより行う。つまり、図3に示すように、基準マーク21a及びリード21の白の部分とその他の部分とを識別する輝度(画素値)のしきい値に基づいて、撮像画像CPにおける白の部分を黒、その他の部分を白に変換する。
合成部94は、第1のマーク画像M1と第2のマーク画像M2とを、撮像画像CPにおける互いの位置関係を維持した状態で合成した合成マーク画像M3を含む合成画像CPcを生成する。つまり、合成部94は、図9(C)に示すように、第1の抽出画像CPaと第2の抽出画像CPbの黒色の部分(領域)を、撮像部70が撮像した共通の撮像画像における座標上の位置を変えずに合成する。
検出部95は、第1の抽出画像CPa及び第2の抽出画像CPbに基づいて、第1のワーク1のリード11と第2のワーク2のリード21との位置ずれの量を検出する。検出部95は、位置検出部95a、測定部95bを有する。位置検出部95aは、第1のマーク画像M1及び第2のマーク画像M2の少なくとも一方の位置と、合成マーク画像M3の位置とを検出する。この検出する位置とは、画像上の座標である。本実施形態では、x方向及びy方向の位置を示すxy座標を用いる。なお、位置の検出は、画像上の第1のマーク画像M1、第2のマーク画像M2、合成マーク画像M3の一部の座標を認識することも、認識した座標から、第1のマーク画像M1、第2のマーク画像M2、合成マーク画像M3の一部の座標を演算により求めることも含む。なお、ここで位置検出部95aは、第1のマーク画像M1及び第2のマーク画像M2の少なくとも一方の位置を検出する。但し、いずれの位置を検出するかは、予めオペレータが選択して設定することができる。例えば、オペレータは、図3に示すように、検査対象Tにおいて、撮像されたときに他の部材に遮蔽されることなく全形が映し出される方のマーク画像を、位置を検出するマーク画像として設定することができる。本実施形態では、第1のマーク画像M1、すなわち、第1のワーク1のリード11と基準マーク11aの画像を選択して設定している。なお、第1のワーク1、第2のワーク2同士を重ね合せる上下関係から、全形が映るマーク画像M1、M2が一義的に決定される場合、例えば、上側のワークのリード及び基準マークの全形が映る場合には、検査対象Tのうち上側に位置するワークのマーク画像の位置を検出するように、制御装置90に予め設定しておくこともできる。
本実施形態の位置の検出は、第1のマーク画像M1、第2のマーク画像M2、合成マーク画像M3の所定の端部の位置を検出することにより行う。例えば、あらかじめ設定されたライン上を走査することにより端部の位置を検出できる。本実施形態では、図9(A)に示すように、検出部95は、第1のマーク画像M1からX1、YT1、YB1を検出し、図9(B)に示すように、第2のマーク画像M2からX2を抽出し、図9(C)に示すように、合成マーク画像M3からYT2、YB2を検出する。
X1は、第1のマーク画像M1に含まれるリード11の端部のx座標である。X2は、第2のマーク画像M2に含まれるリード21の端部のx座標である。X1、X2は、ずれが無ければ互いに一致すべき端部のx座標である。
YT1は、第1のマーク画像M1に含まれる基準マーク11aの一端部、ここでは図中の上端部のy座標である。YT2は、合成マーク画像M3に含まれる基準マーク11a、21aの最上端部のy座標である。本実施形態では、第2のマーク画像M2が画面上側にずれた状態を示しているので、基準マーク21aの上端部のy座標が検出されている。YT1、YT2は、ずれが無ければ互いに一致すべき端部のy座標である。なお、基準マーク21aが画面下側にずれた場合にもYT1、YT2は一致する。
YB1は、第1のマーク画像M1に含まれる基準マーク11aのうち、YT1の端部と反対側の下端部のy座標である。YB2は、合成マーク画像M3に含まれる基準マーク11a、21aのうち、YT2の端部と反対側の最下端部のy座標である。このYB2は、ずれが無ければ、YB1と一致する。また、基準マーク21aが画面上側にずれた場合にもYB2はYB1と一致する。本実施形態では、第2のマーク画像M2が画面上側にずれた状態を示しているので、YB2はYB1と一致する。なお、基準マーク21aが画面下側にずれた場合には、基準マーク21aの下端部のy座標が検出される。YC1は、YT1とYB1とのy方向の中点であり、YT1とYB1から演算により求める。YC2は、YT2とYB2とのy方向の中点であり、YC2とYB2から演算により求める。
測定部95bは、位置検出部95aにより検出された位置に基づいて、第1のワーク1のリード11と第2のワーク2のリード21との位置ずれの量を測定する。例えば、図10に示すように、位置検出部95aにより、X1、X2、YT1、YT2、YB1、YB2が検出されたとする。すると、測定部95bは、以下の式により、x方向のずれ量Dx、y方向のずれ量Dyを算出できる。
Dx=X2-X1 …式(1)
Dy=2{AVE(YT2,YB2)-AVE(YT1,YB1)}
=2(YC2-YC1) …式(2)
式(1)は、X2とX1との差分をとることにより、x方向のずれ量Dxを求める式である。式(2)は、YT2とYB2の平均、つまりy方向の中点YC2と、YT1とYB1の平均、つまりy方向の中点YC1との差分をとり、これを2倍することにより、y方向のずれ量Dyを求める式である。
判定部96は、ずれ量Dx、Dyに基づいて、検査対象Tの良否を判定する。例えば、判定部96は、検出部95により求めたずれ量Dxが、x方向のずれ量のしきい値を超えている場合には、検査対象Tは不良(否)と判定する。また、判定部96は、検出部95により求めたずれ量Dyが、y方向のずれ量のしきい値を超えている場合には、検査対象Tは不良(否)と判定する。つまり、判定部96は、ずれ量Dx及びDyの少なくとも一方がしきい値を超えていれば、検査対象Tは不良と判定する。
記憶部97は、本実施形態の制御に必要な情報を記憶する。記憶部97に記憶される情報としては、撮像画像CP、第1のマーク画像M1を抽出するための2値化のしきい値及び第1の抽出画像CPa、第2のマーク画像M2を抽出するための2値化のしきい値及び第2の抽出画像CPb、合成画像CPc、位置検出部95aにより検出された位置、測定部95bによる演算式及び測定されたずれ量、判定部96による判定のためのしきい値及び判定結果が含まれる。入出力制御部98は、制御対象となる各部との間での信号の変換や入出力を制御するインタフェースである。
さらに、制御装置90には、入力装置99a、出力装置99bが接続されている。入力装置99aは、オペレータが、制御装置90を介して圧着装置40、検査装置50を操作するためのスイッチ、タッチパネル、キーボード、マウス等の入力手段である。オペレータは、入力装置99aによって、所望の動作タイミング、しきい値等を入力することができる。
出力装置99bは、装置の状態を確認するための情報を、オペレータが認識可能な状態とする出力手段である。例えば、出力装置99bは、撮像画像CP、第1の抽出画像CPa、第2の抽出画像CPb、合成画像CPc、検出部95により検出されたずれ量、判定部96による判定結果等を表示する表示装置を含む。なお、出力装置99bは、判定部96による判定結果に応じて点灯するランプや音声を出力するスピーカ、ブザー等によって構成してもよい。例えば、判定結果が不良であった場合に、ランプが点灯することにより、又はスピーカ、ブザーが音を発することにより、不良であることをオペレータに通知してもよい。
[動作]
次に、本実施形態の動作例を、図1~図10に加えて、図11のフローチャートを参照して説明する。
(圧着動作)
まず、図6に示すように、第1のワーク1がACF3を介して仮圧着された第2のワーク2が、支持部43のステージ43aに載置され、移動装置43bによって、第2のワーク2、第1のワーク1が圧着位置に来る。そして、圧力受部42が上昇して、バックアップ部42aの受け面が、第2のワーク2の下面に接する位置に来る。加圧部材41a、バックアップ部42aは、それぞれ加熱部41b、42bによって加熱されている。
この状態で、加圧部材41aが下降して、加圧部411の加圧面が、クッションシートを介して第1のワーク1に当接する。ACF3の基材31はバックアップ部42aの加熱部42bによる加熱と加圧部411からの輻射熱によって加熱されて温度上昇を開始し、加圧面が第1のワーク1に当接すると、導電粒子32が潰れて、リード21とリード11との導電性が確保され、電気的な接続が確立される。その後、基材31の硬化が進行して、第1のワーク1と第2のワーク2とが接合され、機械的な接続が確立される。
(ずれ量の検出)
以上のように第1のワーク1が加熱圧着された第2のワーク2、つまり、検査対象Tは、図7に示すように、第2のワーク2側がステージ60の載置面610に載置され、保持部611により吸着保持される(ステップS101)。このとき、開口612の上に、リード11、21の一部を含む基準マーク11a、21aが来る。
照明部80により検査対象Tに対して光が照射され、撮像部70により検査対象Tの基準マーク11a、21aを含むリード11、21が撮像される(ステップS102)。第1の抽出部92は、得られた撮像画像CPを2値化することにより、図9(A)に示すように、第1のマーク画像M1の部分を黒とする第1の抽出画像CPaを生成する(ステップS103)。位置検出部95aは第1のマーク画像M1のX1、YT1、YB1を検出し、YC1=(AVE(YT1,YB1))を求める(ステップS104)。
第2の抽出部93は、撮像画像CPを2値化することにより、図9(B)に示すように、第2のマーク画像M2の部分を黒とする第2の抽出画像CPbを生成する(ステップS105)。位置検出部95aは、第2のマーク画像M2のX2を検出する(ステップS106)。
合成部94は、第1の抽出画像CPaの第1のマーク画像M1と第2の抽出画像CPbの第2のマーク画像M2を合成した合成マーク画像M3を含む合成画像CPcを生成する(ステップS107)。位置検出部95aは、合成マーク画像M3のYT2、YB2を検出し、YC2=(AVE(YT2,YB2))を求める(ステップS108)。
測定部95bは、x方向の座標であるX1及びX2と、y方向の座標であるYC1及びYC2に基づいて、x方向のずれ量Dxを、Dx=X2-X1として求め、y方向のずれ量Dyを、Dy=2(YC2-YC1)として求める(ステップS109)。
判定部96は、x方向のずれ量Dxがしきい値を超えているか否か、y方向のずれ量Dyがしきい値を超えていること否かにより検査対象Tの良否を判定する(ステップS110)。Dx及びDyの双方がしきい値を超えていない場合には(ステップS110のNO)、良品であると判定する(ステップS111)。Dx及びDyの少なくとも一方がしきい値を超えている場合には(ステップS110のYES)、不良品と判定する(ステップS112)。
このような判定結果は、出力装置99bにより出力されることにより、オペレータに通知され、オペレータは、不良と判定された検査対象Tを排除することにより、導通検査等の次工程に進めないようにする。これにより、検査対象を絞り、生産効率を高めることができる。
[作用効果]
(1)以上のような実施形態の検査装置50は、互いに重ね合わされて電気的に接続されるべきリード11、21と、リード11、21の位置合わせのための基準マーク11a、21aとを有する第1のワーク1及び第2のワーク2がリード同士の位置を合わせるように重ね合わされた(具体的には、熱圧着された)ものを検査対象Tとする。検査装置50は、基準マーク11a、21aが含まれるように撮像された撮像画像CPから、第1のワーク1の基準マーク11aの画像を抽出した第1のマーク画像M1を含む第1の抽出画像CPaを生成する第1の抽出部92と、撮像画像CPから、第2のワーク2の基準マーク21aの画像を抽出した第2のマーク画像M2を含む第2の抽出画像CPbを生成する第2の抽出部93を有する。また、検査装置50は、第1の抽出画像CPa及び第2の抽出画像CPbに基づいて、第1のワーク1のリード11と第2のワーク2のリード21との位置ずれを検出する検出部95を有する。
このため、検査対象Tの撮像画像から、第1の抽出部92は、第1のマーク画像M1のみを抽出すればよく、第2の抽出部93は、第2のマーク画像M2のみを抽出すればよい。このため、抽出のための設定が容易となる。例えば、上記の図3に示したように、撮像画像CPにおいて、第1のワーク1の基準マーク11a及びリード11が黒、第2のワーク2の基準マーク21a及びリード21が白となるように照明が調整され、背景となる第1のワーク1の基材1a、第2のワーク2の基材2aは中間色のグレーの画像となるとする。すると、この撮像画像から、リード11と背景、リード21と背景、リード11とリード21を識別しようとすると、グレーから走査を開始して白を識別するしきい値、白から走査を開始してグレーを識別するしきい値、グレーから走査を開始して黒を識別するしきい値、黒から走査を開始してグレーを識別するしきい値、白から走査を開始して黒を識別するしきい値、黒から走査を開始して白を識別するしきい値等と様々のしきい値を設定する必要がある。また、それぞれの境界を判断できたとしても、リード11、リード21、背景の上下関係を判断することも難しい。
本実施形態では、撮像画像CPから第1のマーク画像M1のみを抽出した第1の抽出画像CPaと、撮像画像CPから第2のマーク画像M2のみを抽出した第2の抽出画像CPbを用いるため、それぞれを抽出するためのしきい値の設定が簡易となる。
(2)第1のマーク画像M1と第2のマーク画像M2とを、撮像画像CPにおける互いの位置を維持した状態で合成した合成マーク画像M3を含む合成画像CPcを生成する合成部94を有し、検出部95は、第1のマーク画像M1及び第2のマーク画像M2の少なくとも一方の位置と、合成マーク画像M3の位置とを検出する位置検出部95aと、位置検出部95aにより検出された位置に基づいて、第1のワーク1のリード11と第2のワーク2のリード21の位置ずれの量を測定する測定部95bと、を有する。
第1の抽出画像CPaに対して第1のマーク画像M1のみを検出対象とし、第2の抽出画像CPbに対しては第2のマーク画像M2のみを検出対象とすればよいため、それぞれの位置の検出が容易となる。合成マーク画像M3の位置を検出することにより、リード11とリード21とを識別したり、リード11とリード21の重なりの上下関係を判断する必要がない。例えば、第1のマーク画像M1の位置、これに対応する第2のマーク画像M2の位置を容易に検出できるので、リード11とリード21がどの方向にどの程度ずれているかについても座標から判断できる。さらに、図9(B)のYNのように、対象画像が小さくなったり、図9(C)、図10のYNのように、リード11の外縁であるか、リード21の外縁であるかが判断し難い位置について検出することなく、外縁として特定し易い箇所の位置のみで位置ずれを判定することができる。
さらに、本実施形態では、いずれの画像CPa、CPb、CPcについても2値化画像としている。そのため、それぞれの画像CPa、CPb、CPc内からマーク画像M1、M2、M3を検出するしきい値も共通する一つのしきい値とすることができる。このことからも、リード11とリード21の位置ずれを容易に検出することができる。
(3)第1の抽出部92及び第2の抽出部93は、共通の撮像画像から、第1の抽出画像CPa及び第2の抽出画像CPbを生成する。このため、第1の抽出画像CPaに含まれる第1のマーク画像M1と第2の抽出画像CPbに含まれる第2のマーク画像M2との互いの位置関係を容易且つ正確に維持できる。
(4)撮像画像CPを生成するために、検査対象Tを撮像する撮像部70と、検査対象Tに対して、撮像部70の光軸の周囲から光を照射するリング照明装置である第2の照明装置82を有する。このため、影が生じることを防止して、基準マーク11a、21aの外縁を正確に反映した第1のマーク画像M1、第2のマーク画像M2を抽出できる。
[変形例]
基準マーク11a、21aの形状や位置は、上記の態様には限定されない。リード11、21と連続していても、リード11、21から独立していてもよい。また、リード11、21の一部を基準マーク11a、21aとして用いてもよい。例えば、リード11のいずれか1つ、これに重ね合わされるべきリ1つのリード21を、基準マーク11a、21aとしてもよい。
上記の態様では、第1のマーク画像M1、第2のマーク画像M2を黒、それ以外の背景を白で2値化したが、第1のマーク画像M1、第2のマーク画像M2を白、それ以外の背景を黒で2値化してもよい。また、表示装置に表示する際には、一旦、2値化した第1のマーク画像M1、第2のマーク画像M2とそれ以外の背景の色を、白と黒で表示してもよいが、互いを識別できる他の色に変換して表示してもよい。
基材1aの材質は樹脂製には限定されない。また、フレキシブルでなくてもよい。基材1aにガラス製の基板を用いてもよい。基材2aを、ガラス製ではなく樹脂製としてもよい。基材2aがフレキシブルであってもよい。基材1a、2aの樹脂としては、ポリイミドやポリエチレンテレフタレート等、現在又は将来において、透光性を有する基板材料として適用可能な種々のものを用いることができる。リード11、21は、酸化亜鉛、酸化スズ、酸化チタン、ポリアニリン、グラフェン等、現在又は将来において、透光性を有する電極材料として適用可能な種々の材料を用いることができる。
さらに、基材1a及び基材2a、ACF3の基材31、リード21の全部又は一部は、透光性を有していなくてもよい。また、リード11は、透光性であってもよい。但し、リード11及び基準マーク11aの輝度と、リード21及び基準マーク21aの輝度と、それ以外の背景の輝度とは、それぞれ異なるように撮像されることが好ましい。
また、第1の抽出部92および第2の抽出部93が抽出する画像は、x方向及びy方向の位置が検出できる画像であればよい。したがって、基準マーク11a、21aのみでxおよびy方向の位置が検出できるのであれば、リード11、21の画像を含まない基準マーク11a、21aの画像のみを抽出してもよい。
また、撮像部70による撮像画像は、白黒画像(グレースケール画像)でも、カラー画像でもどちらでもよい。要は、基準マーク11aの画像、基準マーク21aの画像、背景画像との3つの画像が区別できる画像であればよい。
また、上記の態様では、本圧着によって加熱圧着された第1のワーク1及び第2のワーク2を検査対象Tとしたが、これに限られるものではなく、例えば、仮圧着されて本圧着される前の第1のワーク1及び第2のワーク2を検査対象Tとしてもよい。要は、リード同士の位置を合わせるように重ね合わされた第1のワーク1と第2のワーク2であればよい。
また、制御装置90は、圧着装置40と検査装置50とで共用するものに限られるものではなく、例えば、それぞれ制御装置を個別に備えるようにしてもよく、さらに個別に設けた制御装置を上位の統括制御装置で統括制御するようにしてもよい。
[他の実施形態]
以上、本発明の実施形態及び各部の変形例を説明したが、この実施形態や各部の変形例は、一例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。上述したこれら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明に含まれる。
1 第1のワーク
1a、2a 基材
2 第2のワーク
11、21 リード
11a、21a 基準マーク
3 ACF
31 基材
32 導電粒子
40 圧着装置
41 圧着部
41a 加圧部材
41b 加熱部
41c 圧力調整部
42 圧力受部
42a バックアップ部
42b 加熱部
43 支持部
43a ステージ
43b 移動装置
50 検査装置
60 ステージ
70 撮像部
71 カメラ
72 筐体
73 鏡筒
80 照明部
81 第1の照明装置
82 第2の照明装置
83 第3の照明装置
90 制御装置
91 機構制御部
92 第1の抽出部
93 第2の抽出部
94 合成部
95 検出部
95a 位置検出部
95b 測定部
96 判定部
97 記憶部
98 入出力制御部
99a 入力装置
99b 出力装置
100 実装装置
411 加圧部
610 載置面
611 保持部
612 開口
CP 撮像画像
CPa 第1の抽出画像
CPb 第2の抽出画像
CPc 合成画像
Dx、Dy ずれ量
M1 第1のマーク画像
M2 第2のマーク画像
M3 合成マーク画像
T 検査対象

Claims (6)

  1. 互いに重ね合わされて電気的に接続されるべきリードと、前記リードの位置合わせのための基準マークとを有する第1のワークと、前記リードと互いに重ね合わせて電気的に接続されるべきリードと、前記基準マークと同じ大きさであって、その外縁が一致する形状の基準マークを有する第2のワークと、査対象が、圧着された前記第1のワーク及び前記第2のワークの基準マークが含まれるように撮像部によって撮像された撮像画像を、2値化することにより前記第1のワークの基準マークの画像を抽出した第1のマーク画像の部分を黒色とする第1の抽出画像を生成する第1の抽出部と、
    前記撮像画像を、2値化することにより前記第2のワークの基準マークの画像を抽出した第2のマーク画像の部分を黒色とする第2の抽出画像を生成する第2の抽出部と、
    前記第1の抽出画像及び前記第2の抽出画像に基づいて、前記第1のワークのリードと前記第2のワークのリードとの位置ずれを検出する検出部と、
    前記第1の抽出画像と前記第2の抽出画像を、前記撮像部が撮像した共通の前記撮像画像における座標上の位置を変えずに合成した合成マーク画像を含む合成画像を生成する合成部と、を有し、
    前記検出部は、
    前記第1のマーク画像に含まれる前記リードの端部のx座標であるX1と、前記第2のマーク画像に含まれる前記リードの端部のx座標であるX2と、前記第1のマーク画像に含まれる前記基準マークの一端部のy座標であるYT1と、前記合成マーク画像に含まれる前記基準マークの最上端部のy座標であるYT2と、前記第1のマーク画像に含まれる前記基準マークのうち、前記YT1の端部と反対側の下端部のy座標であるYB1と、前記合成マーク画像に含まれる前記基準マークのうち、前記YT2の端部と反対側の最下端部のy座標であるYB2と、を検出する位置検出部と、
    前記位置検出部により検出された前記X1、X2、YT1、YT2、YB1、YB2の座標に基づいて、下記(1)式からx方向のずれ量Dxを求め、下記(2)式からy方向のずれ量Dyを求め、
    Dx=X2-X1 式(1)
    Dy=2{AVE(YT2、YB2)-AVE(YT1、YB1)}
    =2(YC2-YC1) 式(2)
    前記第1のワークのリードと前記第2のワークのリードの位置ずれの量を測定する測定部と、
    を有することを特徴とする検査装置。
  2. 前記測定部により求められたずれ量Dx及びDyの少なくとも一方がしきい値を超えている場合、前記検査対象を不良と判定する判定部を有することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
  3. 記検査対象に対して、前記撮像部の光軸の周囲から光を照射するリング照明を有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の検査装置。
  4. 異方性導電フィルムを介して、第1のワーク及び第2のワークの互いのリードを加熱圧着する圧着装置と、
    請求項1乃至のいずれかに記載の検査装置と、
    を有することを特徴とする実装装置。
  5. 第1の抽出部が、互いに重ね合わされて電気的に接続されるべきリードと、前記リードの位置合わせのための基準マーク有する第1のワークと、前記リードと互いに重ね合わせて電気的に接続されるべきリードと、前記基準マークと同じ大きさであって、その外縁が一致する形状の基準マークとを有する第2のワークと、検査対象が、圧着された前記第1のワーク及び前記第2のワークの前記基準マークが含まれるように撮像部によって撮像された撮像画像を、2値化することにより前記第1のワークの基準マークの画像を抽出した第1のマーク画像の部分を黒色とする第1の抽出画像を生成し、
    第2の抽出部が、前記撮像画像を、2値化することにより前記第2のワークの基準マークの画像を抽出した第2のマーク画像の部分を黒色とする第2の抽出画像を生成し、
    合成部が、前記第1の抽出画像と前記第2の抽出画像を、前記撮像部が撮像した共通の前記撮像画像における座標上の位置を変えずに合成した合成マーク画像を含む合成画像を生成し、
    検出部が、前記第1のマーク画像に含まれる前記リードの端部のx座標であるX1と、前記第2のマーク画像に含まれる前記リードの端部のx座標であるX2と、前記第1のマーク画像に含まれる前記基準マークの一端部のy座標であるYT1と、前記合成マーク画像に含まれる前記基準マークの最上端部のy座標であるYT2と、前記第1のマーク画像に含まれる前記基準マークのうち、前記YT1の端部と反対側の下端部のy座標であるYB1と、前記合成マーク画像に含まれる前記基準マークのうち、前記YT2の端部と反対側の最下端部のy座標であるYB2と、を検出し、
    測定部が、前記検出部により検出された前記X1、X2、YT1、YT2、YB1、YB2の座標に基づいて、下記(1)式からx方向のずれ量Dxを求め、下記(2)式からy方向のずれ量Dyを求め、
    Dx=X2-X1 式(1)
    Dy=2{AVE(YT2、YB2)-AVE(YT1、YB1)}
    =2(YC2-YC1) 式(2)
    前記第1のワークのリードと前記第2のワークのリードの位置ずれの量を測定する
    ことを特徴とする検査方法。
  6. 前記測定部により求められたずれ量Dx及びDyの少なくとも一方がしきい値を超えている場合、前記検査対象を不良と判定することを特徴とする請求項5に記載の検査方法。
JP2019023991A 2019-02-13 2019-02-13 検査装置、実装装置及び検査方法 Active JP7300275B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019023991A JP7300275B2 (ja) 2019-02-13 2019-02-13 検査装置、実装装置及び検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019023991A JP7300275B2 (ja) 2019-02-13 2019-02-13 検査装置、実装装置及び検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020136327A JP2020136327A (ja) 2020-08-31
JP7300275B2 true JP7300275B2 (ja) 2023-06-29

Family

ID=72263563

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019023991A Active JP7300275B2 (ja) 2019-02-13 2019-02-13 検査装置、実装装置及び検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7300275B2 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012169370A (ja) 2011-02-10 2012-09-06 Hitachi High-Technologies Corp 表示パネル検査装置及び表示パネル検査方法
JP2013015328A (ja) 2011-06-30 2013-01-24 Hitachi High-Technologies Corp 表示パネル検査装置及び表示パネル検査方法
JP2013225545A (ja) 2012-04-20 2013-10-31 Hitachi High-Technologies Corp Fpdモジュール組立装置、および、圧着ヘッド制御方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012169370A (ja) 2011-02-10 2012-09-06 Hitachi High-Technologies Corp 表示パネル検査装置及び表示パネル検査方法
JP2013015328A (ja) 2011-06-30 2013-01-24 Hitachi High-Technologies Corp 表示パネル検査装置及び表示パネル検査方法
JP2013225545A (ja) 2012-04-20 2013-10-31 Hitachi High-Technologies Corp Fpdモジュール組立装置、および、圧着ヘッド制御方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2020136327A (ja) 2020-08-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI416064B (zh) 量測三維形狀之方法
KR100958204B1 (ko) 평판디스플레이 패널 검사 장비 및 방법
US9091668B2 (en) Joint inspection apparatus
JP4495250B2 (ja) 検査装置及び検査方法
JP4809481B2 (ja) 検査装置及び検査方法
KR100796113B1 (ko) 범프 형상 계측 장치 및 그 방법
JPH02231510A (ja) 基板検査装置
US20130044204A1 (en) Board inspection apparatus
JPWO2009093445A1 (ja) 検査装置及び検査方法
JPH08330393A (ja) フラットパネルディスプレイへのic部品の接合方法
JP7012575B2 (ja) 検査装置及び検査方法
KR101711020B1 (ko) 마크 및 패턴 인식을 통한 tfog 본딩 얼라인 검사장치
CN103389308A (zh) 光学复检***及其检测方法
US20240193751A1 (en) Apparatus for hair inspection on substrate and method for hair inspection on substrate
JP7300275B2 (ja) 検査装置、実装装置及び検査方法
WO2006129873A1 (ja) 基板検査装置及び検査方法
JP2013076616A (ja) 導電体パターン検査装置、導電体パターン検査方法及び導電体パターンが形成される基板の位置合わせ装置
CN108811483B (zh) 组装电路板检测***及组装电路板检测方法
JP2013015328A (ja) 表示パネル検査装置及び表示パネル検査方法
JP2014021087A (ja) 検査装置及びモジュール組立装置
JP2008091843A (ja) 基板の圧着状態検査装置
JP7265949B2 (ja) 圧痕検査装置
JP2007047062A (ja) 表示パネルの検査方法および検査装置
TWI695325B (zh) 標記識別裝置、標記識別方法及假壓對位設備
KR101005076B1 (ko) 범퍼 검사장치 및 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220121

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20221130

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20221206

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230127

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230523

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230526

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230613

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230619

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7300275

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150