JP6644748B2 - 分子種のモノアイソトピック質量の特定のための方法 - Google Patents
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Description
(i)質量分析計により試料の質量スペクトルを測定するステップと、
(ii)試料の質量スペクトルの測定されたm/z値の少なくとも1つの範囲を断片に分割するステップと、
(iii)測定されたm/z値の少なくとも1つの範囲の断片の少なくともいくつかを、いくつかの提供されたプロセッサの1つのプロセッサに割り当てるステップと、
(iv)測定されたm/z値の少なくとも1つの範囲の断片の少なくとも1つにおける測定された質量スペクトルから、試料中に含有される、及び/または試料から生じる少なくとも1つの分子種のそれぞれに対して、比電荷zを有するそれらのイオンの同位体分布を推定するステップと、
(v)試料中に含有される、及び/または試料から生じる少なくとも1つの分子種のそれぞれのイオンの少なくとも1つの推定された同位体分布から、分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータを推定するステップと、を含む。
(i)質量分析計により試料の質量スペクトルを測定するステップと、
(ii)測定された質量スペクトルから、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のそれぞれに対して、4つの下位電荷スコアcsP_PX(z)、csAS_PX(z)、csAC_PX(z)及びcsIS_PX(z)の少なくとも3つの操作によって、質量スペクトルの測定されたピークの電荷スコアcsPX(z)を推定することにより、比電荷zを有するそのイオンの少なくとも1つの同位体分布を推定するステップと、
(iii)試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のそれぞれの比電荷zを有するイオンの少なくとも1つの推定された同位体分布から、分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータを推定するステップと、を含む。
(i)質量分析計により試料の質量スペクトルを測定するステップと、
(ii)測定された質量スペクトルから、試料中に含有される、及び/または試料から生じる少なくとも1つの分子種のそれぞれに対して、比電荷zを有するそのイオンの少なくとも2つの同位体分布を推定するステップと、
(iii)試料中に含有される、及び/または試料から生じる少なくとも1つの分子種のそれぞれのイオンの少なくとも2つの推定された同位体分布から、分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータを推定するステップと、を含む。
●調査されたピーク構造が、以下のような低分解能電荷状態の特定の特徴を示すかどうかをチェックする。
−融合されたピークの特徴、例えば
○ピーク構造における下位ピーク
○少なくともほぼ2倍のピーク幅を有する広がったピーク
−断片化されたピークの特徴、例えば
○広がったピーク、ならびにより低い、及び/またはより高いm/z値の近い衛星ピーク
●ピーク幅、特にFWHM値が、低分解能の予測電荷状態(z=zmd+1、・・・、zlimit)の分解されていない同位体分布の予測ピーク幅に適合するかどうかをチェックする(典型的には、予測ピーク幅からの10%、好ましくは3%、特に1%の偏差が許容される)
●調査されたピークの低分解能の予測電荷状態(z=zmd+1、・・・、zlimit)の隣接する同位体ピークが、有意な強度を有するかどうかをチェックする(典型的には、調査されたピークの強度の5%〜500%の間、好ましくは調査されたピークの強度の10%〜300%の間、特に好ましくは調査されたピークの強度の30%〜200%の間)
z−K/2、z−K/2+1、・・・z−1、z+1、z+K/2−1、z+K/2
もまた使用される。典型的には、Kは、4〜16の間、好ましくは4〜12の間、具体的には8または10の値を有する。
z−4、z−3、z−2、z−1、z+1、z+2、z+3、z+4
もまた使用される。
(ii)全電荷エンベロープが、2対の2つの続く電荷状態zslrを含有する。
(iii)特定数Ngapの電荷状態の2つの受け入れられる電荷状態zslrの間にギャップが存在する場合、2つの電荷状態のうち、電荷状態z1に対するより小さい差を有する電荷状態のみ、及びこの電荷状態と電荷状態z1との間の全ての電荷状態が、改善されたスコアslr_PL(z1)及び自己相関値RPL(z1)を決定するために考慮され、次いで、上述の規則に従って、検出されたピークPLが、この改善されたスコアslr_PL(z1)を有する電荷z1を有する低分解能電荷状態として特定され得るかどうか再調査される。典型的には、ギャップ内で許容されない電荷状態の数Ngapは、2〜5の間である。
(i)全電荷エンベロープ内に、5つの続く受け入れられる電荷状態zslrが存在する。
(ii)全電荷エンベロープが、2×2の続く受け入れられる電荷状態zslrを含有する。
(iii)2つの電荷状態の2つの受け入れられる電荷状態zslrの間にギャップが存在する場合、2つの電荷状態のうち、電荷状態z1に対するより小さい差を有する電荷状態のみ、及びこの電荷状態の間の全ての電荷状態が、改善されたスコアslr_PL(z1)及び自己相関値RPL(z1)を決定するために考慮され、次いで、上述の規則に従って、検出されたピークPLが、この改善されたスコアslr_PL(z1)を有する電荷z1を有する低分解能電荷状態として特定され得るかどうか調査される。
例:電子の付加(電荷z=−1)
第1のイオン: 質量m 電荷z
第2のイオン: 質量m 電荷z−1
例:質量ma及び電荷zaを有するイオンの付加
第1のイオン: 質量m 電荷z
第2のイオン: 質量m+ma 電荷z+za
第1のイオン: 質量m 電荷z
第2のイオン: 質量m+1 電荷z+1
例えば、
Claims (16)
- 試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法であって、
(i)質量分析計により前記試料の質量スペクトルを測定するステップと、
(ii)前記試料の前記質量スペクトルの測定されたm/z値の少なくとも1つの範囲を複数の断片に分割するステップと、
(iii)測定されたm/z値の前記少なくとも1つの範囲の前記断片の少なくとも複数を、提供された複数のプロセッサの別個のプロセッサに割り当てるステップと、
(iv)測定されたm/z値の前記少なくとも1つの範囲の前記断片の少なくとも1つにおける前記測定された質量スペクトルから、前記試料中に含有される、及び/または前記試料から生じる前記少なくとも1つの分子種のそれぞれに対して、比電荷zを有するそれらのイオンの同位体分布を推定するステップと、
(v)前記試料中に含有される、及び/または前記試料から生じる前記少なくとも1つの分子種のそれぞれの前記イオンの少なくとも1つの推定された同位体分布から、前記分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータを推定するステップと、を含み、
前記試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって前記試料から生じる前記分子種のいくつかに対して、モノアイソトピック質量または同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータが、異なる比電荷zを有するそのイオンの2つ以上の推定された同位体分布から推定される、方法。 - 測定されたm/z値の少なくとも1つの範囲の前記断片のそれぞれにおいて、比電荷zを有する1つの分子種のイオンの少なくとも1つの同位体分布が検出される、
請求項1に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。 - 前記少なくとも1つの分子種以外の少なくとも1つの分子種に対して、比電荷zを有するそのイオンの同位体分布が、測定されたm/z値の前記少なくとも1つの範囲の前記断片の少なくとも1つにおいて推定される、
請求項1又は2に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。 - 前記試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって前記試料から生じる前記分子種のいくつかに対して、モノアイソトピック質量または同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータが、測定されたm/z値の前記少なくとも1つの範囲の異なる断片から推定される、異なる比電荷zを有するそのイオンの2つ以上の同位体分布から推定される、
請求項1〜3のいずれか一項に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。 - 前記試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって前記試料から生じる前記少なくとも1つの分子種のそれぞれのモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータが、測定されたm/z値の前記少なくとも1つの範囲の異なる断片から推定された比電荷zを有するイオンの隣接する同位体分布を考慮することにより、測定されたm/z値の前記少なくとも1つの範囲の前記断片の少なくとも1つにおける分子種の比電荷zを有するそのイオンの少なくとも1つの推論された同位体分布から推定される、
請求項1又は4に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。 - 前記試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって前記試料から生じる前記少なくとも1つの分子種のそれぞれのモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータが、プロセッサに割り当てられた全ての断片から推定された比電荷zを有するイオンの隣接する同位体分布を考慮することにより、測定されたm/z値の前記少なくとも1つの範囲の前記断片の少なくとも1つにおける分子種の比電荷zを有するそのイオンの少なくとも1つの推定された同位体分布から推定される、 請求項5に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。
- 前記測定された質量スペクトルから、前記試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって前記試料から生じる前記少なくとも1つの分子種のそれぞれに対して、比電荷zを有するそのイオンの少なくとも1つの同位体分布が、4つの下位電荷スコアcsP_PX(z)、csAS_PX(z)、csAC_PX(z)及びcsIS_PX(z)の少なくとも3つの乗算によって、前記質量スペクトルの測定されたピークPXの電荷スコアcsPX(z)を推定することにより推定される、
請求項1〜6のいずれか1項に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。 - 前記質量スペクトルの前記測定されたピークPXの前記電荷スコアcsPX(z)が、前記4つの下位電荷スコアcsP_PX(z)、csAS_PX(z)、csAC_PX(z)及びcsIS_PX(z)の乗算によって推定される、
請求項7に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。 - 前記測定された質量スペクトルから、前記試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって前記試料から生じる前記少なくとも1つの分子種のそれぞれに対して、比電荷zを有するそのイオンの少なくとも1つの同位体分布が、電荷1と最大電荷状態zmaxとの間の各電荷状態zに対して、前記質量スペクトルの前記測定されたピークPXの前記電荷スコアcsPX(z)を推定することにより推定される、
請求項7又は8に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。 - ステップ(iv)における同位体分布の前記推定の後に、前記推定された同位体分布の少なくとも一部が、そのピークの1つ以上が低分解能電荷状態zhiの同位体分布に属し得るかどうか調査される、
請求項1〜8のいずれか1項に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。 - ステップ(iv)における同位体分布の前記推定の後に、前記推定された同位体分布の少なくとも一部が、そのピークの1つ以上が低分解能電荷状態zhiの同位体分布に属し得るかどうか調査され、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる分子種のモノアイソトピック質量またはこれらの同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータが、前記調査によりステップ(iv)において推定された同位体分布のピークに割り当てられる低分解能電荷状態zhiの前記同位体分布から推定される、
請求項1〜8のいずれか1項に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。 - 試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法であって、
(i)質量分析計により前記試料の質量スペクトルを測定するステップと、
(ii)前記測定された質量スペクトルから、前記試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって前記試料から生じる前記少なくとも1つの分子種のそれぞれに対して、4つの下位電荷スコアcsP_PX(z)、csAS_PX(z)、csAC_PX(z)及びcsIS_PX(z)の少なくとも3つの乗算によって、前記質量スペクトルの測定されたピークPXの電荷スコアcsPX(z)を推定することにより、比電荷zを有するそのイオンの少なくとも1つの同位体分布を推定するステップと、
(iii)前記試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって前記試料から生じる前記少なくとも1つの分子種のそれぞれの比電荷zを有するイオンの少なくとも1つの推定された同位体分布から、前記分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータを推定するステップと、を含む方法。 - 前記質量スペクトルの測定されたピークの前記電荷スコアcsPX(z)が、前記4つの下位電荷スコアcsP_PX(z)、csAS_PX(z)、csAC_PX(z)及びcsIS_PX(z)の乗算によって推定される、
請求項12に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。 - ステップ(ii)における同位体分布の前記推定の後に、前記推定された同位体分布の少なくとも一部が、そのピークの1つ以上が低分解能電荷状態zhiの同位体分布に属し得るかどうか調査される、
請求項12又は13に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。 - ステップ(ii)における同位体分布の前記推定の後に、前記推定された同位体分布の少なくとも一部が、そのピークの1つ以上が低分解能電荷状態zhiの同位体分布に属し得るかどうか調査され、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる分子種のモノアイソトピック質量またはこれらの同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータが、前記調査によりステップ(ii)において推定された同位体分布のピークに割り当てられる低分解能電荷状態zhiの前記同位体分布から推定される、
請求項12又は13に記載の、試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法。 - 試料中に含有される、及び/または少なくともイオン化プロセスによって試料から生じる少なくとも1つの分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータの特定のための方法であって、
(i)質量分析計により前記試料の質量スペクトルを測定するステップと、
(ii)前記測定された質量スペクトルから、前記試料中に含有される、及び/または前記試料から生じる前記少なくとも1つの分子種のそれぞれに対して、異なる比電荷zを有するそのイオンの少なくとも2つの同位体分布を推定するステップと、
(iii)前記試料中に含有される、及び/または前記試料から生じる前記少なくとも1つの分子種のそれぞれのイオンの前記少なくとも2つの推定された同位体分布から、前記分子種のモノアイソトピック質量またはその同位体分布の同位体の質量に関連するパラメータを推定するステップと、を含む方法。
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