JP7201327B2 - ナノスケール構造体の空間的測定方法及び装置 - Google Patents
ナノスケール構造体の空間的測定方法及び装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7201327B2 JP7201327B2 JP2018036857A JP2018036857A JP7201327B2 JP 7201327 B2 JP7201327 B2 JP 7201327B2 JP 2018036857 A JP2018036857 A JP 2018036857A JP 2018036857 A JP2018036857 A JP 2018036857A JP 7201327 B2 JP7201327 B2 JP 7201327B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- fluorescent
- sample
- fluorescent markers
- fluorescence
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6402—Atomic fluorescence; Laser induced fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
- G01N21/6458—Fluorescence microscopy
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6428—Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes"
- G01N21/643—Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes" non-biological material
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N2021/6417—Spectrofluorimetric devices
- G01N2021/6419—Excitation at two or more wavelengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N2021/6417—Spectrofluorimetric devices
- G01N2021/6421—Measuring at two or more wavelengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6428—Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes"
- G01N2021/6439—Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes" with indicators, stains, dyes, tags, labels, marks
- G01N2021/6441—Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes" with indicators, stains, dyes, tags, labels, marks with two or more labels
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
-試料のための試料ホルダと、
-試料ホルダに向けられた対物レンズと、
-対物レンズを用いてまたは同時に合焦した更なる光を用いて焦点が合わせられている励起光の強度分布が局所的最小値を有するように、励起光および蛍光マーカによる蛍光の光の放出に影響を及ぼす任意選択の更なる光を対物レンズに連結する光源と、
-試料ホルダに対して最小値の位置をシフトするように構成されているスキャニングユニットと、
-最小値の異なる位置に対して別々に試料から放出される蛍光の光を記録するように構成されている検出器と、
-最小値の異なる位置に対するそれぞれの蛍光マーカに対して記録した蛍光の光の強度から試料内の個々の蛍光マーカの位置を決定するように構成されている評価ユニットと、
-本発明による方法を自動的に実行する制御部。
なお、本願は、特許請求の範囲に記載の発明に関するものであるが、他の観点として以下も含む。
1.試料(13)内の複数のナノスケール構造体の空間的測定方法であって、当該方法が、以下のステップ、すなわち、
-蛍光マーカ(8、9)によって異なる位置で個々の構造体をマークする(1)ステップ、
-蛍光の光(42)を放出する励起光(25)によって蛍光マーカ(8、9)を励起するステップであって、励起光(25)の強度分布(24)と、蛍光マーカ(8、9)によって蛍光の光の放出に影響を及ぼす更なる光の強度分布(48)とのどちらか一方が、試料(13)内の異なる位置に配置されている局所的最小値(26)を備える、ステップ、
-試料(13)から放出された蛍光の光(42)を、個々の蛍光マーカ(8、9)と最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)とについて両方とも別々に、記録する(4)ステップ、並びに
-最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光(42)の強度から、試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定する(5)ステップを含む方法において、
当該方法は、
-試料(13)内の位置決め補助具(12)の位置が、既知であるか、または個々の位置決め補助具(12)によって反射される光から連結する(2)ステップの後で決定されている、個々の位置決め補助具(12)に個々の構造体(7)を連結する(2)更なるステップを含み、ならびに、
-励起するステップが、それぞれの位置決め補助具(19)の位置のまわりの至近距離範囲(18)内で、異なる位置(20、21、22、23)に局所的最小値(26)を配置する(3)ステップを含み、至近距離範囲(18)の寸法が、励起光(25)の波長と蛍光の光(42)の波長での回折限界値よりも大きくない、ことを特徴とする方法。
2.至近距離範囲(18)の寸法が、励起光(25)の波長および蛍光の光(42)の波長での回折限界値の半分または四半分より大きくないことを特徴とする上記1に記載の方法。
3.個々の蛍光マーカ(8、9)の位置は、最小値(26)の4n個以下、3n個以下、又は2n個以下の異なる位置(20、21、22、23)に対して、記録された蛍光の光(42)の強度から決定されていて、nは、試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置が決定されている空間方向の数であることを特徴とする上記1または2に記載の方法。
4.試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定する(5)ステップが、局所的極値を備える空間関数を、最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光の強度に適合するステップを含むことを特徴とする上記3に記載の方法。
5.局所的極値を備える空間関数は、
-光反射位置決め補助具(12)の少なくとも1個でスキャンすることによって、または
-蛍光マーカ(8、9)の少なくとも1個でスキャンすることによって、または
-更なる蛍光マーカを、最小値(26)でスキャンすることによって、かつスキャン中に時間的分解能によって試料(13)から反射された光、若しくは試料(13)から放出された蛍光の光(42)を記録する(4)ことによって、
決定されていることを特徴とする上記4に記載の方法。
6.個々の構造体(7)が異なる位置でマークされている蛍光マーカ(8、9)は、
-蛍光マーカ(8、9)の励起スペクトルおよび発光スペクトルから選択されたスペクトル特性の異なる蛍光マーカ(8、9)、並びに
-蛍光の光(42)の放出のために励起光(25)によって励起可能である活性状態と、少なくとも同じ励起光(25)によって、蛍光の光(42)の放出のために励起可能でない不活性状態とを有し、かつその活性状態とその不活性状態との間をスイッチ光によって移動可能である蛍光マーカ(8、9)、
から選択されていることを特徴とする上記1または2に記載の方法。
7.位置決め補助具(19)の位置が、至近距離範囲(18)内に最小値(26)を配置するために使用された手段以外で、試料(13)に対して最小値(26)の相対的移動のための他の手段によって最小値(26)で接近されていることを特徴とする上記1または2に記載の方法。
8.位置決め補助具(19)の位置が、試料(13)の固定点(29)に対して固定され、かつ位置決め補助具(19)の位置が、試料(13)の固定点(29)に対して接近されていることを特徴とする上記7に記載の方法。
9.位置決め補助具(19)の位置が、
-励起光(25)の波長および蛍光の光(42)の波長での回折限界値の二倍より小さくない最小距離で、並びに
-周期的パターン、六角形パターンおよび正方形パターンから選ばれた試料(13)内の所定のパターンで、
配置されていることを特徴とする上記1または2に記載の方法。
10.試料(13)内の位置決め補助具(12)は、構造体(7)が免疫反応経由で連結されている固定連結部位(11)であることを特徴とする上記1または2に記載の方法。
11.位置決め補助具(12)が、金粒子(14)、銀粒子および量子ドットから選択された光反射実体を備えることを特徴とする上記1または2に記載の方法。
12.構造体(7)が同一の構造体(7)を含み、かつ同一の構造体(7)が試料(13)の異なる領域内の異なる周囲条件にさらされていることを特徴とする上記1または2に記載の方法。
13.試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置が、少なくとも2つの時点について、これらの少なくとも2つの時点について記録された蛍光の光(42)の強度から、決定されていて、そして、
-構造体(7)が、少なくとも2つの時点で異なる周囲条件にさらされているか、または
-少なくとも2つの時点が、構造体(7)がさらされた周囲条件の変更を継承することを特徴とする上記1または2に記載の方法。
14.試料(13)内の複数のナノスケール構造体の空間的測定装置であって、構造体(7)の各々は、試料(13)内の位置が既知であるかまたは位置決め補助具(12)によって反射される光から決定された位置決め補助具(12)に連結されている当該装置において、
当該装置が、
-試料(13)のための試料ホルダ(34)、
-試料ホルダ(34)上へ向けられた対物レンズ(36)、
-対物レンズ(36)によって合焦された励起光(25)の強度分布が局所的最小値(26)を備えるように対物レンズ(36)に励起光(25)を連結する光源(37)か、または対物レンズ(36)によって合焦された更なる光の強度分布が局所的最小値(26)を備えるように対物レンズ(36)に蛍光マーカ(8、9)による蛍光の光(42)の放出に影響を及ぼす更なる光と励起光(25)を連結する光源(37)、
-試料ホルダ(34)に対して最小値の位置(20、21、22、23)を移動するように構成されたスキャナ(40)、
-最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対して試料(13)から別々に放出された蛍光の光(42)を記録するように構成された検出器(45)、
-最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光(42)の強度から、試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定するように構成された評価ユニット(44)、ならびに
-それぞれの位置決め補助具(19)の位置のまわりの至近距離範囲(18)内で、異なる位置(20、21、22、23)に局所的最小値(26)を配置する(3)ように構成された制御部であって、至近距離範囲(18)の寸法が、励起光(25)の波長と蛍光の光(42)の波長での回折限界値よりも大きくない、制御部を備えることを特徴とする装置。
15.試料(13)内の1つのナノスケール構造体の空間的測定方法であって、当該方法が以下のステップ、すなわち、
-蛍光マーカ(8、9)によって異なる位置で構造体をマークする(1)ステップ、
-蛍光阻害光(46)の強度分布(48)の局所的最小値のそれぞれの位置で蛍光の光(42)の放出のために励起光(25)によって蛍光マーカ(8、9)を励起する(3)ステップであって、試料(13)の寸法が、励起光(25)の波長および蛍光の光(42)の波長での回折限界値より大きくなく、局所的最小値(26)が試料(13)内の至近距離範囲(18)内の異なる位置に配置されている、ステップ、
-個々の蛍光マーカ(8、9)と最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)について、試料(13)から放出された蛍光の光(42)を別々に記録する(4)ステップ、ならびに
-最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録される蛍光の光(42)の強度から、試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定する(5)ステップを含むことを特徴とする方法。
16.励起光(25)の強度分布(24)は、蛍光阻害光(46)の強度分布(48)の局所的最小値のそれぞれの位置で最大値を有することを特徴とする上記15に記載の方法。
17.至近距離範囲(18)の寸法が、
-励起光(25)の波長および蛍光の光(42)の波長での回折限界値の半分または四半分より大きくなく、かつ
-局所的最小値(26)までのその距離にわたってそれぞれの蛍光マーカ(8、9)によって放出された蛍光の光(42)の強度の分布(50)の半分最大値での全幅、または半分最大値での全幅の半分、または四半分、より大きくないことを特徴とする上記15または16に記載の方法。
18.個々の蛍光マーカ(8、9)の位置が、最小値(26)の4n個以下、3n個以下、又は2n個以下の異なる位置(20、21、22、23)に対して記録された蛍光の光(42)の強度から決定されていて、nは、試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置が決定されている空間方向の数であることを特徴とする上記15または16に記載の方法。
19.試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定する(5)ステップは、局所的最大値を備える空間関数を最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光(42)の強度に適合するステップを含むことを特徴とする上記15または16に記載の方法。
20.局所的最大値を備える空間関数が、
-蛍光マーカ(8、9)または更なる蛍光マーカの少なくとも1個を、最小値(26)でスキャンし、かつスキャン中に試料(13)から放出された蛍光の光(42)を時間的分解能によって記録する(4)ことで、かつ
-加えて、励起光(25)の最大値だけで少なくとも1個または更なる蛍光マーカ(8、9)をスキャンし、かつスキャン中に時間的分解能によって試料(13)から放出された蛍光の光(42)を記録する(4)ことで、
決定されていることを特徴とする上記19に記載の方法。
21.励起するステップ、記録する(4)ステップ、および決定する(5)ステップが、蛍光阻害光(46)の増大した強度で少なくとも一回繰り返されていることを特徴とする上記15または16に記載の方法。
22.構造体(7)が異なる位置でマークされている蛍光マーカ(8、9)は、
-蛍光マーカ(8、9)の励起スペクトルおよび発光スペクトルから選択されたスペクトル特性の異なる蛍光マーカ(8、9)、並びに
-蛍光の光(42)の放出のために励起光(25)によって励起可能である活性状態と、少なくとも同じ励起光(25)によって蛍光の光(42)の放出のために励起可能でない不活性状態とを有し、かつその活性状態とその不活性状態との間をスイッチ光によって移動可能である蛍光マーカ(8、9)、
から選択されていることを特徴とする上記15または16に記載の方法。
23.-蛍光マーカ(8、9)の一部が、蛍光マーカ(8、9)の活性状態から蛍光マーカ(8、9)の不活性状態へスイッチ光によってスイッチされているか、または
-蛍光マーカ(8、9)の一部が、蛍光マーカ(8、9)の不活性状態から蛍光マーカ(8、9)の活性状態へスイッチ光によってスイッチされている、という点において、
蛍光マーカ(8、9)は、個々の蛍光マーカ(8、9)に対して試料(13)から放出された蛍光の光(42)を別々に記録する(4)前に個々に区別されていることを特徴とする上記15または16に記載の方法。
24.-蛍光マーカ(8、9)が、試料(13)内で移動可能であり、かつ異なる位置で構造体(7)に個々に付着する蛍光マーカ(8、9)から選択されていて、
-蛍光マーカ(8、9)が、それらが構造体(7)に次々と個々に付着するような濃度で、かつ空間分布で試料(13)に添加されていて、ならびに
-蛍光マーカ(8、9)が、構造体に付着する際に、励起光(25)によって蛍光の光の放出のために励起可能でない不活性状態から、励起光(25)によって蛍光の光(42)の放出のために励起可能である活性状態に移されるか、または蛍光マーカ(8、9)が、一時的にだけ構造体(7)に付着するか、または蛍光マーカ(8、9)が、励起光(25)および蛍光阻害光(46)の長期間の影響の下で暗状態に永続的に移されていることを特徴とする上記15または16に記載の方法。
25.上記15または16に記載の方法であって、更に、次のステップ、すなわち、
-蛍光の光(42)の放出のために励起光(25)によって蛍光マーカ(8、9)を励起するステップであって、励起光(25)の強度分布(24)が、試料(13)内の異なる位置に配置される他の局所的最小値(26)を有するステップ、
-個々の蛍光マーカ(8、9)および励起光(25)の強度分布(24)の他の最小値の異なる位置(20、21、22、23)に対して別々に試料(13)から放出された蛍光の光(42)を記録する(4)ステップ、ならびに
-励起光(25)の強度分布(24)の他の最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光(42)の強度から試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定する(5)ステップ、
を備えることを特徴とする方法。
26.試料(13)から個々の蛍光マーカ(8、9)によって放出された蛍光の光(42)の相補的強度分布が、一方では、蛍光阻害光(46)の強度分布(48)の最小値の異なる位置(20、21、22、23)にわたって生じ、かつ他方では、励起光(25)の強度分布(24)の他の最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)にわたって、試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定する(5)際に比較されていることを特徴とする上記25に記載の方法。
27.-蛍光阻害光(46)の強度分布(48)の最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光(42)の強度から決定されている試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置が、その後、励起光(25)の強度分布(24)の他の最小値(26)が配置されている位置を定める際に考慮されているか、または
-励起光(25)の強度分布(24)の他の最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光(42)の強度から決定されている試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置が、その後、蛍光阻害光(46)の強度分布(48)の最小値(26)が配置されている位置を定める際に考慮されていることを特徴とする上記25に記載の方法。
8 蛍光マーカ
9 蛍光マーカ
10 中心連結点
11 連結部位
12 位置決め補助具
13 試料
14 金粒子
15 物質
16 縮小されている距離
17 開始距離
18 至近距離範囲
19、20~23 位置
24 強度分布
25 励起光
26 局所的最小値
27 最大値
28 外側周囲
29 固定点
30 穴部
31 線
32 列
33 装置
34 試料ホルダ
35 基部
36 対物レンズ
37 光源
38 レーザー
39 ビーム整形手段
40 スキャニングユニット
41 二色性ビーム分割器
42 蛍光の光
43 制御部
44 評価ユニット
45 共焦点検出器
46 蛍光阻害光
47 局所的最大値
48 強度分布
49 更なる光
50 強度分布
I 強度
Claims (27)
- 試料(13)内の複数のナノスケール構造体(7)の空間的測定方法であって、当該方法が、以下のステップ、すなわち、
-蛍光マーカ(8、9)によって異なる位置で個々のナノスケール構造体(7)をマークする(1)ステップ、
-蛍光の光(42)を放出する励起光(25)によって蛍光マーカ(8、9)を励起するステップであって、
蛍光マーカ(8、9)を励起するステップは、
-励起光(25)の強度分布(24)と、蛍光マーカ(8、9)によって蛍光の光の放出に影響を及ぼす更なる光(49)である蛍光阻害光(46)の強度分布(48)とのどちらか一方が、試料(13)内の異なる位置(20、21、22、23)に配置されている局所的最小値(26)を備える、ステップ、及び
-それぞれの位置決め補助具(12)の位置(19)のまわりの至近距離範囲(18)内で、異なる位置(20、21、22、23)に局所的最小値(26)を配置する(3)ステップを含み、至近距離範囲(18)の寸法が、励起光(25)の波長と蛍光の光(42)の波長での回折限界値よりも大きくない、ステップ、
-試料(13)から放出された蛍光の光(42)を、個々の蛍光マーカ(8、9)と局所的最小値(26)が配置されている異なる位置(20、21、22、23)とについて両方とも別々に、記録する(4)ステップ、並びに
-局所的最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光(42)の強度から、試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定する(5)ステップを含む方法において、
当該方法は、
-個々の位置決め補助具(12)に個々のナノスケール構造体(7)を連結する(2)更なるステップを含み、
-試料(13)内の位置決め補助具(12)の位置(19)が、既知であるか、または個々の位置決め補助具(12)によって反射される光から連結する(2)ステップの後で決定されている、
ことを特徴とする方法。 - 至近距離範囲(18)の寸法が、励起光(25)の波長および蛍光の光(42)の波長での回折限界値の半分または四半分より大きくないことを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 個々の蛍光マーカ(8、9)の位置は、局所的最小値(26)の4n個以下、3n個以下、又は2n個以下の異なる位置(20、21、22、23)に対して、記録された蛍光の光(42)の強度から決定されていて、nは、試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置が決定されている空間方向の数であることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定する(5)ステップが、局所的極値を備える空間関数を、局所的最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光の強度に適合するステップを含むことを特徴とする請求項3に記載の方法。
- 局所的極値を備える空間関数は、
-光反射位置決め補助具の少なくとも1個でスキャンすることによって、または
-蛍光マーカ(8、9)の少なくとも1個でスキャンすることによって、または
-更なる蛍光マーカを、局所的最小値(26)でスキャンすることによって、かつスキャン中に時間的分解能によって試料(13)から反射された光、若しくは試料(13)から放出された蛍光の光(42)を記録する(4)ことによって、
決定されていることを特徴とする請求項4に記載の方法。 - 個々のナノスケール構造体(7)が異なる位置でマークされている蛍光マーカ(8、9)は、
-蛍光マーカ(8、9)の励起スペクトルおよび発光スペクトルから選択されたスペクトル特性の異なる蛍光マーカ(8、9)、並びに
-蛍光の光(42)の放出のために励起光(25)によって励起可能である活性状態と、少なくとも同じ励起光(25)によって、蛍光の光(42)の放出のために励起可能でない不活性状態とを有し、かつその活性状態とその不活性状態との間をスイッチ光によって移動可能である蛍光マーカ(8、9)、
から選択されていることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。 - 位置決め補助具(12)の位置(19)が、至近距離範囲(18)内に局所的最小値(26)を配置するために使用された手段以外で、試料(13)に対して局所的最小値(26)の相対的移動のための他の手段によって局所的最小値(26)で接近されていることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 位置決め補助具(12)の位置(19)が、試料(13)の固定点(29)に対して固定され、かつ位置決め補助具(12)の位置(19)、即ち個々の至近距離範囲(18)が、試料(13)の固定点(29)に対して接近されていることを特徴とする請求項7に記載の方法。
- 位置決め補助具(12)の位置(19)が、
-励起光(25)の波長および蛍光の光(42)の波長での回折限界値の二倍より小さくない最小距離で、並びに
-周期的パターン、六角形パターンおよび正方形パターンから選ばれた試料(13)内の所定のパターンで、
配置されていることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。 - 試料(13)内の位置決め補助具(12)は、ナノスケール構造体(7)が免疫反応経由で連結されている固定連結部位(11)であることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 位置決め補助具(12)が、金粒子(14)、銀粒子および量子ドットから選択された光反射実体を備えることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 測定する複数のナノスケール構造体(7)は、同一のナノスケール構造体(7)である複数のナノスケール構造体(7)が少なくとも2つ以上あり、かつ同一のナノスケール構造体(7)が試料(13)の異なる領域内の異なる周囲条件にさらされていることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置が、少なくとも2つの時点について、これらの少なくとも2つの時点について記録された蛍光の光(42)の強度から、決定されていて、そして、
-ナノスケール構造体(7)が、少なくとも2つの時点で異なる周囲条件にさらされているか、または
-少なくとも2つの時点が、ナノスケール構造体(7)がさらされた周囲条件の変更を継承することを特徴とする請求項1または2に記載の方法。 - 試料(13)内の複数のナノスケール構造体(7)の空間的測定装置であって、ナノスケール構造体(7)の各々は、試料(13)内の位置が既知であるかまたは位置決め補助具(12)によって反射される光から決定された位置決め補助具(12)に連結されている当該装置において、
当該装置が、
-試料(13)のための試料ホルダ(34)、
-試料ホルダ(34)上へ向けられた対物レンズ(36)、
-対物レンズ(36)によって合焦された励起光(25)の強度分布が局所的最小値(26)を備えるように対物レンズ(36)に励起光(25)を連結する光源(37)か、または対物レンズ(36)によって合焦された更なる光の強度分布が局所的最小値(26)を備えるように対物レンズ(36)に蛍光マーカ(8、9)による蛍光の光(42)の放出に影響を及ぼす更なる光と励起光(25)を連結する光源(37)、
-試料ホルダ(34)に対して局所的最小値(26)の位置(20、21、22、23)を移動するように構成されたスキャナ(40)、
-局所的最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対して試料(13)から別々に放出された蛍光の光(42)を記録するように構成された検出器(45)、
-局所的最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光(42)の強度から、試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定するように構成された評価ユニット(44)、ならびに
-それぞれの位置決め補助具(12)の位置(19)のまわりの至近距離範囲(18)内で、異なる位置(20、21、22、23)に局所的最小値(26)を配置する(3)ように構成された制御部であって、至近距離範囲(18)の寸法が、励起光(25)の波長と蛍光の光(42)の波長での回折限界値よりも大きくない、制御部を備えることを特徴とする装置。 - 試料(13)内の1つのナノスケール構造体(7)の空間的測定方法であって、当該方法が以下のステップ、すなわち、
-蛍光マーカ(8、9)によって異なる位置でナノスケール構造体(7)をマークする(1)ステップ、
-蛍光阻害光(46)の強度分布(48)の局所的最小値(26)のそれぞれの位置で蛍光の光(42)の放出のために励起光(25)によって蛍光マーカ(8、9)を励起する(3)ステップであって、試料(13)の寸法が、励起光(25)の波長および蛍光の光(42)の波長での回折限界値より大きくなく、局所的最小値(26)が試料(13)内の至近距離範囲(18)内の異なる位置(20、21、22、23)に配置されている、ステップ、
-個々の蛍光マーカ(8、9)と局所的最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)について、試料(13)から放出された蛍光の光(42)を別々に記録する(4)ステップ、ならびに
-局所的最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録される蛍光の光(42)の強度から、試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定する(5)ステップを含むことを特徴とする方法。 - 励起光(25)の強度分布(24)は、蛍光阻害光(46)の強度分布(48)の局所的最小値(26)のそれぞれの位置で最大値を有することを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 至近距離範囲(18)の寸法が、
-励起光(25)の波長および蛍光の光(42)の波長での回折限界値の半分または四半分より大きくなく、かつ
-局所的最小値(26)までのその距離にわたってそれぞれの蛍光マーカ(8、9)によって放出された蛍光の光(42)の強度の分布(50)の半分最大値での全幅、または半分最大値での全幅の半分、または四半分、より大きくないことを特徴とする請求項15または16に記載の方法。 - 個々の蛍光マーカ(8、9)の位置が、局所的最小値(26)の4n個以下、3n個以下、又は2n個以下の異なる位置(20、21、22、23)に対して記録された蛍光の光(42)の強度から決定されていて、nは、試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置が決定されている空間方向の数であることを特徴とする請求項15または16に記載の方法。
- 試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定する(5)ステップは、局所的最大値を備える空間関数を局所的最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光(42)の強度に適合するステップを含むことを特徴とする請求項15または16に記載の方法。
- 局所的最大値を備える空間関数が、
-蛍光マーカ(8、9)または更なる蛍光マーカの少なくとも1個を、局所的最小値(26)でスキャンし、かつスキャン中に試料(13)から放出された蛍光の光(42)を時間的分解能によって記録する(4)ことで、かつ
-加えて、励起光(25)の最大値だけで少なくとも1個または更なる蛍光マーカ(8、9)をスキャンし、かつスキャン中に時間的分解能によって試料(13)から放出された蛍光の光(42)を記録する(4)ことで、
決定されていることを特徴とする請求項19に記載の方法。 - 励起するステップ、記録する(4)ステップ、および決定する(5)ステップが、蛍光阻害光(46)の増大した強度で少なくとも一回繰り返されていることを特徴とする請求項15または16に記載の方法。
- ナノスケール構造体(7)が異なる位置でマークされている蛍光マーカ(8、9)は、
-蛍光マーカ(8、9)の励起スペクトルおよび発光スペクトルから選択されたスペクトル特性の異なる蛍光マーカ(8、9)、並びに
-蛍光の光(42)の放出のために励起光(25)によって励起可能である活性状態と、少なくとも同じ励起光(25)によって蛍光の光(42)の放出のために励起可能でない不活性状態とを有し、かつその活性状態とその不活性状態との間をスイッチ光によって移動可能である蛍光マーカ(8、9)、
から選択されていることを特徴とする請求項15または16に記載の方法。 - -蛍光マーカ(8、9)の一部が、蛍光マーカ(8、9)の活性状態から蛍光マーカ(8、9)の不活性状態へスイッチ光によってスイッチされているか、または
-蛍光マーカ(8、9)の一部が、蛍光マーカ(8、9)の不活性状態から蛍光マーカ(8、9)の活性状態へスイッチ光によってスイッチされている、という点において、
蛍光マーカ(8、9)は、個々の蛍光マーカ(8、9)に対して試料(13)から放出された蛍光の光(42)を別々に記録する(4)前に個々に区別されていることを特徴とする請求項15または16に記載の方法。 - -蛍光マーカ(8、9)が、試料(13)内で移動可能であり、かつ異なる位置でナノスケール構造体(7)に個々に付着する蛍光マーカ(8、9)から選択されていて、
-蛍光マーカ(8、9)が、それらがナノスケール構造体(7)に次々と個々に付着するような濃度で、かつ空間分布で試料(13)に添加されていて、ならびに
-蛍光マーカ(8、9)が、ナノスケール構造体(7)に付着する際に、励起光(25)によって蛍光の光の放出のために励起可能でない不活性状態から、励起光(25)によって蛍光の光(42)の放出のために励起可能である活性状態に移されるか、または蛍光マーカ(8、9)が、一時的にだけナノスケール構造体(7)に付着するか、または蛍光マーカ(8、9)が、励起光(25)および蛍光阻害光(46)の長期間の影響の下で暗状態に永続的に移されていることを特徴とする請求項15または16に記載の方法。 - 請求項15または16に記載の方法であって、更に、次のステップ、すなわち、
-蛍光の光(42)の放出のために励起光(25)によって蛍光マーカ(8、9)を励起するステップであって、励起光(25)の強度分布(24)が、試料(13)内の異なる位置に配置される他の局所的最小値を有するステップ、
-個々の蛍光マーカ(8、9)および励起光(25)の強度分布(24)の他の最小値の異なる位置(20、21、22、23)に対して別々に試料(13)から放出された蛍光の光(42)を記録する(4)ステップ、ならびに
-励起光(25)の強度分布(24)の他の最小値の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光(42)の強度から試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定する(5)ステップ、
を備えることを特徴とする方法。 - 試料(13)から個々の蛍光マーカ(8、9)によって放出された蛍光の光(42)の相補的強度分布が、一方では、蛍光阻害光(46)の強度分布(48)の局所的最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)にわたって生じ、かつ他方では、励起光(25)の強度分布(24)の他の最小値の異なる位置(20、21、22、23)にわたって、試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置を決定する(5)際に比較されていることを特徴とする請求項25に記載の方法。
- -蛍光阻害光(46)の強度分布(48)の局所的最小値(26)の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光(42)の強度から決定されている試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置が、その後、励起光(25)の強度分布(24)の他の最小値が配置されている位置を定める際に考慮されているか、または
-励起光(25)の強度分布(24)の他の最小値の異なる位置(20、21、22、23)に対するそれぞれの蛍光マーカ(8、9)について記録された蛍光の光(42)の強度から決定されている試料(13)内の個々の蛍光マーカ(8、9)の位置が、その後、蛍光阻害光(46)の強度分布(48)の局所的最小値(26)が配置されている位置を定める際に考慮されていることを特徴とする請求項25に記載の方法。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102017104736.0A DE102017104736B9 (de) | 2017-03-07 | 2017-03-07 | Verfahren und Vorrichtung zum räumlichen Messen nanoskaliger Strukturen |
DE102017104736.0 | 2017-03-07 | ||
EP17182455.0A EP3372989B1 (de) | 2017-03-07 | 2017-07-20 | Verfahren zum räumlichen messen einer nanoskaligen struktur |
EP17182455.0 | 2017-07-20 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018169387A JP2018169387A (ja) | 2018-11-01 |
JP2018169387A5 JP2018169387A5 (ja) | 2022-09-07 |
JP7201327B2 true JP7201327B2 (ja) | 2023-01-10 |
Family
ID=59579380
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018036857A Active JP7201327B2 (ja) | 2017-03-07 | 2018-03-01 | ナノスケール構造体の空間的測定方法及び装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US10794829B2 (ja) |
EP (2) | EP3372989B1 (ja) |
JP (1) | JP7201327B2 (ja) |
CN (1) | CN108572164B (ja) |
DE (1) | DE102017104736B9 (ja) |
DK (1) | DK3372990T3 (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10802475B2 (en) * | 2018-07-16 | 2020-10-13 | Elite Robotics | Positioner for a robotic workcell |
LU101084B1 (de) * | 2018-12-21 | 2020-06-22 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum punktförmigen Beleuchten einer Probe in einem Mikroskiop |
EP3686644A1 (en) * | 2019-01-25 | 2020-07-29 | Hochschule Für Angewandte Wissenschaften München | Two-color confocal colocalization microscopy |
CN111024658A (zh) * | 2019-11-27 | 2020-04-17 | 浙江大学 | 一种荧光分子定向定位方法和装置 |
DE102019008989B3 (de) | 2019-12-21 | 2021-06-24 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren zur Störungskorrektur und Laserscanningmikroskop mit Störungskorrektur |
EP4158316A1 (de) | 2020-05-26 | 2023-04-05 | Abberior Instruments GmbH | Verfahren und vorrichtung zum bestimmen von positionen von molekülen in einer probe |
DE102020116547A1 (de) | 2020-06-23 | 2021-12-23 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren zur Lokalisation einzelner Moleküle eines Farbstoffs in einer Probe und zum Erzeugen hochaufgelöster Bilder einer Struktur in einer Probe |
DE102021100564B4 (de) * | 2021-01-13 | 2023-12-28 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur hochaufgelösten Ortsbestimmung eines einzelnen Farbstoffmoleküls in mehreren Raumrichtungen |
DE102020127385B3 (de) | 2020-10-16 | 2022-03-10 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur lichtmikroskopischen Multiskalen-Aufnahme biologischer Proben |
DE102020127320B3 (de) | 2020-10-16 | 2022-01-27 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren und Fluoreszenzmikroskop zur Ortsbestimmung einzelner fluoreszierender Farbstoffmoleküle durch adaptive Abtastung |
DE102020131047A1 (de) | 2020-11-24 | 2022-06-09 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme nanoskopischer Bilder mehrfach gefärbter Proben |
DE102020134495B4 (de) | 2020-12-21 | 2024-02-15 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren und Mikroskop zur Aufnahme von Trajektorien einzelner Partikel in einer Probe |
DE102021107704B4 (de) | 2021-03-26 | 2023-03-09 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren und Lichtmikroskop zum hochaufgelösten Untersuchen einer Probe |
DE102021002540A1 (de) | 2021-05-14 | 2022-11-17 | Horst Wochnowski | Hochauflösendes fluoreszenzbasiertes (Lokalisations-)Mikroskopieverfahren als Kombination aus RESOLFT (STED/GSD) und PALM/STORM und SIM |
EP4239389A1 (en) | 2022-03-03 | 2023-09-06 | Abberior Instruments GmbH | Scanning light microscopy method, scanning light microscope and computer program |
DE102022109027B4 (de) | 2022-04-13 | 2023-12-21 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren zum Kartieren der Oberfläche eines Makromoleküls |
DE102022119327B4 (de) | 2022-08-02 | 2024-03-14 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren, vorrichtung und computerprogramm zur lokalisierung vereinzelter emitter in einer probe |
DE102022119304A1 (de) | 2022-08-02 | 2024-02-08 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren, vorrichtung und computerprogramm zur lokalisierung vereinzelter emitter in einer probe |
DE102022119332B3 (de) | 2022-08-02 | 2023-12-28 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren, lichtmikroskop und computerprogramm zum lokalisieren oder verfolgen von emittern in einer probe |
DE102022119589B3 (de) | 2022-08-04 | 2023-11-23 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren, Lichtmikroskop und Computerprogramm zur Lokalisierung einzelner Emitter in einer Probe |
DE102022123632A1 (de) | 2022-09-15 | 2024-03-21 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren, lichtmikroskop und computerprogramm zur lokalisierung oder zum verfolgen von emittern in einer probe |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014535059A (ja) | 2011-11-15 | 2014-12-25 | マックス−プランク−ゲゼルシャフト ツル フォルデルング デル ヴィッゼンシャフテン イー.ヴイ. | サンプル内の粒子、特に単一分子を追跡する方法および装置 |
JP2016503892A (ja) | 2013-01-09 | 2016-02-08 | マックス−プランク−ゲゼルシャフト ツア フェーデルンク デア ヴィッセンシャフテン エー.ファオ. | 発光団を有する試料構造の高空間分解イメージング方法 |
JP2016532689A (ja) | 2013-07-30 | 2016-10-20 | プレジデント アンド フェローズ オブ ハーバード カレッジ | 定量的なdnaベースのイメージング及び超解像イメージング |
US20160363751A1 (en) | 2015-06-11 | 2016-12-15 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. | Scanning Luminescence Light Microscope with Gratings of Luminescence Inhibition Light and Further Light |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3123249B2 (ja) * | 1991-09-10 | 2001-01-09 | 株式会社日立製作所 | Dna分子の長さ計測方法および計測装置 |
JP5787257B2 (ja) * | 2008-05-21 | 2015-09-30 | マックス−プランク−ゲゼルシャフト ツル フォルデルング デル ヴィッゼンシャフテン イー.ヴイ. | 試料内の対象構造の高空間分解能結像 |
KR101059565B1 (ko) * | 2009-02-11 | 2011-08-26 | 어플라이드 프레시젼, 인코포레이티드 | 밝은 기준점 표지를 갖는 마이크로어레이 및 그로부터 광 데이터를 수집하는 방법 |
CN101813822B (zh) * | 2010-01-27 | 2012-05-16 | 深圳大学 | 具有轴向选择性激发的荧光三维纳米分辨成像方法及装置 |
US9291562B2 (en) * | 2011-11-15 | 2016-03-22 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. | Method and apparatus for tracking a particle, particularly a single molecule, in a sample |
EP2801854B1 (en) * | 2013-05-10 | 2017-07-19 | Ruprecht-Karls-Universität Heidelberg | Method and apparatus for combination of localization microscopy and structured illumination microscopy |
DE102013106895B4 (de) * | 2013-07-01 | 2015-09-17 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten |
CN103592278B (zh) * | 2013-11-21 | 2016-01-20 | 中国计量学院 | 基于荧光发射抑制机理的随机定位超分辨显微方法及装置 |
DE102016117096C5 (de) | 2015-09-22 | 2023-11-30 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren zum hochaufgelösten lokalen Abbilden einer Struktur in einer Probe |
CN108780045B (zh) * | 2016-03-07 | 2021-10-29 | 马克斯-普朗克科学促进学会 | 用于高分辨率地局部成像样品中的结构的方法 |
DE102016119262B4 (de) * | 2016-10-10 | 2018-06-07 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren zum räumlich hochauflösenden Bestimmen des Orts eines vereinzelten, mit Anregungslicht zur Emission von Lumineszenzlicht anregbaren Moleküls in einer Probe |
DE102016119263B4 (de) * | 2016-10-10 | 2018-06-07 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren zum räumlich hochauflösenden Bestimmen des Orts eines vereinzelten, mit Anregungslicht zur Emission von Lumineszenzlicht anregbaren Moleküls in einer Probe |
DE102016119264B4 (de) * | 2016-10-10 | 2018-05-30 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren zum räumlich hochauflösenden Bestimmen des Orts eines vereinzelten, mit Anregungslicht zur Emission von Lumineszenzlicht anregbaren Moleküls in einer Probe |
-
2017
- 2017-03-07 DE DE102017104736.0A patent/DE102017104736B9/de active Active
- 2017-07-20 EP EP17182455.0A patent/EP3372989B1/de active Active
-
2018
- 2018-02-20 EP EP18157683.6A patent/EP3372990B1/de active Active
- 2018-02-20 DK DK18157683.6T patent/DK3372990T3/da active
- 2018-03-01 JP JP2018036857A patent/JP7201327B2/ja active Active
- 2018-03-06 US US15/912,928 patent/US10794829B2/en active Active
- 2018-03-07 CN CN201810188076.XA patent/CN108572164B/zh active Active
-
2020
- 2020-08-28 US US17/005,444 patent/US11255791B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014535059A (ja) | 2011-11-15 | 2014-12-25 | マックス−プランク−ゲゼルシャフト ツル フォルデルング デル ヴィッゼンシャフテン イー.ヴイ. | サンプル内の粒子、特に単一分子を追跡する方法および装置 |
JP2016503892A (ja) | 2013-01-09 | 2016-02-08 | マックス−プランク−ゲゼルシャフト ツア フェーデルンク デア ヴィッセンシャフテン エー.ファオ. | 発光団を有する試料構造の高空間分解イメージング方法 |
JP2016532689A (ja) | 2013-07-30 | 2016-10-20 | プレジデント アンド フェローズ オブ ハーバード カレッジ | 定量的なdnaベースのイメージング及び超解像イメージング |
US20160363751A1 (en) | 2015-06-11 | 2016-12-15 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. | Scanning Luminescence Light Microscope with Gratings of Luminescence Inhibition Light and Further Light |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
BALZAROTTI, F. et al,Nanometer resolution imaging and tracking of fluorescent moleculues with minimal photon fluxes,SCIENCE,2017年02月10日,355,606-612,(1-19,Supplementary Materials 1-72) |
GOTTEFERT,F. et al,Strong signal increase in STED fluorscence microscopy by imaging regions of subdiffraction extent,PNAS,2017年02月28日,114 (9),2125-2130,https://doi.org/10.1073/pnas.1621495114 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3372990B1 (de) | 2021-03-24 |
EP3372990A1 (de) | 2018-09-12 |
US11255791B2 (en) | 2022-02-22 |
DE102017104736B3 (de) | 2018-08-16 |
US10794829B2 (en) | 2020-10-06 |
CN108572164B (zh) | 2022-11-18 |
DK3372990T3 (da) | 2021-06-07 |
JP2018169387A (ja) | 2018-11-01 |
EP3372989A1 (de) | 2018-09-12 |
DE102017104736B9 (de) | 2020-06-25 |
CN108572164A (zh) | 2018-09-25 |
US20180259458A1 (en) | 2018-09-13 |
EP3372989B1 (de) | 2022-05-04 |
US20200393378A1 (en) | 2020-12-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7201327B2 (ja) | ナノスケール構造体の空間的測定方法及び装置 | |
JP2018169387A5 (ja) | ||
US10900901B2 (en) | Method of high spatial resolution determining a position of a singularized molecule which is excitable for emission of luminescence light | |
JP6438054B2 (ja) | 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法 | |
JP5702356B2 (ja) | 光変換可能な光学標識を用いる光学顕微鏡法 | |
JP6078889B2 (ja) | サンプル内の粒子、特に単一分子を追跡する方法および装置 | |
RU2662461C2 (ru) | Способ получения изображения образца | |
EP2801854B1 (en) | Method and apparatus for combination of localization microscopy and structured illumination microscopy | |
US6424421B1 (en) | Method and devices for measuring distances between object structures | |
US20080144006A1 (en) | Method for Measuring Topographic Structures on Devices | |
JP2012530947A (ja) | 顕微鏡画像における蛍光事象の評価方法 | |
US11921274B2 (en) | Method for detecting emission light, detection device and laser scanning microscope | |
JPWO2018069283A5 (ja) | ||
Kim et al. | DNA microarray scanner with a DVD pick-up head | |
JPWO2020114930A5 (ja) | ||
JP2005350524A (ja) | 接着方法、接着装置、接着剤、及び接着された構造物 | |
JPH04120444A (ja) | マイクロフォトルミネッセンス測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210222 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20220131 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220301 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20220509 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20220524 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20220510 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20220727 |
|
A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20220830 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220831 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20221207 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20221222 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7201327 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |