JP7021612B2 - 質量分析装置及び質量分析方法 - Google Patents
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Description
1乃至複数種類の既知の質量電荷比を有するイオンを生成する標準試料について、測定対象とする1種類のイオンを指定し、
前記標準試料を前記イオン源に導入し、
前記イオン源において前記標準試料から生成されたイオンのうち前記指定された1種類のイオンのみを前記イオントラップに捕捉して他の種類のイオンを前記イオントラップから排出し、
前記イオントラップに捕捉されている前記1種類のイオンについてスキャン測定を行う
ことを特徴とする。
イオン源と、
前記イオン源で生成されたイオンを捕捉するイオントラップと、
前記イオントラップから排出されるイオンを検出する検出部と、
前記イオントラップに高周波電圧を印加する電圧印加部と、
1乃至複数種類の既知の質量電荷比を有するイオンを生成する標準試料について、測定対象とする1種類のイオンの質量電荷比の入力を受け付ける測定対象イオン入力受付部と、
前記測定対象イオン入力受付部に入力された質量電荷比に予め決められたマージンを付与することにより捕捉質量電荷比範囲を決定する捕捉質量電荷比範囲決定部と、
前記イオン源に前記標準試料を導入し、前記捕捉質量電荷比範囲のイオンを前記イオントラップに捕捉する周波数及び振幅を有する高周波電圧を前記イオントラップに印加し、続いて、前記イオントラップに捕捉されているイオンを質量電荷比順に排出するように前記イオントラップに印加する高周波電圧の周波数及び/又は振幅を変化させる測定制御部と
を備えることを特徴とする。
10…MALDIイオン源
11…試料ステージ
12…試料
13…レーザ光源
14、15…反射鏡
16…CCDカメラ
17…アパーチャ
18…イオンレンズ
20…イオントラップ
21…リング電極
22…入口側エンドキャップ電極
23…出口側エンドキャップ電極
25…イオン導入口
26…イオン排出口
27…電圧印加部
30…イオン検出器
31…コンバージョンダイノード
32…二次電子増倍管
40…制御・処理部
41…記憶部
42…化合物データベース
50…質量分析プログラム
51…測定対象イオン入力受付部
52…捕捉質量電荷比範囲決定部
53…測定制御部
54…マススペクトル作成部
55…質量精度算出部
61…入力部
62…表示部
Claims (8)
- イオン源と、
前記イオン源で生成されたイオンを捕捉するイオントラップと、
前記イオントラップから排出されるイオンを検出する検出部と、
前記イオントラップに高周波電圧を印加する電圧印加部と、
1乃至複数種類の既知の質量電荷比を有するイオンを生成する標準試料について、測定対象とする1種類のイオンの質量電荷比の入力を受け付ける測定対象イオン入力受付部と、
前記測定対象イオン入力受付部に入力された質量電荷比に予め決められたマージンを付与することにより前記1種類のイオンのみが含まれる捕捉質量電荷比範囲を決定する捕捉質量電荷比範囲決定部と、
前記イオン源に前記標準試料を導入し、前記1種類のイオンのみを前記イオントラップに捕捉する周波数及び振幅を有する高周波電圧を前記イオントラップに印加し、続いて、前記イオントラップに印加する高周波電圧の周波数及び/又は振幅を変化させて前記1種類のイオンをスキャン測定する測定制御部と
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 前記イオントラップが、リング電極と該リング電極を挟むように設けられた1対のエンドキャップ電極を有する3次元イオントラップであることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記測定制御部が、複数回、前記標準試料を測定し、該複数回の測定により得られた測定データを積算あるいは平均することを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記イオン源が前記標準試料の表面にレーザ光を照射することによりイオンを生成するMALDIイオン源であることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記測定制御部が、前記標準試料の表面に設定した複数の測定点のそれぞれについて測定を行い、各測定により得られた測定データを積算あるいは平均することを特徴とする請求項4に記載の質量分析装置。
- 前記マージンが±5Da以下であることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- さらに、
前記1種類のイオンのスキャン測定の結果に基づいて作成されたマススペクトルに存在するピークのピークトップに対応する質量電荷比を求め、該ピークトップに対応する質量電荷比と該1種類のイオンの理論質量電荷比の差を該理論質量電荷比で除すことにより質量精度を算出する質量精度算出部
を備える、請求項1に記載の質量分析装置。 - イオン源と、前記イオン源で生成されたイオンを捕捉し、排出するイオントラップと、前記イオントラップから排出されたイオンを検出する検出部とを備えたイオントラップ型質量分析装置を用いた質量分析方法であって、
1乃至複数種類の既知の質量電荷比を有するイオンを生成する標準試料について、測定対象とする1種類のイオンを指定し、
前記標準試料を前記イオン源に導入し、
前記イオン源において前記標準試料から生成されたイオンのうち、前記1種類のイオンのみを前記イオントラップに捕捉し、
前記イオントラップに捕捉されている前記1種類のイオンについてスキャン測定を行う
ことを特徴とする質量分析方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2018143927A JP7021612B2 (ja) | 2018-07-31 | 2018-07-31 | 質量分析装置及び質量分析方法 |
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Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
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JP2020021602A JP2020021602A (ja) | 2020-02-06 |
JP2020021602A5 JP2020021602A5 (ja) | 2020-12-17 |
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JP2018143927A Active JP7021612B2 (ja) | 2018-07-31 | 2018-07-31 | 質量分析装置及び質量分析方法 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP7021612B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2749549C1 (ru) * | 2020-07-14 | 2021-06-15 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина" | Устройство масс-анализа ионов с квадрупольными полями с возбуждением колебаний на границе устойчивости |
RU2740604C1 (ru) * | 2020-07-14 | 2021-01-15 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина" | Способ масс-анализа ионов в квадрупольных полях с возбуждением колебаний на границы устойчивости |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006092750A (ja) | 2004-09-21 | 2006-04-06 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ質量分析方法および装置 |
JP2006196190A (ja) | 2005-01-11 | 2006-07-27 | Shimadzu Corp | Maldiイオントラップ型質量分析装置及び分析方法 |
JP2010205460A (ja) | 2009-03-02 | 2010-09-16 | Shimadzu Corp | レーザ脱離イオン化飛行時間型質量分析装置 |
JP2010537172A (ja) | 2007-08-21 | 2010-12-02 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン | 質量割り当て精度を向上させる方法 |
JP2015146288A (ja) | 2014-02-04 | 2015-08-13 | 日本電子株式会社 | 質量分析装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1183803A (ja) * | 1997-09-01 | 1999-03-26 | Hitachi Ltd | マスマーカーの補正方法 |
-
2018
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006092750A (ja) | 2004-09-21 | 2006-04-06 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ質量分析方法および装置 |
JP2006196190A (ja) | 2005-01-11 | 2006-07-27 | Shimadzu Corp | Maldiイオントラップ型質量分析装置及び分析方法 |
JP2010537172A (ja) | 2007-08-21 | 2010-12-02 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン | 質量割り当て精度を向上させる方法 |
JP2010205460A (ja) | 2009-03-02 | 2010-09-16 | Shimadzu Corp | レーザ脱離イオン化飛行時間型質量分析装置 |
JP2015146288A (ja) | 2014-02-04 | 2015-08-13 | 日本電子株式会社 | 質量分析装置 |
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---|---|
JP2020021602A (ja) | 2020-02-06 |
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