JP6877805B1 - 測定用ソケット - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本実施形態に係る測定用ソケットを開いた状態を例示する斜視図である。
図2は、本実施形態に係る測定用ソケットを閉じた状態を例示する斜視図である。
本実施形態に係る測定用ソケット1は、電子モジュール100の電気的な測定を行う際に用いられるソケットである。測定用ソケット1は、測定対象となる電子モジュール100を搭載して、電子モジュール100のコネクタ103との電気的な接触を得る。本実施形態では、測定対象となる電子モジュール100として、フレキシブル基板102に電子部品101およびコネクタ103が接続されたものが適用される。
次に、本実施形態に係る測定用ソケット1のカバー20の動作の詳細について説明する。
図3(a)〜(c)は、カバーを閉じる動作を説明する側面図である。
先ず、図3(a)に示すように、カバー20および押さえ部30を開いた状態で、ベース10の凹部11に電子モジュール100を載置する。電子モジュール100は、凹部11内の所定位置に載置される場合もあれば、凹部11の内側において僅かにずれた位置に載置される場合もある。また、フレキシブル基板102に曲がりや捩れなどがある場合、フレキシブル基板102に接続されたコネクタ103の位置が安定しないこともある。
次に、コンタクトガイドの詳細について説明する。
図4は、コンタクトガイドの上部を示す斜視図である。図4では、図2に示すコンタクトガイドカバー210を外した状態が示される。
図5は、コンタクトガイドの上部を示す拡大斜視図である。図5では、図4に示すトップカバー200を外した状態が示される。
図6(a)および(b)は、コンタクトガイドのカバーへの嵌め込みの状態を示す斜視図である。図6(a)にはコンタクトガイド40をカバー20へ嵌め込んだ状態が示され、図6(b)にはコンタクトガイド40A(40)をカバー20から外した状態が示される。
図7(a)および(b)は、コンタクトガイドの拡大斜視図である。
図8(a)および(b)は、コンタクトガイドの付勢手段を説明する斜視図である。
次に、コンタクトガイドの動きについて説明する。
図9(a)〜図10(b)は、コンタクトガイドの動きを例示する図である。図9および図10において(a)は斜視図、(b)は断面図である。図9(a)および(b)には、コンタクトガイド40が所定の移動範囲の一方端に位置する状態が示され、図10(a)および(b)には、コンタクトガイド40が所定の移動範囲の他方端に位置する状態が示される。
図10には、図9と同様にコンタクトガイド40が矢印Aの方向に移動する際の動作が示される。
コンタクトガイド40のガイド部430にはコネクタ103を収容可能な嵌合凹部431が設けられる。嵌合凹部431の内面には、コネクタ103を収容した際にコネクタ103の外面と接触する嵌合面432が設けられる。嵌合凹部431の内面における開口部分には開口側に向けて拡がるテーパ面433が設けられているとよい。
図12には、図11と同様にコンタクトガイド40が矢印Bの方向に移動する際の動作が示される。
次に、コンタクト装置について説明する。
図13は、コンタクト装置を例示する正面図である。
本実施形態に係るコンタクト装置500は、先に説明した測定用ソケット1と同様に、ベース10、カバー20、押さえ部30、コンタクトピン41およびコンタクトガイド40を備える。コンタクト装置500では、カバー20および押さえ部30がベース10に対して上下動するよう構成される。
10…ベース
11…凹部
15…支柱
17…バネ
20…カバー
20h…孔
25…爪
30…押さえ部
40,40A,40B…コンタクトガイド
41…コンタクトピン
50…ヒンジ
56…バネ
60…ラッチ
65…バネ
100…電子モジュール
101…電子部品
102…フレキシブル基板
103…コネクタ
200…トップカバー
201…孔
202…凹部
210…コンタクトガイドカバー
410…基台
420…凸状部分
425,425A,425B…スプリングホルダ
425h…穴
430…ガイド部
431…嵌合凹部
432…嵌合面
433…テーパ面
440…ケーブル
450,450A,450B…コイルスプリング
500…コンタクト装置
A,B…矢印
RS…基準面
Claims (11)
- フレキシブル基板と、前記フレキシブル基板に接続された電子部品およびコネクタと、を有する電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、
前記電子モジュールを載置する凹部を有するベースと、
前記ベースに被せられるカバーと、
前記電子モジュールとの導通を得るためのコンタクトピンと、
前記カバーに設けられ、前記電子モジュールが載置された前記ベースに前記カバーを被せることで前記コンタクトピンを前記電子モジュールの接触位置にガイドするコンタクトガイドと、
前記カバーが前記ベースに対して閉じたときに、前記コネクタよりも先に前記電子部品の動きを規制する押さえ部と、
を備え、
前記コンタクトガイドは、前記コネクタを収容可能な嵌合凹部を有し、
前記コンタクトガイドは、前記カバーに対して移動可能に懸架され、
前記カバーを前記ベースに被せることで前記コンタクトガイドの前記嵌合凹部の内面が前記コネクタと接触し、前記コンタクトガイドが前記コネクタに嵌合しながら前記コネクタの位置へ呼び込まれ、
前記カバーを前記ベースに被せたときに、前記コンタクトガイドは、前記ベースに対して位置決めされていない前記コネクタに接することを特徴とする測定用ソケット。 - 前記コンタクトガイドは、前記カバーの基準面に沿った少なくとも互いに直交する2方向に移動可能に懸架される、請求項1記載の測定用ソケット。
- 前記コンタクトガイドは、前記カバーの前記基準面の法線方向に移動可能に懸架される、請求項2記載の測定用ソケット。
- 前記コンタクトガイドは、前記カバーに対して回転可能に懸架される、請求項2または請求項3に記載の測定用ソケット。
- 前記コンタクトガイドと前記カバーとの間に設けられた付勢手段をさらに備えた、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の測定用ソケット。
- 前記コンタクトガイドは略矩形の凸状部分を有し、
前記凸状部分の4つの側壁と前記カバーとの間に前記付勢手段が設けられた、請求項5記載の測定用ソケット。 - 前記嵌合凹部の内面における開口部分には開口側に拡がるテーパ面が設けられた、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の測定用ソケット。
- 前記コンタクトガイドは、前記カバーに設けられた孔内に配置され、
前記コンタクトガイドと前記孔の壁との隙間の範囲内で移動可能に懸架される、請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の測定用ソケット。 - 前記カバーは、ヒンジによって前記ベースに対して回動するよう設けられた、請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の測定用ソケット。
- 前記カバーを前記ベースに被せることで前記ベースに載置された前記電子モジュールの位置へ前記コンタクトガイドが呼び込まれる、請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の測定用ソケット。
- 複数の前記コンタクトガイドを備え、
前記複数のコンタクトガイドは、前記カバーに対してそれぞれ独立して懸架される、請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の測定用ソケット。
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JP2018040678A (ja) * | 2016-09-07 | 2018-03-15 | 株式会社Sdk | 測定用ソケットおよびコンタクト装置 |
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- 2020-05-20 JP JP2020562221A patent/JP6877805B1/ja active Active
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