JP7051260B2 - 三次元計測装置、三次元計測方法 - Google Patents
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Description
31…撮像カメラ
32…プロジェクター
100…制御装置(制御部)
B…半田(対象物)
Bs…三次元形状
L(S)…パターン光(光)
Px…画素
Ph…高感度画素
Pl…低感度画素
ΔP…配列ピッチ(所定範囲)
SP(R)、SP(B)、SP(G)…分光感度特性
T(S)…投影パターン(縞パターン)
V…画素値
λg…緑色の波長(所定波長)
S203…判定処理
Claims (5)
- 所定波長の光を対象物に照射するプロジェクターと、
前記対象物で反射された光が入射する複数の画素を有し、前記複数の画素のそれぞれは入射した光の強度に応じた画素値を出力する撮像カメラと、
前記画素値に基づき前記対象物の三次元形状の形状算出を実行する制御部と
を備え、
前記複数の画素は、複数の高感度画素と、前記高感度画素が有する分光感度特性と比較して前記所定波長の入力に対する出力の比が低い分光感度特性を有する複数の低感度画素とを含み、
前記高感度画素と前記低感度画素とが交互に配列され、
前記複数の画素は、前記高感度画素と前記低感度画素とを同じ比率で含み、
前記所定波長は、緑色の波長であり、
前記複数の画素は、赤色、緑色および青色を所定のパターンで配列したベイヤー配列により配列され、
前記複数の高感度画素のそれぞれは、ベイヤー配列における緑色の画素であり、
前記複数の低感度画素は、ベイヤー配列における青色の画素と赤色の画素とを同数ずつ含み、
前記制御部は、前記所定波長の光を検出した前記高感度画素の画素値と、前記所定波長の光を検出した前記低感度画素の画素値とに基づき前記対象物の三次元形状の形状算出を実行する三次元計測装置。 - 前記制御部は、前記画素から出力される前記画素値が適切か否かを前記画素値に基づき判定する判定処理を前記複数の画素のそれぞれについて実行し、前記判定処理での判定結果に基づき前記形状算出を実行する請求項1に記載の三次元計測装置。
- 前記制御部は、前記判定処理で前記画素値が不適切と判定された前記高感度画素に対して、当該高感度画素から所定範囲内に位置する前記低感度画素の前記画素値による補間を実行し、あるいは前記判定処理で前記画素値が不適切と判定された前記低感度画素に対して、当該低感度画素から前記所定範囲内に位置する前記高感度画素の前記画素値による補間を実行した結果に基づき前記形状算出を実行する請求項2に記載の三次元計測装置。
- 前記プロジェクターは、前記所定波長を有して、互いに異なる位相を有する複数の縞パターンの光を前記対象物に照射し、
前記制御部は、位相シフト法によって前記形状算出を実行する請求項1ないし3のいずれか一項に記載の三次元計測装置。 - 所定波長の光を対象物に照射する工程と、
前記対象物で反射された光を複数の画素に入射させ、前記複数の画素が入射した光の強度に応じた画素値を出力する工程と、
前記画素値に基づき前記対象物の三次元形状の形状算出を実行する工程と
を備え、
前記複数の画素は、複数の高感度画素と、前記高感度画素が有する分光感度特性と比較して前記所定波長の入力に対する出力の比が低い分光感度特性を有する複数の低感度画素とを含み、
前記高感度画素と前記低感度画素とが交互に配列され、
前記複数の画素は、前記高感度画素と前記低感度画素とを同じ比率で含み、
前記所定波長は、緑色の波長であり、
前記複数の画素は、赤色、緑色および青色を所定のパターンで配列したベイヤー配列により配列され、
前記複数の高感度画素のそれぞれは、ベイヤー配列における緑色の画素であり、
前記複数の低感度画素は、ベイヤー配列における青色の画素と赤色の画素とを同数ずつ含み、
前記所定波長の光を検出した前記高感度画素の画素値と、前記所定波長の光を検出した前記低感度画素の画素値とに基づき前記対象物の三次元形状の形状算出が実行される三次元計測装置。
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