JP2015146288A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】質量分析装置100は、試料Sを測定領域ごとにイオン化して、当該測定領域ごとに質量分析を行う測定部10と、測定部10の測定結果に基づいて、測定領域ごとにマススペクトルを生成するスペクトル生成部220と、少なくとも2つの測定領域を1つのブロックとし、当該ブロックごとに測定領域のマススペクトルを積算し、積算されたマススペクトルに基づいて、前記ブロックごとに前記測定領域のマススペクトルの質量電荷比を補正する質量補正部222と、を含む。
【選択図】図1
Description
直線的に飛行させる直線型TOFMSである。また、イオン源と検出器の間に反射場を置くことにより、飛行距離を延長することができる反射型TOFMSも広く利用されている。
Desorption/Ionization,SALDI)も研究が進んでいる。
質量軸のドリフトとは、飛行時間Tからm/z値を算出する際に誤差が生じることである。
試料を測定領域ごとにイオン化して、当該測定領域ごとに質量分析を行う測定部と、
前記測定部の測定結果に基づいて、前記測定領域ごとにマススペクトルを生成するスペクトル生成部と、
少なくとも2つの前記測定領域を1つのブロックとし、当該ブロックごとに前記測定領域のマススペクトルを積算し、積算されたマススペクトルに基づいて、前記ブロックごとに前記測定領域のマススペクトルの質量電荷比を補正する質量補正部と、
を含む。
前記測定部は、1つの前記ブロックに含まれる前記測定領域をすべて測定した後に、次の前記ブロックに含まれる前記測定領域を測定してもよい。
前記質量補正部は、前記ブロックごとに積算されたマススペクトルにおいて、質量電荷比の第1範囲にピークが存在している場合には、前記第1範囲に存在するピークを用いて質量電荷比を補正し、前記第1範囲にピークが存在しない場合には、前記第1範囲とは異なる質量電荷比の第2範囲に存在するピークを用いて質量電荷比を補正してもよい。
前記質量補正部は、飛行時間を質量電荷比に変換するためキャリブレーション条件を求めて質量電荷比を補正してもよい。
異なる前記キャリブレーション条件で補正されたマススペクトルについて、各マススペクトルのデータ間隔を揃えるデータ処理部を含み、
前記データ処理部は、各マススペクトルのデータ間隔を、補正されたマススペクトルのうちのいずれか1つのマススペクトルのデータ間隔に揃えてもよい。
前記測定部は、
前記測定領域にレーザー光を照射してイオン化するイオン源と、
前記イオン源で生成されたイオンを質量分離して検出する質量分析部と、
を含んでいてもよい。
前記質量分析部は、前記イオン源で生成されたイオンを飛行時間に基づいて分離してもよい。
前記質量補正部で補正された前記測定領域ごとのマススペクトルから、前記測定領域の位置情報と、各前記測定領域に含まれる化合物の質量の情報を取得するマスイメージング部を含んでいてもよい。
まず、第1実施形態に係る質量分析装置について、図面を参照しながら説明する。図1は、第1実施形態に係る質量分析装置(MALDI−TOFMS)100の構成を示す図である。
する。
等)、ASIC(ゲートアレイ等)などのハードウェアや、プログラムにより実現できる。なお、処理部20の少なくとも一部をハードウェア(専用回路)で実現してもよい。
を構成する測定領域Aの数は2つ以上であれば特に限定されず、所望の行数および所望の列数をとることができる。また、各補正ブロックBを構成する測定領域Aの数は異なっていてもよい。また、1つの補正ブロックBを構成する測定領域Aは、互いに近接していてもよいし、離間していてもよい。測定部10で測定された全測定領域Aが複数の補正ブロックB(1)、B(2)、B(3)・・・に分けられる。
タなどを格納するものであり、その機能は、光ディスク(CD、DVD)、光磁気ディスク(MO)、磁気ディスク、ハードディスク、磁気テープ、或いはメモリ(ROM)などにより実現できる。処理部20は、情報記憶媒体36に格納されるプログラム(データ)に基づいて本実施形態の種々の処理を行う。情報記憶媒体36には、処理部20の各部としてコンピューターを機能させるためのプログラムを記憶することができる。
に基づいて、特定のm/z(すなわち特定の化合物)についての強度分布の情報や、特定の領域に局在する化合物の情報を、表示部32に表示させる制御を行う。
次に、第2実施形態に係る質量分析装置について説明する。第2実施形態に係る質量分析装置の構成は、上述した図1に示す第1実施形態に係る質量分析装置100と同様であり、以下では、第1実施形態に係る質量分析装置100との相違点について説明する。
次に、第3実施形態に係る質量分析装置について説明する。第3実施形態に係る質量分析装置の構成は、上述した図1に示す第1実施形態に係る質量分析装置100と同様であり、以下では、第1実施形態に係る質量分析装置100との相違点について説明する。
るまでの時間が長い。これにより、時間の経過による系統誤差の影響が大きくなる。
次に、第4実施形態に係る質量分析装置について説明する。第4実施形態に係る質量分析装置の構成は、上述した図1に示す第1実施形態に係る質量分析装置100と同様であり、以下では、第1実施形態に係る質量分析装置100との相違点について説明する。
次に、第5実施形態に係る質量分析装置について説明する。第5実施形態に係る質量分析装置の構成は、上述した図1に示す第1実施形態に係る質量分析装置100と同様であり、以下では、第1実施形態に係る質量分析装置100との相違点について説明する。
ン17と、検出器18と、を含んで構成された反射型TOFMSであった。
Claims (8)
- 試料を測定領域ごとにイオン化して、当該測定領域ごとに質量分析を行う測定部と、
前記測定部の測定結果に基づいて、前記測定領域ごとにマススペクトルを生成するスペクトル生成部と、
少なくとも2つの前記測定領域を1つのブロックとし、当該ブロックごとに前記測定領域のマススペクトルを積算し、積算されたマススペクトルに基づいて、前記ブロックごとに前記測定領域のマススペクトルの質量電荷比を補正する質量補正部と、
を含む、質量分析装置。 - 請求項1において、
前記測定部は、1つの前記ブロックに含まれる前記測定領域をすべて測定した後に、次の前記ブロックに含まれる前記測定領域を測定する、質量分析装置。 - 請求項1または2において、
前記質量補正部は、前記ブロックごとに積算されたマススペクトルにおいて、質量電荷比の第1範囲にピークが存在している場合には、前記第1範囲に存在するピークを用いて質量電荷比を補正し、前記第1範囲にピークが存在しない場合には、前記第1範囲とは異なる質量電荷比の第2範囲に存在するピークを用いて質量電荷比を補正する、質量分析装置。 - 請求項1ないし3のいずれか1項において、
前記質量補正部は、飛行時間を質量電荷比に変換するためキャリブレーション条件を求めて質量電荷比を補正する、質量分析装置。 - 請求項4において、
異なる前記キャリブレーション条件で補正されたマススペクトルについて、各マススペクトルのデータ間隔を揃えるデータ処理部を含み、
前記データ処理部は、各マススペクトルのデータ間隔を、補正されたマススペクトルのうちのいずれか1つのマススペクトルのデータ間隔に揃える、質量分析装置。 - 請求項1ないし5のいずれか1項において、
前記測定部は、
前記測定領域にレーザー光を照射してイオン化するイオン源と、
前記イオン源で生成されたイオンを質量分離して検出する質量分析部と、
を含む、質量分析装置。 - 請求項6において、
前記質量分析部は、前記イオン源で生成されたイオンを飛行時間に基づいて分離する、質量分析装置。 - 請求項1ないし7のいずれか1項において、
前記質量補正部で補正された前記測定領域ごとのマススペクトルから、前記測定領域の位置情報と、各前記測定領域に含まれる化合物の質量の情報を取得するマスイメージング部を含む、質量分析装置。
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