JP6947885B2 - 色シフトのない多層構造 - Google Patents

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Description

関連出願の相互参照
本出願は、2014年4月1日出願の米国特許出願第14/242429号明細書の優先権を主張するものであり、それは、2013年12月23日出願の米国特許出願第14/138499号明細書の一部継続出願(CIP)であり、これはさらに、2013年6月8日出願の米国特許出願第13/913402号明細書のCIPであり、これはさらに、2013年2月6日出願の米国特許出願第13/760699号明細書のCIPであり、これはさらに、2012年8月10日出願の第13/572071号明細書のCIPであり、これはさらに、2011年2月5日出願の米国特許出願第13/021730号明細書のCIPであり、これはさらに、2010年6月4日出願の第12/793772号明細書のCIPであり、これはさらに、2009年2月18日出願の米国特許出願第12/388395号明細書のCIPであり、これはさらに、2007年8月12日出願の米国特許出願第11/837529号明細書(米国特許第7903339号明細書)のCIPである。2013年6月8日出願の米国特許出願第13/913402号明細書は、2011年1月26日出願の第13/014398号明細書のCIPであり、これは、2010年6月4日出願の第12/793772号明細書のCIPである。2011年1月26日出願の米国特許出願第13/014398号明細書は、2010年1月13日出願の第12/686861号明細書(米国特許第8593728号明細書)のCIPであり、これは、2009年2月19日出願の第12/389256号明細書(米国特許第8329247号明細書)のCIPであり、これらのすべては、その全内容が参照により援用される。
本発明は、多層薄膜構造に関し、特に、広帯域電磁放射線に暴露され、様々な角度から観察された場合に、最小限の又は知覚されない色シフトを示す多層薄膜構造に関する。
多層構造から作られる顔料は知られている。加えて、高彩度全方向構造色を呈する、又は提供する顔料も知られている。しかし、そのような先行技術の顔料では、所望される色特性を得るために、39もの薄膜層が必要であった。
薄膜多層顔料の生産に伴うコストが、必要とされる層の数に比例することは理解される。このため、誘電性材料の多層積層体を用いての高彩度全方向構造色の生産に伴うコストは、非常に高くなり得る。したがって、必要とされる薄膜層の数が最小限である高彩度全方向構造色が望ましい。
全方向多層薄膜が提供される。この多層薄膜は、第一の材料の第一の層及び第二の材料の第二の層を有する多層積層体を含み、第二の層は、第一の層にわたって延在している。多層積層体は、300ナノメートル(nm)未満の半値全幅(FWHM)を有し、ある場合では、200nm未満のFWHMを有する電磁放射線の狭帯域を反射する。多層積層体はまた、多層積層体が広帯域電磁放射線に暴露され、0から45度の間の角度から観察された場合、50nm未満、好ましくは、40nm未満、より好ましくは、30nm未満の中心波長シフトの形態での色シフトも有する。別の選択肢では、色シフトは、30°未満、好ましくは、25°未満、より好ましくは、20°未満の色相シフトの形態であってもよい。加えて、多層積層体は、紫外(UV)範囲の電磁放射線の帯域を反射しても、若しくは反射しなくてもよく、及び/又は赤外(IR)範囲の電磁放射線の帯域を反射しても、若しくは反射しなくてもよい。
ある場合では、多層積層体は、2ミクロン(μm)未満の総厚さを有する。好ましくは、多層薄膜は、1.5μm未満、より好ましくは、1.0μm未満の総厚さを有する。
多層積層体は、誘電体層から作られてよく、すなわち、第一の層及び第二の層が、誘電性材料から作られてよい。別の選択肢では、第一の層は、誘電性材料であってよく、第二の層は、吸収性材料であってよい。第一の層は、30〜300nmの間の厚さを有する。吸収性材料は、選択的吸収性材料であってよく、又は別の選択肢では、非選択的吸収性材料であってよい。選択的吸収性材料は、可視電磁放射線スペクトルの所望される部分のみを吸収し、銅(Cu)、金(Au)、亜鉛(Zn)、スズ(Sn)、これらの合金、及び同種のものなどの材料から作られてよい。別の選択肢では、選択的吸収性材料は、Fe23、Cu2O、及びこれらの組み合わせなどの有色誘電性材料から作られてよい。選択的吸収性材料から作られるそのような第二の層は、20〜80nmの間の厚さを有してよい。
非選択的吸収性材料/層は、一般的に、可視電磁放射線スペクトルのすべてを吸収し、クロム(Cr)、タンタル(Ta)、タングステン(W)、モリブデン(Mo)、チタン(Ti)、窒化チタン、ニオブ(Nb)、コバルト(Co)、ケイ素(Si)、ゲルマニウム(Ge)、ニッケル(Ni)、パラジウム(Pd)、バナジウム(V)、酸化鉄(III)、及びこれらの組み合わせ又は合金などの材料から作られてよい。そのような非選択的吸収層は、5〜20nmの間の厚さを有する。
多層積層体はさらに、反射体層を、第一及び第二の層が反射体層にわたって延在している状態で含んでよい。反射体層は、金属、例えば、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、Au、白金(Pt)、Cr、Cu、Zn、Sn、及びこれらの合金などから作られてよい。また、反射体は、50〜200nmの間の厚さを有する。
多層薄膜に特徴的である電磁放射線の反射狭帯域は、おおよそ対称であるピークを有し得る。別の選択肢では、電磁放射線の反射狭帯域は、対称なピークを有しない。いくつかの例では、多層薄膜は、非可視UV範囲及び/又はIR範囲を利用して、可視範囲の反射された電磁放射線の狭帯域を提供する。言い換えると、多層薄膜は、電磁放射線のおおよそ広帯域を反射することができるが、可視は狭帯域だけである。加えて、可視電磁放射線の狭帯域は、多層薄膜が0から45度の間の角度から観察された場合、非常に低い色シフトを有し、例えば、50nm未満の中心波長シフトである。
多層薄膜はまた、0及び45度から観察された場合、低い色相シフトも有し得る。例えば、多層薄膜は、薄膜が0から45度の間の角度で観察された場合、30度未満の色相シフトを有し得る。別の選択肢では、多層薄膜は、薄膜が0から45度の間の角度で観察された場合、25度未満、好ましくは、20度未満の色相シフトを有し得る。
入射電磁放射線を反射及び透過する誘電体層(DL)の概略図である。 入射電磁放射線を反射する反射体層(RL)の概略図である。 入射電磁放射線を吸収する吸収層(AL)の概略図である。 入射電磁放射線を反射、吸収、及び透過する選択的吸収層(SAL)の概略図である。 複数の誘電体層から作られる第一世代全方向構造色多層薄膜による入射電磁放射線の反射及び透過を示す概略図である。 複数の誘電体層から作られる第一世代全方向構造色多層薄膜の概略図である。 電磁放射線の横磁場モード及び横電界モードにおけるレンジ対ミッドレンジ比(range to mid-range ratio)0.2%の比較を示すグラフである。 図4に示されるケースIIIの場合の波長の関数としての反射率を示すグラフである。 図4に示されるケースI、II、及びIIIにおける中心波長の分散を示すグラフである。 複数の誘電体層及び吸収層から作られる第二世代全方向構造色多層薄膜による入射電磁放射線の反射及び吸収を示す概略図である。 複数の誘電体層、並びに吸収層及び/又は反射層から作られる第二世代全方向構造色多層薄膜の概略図である。 彩度(C*)100及び反射率(Max R)60%を有する複数の誘電体層及び吸収/反射層から作られる第二世代5層全方向構造色多層薄膜の概略図である。 0及び45度の観察角度において第一世代13層多層薄膜と比較した図9Aに示される第二世代5層多層積層体薄膜の場合の波長に対する反射率のグラフである。 誘電体層、選択的吸収層(SAL)、及び反射体層から作られる第三世代全方向構造色多層薄膜の概略図である。 500nmの波長を有する電磁放射線(EMR)に暴露されたZnS誘電体層内のゼロ又はゼロに近い電場点(zero or near-zero electric field point)の概略図である。 300、400、500、600、及び700nmの波長を有するEMRに暴露された場合の、図1Aに示したZnS誘電体層の厚さに対する電場の絶対値の二乗(|E|2)を示したグラフである。 基材又は反射体層上に延在しており、誘電体層の外側面に対しての垂直方向に対する角度θで電磁放射線に暴露された誘電体層の概略図である。 434nmの波長を有する入射EMRの場合における、ZnS誘電体層内のゼロ又はゼロに近い電場点に位置するCr吸収体層を有するZnS誘電体層の概略図である。 白色光に暴露されたCr吸収体層を有しない多層積層体(例:図1A)及びCr吸収体層を有する多層積層体(例:図3A)における、反射EMR波長に対する反射率パーセントを示すグラフである。 Al反射体層上に延在しているZnS誘電体層(例:図4A)が見せる一次高調波及び二次高調波を示すグラフである。 Al反射体層にわたって延在しているZnS誘電体層に加えて、図8Aに示す二次高調波が吸収されるようにZnS誘電体層内に配置されるCr吸収体層を有する多層積層体における、反射EMR波長に対する反射率パーセントを示すグラフである。 Al反射体層にわたって延在しているZnS誘電体層に加えて、図8Aに示す一次高調波が吸収されるようにZnS誘電体層内に配置されるCr吸収体層を有する多層積層体における、反射EMR波長に対する反射率パーセントを示すグラフである。 0及び45度の入射光への暴露におけるCr吸収体層の電場の角度依存性を示す、誘電体層厚さに対する電場の二乗を示すグラフである。 外側面の垂直方向に対して0及び45°の角度(0°は面に対して垂直)の白色光に暴露された場合の、反射EMR波長に対するCr吸収体層による吸収パーセントを示すグラフである。 本発明の実施形態による赤色全方向構造色多層積層体の概略図である。 0及び45°の入射角で図10Aに示した多層積層体を白色光に暴露した場合の、反射EMR波長に対する図10Aに示したCu吸収体層の吸収パーセントを示すグラフである。 0°の入射角の白色光に暴露された概念実証赤色全方向構造色多層積層体における、反射EMR波長に対する反射率パーセントについての計算/シミュレーションデータと実験データとの比較を示すグラフである。 本発明の実施形態による全方向構造色多層積層体の場合の波長に対する反射パーセントを示すグラフである。 本発明の実施形態による全方向構造色多層積層体の場合の波長に対する反射パーセントを示すグラフである。 本発明の実施形態による全方向構造色多層積層体の場合の波長に対する反射パーセントを示すグラフである。 本発明の実施形態による全方向構造色多層積層体の場合の波長に対する反射パーセントを示すグラフである。 CIELAB色空間を用いたa**カラーマップの一部を示したグラフであり、従来の塗料及び本発明の実施形態による顔料から作られた塗料(サンプル(b))の彩度並びに色相のシフトが比較される。 本発明の実施形態による全方向構造色多層積層体の概略図である。 本発明の実施形態による全方向構造色多層積層体の概略図である。 本発明の実施形態による全方向構造色多層積層体の概略図である。
全方向構造色が提供される。全方向構造色は、可視スペクトル中の電磁放射線の狭帯域を反射し、かつ多層薄膜が0から45度の間の角度から観察された場合に、小さい又は知覚されない色シフトを有する多層薄膜(本明細書にて多層積層体とも称される)の形態を有する。多層薄膜は、塗料組成物中の顔料、構造体上の連続薄膜、及び同種のものとして用いることができる。
多層薄膜は、第一の層、及び第一の層にわたって延在している第二の層を有する多層積層体を含む。いくつかの例では、多層積層体は、300nm未満、好ましくは、200nm未満、いくつかの例では、150nm未満のFWHMを有する電磁放射線の狭帯域を反射する。多層薄膜はまた、多層積層体が広帯域電磁放射線、例えば白色光に暴露され、0から45度の間の角度から観察された場合、50nm未満、好ましくは、40nm未満、より好ましくは、30nm未満の色シフトも有する。さらに、多層積層体は、UV範囲及び/又はIR範囲に電磁放射線の別個の反射帯域を有していてもよく、又は有していなくてもよい。
多層積層体の全体の厚さは、2μm未満、好ましくは、1.5μm未満、さらにより好ましくは、1.0μm未満である。このため、多層積層体は、薄膜塗料コーティングにおける塗料顔料として用いることができる。
第一及び第二の層は、誘電性材料から作られてよく、又は別の選択肢では、第一及び/又は第二の層は、吸収性材料から作られてよい。吸収性材料は、選択的吸収性材料、例えば、Cu、Au、Zn、Sn、これらの合金、及び同種のものなどを含み、又は別の選択肢では、有色誘電性材料、例えば、Fe23、Cu2O、これらの組み合わせ、及び同種のものなどを含む。吸収性材料は、非選択的吸収性材料、例えば、Cr、Ta、W、Mo、Ti、窒化Ti、Nb、Co、Si、Ge、Ni、Pd、V、酸化鉄(III)、これらの組み合わせ又は合金、及び同種のものなどであってもよい。選択的吸収性材料から作られた吸収層の厚さは、20〜80nmの間であり、一方、非選択的吸収性材料から作られた吸収層の厚さは、5〜30nmの間である。
多層積層体は、第一の層及び第二の層がそれわたって延在する反射体層も含んでよく、反射体層は、金属、例えばAl、Ag、Pt、Cr、Cu、Zn、Au、Sn、これらの合金、及び同種のものなどから作られる。反射体層は、典型的には、30〜200nmの間の厚さを有する。
多層積層体は、可視スペクトル内に対称ピークの形態を有する電磁放射線の反射狭帯域を有してよい。別の選択肢では、可視スペクトル内の電磁放射線の反射狭帯域は、UV範囲に隣接してよく、それによって、電磁放射線の反射帯域の一部、すなわち、UV部分は人間の眼には見えない。別の選択肢では、電磁放射線の反射帯域は、IR範囲の部分を有してよく、それによって、IR部分は、同様に、人間の眼には見えない。
可視スペクトル内にある電磁放射線の反射帯域が、UV範囲、IR範囲に接しているか、又は可視スペクトル内に対称ピークを有するかどうかに関わらず、本明細書で開示される多層薄膜は、低い、少ない、又は知覚されない色シフトを有する電磁放射線の反射された狭帯域を可視スペクトル内に有する。低い又は知覚されない色シフトは、電磁放射線の反射された狭帯域における中心波長の小さいシフトの形態であってよい。別の選択肢では、低い又は知覚されない色シフトは、それぞれIR範囲又はUV範囲に接する電磁放射線の反射帯域のUV側端部(UV-sided edge)又はIR側端部の小さいシフトの形態であってもよい。中心波長、UV側端部、及び/又はIR側端部のそのような小さいシフトは、多層薄膜が0から45度の間の角度から観察された場合、典型的には、50nm未満であり、いくつかの例では、40nm未満、その他の例では、30nm未満である。
ここで図1を参照すると、図1A〜1Dは、全方向構造色設計の基本的構成要素を示す。特に、図1Aは、入射電磁放射線に暴露される誘電体層を示す。加えて、誘電体層(DL)は、入射電磁放射線の一部を反射し、その一部を透過する。加えて、入射電磁放射線は、透過部分及び反射部分に等しく、典型的には、透過部分は、反射部分よりも非常に大きい。誘電体層は、誘電性材料、例えばSiO2、TiO2、ZnS、MgF2、及び同種のものなどから作られる。
極めて対照的に、図1Bは、入射電磁放射線のすべてが反射され、本質的に透過率ゼロである反射層(RL)を示す。反射体層は、典型的には、アルミニウム、金、及び同種のものなどの材料から作られる。
図1Cは、入射電磁放射線が層によって吸収され、反射も透過もされない吸収層(AL)を示す。そのような吸収層は、例えば、グラファイトから作られてよい。また、全入射電磁放射線が吸収され、透過率及び反射率はほぼゼロである。
図1Dは、入射電磁放射線の一部が層によって吸収され、一部が透過され、一部が反射される部分的又は選択的吸収層(SAL)を示す。このため、透過、吸収、及び反射される電磁放射線の量は、入射電磁放射線の量に等しい。加えて、そのような選択的吸収層は、クロムの薄層、銅の層、真鍮、青銅、及び同種のものなどの材料から作られてよい。
本発明に関して、全方向構造色薄膜の三世代の設計及び製造が開示される。
〈第一世代〉
ここで図2を参照すると、複数の誘電体層を有する多層薄膜の概略図が示される。加えて、入射電磁放射線の反射及び透過も概略的に示される。上述のように、典型的には、入射電磁放射線の透過は、その反射よりも非常に大きく、したがって、多くの層が必要とされる。
図3は、第一の屈折率を有する誘電体層(DL1)及び第二の屈折率を有する誘電体層(DL2)から作られる多層薄膜の一部分を示す。層間の二重線が、異なる層間の界面を単に表しているということは理解されるべきである。
理論に束縛されるものではないが、所望される多層積層体を設計及び製造するための1つの方法又は手法は、以下の通りである。
電磁放射線が材料面に衝突すると、放射線の波は、材料から反射されるか、又は材料を通って透過され得る。さらに、電磁放射線が多層構造体10の第一の端部12に角度θ0で衝突すると、電磁波が高及び低屈折率層と形成する反射角は、それぞれ、θH及びθLである。スネルの法則:
0Sinθ0=nLSinθL=nHSinθH (1)
を用いると、角度θH及びθLは、屈折率nH及びnLが既知である場合に特定することができる。
全方向反射性に関して、電磁放射線のTEモード及びTMモードのための必要であるが充分ではない条件では、第一の層内部での最大屈折角(θH,MAX)が、第一の層と第二の層との間の界面のブリュースター角(θB)未満であることが必要である。この条件が満たされない場合、電磁波のTMモードは、第二の、及びそれに続くすべての界面で反射されず、したがって、構造内を透過することになる。この考え方を用いると:
Figure 0006947885
及び
Figure 0006947885
である。それによって:
Figure 0006947885
が必要となる。
式4で表される必要条件に加えて、波長λの電磁放射線が、θ0の角度で多層構造に当たり、並びに多層構造の個々の二層が、それぞれ屈折率nH及びnLである厚さdH及びdLを有する場合、変換行列(FT)は:
Figure 0006947885
として表すことができ、
Figure 0006947885
としても表すことができ、及びここで:
Figure 0006947885
である。加えて、
Figure 0006947885
であり、ここで、
Figure 0006947885
である。
ρTを明確にTE及びTMに対して解くと:
Figure 0006947885
である。
観察角度に依存する帯域構造を、帯域端としても知られる全反射区域の端部に対する境界条件から得ることができる。本発明の目的のために、帯域端は、任意の帯域構造において、全反射区域を透過区域から分離する線に対する式として定義される。
高反射帯域の帯域端周波数を決定する境界条件は、以下によって与えることができる:
Figure 0006947885
したがって、式3から、
Figure 0006947885
又は、異なる表現として:
Figure 0006947885
となる。
式15及び7を合わせると、以下の帯域端式が得られ:
Figure 0006947885
ここで:
Figure 0006947885
である。
上記で示す帯域端式中の+の印は、長波長(λlong)に対する帯域端を表し、−の印は、短波長(λshort)に対する帯域端を表す。式20及び21を再度まとめると、TEモードに対しては:
Figure 0006947885
であり、TMモードに対しては:
Figure 0006947885
である。
帯域端の近似解は、以下の式によって決定することができる:
Figure 0006947885
この近似解は、4分の1波設計(以下でより詳細に述べる)が考慮され、交互層の光学的厚さが互いに等しくなるように選択される場合に妥当である。加えて、交互層の光学的厚さの相違が比較的小さい場合、1に近いコサインが得られる。したがって、式23及び24から、近似帯域端式が得られ、TEモードに対しては:
Figure 0006947885
であり、TMモードに対しては:
Figure 0006947885
である。
入射角の関数としてのL+及びρTMの値は、式7、8、14、15、20、及び21から得ることができ、それによって、入射角の関数としてのTE及びTMモードにおけるλlong及びλshortの算出が可能となる。
全方向反射体の中心波長(λc)は、以下の関係から決定することができる:
Figure 0006947885
中心波長は、反射されることになる電磁波長及び/又は色スペクトルのおおよその範囲をその値が示すことから、重要なパラメータであり得る。反射帯域の幅に関する指標を与えることができる別の重要なパラメータは、全方向反射帯域内の波長のレンジの全方向反射帯域内の波長のミッドレンジに対する比として定義される。この「レンジ対ミッドレンジ比」(η)は、数学的に、TEモードに対しては:
Figure 0006947885
TMモードに対しては:
Figure 0006947885
として表される。レンジ対ミッドレンジ比をパーセントとして表すことができ、並びに本発明の目的のために、レンジ対ミッドレンジ比及びレンジ対ミッドレンジ比パーセントの用語が交換可能に用いられることは理解される。さらに、本明細書で与えられる「%」の印が後ろに付く「レンジ対ミッドレンジ比」の値が、レンジ対ミッドレンジ比のパーセント値であることも理解される。TMモード及びTEモードに対するレンジ対ミッドレンジ比は、式31及び32から数値として算出することができ、高屈折率及び低屈折率の関数としてプロットすることができる。
狭い全方向帯域を得るために、中心波長の分散を最小限に抑える必要があることは理解される。したがって、式30から、中心波長の分散は、以下のように表すことができ:
Figure 0006947885
ここで:
Figure 0006947885
であり、及びFc、中心波長分散係数は、以下のように表すことができる:
Figure 0006947885
上記から考えて、所望される低い中心波長シフト(Δλc)を有する多層積層体は、屈折率nLを有する低屈折率材料、及び厚さdLを有する1つ以上の層、及び屈折率nHを有する高屈折率材料、及び厚さdHを有する1つ以上の層から設計することができる。
特に、図4は、高屈折率対低屈折率の関数としてプロットした、電磁放射線の横磁場モード及び横電界モードにおけるレンジ対ミッドレンジ比0.2%の比較を示すグラフである。図に示されるように、3つのケースが示されており、ケースIは、横磁場モード及び横電界モードの間の差が大きい場合を意味し、ケースIIは、横磁場モード及び横電界モードの間の差がより小さい状況を意味し、ケースIIIは、横磁場モード及び横電界モードの間の差が非常に小さい状況を意味する。加えて、図5は、ケースIIIに類似の場合における反射された電磁放射線の波長に対する反射率パーセントを示す。
図5に示されるように、ケースIIIに相当する多層薄膜における中心波長の分散が小さいことが示される。加えて、図6を参照すると、ケースIIでは、多層薄膜構造が0から45度の間で観察された場合、50nm未満の中心波長シフト(ケースII)が得られ、ケースIIIでは、薄膜構造が0から45度の間の電磁放射線に暴露された場合、25nm未満の中心波長シフトが得られる。
〈第二世代〉
ここで図7を参照すると、第二世代による説明のための構造/設計が示される。図7に示される多層構造は、複数の誘電体層、及び下地吸収層を有する。加えて、構造全体を透過する入射電磁放射線はなく、すなわち、入射電磁放射線のすべては、反射されるか、又は吸収される。図7に示されるそのような構造により、適切な量の反射を得るために必要とされる誘電体層の数を減少させることができる。
例えば、図8は、そのような構造の概略図を示しており、この場合、多層積層体は、Crから作られる中心吸収層、Cr吸収層にわたって延在している第一の誘電性材料層(DL1)、DL1層にわたって延在している第二の誘電性材料層(DL2)、及び続いてDL2層にわたって延在している別のDL1層を有する。そのような設計では、第一の誘電体層及び第三の誘電体層の厚さは、同じであってよく、又は同じでなくてもよい。
特に、図9Aは、中心Cr層が2つのTiO2層と隣接し、それらはさらに、2つのSiO2層と隣接している構造をグラフで示す。プロットから分かるように、TiO2及びSiO2の層は、互いに等しい厚さではない。加えて、図9Bは、図9Aに示される5層構造の波長スペクトルに対する反射を、第一世代設計に従って作られる13層構造と比較して示す。図9Bに示されるように、構造が0及び45度で観察された場合、50nm未満、好ましくは、25nm未満の中心波長シフトが得られる。また、図9Bには、第二世代による5層構造が、第一世代の13層構造と本質的に同等に機能することも示される。
〈第三世代〉
図10を参照すると、下地反射体層(RL)が、それにわたって延在している第一の誘電性材料層DL1、及びDL1層にわたって延在している選択的吸収層SALを有する第三世代設計が示される。加えて、別のDL1層が備えられて、選択的吸収層にわたって延在していてもよく、又は備えられていなくてもよい。この図にはさらに、すべての入射電磁放射線が、多層構造によって反射されるか、又は選択的に吸収されるかのいずれかであることの説明も示される。
図10に示されるような設計は、所望される多層積層体の設計及び製造のための用いられる異なる手法に対応する。特に、誘電体層におけるゼロ又はゼロに近いエネルギー点の厚さ(zero or near-zero energy point thickness)が用いられ、以下で考察される。
例えば、図11Aは、Al反射体層にわたって延在しているZnS誘電体層の概略図である。ZnS誘電体層は、143nmの総厚さを有し、波長500nmの入射電磁放射線の場合、ゼロ又はゼロに近いエネルギー点は、77nmに存在する。言い換えると、ZnS誘電体層は、500nmの波長を有する入射EMRの場合、Al反射体層から77nmの距離において、ゼロ又はゼロに近い電場を示す。加えて、図11Bでは、いくつかの異なる入射EMR波長における、ZnS誘電体層にわたるエネルギー場をグラフで示したものを提供する。グラフに示されるように、誘電体層は、500nmの波長の場合に、77nmの厚さにゼロ電場を有するが、300、400、600、及び700nmのEMR波長の場合、77nmの厚さの電場はゼロではない。
ゼロ又はゼロに近い電場点の計算に関して、図12は、屈折率nsを有する基材又はコア層2上の、総厚さ「D」、増分厚さ「d」、及び屈折率「n」を有する誘電体層4が示される図を示す。入射光は、外側面5に対して垂直であるライン6に対する角度θで誘電体層4の外側面5に当たり、同じ角度で外側面5から反射する。入射光は、ライン6に対する角度θFで外側面5を通って誘電体層4の中へと透過し、角度θsで基材層2の面3に当たる。
単一の誘電体層においては、θs=θFであり、エネルギー/電場(E)は、E(z)として表すことができ、この場合z=dである。マクスウェルの式から、電場は、s偏光の場合は:
Figure 0006947885
として表すことができ、p偏光の場合は:
Figure 0006947885
として表すことができ、式中、k=2π/λであり、λは、反射されることが所望される波長である。また、α=nssinθsであり、ここで、「s」は、図5の基材に対応し、
Figure 0006947885
は、zの関数としての層の誘電率である。このため、s偏光の場合は、
Figure 0006947885
であり、p偏光の場合は、
Figure 0006947885
である。
誘電体層4のZ方向に沿った電場の変動は、未知のパラメータu(z)及びv(z)の計算によって推定することができることは理解され、ここで、それは、以下のように示すことができる:
Figure 0006947885
当然、「i」は−1の平方根である。境界条件
Figure 0006947885
及び、以下の関係式:
s偏光の場合は、qs=nscosθs (42)
p偏光の場合は、qs=ns/cosθs (43)
s偏光の場合は、q=ncosθF (44)
p偏光の場合は、q=n/cosθF (45)
φ=k・n・dcos(θF) (46)
を用いることで、u(z)及びv(z)は、
Figure 0006947885
として表すことができる。したがって、s偏光の場合は:
Figure 0006947885
であり、ここで、φ=k・n・dcos(θF)であり、p偏光の場合は:
Figure 0006947885
であり、ここで:
α=nssinθs=nsinθF (51)
s=ns/cosθs (52)及び
s=n/cosθF (53)
である。
したがって、θF=0又は垂直入射光、φ=k・n・d、及びα=0である単純な状況の場合:
Figure 0006947885
であり、これによって、厚さ「d」に関して、すなわち、電場がゼロである誘電体層内の位置又は場所に関して式を解くことが可能となる。
ここで図13を参照すると、式55を用いて、434nmの波長を有するEMRに暴露された場合における図11Aに示したZnS誘電体層中のゼロ又はゼロに近い電場点が、70nmであると算出された(波長500nmの場合の77nmとは異なって)。加えて、Al反射体層から70nmの厚さに15nm厚のCr吸収体層を挿入して、ゼロ又はゼロに近い電場のZnS‐Cr界面を得た。そのような本発明の構造では、434nmの波長を有する光はCr‐ZnS界面を透過させるが、434nmの波長を有しない光は吸収する。言い換えると、Cr‐ZnS界面は、434nmの波長を有する光に関してゼロ又はゼロに近い電場を有し、したがって、434nmの光はこの界面を透過する。しかし、Cr‐ZnS界面は、434nmの波長を有しない光に対してはゼロ又はゼロに近い電場を有しておらず、したがって、そのような光は、Cr吸収体層及び/又はCr‐ZnS界面によって吸収され、Al反射体層によって反射されない。
所望される434nmの±10nm以内の光のある程度のパーセントは、Cr‐ZnS界面を透過することは理解される。しかし、434±10nmを例とするそのような狭帯域の反射光は、それでも、人間の眼に鮮明な構造色をもたらすことも理解される。
図13の多層積層体中のCr吸収体層の結果を、反射EMR波長に対する反射率パーセントが示される図14に示す。Cr吸収体層なしの図13に示されるZnS誘電体層に対応する破線によって示されるように、狭い反射ピークが、約400nmに存在するが、それよりも非常に広いピークが、約550+nmに存在する。加えて、500nm波長域中にも、著しい量の反射光が依然として存在する。このため、多層積層体が構造色を有する又は呈することを妨げる二重ピークが存在する。
対照的に、図14の実線は、Cr吸収体層を持つ図13に示される構造に対応する。図に示されるように、およそ434nmに鋭いピークが存在し、434nmを超える波長に対する反射率の急な減少が、Cr吸収体層によって得られている。実線によって表される鋭いピークが、視覚的には鮮明な/構造色として見えることは理解される。図14にはまた、反射ピーク又は帯域の幅が測定される位置も示されており、すなわち、帯域の幅は、最大反射波長の50%反射率で特定され、これは、半値全幅(FWHM)としても知られる。
図13に示される多層構造体の全方向挙動に関して、ZnS誘電体層の厚さは、反射光の一次高調波のみが得られるように設計又は設定されてよい。これは、「青」色の場合は充分であるが、「赤」色の発生には、さらなる考慮が必要であることは理解される。例えば、赤色の場合の角度非依存性の制御は、より厚い誘電体層が必要とされ、そしてその結果として、高次高調波設計、すなわち、二次及び場合によっては三次高調波の存在が避けられないことから、困難である。また、暗赤色の色相空間は非常に狭い。このため、赤色多層積層体は、より高い角度変動を有する。
赤色の場合に角度変動が高くなることを克服するため、本出願は、角度非依存性である赤色をもたらす独特で新規な設計/構造を開示する。例えば、図15Aは、誘電体層の外側面が0及び45度から観察された場合に、入射白色光に対して一次及び二次高調波を示す誘電体層を示している。グラフによる図示で示されるように、誘電体層の厚さによって低い角度依存性(小Δλc)が得られるが、そのような多層積層体は、青色(一次高調波)及び赤色(二次高調波)の組み合わせを有し、したがって、所望される「赤のみ」の色の場合には適さない。したがって、不要な高調波系列を吸収するために吸収体層を用いるという概念/構造が開発されてきた。図15Aはまた、サンプルが0及び45度から観測された場合の、ある反射ピークに対する反射帯域の中心波長(λc)の位置、及びその中心波長の分散又はシフト(Δλc)の例も示す。
ここで図15Bを参照すると、図15Aに示される二次高調波は、適切な誘電体層厚さ(例:72nm)にあるCr吸収体層によって吸収され、鮮明な青色が得られる。本発明においてより重要なことには、図15Cは、異なる誘電体層厚さ(例:125nm)にあるCr吸収体によって一次高調波を吸収することにより、赤色が得られることを示している。しかし、図15Cはまた、Cr吸収体層の使用が、多層積層体によって所望されるよりも大きい角度依存性、すなわち、所望されるよりも大きいΔλcという結果になり得ることも示している。
赤色の場合のλcのシフトが青色と比較して相対的に大きいことは、暗赤色色相空間が非常に狭いこと、及びCr吸収体層がゼロではない電場に伴う波長を吸収すること、すなわち、電場がゼロ又はゼロに近い場合に光を吸収しないことに起因することは理解される。このため、図16Aは、異なる入射角度では、光波長に対するゼロ又はゼロではない電場点が異なることを示している。このような因子の結果、図16Bに示される角度依存性の吸収、すなわち、0°及び45°の吸収曲線の相違がもたらされる。したがって、多層積層体の設計及び角度非依存性の性能をさらに改良するために、電場がゼロであるか又はゼロでないかとは関係なく、例えば青色光を吸収する吸収体層が用いられる。
特に、図17Aは、Cr吸収体層の代わりにCu吸収体層が誘電体ZnS層にわたって延在している多層積層体を示す。このような「有色」又は「選択的」吸収体層を用いた結果を図17Bに示し、これは、図17Aに示される多層積層体における0°及び45°の吸収曲線が、非常に「より緊密に」まとまっていることを示している。このため、図16Bと図16Bとの比較から、非選択的吸収体層ではなく選択的吸収体層を用いた場合に、吸収の角度非依存性が大きく向上することが示される。
上記に基づいて、概念立証多層積層体構造体を設計し、製造した。加えて、概念立証サンプルについての計算/シミュレーション結果及び実際の実験データを比較した。特に、図18のグラフのプロットで示されるように、鮮明な赤色が発生し(700nmを超える波長は、通常は人間の眼では見えない)、計算/シミュレーションと実際の試料から得られた実験光データとは、非常に良好に一致した。言い換えると、計算/シミュレーションは、本発明の1つ以上の実施形態における多層積層体設計及び/若しくは先行技術の多層積層体の結果をシミュレートすることができ、並びに/又はシミュレートに用いられる。
シミュレートされた、及び/又は実際に作製された多層積層体サンプルのリストを以下の表1に示す。表に示されるように、本明細書で開示される本発明の設計は、少なくとも5つの異なる層構造を含む。加えて、サンプルは、広範囲の様々な材料からシミュレート及び/又は作製した。高彩度、低色相シフト、及び非常に優れた反射率を示すサンプルが得られた。さらに、3層及び5層サンプルは、120〜200nmの間の全体厚さを有し;7層サンプルは、350〜600nmの間の全体厚さを有し;9層サンプルは、440〜500nmの間の全体厚さを有し;及び11層サンプルは、600〜660nmの間の全体厚さを有していた。
Figure 0006947885
ここで図19を参照すると、反射体の面に対して0及び45°の角度の白色光に暴露された場合の、全方向反射体における反射EMR波長に対する反射率パーセントのプロットが示される。このプロットから示されるように、0°及び45°の曲線はいずれも、500nm超の波長において、この全方向反射体によって非常に低い反射率、例えば20%未満の反射率が得られていることを示している。しかし、これらの曲線から示されるように、この反射体は、400〜500nmの波長にて急激な反射率の増加を見せ、450nmにておよそ90%の最大値に達している。曲線の左側(UV側)のグラフの部分又は領域が、反射体によって提供される反射帯域のUV部分を表すことは理解される。
全方向反射体によって提供される反射率の急激な増加は、500nm超の波長における低反射率部分から、>70%を例とする高反射率部分まで延びる各曲線のIR側端部によって特徴付けられる。IR側端部の直線部分200は、x軸に対して60°を超える角度(β)で傾き、反射率軸上でおよそ50である長さL及び1.2の傾きを有する。いくつかの例では、この直線部分は、x軸に対して70°を超える角度で傾き、一方、他の例では、βは75°を超える。また、反射帯域は、200nm未満の可視FWHMを有し、いくつかの例では、150nm未満の可視FWHMであり、他の例では、100nm未満の可視FWHMである。加えて、図19に示される可視反射帯域の中心波長λcは、可視FWHMにおける反射帯域のIR側端部とUVスペクトルのUV端部とから等距離にある波長として定義される。
「可視FWHM」の用語が、この曲線のIR側端部と、これを超えると全方向反射体によって提供される反射は人間の眼には見えないUVスペクトル範囲の端部との間の反射帯域の幅を意味することは理解される。この方法により、本明細書で開示される本発明の設計品及び多層積層体は、電磁放射線スペクトルの不可視UV部分を用いることで、鮮明な又は構造色を提供する。言い換えると、本明細書で開示される全方向反射体は、反射体がUV領域にまで延在する電磁放射線の非常により広い帯域を反射し得るという事実にも関わらず、狭帯域の反射可視光を提供するために、電磁放射線スペクトルの不可視UV部分を利用している。
ここで図20を参照すると、本発明の実施形態による多層積層体によって、0°及び45°で観察された場合に提供されるおおよそ対称である反射帯域が示される。この図に示されるように、0°で観察された場合の多層積層体によって提供される反射帯域は、多層積層体が45°で観察された場合(λc(45°))に50nm未満シフトする中心波長(λc(0°))を有し、すなわち、Δλc(0−45°)<50nmである。加えて、0°の反射帯域及び45°の反射帯域のFWHMはいずれも200nm未満である。
図21は、反射体の面に対して0及び45°の角度の白色光に暴露された場合の、別の全方向反射体設計における反射EMR波長に対する反射率パーセントのプロットを示す。図19と同様に、このプロットから示されるように、550nm未満の波長において、0°及び45°の曲線はいずれも、この全方向反射体によって非常に低い反射率、例えば10%未満の反射率が得られていることを示している。しかし、これらの曲線から示されるように、反射体は、560〜570nmの間の波長にて急激な反射率の増加を見せ、700nmにておよそ90%の最大値に達している。曲線の右側(IR側)のグラフの部分又は領域が、反射体によって提供される反射帯域のIR部分を表すことは理解される。
全方向反射体によって提供される反射率の急激な増加は、550nm未満の波長における低反射率部分から、>70%を例とする高反射率部分まで延びる各曲線のUV側端部(UV-sided edge)によって特徴付けられる。UV側端部の直線部分200は、x軸に対して60°を超える角度(β)で傾き、反射率軸上でおよそ40である長さL及び1.4の傾きを有する。いくつかの例において、この直線部分は、x軸に対して70°を超える角度で傾いており、一方、他の例では、βは75°を超える。また、反射帯域は、200nm未満の可視FWHMを有し、いくつかの例では、150nm未満の可視FWHMであり、他の例では、100nm未満の可視FWHMである。加えて、図18に示される可視反射帯域の中心波長λcは、可視FWHMにおける反射帯域のUV側端部とIRスペクトルのIR端部とから等距離にある波長として定義される。
「可視FWHM」の用語が、この曲線のUV側端部と、これを超えると全方向反射体によって提供される反射は人間の眼には見えないIRスペクトル範囲の端部との間の反射帯域の幅を意味することは理解される。この方法により、本明細書で開示される本発明の設計品及び多層積層体は、電磁放射線スペクトルの不可視IR部分を用いることで、鮮明な又は構造色を提供する。言い換えると、本明細書で開示される全方向反射体は、反射体がIR領域にまで延在する電磁放射線のもっと非常に広い帯域を反射し得るという事実にも関わらず、狭帯域の反射可視光を提供するために、電磁放射線スペクトルの不可視IR部分を利用している。
ここで図22を参照すると、反射体の面に対して0及び45°の角度の白色光に暴露された場合の、もう一つの7層設計全方向反射体における波長に対する反射率パーセントのプロットが示される。加えて、本明細書で開示される全方向反射体によって提供される全方向特性の定義又は特性決定も示される。特に、本発明の反射体によって提供される反射帯域が、図に示されるように、最大値、すなわちピークを有する場合、各曲線は、最大反射率を示す又は起こす波長として定義される中心波長(λc)を有する。最大反射波長の用語が、λcに対して用いられてもよい。
図22に示されるように、全方向反射体の外側面が、角度45°から観察される場合、例えば、外側面が、面を見る人間の眼に対して45°傾斜される場合(λc(45o))、面が、0°の角度、すなわち、面に対して垂直方向から観察される場合((λc(0o))と比較して、λcのシフト又は変位(displacement)が生ずる。このλcのシフト(Δλc)は、全方向反射体の全方向特性の尺度を提供する。当然、ゼロシフト、すなわち、シフトがまったく生じない場合、完全に全方向性の反射体ということになる。しかし、本明細書で開示される全方向反射体は、50nm未満のΔλcを提供することができ、これは、人間の眼には、反射体の面が色を変化させていないかのように見え、したがって、実用上の観点から、この反射体は、全方向性である。いくつかの例では、本明細書で開示される全方向反射体は、40nm未満のΔλcを提供することができ、他の例では、30nm未満のΔλcであり、さらに他の例では、20nm未満のΔλcであり、なおさらに他の例では、15nm未満のΔλcである。そのようなΔλcのシフトは、反射体における波長に対する実際の反射率のプロットによって、及び/又は別の選択肢では、材料及び層の厚さが既知である場合、反射体のモデリングによって特定することができる。
反射体の全方向特性の別の定義又は特性決定は、ある一式の角度反射帯域に対する側端部のシフトによって特定することができる。例えば、図19を参照して、0°から観察された全方向反射体からの反射に対するIR側端部(SIR(0o))の、45°から観察された同じ反射体による反射に対するIR側端部(SIR(45o))と比較したシフト又は変位(ΔSIR)は、全方向反射体の全方向特性の尺度を提供する。加えて、ΔSIRを全方向性の尺度として用いることは、例えば図19に示されるものに類似の反射帯域、すなわち、可視範囲内に存在しない最大反射波長に相当するピークを有する反射帯域を提供する反射体に対するΔλcの使用よりも好ましい場合がある(図19及び21参照)。IR側端部のシフト(ΔSIR)が、可視FWHMにおいて測定される、及び/又はされてよいことは理解される。
図21を参照すると、0°から観察された全方向反射体からの反射に対するUV側端部(SUV(0o))の、45°から観察された同じ反射体による反射に対するIR側端部(SUV(45o))と比較したシフト又は変位(ΔSIR)は、全方向反射体の全方向特性の尺度を提供する。UV側端部のシフト(ΔSUV)が、可視FWHMにおいて測定される、及び/又はされてよいことは理解される。
当然、ゼロシフト、すなわち、シフトがまったく生じないことは(ΔSi=0nm;i=IR、UV)、完全に全方向性の反射体であると特性決定することになる。しかし、本明細書で開示される全方向反射体は、50nm未満のΔSLを提供することができ、これは、人間の眼には、反射体の面が色を変化させていないかのように見え、したがって、実用上の観点から、この反射体は、全方向性である。いくつかの例では、本明細書で開示される全方向反射体は、40nm未満のΔSiを提供することができ、他の例では、30nm未満のΔSiであり、さらに他の例では、20nm未満のΔSiであり、なおさらに他の例では、15nm未満のΔSiである。そのようなΔSiのシフトは、反射体における波長に対する実際の反射率のプロットによって、及び/又は別の選択肢では、材料及び層の厚さが既知である場合、反射体のモデリングによって特定することができる。
全方向反射のシフトはまた、低色相シフトによって評価することもできる。例えば、本発明の実施形態による多層積層体から製造された顔料の色相シフトは、図23に示されるように(Δθ1参照)、30°以下であり、いくつかの例では、色相シフトは、25°以下であり、好ましくは20°未満、より好ましくは15°未満、なおより好ましくは10°未満である。対照的に、従来の顔料は、45°以上の色相シフトを示す(Δθ2参照)。
まとめると、第一の層110がそれにわたって延在している第二の層120を有する本発明の実施形態による全方向多層積層体の概略図が、図24に示される。任意選択的な反射体層100が含まれてよい。また、対称である1対の層が、反射体層100の両側に存在してよく、すなわち、反射体層100は、反射体層100が1対の第一の層110の間に挟まれるように、図に示される層110とは反対側に配置される第一の層110を有してよい。加えて、5層構造が提供されるように、第二の層120が、反射体層100の反対側に配置されてよい。したがって、本明細書で提供される多層薄膜の考察が、1つ以上の中心層に対して鏡像構造の可能性も含むことは理解されるべきである。このため、図24は、5層多層積層体の半分の図であり得る。
第一の層110及び第二の層120は、誘電体層であってよく、すなわち、誘電性材料から作られてよい。別の選択肢では、層のうちの1つは、吸収層であってよく、例えば、選択的吸収層又は非選択的吸収層であってよい。例えば、第一の層110は、誘電体層であってよく、第二の層120は、吸収層であってよい。
図25は、7層設計の半分を符号20で示す。この多層積層体20は、第二の層120にわたって延在している追加の層130を有する。例えば、追加の層130は、吸収層110にわたって延在する誘電体層であってよい。層130が、層110と同じ材料であっても、又は異なる材料であってもよいことは理解される。加えて、層130は、ゾルゲルプロセスによるなど、層100、110、及び/又は120の適用に用いられる方法と同じ又は異なる方法を用いて多層積層体20上に追加されてよい。
図26は、9層設計の半分を符号24で示し、ここでは、さらなる追加の層105が、任意選択的な反射体層100及び第一の層110の間に配置される。例えば、追加の層105は、反射体層100及び誘電体層110の間に延在する吸収層105であってよい。様々な層が作られてよい材料の非網羅的なリストを、以下の表2に示す。
Figure 0006947885
本明細書で開示される多層積層体を作製するための方法は、当業者に公知のいかなる方法若しくはプロセスであっても、又は当業者にまだ知られていない方法であってもよい。典型的な公知の方法としては、ゾルゲル処理、レイヤー・バイ・レイヤー処理(layer-by-layer processing)、スピンコーティング、及び同種のものなどの湿式法が挙げられる。その他の公知の乾式法としては、化学蒸着処理及び物理蒸着処理が挙げられ、スパッタリング、電子ビーム蒸着、及び同種のものなどである。
本明細書で開示される多層積層体は、塗料用顔料、面に適用される薄膜、及び同種のものなど、ほとんどいかなる色用途にも用いることができる。
上記の例及び実施形態は、単に説明することを目的とするものであり、変更、改変、及び同種のものは、当業者に明らかであり、なおさらに本発明の範囲内に含まれる。このため、本発明の範囲は、請求項及びそのすべての均等物によって定められる。
本発明に関連する発明の実施態様の一部を以下に示す。
[態様1]
基材を被覆するための全方向多層薄膜であって、前記多層薄膜は、
第一の材料の第一の層、及び前記第一の層にわたって延在している第二の材料の第二の層を有する多層積層体
を含んでおり、
前記多層積層体は、300nm未満の所定の半値全幅(FWHM)、及び前記多層積層体が広帯域電磁放射線に暴露され、0から45°の間の角度から観察された場合に30°未満の所定の色シフトを有する電磁放射線の帯域を反射する、全方向多層薄膜。
[態様2]
前記多層積層体が、2μm未満の総厚さを有する、態様1に記載の多層薄膜。
[態様3]
前記多層積層体の前記総厚さが、1.5μm未満である、態様2に記載の多層薄膜。
[態様4]
前記多層積層体の前記総厚さが、1.0μm未満である、態様3に記載の多層薄膜。
[態様5]
前記多層積層体が広帯域電磁放射線に暴露され、0から45°の間の角度から観察された場合の電磁放射線の前記反射狭帯域の前記色シフトが、25°未満である、態様1に記載の多層薄膜。
[態様6]
前記多層積層体が広帯域電磁放射線に暴露され、0から45°の間の角度から観察された場合の電磁放射線の前記反射狭帯域の前記色シフトが、30nm未満である、態様2に記載の多層薄膜。
[態様7]
前記第一の材料及び前記第二の材料が、誘電性材料である、態様1に記載の多層薄膜。
[態様8]
前記第一の材料が、誘電体層であり、前記第二の材料が、吸収性材料である、態様1に記載の多層薄膜。
[態様9]
前記第一の層が、30〜300nmの間の厚さを有する、態様8に記載の多層薄膜。
[態様10]
前記吸収性材料が、選択的吸収性材料である、態様8に記載の多層薄膜。
[態様11]
前記選択的吸収性材料が、Cu、Au、Zn、Sn、アモルファスSi、結晶Si、及びこれらの合金から成る群より選択される、態様10に記載の多層薄膜。
[態様12]
前記選択的吸収性材料が、Fe23、Cu2O、アモルファスSi、結晶Si、及びこれらの組み合わせから成る群より選択される、態様10に記載の多層薄膜。
[態様13]
前記選択的吸収性材料から作られる前記第二の層が、20〜80nmの間の厚さを有する、態様10に記載の多層薄膜。
[態様14]
前記吸収性材料が、非選択的吸収性材料である、態様8に記載の多層薄膜。
[態様15]
前記非選択的吸収性材料が、Cr、Ta、W、Mo、Ti、窒化Ti、Nb、Co、Si、Ge、Ni、Pd、V、酸化鉄(III)、アモルファスSi、結晶Si、及びこれらの組み合わせ又は合金から成る群より選択される、態様14に記載の多層薄膜。
[態様16]
前記非選択的吸収性材料から作られる前記第二の層が、5〜30nmの間の厚さを有する、態様14に記載の多層薄膜。
[態様17]
UV範囲の電磁放射線の帯域を反射する前記多層積層体をさらに含んでいる、態様1に記載の多層薄膜。
[態様18]
IR範囲の電磁放射線の帯域を反射する前記多層積層体をさらに含んでいる、態様1に記載の多層薄膜。
[態様19]
反射体層をさらに含んでおり、前記第一及び第二の層が、前記反射体層にわたって延在している、態様1に記載の多層薄膜。
[態様20]
前記反射体層が、Al、Ag、Pt、Cr、Cu、Zn、Au、Sn、アモルファスSi、結晶Si、及びこれらの合金から成る群より選択される金属から作られる、態様19に記載の多層薄膜。
[態様21]
前記反射体層が、50〜200nmの間の厚さを有する、態様20に記載の多層薄膜。
[態様22]
電磁放射線の前記反射狭帯域が、電磁放射線の可視スペクトル内の対称ピークである、態様1に記載の多層薄膜。
[態様23]
電磁放射線の前記反射狭帯域が、電磁放射線のUV範囲と接している、態様1に記載の多層薄膜。
[態様24]
電磁放射線の前記反射狭帯域が、電磁放射線のIR範囲と接している、態様1に記載の多層薄膜。

Claims (9)

  1. 全方向構造色多層薄膜であって、
    反射体層、及び前記反射体層上に延在している誘電体層、前記誘電体層上に延在している吸収体層、及び前記吸収体層上に延在している外側誘電体層を有する多層積層体
    を含んでおり、
    前記多層積層体は、200nm未満の所定の半値全幅(FWHM)、及び前記多層積層体が広帯域電磁放射線に暴露され、0から45°の間の角度から観察された場合にaカラーマップ上で30°未満の色相シフトの形態の所定の色シフトを有する可視電磁放射線の狭帯域を反射し、
    反射される可視電磁放射線の前記狭帯域が、電磁放射線のIR範囲と接している可視電磁放射線の狭帯域であ
    前記吸収体層が、
    Fe 2 3 、アモルファスSi、結晶Si、及びこれらの合金から成る群より選択される材料から作られた選択的吸収体層、及び
    Cr、W、Si、Ge、Ni、酸化鉄(III)、アモルファスSi、結晶Si、及びこれらの組み合わせ又は合金から成る群より選択される材料から作られた非選択的吸収体層、
    から選択される、
    全方向構造色多層薄膜。
  2. 前記多層積層体が広帯域電磁放射線に暴露され、0から45°の間の角度から観察された場合に、反射される可視電磁放射線の前記狭帯域の色相シフトの形態の前記色シフトが、aカラーマップ上で25°未満である、請求項1に記載の多層薄膜。
  3. 前記多層積層体が、2μm未満の総厚さを有する、請求項1又は2に記載の多層薄膜。
  4. 前記多層積層体の前記総厚さが、1.5μm未満である、請求項3に記載の多層薄膜。
  5. 前記多層積層体の前記総厚さが、1.0μm未満である、請求項4に記載の多層薄膜。
  6. 前記誘電体層が、30〜300nmの間の厚さを有する、請求項1〜5のいずれか一項に記載の多層薄膜。
  7. 前記吸収体層が、前記選択的吸収体層であり、かつ前記選択的吸収体層が、20〜80nmの間の厚さを有する、請求項1〜6のいずれか一項に記載の多層薄膜。
  8. 前記吸収体層が、前記非選択的吸収体層であり、かつ前記非選択的吸収体層が、5〜30nmの間の厚さを有する、請求項1〜6のいずれか一項に記載の多層薄膜。
  9. 前記多層積層体が、IR範囲の電磁放射線の帯域を反射することをさらに備える、請求項1〜のいずれか一項に記載の多層薄膜。
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