JP7259676B2 - 付着物検出装置および付着物検出方法 - Google Patents
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Description
エッジ強度も大きいという乱反射領域の特徴に基づく検出条件である。
10 カメラ
21 テンプレート情報
22 推定情報
23 条件情報
24 判定履歴情報
25 状態管理情報
31 取得部
32 算出部
33 検出部
34 状態管理部
35 補間部
100 セル
I 撮像画像
PX 画素
UA 単位領域
Claims (5)
- 撮像画像に含まれる所定数の画素からなる単位領域毎に、各画素のエッジベクトルに基づく領域特徴量を算出する算出部と、
前記領域特徴量に基づく第1の検出条件および第2の検出条件に基づいて、部分埋もれ箇所に該当する前記単位領域、および、乱反射箇所に該当する前記単位領域をそれぞれ検出する検出部と、
部分埋もれ箇所数、乱反射箇所数および埋もれ候補箇所数を加算した部分埋もれ箇所数に基づいて、前記乱反射箇所により低下する前記部分埋もれ箇所の面積率を算出する補間部と、
前記乱反射箇所の増減に基づいて、前記面積率の算出に関する各状態の状態遷移を管理する状態管理部と
を備えることを特徴とする付着物検出装置。 - 前記検出部は、
前記撮像画像に対し、前記部分埋もれ箇所の検出用である第1の注目領域よりも大きい第2の注目領域を設定し、該第2の注目領域に基づいて前記乱反射箇所を検出する
ことを特徴とする請求項1に記載の付着物検出装置。 - 前記検出部は、
前記部分埋もれ箇所よりもエッジ強度が大きくかつ輝度が高い前記単位領域を前記乱反射箇所として検出する
ことを特徴とする請求項1または2に記載の付着物検出装置。 - 前記状態管理部は、
所定量以上の前記乱反射箇所が存在する前記撮像画像が所定数以上連続する場合に、前記補間部に前記面積率を算出させる
ことを特徴とする請求項1~3のいずれか一つに記載の付着物検出装置。 - 撮像画像に含まれる所定数の画素からなる単位領域毎に、各画素のエッジベクトルに基づく領域特徴量を算出する算出工程と、
前記領域特徴量に基づく第1の検出条件および第2の検出条件に基づいて、部分埋もれ箇所に該当する前記単位領域、および、乱反射箇所に該当する前記単位領域をそれぞれ検出する検出工程と、
部分埋もれ箇所数、乱反射箇所数および埋もれ候補箇所数を加算した部分埋もれ箇所数に基づいて、前記乱反射箇所により低下する前記部分埋もれ箇所の面積率を算出する補間工程と、
前記乱反射箇所の増減に基づいて、前記面積率の算出に関する各状態の状態遷移を管理する状態管理工程と
を含むことを特徴とする付着物検出方法。
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