JP6967835B2 - 分光放射測定装置 - Google Patents

Description

本発明は、分光放射測定装置に関する。

光源の明るさを示す指標の１つとして、全光束が測定される。この全光束の測定は、標準光源を用いて測定される全光束の測定値と、被測定光源の測定値とを比較して算出される（特許文献１、２）。従来、このような全光束測定の標準光源としては、標準電球が専ら使用されてきた。近年、発光ダイオード等を用いた照明器具（固体素子照明ともいう。）が広く使用されるようになってきているが、その固体素子照明についても、標準電球を使用した分光放射測定装置を用いて全光束が測定されている。

特開２００９−１０３６５４号公報 特開２０１０−２７１２３５号公報

しかしながら、標準電球を使用する従来の分光放射測定装置により、固体素子照明の全光束を測定すると、固体素子照明の発光スペクトルや配光特性等が標準電球と大きく異なることから正確に全光束を測定できない場合があった。

そこで、本発明は、発光ダイオード等を用いた照明器具の全光束を精度良く測定できる分光放射測定装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明に係る一形態の分光放射測定装置は、
入射スリットと、前記入射スリットから入射された入射光を波長に応じて出射角を変化させる分散手段と、前記分散手段により分散された光のうち特定の波長帯域の光を出射させる出射スリットとを備えた分光器と、
被測定光源から出射された光を、拡散光にして前記入射スリットに照射する光導入手段と、
分光分布測定の基準とする標準光源と、
を備え、
前記標準光源は、発光ダイオードと該発光ダイオードからの光により励起される蛍光体とを含み、
前記標準光源の分光分布Ｐｓ（λ）と、該分光分布Ｐｓ（λ）の２次微分係数Ｐｓ”（λ）と、前記入射スリットの幅と前記分散手段の分散特性と前記出射スリットの幅とに基づいて規定されるスリット関数の波長幅Δλ（ｎｍ）とが、３８０ｎｍ〜７８０ｎｍの波長範囲において、以下の式（１）の関係を満たすことを特徴とする。
Δλ^２×（｜Ｐｓ”（λ）｜／Ｐｓ（λ））＜０．５・・・式（１）

以上のように構成された本発明に係る一形態の分光放射測定装置によれば、発光ダイオード等を用いた照明器具の全光束を精度良く測定できる分光放射測定装置を提供することができる。

本発明に係る実施形態の分光放射測定装置の構成を示す模式図である。 市販されている白色ＬＥＤの分光分布の測定結果を示すグラフである。 図２Ａに示す分光分布に基づいて、白色ＬＥＤを標準光源として用いて分光放射測定した場合の測定誤差の算出結果を示すグラフである。 実施形態に係る標準光源１をフォルダに取り付けた状態を示す模式的な断面図である。 実施形態に係る標準光源１の構成を示す平面図である。 実施形態の標準光源１に係るＡタイプ及びＢタイプの光源の分光分布を示すグラフである。 図４Ａに示す分光分布に基づいて、Ａタイプ及びＢタイプの光源を標準光源として用いて分光放射測定した場合の測定誤差の算出結果を示すグラフである。

以下、図面を参照しながら本発明に係る実施形態の分光放射測定装置について説明する。実施形態の分光放射測定装置は、図１に示すように、光導入部１０と、分光器２０と、検出器３０を含み、さらに分光分布測定の基準とする標準光源１を備えている。

分光放射測定装置において、光導入部１０は、積分球１０ａと、光源取付部１１と、出射部１２と、遮光板１３とを有し、光源取付部１１に設けられた被測定光源から出射される光を、被測定光源の形状及び配光特性に依存しない平均化した強度の光にして出射する光導入手段である。より具体的には、積分球１０ａの内壁は拡散反射面となっており、被測定光源からの光は積分球１０ａの内壁で多重反射されて、その反射拡散光が積分球１０ａの内壁に照射され、積分球１０ａの内壁は被測定光源から方向及び距離によらず均等に照射された状態となる。このように、均等に照射された光（拡散反射光）の一部が出射部１２から取り出され、分光器２０の入射スリット面に照射される。このような光導入部により、被測定光源から放射される光束の総和（全光束）に対して常に一定の割合の光が出射部１２から出射される。尚、遮光板１３は、光源取付部１１と出射部１２の間に配置され、被測定光源から放射される光が直接出射部１２から出射されることがないようにして、積分球１０ａの内壁で反射された光だけが出射部１２から取り出されるようにしている。
また、１４の符号を付して示す部材は、自己吸収補正用光源である。

分光器２０は、入射スリット２１ｓが形成されたが入射スリット板２１と、分散手段２２と、出射スリット２３ｓが形成されたが出射スリット板２３とを備えている。ここで、入射スリット２１ｓと出射スリット２３ｓは、スリット波長幅が例えば、同一になるように設定される。分散手段２２は、平面ミラー２２Ｍ１とコリメータミラー２２Ｍｃと回折格子２２Ｇとフォーカシングミラー２２Ｍｆと平面ミラー２２Ｍ２とを含む。以上のように構成された分光器２０において、入射スリット２１ｓから入射された入射光は波長に応じて分散して出射スリット板２３上に照射される。そして、出射スリット板２３上に照射された光のうち、出射スリット２３ｓに照射された特定の波長の光だけが出射される。また、分光器２０は、回折格子２２Ｇの向きを制御する制御部を含んでおり、この制御部によって回折格子２２Ｇの向きを変化させることにより、出射スリット２３ｓから出射させる光の波長帯域を変更することができる。

検出器３０は、分光器２０の出射スリット２３ｓから出射された特定の波長帯域の光の強度を測定する。

ここで、特に、本実施形態の分光放射測定装置は、従来から使用されてきた標準電球に代えて、発光ダイオードと発光ダイオードからの光により励起される蛍光体とを含む標準光源１を備えている。そして、標準光源１の分光分布Ｐｓ（λ）と、該分光分布Ｐｓ（λ）の２次微分係数Ｐｓ”（λ）と、入射スリット２１ｓの幅と分散手段２２の分散特性と出射スリット２３ｓの幅とに基づいて規定されるスリット関数の波長幅Δλ（ｎｍ）とが、３８０ｎｍ〜７８０ｎｍの波長範囲において、以下の式（１）の関係を満たすように設定されている。これにより、詳細後述するように、スリット関数の波長幅Δλを２．５ｎｍとした場合、１％以下の測定誤差で分光分布を測定することが可能になる。また、実施形態の分光放射測定装置は、発光ダイオードと発光ダイオードからの光により励起される蛍光体とを含む標準光源１を備えているので、発光スペクトルや配光特性等が標準電球と大きく異なる固体光源照明器具の全光束を精度良く測定することが可能になる。

Δλ^２×（｜Ｐｓ”（λ）｜／Ｐｓ（λ））＜０．５・・・式（１）

以下、発光ダイオードを含む標準光源１を備えた分光放射測定装置の測定精度及び標準光源１の構成について詳細に説明する。本発明は、本発明者らが、標準電球を用いていた分光放射測定装置が持つ種々の課題を解決するために鋭意検討を重ねた結果なされたものであり、以下の説明ではその検討経緯を含めて説明する。

標準光源により分光感度特性が校正された有限のスリット波長幅Δλを有する分光放射測計を用いて、被測定光源の分光放射束(もしくは分光放射照度。以下、分光分布という。)を評価する場合、分光器２０のスリット関数の影響により、被測定光源の分光分布に誤差が生じる。この誤差は、波長積分量である被測定光源の放射束値に最終的には影響を与えることになる。

一般に固体素子照明は、標準電球に比べて、急峻な分光分布を有することから、例えば、発光ダイオードを含む固体光源を分光放射測定装置の標準光源として使用することは困難であると考えられていた。例えば、一部の波長域に急峻なピークを有する白色ＬＥＤを標準光源とする場合には、分光器２０のスリット関数の影響が顕著に現れることが想定される。

そこで、本発明者らは、標準光源の分光分布におけるピーク付近では２次微分の変化が大きくなるであろう点に着目して検討した。

被測定光源の分光分布を、Ｐ_ｔ（λ）とすると、Ｐ_ｔ（λ）は、被測定光源を分光放射計で測定時の測定値Ｒ_ｔ（Λ）、標準光源を分光放射計で測定時の測定値Ｒ_ｓ（Λ）および標準光源の分光分布Ｐ_ｓ（λ）により、以下の式（２）で与えられる(ＪＩＳ Ｚ ８７２４等)。

式（２）において、λは光の波長であり、Λは分光放射計の波長、Ｈ（Λ）は、分光放射計の波長Λにおける応答度である。

上記式（２）をもとに、スリット関数の影響により誤差を評価するために、
（i）分光放射計の測定値Ｒ（Λ）が、分光放射計のスリット関数ｇ（λ，Λ）、分光放射計の応答度Ｈ（Λ）および光源の分光分布Ｐ（λ）により、次の式（３）で与えられること、
（ii）さらに、スリット関数ｇ（λ，Λ）が、スリット波長幅Δλを有する二等辺三角形で与えられると仮定すると、式（３）は、式（４）で近似できることに着目して式（５）を得た。
ここで、一般にスリット関数は二等辺三角形になることが知られており、（ii）における仮定に問題はない。

・・・・（５）

以上の式（５）から標準光源の分光分布と分光器のスリット関数に基づく誤差は、（Ｐｓ”（λ）／Ｐｓ（λ））とスリット波長幅Δλ（ｎｍ）の２乗に比例することが分かる。
式（５）によれば、スリット波長幅Δλを２．５ｎｍとした場合、式（１）を満足するような分光分布の光源を標準光源として使用すれば、１％以下の測定誤差で分光分布を測定することが可能であることがわかる。

標準光源として白色ＬＥＤを用いた場合の測定誤差
そこで、まず、本発明者らは、式（５）により、市販されている白色ＬＥＤの分光分布を測定して、その白色ＬＥＤを標準光源として用いて分光放射測定した場合の測定誤差を評価した。
図２Ａに、その白色ＬＥＤの分光分布を示す。また、図２Ｂには、その白色ＬＥＤの分光分布について式（５）に基づき算出した測定誤差を示す。尚、この誤差評価は、評価対象とした白色ＬＥＤは４１０ｎｍ以下の波長の光をほとんど発光しないことから、４１０ｎｍ〜７８０ｎｍの範囲で行った。

以上の評価結果から、白色ＬＥＤを標準光源として用いて分光放射測定した場合、図２Ｂに示すように、５１０ｎｍ以下の波長域における測定誤差は大きくなるが、５１０ｎｍより大きい波長域は比較的測定誤差が小さいことが確認された。また、５１０ｎｍより大きい波長域において比較的測定誤差が小さいといっても、５１０ｎｍより大きい波長域においても標準電球を用いた場合に比較すると誤差はまだ大きい。この評価に使用した白色ＬＥＤは、ピーク波長が４５５ｎｍ近辺にある青色発光ダイオード（窒化ガリウム系半導体発光ダイオード）とその青色発光ダイオードの光により励起されて励起光より長波長の光を発光する蛍光体（セリウムで賦活されたイットリウム・アルミニウム・ガーネット（ＹＡＧ）系蛍光体）を含む白色ＬＥＤであり、５００ｎｍ以下の波長域における発光は青色発光ダイオードの光が支配的であり、５００ｎｍより大きい波長域では蛍光体の光が支配的である。

本実施形態では、以上の評価結果を基に、以下のようなコンセプトで発光ダイオードを含む標準光源１を構成することとした。
（ａ）まず、白色ＬＥＤに比較して、より広い範囲で蛍光体の光が支配的になるようにすることが好ましい。
具体的には、白色ＬＥＤに用いている青色発光ダイオードより短い波長の発光ダイオードを使用して、青色領域について急峻なピークを有する発光ダイオードに代えて、強度分布の変化量の変化（分光分布における傾きの変化、すなわち、分光分布の二次微分係数）が発光ダイオードより小さい蛍光体の光が支配的になるようにする。これにより、青色領域についても分光分布の二次微分係数を小さくすることができる。
（ｂ）発光ダイオードの光が支配的な短い波長域（例えば、３８０ｎｍ〜４１０ｎｍの波長域）における分光分布の二次微分係数を小さくするために、波長の異なる複数の種類の発光ダイオードを使用することが好ましい。ここで、本明細書では、可視光のうち特に波長が短い３８０ｎｍ〜４３０ｎｍの範囲を近紫外領域といい、その近紫外領域にピーク波長を有する発光ダイオードを近紫外発光ダイオードという。
（ｃ）さらに、発光ダイオードの光が支配的な短い波長域を除いた青色から赤色にわたる広い波長域の光を発光させるために複数の種類の蛍光体を用いることが好ましい。

実施形態の分光放射測定装置における標準光源１は、上述したコンセプトに基づいて構成されており、その一例を図３Ｂに示す。
図３Ｂに示す標準光源１は、基体２上に、ピーク波長が３８０ｎｍの４個の近紫外発光ダイオード１ａと、ピーク波長が３９０ｎｍの１２個の近紫外発光ダイオード１ｂと、ピーク波長が４００ｎｍの１０個の近紫外発光ダイオード１ｃと、ピーク波長が４１０ｎｍの４個の近紫外発光ダイオード１ｄが実装されている。そして、この３０個の近紫外発光ダイオードうちの１５個の近紫外発光ダイオード（２個の近紫外発光ダイオード１ａ、６個の近紫外発光ダイオード１ｂ、５個の近紫外発光ダイオード１ｃ、２個の近紫外発光ダイオード１ｄ）が直列に接続され、残りの１５個の近紫外発光ダイオードが直列に接続され、その２つの直列回路が並列に接続されている。ここで、近紫外発光ダイオードはそれぞれ発光面側にｐ側の電極とｎ側の電極とを有しており、隣接する近紫外発光ダイオード間がワイヤー７によって接続されている。
図３Ｂには、それぞれ近紫外領域にピーク波長を有する４種類の近紫外発光ダイオードを用いた例を示したが、本実施形態の標準光源１は、紫外領域（３８０ｎｍ未満の波長領域）にピーク波長を有する発光ダイオードを含むように構成してもよい。なお、この近紫外発光ダイオードまたは紫外領域にピーク波長を有する発光ダイオードとしては、例えばＡｌＧａＮ等の窒化物半導体からなる発光ダイオードが挙げられる。

また、実施形態の標準光源１では、３０個の近紫外発光ダイオードを覆うように蛍光体層が設けられており、その蛍光体層が青色に発光する第１の蛍光体と黄色に発光する第２の蛍光体と赤色に発光する第３の蛍光体とを含んでいる。ここで、実施形態の標準光源１では、第１の蛍光体〜第３の蛍光体の１つ以上またはそれぞれが２種類以上の蛍光体を含んでいてもよい。

実施形態の標準光源１は、さらに、近紫外発光ダイオード及び蛍光体層を覆う透光性樹脂を含む。この透光性樹脂は、光拡散材を含んでいることが好ましく、これにより、発光ダイオードからの直接の光及び／また蛍光体からの光を拡散して均一にして外部に放出することができる。

以上、説明した図３Ｂに示す標準光源１は、図３Ａに示すフォルダ５の所定の位置に保持された状態で光源取付部１１に取り付けられる。フォルダ５には、標準光源１を冷却するペルチエ素子３が設けられ、動作時における標準光源１の温度上昇を抑制している。

以上の図３Ｂに示した例に基づき、Ａタイプの標準光源１とＢタイプの標準光源１を作製し、Ａタイプの標準光源１を用いた実施形態の分光放射測定装置とＢタイプの標準光源１を用いた実施形態の分光放射測定装置についてそれぞれ、上記式（５）により３８０ｎｍ〜７８０ｎｍ波長域における測定誤差を評価した。尚、この測定誤差の評価において、スリット波長幅Δλは５ｎｍとした。

ここで、
Ａタイプの標準光源１は、
近紫外発光ダイオードとして、上述した、
ピーク波長が３８０ｎｍの４個の近紫外発光ダイオード１ａと、
ピーク波長が３９０ｎｍの１２個の近紫外発光ダイオード１ｂと、
ピーク波長が４００ｎｍの１０個の近紫外発光ダイオード１ｃと、
ピーク波長が４１０ｎｍの４個の近紫外発光ダイオード１ｄと、
を用い、
青色に発光する第１の蛍光体として、（ＳｒＣａＢａＭｇ）_５（ＰＯ_４）_３Ｃｌ：Ｅｕで表される蛍光体（ＳＣＡ）を用い、
黄色に発光する第２の蛍光体として、Ｌｕ_３Ａｌ_５Ｏ_１２：Ｃｅで表される蛍光体（ＬＡＧ）を用い、
赤色に発光する第３の蛍光体として、ＣａＡｌＳｉＮ_３：Ｅｕで表される蛍光体（ＣＡＳＮ）を用いて、構成した。

また、Ｂタイプの標準光源１は、
近紫外発光ダイオードとして、上述した、
ピーク波長が３８０ｎｍの４個の近紫外発光ダイオード１ａと、
ピーク波長が３９０ｎｍの１２個の近紫外発光ダイオード１ｂと、
ピーク波長が４００ｎｍの１０個の近紫外発光ダイオード１ｃと、
ピーク波長が４１０ｎｍの４個の近紫外発光ダイオード１ｄと、
を用い、
青色に発光する第１の蛍光体として、ＢａＭｇＡ_ｌ０Ｏ_１７：Ｅｕで表される蛍光体（ＢＡＭ）の蛍光体を用い、
黄色に発光する第２の蛍光体として、Ｌｕ_３Ａｌ_５Ｏ_１２：Ｃｅで表される蛍光体（ＬＡＧ）を用い、
赤色に発光する第３の蛍光体として、ＣａＡｌＳｉＮ_３：Ｅｕで表される蛍光体（ＣＡＳＮ）を用いて、構成した。

Ａタイプの標準光源１とＢタイプの標準光源１は、青色に発光する第１の蛍光体の材料が異なる他は、同様に構成されている。

図４Ａに、Ａタイプの標準光源１の分光分布とＢタイプの標準光源１の分光分布とを示す。図４Ｂに、Ａタイプの標準光源１を用いた分光放射測定装置の測定誤差と、Ｂタイプの標準光源１を用いた分光放射測定装置の測定誤差を示す。
尚、図４Ａ及び図４Ｂにはそれぞれ、白色ＬＥＤ及び標準電球の分光分布と、白色ＬＥＤ及び標準電球を標準光源として用いた分光放射測定装置の測定誤差とを併せて示している。

図４Ｂに示すように、Ａタイプの標準光源１を用いた分光放射測定装置の測定誤差と、Ｂタイプの標準光源１を用いた分光放射測定装置の測定誤差をいずれも、３８０ｎｍ〜７８０ｎｍ波長域において４％以下にできることが確認された。この測定誤差は、スリット波長幅Δλが５ｎｍの場合の誤差であり、例えば、スリット波長幅Δλを２．５ｎｍ以下にすれば、測定誤差を１％以下にできることを意味し、分光放射測定装置の標準光源として十分使用可能である。

以上、標準的に用いられているスリット波長幅Δλが２．５ｎｍの分光器を備えた分光放射測定装置において、測定誤差を１％以下にするために必要な式（１）を満足する標準光源が、発光ダイオードと蛍光体を組み合わせた光源により実現できることが、本実施形態のＡタイプ及びＢタイプの標準光源１により示された。

以上、特定の構造のＡタイプ及びＢタイプの標準光源１により、標準電球に代わる標準光源の例を示したが、発光ダイオードの種類及び蛍光体の種類及びそれらの組み合わせを適宜変更して分光放射測定装置において標準光源として使用できる光源、すなわち、式（１）を満足する標準光源を実現することができることは言うまでもない。

例えば、Ａタイプ及びＢタイプの標準光源１では、ピーク波長が異なる４種類の近紫外発光ダイオードを用いて構成したが、例えば、ピーク波長が３８０ｎｍ以下の紫外域の紫外発光ダイオードを１種類または複数種類用いて、紫外光により励起されて可視光を発光する１種類または複数種類の蛍光体を組み合わせて標準光源を構成してもよい。
例えば、標準光源１は、３６０ｎｍ〜４３０ｎｍの範囲において、異なるピーク波長を有する２種以上の発光ダイオード（例えば、異なるピーク波長を有する４種の発光ダイオード）を含んで構成することができる。

また、標準光源１は、３６０ｎｍ〜３８０ｎｍの範囲において、１種以上の発光ダイオードを含んで構成することもできる。このようにすると、通常、求められる３８０ｎｍ〜７８０ｎｍの測定範囲において蛍光体の発光が支配的な標準光源を実現することができる。一般に、蛍光体の分光分布は、発光ダイオードに比較してなだらかであるから、３８０ｎｍ〜７８０ｎｍの測定範囲において、分光分布の二次微分を小さくできることは容易に理解できる。

また、背景技術の欄で説明したように、標準電球を使用する従来の分光放射測定装置により、固体素子照明の全光束を測定すると、固体素子照明の発光スペクトルや配光特性等が標準電球と大きく異なることから正確に全光束を測定できない場合がある。
この点に関し、発光ダイオードと蛍光体を組み合わせた光源は、発光ダイオードの種類及び蛍光体の種類及びそれらの組み合わせを適宜変更して、種々の発光スペクトルを実現できる。また、発光ダイオード及び蛍光体を被覆する透光性樹脂の形状を適宜変更することにより、種々の配光特性を実現できる。したがって、被測定光源の発光スペクトルや配光特性を考慮して、それに適した標準光源を実現することができ、発光スペクトルや配光特性等の相違に起因する測定誤差を小さくすることができる。

以上の実施形態の分光放射測定装置では、分光器２０への光導入手段として積分球１０ａを用いた例で説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、標準光源及び被測定光源からの光が、光源から方向及び距離によらず均等化された状態で、分光器２０に入射できるものであれば光導入手段として用いることができる。

例えば、実施形態の分光放射測定装置に用いることができる光導入手段として、積分球を用いて構成する以外に、
（i)ＪＩＳＺ８７２４，付属書Ｃ．１，条件ｂに規定された拡散反射面に光源の光を垂直に当て、その拡散反射面の法線から４５°方向の拡散反射光を導入する手段、
（ii）ＪＩＳＺ８７２４，付属書Ｃ．１，条件ｃに規定された拡散透過面に当てて、その拡散透過光を導入する手段が挙げられる。
尚、本明細書において、分光器に入射される拡散反射光及び拡散透過光を総括して拡散光という。

１ 標準光源
１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄ 近紫外発光ダイオード
３ ペルチエ素子
５ フォルダ
７ ワイヤー
１０ 光導入部
１０ａ 積分球
１１ 光源取付部
１２ 出射部
１３ 遮光板
１４ 自己吸収補正用光源
２０ 分光器
２１ 入射スリット板
２１ｓ 入射スリット
２２ 分散手段
２３ 出射スリット板
２３ｓ 出射スリット
２２Ｍ１，２２Ｍ２ 平面ミラー
２２Ｍｃ コリメータミラー
２２Ｇ 回折格子
２２Ｍｆ フォーカシングミラー
３０ 検出器

Claims (5)

1. 入射スリットと、前記入射スリットから入射された入射光を波長に応じて出射角を変化させる分散手段と、前記分散手段により分散された光のうち特定の波長帯域の光を出射させる出射スリットとを備えた分光器と、
   被測定光源から出射された光を、拡散光にして前記入射スリットに照射する光導入手段と、
   分光分布測定の基準とする標準光源と、
   を備え、
   前記標準光源は、発光ダイオードと該発光ダイオードからの光により励起される蛍光体とを含み、
   前記標準光源の分光分布Ｐｓ（λ）と、該分光分布Ｐｓ（λ）の２次微分係数Ｐｓ”（λ）と、前記入射スリットの幅と前記分散手段の分散特性と前記出射スリットの幅とに基づいて規定されるスリット関数の波長幅Δλ（ｎｍ）とが、３８０ｎｍ〜７８０ｎｍの波長範囲において、以下の式（１）の関係を満たすことを特徴とする分光放射測定装置。
   
   Δλ^２×（｜Ｐｓ”（λ）｜／Ｐｓ（λ））＜０．５・・・式（１）
   
2. 前記発光ダイオードは、紫外から近紫外領域にピーク波長を有し、
   前記蛍光体は、
   励起されることによって青色に発光する第１の蛍光体と、
   励起されることによって黄色に発光する第２の蛍光体と、
   励起されることによって赤色に発光する第３の蛍光体と、を含む
   ことを特徴とする請求項１に記載の分光放射測定装置。
3. 前記第１の蛍光体は、異なる２種類の蛍光体を含むことを特徴とする請求項２に記載の分光放射測定装置。
4. 前記発光ダイオードは、３６０ｎｍ〜４３０ｎｍの範囲において、異なるピーク波長を有する２種以上の発光ダイオードを含むことを特徴とする請求項１〜３のいずれか１つに記載の分光放射測定装置。
5. 前記発光ダイオードは、３６０ｎｍ〜４３０ｎｍの範囲において、異なるピーク波長を有する４種の発光ダイオードを含むことを特徴とする請求項１〜３のいずれか１つに記載の分光放射測定装置。

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