JP6500880B2 - Method of sorting electronic parts, sorting apparatus of electronic parts, manufacturing apparatus of taping electronic part series - Google Patents
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Description
本発明は、電子部品の選別方法、電子部品の選別装置、テーピング電子部品連の製造装置に関する。 The present invention relates to an electronic component sorting method, an electronic component sorting apparatus, and a manufacturing apparatus of a taping electronic component series.
従来、チップインダクタ等の電子部品の電極には、電解めっきが施される。電極に電解めっきを施す際に電極の間に電流が流れるため、電子部品が磁気を帯びる場合がある。電子部品における磁気は、その電子部品の電気的特性に影響する。このため、環状のソレノイドを通過させて電子部品の磁気を除去する方法が各種提案されている(例えば、特許文献1,2参照)。
Conventionally, electrodes of electronic components such as chip inductors are subjected to electrolytic plating. When a current is applied between the electrodes when the electrodes are subjected to electrolytic plating, the electronic component may become magnetic. Magnetism in an electronic component affects the electrical properties of the electronic component. Therefore, various methods have been proposed for removing the magnetism of the electronic component by passing the annular solenoid (see, for example,
チップインダクタのように磁性体を含む電子部品では、磁性体における磁力が特性値(例えばインピーダンス値)に影響する。電子部品の製造工程において、抵抗値やインピーダンス値等の特性値が測定される。そして、電子部品の外部電極に、バイアスを印加した測定端子を接触させて測定端子と接する外部電極の接触部分をクリーニングし、測定端子を介して電子部品のインピーダンス値を測定する場合がある。この場合も、電極の間に電流が流れるため、電子部品が磁気を帯びる場合がある。この測定結果に基づいて選別された電子部品に対して脱磁処理が行われる。このため、脱磁処理における特性変化を考慮した電子部品の選別が要求される。 In an electronic component including a magnetic material, such as a chip inductor, the magnetic force in the magnetic material affects the characteristic value (for example, the impedance value). In the manufacturing process of the electronic component, characteristic values such as resistance value and impedance value are measured. Then, the measurement terminal to which a bias is applied is brought into contact with the external electrode of the electronic component to clean the contact portion of the external electrode in contact with the measurement terminal, and the impedance value of the electronic component may be measured via the measurement terminal. Also in this case, since the current flows between the electrodes, the electronic component may become magnetic. A demagnetization process is performed on the electronic component selected based on the measurement result. For this reason, sorting of electronic parts in consideration of characteristic changes in the demagnetization process is required.
本発明は上記問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、脱磁処理を考慮した選別を可能とした電子部品の選別方法、電子部品の選別装置、テーピング部品連の製造装置を提供することにある。 The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object thereof is to provide a method of sorting electronic parts, sorting apparatus for electronic parts, and a series of taping parts, in which sorting with demagnetization is possible. It is in providing an apparatus.
上記課題を解決する電子部品の選別方法は、磁性材料を含む電子部品の選別方法であって、前記電子部品は選別後に脱磁処理されるものであり、前記電子部品の外部電極に、バイアスを印加した測定端子を接触させて前記測定端子と接する前記外部電極の接触部分をクリーニングし、前記測定端子を介して前記電子部品のインピーダンス値を測定する工程と、前記電子部品に対応する上限選別閾値及び下限選別閾値と測定したインピーダンス値とを比較して前記電子部品の良否を判定し、良品の前記電子部品を選別する工程と、を含み、前記上限選別閾値と前記下限選別閾値とを、前記電子部品の出荷のための出荷上限閾値及び出荷下限閾値と、前記電子部品の脱磁において前記インピーダンス値が変化する脱磁変化率とに基づいて、
上限選別閾値=出荷上限閾値×(1+脱磁変化率)
下限選別閾値=出荷下限閾値×(1+脱磁変化率)
により設定する。
この構成によれば、脱磁によって変化する特性値に応じた脱磁変化率に基づいて上限選別閾値と下限選別閾値とを設定して電子部品を選別することで、脱磁処理を考慮して電子部品の選別を行うことができる。
A method of sorting electronic components to solve the above problems is a method of sorting electronic components containing a magnetic material, wherein the electronic components are demagnetized after sorting, and a bias is applied to the external electrodes of the electronic components. Contacting the applied measurement terminal to clean the contact portion of the external electrode in contact with the measurement terminal and measuring the impedance value of the electronic component through the measurement terminal; and the upper limit sorting threshold value corresponding to the electronic component And a step of comparing the lower limit sorting threshold with the measured impedance value to determine the quality of the electronic component and sorting the non-defective electronic component, the upper limit sorting threshold and the lower limit sorting threshold, A shipping upper limit threshold and a shipping lower limit threshold for shipping electronic components, and a demagnetization change rate at which the impedance value changes in the demagnetization of the electronic components,
Upper limit sorting threshold = shipping upper limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Lower limit sorting threshold = shipping lower limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Set by
According to this configuration, the upper limit sorting threshold value and the lower limit sorting threshold value are set based on the demagnetization change rate according to the characteristic value that changes due to demagnetization to sort the electronic component, thereby taking demagnetization processing into consideration. It is possible to sort electronic parts.
上記の電子部品の選別方法は、前記脱磁変化率を、脱磁前のインピーダンス値と脱磁後のインピーダンス値とに基づいて、
脱磁変化率=(脱磁前インピーダンス値−脱磁後インピーダンス値)/脱磁後インピーダンス値
により算出することが好ましい。
この構成によれば、脱磁により変化するインピーダンス値による脱磁変化率を容易に設定することができる。
The method of sorting electronic components described above is characterized in that the rate of change of demagnetization is based on an impedance value before demagnetization and an impedance value after demagnetization.
It is preferable to calculate by the demagnetization change rate = (impedance value before demagnetization−impedance value after demagnetization) / impedance value after demagnetization.
According to this configuration, it is possible to easily set the demagnetization change rate based on the impedance value that changes due to demagnetization.
上記の電子部品の選別方法において、前記電子部品は、積層された複数のコイルパターンからなるコイル導体を含む積層インダクタであり、前記コイルパターンの積層方向を高さ方向Tとし、前記コイルパターンと平行な方向を幅方向Wとし、高さ方向T及び幅方向Wと直交する方向を長さ方向Lとし、長さ方向Lと幅方向Wとにより規定されるLW面において前記測定する工程を実施した場合のインピーダンス値の脱磁による変化率をLW方向脱磁変化率とし、長さ方向Lと高さ方向Tとにより規定されるLT面において前記測定する工程を実施した場合のインピーダンス値の脱磁による変化率をLT方向脱磁変化率とし前記上限選別閾値と前記下限選別閾値とを、
上限選別閾値=出荷上限閾値×(1+LW方向脱磁変化率)
下限選別閾値=出荷下限閾値×(1+LT方向脱磁変化率)
により設定することが好ましい。
この構成によれば、特性の測定値に方向性を有する電子部品において、その方向性に応じた脱磁変化率を設定することで、脱磁処理を考慮して電子部品の選別を行うことができる。
In the above-described method for sorting electronic components, the electronic component is a multilayer inductor including a coil conductor composed of a plurality of stacked coil patterns, the stacking direction of the coil patterns is a height direction T, and is parallel to the coil patterns Direction is the width direction W, and the direction orthogonal to the height direction T and the width direction W is the length direction L, and the measurement step is performed on the LW plane defined by the length direction L and the width direction W The rate of change of impedance value in the case due to demagnetization is defined as the rate of demagnetization change in the LW direction, and demagnetization of the impedance value in the case of performing the measurement step on the LT plane defined by the length direction L and height direction T The rate of change due to L is the LT direction demagnetization rate of change, and the upper limit sorting threshold and the lower limit sorting threshold are
Upper limit sorting threshold = shipping upper limit threshold × (1 + LW direction demagnetization change rate)
Lower limit sorting threshold = shipping lower limit threshold × (1 + LT direction demagnetization change rate)
It is preferable to set by.
According to this configuration, in the electronic component having directivity in the measurement value of the characteristic, the electronic component sorting can be performed in consideration of the demagnetization processing by setting the demagnetization change rate in accordance with the directivity. it can.
上記の電子部品の選別方法は、前記LW面の前記外部電極に前記測定端子を接触させて測定した脱磁前のインピーダンス値をZ1、脱磁後のインピーダンス値をZ2とし、前記LW方向脱磁変化率を、
LW方向脱磁変化率=(Z1−Z2)/Z2
により設定し、前記LT面の前記外部電極に前記測定端子を接触させて測定した脱磁前のインピーダンス値をZ3、脱磁後のインピーダンス値をZ4とし、前記LT方向脱磁変化率を、
LT方向脱磁変化率=(Z3−Z4)/Z4
により設定することが好ましい。
この構成によれば、特性の測定値に方向性を有する電子部品において、その方向性に応じた脱磁変化率を設定することで、脱磁処理を考慮して電子部品の選別を行うことができる。
In the above method of sorting electronic components, the impedance value before demagnetization measured by bringing the measurement terminal into contact with the external electrode on the LW surface is Z1 and the impedance value after demagnetization is Z2, and the LW direction demagnetization is performed. Rate of change,
LW direction demagnetization change rate = (Z1-Z2) / Z2
The impedance value before demagnetization measured by bringing the measurement terminal into contact with the external electrode on the LT surface is Z3 and the impedance value after demagnetization is Z4, and the LT direction demagnetization change rate is
LT direction demagnetization change rate = (Z3-Z4) / Z4
It is preferable to set by.
According to this configuration, in the electronic component having directivity in the measurement value of the characteristic, the electronic component sorting can be performed in consideration of the demagnetization processing by setting the demagnetization change rate in accordance with the directivity. it can.
上記の電子部品の選別方法は、前記電子部品の抵抗値を測定する工程を含み、前記電子部品の良否を判定する工程において、前記インピーダンス値と前記抵抗値とに基づいて判定することが好ましい。
この構成によれば、抵抗値とインピーダンス値とに基づいて電子部品の良否を判定して選別することができる。
The method for sorting electronic components described above preferably includes the step of measuring the resistance value of the electronic component, and in the step of determining the quality of the electronic component, the determination is preferably performed based on the impedance value and the resistance value.
According to this configuration, the quality of the electronic component can be determined and sorted based on the resistance value and the impedance value.
上記課題を解決する電子部品の選別装置は、磁性材料を含む電子部品の選別装置であって、前記電子部品は選別後に脱磁処理されるものであり、前記電子部品の外部電極に、バイアスを印加した測定端子を接触させて前記測定端子と接する前記外部電極の接触部分をクリーニングし、前記測定端子を介して前記電子部品のインピーダンス値を測定する測定部と、前記電子部品に対応する上限選別閾値及び下限選別閾値と測定したインピーダンス値とを比較して前記電子部品の良否を判定する制御部と、前記制御部の判定結果に基づいて、良品の前記電子部品を選別する選別部と、を含み、前記制御部は、前記上限選別閾値と前記下限選別閾値とを、前記電子部品の出荷のための出荷上限閾値及び出荷下限閾値と、前記電子部品の脱磁において前記インピーダンス値が変化する脱磁変化率とに基づいて、
上限選別閾値=出荷上限閾値×(1+脱磁変化率)
下限選別閾値=出荷下限閾値×(1+脱磁変化率)
により設定する。
この構成によれば、脱磁によって変化する特性値に応じた脱磁変化率に基づいて上限選別閾値と下限選別閾値とを設定して電子部品を選別することで、脱磁処理を考慮して電子部品の選別を行うことができる。
An apparatus for sorting electronic components that solves the above problems is an apparatus for sorting electronic components including a magnetic material, wherein the electronic components are demagnetized after sorting, and a bias is applied to the external electrodes of the electronic components. A measuring unit which contacts the applied measurement terminal to clean the contact portion of the external electrode in contact with the measurement terminal and measures the impedance value of the electronic component through the measurement terminal, and upper limit sorting corresponding to the electronic component A control unit that determines the quality of the electronic component by comparing the threshold value and the lower limit selection threshold value with the measured impedance value; and a sorting unit that sorts the non-defective electronic component based on the determination result of the control unit. The control unit includes the upper limit sorting threshold and the lower limit sorting threshold, a shipping upper limit threshold and a shipping lower limit threshold for shipping the electronic component, and the demagnetization of the electronic component. Based on the de-磁変 rate whose serial impedance value changes,
Upper limit sorting threshold = shipping upper limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Lower limit sorting threshold = shipping lower limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Set by
According to this configuration, the upper limit sorting threshold value and the lower limit sorting threshold value are set based on the demagnetization change rate according to the characteristic value that changes due to demagnetization to sort the electronic component, thereby taking demagnetization processing into consideration. It is possible to sort electronic parts.
上記課題を解決するテーピング電子部品連の製造装置は、長手方向に沿って間隔を開けて形成された複数の収容穴を有するキャリアテープと、前記収容穴に収容された電子部品と、前記収容穴を塞ぐカバーテープとを有するテーピング電子部品連を生成するテーピング電子部品連の製造装置であって、前記電子部品を前記キャリアテープに搬送する搬送部と、前記搬送部における前記電子部品の搬送経路に設けられ、前記電子部品に接触させる一対の測定端子の間にバイアス電圧を印加して前記電子部品の外部電極に接触させて前記測定端子と接する前記外部電極の接触部分をクリーニングし、前記測定端子を介して前記電子部品の特性を測定する測定部と、前記電子部品に対応する上限選別閾値及び下限選別閾値と測定したインピーダンス値とを比較して前記電子部品の良否を判定する制御部と、前記制御部の判定結果に基づいて、良品の前記電子部品を選別する選別部と、前記テーピング電子部品連を巻き取る巻き取り部と、前記搬送部と前記巻き取り部との間に配設された脱磁装置と、を含み、前記制御部は、前記上限選別閾値と前記下限選別閾値とを、前記電子部品の出荷のための出荷上限閾値及び出荷下限閾値と、前記電子部品の脱磁において前記インピーダンス値が変化する脱磁変化率とに基づいて、
上限選別閾値=出荷上限閾値×(1+脱磁変化率)
下限選別閾値=出荷下限閾値×(1+脱磁変化率)
により設定する。
この構成によれば、脱磁によって変化する特性値に応じた脱磁変化率に基づいて上限選別閾値と下限選別閾値とを設定して電子部品を選別することで、脱磁処理を考慮して電子部品の選別を行うことができる。
The manufacturing apparatus of the taping electronic component train which solves the above-mentioned subject includes a carrier tape which has a plurality of accommodation holes formed at intervals along the longitudinal direction, an electronic component accommodated in the accommodation hole, and the accommodation hole. An apparatus for producing a taping electronic component series for producing a taping electronic component series having a cover tape for closing the transport tape, the transport section transporting the electronic component to the carrier tape, and the transport path of the electronic component in the transport section A bias voltage is applied between the pair of measurement terminals brought into contact with the electronic component to contact the external electrode of the electronic component to clean the contact portion of the external electrode in contact with the measurement terminal; And a measurement unit for measuring the characteristics of the electronic component via the sensor, and an impedance measured with an upper limit sorting threshold and a lower limit sorting threshold corresponding to the electronic component. And a sorting unit that sorts the non-defective electronic component based on the determination result of the control unit, and a winding unit that winds up the taping electronic component series. And a demagnetizing device disposed between the transport unit and the winding unit, wherein the control unit is configured to set the upper limit sorting threshold and the lower limit sorting threshold for shipping the electronic component. Based on the shipping upper limit threshold and the shipping lower limit threshold, and the demagnetization change rate at which the impedance value changes in the demagnetization of the electronic component,
Upper limit sorting threshold = shipping upper limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Lower limit sorting threshold = shipping lower limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Set by
According to this configuration, the upper limit sorting threshold value and the lower limit sorting threshold value are set based on the demagnetization change rate according to the characteristic value that changes due to demagnetization to sort the electronic component, thereby taking demagnetization processing into consideration. It is possible to sort electronic parts.
本発明の電子部品の選別方法、電子部品の選別装置、テーピング部品連の製造装置によれば、脱磁処理を考慮した選別を可能とすることができる。 According to the method of the present invention for sorting electronic parts, the sorting apparatus of electronic parts, and the manufacturing apparatus of a series of taping parts, sorting in consideration of demagnetization can be made possible.
以下、一実施形態を説明する。
なお、添付図面は、理解を容易にするために構成要素を拡大して示している場合がある。構成要素の寸法比率は実際のものと、または別の図面中のものと異なる場合がある。また、断面図では、理解を容易にするために、一部の構成要素のハッチングを省略している場合がある。
Hereinafter, one embodiment will be described.
The attached drawings may show components in an enlarged manner for easy understanding. The dimensional proportions of the components may differ from the actual ones or from one in another drawing. In addition, in the cross-sectional view, hatching of some components may be omitted to facilitate understanding.
図2に示すように、テーピング電子部品連の製造装置10は、搬送装置11、テーピング装置12、脱磁装置13、制御装置14を有している。制御装置14は、搬送装置11、テーピング装置12、脱磁装置13を駆動制御する。なお、図2では、1つの制御装置14を示したが、各装置に制御装置を設けてもよい。
As shown in FIG. 2, the
搬送装置11は、3つのリール部21,22,23を有している。リール部21は、キャリアテープ31を供給する。リール部22は、カバーテープ32を供給する。
キャリアテープ31は、電子部品を収容する収容穴を有している。テーピング装置12は、電子部品をキャリアテープ31の収容穴に収容し、その収容穴をカバーテープ32にて閉塞する。これにより、収容穴に電子部品を収容したテーピング電子部品連33を形成する。リール部23は、テーピング電子部品連33を巻き取る。リール部23は、テーピング電子部品連33を搬送する。リール部23とテーピング電子部品連33は電子部品を搬送する搬送手段を構成する。そして、搬送されるテーピング電子部品連33により、電子部品の移動経路を構成する。
The transport device 11 has three
The
脱磁装置13は、テーピング装置12とリール部23との間に配設されている。脱磁装置13は、リール部23により搬送されるテーピング電子部品連33に収容された電子部品を脱磁処理する。
The demagnetizing
電子部品について説明する。
図6(a)に示すように、電子部品40は、部品素体41と外部電極42,43とを有している。部品素体41は、略直方体状である。例えば、部品素体41は、略正四角柱状である。なお、「略直方体」には、角部や稜線部が面取りされた直方体や、角部や稜線部が丸められた直方体が含まれるものとする。
An electronic component is described.
As shown in FIG. 6A, the
本実施形態において、電子部品40は、積層インダクタである。図6(b)に示すように、部品素体41は、磁性体部51とコイル導体(導体部)52とを有している。コイル導体52は磁性体部51に埋設されている。コイル導体52の両端には、引出電極53,54が形成されている。引出電極53,54は、外部電極42,43と電気的に接続されている。
In the present embodiment, the
磁性体部51の材料としては、例えば、鉄(Fe)、ニッケル(Ni)、亜鉛(Zn)及び銅(Cu)の各成分を主成分として含有したフェライト材料を用いることができる。コイル導体52の材料としては、例えば、Cuを主成分とした導電性材料を用いることができる。外部電極42,43の材料としては、例えば、Ni,Cu,銀(Ag),パラジウム(Pd),金(Au),Ag−Pd合金などの適宜の導電材料を用いることができる。
As a material of the
部品素体41は、例えば板状の磁性体を積層して形成されている。具体的には、フェライト等の磁性材料からなるシート(例えば、グリーンシート)を作成し、シートの所定位置にビアホールを形成した後、シートの上面に、銅(Cu)等の導電性材料によりコイルパターン(導体パターン)52aを形成する。所定のコイルパターン52aを形成したシートと、コイル導体を形成していないシートを積層し、所定の圧力で圧着し、所定サイズにカットして積層体を得る。この積層体を所定温度(例えば、900度)で焼成して部品素体41を得る。部品素体41の両端面に導電材料を塗布し、所定温度(例えば700度)で焼き付けて外部電極42,43を形成する。
The
このように形成した電子部品40において、一対の外部電極42,43が形成されている方向を「長さ方向L」とする。この「長さ方向L」に直交する方向を、「高さ方向T」と「幅方向W」とする。本実施形態の電子部品40は、長さ方向Lと直交する1つの方向においてシートを積層して形成されたコイル導体52を有している。このコイル導体52を構成する複数のコイルパターン52aが積層された方向(積層方向)を「高さ方向T」とする。そして、「長さ方向L」及び「高さ方向T」のいずれにも直交する方向を「幅方向W」とする。積層したシートの面、及び複数のコイルパターン52aは、「幅方向W」に沿って延びるように形成されている。
In the
そして、上述したように、電子部品40は、略直方体状(略正四角柱状)に形成されている。この電子部品40は、高さ方向Tにおいて相対向する側面40a,40bと、幅方向Wにおいて相対向する側面40c,40dと、長さ方向Lにおいて相対向する端面40e,40fと、を有している。
Then, as described above, the
高さ方向Tにおいて相対向する側面40a,40bは、長さ方向Lと幅方向Wとを軸とする平面と平行である。このため、これらの側面40a,40bをLW面と呼ぶ。同様に、幅方向Wにおいて相対向する側面40c,40dは、長さ方向Lと高さ方向Tとを軸とする平面と平行である。このため、これらの側面40c,40dをLT面と呼ぶ。
The side surfaces 40a and 40b opposite to each other in the height direction T are parallel to a plane having the length direction L and the width direction W as axes. For this reason, these
テーピング電子部品連33について説明する。
図3(a)及び図3(b)に示すように、テーピング電子部品連33は、収容穴31aを有するキャリアテープ31と、キャリアテープ31の上面に配設されたカバーテープ32と、各収容穴31aに収容された電子部品40とを含む。本実施形態のキャリアテープ31は、収容穴31aが貫通して形成されたベーステープ31bと、ベーステープ31bの下面に取着されたボトムテープ31cとを有している。なお、ベーステープ31bとボトムテープ31cとを一体としたキャリアテープを用いてもよい。
The taping
As shown in FIGS. 3 (a) and 3 (b), the taping
図3(a)及び図3(b)に示すように、収容穴31aは、キャリアテープ31の長手方向(図3(a)の左右方向)に沿って間隔を置いて形成されている。収容穴31aは、キャリアテープ31の幅方向(図3(a)の上下方向)に延びるように形成されている。このテーピング電子部品連33は、長手方向の一方向(例えば、図3(a)の左方向)に搬送される。収容穴31aは、テーピング電子部品連33の主面(上面)から見て、テーピング電子部品連33の搬送方向と直交する方向に延びるように形成されている。
As shown in FIGS. 3A and 3B, the
テーピング装置12について説明する。
図1に示すように、テーピング装置12は、ボールフィーダ61、リニアフィーダ62、搬送機構63を有している。
The taping
As shown in FIG. 1, the taping
ボールフィーダ61には、複数の電子部品40が収容される。ボールフィーダ61は、振動することによりリニアフィーダ62に電子部品40を順次供給する。リニアフィーダ62は、振動することにより、ボールフィーダ61から供給された電子部品40を、搬送機構63に供給する。
The
搬送機構63は、中心軸Cを中心として回転する搬送テーブル64を有している。搬送機構63は、搬送テーブル64により、電子部品40をキャリアテープ31へ搬送する。
搬送テーブル64は、複数の凹部65を有している。搬送テーブル64は、円板状であり、複数の凹部65は、それぞれ、搬送テーブル64の径方向外側端部に設けられている。複数の凹部65は、搬送テーブル64の周方向に沿って間隔を置いて設けられている。例えば、複数の凹部65は、搬送テーブル64の周方向に沿って等間隔に設けられている。各凹部65は、搬送テーブル64の外周面から中心軸Cに向かって延びている。各凹部65は、平面視(搬送テーブル64の中心軸Cの方向から視て)矩形状に形成されている。各凹部65は、電子部品40よりも若干大きく形成されている。
The transport mechanism 63 has a transport table 64 that rotates about the central axis C. The transport mechanism 63 transports the
The transport table 64 has a plurality of
搬送テーブル64の凹部65には、ポジションP1において、リニアフィーダ62から電子部品40が振り込まれる。ポジションP1において、凹部65に振り込まれた電子部品40は、搬送テーブル64が回転することにより、中心軸Cを中心として周方向に沿って搬送される。電子部品40は、ポジションP5まで搬送される。電子部品40は、このポジションP5において、搬送テーブル64からキャリアテープ31の収容穴31aに収容される。
The
ポジションP1からポジションP5までの搬送経路に位置するポジションP2には、抵抗値測定部66が設けられている。この抵抗値測定部66において、凹部65に収容されている電子部品40の抵抗値(直流抵抗Rdc)が測定される。測定された電子部品40の抵抗値は、図2に示す制御装置14に出力される。
A resistance
搬送経路において、ポジションP2とポジションP5の間に位置するポジションP3には、インピーダンス測定部67が設けられている。このインピーダンス測定部67において、凹部65に収容されている電子部品40のインピーダンス値が測定される。測定された電子部品40のインピーダンス値は、図2に示す制御装置14に出力される。
An
図10(a)は、電子部品40の特性値測定を示す概略図である。
図10(a)に示すように、電子部品40の外部電極42,43に測定端子T1,T2を所定の押圧力にて接触させ、電子部品40の特性値を測定する。このとき、電気クリーニング(ECM:Electric Cleaning Module)を実施する。電気クリーニングは、測定端子T1,T2と電子部品40の外部電極42,43との間の接触性を安定化するための処理である。測定端子T1,T2の表面や外部電極42,43の表面に異物の付着や酸化膜等の被膜があると、測定端子T1,T2と外部電極42,43との接触性が不安定となる。このため、測定端子T1,T2の間にバイアス電圧を印加した状態にて、外部電極42,43に測定端子T1,T2を接触させと、測定端子T1,T2と外部電極42,43の間に放電現象が発生する。この放電現象により、皮膜(例えば、錫めっき酸化膜)や表面に付着した異物を除去する。これにより、測定端子T1,T2と外部電極42,43との間の接触性が安定化する。
FIG. 10A is a schematic view showing characteristic value measurement of the
As shown in FIG. 10A, the measurement terminals T1 and T2 are brought into contact with the
なお、図10(a)では2本の測定端子T1,T2を示しているが、測定端子の数は、測定する特性に応じて変更される。例えば、抵抗値測定部66では、4本の測定端子を用いた4端子法により抵抗値を測定する。また、インピーダンス測定部67では、図10(a)に示すように、2本の測定端子T1,T2を用いてインピーダンス値を測定する。
Although two measurement terminals T1 and T2 are shown in FIG. 10A, the number of measurement terminals is changed according to the characteristic to be measured. For example, the resistance
なお、本実施形態の電子部品40は、図6(b)に示すように、複数のコイルパターン52aを積層して形成されたコイル導体52を含む。そして、電子部品40は、コイルパターン52aの積層方向(高さ方向T)に面したLW面40a,40bと、コイルパターン52aと平行な方向(幅方向W)に面したLT面40c,40dとを有している。このため、図10(b)に示すように、電子部品40のLT面40cにおいて測定端子T1,T2を外部電極42,43に接触させる場合と、図10(c)に示すように、電子部品40のLW面40aにおいて測定端子T1,T2を外部電極42,43に接触させる場合とがある。
In addition, the
そして、本実施形態の電子部品40は、積層した複数のコイルパターン52aの方向性によって、測定端子T1,T2が当接される側面に応じて測定値が異なる。例えば、図10(b)に示すように、電子部品40のLT面40cにより特性値(インピーダンス値)を測定する場合と、図10(c)に示すように、電子部品40のLW面40aに測定端子T1,T2を接触させて特性値を測定する場合がある。LT面40cに測定端子T1,T2を接触させて測定したインピーダンス値は、LW面40aに測定端子T1,T2を接触させて測定したインピーダンス値よりも大きい。これは、電子部品40の製造工程における残留応力等によるものと考えられる。
And the
図1に示すように、搬送経路において、ポジションP3とポジションP5の間に位置するポジションP5には、選別部68が設けられている。選別部68は、図2に示す制御装置14に接続されている。選別部68は、制御装置14の指示に基づいて、電子部品40を選別する。
As shown in FIG. 1, a sorting
制御装置14は、抵抗値測定部66から出力された抵抗値と、インピーダンス測定部67から出力されたインピーダンス値とに基づいて、電子部品40の良否を判定する。制御装置14は、その判定結果に基づいて、良品と判定した電子部品40を選別部68に選別させ、そのまま搬送を続けさせ、不良品と判定した電子部品40を選別部68によって搬送テーブル64から取り除かせる。
The
例えば、選別部68は図示しない吸引ポンプを有している。吸引ポンプは、搬送テーブル64に形成された吸引孔と接続されている。これにより、搬送テーブル64は、電子部品40を吸着保持する。選別部68は、ポジションP4において、良品と判定した電子部品40の吸着保持を継続する。一方、選別部68は、ポジションP4において、不良品と判定した電子部品40の吸着保持を停止し、吸引孔に正圧を与える。これにより、電子部品が凹部65から排除される。従って、ポジションP4を通過してポジションP5に搬送される電子部品40は、全て良品と判定されたものとなる。
For example, the sorting
なお、制御装置14は、電子部品40を選別するための閾値を記憶している。選別のための閾値は、抵抗値に対する閾値と、インピーダンス値に対する閾値を含む。制御装置14には、良品として出荷される抵抗値の範囲が設定されている。範囲は上限閾値と下限閾値とにより設定される。良品となる電子部品40は、範囲内、つまり抵抗値(直流抵抗)において、上限閾値以下であり下限閾値以上のものである。
The
また、制御装置14には、電子部品40に対して、良品として出荷されるインピーダンス値の範囲が設定されている。範囲は、上限閾値と下限閾値とにより設定される。良品となる電子部品は、範囲内、つまりインピーダンス値が上限閾値以下であり下限閾値以上のものである。抵抗値及びインピーダンス値において良品と判定された電子部品40が出荷される。この出荷のためのインピーダンス値の範囲の上限値と下限値とをそれぞれ「出荷上限閾値」「出荷下限閾値」とする。
Further, in the
電子部品40のインピーダンス値は、また、測定の際の電気クリーニング(ECM)による磁化と、脱磁装置13(図1参照)により変化する。このため、制御装置14には、脱磁におけるインピーダンス値の変化率(脱磁変化率)が設定されている。制御装置14は、この脱磁変化率と上記の出荷上限閾値,出荷下限閾値とに基づいて選別のための閾値を設定する。選別のための閾値は、上限選別閾値と下限選別閾値を含む。制御装置14は、上限選別閾値と下限選別閾値とを、以下の式、
上限選別閾値=出荷上限閾値×(1+脱磁変化率)
下限選別閾値=出荷下限閾値×(1+脱磁変化率)
に基づいて設定する。
The impedance value of the
Upper limit sorting threshold = shipping upper limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Lower limit sorting threshold = shipping lower limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Set based on
出荷上限閾値と出荷下限閾値は、例えば、電子部品40の製品規格に応じて設定される。例えば、出荷上限閾値を製品規格の上限値と等しくし、出荷下限閾値を製品規格の下限値と等しくする。なお、製品規格に対して選別の際の選別マージンを考慮して出荷上限閾値と出荷下限閾値とを設定してもよい。選別マージンは、測定の較正に用いる電子部品の特性値(インピーダンス値)の誤差、較正作業の誤差、測定の繰り返し精度の誤差、等の要因を考慮して設定される。選別マージンに基づいて、出荷上限閾値と出荷下限閾値は、以下の式、
出荷上限閾値=製品規格上限値−選別マージン
出荷下限閾値=製品規格下限値+選別マージン
により設定される。
The shipping upper limit threshold and the shipping lower limit threshold are set, for example, according to the product standard of the
Shipping upper limit threshold = product specification upper limit value-sorting margin Shipping lower limit threshold value = product specification lower limit value + sorting margin.
上述したように、本実施形態の電子部品40は、複数のコイルパターン52aを積層して形成されたコイル導体52を含む。そして、測定により得られるインピーダンス値は、電子部品40の測定方向(図10(a)に示す測定端子T1,T2を接触させる側面の向き)に応じて異なる。
As described above, the
図11は、LT面に測定端子T1,T2を接触させて測定したインピーダンス値LTa,LTbの分布と、LW面に測定端子T1,T2を接触させて測定したインピーダンス値LWa,LWbの分布を示す。これらの分布は、所定の個数(例えば、500個)の電子部品40を測定した結果である。そして、図11において、左側には脱磁後のインピーダンス値LTa,LWaが示され、右側には脱磁前のインピーダンス値LTb,LWbが示されている。例えば、脱磁後のインピーダンス値は、電気クリーニングした電子部品を脱磁処理した後、測定端子をLT面とLW面にそれぞれ接触させて測定したものである。また、脱磁前のインピーダンス値は、電気クリーニングして測定端子をLT面とLW面にそれぞれ接触させて測定したものである。左右の各特性図において、横軸は個数、縦軸はインピーダンス値を示す。また、図11において、上側ほどインピーダンス値が大きい。
FIG. 11 shows the distributions of impedance values LTa and LTb measured with the measurement terminals T1 and T2 in contact with the LT surface, and the distributions of impedance values LWa and LWb measured with the measurement terminals T1 and T2 in contact with the LW surface. . These distributions are the results of measuring a predetermined number (for example, 500) of the
図11に示すように、脱磁後のインピーダンス値LTa,LWaと、脱磁前のインピーダンス値LTb,LWbの分布の状態はほぼ等しい。つまり、個々の電子部品において、インピーダンス値は同様に変化する。LT面に測定端子T1,T2を接触させて測定したインピーダンス値LTb,LTaにおける脱磁前と脱磁後の差に比べ、LW面に測定端子T1,T2を接触させて測定したインピーダンス値LWb,LWaにおける脱磁前と脱磁後の差は大きい。つまり、測定端子T1,T2をLT面に接触させて測定したインピーダンス値LTa,LTbは、測定端子T1,T2をLW面に接触させて測定したインピーダンス値LWa,LWbより大きい。 As shown in FIG. 11, the states of the distribution of the impedance values LTa and LWa after demagnetization and the impedance values LTb and LWb before demagnetization are substantially equal. That is, in each electronic component, the impedance value changes similarly. The impedance value LWb measured by bringing the measurement terminals T1 and T2 into contact with the LW plane as compared with the difference between the impedance values LTb and LTa measured by bringing the measurement terminals T1 and T2 into contact with the LT plane. The difference between before and after demagnetization in LWa is large. That is, the impedance values LTa and LTb measured with the measurement terminals T1 and T2 in contact with the LT surface are larger than the impedance values Lwa and LWb measured with the measurement terminals T1 and T2 in contact with the LW surface.
これらのインピーダンス値により、脱磁によるインピーダンス値の変化率を得る。脱磁前の電子部品について特性値測定を行い、測定したインピーダンス値のうち、最大値からn個(例えば25個)のインピーダンス値の平均値Z1と、最小値からn個のインピーダンス値の平均値Z2を得る。同様に、脱磁後の電子部品について特性値測定を行い、測定したインピーダンス値のうち、最大値からn個(例えば25個)のインピーダンス値の平均値Z3と、最小値からn個のインピーダンス値の平均値Z4を得る。これは、特性値測定において、LT面とLW面とを区別できないことによるものである。つまり、特性値測定の結果には、LT面に測定端子T1,T2を接触させて測定した結果と、LW面に測定端子T1,T2を接触させて測定した結果が含まれる。図11に示すように、最大値から複数個(n個)の特性値は、LT面に測定端子T1,T2を接触させて測定した値である確率が極めて高く、最小値から複数個(n個)の特性値は、LW面に測定端子T1,T2を接触させて測定した値である確率が極めて高い。 These impedance values provide the rate of change of the impedance value due to demagnetization. Among the measured impedance values, the average value Z1 of n (for example, 25) impedance values from the maximum value and the average value of n impedance values from the minimum value among the measured impedance values are measured. Get Z2. Similarly, the characteristic values of the demagnetized electronic component are measured, and among the measured impedance values, an average value Z3 of n (for example, 25) impedance values from the maximum value and n impedance values from the minimum value are measured. The average value Z4 of This is because in the characteristic value measurement, the LT surface and the LW surface can not be distinguished. That is, the result of the characteristic value measurement includes the result of measurement with the measurement terminals T1 and T2 in contact with the LT surface and the result of measurement with the measurement terminals T1 and T2 in contact with the LW surface. As shown in FIG. 11, the probability that the plurality of (n) characteristic values from the maximum value are values measured by bringing the measurement terminals T1 and T2 into contact with the LT surface is extremely high, and plural values from the minimum value (n The characteristic values of the above are very likely to be values measured by bringing the measurement terminals T1 and T2 into contact with the LW plane.
そして、これらの平均値Z1〜Z4により、LT方向脱磁変化率とLW方向脱磁変化率を、次の式、
LT方向脱磁変化率=(Z1−Z3)/Z3
LW方向脱磁変化率=(Z2−Z4)/Z4
により得る。そして、上限選別閾値と下限選別閾値とを、次の式、
上限選別閾値=出荷上限閾値×(1+LW方向脱磁変化率)
下限選別閾値=出荷下限閾値×(1+LT方向脱磁変化率)
により設定する。
Then, using these average values Z1 to Z4, the LT direction demagnetization change rate and the LW direction demagnetization change rate can be expressed by the following formula,
LT direction demagnetization change rate = (Z1-Z3) / Z3
LW direction demagnetization change rate = (Z2-Z4) / Z4
Obtained by Then, the upper limit sorting threshold and the lower limit sorting threshold are
Upper limit sorting threshold = shipping upper limit threshold × (1 + LW direction demagnetization change rate)
Lower limit sorting threshold = shipping lower limit threshold × (1 + LT direction demagnetization change rate)
Set by
図12は、上記の上限選別閾値と下限選別閾値の設定の概略を示す。
上述したように、出荷上限閾値とLW方向脱磁変化率とに基づいて上限選別閾値を設定する。このように設定した上限選別閾値を用いることにより、LT方向において測定した電子部品を確実に選別することができる。つまり、上限選別閾値により良品と判定した電子部品40のインピーダンス値をLT面による測定にて得た場合、そのインピーダンス値は、脱磁後において、出荷上限閾値よりも小さな値となる。つまり、良品と判定した電子部品は、脱磁後においても、そのインピーダンス値は良品となる範囲内となる。
FIG. 12 schematically shows the setting of the upper limit sorting threshold and the lower limit sorting threshold described above.
As described above, the upper limit sorting threshold is set based on the shipping upper limit threshold and the LW direction demagnetization change rate. By using the upper limit sorting threshold set in this way, it is possible to reliably sort the electronic component measured in the LT direction. That is, when the impedance value of the
同様に、出荷下限閾値とLT方向脱磁率変化率とに基づいて、下限選別閾値を設定する。このように設定した下限選別閾値を用いることにより、LW方向において測定した電子部品を確実に選別することができる。つまり、下限選別閾値により良品と判定した電子部品40のインピーダンス値をLW面による測定にて得た場合、そのインピーダンス値は、脱磁後において、出荷下限閾値よりも大きな値となる。つまり、良品と判定した電子部品は、脱磁後においても、そのインピーダンス値は良品となる範囲内となる。
Similarly, the lower limit sorting threshold is set based on the shipping lower limit threshold and the LT direction demagnetization change rate. By using the lower limit sorting threshold set in this way, it is possible to reliably sort the electronic component measured in the LW direction. That is, when the impedance value of the
なお、特性値測定において測定面による方向性の無い又は小さい電子部品の場合、測定結果に基づいて、方向性の無い脱磁変化率を得ることができる。つまり、脱磁前の電子部品について特性値測定を行い、測定したインピーダンス値の平均値Z5を得る。同様に、脱磁後の電子部品について特性値測定を行い、測定したインピーダンス値の平均値Z6を得る。そして、これらの平均値Z5,Z6により、脱磁変化率を、次の式、
脱磁変化率=(Z5−Z6)/Z6
により得る。
In the case of measuring the characteristic value, in the case of the electronic component having no or small directivity due to the measurement surface, it is possible to obtain the demagnetization change rate without directivity based on the measurement result. That is, the characteristic value measurement is performed on the electronic component before the demagnetization to obtain the average value Z5 of the measured impedance values. Similarly, the characteristic value measurement is performed on the demagnetized electronic component to obtain an average value Z6 of the measured impedance values. Then, using these average values Z5 and Z6, the demagnetization change rate can be expressed by the following equation,
Demagnetization change rate = (Z5-Z6) / Z6
Obtained by
図13(a)及び図13(b)に示すように、電子部品200は、長さ方向Lに積層した複数のシートにより形成されたコイル導体201(コイルパターン201a)を含む積層インダクタである。この電子部品200は、特性値測定において測定面による方向性の無い又は小さい電子部品の一例である。この電子部品200は、LT面とLW面との特性(インピーダンス値)に差は無い又は選別に影響しない程度に小さい。このような電子部品を製造する工程において、上記の式により得られる脱磁変化率を用いて上限選別閾値と下限選別閾値を設定して良品の選別を行うことができる。
As shown in FIGS. 13A and 13B, the
搬送テーブル64により搬送された電子部品40は、ポジションP5において、キャリアテープ31の収容穴31aに収容される。キャリアテープ31には、長手方向に沿って間隔を開けて複数の収容穴31aが設けられている。キャリアテープ31は、搬送テーブル64の凹部65がポジションP5に位置しているときに、その凹部65と収容穴31aとが重なるように位置決めされる。その状態で、電子部品40が搬送テーブル64の凹部65からキャリアテープ31の収容穴31aに収容される。
The
その後、キャリアテープ31が長手方向に沿って図1において左方向に移動され、電子部品40が収容されていない別の凹部65がポジションP5に位置する凹部65と重なるように配置され、電子部品40が収容穴31aに収容される。これらの工程が繰り返し行われることで、キャリアテープ31の複数の収容穴31aに電子部品40が順次収容される。
Thereafter, the
搬送されるキャリアテープ31の下には、マグネットレール69が配設されている。マグネットレール69は、キャリアテープ31の収容穴31aに収容された電子部品40を磁力により吸引する。
A
図4(a)に示すように、電子部品40は、マグネットレール69により磁気的に吸引され、収容穴31aの底面に密着する。つまり、マグネットレール69は、収容穴31a内における電子部品40の姿勢を安定化する。図4(a)において、キャリアテープ31の上方には、搬送カバー70が配設されている。このため、図4(b)に示すように、電子部品40の姿勢が傾いたり、収容穴31aから飛び出して搬送カバー70に接触したりすることなく、キャリアテープ31を移動させることができる。また、マグネットレール69は、収容穴31aにおいて、電子部品40の移動を抑制する。これにより、電子部品40やキャリアテープ31のダメージ(損傷)を抑制し、テーピング電子部品連33の品質低下を抑制することができる。
As shown in FIG. 4A, the
その後、キャリアテープ31の上に、複数の収容穴31aを覆うカバーテープ32が配設される。な、図1では、キャリアテープ31と電子部品40を判り易くするため、カバーテープ32が省略されている。カバーテープ32は、例えば加熱等によりキャリアテープ31に密着する。この結果、キャリアテープ31と、カバーテープ32と、収容穴31aに収容された電子部品40とを有するテーピング電子部品連33が生成される。
Thereafter, the
搬送されるキャリアテープ31は、脱磁装置13の上方を通過し、図2に示すリール部23により巻き取られる。脱磁装置13は、キャリアテープ31の収容穴31aに収容された電子部品40を脱磁処理する。上述したように、電子部品40の部品素体41は、磁性体部51を有している。磁性体部51は、上述の測定における電気クリーニングによって部品素体41(図6(b)参照)に流れる電流、マグネットレール69の磁力、等によって磁化する。磁性体部51の磁化、つまり磁性体部51に残留する磁界は、電子部品40の特性(インピーダンス値)を変化させる。例えば、電子部品40として積層インダクタでは、磁性体部51の磁化により、インピーダンス値が低くなる。例えば、出荷後に何らかの要因によって磁性体部51の磁界が低下すると、インピーダンス値が高くなる。つまり、電子部品40における特性(インピーダンス値)の変化を招く。このため、脱磁装置13により磁性体部51の磁界を低減し、特性(インピーダンス値)の変化を抑制する。
The conveyed
図5に示すように、脱磁装置13は、コア81とコイル91とを有している。コア81は、搬送されるテーピング電子部品連33(キャリアテープ31)の下方に配置されている。なお、図5では、電子部品40を示すため、カバーテープを省略している。コア81は、2つの磁極82,83を有し、例えばU字状に形成されている。詳述すると、コア81は、平行に延びる一対の磁極部84,85と、一対の磁極部84,85の下端を連結する連結部86とを有している。コイル91は、一対の磁極部84,85のうちの一方の磁極部85に巻回されている。なお、磁極部84にコイル91を巻回してもよい。そして、一対の磁極部84,85の先端面(上端面)がコア81の磁極82,83となる。
As shown in FIG. 5, the demagnetizing
コア81は、2つの磁極82,83を、キャリアテープ31の搬送方向に沿って並列するように配置されている。本実施形態において、コア81は、2つの磁極82,83がキャリアテープ31の主面(下面)と対向するように配置されている。コア81の磁極82,83とキャリアテープ31との間の距離は、例えば5〜10mmの範囲とすることができる。2つの磁極82,83の間の距離(磁極82,83の中心間距離)は、例えば70mmとすることができる。
The
コア81にはコイル91が巻装されている。コイル91は、図示しない電源装置に接続され、その電源装置から交流電流が供給される。交流電流が供給されるコイル91は、コア81の2つの磁極82,83の間に交番磁界を発生させる。電源装置は、例えば図2に示す制御装置14に含まれる。なお、制御装置14と別に電源装置を備えるようにしてもよい。
A
図7に示すように、キャリアテープ31に対応して配置された2つの磁極82,83はそれぞれ、キャリアテープ31をそのキャリアテープ31の高さ方向に通過する交番磁界(垂直磁界、第1の磁界)を形成される。また、キャリアテープ31から所定距離離間して配置された2つの磁極82,83は、キャリアテープ31の搬送方向と平行な交番磁界(水平磁界、第2の磁界)を形成させる。つまり、上記のように構成された脱磁装置13は、キャリアテープ31に対して垂直方向の交番磁界(垂直磁界)と、キャリアテープ31と平行な交番磁界(水平磁界)とを形成する。
As shown in FIG. 7, two
例えば、電源装置として単相200V、60Hzの交流電源を用いることができる。このような交流電源により、脱磁装置13は、磁束密度が0〜90mT(ミリテスラ)の磁界を発生させる。なお、キャリアテープ31において、30〜75mTの範囲の磁束密度の磁界が発生させることが好ましい。更に、45mT以上の磁束密度があることが好ましく、60mTの磁束密度があればより好ましい。キャリアテープ31の搬送速度としては例えば、40〜140mm/secとすることができる。
For example, a single-phase 200 V, 60 Hz AC power supply can be used as a power supply device. With such an AC power supply, the demagnetizing
(作用)
脱磁による特性値(インピーダンス値)の変化率(脱磁変化率)と出荷のための閾値とに基づいて選別のための閾値を設定し、その選別閾値に基づいて電子部品40の選別を行うようにした。そして、良品として選別した電子部品40を脱磁装置13により脱磁処理する。脱磁後の電子部品40の特性値(インピーダンス値)は、出荷のための範囲に収まる。このように、脱磁処理を考慮した電子部品40の選別が行われる。
(Action)
A threshold for sorting is set based on the rate of change of the characteristic value (impedance value) due to demagnetization and the threshold for shipping, and the
脱磁処理において、電子部品40の特性値(インピーダンス値)は、脱磁前の値よりも大きくなる。つまり、脱磁前の特性値は、出荷のための下限閾値よりも小さい。出荷のための下限閾値を用いて選別を行うと、このように、特性変化(上昇)によって出荷のための範囲となる電子部品は、その選別のタイミングにおいて良品ではないと判定される。つまり、本実施形態のように、脱磁変化率に基づいて選別のための閾値(下限選別閾値)を設定すると、良品となる電子部品40の数が多くなる。
In the demagnetization process, the characteristic value (impedance value) of the
電子部品40は、高さ方向Tに積層された複数のシートにより形成されるコイル導体52(コイルパターン52a)を含む積層インダクタである。この電子部品40の特性値測定(インピーダンス値測定)において、LT面に測定端子T1,T2を接触させて測定した測定値(インピーダンス値)とLW面に測定端子T1,T2を接触させて測定した測定値(インピーダンス値)とに差が生じ、それぞれに対して脱磁変化率が異なる。このため、LT方向脱磁率とLW方向脱磁率とを設定し、LT方向脱磁率とLW方向脱磁率とに基づいて設定した下限選別閾値と上限選別閾値とを用いて電子部品40の選別を行う。良品として選別した電子部品40は脱磁後において、出荷のための範囲に入る。このため、出荷のための範囲に入る電子部品40の選別において高い精度が得られる。
The
脱磁前に測定した複数個の電子部品40の特性値(インピーダンス値)のうち、最大値からn個のインピーダンス値の平均値Z5と、最小値からn個のインピーダンス値の平均値Z6を得る。また、脱磁後の電子部品40について測定した特性値のうち、最大値からn個のインピーダンス値の平均値Z7と、最小値からn個のインピーダンス値の平均値Z8を得る。そして、平均値Z5,Z7に基づいてLT方向脱磁変化率を設定し、平均値Z6,Z8に基づいてLW方向脱磁変化率を設定する。LT面による測定値は、LW面による測定値より高くなる傾向にある。このため、最大値からn個のインピーダンス値は、LT面による測定結果である確率が極めて高く、最小値からn個のインピーダンス値は、LW面による測定結果である確率が極めて高い。このため、LT方向脱磁変化率とLW方向脱磁変化率との設定が容易である。
Among the characteristic values (impedance values) of the plurality of
脱磁装置13は、キャリアテープ31に対して垂直な交番磁界と水平な交番磁界とを形成する。
図8(a)及び図8(b)は、キャリアテープ31の搬送方向において、脱磁装置13によって生じる磁界の強さを示している。図8(a)は、キャリアテープ31の移動方向において、キャリアテープ31に対して水平に形成される交番磁界の強さを示す。図8(b)は、キャリアテープ31の移動方向において、キャリアテープ31に対して垂直に形成される交番磁界の強さを示す。
The
8 (a) and 8 (b) show the strength of the magnetic field generated by the demagnetizing
図8(a)及び図8(b)に示すように、交番磁界の強度は、キャリアテープ31に搬送方向に沿って脱磁装置13のコア81の2つの磁極82,83(図において縦の破線にて示す)から遠ざかるにつれて弱くなる。これにより、電子部品40を構成する磁性体部51の磁気は、交番磁界の変化に伴って反転を繰り返しながら減衰する。
As shown in FIGS. 8 (a) and 8 (b), the strength of the alternating magnetic field is determined by the two
ところで、本実施形態の電子部品40のように、積層された複数の導体パターンを含む電子部品では、複数の導体パターンの積層方向によって、電子部品を通過する磁力が異なる。このため、電子部品を環状のコイルを通過させる脱磁装置の場合、電子部品の姿勢によって影響する磁力が異なり、磁気が減衰しにくい場合がある。
By the way, in the electronic component including the plurality of conductor patterns stacked as in the
図9に示すように、キャリアテープ31の収容穴31aには、電子部品40が収容されている。電子部品40は、積層されたコイルパターン52aによるコイル導体52を有している。図9では、コイル導体52(コイルパターン52a)を直線にて示している。図9において左側に示す電子部品40は、コイル導体52(コイルパターン52a)がキャリアテープ31の高さ方向(図9の上下方向)に沿うように収容穴31aに収容されている。一方、図9において右側に示す電子部品40は、コイル導体52(コイルパターン52a)がキャリアテープ31の表面と平行な方向(図9の左右方向)に沿うように収容穴31aに収容されている。なお、図9ではカバーテープが省略されている。
As shown in FIG. 9, the
このように、正四角柱状や正四角柱状に近い(高さ方向Tの長さと幅方向Wの長さがほぼ等しい)電子部品40では、高さ方向Tと幅方向Wの判定が難しいので、電子部品40の姿勢を統一してキャリアテープ31に収容することは難しい。
As described above, it is difficult to determine the height direction T and the width direction W in an
上述したように、本実施形態の脱磁装置13は、キャリアテープ31に対して垂直な交番磁界と、キャリアテープ31に対して平行な交番磁界とを形成する。つまり、図9に示す2つの電子部品40のそれぞれにおいて、コイル導体52と平行な磁界と、コイル導体52と垂直な磁界とが加わる。従って、キャリアテープ31に収容された電子部品40の姿勢に係わらず、磁気が減衰する。このため、姿勢によって磁気の影響が異なる電子部品40について、姿勢を揃えることを必要とせず、容易にキャリアテープ31に収容する、つまりテーピング電子部品連33を容易に生成することができる。
As described above, the demagnetizing
以上記述したように、本実施形態によれば、以下の効果を奏する。
(1)脱磁による特性値(インピーダンス値)の変化率(脱磁変化率)と出荷のための閾値とに基づいて選別のための閾値を設定し、その選別閾値に基づいて電子部品40の選別を行うようにした。そして、良品として選別した電子部品40を脱磁装置13により脱磁処理する。脱磁後の電子部品40の特性値(インピーダンス値)は、出荷のための範囲に収まる。このように、脱磁処理を考慮した電子部品40の選別を行うことができる。
As described above, according to this embodiment, the following effects can be obtained.
(1) A threshold for sorting is set based on the rate of change of the characteristic value (impedance value) due to demagnetization (rate of demagnetization change) and the threshold for shipping, and the
(2)脱磁処理において、電子部品40の特性値(インピーダンス値)は、脱磁前の値よりも大きくなる。つまり、脱磁前の特性値は、出荷のための下限閾値よりも小さい。出荷のための下限閾値を用いて選別を行うと、このように、特性変化(上昇)によって出荷のための範囲となる電子部品は、その選別のタイミングにおいて良品ではないと判定される。つまり、本実施形態のように、脱磁変化率に基づいて選別のための閾値(下限選別閾値)を設定すると、良品となる電子部品40の数が多くなり、電子部品40の歩留まりを上げることができる。
(2) In the demagnetization process, the characteristic value (impedance value) of the
(3)本実施形態の電子部品40は、高さ方向Tに積層された複数のシートにより形成されるコイル導体52(コイルパターン52a)を含む積層インダクタである。この電子部品40の特性値測定(インピーダンス値測定)において、LT面を用いた測定結果(インピーダンス値)とLW面を用いた測定結果(インピーダンス値)とに差が生じ、それぞれに対して脱磁変化率が異なる。このため、LT方向脱磁率とLW方向脱磁率とを設定し、LT方向脱磁率とLW方向脱磁率とに基づいて設定した下限選別閾値と上限選別閾値とを用いて電子部品40の選別を行うようにした。これにより、良品として選別した電子部品40は脱磁後において、出荷のための範囲に入る。このため、出荷のための範囲に入る電子部品40の選別精度を高めることができる。
(3) The
(4)脱磁前に測定した複数個の電子部品40の特性値(インピーダンス値)のうち、最大値からn個のインピーダンス値の平均値Z5と、最小値からn個のインピーダンス値の平均値Z6を得る。また、脱磁後の電子部品40について測定した特性値のうち、最大値からn個のインピーダンス値の平均値Z7と、最小値からn個のインピーダンス値の平均値Z8を得る。そして、平均値Z5,Z7に基づいてLT方向脱磁変化率を設定し、平均値Z6,Z8に基づいてLW方向脱磁変化率を設定するようにした。LT面による測定値は、LW面による測定値より高くなる傾向にある。このため、最大値からn個のインピーダンス値は、LT面による測定結果である確率が極めて高く、最小値からn個のインピーダンス値は、LW面による測定結果である確率が極めて高い。このため、LT方向脱磁変化率とLW方向脱磁変化率とを容易に設定することができる。
(4) Of the characteristic values (impedance values) of the plurality of
(5)テーピング電子部品連の製造装置10は、テーピング装置12と搬送装置11(リール部23)との間に配設された脱磁装置13を有している。テーピング装置12は、キャリアテープ31の収容穴31aに電子部品40を収容し、その収容穴31aをカバーテープ32に塞いでテーピング電子部品連33を生成する。リール部23は、テーピング電子部品連33を搬送する。
(5) The
脱磁装置13は、コア81と、コア81に巻回されたコイル91とを有し、コイル91には交流電流が供給される。コア81は、搬送されるテーピング電子部品連33(キャリアテープ31)の下方に配置されている。脱磁装置13は、キャリアテープ31に対して垂直方向の交番磁界(垂直磁界、第1の交番磁界)と、キャリアテープ31と平行な交番磁界(水平磁界、第2の交番磁界)とを形成する。従って、電子部品40に対して第1の交番磁界と、その第1の交番磁界と直交する第2の交番磁界とが加わる。そして、電子部品40の搬送に従って第1の交番磁界と第2の交番磁界の磁力が徐々に低下する。このように、直交する2つの方向の交番磁界を加えるとともに搬送に従って交番磁界の磁力が徐々に弱まることで、電子部品40の姿勢に係わらず、その電子部品40の磁気を低減することができる。
The demagnetizing
(6)脱磁装置13のコア81は一対の磁極82,83を有し、それら一対の磁極82,83はテーピング電子部品連33の搬送方向に沿って配列されている。従って、コイル91に交流電流が印加されると、一対の磁極82,83のそれぞれの位置にてテーピング電子部品連33に垂直な交番磁界を発生させるとともに、一対の磁極82,83の間にテーピング電子部品連33と平行な交番磁界を発生させることができる。
(6) The
(7)電子部品40は、複数のコイルパターン(導体パターン)52aを積層して形成されたコイル導体52を有している。この電子部品40は、コイル導体52(コイルパターン52a)の積層方向に応じて、通過する磁力が異なる。この電子部品40に対して互いに直交する交番磁界(垂直磁界と水平磁界)を加える。この結果、残留磁界や通過する磁界に方向性を有する電子部品40について、その電子部品40の磁気を低減することができる。
(7) The
(変形例)
尚、上記実施形態は、以下の態様で実施してもよい。
・上記実施形態に対し、コアの形状を適宜変更してもよい。
(Modification)
The above embodiment may be implemented in the following manner.
The shape of the core may be changed as appropriate in the above embodiment.
図14(a)は上記実施形態のコア81及びコイル91の概略を示す。これに対し、図14(b)に示すように、一対の磁極部102,103と、磁極部102,103を連結する連結部104とを有し、H字状に形成されたコア101を用いてもよい。
FIG. 14A shows an outline of the
図14(c)及び図14(d)に示すように、連結部86,104にコイル91を巻回してもよい。
図14(e)に示すように、一対の磁極部112,113が互いに接続され、連結部を有していない、V字状のコア111を用いてもよい。
As shown in FIGS. 14C and 14D, the
As shown in FIG. 14E, a V-shaped core 111 in which the pair of
また、図14(f)〜図14(j)に示すように、磁極となる端面が円形のコア121〜125を用いてもよい。なお、磁極となる端面は円形に限らず、三角形や五角形以上の多角形状としてもよい。
Further, as shown in FIG. 14 (f) to FIG. 14 (j),
・上記実施形態に対し、コアに巻回するコイルの数を2つ以上としてもよい。
・上記実施形態では、テーピング電子部品連33の下方に脱磁装置13を配設したが、テーピング電子部品連33の上方に脱磁装置13を配設してもよい。
In the embodiment, the number of coils wound around the core may be two or more.
In the above embodiment, although the
10…テーピング電子部品連の製造装置、11…搬送装置、12…テーピング装置、13…脱磁装置、14…制御装置、33…テーピング電子部品連、40…電子部品。
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記電子部品は選別後に脱磁処理されるものであり、
前記電子部品の外部電極に、バイアスを印加した測定端子を接触させて前記測定端子と接する前記外部電極の接触部分をクリーニングし、前記測定端子を介して前記電子部品のインピーダンス値を測定する工程と、
前記電子部品に対応する上限選別閾値及び下限選別閾値と測定したインピーダンス値とを比較して前記電子部品の良否を判定し、良品の前記電子部品を選別する工程と、
を含み、
前記上限選別閾値と前記下限選別閾値とを、前記電子部品の出荷のための出荷上限閾値及び出荷下限閾値と、前記電子部品の脱磁において前記インピーダンス値が変化する脱磁変化率とに基づいて、
上限選別閾値=出荷上限閾値×(1+脱磁変化率)
下限選別閾値=出荷下限閾値×(1+脱磁変化率)
により設定する、
電子部品の選別方法。 A method of sorting electronic components including a magnetic material, comprising:
The electronic parts are demagnetized after sorting,
A step of bringing a measurement terminal to which a bias is applied into contact with the external electrode of the electronic component to clean the contact portion of the external electrode in contact with the measurement terminal, and measuring the impedance value of the electronic component through the measurement terminal; ,
Determining the quality of the electronic component by comparing the upper limit sorting threshold value and the lower limit sorting threshold value corresponding to the electronic component with the measured impedance value, and sorting the non-defective electronic component;
Including
The upper limit sorting threshold and the lower limit sorting threshold are based on a shipping upper limit threshold and a shipping lower limit threshold for shipping the electronic component and a demagnetization change rate at which the impedance value changes in the demagnetization of the electronic component. ,
Upper limit sorting threshold = shipping upper limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Lower limit sorting threshold = shipping lower limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Set by,
How to sort electronic parts.
脱磁変化率=(脱磁前インピーダンス値−脱磁後インピーダンス値)/脱磁後インピーダンス値
により算出する、
請求項1に記載の電子部品の選別方法。 The demagnetization change rate is based on the impedance value before demagnetization and the impedance value after demagnetization,
Demagnetization change rate = (impedance value before demagnetization-impedance value after demagnetization) / calculated after impedance value after demagnetization,
A method of sorting electronic components according to claim 1.
長さ方向Lと幅方向Wとにより規定されるLW面において前記測定する工程を実施した場合のインピーダンス値の脱磁による変化率をLW方向脱磁変化率とし、
長さ方向Lと高さ方向Tとにより規定されるLT面において前記測定する工程を実施した場合のインピーダンス値の脱磁による変化率をLT方向脱磁変化率とし、
前記上限選別閾値と前記下限選別閾値とを、
上限選別閾値=出荷上限閾値×(1+LW方向脱磁変化率)
下限選別閾値=出荷下限閾値×(1+LT方向脱磁変化率)
により設定する、
請求項1又は2に記載の電子部品の選別方法。 The electronic component is a laminated inductor including a coil conductor composed of a plurality of laminated coil patterns, the lamination direction of the coil pattern is a height direction T, the direction parallel to the coil pattern is a width direction W, and the height is high. A direction orthogonal to the longitudinal direction T and the width direction W is taken as a length direction L
The rate of change in impedance value due to demagnetization in the case of performing the measurement step on the LW plane defined by the length direction L and the width direction W is defined as the LW direction demagnetization change rate,
Let the rate of change in impedance value due to demagnetization in the case of performing the measurement step on the LT plane defined by the length direction L and the height direction T be the LT direction demagnetization change rate,
The upper limit sorting threshold and the lower limit sorting threshold
Upper limit sorting threshold = shipping upper limit threshold × (1 + LW direction demagnetization change rate)
Lower limit sorting threshold = shipping lower limit threshold × (1 + LT direction demagnetization change rate)
Set by,
A method of sorting electronic components according to claim 1 or 2.
前記LW方向脱磁変化率を、
LW方向脱磁変化率=(Z1−Z2)/Z2
により設定し、
前記LT面の前記外部電極に前記測定端子を接触させて測定した脱磁前のインピーダンス値をZ3、脱磁後のインピーダンス値をZ4とし、
前記LT方向脱磁変化率を、
LT方向脱磁変化率=(Z3−Z4)/Z4
により設定する、
請求項3に記載の電子部品の選別方法。 Let Z1 be the impedance value before demagnetization measured by bringing the measurement terminal into contact with the external electrode on the LW plane, and Z2 be the impedance value after demagnetization,
The LW direction demagnetization change rate,
LW direction demagnetization change rate = (Z1-Z2) / Z2
Set by
Let Z3 be an impedance value before demagnetization measured by bringing the measurement terminal into contact with the external electrode on the LT surface, and Z4 be an impedance value after demagnetization,
The LT direction demagnetization change rate,
LT direction demagnetization change rate = (Z3-Z4) / Z4
Set by,
A method of sorting electronic components according to claim 3.
前記電子部品の良否を判定する工程において、前記インピーダンス値と前記抵抗値とに基づいて判定する、
請求項1〜4のいずれか一項に記載の電子部品の選別方法。 Measuring the resistance value of the electronic component;
Determining the quality of the electronic component based on the impedance value and the resistance value;
The sorting method of the electronic component as described in any one of Claims 1-4.
前記電子部品は選別後に脱磁処理されるものであり、
前記電子部品の外部電極に、バイアスを印加した測定端子を接触させて前記測定端子と接する前記外部電極の接触部分をクリーニングし、前記測定端子を介して前記電子部品のインピーダンス値を測定する測定部と、
前記電子部品に対応する上限選別閾値及び下限選別閾値と測定したインピーダンス値とを比較して前記電子部品の良否を判定する制御部と、
前記制御部の判定結果に基づいて、良品の前記電子部品を選別する選別部と、
を含み、
前記制御部は、
前記上限選別閾値と前記下限選別閾値とを、前記電子部品の出荷のための出荷上限閾値及び出荷下限閾値と、前記電子部品の脱磁において前記インピーダンス値が変化する脱磁変化率とに基づいて、
上限選別閾値=出荷上限閾値×(1+脱磁変化率)
下限選別閾値=出荷下限閾値×(1+脱磁変化率)
により設定する、
電子部品の選別装置。 An apparatus for sorting electronic components including a magnetic material, comprising:
The electronic parts are demagnetized after sorting,
A measurement unit which contacts the measurement terminal to which the bias is applied to the external electrode of the electronic component to clean the contact portion of the external electrode in contact with the measurement terminal and measures the impedance value of the electronic component through the measurement terminal When,
A control unit that determines the quality of the electronic component by comparing the upper limit sorting threshold and the lower limit sorting threshold corresponding to the electronic component with the measured impedance value;
A sorting unit that sorts the non-defective electronic component based on the determination result of the control unit;
Including
The control unit
The upper limit sorting threshold and the lower limit sorting threshold are based on a shipping upper limit threshold and a shipping lower limit threshold for shipping the electronic component and a demagnetization change rate at which the impedance value changes in the demagnetization of the electronic component. ,
Upper limit sorting threshold = shipping upper limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Lower limit sorting threshold = shipping lower limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Set by,
Electronic component sorting device.
前記電子部品を前記キャリアテープに搬送する搬送部と、
前記搬送部における前記電子部品の搬送経路に設けられ、前記電子部品に接触させる一対の測定端子の間にバイアス電圧を印加して前記電子部品の外部電極に接触させて前記測定端子と接する前記外部電極の接触部分をクリーニングし、前記測定端子を介して前記電子部品の特性を測定する測定部と、
前記電子部品に対応する上限選別閾値及び下限選別閾値と測定したインピーダンス値とを比較して前記電子部品の良否を判定する制御部と、
前記制御部の判定結果に基づいて、良品の前記電子部品を選別する選別部と、
前記テーピング電子部品連を巻き取る巻き取り部と、
前記搬送部と前記巻き取り部との間に配設された脱磁装置と、
を含み、
前記制御部は、
前記上限選別閾値と前記下限選別閾値とを、前記電子部品の出荷のための出荷上限閾値及び出荷下限閾値と、前記電子部品の脱磁において前記インピーダンス値が変化する脱磁変化率とに基づいて、
上限選別閾値=出荷上限閾値×(1+脱磁変化率)
下限選別閾値=出荷下限閾値×(1+脱磁変化率)
により設定する、
テーピング電子部品連の製造装置。
A taped electronic component train is formed having a carrier tape having a plurality of receiving holes formed at intervals along the longitudinal direction, an electronic component received in the receiving hole, and a cover tape for closing the receiving hole. A manufacturing apparatus for taping electronic component trains,
A transport unit that transports the electronic component to the carrier tape;
The external part is provided on a transport path of the electronic component in the transport unit, applies a bias voltage between a pair of measurement terminals to be in contact with the electronic component, contacts the external electrode of the electronic component, and contacts the measurement terminal A measurement unit that cleans the contact portion of the electrode and measures the characteristics of the electronic component through the measurement terminal;
A control unit that determines the quality of the electronic component by comparing the upper limit sorting threshold and the lower limit sorting threshold corresponding to the electronic component with the measured impedance value;
A sorting unit that sorts the non-defective electronic component based on the determination result of the control unit;
A winding unit for winding the taping electronic component train;
A demagnetizing device disposed between the transport unit and the winding unit;
Including
The control unit
The upper limit sorting threshold and the lower limit sorting threshold are based on a shipping upper limit threshold and a shipping lower limit threshold for shipping the electronic component and a demagnetization change rate at which the impedance value changes in the demagnetization of the electronic component. ,
Upper limit sorting threshold = shipping upper limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Lower limit sorting threshold = shipping lower limit threshold × (1 + demagnetization change rate)
Set by,
Equipment for manufacturing taping electronic components.
Priority Applications (3)
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---|---|---|---|
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