JP6527804B2

JP6527804B2 - 電磁波の測定装置、電磁波の測定方法およびプログラム

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Publication number: JP6527804B2
Application number: JP2015198486A
Authority: JP
Inventors: 裕記永島; 篤史東海林; 顕大出
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 2015-10-06
Filing date: 2015-10-06
Publication date: 2019-06-05
Anticipated expiration: 2035-10-06
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Description

本発明は、電磁波の測定を行なう技術に関する。

照明機器や照明設備の性能を調べる技術が知られている（例えば、特許文献１参照）。

特開平８−１５０９３号公報

照明設備の性能の調査は、多数の点で行う必要があるが、測定機器が作業者の影になる、測定機器の向きが適切でない等の要因により、正確な測定が行なえず異常値が測定される場合がある。

このような背景において、本発明は、電磁波の測定における異常値を効果的に検出できる技術の提供を目的とする。

請求項１に記載の発明は、複数の位置において測定した電磁波の測定データを受け付ける測定データ受付部と、前記測定データの異常値を検出する異常値検出部と、前記異常値が測定された位置を表示装置に表示させる表示制御部と作業者の操作を受け付けるＧＵＩ制御部と、前記異常値が測定された位置の再測定を指示する再測定指示部とを備え、前記複数の位置は、レーザ光の照射方向と伝搬時間から前記レーザ光の反射位置を算出する位置測定装置によって測定され、前記異常値が測定された場合に、前記異常値が測定された位置が前記表示部に表示され、前記作業者による前記異常値が測定された位置の指定を前記ＧＵＩ制御部が受け付けた場合に、前記再測定指示部は、前記位置測定装置による前記異常値が測定された位置の再測定を指示することを特徴とする電磁波の測定装置である。

請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記表示制御部は、測定フィールド内における前記電磁波の測定が行われる候補となる測定予定位置の相対位置関係を表示した図面表示と、前記図面表示の中における前記異常値が測定された位置の強調表示の制御を行うことを特徴とする。

請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の発明において、前記位置測定装置は、前記電磁波の測定を行う機器と一体化された反射プリズムの位置を測定し、前記表示制御部は、前記測定予定位置と前記位置測定装置が測定した前記反射プリズムの位置との相対値位置関係を前記表示装置に表示させることを特徴とする。

請求項４に記載の発明は、複数の位置において測定した電磁波の測定データを受け付ける測定データ受付ステップと、前記測定データの異常値を検出する異常値検出ステップと、前記異常値が測定された位置を表示装置に表示させる表示制御ステップと、作業者の操作をＧＵＩ制御部で受け付ける操作受付ステップと、前記異常値が測定された位置の再測定を指示するステップとを備え、前記複数の位置は、レーザ光の照射方向と伝搬時間から前記レーザ光の反射位置を算出する位置測定装置によって測定され、前記異常値が測定された場合に、前記異常値が測定された位置が前記表示装置に表示され、前記作業者による前記異常値が測定された位置の指定を前記ＧＵＩ制御部が受け付けた場合に、前記位置測定装置による前記異常値が測定された位置の再測定が指示されることを特徴とする電磁波の測定方法である。

請求項５に記載の発明は、コンピュータに読み取らせて実行させるプログラムであって、コンピュータを複数の位置において測定した電磁波の測定データを受け付ける測定データ受付部と、前記測定データの異常値を検出する異常値検出部と、前記異常値が測定された位置を表示装置に表示させる表示制御部と作業者の操作を受け付けるＧＵＩ制御部と、前記異常値が測定された位置の再測定を指示する再測定指示部として動作させ、前記複数の位置は、レーザ光の照射方向と伝搬時間から前記レーザ光の反射位置を算出する位置測定装置によって測定され、前記異常値が測定された場合に、前記異常値が測定された位置が前記表示部に表示され、前記作業者による前記異常値が測定された位置の指定を前記ＧＵＩ制御部が受け付けた場合に、前記再測定指示部は、前記位置測定装置による前記異常値が測定された位置の再測定を指示することを特徴とするプログラムである。

本発明によれば、電磁波の測定における異常値を効果的に検出できる技術が得られる。

照度の測定を行なう作業の概要を示す概念図である。実施形態における位置測定装置のブロック図である。実施形態における端末のブロック図である。ＵＩ表示の一例を示す図である。処理の手順の一例を示すフローチャートである。照度の測定を行う状況の一例を示す図である。処理の手順の一例を示すフローチャートである。データの一例を示す図である。データの一例を示す図である。表示装置に表示される画像の一例を示す図である。処理の手順の一例を示す図である。

１．第１の実施形態
（概要）
図１には、実施形態における照度の測定を行なう作業の概要が示されている。この例では、作業者１００が、測定ユニット２００を用いて予め定められた測定点における照度を測定する。図１には、作業者１００が測定ユニット２００および端末３００を持って移動し、３カ所において測定を行なう場合の例が概念的に示されている。

（ハードウェアの構成）
（測定ユニット）
測定ユニット２００は、棒状の支持ポール２０１、支持ポール２０１の先端に固定された反射プリズム２０２、反射プリズム２０２の上に固定された照度計２０３を備えている。支持ポール２０１は、伸縮が可能であり、反射プリズム２０２および照度計２０３の高さの位置を作業者が希望する位置に調整できる構造を有している。支持ポール２０１を伸縮させる機構は、作業者が手動で行う構造が採用されている。この伸縮を行う機構として、各種のアクチュエータや電動モータを用いることもできる。

反射プリズム２０２は、位置測定装置４００からの測定用レーザ光を位置測定装置４００に向けて反射する。照度計２０３は、電磁波測定器の一例であり、照明光の照度を測定する。照度計２０３は、作業者が手にする端末３００に接続されており、端末３００の操作により動作する。照度計２０３が測定した照度のデータは、端末３００に記憶される。照度計２０３は、水平面内の特定の方向に対して指向性を有している。支持ポール２０１を軸回りで回転させることで、照度計２０３の測定方向を調整できる。なお、端末３００を支持ポール２０１に取り付け、端末３００が測定ユニット２００と共に移動する構成も可能である。

（位置測定装置）
位置測定装置４００は、測定用レーザ光を周囲に向かって走査しつつ照射する。この測定用レーザ光が反射プリズム２０２に当たるとそこで反射され、その反射光が位置測定装置４００で受光される。位置測定装置４００は、測定用レーザ光の照射方向と伝搬時間とから位置測定装置４００からの反射プリズム２０２の方向と距離を算出する。この結果、位置測定装置４００に対する反射プリズム２０２の相対的な位置関係が判明する。ここで、位置測定装置４００の位置を予め定めておくことで、反射プリズム２０２の位置の情報が得られる。この例では、照度の測定を行う想定フィールド（測定が行われる場所）における位置測定装置４００の位置を予め決めておく。例えば、上述した測定フィールドには当該測定フィールド内での位置が明確な基準点が一または複数設けられており、この基準点に位置測定装置４００を設置することで、当該測定フィールドにおける位置測定装置４００の位置を予め既知点とすることができる。なお、位置測定装置４００の位置を予め高精度ＧＮＳＳ装置等を用いて測定する方法も可能である。

図２に位置測定装置４００のブロック図を示す。位置測定装置４００は、測定光照射部４０１、反射光受光部４０２、スキャン制御部４０３、ターゲット方位取得部４０４、距離算出部４０５、ターゲット位置算出部４０６および通信部４０７を備えている。測定光照射部４０１は、距離測定用のレーザ光を周囲に向けて走査しつつ照射する。反射光受光部４０２は、ターゲット（図１の反射プリズム２０２）に当たり、そこで反射された測定光を受光する。測定光照射部４０１と反射光受光部４０２とは、回転が可能な架台に乗せられており、周囲をスキャンしつつ測定光の照射と反射光の受光が可能とされている。

スキャン制御部４０３は、上記の測定光のスキャンを制御する。例えば、スキャンのタイミング、スキャンの方向、測定用レーザ光の発光のタイミングの制御がスキャン制御部４０３によって行われる。ターゲット方位取得部４０４は、測定光の照射方向（反射光の入射方向）から、位置測定装置４００から見たターゲット（この場合は、反射プリズム２０２）の方向を取得する。この例では、ターゲット方位取得部４０４は、水平角と上下角（仰角または俯角）の角度データを取得する。距離算出部４０５は、測定光の飛翔時間（伝搬時間）と光速から位置測定装置４００からターゲットまでの距離を算出する。

ターゲット位置算出部４０６は、位置測定装置４００から見たターゲットの方向、および位置測定装置４００とターゲットの間の距離に基づき、位置測定装置４００に対するターゲットの位置を算出する。ここで、予め位置測定装置４００の測定フィールドにおける位置が判っていれば、ターゲット（図１の反射プリズム２０２）の測定フィールドにおける位置を知ることができる。

例えば、測定フィールドにおける位置測定装置４００の位置Ｐ_０（ｘ’ｙ’ｚ’）が既知であり、このデータが位置測定装置４００に入力されている場合を考える。この場合、位置測定装置４００の位置を原点とした三次元座標系における測定された反射プリズム２０２の位置をＰ_１（ｘｙｚ）とすると、測定フィールドにおける反射プリズム２０２の位置（座標）Ｐは、Ｐ＝Ｐ_０＋Ｐ_１により求まる。この処理もターゲット位置算出部４０６で行われる。なお、Ｐ_０の値を端末３００に入力させておき、上記のＰを求める演算を端末３００で行うことも可能である。

なお、位置測定装置４００の絶対位置が既知である場合、ターゲットの絶対位置を算出できる。またこの例では、反射プリズム２０２と照度計２０３とは近接して配置されており、反射プリズム２０２の位置を照度計２０３の位置とみなしている。

通信部４０７は、端末３００との間で無線通信を行う。無線通信の規格は特に限定されないが、例えばＷｉ−Ｆｉ、Bluetooth（登録商標）、各種の無線LAN、携帯電話網等の通信規格が利用される。通信部４０７は、ターゲット位置算出部４０６が算出したターゲット（図１の反射プリズム２０２）の位置に関するデータを端末３００に送信する。また、予め求めておいた（あるいは予め定まっている）位置測定装置４００の位置のデータが通信部４０７を介して位置測定装置４００に入力される。

位置測定装置４００に係る技術については、例えば特開２０１５−０４０８３１号公報や特開２０１０−２３７１６９号公報に記載されている。

（端末）
図１に戻り、作業者１００は、端末３００を携帯している。端末は、携帯型の汎用コンピュータとして利用可能な市販のタブレットであり、ＣＰＵ、メモリおよび各種のインターフェースを備えている。端末３００としては、汎用のコンピュータを利用する以外に専用の端末を用意し、それを用いてもよい。作業者１００は、端末３００を用いて照度の測定に係る作業を行う。

端末３００は、通信部３０１、測定予定位置データ受付部３０２、測定位置データ受付部３０３、位置判定部３０４、測定指示報知部３０５、ＧＵＩ制御部３０６、表示部３０７、測定データ受付部３０８、異常値検出部３０９、再測定指示部３１０を備えている。この例では、通信部３０１および表示部３０７は、タブレットが備えたハードウェアが利用され、それ以外の機能部は、ソフトウェア的に構成されており、ＣＰＵにより特定のプログラムが実行されることでその動作が実現される。

図示する各機能部の少なくとも一部を専用の回路によって構成してもよい。例えば、図示する各機能部は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）などのＰＬＤ（Programmable Logic Device）などの電子回路により構成することができる。

各機能部を専用のハードウェアで構成するのか、ＣＰＵにおけるプログラムの実行によりソフトウェア的に構成するのかは、要求される演算速度、コスト、消費電力等を勘案して決定される。例えば、特定の機能部をＦＰＧＡで構成すれば、処理速度の上では優位であるが高コストとなる。他方で、ＣＰＵでプログラムを実行することで特定の機能部を実現する構成は、汎用のハードウェアを利用できるのでコスト的に優位となる。しかしながら、ＣＰＵで機能部を実現する場合、処理速度は、専用のハードウェアに比較して見劣りする。また、ＣＰＵで機能部を実現する場合、複雑な演算に対応できない場合もあり得る。なお、機能部を専用のハードウェアで構成することとソフトウェア的に構成することとは、上述した違いはあるが、特定の機能を実現するという観点からは、等価である。また、一つの回路で複数の機能部を実現する構成も可能である。

通信部３０１は、位置測定装置４００（図１および図２参照）および他の装置との間で通信を行う。通信の規格は、公知の各種のものを利用できる。測定予定位置データ受付部３０２は、照度の測定を行う候補となる予定位置である測定予定位置に係るデータを受け付ける。照度の測定を行う測定予定位置は、予め決められており、通信部３０１を介して端末３００に入力される。勿論、公知の記憶媒体（ＵＳＢメモリ等）を介して、測定予定位置のデータを端末３００に入力してもよい。なお、受け付けた測定予定位置のデータは、端末３００の図示しない記憶手段（半導体メモリ等）に記憶される。

測定位置データ受付部３０３は、位置測定装置４００が測定した反射プリズム２０２の測定位置のデータを受け付ける。この測定位置のデータは、通信部３０１で受信され、測定位置データ受付部３０３に送られる。

位置判定部３０４は、測定位置データ受付部３０３が受け付けた反射プリズム２０２の測定位置と、測定予定位置データ受付部３０２が受け付けた予め決められている測定予定位置とを比較し、測定位置と測定予定位置の差が予め定めた範囲以下であるか否かを判定する。測定指示報知部３０５は、位置判定部３０４が測定位置と測定予定位置の差が予め定めた範囲内であると判定した場合に、照度の測定を作業者に促す報知に係る処理を行う。

ＧＵＩ制御部３０６は、後述するＧＵＩ(Graphical User Interface)の制御を行う。ＧＵＩの制御は、通常のタブレットが備える機能を利用して行われる。ＧＵＩ制御部により、後述するＵＩ(User Interface)表示の制御が行なわれる。表示部３０７は、端末３００が備える液晶表示装置である。表示部３０７は、タッチパネルセンサを備え、画面を用いた各種の操作が行なえる仕様となっている。この点は、市販されているタブレットの機能を利用している。

測定データ受付部３０８は、照度計２０３が測定した照度のデータを受け付ける。照度計２０３が測定した照度のデータは、位置測定装置４００が測定した反射プリズム２０３（照度計２０２）の位置のデータおよび測定時刻のデータと関連付けされて端末３００内の適当な記憶領域（半導体メモリ等）に記憶される。

異常値検出部３０９は、測定値の中から異常値を検出する。異常値を検出する方法については後述する。再測定指示部３１０は、異常値が検出され、更にそれが指定された場合に位置測定装置４００に対して反射プリズム２０２の位置の測定を指示する処理を行う。再測定の指示は、作業者１００が行う場合と特定の条件が満足された場合に自動的に行う場合が挙げられる。

また、端末３００は、姿勢センサを備えており（外付けでもよい）、後述するキャリブレーションを行うことで、測定環境における端末３００の姿勢を取得する機能を有している。

（動作の概要）
位置測定装置４００は、ターゲットである図１の反射プリズム２０２の位置を測定し、その情報を端末３００に無線通信で送信する。端末３００は、予め定めた測定予定位置と位置測定装置４００が測定した反射プリズム２０２の測定位置とを比較し、その位置関係を算出する。また、反射プリズム２０２の測定予定位置と実際に測定した測定位置との位置関係が端末３００の表示部３０７にグラフィカルに表示される（図４参照）。

作業者は、この端末３００の表示部３０７に表示された図４に例示されるＵＩ画面を見て、測定ユニット２００と共に測定予定位置に近づく。そして、特定の条件が満足された場合に、照度の測定を促す報知が作業者に行われる。この報知を受け、作業者は、その位置で照度計２０３（図１参照）を用いた照度の測定を行う。この作業を測定予定位置毎に繰り返すことで、各測定予定位置における照度の測定が行われる。

（ＧＵＩ表示画面の一例）
図４に端末３００（図３参照）の表示部３０７に表示されるＧＵＩ画面（ＵＩ画面）の一例を示す。図４に示す画面を用いたＧＵＩの制御は、ＧＵＩ制御部３０６において行われる。図４（Ａ）には、その時点における反射プリズム２０２の位置を基準とした測定予定位置の方向（方位）、測定予定位置までの水平方向の距離、および垂直方向の距離が表示されている。図４の場合、その時点における反射プリズム２０２の位置から、右斜め前方４５°の方向に水平距離で１２ｍ、垂直方向に＋１．２ｍの位置に測定予定位置がある状態が示されている。なお、詳細は後述するが、端末３００は、姿勢センサを有し、図４の表示画面の向きを周囲環境に合った向きとなるように表示が制御されている。すなわち、端末３００の向きによらず、表示される矢印が常に測定予定位置の方向を向くように矢印の表示が制御されている。

図４（Ｂ）には、測定予定位置に対して、Ｘ方向（右方向）に１．４５ｍ、Ｙ方向（前方向）に１．３８ｍ、高さ方向で後１．２ｍの位置まで反射プリズム２０２が近付いた状態が示されている。この場合、反射プリズム２０２をＸ方向（右方向）に１．４５ｍ、Ｙ方向（前方向）に１．３８ｍ動かし、更に鉛直上の方向に１．２ｍ動かすことで、反射プリズム２０２の位置が測定予定位置となる。なお、反射プリズム２０２と照度計２０３の位置は近接しており、両者は同一の三次元位置にあるとみなせるので、反射プリズム２０２を測定予定位置に動かすことで、測定予定位置での照度計２０３による照度の測定が可能となる。

図４（Ｃ）には、測定予定位置に対して、Ｘ方向（右方向）に０．５８ｍ、Ｙ方向（前方向）に０．５６ｍ、高さ方向で１．２ｍの位置まで反射プリズム２０２が近付いた状態が示されている。図４（Ｄ）には、測定予定位置に対して、Ｘ方向（右方向）に０．２１ｍ、Ｙ方向（前方向）に０．２２ｍ、高さ方向で−０．１７ｍの位置まで反射プリズム２０２が近付いた状態が示されている。ここで、−０．１７ｍという表示は、測定予定位置が反射プリズム２０２よりも０．１７ｍ低い位置にあることを示している。この場合、反射プリズム２０２の高さ位置を０．１７ｍ下げると、反射プリズム２０２は測定予定位置の高さとなる。

また、この例では、測定予定位置から半径７０ｃｍ以内で照度の測定を行う仕様とされており、反射プリズム２０２の測定位置と測定予定位置との水平距離が７０ｃｍに近くなると、その旨が画面上で確認できるように画面上に半径７０ｃｍに相当する同心円が表示される。この状態が図４（Ｂ）〜図４（Ｄ）に示されている。

図４（Ｃ）には、水平面内では反射プリズム２０２の位置が７０ｃｍ以下の距離に近づいたが、鉛直方向の距離が測定予定位置まで１．２ｍ不足している状態が示されている。図４（Ｄ）には、水平方向の距離に加えて鉛直方向の距離も７０ｃｍ以内の範囲となった状態が示されている。この例では、反射プリズム２０２の測定予定位置と測定位置との距離が７０ｃｍ以下になると、画面の一部の色や濃淡の変化、点滅といった強調表示となり、その旨が作業者に報知される。この報知は、音響的なものを利用することもできる。図４（Ｄ）の例では、「測定」を指示するアイコンが強調表示された状態が示されている。この場合、作業者が画面上の強調表示された部分に触れると、照度の測定が照度計２０３によって行われる。

（処理の一例）
図５には、処理の手順の一例を示すフローチャートが示されている。図５の処理を実行するためのプログラムは、端末３００内のメモリに記憶されている。このプログラムは、適当な記憶媒体に記憶させ、そこから提供される形態であってもよい。これは、後述する異常値の検出に係る処理についても同じである。

ここでは、車両６００のライト（ヘッドライトとテールランプ）の照度を測定する例を説明する。図６には、車両６００の前方と後方の三次元空間中に格子状に複数の測定予定位置６０１が設定された状態が示されている。なお、ここでは車両として乗用車の例を示すが、トラックやバス、クレーン車等の特殊車両であってもよい。

図６に示す測定予定位置６０１の車両６００に対する相対位置関係、および測定予定位置の格子間隔は予め定められている。例えば、当該車両の設計時に測定予定位置が決められ、また各測定予定位置における照度の測定値の下限や範囲も予め定められている。ここでは、照度の例を説明するが、照明光の色度についての基準を定め、例えば各測定点における色度の範囲を予め定めることもできる。なお、図６の測定を行う測定フィールドは、野外でもよいし、室内であってもよい。

図７には、陸上競技場の例が示されている。この場合、陸上競技場の２次元平面上に格子状に複数の測定予定位置が設定される。勿論、この場合において、図６のような３次元空間中に測定予定位置を設定することもできる。

測定に先立ち、まず位置測定装置４００を既知の位置に設置する。次に、端末３００のキャリブレーションを行い端末３００が方位を測定できるようにする。この処理は、以下のようにして行われる。まず、端末３００に図６や図７の測定が行われる測定フィールドの地図情報を入力する。そして、当該測定フィールドの複数の位置で端末３００の位置を、位置測定装置４００を用いて測定する。この処理では、反射プリズム２０２に端末３００を近接させ、端末３００の位置を測定する。各測定点における端末３００の姿勢は、端末３００が内蔵する姿勢センサによって判るので、上記の当該測定フィールドの地図情報と端末３００の姿勢との関係を取得する。この結果、図４の情報を端末３００の表示部３０７に表示させた際に、現場の状況にあった画面の向きが常に表示できるようになる。すなわち、端末３００の向きを変えても常に測定予定位置の方向が視覚的に把握できるように図４の表示が行われる。

以下、図５を参照して作業の手順の一例を説明する。ここでは、図６の場合の測定を行う例を説明する。まず、位置測定装置４００の位置データを端末３００に入力する（ステップＳ１０１）。上述したように、位置測定装置４００の測定フィールド上における設置位置は既知であり、その位置データが端末３００に入力される。次に、予め定めておいた図６に例示する測定予定位置のデータを端末３００に入力する（ステップＳ１０２）。

ステップＳ１０１およびＳ１０２の処理が終了したら、端末３００を利用した作業者１００の測定点への誘導に係る処理が行なわれる（ステップＳ１０３）。ステップ１０３では、以下の処理が行なわれる。まず、端末上で図４に例示する処理に係るプログラムを起動すると、最初に到達すべき測定予定位置６０１（図６の格子点の一つ）が選択され、そこへの誘導を促すＵＩ画面表示（図４参照）が端末３００の表示部３０７に表示される。作業者１００は、図４に例示されるＵＩ表示を利用して、格子状に設定された測定予定位置６０１の一つに照度計２０３を誘導する。この作業は、作業者が端末３００を見ながら測定ユニット２００を手に持ち、徒歩で移動することで行われる。

例えば、最初に図４（Ａ）の表示が行われた場合、作業者は、表示された測定予定位置の方位と距離を把握し、当該測定予定位置に向かって徒歩で移動する。測定予定位置に近づくと、図４（Ｂ）に示すような、現在位置と測定予定位置との相対位置関係が視覚的に把握し易い表示画面に切り替わる。図４（Ｂ）の状態から更に測定予定位置に近づき、水平面内における反射プリズム２０２の位置が測定予定位置と見なせる範囲（この場合は、半径７０ｃｍの範囲）に入った状態が図４（Ｃ）に示されている。

図４（Ｃ）の状態から更に目標とする水平面内の位置に近づき、更に支持ポール２０１の長さを調整して反射プリズム２０２の高さ位置を調整した状態が図４（Ｄ）に示されている。図４（Ｄ）には、反射プリズム２０２の三次元位置が測定予定位置から半径７０ｃｍの範囲内に入り、その旨を作業者１００に報知する強調表示が行われている状態が示されている。この例では、測定の開始を指示する画面上のアイコンが点滅し、反射プリズム２０２（照度計２０３）が測定予定位置に到達し、照度の測定が可能な状態である旨を作業者１００に報知する画面表示が行われる。

この段階で作業者が端末３００を操作し、照度の測定を指示すると、照度計２０３による照度の測定が行われる（ステップＳ１０４）。測定された照度のデータは、測定データ受付部３０８に送られ、端末３００内のメモリに設定された記憶ファイルに記憶される。この際、測定位置の座標データおよび測定時刻のデータと関連付けして照度のデータが記憶される（ステップＳ１０５）。この例において、照度の測定は、鉛直方向と水平方向（路面上で）の照度を測定する。勿論、鉛直方向と水平方向の一方の測定であってもよい。

以上の処理を格子状に設定された各測定予定位置６０１において順次行うことで、各測定予定位置における照度のデータが得られる。

（異常値の検出）
（その１）
例えば、図６や図７の場合、要求される照度は予め定められており、正常値と判定される範囲が予め定められている。例えば、陸上競技場であれば、「全ての点で○○○ｌｘ以上」という規定が予め定められている。この要求値を用いて、異常値の判定を行うことができる。この場合、得られた測定値が要求値を満たしていない場合に、その測定値が異常値と判定される。

（その２）
以下の例では、測定されたデータ群の平均値からのずれが予め定めた範囲を超えている場合に、その測定値を異常値と判定する。例えば、測定値の平均値の±２０％の範囲に収まらない測定値を異常値と判定する。この例では、一通りデータの測定を行った後の後処理において異常値の検出が行われる。

図８に測定値のデータの一例を示す。図８のデータは、端末３００の表示部３０７に表示させることができる。図８には、Ａ１１〜Ａ１７までの７カ所の測定位置におけるデータが示されている。Ａ１１〜Ａ１７の各位置の座標値は、予め定めた測定予定位置に対応している。Ａ１１〜Ａ１７への誘導は、上述した図４のＵＩ表示を利用して行われる。図８には、測定値の下限値、測定値の平均値、測定値の上限値が表示されている。

（その３）
異常値を検出する方法として、着目位置の測定値と、当該着目位置に空間的に隣接する測定位置の測定値とを比較する方法もある。例えば、図６の場合であれば、注目位置に隣接する測定位置は最大で２６箇所ある。また、図７の場合であれば、注目位置に隣接する測定位置は最大で８箇所ある。

例えば、図６の場合を例に挙げ説明する。まず、注目位置に隣接する複数の測定位置の測定値を取得し、その中の最小値と最大値を除外し、残った測定値の平均値を求める。次に、注目位置の測定値が先の平均値からどれ位ずれているのかを判定する。例えば、閾値を設定し、注目位置と当該平均値との差がこの閾値以内に収まっているか否かを判定する。

ある点の照度の値が周囲の点と大きく異なる場合、その値が異常値である可能性が高い。上記の判定によれば、隣接する測定点の測定値と比較して相対的に着目点の測定値が離れすぎているか否か、が定量的に判定される。

（その４）
図８のようなデータを得るための測定を複数回繰り返す場合がある。この場合、例えばＡ１１の位置に着目すると、時間差をおいてＡ１１における照度の測定が行われる。これは、他の測定位置においても同じである。この場合、時間差をおいて測定した同一位置における２つの測定値に閾値以上の差があった場合、２つの測定値のいずれか一方が異常値であると判定される。また、どちらが異常値であるのかは、本明細書で開示する他の方法を用いることで判定できる。また、同一場所で３回以上の測定が行われる場合に、一つだけ離れた値の測定値を異常値として検出する方法もある。

（その５）
上述した異常値の検出方法を複数用いて判定を行い、「異常値の可能性あり」と判定された方法が予め定めた数を超えた場合に、その注目位置の測定値を異常値として検出することもできる。

以上説明した（その１）〜（その４）の例では、測定を行った後に後処理で異常値の検出を行うが、測定を行っている最中に異常値の検出を行うこともできる。この場合、測定予定位置での測定を行う毎に異常値の検出を行うための処理が行なわれる。

（ＵＩ画面）
以下、異常値が検出された際のＵＩ表示について説明する。以下のＵＩ表示に係る処理は、ＧＵＩ制御部３０６において行われる。上記の異常値の検出の結果は、表示部３０７に表示される。図８には、表示内容の一例が示されている。例えば、図８におけるＡ１３の測定値が異常値と判定された場合、図９の表示が行われる。

図９には、Ａ１３の測定位置における測定値が異常値と判定された場合が示されている。この場合、Ａ１３に係るデータ表示が強調表示となり、作業者の注意を喚起する工夫がされている。図９の状態において、Ａ１３の部分を選択すると、測定予定位置Ａ１３に係るステップＳ１０３の処理が実行され、図４に例示するＵＩ表示を用いた測定予定位置Ａ１３への誘導が行われる。この場合、反射プリズム２０２の位置を位置測定装置４００で測定した測定データが端末３００で受け付けられ、測定予定位置をＡ１３の位置とした図４の表示が行われる。

また、Ａ１３の測定位置の測定フィールドにおける位置を視覚的に確認する画面表示を行うこともできる。図１０には、図７の測定フィールドの例において、異常値と判定された測定位置を強調表示（２重円で囲った部分）した場合の一例が示されている。図１０の内容を表示部３０７に表示させることで、測定値が異常値と判定された位置を作業者が空間的に把握することが可能となる。図１０の表示に係る制御は、ＧＵＩ制御部３０６によって行われる。

また、図９または図１０の画面上で作業者がＡ１３を指定すると、位置測定装置４００に反射プリズム２０２の再測定を指示する処理が行われる。この処理は、再測定指示部３１０によって行われる。この場合、通信部３０１から通信部４０７に再測定を指示する旨の信号が送信され、位置測定装置４００における反射プリズム２０２の位置の再測定が行われる。

以下、異常値の検出およびその後の再測定に係る処理の一例を説明する。図１１に処理の手順の一例を示す。まず、異常値の有無が判定される（ステップＳ２０１）。異常値が検出されると、異常値が検出された測定位置に係るデータの表示が行われる（ステップＳ２０２）。

異常値が検出された測定位置に係るデータの表示としては、図９や図１０の例が挙げられる。図９の場合は、異常値が検出された測定位置に係るデータの表示として、座標位置に割り当てられた符号（例えばＡ１３）が表示され、図１０の場合は、異常値が検出された測定位置に係るデータの表示として、該当する位置を視覚的に把握できる図形（図面）が表示される。

その後、異常値とされた測定位置を作業者１００が指定したか否か、が判定され（ステップＳ２０３）、作業者１００による指定があった場合に再測定指示が位置測定装置４００に対して行われる（ステップＳ２０４）。作業者１００による指定は、タッチパネルディスプレイ上の該当する表示位置を指先やタッチペンでタッチすることで行われる。勿論、公知のマウス等のポインティングデバイスを用いての指定も可能である。

この結果、図４に例示するＵＩ表示を用いた測定予定位置の探索が行える状態となり、異常値が測定された位置での再度の照度の測定が可能となる。図１１の処理によれば、異常値と判定された測定位置における再測定を効率よく行える。

３．その他
照度に加えて、色度や波長分布特性等のデータの測定を行うこともできる。また、通信用の電磁波（例えば、無線ＬＡＮの電波）の測定、ガンマ線等の放射線の測定、視認できない紫外領域や赤外領域の光の測定、高圧送電線や高圧電気設備が発生する電磁波の測定といった技術に本発明を利用することができる。

測定の対象となるフィールドは、特に限定されず、何らかの作業を行う部屋、教室、講堂、イベント施設、図書館、各種の公共空間、商業施設、公共交通機関の室内等が選択可能である。

図３に示す一部の機能部を端末３００とは別の外部機器で実現してもよい。この場合、システムの発明として本発明を把握することができる。

Claims

複数の位置において測定した電磁波の測定データを受け付ける測定データ受付部と、
前記測定データの異常値を検出する異常値検出部と、
前記異常値が測定された位置を表示装置に表示させる表示制御部と
作業者の操作を受け付けるＧＵＩ制御部と、
前記異常値が測定された位置の再測定を指示する再測定指示部と
を備え、
前記複数の位置は、レーザ光の照射方向と伝搬時間から前記レーザ光の反射位置を算出する位置測定装置によって測定され、
前記異常値が測定された場合に、前記異常値が測定された位置が前記表示部に表示され、
前記作業者による前記異常値が測定された位置の指定を前記ＧＵＩ制御部が受け付けた場合に、前記再測定指示部は、前記位置測定装置による前記異常値が測定された位置の再測定を指示することを特徴とする電磁波の測定装置。
前記表示制御部は、
測定フィールド内における前記電磁波の測定が行われる候補となる測定予定位置の相対位置関係を表示した図面表示と、
前記図面表示の中における前記異常値が測定された位置の強調表示の制御を行うことを特徴とする請求項１に記載の電磁波の測定装置。
前記位置測定装置は、前記電磁波の測定を行う機器と一体化された反射プリズムの位置を測定し、
前記表示制御部は、前記測定予定位置と前記位置測定装置が測定した前記反射プリズムの位置との相対値位置関係を前記表示装置に表示させることを特徴とする請求項２に記載の電磁波の測定装置。
複数の位置において測定した電磁波の測定データを受け付ける測定データ受付ステップと、
前記測定データの異常値を検出する異常値検出ステップと、
前記異常値が測定された位置を表示装置に表示させる表示制御ステップと、
作業者の操作をＧＵＩ制御部で受け付ける操作受付ステップと、
前記異常値が測定された位置の再測定を指示するステップと
を備え、
前記複数の位置は、レーザ光の照射方向と伝搬時間から前記レーザ光の反射位置を算出する位置測定装置によって測定され、
前記異常値が測定された場合に、前記異常値が測定された位置が前記表示装置に表示され、
前記作業者による前記異常値が測定された位置の指定を前記ＧＵＩ制御部が受け付けた場合に、前記位置測定装置による前記異常値が測定された位置の再測定が指示されることを特徴とする電磁波の測定方法。
コンピュータに読み取らせて実行させるプログラムであって、
コンピュータを
複数の位置において測定した電磁波の測定データを受け付ける測定データ受付部と、
前記測定データの異常値を検出する異常値検出部と、
前記異常値が測定された位置を表示装置に表示させる表示制御部と
作業者の操作を受け付けるＧＵＩ制御部と、
前記異常値が測定された位置の再測定を指示する再測定指示部と
して動作させ、
前記複数の位置は、レーザ光の照射方向と伝搬時間から前記レーザ光の反射位置を算出する位置測定装置によって測定され、
前記異常値が測定された場合に、前記異常値が測定された位置が前記表示部に表示され、
前記作業者による前記異常値が測定された位置の指定を前記ＧＵＩ制御部が受け付けた場合に、前記再測定指示部は、前記位置測定装置による前記異常値が測定された位置の再測定を指示することを特徴とするプログラム。