JP7206092B2 - 加熱装置及びその製造方法、並びにシステム - Google Patents

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Description

本開示は、加熱装置及びその製造方法、並びにシステムに関する。
特許文献1は、同文献の図1に開示のように、電極12、13間でセラミックハニカム構造体20Aを通電加熱することで、セラミックハニカム構造体20Aに担持された触媒を活性温度まで昇温する装置を開示する(同文献の段落0032も併せて参照)。
特許文献2は、セラミックス製の主モノリス触媒の上流側に配置されるメタルモノリス触媒を開示する。メタルモノリス触媒においては、その中心軸上に一方の電極が設けられ、メタルモノリス触媒の外枠が他方の電極として用いられる(同文献の図4参照)。メタルモノリス触媒の径方向内側部分の発熱量が径方向外側部分における発熱量よりも大きい(同文献の図4参照)。メタルモノリス触媒の径方向内側部分へのガスの流入量が、メタルモノリス触媒の径方向外側部分へのガスの流入量よりも大きい。従って、メタルモノリス触媒の横断面の温度分布が均一化される(同文献の図6参照)。
国際公開第2016/163423号 実開昭63-67609号公報
通電開始時の大きな温度勾配の発生を抑制する態様で短時間に目標温度まで昇温することができる加熱装置を提供することが望まれる。
本開示の一態様に係る加熱装置は、セラミックス円筒体の径方向に沿って延びる一対の第1リブと、前記セラミックス円筒体の径方向に交差するように延びる一対の第2リブにより画定された複数のセルが設けられた導電性のセラミックス円筒体と、
前記セラミックス円筒体の内壁部に電気的に結合した内側電極と、
前記セラミックス円筒体の外壁部に電気的に結合した外側電極を備え、
前記セラミックス円筒体の径方向に延びる同一の軸線上に配置された複数の第1リブを含むように前記セラミックス円筒体の径方向に直線的に延びる直線部が、前記セラミックス円筒体において放射状に配列され、
前記内側電極及び前記外側電極は、前記内側電極と前記外側電極の間で少なくとも前記直線部を介して放射状に電流が流れるように設けられる。
幾つかの形態では、前記直線部の幅は、前記セラミックス円筒体の径方向に沿って一定である。
幾つかの形態では、前記直線部は、360°の角度範囲内において所定角度間隔で設けられる。
幾つかの形態では、前記所定角度間隔は、1°~5°の範囲内である。
幾つかの形態では、前記内側電極及び/又は前記外側電極は、筒状電極である。
幾つかの形態では、前記筒状電極は、前記セラミックス円筒体の前記内壁部の内壁面の全域に亘って形成され、又は、前記セラミックス円筒体の前記外壁部の外壁面の全域に亘って形成される。
幾つかの形態では、前記筒状電極にはその周方向に沿って配置された溝が設けられる。
幾つかの形態では、前記セラミックス円筒体の内径をR1とし、前記セラミックス円筒体の外径をR2とするとき、
0.3<(R1/R2)
を満足する。
幾つかの形態では、前記セラミックス円筒体の内径をR1とし、前記セラミックス円筒体の外径をR2とするとき、
0.6<(R1/R2)
を満足する。
幾つかの形態では、前記第1リブ及び第2リブそれぞれの厚みが、0.05~0.5mmの範囲内である。
幾つかの形態では、前記第2リブの幅は、前記セラミックス円筒体に関する径方向内側から径方向外側に向けて漸減する。
幾つかの形態では、前記セラミックス円筒体の径方向において隣接する前記第2リブに関して、前記セラミックス円筒体の径方向外側に位置する前記第2リブの幅は、前記セラミックス円筒体の径方向内側に位置する前記第2リブの幅とは異なる。
幾つかの形態では、前記セルの少なくとも1つ又は各角部にはR面が形成される。
本開示の一態様に係るシステムは、
排気ガスが流れる流路と、
上記いずれかの加熱装置と、
前記流路における排気ガスの流れ方向において前記加熱装置よりも下流側に設けられる排気ガス浄化装置と、
前記加熱装置に含まれる前記セラミックス円筒体の前記セルが提供する第1流路と前記セラミックス円筒体の前記セルにより囲まれた筒穴が提供する第2流路の間で前記排気ガスの流路を切り替える切り替え部を備える。
本開示の一態様に係る加熱装置の製造方法は、
セラミックス円筒体の径方向に沿って延びる一対の第1リブと、前記セラミックス円筒体の径方向に交差するように延びる一対の第2リブにより画定された複数のセルが設けられた導電性のセラミックス円筒体を押出成形に基づいて製造する工程と、
前記セラミックス円筒体に対して内側電極を固定する工程と、
前記セラミックス円筒体に対して外側電極を固定する工程を含み、
前記セラミックス円筒体の径方向に延びる同一の軸線上に配置された複数の第1リブを含むように前記セラミックス円筒体の径方向に直線的に延びる直線部が、前記セラミックス円筒体において放射状に配列され、
前記内側電極及び前記外側電極は、前記内側電極と前記外側電極の間で少なくとも前記直線部を介して放射状に電流が流れるように設けられる。
幾つかの形態では、前記セラミックス円筒体に対して内側電極を固定する工程は、前記セラミックス円筒体に対して前記内側電極を冷やし嵌め又は圧入する工程を含む。
幾つかの形態では、前記セラミックス円筒体に対して外側電極を固定する工程は、前記セラミックス円筒体に対して前記外側電極を焼き嵌めする工程を含む。
幾つかの形態では、前記セラミックス円筒体と前記内側電極の間には中間層が設けられる。
幾つかの形態では、前記セラミックス円筒体と前記外側電極の間には中間層が設けられる。
本開示の一態様によれば、通電開始時の大きな温度勾配の発生を抑制する態様で短時間に目標温度まで昇温することができる加熱装置を提供することができる。
本開示の一態様に係るシステムの概略図であり、排気ガスの流路に設けられた開閉部材の制御に基づいてセラミックス円筒体のセル又は筒穴を介して排気ガス浄化装置に排気ガスを供給することができるシステムの概略図である。 排気ガスの流路において排気ガス浄化装置よりも上流側に設けられる本開示の一態様に係る加熱装置の概略的な斜視図である。 本開示の一態様に係る加熱装置に含まれるセラミックス円筒体の第1端部の概略的な正面図である。図3においてセラミックス円筒体の内径と外径が矢印により図示される。図3において一点鎖線で示された範囲のセルの図示が省略される。 本開示の一態様に係るシステムの動作を示す概略的なタイミングチャートである。 外側電極とセラミックス円筒体の間に中間層が設けられ、またセルの角部にR面が形成される形態を示す概略図である。 セラミックス円筒体の軸方向に延びる溝が外側電極の内周面に形成される形態を示す概略図である。 セラミックス円筒体の軸方向に延びる溝が外側電極の外周面に形成される形態を示す概略図である。 第2リブの幅がセラミックス円筒体に関する径方向内側から径方向外側に向けて漸減する形態を示す概略図である。 セルの開口形状が歪んだ矩形状である形態を示す概略図である。 M個のセルが配置されたセル列とN個のセルが配置されたセル列が周方向において交互に配置される形態を示す概略図である。 セラミックス円筒体の径方向に延びる同一の軸線上に配置された複数の第1リブを含むようにセラミックス円筒体の径方向に直線的に延びる直線部の幅が径方向内側から径方向外側に向けて漸増する形態を示す概略図である。 セラミックス円筒体の径方向に延びる同一の軸線上に配置された複数の第1リブを含むようにセラミックス円筒体の径方向に直線的に延びる直線部の幅が径方向内側から径方向外側に向けて漸減する形態を示す概略図である。 比較例と比較して実施例の場合、セラミックス円筒体の径方向において温度勾配の発生が抑制されることを示す概略的なグラフである。 比較例1で用いられるセラミックス円筒体の概略図である。 比較例2で用いられる加熱装置の概略図である。
以下、図1乃至図15を参照しつつ、本発明の非限定の実施形態について説明する。以下、ある加熱装置に関して記述される各特徴が、他の特徴との組み合わせとして理解される他、他の特徴とは独立した個別の特徴として理解される。個別の特徴の全組み合わせを記述することは当業者には冗長であり、省略される。個別の特徴は、「幾つかの形態」、又は単に「形態」という表現により明示される。個別の特徴は、例えば、図面に開示された加熱装置にのみ通用するものではなく、他の様々な加熱装置にも通用する普遍的な特徴として理解される。
図1は、排気ガスの流路91に設けられた開閉部材96の制御に基づいてセラミックス円筒体10のセルOP10又は筒穴H10を介して排気ガス浄化装置93に排気ガスを供給することができるシステム90の概略図である。図2は、排気ガスの流路91において排気ガス浄化装置93よりも上流側に設けられる加熱装置92の概略的な斜視図である。図3は、加熱装置92に含まれるセラミックス円筒体10の第1端部18の概略的な正面図である。図3においてセラミックス円筒体10の内径R1と外径R2が矢印により図示される。図3において一点鎖線で示された範囲のセルOP10の図示が省略される。図4は、システム90の動作を示す概略的なタイミングチャートである。
システム90は、排気ガスが流れる流路91と、流路91に設けられる加熱装置92と、流路91に設けられる排気ガス浄化装置93を有する。流路91は、例えば、金属管であり、第1内径の第1管91mと、第1内径よりも大きい第2内径の第2管91nを有し、更に、第1管91mと第2管91nの間に拡径部91aを有する。拡径部91aにおいて第1管91mから第2管91nに向けて内径が漸増する。加熱装置92は、流路91における排気ガスの流れ方向において拡径部91aよりも下流側に設けられる。排気ガス浄化装置93は、流路91における排気ガスの流れ方向において加熱装置92よりも下流側に設けられる。
システム90は、更に、切り替え部94とコントローラー99を有する。切り替え部94は、後述の記述からより良く理解されるように、加熱装置92に含まれるセラミックス円筒体10のセルOP10が提供する第1流路P1とセラミックス円筒体10のセルOP10により囲まれた筒穴H10が提供する第2流路P2の間で排気ガスの流路を切り替える。切り替え部94は、駆動部95と、駆動部95により駆動される開閉部材96を有する。開閉部材96が流路91内に置かれ、端的には、流路91における排気ガスの流れ方向において加熱装置92の上流側に近接して設けられる。開閉部材96は、加熱装置92に含まれるセラミックス円筒体10の筒穴H10を閉鎖する閉状態と、セラミックス円筒体10の筒穴H10を閉鎖しない開状態を取ることができる。幾つかの形態では、駆動部95がステッピングモーターであり、開閉部材96がそのモーター軸に対して固定された平板である。切り替え部94として任意の種類のシャッターを用いることができる。他の形態としては、駆動部95が空気圧により駆動される。空気圧開閉弁のオン・オフによりシャッター(例えば、バタフライ弁)の開閉が行われる。好ましくは、1秒以下での開閉が可能なシャッターが用いられる。
コントローラー99は、切り替え部94の動作状態を制御することができる。コントローラー99は、制御信号S1を駆動部95に提供し、開状態と閉状態の間で開閉部材96の状態を制御する。切り替え部94は、コントローラー99から受け取る制御信号S1に応じて作動する。切り替え部94の駆動部95がステッピングモーターである時、制御信号S1としてのパルス信号列に応じてモーター軸が回転する。制御信号S1によりモーターの回転軸が180°回転する時、開閉部材96の状態が閉状態と開状態の間で切り替えられる。なお、開閉部材96の位置を検出して開閉部材96の位置をフィードバック制御する形態も想定される。
閉状態の開閉部材96は、流路91を流れる排気ガスが第2流路P2、すなわち、セラミックス円筒体10の筒穴H10に流入することを阻止する。この状態において、排気ガスは、セラミックス円筒体10の第1流路P1、端的には、セラミックス円筒体10のセルOP10に流入する。セラミックス円筒体10の第1流路P1(セルOP10)から流出した排気ガスは、加熱装置92よりも下流側の排気ガス浄化装置93に流入する。
閉状態から開状態に開閉部材96を切り替えることにより、排気ガスが第1流路P1(セルOP10)に流入していた状態から第2流路P2(筒穴H10)に流入する状態に推移する。セラミックス円筒体10の第2流路P2(筒穴H10)から流出した排気ガスは、加熱装置92よりも下流側の排気ガス浄化装置93に流入する。
排気ガスは、開閉部材96が閉状態の時、第1流路P1(セルOP10)を通じて流れる。排気ガスは、開閉部材96が開状態の時、第2流路P2(筒穴H10)を通じて流れる。なお、開閉部材96が閉状態の時、排気ガスの一部が第2流路P2(筒穴H10)に流れることや、開閉部材96が開状態の時、排気ガスの一部が第1流路P1(セルOP10)に流れることも想定される。開閉部材96が閉状態と開状態の間で推移する時、排気ガスが、第1流路P1及び第2流路P2の両方に流入することも想定される。
コントローラー99は、開閉部材96の制御に加え、加熱装置92の通電状態を制御することができる。コントローラー99は、制御信号S2をスイッチSWに提供し、加熱装置92の通電状態をオン(ON)状態とオフ(OFF)状態の間で切り替える。なお、コントローラー99は、アナログ回路、デジタル回路、アナログデジタル混在回路、マイコン又はこれらの任意の組み合わせにより構築可能である。加熱装置92の通電制御のため、及び、開閉部材96の状態制御のために別々のコントローラーが用いられる形態も想定される。制御信号S1,S2は、例えば、パルス信号である。
流路91における排気ガスの流れ方向において加熱装置92が排気ガス浄化装置93よりも上流側に設けられ、エンジン始動時に加熱装置92に到達する低温の排気ガスを昇温した上で排気ガス浄化装置93に供給することができる。結果として、排気ガス浄化装置93におけるより十分な浄化が促進される。他方、エンジン始動時から所定時間を経過した後、加熱装置92に到達する排気ガスの温度は十分に高温であり、排気ガスを昇温する必要性が低くなる。エンジン始動時から所定時間を経過した後、開閉部材96は、セラミックス円筒体10の筒穴H10を閉鎖しない開状態を取るように制御され、排気ガスは、セラミックス円筒体10の筒穴H10を通じて排気ガス浄化装置93に供給される。排気ガスの浄化性能と背圧の抑制のバランスが達成される。
なお、排気ガス浄化装置93は、例えば、触媒を担持したセラミックス触媒担体である。排気ガス浄化装置93における触媒を介した化学反応により、排気ガス中の一酸化炭素(CO)、窒化酸化物(NOx)、炭化水素(HC)が、二酸化炭素(CO2)、窒素(N2)、水(H2O)に変換される。排気ガス浄化装置93に含まれる触媒担体は、排気ガスの流れ方向に沿って延びるセルOP93(図1参照)が2次元状に配置された柱状部材であり、ハニカム構造体と呼ばれる。触媒担体は、必ずしもこの限りではないが、コージェライト(2MgO・2Al23・5SiO2)又はSiCといったセラミックス材料を含む。触媒担体に担持される触媒は、例えば、セリア系触媒又は貴金属系触媒又はこれらの組み合わせである。貴金属系触媒としては、白金(Pt)、パラジウム(Pd)、ロジウム(Rh)といった貴金属材料が例示される。
加熱装置92は、図2及び図3に示すように、導電性のセラミックス円筒体10と、セラミックス円筒体10の内壁部14に電気的に結合した内側電極20と、セラミックス円筒体10の外壁部15に電気的に結合した外側電極30を有する。なお、加熱装置92は、排気ガスの昇温する用途に限定されず、加熱装置92は、排気ガスを浄化する用途にも使用可能である。すなわち、セラミックス円筒体10のセルOP10を画定する第1リブ11又は第2リブ12が触媒を担持する形態も想定される。加熱装置92の排ガス浄化性能が十分であれば、排気ガス浄化装置93が省略される。
セラミックス円筒体10は、導電性セラミックス材料から成る多孔体である。導電性セラミックス材料は、例えば、SiC、Si結合-SiC、及びSi金属含浸Si-SiCから選択される1以上のものである。セラミックス円筒体10は、幾つかの形態では、押出成形に基づいて製造される。ある形態では、セラミックス円筒体10は、少なくともSiC粉末、金属Si粉末、分散媒(例えば、水)、及び有機バインダーが混合された坏土の押出成形により得られた成形体の焼成により製造される。セラミックス円筒体10の内径R1は、40~350mmの範囲内であり、セラミックス円筒体10の外径R2は、50~400mmの範囲内である。内側電極20及び/又は外側電極30は、例えば、銅、アルミニウム、ステンレスといった金属製電極である。内側電極20及び/又は外側電極30の厚みは、0.5~20mmである。
セラミックス円筒体10は、軸方向に延びる円筒体であり、第1端部18と第1端部18の反対側の第2端部19を有する。セラミックス円筒体10には複数のセルOP10が設けられる。各セルOP10は、セラミックス円筒体10の径方向に沿って延びる一対の第1リブ11と、セラミックス円筒体10の径方向に交差するように延びる一対の第2リブ12により画定される。セラミックス円筒体10には、セラミックス円筒体10の軸方向に沿って延び、セラミックス円筒体10の第1端部18と第2端部19それぞれにて開口した筒穴H10を有する。筒穴H10は、セルOP10により囲まれるように位置付けられた空間であり、セラミックス円筒体10の内壁部14により画定される。上述のように、セルOP10が、排気ガスのための第1流路P1を提供する。筒穴H10は、排気ガスのための第2流路P2を提供する。
第1リブ11は、セラミックス円筒体10の径方向に沿って直線的に延びる。第2リブ12は、セラミックス円筒体10の径方向に交差するように直線的又は弧状又は別の態様で延びる。幾つかの形態では、第1リブ11及び第2リブ12それぞれの厚みは、0.05~0.5mmの範囲内である。
図3に示すセラミックス円筒体10において最も径方向内側に位置するセルOP10は、一対の第1リブ11と、セラミックス円筒体10の内壁部14、第2リブ12により画定される。セラミックス円筒体10において最も径方向外側に位置するセルOP10は、一対の第1リブ11と、セラミックス円筒体10の外壁部15、第2リブ12により画定される。
幾つかの形態では、セラミックス円筒体10の内壁部14は、セラミックス円筒体10の最も径方向内側に位置する第2リブ12がセラミックス円筒体10の周方向に結合した部分である。同様、セラミックス円筒体10の外壁部15は、セラミックス円筒体10の最も径方向外側に位置する第2リブ12がセラミックス円筒体10の周方向に結合した部分である。従って、セラミックス円筒体10において最も径方向内側に位置するセルOP10は、一対の第1リブ11と、一対の第2リブ12により画定される。セラミックス円筒体10において最も径方向外側に位置するセルOP10は、一対の第1リブ11と、一対の第2リブ12により画定される。
セルOP10は、セラミックス円筒体10の軸方向に沿って延び、セラミックス円筒体10の第1端部18と第1端部18の反対側の第2端部19それぞれにて開口する。換言すれば、セルOP10は、セラミックス円筒体10の第1端部18で第1開口端を有し、セラミックス円筒体10の第2端部19で第2開口端を有する。なお、セルOP10は、加熱装置92が流路91に配置される時、流路91における排気ガスの流れ方向に沿って延びる。各セルOP10は、矩形状の開口形状を有するが、これに限られるものではない。
セラミックス円筒体10において、セラミックス円筒体10の径方向に複数のセルOP10が配置された2以上のセル列C1~C6が放射状に設けられる。図3では選択された合計6つのセル列に対してC1~C6が付与されているが、実際には、50以上のセル列がセラミックス円筒体10に設けられる。各セル列に含まれるセルOP10の個数は、幾つかの形態では一定であり、別の形態では異なる。
セラミックス円筒体10の周方向に沿ってセルOP10が配置されたセル行D1~D6も定義可能である。セル行D1~D6は、セラミックス円筒体10の中心軸に関して同心円状に設けられる。セル行の数は、6つに限られない。幾つかの形態では、セル行の数は、20以下である。セラミックス円筒体10の外径R2が流路91の内径に拘束される場合、セル行の増加は、セラミックス円筒体10の内径R1の減少、ひいては初期加熱期間終了後の通常運転期間の背圧の増加に帰結してしまう。
図4を参照してシステム90の動作について説明する。コントローラー99は、時刻t1においてHレベルの制御信号S2を出力し、スイッチSWをオン(ON)状態としてセラミックス円筒体10の通電を開始する。セラミックス円筒体10の通電開始に伴ってセラミックス円筒体10の温度は上昇する。これにより、セラミックス円筒体10の第1流路P1、すなわち、セルOP10を流れる排気ガスの温度を高めることができる。時刻t2においてエンジンが始動する。エンジンの始動に伴い、エンジン回転数が徐々に増加する。エンジンの始動時、セラミックス円筒体10が十分に高い温度に到達している。従って、エンジンから加熱装置92に到達した排気ガスは、加熱装置92の第1流路P1(セルOP10)を通過することにより十分に昇温される。時刻t3において、コントローラー99は、制御信号S2をHレベルからLレベルに切り替える。これにより、セラミックス円筒体10の通電が終了する。
コントローラー99は、時刻t4においてHレベルの制御信号S1を出力し、開閉部材96を開状態にセットする。排気ガスは、加熱装置92の第1流路P1(セルOP10)に代えて第2流路P2(筒穴H10)に流入し始める。端的には、排気ガスは、セラミックス円筒体10の筒穴H10を介して排気ガス浄化装置93に供給され始める。エンジンの始動時には開閉部材96が閉状態を取り、背圧が増加してしまう。しかし、エンジン始動から所定時間が経過した後、開閉部材96が開状態を取り、背圧が低減される。エンジン始動時、排気ガスの昇温の代償として背圧が増加してしまうが、これは、エンジンの始動時に限ったものである。
幾つかの形態では、時刻t3、t4は、エンジンの始動タイミングに同期したタイミングである。つまり、Lレベルの制御信号S2(つまり通電終了指令)とHレベルの制御信号S1(流路変更指令)は、エンジンの始動に同期して生成される。幾つかの形態では、セラミックス円筒体10の通電開始(Hレベルの制御信号S2)に同期してエンジンが始動する。例えば、セラミックス円筒体10の通電開始時点から予め定められた時間の経過後、エンジンが始動される。なお、エンジンの始動後にセラミックス円筒体10の通電が開始する形態も想定される。
幾つかの形態では、加熱装置92は、流路91の拡径部91aの下流側に隣接して設けられる(図1参照)。これにより開閉部材96が開状態の時、セラミックス円筒体10のセルOP10に排気ガスが流入することが抑制される。なお、開閉部材96が開状態に切り替えられた後もセラミックス円筒体10の通電を継続する形態も想定される。
本実施形態では、図3に示すように、セラミックス円筒体10の径方向に延びる同一の軸線RL上に配置された複数の第1リブ11を含むようにセラミックス円筒体10の径方向に直線的に延びる直線部13が、セラミックス円筒体10において放射状に配列される。更には、内側電極20及び外側電極30は、内側電極20と外側電極30の間で少なくとも直線部13を介して放射状に電流が流れるように設けられる。直線部13は、内側電極20と外側電極30の間を直線状に延びる電流路を提供し、内側電極20と外側電極30の間の最短距離を電流が流れることが促進される。内側電極20と外側電極30は、セラミックス円筒体10における放射状の電流路の形成を許容する。これにより、セラミックス円筒体10の通電開始時の大きな温度勾配の発生を抑制する態様でよりセラミックス円筒体10を短時間に目標温度まで昇温することが促進される。
直線部13は、セラミックス円筒体10の径方向に延びる同一の軸線RL上に配置された複数の第1リブ11を含む。直線部13は、同一の軸線RL上の第1リブ11が連続した部分であると理解しても良い。直線部13の幅W13は、セラミックス円筒体10の径方向において一定である。代替的に、直線部13の幅W13は、セラミックス円筒体10の径方向内側から径方向外側に向けて変化する。セラミックス円筒体10の径方向において直線部13の幅W13が一定であることは、理論的には、その直線部13に電流が流れる時に生じる発熱量がセラミックス円筒体10の径方向において一定であることを意味し、セラミックス円筒体10の径方向における大きな温度勾配の発生が抑制される。直線部13の幅W13は、幾つかの形態では、0.05~0.5mmの範囲内にあり、又は、0.05~0.2mmの範囲内にある。なお、直線部13の幅W13の上限は、背圧増加の抑制の観点又は製造条件又はこれ以外の理由から制限され得る。
セラミックス円筒体10における直線部13の放射状配列に基づいて、セラミックス円筒体10における放射状の電流路が生じる。放射状の電流路は、内側電極20と外側電極30の間に形成される。端的には、内側電極20から外側電極30に向かって電流が放射状に流れ、又は、外側電極30から内側電極20に向かって電流が放射状に流れる。
幾つかの形態では、直線部13は、360°の角度範囲内において所定角度間隔で設けられる。追加的又は代替的に、直線部13は、セラミックス円筒体10において軸対称に設けられる。所定角度間隔は、1°~5°の範囲内、又は、1°~3°の範囲内、又は1°~2°の範囲内である。例えば、200個の直線部13が設けられる場合、直線部13は、(360°/200)=1.8°の角度間隔で設けられる。電流路の数は、直線部13の数に一致する。従って、このようなセラミックス円筒体10が通電される時、200個の電流路が1.8°間隔で生じる。
内側電極20と外側電極30は、放射状の電流路の形成を促進するように設けられる限りにおいて、様々な形状を取ることができる。しかしながら、セラミックス円筒体10に対する電極の取り付け強度を高めるため、或いは、セラミックス円筒体10と電極の間の電気的な接続不良を抑制するため、内側電極20及び/又は外側電極30として筒状電極が採用される。つまり、幾つかの形態では、内側電極20及び/又は外側電極30が筒状電極である。
外側電極30として筒状電極が用いられる時、外側電極30の電極層は、セラミックス円筒体10の周方向に延びてセラミックス円筒体10を囲む。外側電極30の電極層は、セラミックス円筒体10の外壁部15よりも径方向外側に設けられる。外側電極30は、セラミックス円筒体10の外壁部15に対して嵌め合わされ得る。内側電極20として筒状電極が用いられる時、内側電極20の電極層は、セラミックス円筒体10の周方向に延びてセラミックス円筒体10により囲まれる。内側電極20の電極層は、セラミックス円筒体10の内壁部14よりも径方向内側に設けられる。内側電極20は、セラミックス円筒体10の内壁部14に対して嵌め合わされる。
必ずしもこの限りではないが、筒状電極は、セラミックス円筒体10の内壁部14の内壁面16の全域に亘って形成され、又は、セラミックス円筒体10の外壁部15の外壁面17の全域に亘って形成される。筒状電極自体の配線抵抗が減少し、また、筒状電極とセラミックス円筒体10の良好な電気的接続が促進される。
図5は、外側電極30とセラミックス円筒体10の間に中間層39が設けられ、またセルOP10の角部にR面80が形成される形態を示す概略図である。内側電極20とセラミックス円筒体10の間に中間層39を設け、又は、外側電極30とセラミックス円筒体10の間に中間層39を設ける形態が想定される。中間層39は、導電性材料から成り、セラミックス円筒体10と電極の間の良好な電気的接続又は機械的接続を促進する。中間層39は、例えば、鉄(Fe)、クロム(Cr)、ニッケル(Ni)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、モリブデン(Mo)、炭素(C)から成る群から選択される1以上の材料を含む。中間層39は、幾つかの形態では、導電性スラリー、導電性粉体、導電性ペーストであり、セラミックス円筒体10の内周面又は外周面に塗布される。中間層39は、必要に応じて加熱処理(又は焼成)されて硬質層になる。中間層39の厚みは、0.05~2mmの範囲内である。
セルOP10の少なくとも1つ又は各角部にはR面80が形成される。換言すれば、セルOP10の角部にR面80が形成されるようにセルOP10が形状付けられる。これによりセルOP10の角部での応力集中が避けられ、またセラミックス円筒体10の機械的な強度が高められる。
図6は、セラミックス円筒体10の軸方向に延びる溝38が外側電極30の内周面に形成される形態を示す概略図である。図7は、セラミックス円筒体10の軸方向に延びる溝38が外側電極30の外周面に形成される形態を示す概略図である。図6及び図7のいずれの場合においても外側電極30として筒状電極が用いられる。このように幾つかの形態では、内側電極20又は外側電極30として用いられる筒状電極にはその周方向に沿って溝38が設けられ、これにより、セラミックス円筒体10への筒状電極の嵌め合わせが促進される。
筒状電極としての外側電極30がセラミックス円筒体10に嵌め合わされる場合、外側電極30からセラミックス円筒体10に対して圧力が付与される。これにより、セラミックス円筒体10への外側電極30のより十分な固定が促進され、また、セラミックス円筒体10と外側電極30のより良好な電気的接続又は機械的接続が促進される。この点は、セラミックス円筒体10と外側電極30の間に中間層39が設けられる場合も同様である。上述の圧力は、セラミックス円筒体10に対して外側電極30を焼き嵌めることにより得られる。外側電極30を加熱して開口径を大きくした状態で外側電極30内にセラミックス円筒体10を挿入又は圧入する。外側電極30の冷却に伴い、外側電極30の開口径が小さくなり、これにより、外側電極30からセラミックス円筒体10への圧力付与が生じる。
筒状電極としての内側電極20がセラミックス円筒体10に嵌め合わされる場合、内側電極20からセラミックス円筒体10に対して圧力が付与される。これにより、セラミックス円筒体10への内側電極20のより十分な固定が促進され、また、セラミックス円筒体10と内側電極20のより良好な電気的接続又は機械的接続が促進される。この点は、セラミックス円筒体10と内側電極20の間に中間層39が設けられる場合も同様である。上述の圧力は、セラミックス円筒体10に対して内側電極20を冷やし嵌め又は圧入することにより得られる。内側電極20を冷却して外径を小さくした状態でセラミックス円筒体10の筒穴H10内に内側電極20を挿入又は圧入する。内側電極20の昇温に伴い、内側電極20の外径が大きくなり、これにより、内側電極20からセラミックス円筒体10への圧力付与が生じる。
セラミックス円筒体10の内径R1と外径R2の関係については、0.3<(R1/R2)を満足し、より好ましくは、0.6<(R1/R2)を満足する。内径を小さくすればするほど、半径方向での、発熱量/熱容量比率の変化が大きくなり、温度差が大きくなる。0.3<R1/R2又は0.6<R1/R2を満足することにより背圧の増加を抑制することができる。幾つかの形態では、0.3<R1/R2<0.9を満足し、より好ましくは、0.6<R1/R2<0.8を満足する。
図8は、第2リブの幅W12がセラミックス円筒体に関する径方向内側から径方向外側に向けて漸減する形態を示す概略図である。直線部13の放射状配列により内側電極20と外側電極30の間で電流が放射状に流れることは上述と同様である。第2リブの幅W12は、セラミックス円筒体10に関する径方向内側から径方向外側に向けて漸減する。換言すれば、セラミックス円筒体10の径方向において隣接する第2リブ12に関して、セラミックス円筒体10の径方向外側に位置する第2リブの幅W12は、セラミックス円筒体10の径方向内側に位置する第2リブの幅W12よりも小さい。セラミックス円筒体10の径方向外側での熱容量を小さくすることができる。第2リブの幅W12は、セラミックス円筒体10の径方向における温度勾配の程度を低減するように設定される。
図8とは異なる幾つかの形態では、第2リブの幅W12は、セラミックス円筒体10に関する径方向内側から径方向外側に向けて漸増する。換言すれば、セラミックス円筒体10の径方向において隣接する第2リブ12に関して、セラミックス円筒体10の径方向外側に位置する第2リブの幅W12は、セラミックス円筒体10の径方向内側に位置する第2リブの幅W12よりも大きい。セラミックス円筒体10の径方向内側での熱容量を小さくすることができる。第2リブの幅W12は、セラミックス円筒体10の径方向における温度勾配の程度を低減するように設定される。
セラミックス円筒体10の径方向外側の位置の第2リブ12が、セラミックス円筒体10の径方向内側の位置の第2リブ12よりもセラミックス円筒体10の周方向に沿って長く延在する形態が想定される。セラミックス円筒体10の径方向内側の第2リブの幅W12とセラミックス円筒体10の径方向外側の第2リブ12の幅W12が同一の時、直線部13に接続する第2リブ12に応じた熱容量がセラミックス円筒体10の径方向内側よりも径方向外側で大きくなる。セラミックス円筒体10に関する径方向内側から径方向外側に向けて第2リブの幅W12が漸減する場合、セラミックス円筒体10の径方向内側と径方向外側の各位置において直線部13に接続される第2リブ12に応じた熱容量がより近い値になる。第2リブの幅W12が変化する態様は様々であるが、幾つかの形態では、第2リブの幅W12がセラミックス円筒体10の径方向において一定の割合で変化する。
図9は、セルOP10の開口形状が歪んだ矩形状である形態を示す概略図である。図9に示すように第2リブ12は周方向に沿って弧状又は湾曲して延びる形態も想定される。直線部13の放射状配列により内側電極20と外側電極30の間で電流が放射状に流れることは上述と同様である。
図10は、M(M=2以上の自然数)個のセルが配置されたセル列とN個(N=2以上の自然数であり、Mとは異なる)のセルが配置されたセル列が周方向において交互に配置される形態を示す概略図である。図10に示す場合、M=3であり、N=4である。直線部13の放射状配列により内側電極20と外側電極30の間で電流が放射状に流れることは上述と同様である。
図11は、直線部13の幅W13がセラミックス円筒体10の径方向内側から径方向外側に向けて漸増する形態を示す概略図である。
ジュールの法則として次式が知られている。
Q=(V2/R)t=(I2R)t
ここで、Qは、熱量(J)を意味し、Vは、電圧(V)を意味し、Rは、抵抗(Ω)を意味し、tは、時間(秒)を意味する。
1つの直線部13に流れる電流は一定であり、従って、直線部13の抵抗(R)の増加に応じて発熱量が大きくなる。直線部13の幅の減少により直線部13の抵抗が増加し、発熱量が高くなる。
直線部13の幅W13は、セラミックス円筒体10の径方向に沿って変化する形態が想定される。図11に示す形態では、直線部13の幅W13が、セラミックス円筒体10の径方向内側から径方向外側に向けて漸増する。図12に示す形態では、直線部13の幅W13が、セラミックス円筒体10の径方向内側から径方向外側に向けて漸減する。セラミックス円筒体10の径方向における直線部13の幅の変化は、セラミックス円筒体10の径方向におけるは熱容量の変化を意味する。図12に示す形態では、セラミックス円筒体10の径方向外側における発熱量が、セラミックス円筒体10の径方向内側における発熱量よりも大きくなる。発熱に寄与しない第2リブ12の熱容量も径方向外側ほど大きいため、セラミックス円筒体10の径方向における温度勾配が緩和される。
直線部13の幅がセラミックス円筒体10の径方向外側から内側に向かって漸増する形態も想定される。流路91を適切に設計し、開口サイズが小さいセルOP10に排気ガスが流入しやすいことを促進することも可能である。
外径70mm、内径50mm、軸方向長46mmのセラミックス円筒体に内側電極と外側電極を固定した。セラミックス円筒体は、多孔質Si結合SiC製である。内側電極と外側電極は、各々、筒状電極であり、ステンレス製である。セラミックス円筒体におけるセルの配置は、図3に示したとおりであり、直線部が放射状に設けられる。ソフトウェアを用いてシミュレーションした。シミュレーション条件としては、内側電極と外側電極の間のセラミックス円筒体に1秒間に亘り電圧45Vを印加した。
[比較例1]
外径70mm、内径50mm、軸方向長46mmのセラミックス円筒体に内側電極と外側電極を固定した。セラミックス円筒体は、多孔質Si結合SiC製である。内側電極と外側電極は、各々、筒状電極であり、ステンレス製である。セラミックス円筒体におけるセルの配置は、図14に示したとおりである。ソフトウェアを用いてシミュレーションした。シミュレーション条件としては、内側電極と外側電極の間のセラミックス円筒体に1秒間に亘り電圧45Vを印加した。
[比較例2]
図15に示すように、外径100mm、軸方向長46mmのセラミックス円柱体100に第1外周電極101と第2外周電極102を固定した。第1外周電極101と第2外周電極102は、セラミックス円柱体100を挟むように位置付けられる。セラミックス円柱体は、多孔質Si結合SiC製である。内側電極と外側電極は、各々、弧状電極であり、ステンレス製である。セラミックス円柱体におけるセルの配置は、図15に示したとおりである。ソフトウェアを用いてシミュレーションした。シミュレーション条件としては、内側電極と外側電極の間のセラミックス円筒体に1秒間に亘り電圧45Vを印加した。
実施例と比較例それぞれについてセラミックス円筒体に生じる最高温度と最低温度の差を求めた。結果は、図13に概略的に示すとおりであり、また、より詳細には表1に示すとおりである。
Figure 0007206092000001
比較例2では、通電開始に応じて、第1外周電極101と第2外周電極102の間のセラミックス円柱体100の部分に電流路が形成される。この電流路にてジュール熱が発生し、電流路に熱的に接続されたセルやリブへの熱伝導が生じる。セラミックス円柱体100を短時間に目標温度まで昇温する場合、熱伝導よりもジュール熱が支配的であるため、セラミックス円柱体100の断面において顕著な温度勾配が生じてしまう(表1参照)。
上述の開示を踏まえ、当業者は、各実施形態に対して様々な変更を加えることができる。
10 セラミックス円筒体
11 第1リブ
12 第2リブ
13 直線部
14 内壁部
15 外壁部
20 内側電極
30 外側電極
OP10 セル

Claims (19)

  1. セラミックス円筒体の径方向に沿って延びる一対の第1リブと、前記セラミックス円筒体の径方向に交差するように延びる一対の第2リブにより画定された複数のセルが設けられた導電性のセラミックス円筒体と、
    前記セラミックス円筒体の内壁部に電気的に結合した内側電極と、
    前記セラミックス円筒体の外壁部に電気的に結合した外側電極を備え、
    前記セラミックス円筒体の径方向に延びる同一の軸線上に配置された複数の第1リブを含むように前記セラミックス円筒体の径方向に直線的に延びる直線部が、前記セラミックス円筒体において放射状に配列され、
    前記内側電極及び前記外側電極は、前記内側電極と前記外側電極の間で少なくとも前記直線部を介して放射状に電流が流れるように設けられ
    前記直線部は、前記内側電極と前記外側電極の間を直線状に延びる電流路を提供する、加熱装置。
  2. 前記直線部の幅は、前記セラミックス円筒体の径方向に沿って一定である、請求項1に記載の加熱装置。
  3. 前記直線部は、360°の角度範囲内において所定角度間隔で設けられる、請求項1又は2に記載の加熱装置。
  4. 前記所定角度間隔は、1°~5°の範囲内である、請求項3に記載の加熱装置。
  5. 前記内側電極及び/又は前記外側電極は、筒状電極である、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の加熱装置。
  6. 前記筒状電極は、前記セラミックス円筒体の前記内壁部の内壁面の全域に亘って形成され、又は、前記セラミックス円筒体の前記外壁部の外壁面の全域に亘って形成される、請求項5に記載の加熱装置。
  7. 前記筒状電極にはその周方向に沿って配置された溝が設けられる、請求項5又は6に記載の加熱装置。
  8. 前記セラミックス円筒体の内径をR1とし、前記セラミックス円筒体の外径をR2とするとき、
    0.3<(R1/R2)
    を満足する、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の加熱装置。
  9. 前記セラミックス円筒体の内径をR1とし、前記セラミックス円筒体の外径をR2とするとき、
    0.6<(R1/R2)
    を満足する、請求項1乃至8のいずれか一項に記載の加熱装置。
  10. 前記第1リブ及び第2リブそれぞれの厚みが、0.05~0.5mmの範囲内である、請求項1乃至9のいずれか一項に記載の加熱装置。
  11. 前記第2リブの幅は、前記セラミックス円筒体に関する径方向内側から径方向外側に向けて漸減する、請求項1乃至10のいずれか一項に記載の加熱装置。
  12. 前記セラミックス円筒体の径方向において隣接する前記第2リブに関して、前記セラミックス円筒体の径方向外側に位置する前記第2リブの幅は、前記セラミックス円筒体の径方向内側に位置する前記第2リブの幅とは異なる、請求項1乃至11のいずれか一項に記載の加熱装置。
  13. 前記セルの少なくとも1つ又は各角部にはR面が形成される、請求項1乃至12のいずれか一項に記載の加熱装置。
  14. 排気ガスが流れる流路と、
    請求項1乃至13のいずれか一項に記載の加熱装置と、
    前記流路における排気ガスの流れ方向において前記加熱装置よりも下流側に設けられる排気ガス浄化装置と、
    前記加熱装置に含まれる前記セラミックス円筒体の前記セルが提供する第1流路と前記セラミックス円筒体の前記セルにより囲まれた筒穴が提供する第2流路の間で前記排気ガスの流路を切り替える切り替え部を備える、システム。
  15. セラミックス円筒体の径方向に沿って延びる一対の第1リブと、前記セラミックス円筒体の径方向に交差するように延びる一対の第2リブにより画定された複数のセルが設けられた導電性のセラミックス円筒体を押出成形に基づいて製造する工程と、
    前記セラミックス円筒体に対して内側電極を固定する工程と、
    前記セラミックス円筒体に対して外側電極を固定する工程を含み、
    前記セラミックス円筒体の径方向に延びる同一の軸線上に配置された複数の第1リブを含むように前記セラミックス円筒体の径方向に直線的に延びる直線部が、前記セラミックス円筒体において放射状に配列され、
    前記内側電極及び前記外側電極は、前記内側電極と前記外側電極の間で少なくとも前記直線部を介して放射状に電流が流れるように設けられ
    前記直線部は、前記内側電極と前記外側電極の間を直線状に延びる電流路を提供する、加熱装置の製造方法。
  16. 前記セラミックス円筒体に対して内側電極を固定する工程は、前記セラミックス円筒体に対して前記内側電極を冷やし嵌め又は圧入する工程を含む、請求項15に記載の加熱装置の製造方法。
  17. 前記セラミックス円筒体に対して外側電極を固定する工程は、前記セラミックス円筒体に対して前記外側電極を焼き嵌めする工程を含む、請求項15又は16に記載の加熱装置の製造方法。
  18. 前記セラミックス円筒体と前記内側電極の間には中間層が設けられる、請求項15乃至17のいずれか一項に記載の加熱装置の製造方法。
  19. 前記セラミックス円筒体と前記外側電極の間には中間層が設けられる、請求項15乃至18のいずれか一項に記載の加熱装置の製造方法。
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