JP6592281B2 - 目付量測定方法、積層フィルム製造方法、及び目付量測定装置 - Google Patents
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Description
本発明の目付量測定対象である積層フィルムとしては、光学フィルム、及び二次電池用セパレータ等が挙げられる。なお、金属フィルム等の光を全く透過しないフィルムは本発明の目付量測定対象とはならない。
リチウムイオン二次電池に代表される非水電解液二次電池は、エネルギー密度が高く、それゆえ、現在、パーソナルコンピュータ、携帯電話、携帯情報端末等の機器、自動車、航空機等の移動体に用いる電池として、また、電力の安定供給に資する定置用電池として広く使用されている。
セパレータ12は、リチウムイオン二次電池1の正極であるカソード11と、その負極であるアノード13との間に、これらに挟持されるように配置される。セパレータ12は、カソード11とアノード13との間を分離しつつ、これらの間におけるリチウムイオンの移動を可能にする多孔質フィルム(基材フィルム)である。セパレータ12は、その材料として、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィンを含む。
図3は、図1に示されるリチウムイオン二次電池1の他の構成を示す模式図であって、(a)は通常の構成を示し、(b)はリチウムイオン二次電池1が急激に昇温したときの様子を示す。
リチウムイオン二次電池1のセパレータ及び耐熱セパレータの製造は特に限定されるものではなく、公知の方法を利用して行うことができる。以下では、基材フィルム5がその材料として主にポリエチレンを含む場合を仮定して説明する。しかし、基材フィルム5が他の材料を含む場合でも、同様の製造工程により、セパレータ12(耐熱セパレータ)を製造できる。
耐熱セパレータ又は耐熱層を有しないセパレータ(以下「セパレータ」)は、リチウムイオン二次電池1などの応用製品に適した幅(以下「製品幅」)であることが好ましい。しかし、生産性を上げるために、セパレータは、その幅が製品幅以上となるように製造される。そして、一旦製造された後に、セパレータは、製品幅に切断(スリット)される。
本発明の実施形態を図4〜図12に基づき説明する。
図4は、本実施形態の積層フィルムの製造方法が含む、塗布層に関する工程を示す模式図であって、(a)は塗工工程を示し、(b)は検査工程を示す。
図4の(a)に示される塗工工程は、上述のとおり、セパレータ12の塗布層である耐熱層4が含む物質(以下「塗布層物質」)と溶媒とを混合した組成物(以下「塗工液」)を、基材フィルム5に塗工する工程である。塗布層物質は、上述の接着層が含む物質であってもよい。塗工液21は、塗工部材25により基材フィルム5に塗工される。
図4の(b)に示される検査工程は、塗工工程の後に、セパレータ12を検査する工程である。セパレータ12は、目付量測定装置30により検査される。
塗布層の目付量は、塗布層の吸光度に比例する。この比例関係を利用して目付量を測定できる。「吸光度」とは、塗布層に入射する光の強度である入射光強度Iinと、塗布層を透過したこの光の強度である透過光強度Iとについて「−log(I/Iin)」で求められる値である。以下では、セパレータ12の基材フィルム5の主成分がポリエチレンであり、かつ、塗布層である耐熱層4がアラミドを含む層であるときの目付量の測定について説明する。
図5は、セパレータ12に照射する光の波長と吸光度との関係(以下「吸光度波長依存性」)を示すグラフである。太い実線は、アラミドの吸光度波長依存性を表す。一点鎖線は、ポリエチレンの吸光度波長依存性を表す。なお、この吸光度波長依存性は、セパレータ12を構成する各層中の樹脂存在比率によって変化する。例えば塗布層中に50wt%のフィラーが含まれる場合には、樹脂存在量が半分になるため、塗布層の吸光度も半減する。また、セパレータ12のように積層フィルムが多孔体の場合は、孔の構造による光の散乱も考慮する必要があるため、積層フィルム各層の吸光度波長依存性を求める際は、孔径および孔径分布等において同様の多孔質構造を有する単層フィルムを基準とすることが望ましい。
図6は、セパレータ12の耐熱層4の目付量と吸光度平均との関係(以下「目付量吸光度相関」)を示すグラフである。白抜きの正方形の点で示されるデータは、波長が390nm以上420nm以下である光の目付量吸光度相関を示す。三角形の点で示されるデータは、波長が680nm以上700nm以下である光の目付量吸光度相関を示す。
図5〜図6に示される関係に基づけば以下の手順でセパレータ12の耐熱層4の目付量を特定できる。
(1)セパレータ12の各層(耐熱層4及び基材フィルム5)が、上述の各波長に対して示す吸光度測定結果から、目付量に対する吸光度の傾き(比例係数)を求める。ここでは、耐熱層4が波長Xに対して示す吸光度の比例係数をX4、波長Yに対して示す吸光度の比例係数をY4とする。また、基材フィルム5が波長Xに対して示す吸光度の比例係数をX5、波長Yに対して示す吸光度の比例係数をY5とする。
(2)波長が680nm以上700nm以下である光をセパレータ12に照射したときの吸光度Xtotalを測定する。
(3)波長が390nm以上420nm以下である光をセパレータ12に照射したときの吸光度Ytotalを測定する。
(4)セパレータ12の耐熱層4の目付をW4、基材フィルム5の目付をW5とすると、以下の連立方程式が成り立つ。
X4W4+X5W5=Xtotal
Y4W4+Y5W5=Ytotal
上記連立方程式からW4、W5をそれぞれ求める。
セパレータ12が異なる3層以上の層から構成される場合には、層数に対応する数の光を用いて、それぞれの層に対応する吸光度の比例係数を求めることで、各層の目付量を求めることができる。例えば、セパレータ12が異なる4層から構成される場合には、四元一次連立方程式として導かれる上述の連立方程式を解くことにより、各層の目付量が求めることができる。
図7は、図4の(b)に示される検査工程で用いられる目付量測定装置30の構成を示す側面図である。図7に示されるように、目付量測定装置30は、投光器31a・31bと、受光器32a・32bと、制御部33(算出部)と、カバー34と、仕切り板35とを備える。
投光器31a・31bは、Y軸方向に並ぶ複数の発光ダイオード(LED:Light Emitting Diode)を含む発光部と、LEDが発光した光を拡散する拡散板とを備え、セパレータ12のY軸方向のおおむね全幅に光を投光する。投光器31aは、中心波長が405nm(第1波長)の光(測定光)をセパレータ12に投光する。投光器31bは、中心波長が850nm(第2波長)の光(測定光)をセパレータ12に投光する。投光器31a・31bと、セパレータ12との間の距離は、1mm〜20mmである。
制御部33は、投光器31a・31bと、受光器32a・32bとに接続されており、接続された部材の動作を制御できる。例えば、制御部33は、ある時刻に受光器32aが受光した測定光の透過光強度と、一定時間後に受光器32bが受光した測定光の透過光強度とを比較できるように、受光器32a・32bの動作を制御できる。
カバー34は、投光器31a・31bと、受光器32a・32bとを囲み、外乱光が囲みの内部へ入射することを防止している。カバー34は、開口部34a・34bを備える。セパレータ12は、開口部34aを介しカバー34の内部へ搬送され、かつ、開口部34bを介しカバー34の外部へ搬送される。仕切り板35は、投光器31aから投光される光が受光器32bに入射すること防止し、かつ、投光器31bから投光される光が受光器32aに入射すること防止する。
目付量測定装置30は、以下のとおり動作する。
(1)投光器31bは、中心波長が850nmである光をセパレータ12に投光する。受光器32bは、セパレータ12を透過したこの光を受光する。制御部33は、投光器31bが出射した光の強度を入射光強度Iinとし、受光器32bが受光した光の強度を透過光強度Iとし、吸光度「−log(I/Iin)」を求める。
(2)投光器31aは、中心波長が405nmである光をセパレータ12に投光する。受光器32aは、セパレータ12を透過したこの光を受光する。制御部33は、投光器31aが出射した光の強度を入射光強度Iinとし、受光器32aが受光した光の強度を透過光強度Iとし、吸光度「−log(I/Iin)」を求める。
(3)制御部33は、この吸光度から吸光度と目付量との比例関係を利用し、耐熱層4の目付量に換算する。
上記(1)(2)の工程(透光工程、測光工程)においてセパレータ12を透過した光は、基材フィルム5が吸収する光の波長帯と、耐熱層4が吸収する光の波長帯との違いを反映する。基材フィルム5の膜厚バラツキが大きければ、その吸光度のバラツキも大きくなるが、耐熱層4の単位面積あたりの質量である目付量は、耐熱層4の吸光度に比例するため、上記(3)の工程(算出工程)において目付量が求まる。
本発明には、上述の透光工程と、測光工程と、算出工程とを含む目付量測定方法も含まれる。
目付量測定装置30を用いた目付量測定方法は、図7に示されるように、搬送ローラーa・bがセパレータ12をX軸正方向側へ搬送する搬送工程を含む。そして、上述の透光工程では、セパレータ12の面上かつX軸方向と交差するY軸方向に沿った線状の二つの測定光(投光器31aが投光する光、及び、投光器31bが投光する光)をセパレータ12に透過させ、上述の測光工程では、線状の二つの測定光それぞれに対応した領域で透過光強度を測定している。これにより、目付量の測定範囲を、点状又は線状ではなく、面状とすることができる。
目付量測定装置30は、0.1g/m2の精度で目付量を測定できる。この精度を高めるためには、投光器31a・31bが単波長の光を投光できることが好ましい。
目付量測定装置30は、セパレータ12に測定光を透過させる透過型の目付量測定装置である。透過する測定光の光量を増加させるためには、投光器と受光器とを結ぶ直線が、セパレータ12と成す角度は、80度以上100度以下であることが好ましい。また、この角度は、85度以上95度以下であることがより好ましい。セパレータ12に測定光を反射させる反射型の目付量測定装置も存在する。しかし、反射型の目付量測定装置は、セパレータ12の耐熱層4の目付量の変化を、反射した測定光の強度変化として観測できず、目付量を測定できないことがある。目付量測定装置30は、反射型の目付量測定装置が測定不可能なセパレータについても、その塗布層の目付量を測定できる。
(キャリブレーション)
図8は、図7に示される目付量測定装置30の構成を示す平面図である。なお、図8では、受光器32a・32bと制御部33とカバー34と仕切り板35とは省略されている。図8に示されるように、目付量測定装置30は、サンプルホルダ36をさらに備える。サンプルホルダ36には、吸光度が既知であるサンプルが配される。サンプルホルダ36は、セパレータ12の生産時と同等の搬送速度でX軸方向へ動く。そして、サンプルホルダ36に配されたサンプルに測定光を透過させ、吸光度を測定することにより、吸光度を目付量に換算するときに用いる吸光度と目付量との正しい比例関係を知ることができる。
図9は、図7に示される目付量測定装置30の受光器32の構成を示す正面図であって、(a)は受光器32が密着型センサ(CIS;Contact Image Sensor)モジュールであるときの構成を示し、(b)は受光器32が複数の電荷結合素子(CCD;Charge Coupled Device)カメラ32Aからなるときの構成を示し、(c)は受光器32が広角のCCDカメラ32Bであるときの構成を示す。この正面図において、受光器32aと受光器32bとは、見かけ上同じ構成となるため、受光器32a・32bをまとめて「32」と表記する。同様に、投光器31a・31bをまとめて「31」と表記する。
CISモジュールは、以下に列挙する特徴を有する。
・装置間の品質のバラツキが少ないため、このバラツキの悪影響を抑制するための構成が不要になる。
・直径が大きなレンズを用いる構成と比較して視野の歪み(例えば、図9の(b)の視野Dに発生する歪み)が少ない。これにより、光学的な補正(収差、光量比など)が不要になる。
・直径が大きなレンズを用いる構成と比較して色収差が少ない。このため、紫外(UV;ultraviolet)側の光(例えば中心波長が405nmである光)と、近赤外(NIR;near infra-red)側の光(例えば中心波長が850nmである光)とを確実に受光できる。
・分解能は80μmである。他の分解能を選択することもできる。
・視野は1150mmである。セパレータ12の幅が約1000mmであるとき、1台のCISモジュールを一つの受光器として利用すれば、セパレータ12の全幅にわたり、耐熱層4の目付量を測定できる。他の視野を選択することもできる。
・キャリブレーション(目付量測定装置30の経年劣化診断を含む)及び目付換算式算出のための目付量測定は、セパレータ12の幅方向の端部の一箇所で行えばよい。
・CISモジュールの機械構造は1軸である。
CCDカメラは、以下に列挙する特徴を有する。
・CISモジュールと比較して安価である。
・CISモジュールと比較して選択肢(視野、分解能)が多い。
・分解能は60μmである。他の分解能を選択することもできる。
・視野は200mmである。セパレータ12の幅が約1000mmであるとき、6台のCCDカメラを一つの受光器として利用すれば、確実にセパレータ12の全幅にわたり、耐熱層4の目付量を測定できる。他の視野を選択することもできる。
・視野の歪み(例えば、図9の(b)の視野Dに発生する歪み)に対し、光学的な補正が必要になる。
・CISモジュールと比較して色収差が大きい。
・キャリブレーション及び目付換算式算出のための目付量測定は、CCDカメラ毎に実施する必要がある。
・CCDカメラの機械構造は2軸であってCISモジュールよりも複雑である。
広角のCCDカメラは、以下に列挙する特徴を有する。
・CISモジュール及びY軸方向に並べた複数のCCDカメラを用いる構成と比較して安価である。
・CISモジュールと比較して選択肢(視野、分解能)が多い。
・視野の歪みに対し、光学的な補正が必要になる。
・この視野の歪みは、Y軸方向に並べた複数のCCDカメラを用いる構成と比較して大きい。
・CISモジュールと比較して色収差が大きい。
図10は、トラバース測定を行う目付量測定装置50の構成を示す図であって、(a)は正面図であり、(b)は平面図である。「トラバース測定」とは、測定位置を動かしながら行う目付量測定を意味する。図10の(a)に示されるように、目付量測定装置50は、投光器51と、分光部52Aと、トラバースユニット56u・56lと、サンプルホルダ57と、制御部59(算出部)とを備える。なお、目付量測定装置50は、ブロアー55と、非常停止ボタン58とを備えていてもよい。
図11は、複数の分光部52Aを用いる目付量測定装置50Aの構成を示す正面図である。図11に示されるように、目付量測定装置50Aは、投光器51Aと、5個の分光部52Aと、制御部59(算出部)とを備える。
図12は、分光部を用いずにトラバース測定を行う目付量測定装置50Bの構成を示す正面図である。図12に示されるように、目付量測定装置50Bは、投光器51a・51bと、受光器52a・52bと、トラバースユニット56u・56lと、サンプルホルダ57と、制御部59(算出部)とを備える。なお、目付量測定装置50Bは、ブロアー55と、非常停止ボタン58とを備えていてもよい。
以上の目付量測定は、測定光を分光するか否かという特徴と、測定光の出射位置が移動するか否かという特徴とにより、以下のとおり分類できる。
図10の(a)に示される目付量測定装置50が実行する目付量測定方法は、測定光をセパレータ12に透過させる透光工程と、セパレータ12を透過した測定光を分光し、互いに異なる第1及び第2波長の透過光強度を測定する測光工程と、これらの透過光強度に基づき、耐熱層4の目付量を算出する算出工程とを含む。かつ、この目付量測定方法は、透光工程及び測光工程中にセパレータ12をX軸正方向へ搬送する搬送工程をさらに含み、透光工程では、Y軸方向に往復移動する位置から出射した測定光をセパレータ12に透過させ、測光工程では、往復移動する位置に対応した領域で透過光強度を測定している。
図11に示される目付量測定装置50Aが実行する目付量測定方法は、測定光をセパレータ12に透過させる透光工程と、セパレータ12を透過した測定光を分光し、互いに異なる第1及び第2波長の透過光強度を測定する測光工程と、これらの透過光強度に基づき、耐熱層4の目付量を算出する算出工程とを含む。かつ、透光工程及び測光工程中にセパレータ12をX軸正方向へ搬送する搬送工程をさらに含み、透光工程では、Y軸方向に沿った線状の測定光をセパレータ12に透過させ、測光工程では、測定光の形状に対応した領域で透過光強度を測定している。
図12に示される目付量測定装置50Bが実行する目付量測定方法は、互いに異なる第1及び第2波長をそれぞれ中心波長とする二つの測定光をセパレータ12に透過させる透光工程と、セパレータ12を透過した測定光の透過光強度を測定する測光工程と、透過光強度に基づき、耐熱層4の目付量を算出する算出工程とを含む。かつ、透光工程及び測光工程中にセパレータ12をX軸正方向へ搬送する搬送工程をさらに含み、透光工程では、Y軸方向に往復移動する位置から出射した測定光をセパレータ12に透過させ、測光工程では、往復移動する位置に対応した領域で透過光強度を測定している。
図7に示される目付量測定装置30が実行する目付量測定方法は、互いに異なる第1及び第2波長をそれぞれ中心波長とする二つの測定光をセパレータ12に透過させる透光工程と、セパレータ12を透過した測定光の透過光強度を測定する測光工程と、透過光強度に基づき、耐熱層4の目付量を算出する算出工程とを含む。かつ、透光工程及び測光工程中にセパレータ12をX軸正方向へ搬送する搬送工程をさらに含み、透光工程では、Y軸方向に沿った線状の測定光をセパレータ12に透過させ、測光工程では、測定光の形状に対応した領域で透過光強度を測定している。
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
4 耐熱層
5 基材フィルム
21 塗工液
25 塗工部材
30 目付量測定装置
31・31a・31b 投光器
32・32a・32b 受光器
32A・32B CCDカメラ(受光器)
33 制御部(算出部)
50 目付量測定装置
51 投光器
52A 分光部
59 制御部(算出部)
Claims (16)
- 基材フィルムと前記基材フィルムに形成された塗布層とからなる積層フィルムの前記塗布層の目付量測定方法において、
互いに異なる、第1波長を中心波長とする測定光と、第2波長を中心波長とする測定光とを前記積層フィルムに透過させる透光工程と、
前記積層フィルムを透過した前記測定光の透過光強度を測定する測光工程と、
前記透過光強度に基づき、前記塗布層の目付量を算出する算出工程と、
を含み、
前記算出工程にて、前記塗布層が前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数と、前記基材フィルムが前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数とに基づき、前記塗布層の目付量を算出することを特徴とする目付量測定方法。 - 基材フィルムと前記基材フィルムに形成された塗布層とからなる積層フィルムの前記塗布層の目付量測定方法において、
測定光を前記積層フィルムに透過させる透光工程と、
前記積層フィルムを透過した前記測定光を分光し、互いに異なる第1及び第2波長の透過光強度を測定する測光工程と、
前記透過光強度に基づき、前記塗布層の目付量を算出する算出工程と、
を含み、
前記算出工程にて、前記塗布層が前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数と、前記基材フィルムが前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数とに基づき、前記塗布層の目付量を算出することを特徴とする目付量測定方法。 - 前記透光工程及び測光工程中に前記積層フィルムを一方向へ搬送する搬送工程をさらに含み、
前記透光工程では、前記積層フィルムの面上かつ前記一方向と交差する方向に往復移動する位置から出射した前記測定光を前記積層フィルムに透過させ、
前記測光工程では、前記往復移動する位置に対応した領域で透過光強度を測定する、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の目付量測定方法。 - 前記透光工程及び測光工程中に前記積層フィルムを一方向へ搬送する搬送工程をさらに含み、前記透光工程では、前記積層フィルムの面上かつ前記一方向と交差する方向に沿った線状の前記測定光を前記積層フィルムに透過させ、
前記測光工程では、前記測定光の形状に対応した領域で透過光強度を測定する、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の目付量測定方法。 - 前記測定光と前記積層フィルムとがなす角度は、80°以上100°以下であることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の目付量測定方法。
- 前記第1波長は、390nm以上420nm以下の範囲に含まれ、
前記第2波長は、680nm以上850nm以下の範囲に含まれる、
ことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の目付量測定方法。 - 前記塗布層は、アラミドを含むアラミド層である、
ことを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の目付量測定方法。 - 前記積層フィルムを透過した前記測定光の透過光強度に基づき、前記積層フィルムの端部及び欠点の少なくとも一方を検出する検出工程をさらに含むことを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載の目付量測定方法。
- 基材フィルムと前記基材フィルムに形成された塗布層とを有する積層フィルムの製造方法において、
請求項1から8のいずれか一項に記載の目付量測定方法が含む各工程と、
前記算出工程において算出した目付量に基づき前記塗布層の目付量を制御する塗工工程と、
を含むことを特徴とする積層フィルム製造方法。 - 基材フィルムと前記基材フィルムに形成された塗布層とを有する積層フィルムの製造方法において、
請求項1から8のいずれか一項に記載の目付量測定方法が含む各工程と、
前記算出工程において算出した目付量に基づき、前記積層フィルムの目付量異常部位を除去する除去工程と、
を含むことを特徴とする積層フィルム製造方法。 - 基材フィルムと前記基材フィルムに形成された塗布層とからなる積層フィルムの前記塗布層の目付量測定装置において、
互いに異なる、第1波長を中心波長とする測定光と、第2波長を中心波長とする測定光とをそれぞれ投光する二つの投光器と、
前記積層フィルムを透過した前記二つの測定光の透過光強度をそれぞれ測定する二つの受光器と、
前記透過光強度に基づき、前記塗布層の目付量を算出する算出部と、
を備え、
前記算出部は、前記塗布層が前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数と、前記基材フィルムが前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数とに基づき、前記塗布層の目付量を算出することを特徴とする目付量測定装置。 - 基材フィルムと前記基材フィルムに形成された塗布層とからなる積層フィルムの前記塗布層の目付量測定装置において、
測定光を投光する投光器と、
前記積層フィルムを透過した前記測定光を分光し、互いに異なる第1及び第2波長の透過光強度を測定する分光部と、
前記透過光強度に基づき、前記塗布層の目付量を算出する算出部と、
を備え、
前記算出部は、前記塗布層が前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数と、前記基材フィルムが前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数とに基づき、前記塗布層の目付量を算出することを特徴とする目付量測定装置。 - 基材フィルムと前記基材フィルムに形成された塗布層とを有する積層フィルムの前記塗布層の目付量測定方法において、
互いに異なる、第1波長を中心波長とする測定光と、第2波長を中心波長とする測定光とを前記積層フィルムに透過させる透光工程と、
前記積層フィルムを透過した前記測定光の透過光強度を測定する測光工程と、
前記透過光強度に基づき、前記塗布層の目付量を算出する算出工程と、
を含み、
前記算出工程にて、前記塗布層が前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数と、前記基材フィルムが前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数とに基づき、前記塗布層の目付量を算出し、
前記塗布層は、アラミドを含むアラミド層であり、
前記第1波長は、390nm以上420nm以下の範囲に含まれ、
前記第2波長は、680nm以上850nm以下の範囲に含まれる、
ことを特徴とする目付量測定方法。 - 基材フィルムと前記基材フィルムに形成された塗布層とを有する積層フィルムの前記塗布層の目付量測定方法において、
測定光を前記積層フィルムに透過させる透光工程と、
前記積層フィルムを透過した前記測定光を分光し、互いに異なる第1及び第2波長の透過光強度を測定する測光工程と、
前記透過光強度に基づき、前記塗布層の目付量を算出する算出工程と、
を含み、
前記算出工程にて、前記塗布層が前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数と、前記基材フィルムが前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数とに基づき、前記塗布層の目付量を算出し、
前記塗布層は、アラミドを含むアラミド層であり、
前記第1波長は、390nm以上420nm以下の範囲に含まれ、
前記第2波長は、680nm以上850nm以下の範囲に含まれる、
ことを特徴とする目付量測定方法。 - 基材フィルムと前記基材フィルムに形成された塗布層とを有する積層フィルムの前記塗布層の目付量測定装置において、
互いに異なる、第1波長を中心波長とする測定光と、第2波長を中心波長とする測定光とをそれぞれ投光する二つの投光器と、
前記積層フィルムを透過した前記二つの測定光の透過光強度をそれぞれ測定する二つの受光器と、
前記透過光強度に基づき、前記塗布層の目付量を算出する算出部と、
を備え、
前記算出部は、前記塗布層が前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数と、前記基材フィルムが前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数とに基づき、前記塗布層の目付量を算出し、
前記塗布層は、アラミドを含むアラミド層であり、
前記第1波長は、390nm以上420nm以下の範囲に含まれ、
前記第2波長は、680nm以上850nm以下の範囲に含まれる、
ことを特徴とする目付量測定装置。 - 基材フィルムと前記基材フィルムに形成された塗布層とを有する積層フィルムの前記塗布層の目付量測定装置において、
測定光を投光する投光器と、
前記積層フィルムを透過した前記測定光を分光し、互いに異なる第1及び第2波長の透過光強度を測定する分光部と、
前記透過光強度に基づき、前記塗布層の目付量を算出する算出部と、
を備え、
前記算出部は、前記塗布層が前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数と、前記基材フィルムが前記第1及び第2波長に対して示す各吸光度の比例係数とに基づき、前記塗布層の目付量を算出し、
前記塗布層は、アラミドを含むアラミド層であり、
前記第1波長は、390nm以上420nm以下の範囲に含まれ、
前記第2波長は、680nm以上850nm以下の範囲に含まれる、
ことを特徴とする目付量測定装置。
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