JP6460729B2 - 基板処理方法、及び、半導体素子の製造方法 - Google Patents
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Description
一方、上記のドライエッチングにおいて処理物を完全に除去しきれないことが多く、通常、加工後の基板上にその残渣が残存する。また、レジスト等の除去のときに行われるアッシングにおいても、同様に基板上に残渣が残ることとなる。これらの残渣を処理する方法としては、特許文献1及び2に記載された方法が知られている。
半導体基板内の配線や集積回路のサイズはますます小さくなり、残すべき部材を腐食することなく正確に残渣除去を行う重要性は益々高まっている。
<1>ルテニウム含有膜が形成された基板に対して、上記基板の上記ルテニウム含有膜が形成された面の外縁部及び/又は裏面に付着したルテニウム付着物を除去液により除去する除去工程、を含み、上記除去液が、オルト過ヨウ素酸を、除去液の全質量に対し、0.05〜8質量%含み、上記除去液のpHが、3.5以下であることを特徴とする基板処理方法、
<2>上記基板における上記ルテニウム含有膜の厚みが、10nm以下である、<1>に記載の基板処理方法、
<3>上記除去液が、第四級アンモニウム塩化合物又はアミン化合物を更に含む、<1>又は<2>に記載の基板処理方法、
<4>上記除去工程における除去時の処理温度が、30℃以下である、<1>〜<3>のいずれか1つに記載の基板処理方法、
<5>上記除去液中のオルト過ヨウ素酸の濃度CIと、第四級アンモニウム塩化合物及びアミン化合物の総濃度CAとの比が、質量比で、CI:CA=100:0.1〜10である、<3>に記載の基板処理方法、
<6>上記除去液のpHが、1.9以下である、<1>〜<5>のいずれか1つに記載の基板処理方法、
<7>上記除去工程前において、上記基板の上記ルテニウム含有膜が形成された面の外縁部又は裏面に無機粒子が付着している、<1>〜<6>のいずれか1つに記載の基板処理方法、
<8>上記無機粒子が、SiO2粒子を含む、<7>に記載の基板処理方法、
<10>上記除去液が、オルト過ヨウ素酸を、除去液の全質量に対し、0.05〜8質量%含む、<9>に記載の基板処理方法、
<11>上記基板における上記ルテニウム含有膜の厚みが、10nm以下である、<9>又は<10>に記載の基板処理方法、
<12>上記除去液が、第四級アンモニウム塩化合物又はアミン化合物を更に含む、<9>〜<11>のいずれか1つに記載の基板処理方法、
<13><1>〜<12>のいずれか1つに記載の基板処理方法を含む、半導体素子の製造方法。
また、本発明において、「質量%」と「重量%」とは同義であり、「質量部」と「重量部」とは同義である。
本明細書における基(原子団)の表記において、置換及び無置換を記していない表記は、置換基を有さないものと共に置換基を有するものをも包含するものである。例えば、「アルキル基」とは、置換基を有さないアルキル基(無置換アルキル基)のみならず、置換基を有するアルキル基(置換アルキル基)をも包含するものである。
本明細書の組成物における各成分は、単独で、又は2種以上を併用して用いることができる。
また、本発明において、2以上の好ましい態様の組み合わせは、より好ましい態様である。
本発明の基板処理方法の第1の実施態様は、ルテニウム含有膜が形成された基板に対して、上記基板の上記ルテニウム含有膜が形成された面の外縁部及び/又は裏面に付着したルテニウム付着物を除去液により除去する除去工程、を含み、上記除去液が、オルト過ヨウ素酸を、除去液の全質量に対し、0.05〜8質量%含み、上記除去液のpHが、3.5以下であることを特徴とする。
本発明の基板処理方法は、特開2010−267690号公報、特開2008−80288号公報、特開2006−100368号公報、及び、特開2002−299305号公報に記載の基板処理装置及び基板処理方法に好適に適用することができる。
また、本発明の基板処理方法は、例えば、基板のベベル部(表面周縁部)及び裏面を洗浄する基板処理方法及び基板処理装置に好適に用いることができる。
本発明の基板処理方法の第2の実施態様は、ルテニウム含有膜が形成されたNANDフラッシュメモリ製造用基板に対して、ルテニウム含有物を除去液により除去する除去工程、を含み、上記除去液が、オルト過ヨウ素酸を含み、上記除去液のpHが、3.5以下であることを特徴とする。
中でも、本発明の基板処理方法は、NANDフラッシュメモリの製造に好適に用いることができる。
また、NANDフラッシュメモリにも、バリア層などの機能層等の材質として、ルテニウムが好適に用いられる。
更に、NANDフラッシュメモリは、今後、構造の更なる微細化が予想され、歩留まり等の観点から、製造時に発生又は付着する微細な異物の除去が重要になると考えられる。
詳細な効果の発現機構については不明であるが、オルト過ヨウ素酸はルテニウムの酸化溶解性に優れ、また、ルテニウムの等電点、ルテニウムの表面電位がゼロとなるpHが4であり、除去液のpHが3.5以下であると、ルテニウムが粒子状等の形状の異物として存在した場合、ルテニウム表面のゼータ電位がプラスとなり反発するため、ウエハ表面から離れやすくなるものと推定している。また、除去液の保存安定性については、除去液のpHが3.5以下と酸性側であるため、優れると推定される。
更に、ルテニウム含有膜が堆積されたウエハのデバイス面の外縁部又は裏面に、ルテニウムだけでなく、SiO2粒子が付着している場合、SiO2の等電点がpH3.6であるため、除去性により優れるものと推定される。
本発明の基板処理方法に用いる基板は、ルテニウム含有膜(半導体素子における機能層となる。)が形成されていること以外、特に制限はないが、半導体基板であることが好ましい。
上記基板には、半導体ウエハ、フォトマスク用ガラス基板、液晶表示用ガラス基板、プラズマ表示用ガラス基板、FED(Field Emission Display)用基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板などの各種基板が含まれる。
また、上記基板は、ルテニウム含有膜及び基板の基材以外に、所望に応じた種々の層や構造、例えば、金属配線、ゲート構造、ソース構造、ドレイン構造、絶縁層、強磁性層、及び/又は、非磁性層等を有していてもよく、また、上記基板のデバイス面の最上層がルテニウム含有膜である必要はなく、例えば、多層構造の中間層がルテニウム含有膜であってもよい。
また、上記基板としては、公知の基板、特にその製造途中の基板を好適に用いることができる。
中でも、上記基板としては、NANDフラッシュメモリ製造用基板を好適に用いることができる。
また、本発明においては、基板の上記ルテニウム含有膜が形成された面を、デバイス面ともいう場合もある。
また、本発明に用いることができる基板は、基板端部周辺に傾斜部を有していることが好ましい。
上記基板における上記ルテニウム含有膜の厚みは、特に制限はなく、所望に応じて適宜技選択すればよいが、50nm以下であることが好ましく、20nmであることがより好ましく、10nm以下であることが更に好ましい。なお、下限値は、基板のデバイス面の外縁部又は裏面の一部は、ルテニウムが付着していない部分があってもよいため、0nmである。
上記範囲のルテニウム薄膜を形成した場合、より微細なルテニウムの異物が、上記外縁部又は裏面に付着したり、また、エッチング残渣として基板に付着したりする(ルテニウム付着物)が、本発明の基板処理方法によれば、優れた異物除去性を示す。
またNANDフラッシュメモリを製造する過程においては、ルテニウム薄膜を所定の形状にパターニングした後に、ルテニウム含有膜の端部にルテニウム含有物が残渣として残存することがあるが、本発明の基板処理方法によれば、このようなルテニウム含有物に対しても優れた除去性を示す。
本発明の基板処理方法は、ルテニウム含有膜が形成された基板に対して、基板に残存するルテニウム含有物やルテニウム付着物の少なくとも一部を除去液により除去する除去工程を含む。
上記除去工程は、ルテニウム含有膜が形成された基板に対して、上記基板のルテニウム含有膜が形成された面の外縁部及び/又は裏面の上記ルテニウム含有膜を除去液により除去する工程(ベベル洗浄工程)であることが好ましい。上記態様であると、本発明の効果をより発揮できる。
本発明における基板のルテニウム含有膜が形成された面の外縁部とは、基板の端面及び基板のルテニウム含有膜が形成された面における端部の周辺部分、すなわち、ベベル部をいう。
上記除去工程に用いることができる除去液については、後述する。
上記除去工程における除去時の処理温度は、35℃以下であることが好ましく、30℃以下であることがより好ましく、0℃以上30℃以下であることが更に好ましく、10℃以上30℃以下であることが特に好ましい。上記範囲であると、Ruエッチング速度が十分高く、また、NANDフラッシュメモリ等の半導体素子を形成する部分への不必要な影響を少なくすることができる。
また、上記除去工程における除去時の処理時間は、特に制限はないが、1秒〜30分であることが好ましく、10秒〜20分であることがより好ましく、30秒〜10分であることが更に好ましい。
上記第1の実施態様における除去液(「ベベル洗浄液」ともいう。)は、オルト過ヨウ素酸を、除去液の全質量に対し、0.05〜8質量%含み、pHが3.5以下である。
上記除去液のpHは、0〜3.5であることが好ましく、0.5〜2.5であることがより好ましく、1.0〜2.5であることが更に好ましく、1.0〜1.9であることが特に好ましい。上記範囲であると、Ruエッチング速度により優れ、また、異物除去性により優れる。
本発明における除去液のpHは、室温(25℃)において、(株)堀場製作所製、F−51(商品名)で測定した値である。
また、上記除去液は、硝酸を含まないことが好ましい。上記態様であると、基板上のNAND型フラッシュメモリ等の半導体素子を形成する部分への除去工程時の影響を抑制することができる。
上記除去液は、オルト過ヨウ素酸(H5IO6)を含む。
ルテニウムは、ルテニウムを4つの酸素原子と結合した四酸化ルテニウム(RuO4)に変化させることによって溶解可能とすることができる。
金属の酸化溶解に用いる酸化剤は、その酸化剤の酸化還元電位が、溶解しようとする金属の溶解反応の酸化還元電位より高く、かつその反応の過程において酸化剤が酸素原子を放出することが必要である。
ルテニウムと四酸化ルテニウムとの標準電極電位は、pH=0において1.13V(M. Pourbaix; "Atlas of Electrochemical Equilibria in AqueousSolutions", 1st English Edition, Chapter IV, Pergamon, Oxford (1966))であり、また、ルテニウムから四酸化ルテニウムが電気化学的に生成する電位は過電圧を含めると更に大きくなり、1.4〜1.47V(上記文献参照)と報告されている。したがって、ルテニウムのエッチングに用いるべき酸化剤としては、たとえばpH=0で用いる場合、その酸化還元電位が少なくとも1.13V以上、可能ならば1.4V以上であることが好ましい。
オルト過ヨウ素酸は、ルテニウムを酸化するための酸素原子を放出する酸化剤であり、また、オルト過ヨウ素酸の酸化還元電位は、ルテニウムを酸化溶解するために十分な電位を有しているため、ルテニウムを効率良く酸化溶解することができる。
また、オルト過ヨウ素酸として、アルカリ金属イオン若しくはアルカリ土類金属イオンが十分に低濃度である、又は、アルカリ金属塩若しくはアルカリ土類金属塩を含まないものを用いることができるので、NANDフラッシュメモリの製造に好適に使用することができる。
また、上記除去液は、オルト過ヨウ素酸の溶液であることが好ましく、オルト過ヨウ素酸の水溶液であることがより好ましい。
上記除去液は、水を含むことが好ましく、水溶液であることがより好ましい。
水としては、本発明の効果を損ねない範囲で溶解成分を含む水性媒体であってもよく、あるいは不可避的な微量混合成分を含んでいてもよい。中でも、蒸留水やイオン交換水、あるいは超純水といった浄化処理を施された水が好ましく、半導体製造に使用される超純水を用いることが特に好ましい。
上記除去液中の水の濃度は、特に限定されないが、80質量%以上であることが好ましく、90質量%以上であることがより好ましく、94質量%以上であることが更に好ましい。また、上限値は、特に限定はないが、99.95質量%以下であることが好ましく、99.9質量%以下であることがより好ましく、99.5質量%以下であることが更に好ましい。
上記除去液は、第四級アンモニウム塩化合物又はアミン化合物を含むことが好ましく、アミン化合物を含むことがより好ましい。上記態様であると、Ruエッチング速度が適度であり、また、異物除去性により優れる。
第四級アンモニウム塩化合物は、特に制限はなく、テトラアルキルアンモニウムヒドロキシド、テトラアルキルアンモニウム硝酸塩、テトラアルキルアンモニウム硫酸塩等が挙げられる。
中でも、RP1〜RP9はそれぞれ独立に、アルキル基、アルケニル基、アリール基、又は、下記式xで表される基が好ましく、アルキル基、又は、下記式xで表される基が特に好ましい。
これらの基は、更に置換基Tを有していてもよい。
置換基Tとしては、ハロゲン原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アリール基、ヘテロ環基、アシル基、アリーロイル基、アルコキシカルボニル基、アルコキシカルボニルアミノ基、ヒドロキシ基(OH)、カルボキシル基(COOH)、スルファニル基(SH)、アルコキシ基、アリールオキシ基、アルキルスルファニル基、及び、アリールスルファニル基が挙げられる。
中でも、置換基Tとしては、付加される任意の置換基としては、ヒドロキシ基(OH)、カルボキシル基(COOH)、スルファニル基(SH)、アルコキシ基、又は、アルキルスルファニル基が好ましい。また、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基は、それぞれ例えば1〜4個の、O、S、CO、NRN(RNは水素原子又は炭素数1〜6のアルキル基を表す。)を介在していてもよい。
X1は、ヒドロキシ基、スルファニル基、炭素数1〜4のアルコキシ基、又は、炭素数1〜4のアルキルスルファニル基を表す。中でも、ヒドロキシ基が好ましい。
Rx1及びRx2はそれぞれ独立に、炭素数1〜6のアルキレン基、炭素数2〜6のアルケニレン基、炭素数2〜6のアルキニレン基、炭素数6〜10のアリーレン基、又は、これらを2以上組み合わせた基を表す。中でも、炭素数1〜6のアルキレン基が好ましい。
X2は、O、S、CO又はNRNを表す。中でも、Oが好ましい。
mxは0〜6の整数を表す。mxが2以上のとき、複数のRx1及びX2は、それぞれ同じであっても、異なっていてもよい。Rx1及びRx2は、更に置換基Tを有していてもよい。
*は、式P−1〜P−5における窒素原子との結合位置を表す。
なお、本発明において、上記第四級アンモニウム塩化合物及びアミン化合物は、1種のみを用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。2種以上を併用する場合、その併用割合は特に限定されないが、合計使用量は、2種以上の総和として上記濃度範囲とすることが好ましい。各成分の濃度は使用時に上記の濃度であればよい。
上記第四級アンモニウム塩化合物及びアミン化合物は、基板中の層(例えば、強磁性体層、絶縁体層等)を保護する機能を果たしている推定される。例えば、上記の層の表面で保護膜を形成して、その溶解を抑えていることが考えられる。かかる観点から上記下限値以上で適用されることが好ましい。一方、他の成分との関係でその性能を阻害しないよう、上記上限値以下で適用されることが好ましい。
また、上記除去液中のオルト過ヨウ素酸の濃度CIと、第四級アンモニウム塩化合物及びアミン化合物の総濃度CAとの比は、質量比で、CI:CA=100:0.1〜10であることが好ましく、CI:CA=100:0.2〜5であることがより好ましく、CI:CA=100:0.5〜4であることが更に好ましい。上記範囲であると、上記範囲であると、Ruエッチング速度が適度であり、また、異物除去性により優れる。
上記除去液は、上述した以外の他の成分を含んでいてもよい。
他の成分としては、特に制限はなく、公知の成分を用いることができる。例えば、特開2014−93407号公報の段落0026等に記載、特開2013−55087号公報の段落0024〜0027等に記載、特開2013−12614号公報の段落0024〜0027等に記載の各界面活性剤が挙げられる。あるいは、特開2014−107434号公報の段落0017〜0038、特開2014−103179号公報の段落0033〜0047、特開2014−93407号公報の段落0017〜0049等に開示の各添加剤(防食剤等)が挙げられる。
ただし、本発明においては、上記除去液は、他の成分を含まないことが好ましく、オルト過ヨウ素酸と水とからなる溶液であるか、又は、オルト過ヨウ素酸と第四級アンモニウム塩化合物又はアミン化合物と水とからなる溶液であることがより好ましい。ただし、このような場合にも、不可避不純物が除去液中に含有されることは妨げるものではない。
上記第2の実施態様における除去液(「NAND洗浄液」ともいう。)は、オルト過ヨウ素酸を含み、pHが、3.5以下である。
上記第2の実施態様における除去液としては、後述する態様以外は、上記第1の実施態様における除去液と同様のものを好適に用いることができる。
上記第2の実施態様における除去液中のオルト過ヨウ素酸の含有量は、除去液の全質量に対し、0.05〜8質量%であることが好ましく、0.1〜7質量%であることがより好ましく、0.5〜5質量%であることが更に好ましく、0.5〜3質量%であることが特に好ましい。上記範囲であると、Ruエッチング速度及び異物除去性により優れ、また、基板上のNANDフラッシュメモリを形成する部分への除去工程時の影響を抑制することができる。
本発明の基板処理方法は、上記除去工程の前に、ルテニウム含有膜が形成された基板を準備する準備工程を含むことが好ましい。
また、上記ルテニウム含有膜の形成方法としては、特に制限はなく、公知の形成方法を用いることができ、例えば、スパッタリング法、化学気相成長(CVD:Chemical Vapor Deposition)法、分子線エピタキシー(MBE:Molecular Beam Epitaxy)法等が好適に挙げられる。
中でも、スパッタリング法によりルテニウム含有膜を形成した場合、ルテニウム含有膜が形成された基板のデバイス面の外縁部又は裏面にも、ルテニウムが多く付着するため、本発明の効果をより発揮することができ、好ましい。
また、形成時に用いることができるルテニウム含有膜の原料も、特に制限はなく、堆積方法にあわせ、適宜選択すればよい。
本発明の基板処理方法は、上記除去工程及び上記準備工程及び以外に、公知の工程を含んでいてもよい。
その他の工程としては、NANDフラッシュメモリ等の半導体素子を製造する際に行われる公知の工程が挙げられる。
例えば、金属配線、ゲート構造、ソース構造、ドレイン構造、絶縁層、強磁性層及び/又は非磁性層等の各構造の形成工程(層形成、エッチング、化学機械研磨、変成等)、レジストの形成工程、露光工程及び除去工程、熱処理工程、洗浄工程、検査工程等が挙げられる。
また、本発明の基板処理方法におけるその他の工程は、必要に応じ、上記準備工程及び上記除去工程の前及び/若しくは後、並びに/又は、上記準備工程と上記除去工程との間に行うことができる。
本発明の基板処理方法において、NANDフラッシュメモリ製造用基板を用いる場合、上記除去工程は、NANDフラッシュメモリ製造におけるバックエンドプロセス(BEOL:Back end of the line)中で行っても、フロントエンドプロセス(FEOL:Front end of the line)中で行ってもよいが、本発明の効果をより発揮できる観点から、フロントエンドプロセス中で行うことが好ましい。
本発明の半導体素子の製造方法は、本発明の基板処理方法を含む。
本発明の半導体素子の製造方法の好ましい第1の実施態様は、ルテニウム含有膜が形成された基板に対して、上記基板の上記ルテニウム含有膜が形成された面の外縁部及び/又は裏面に付着したルテニウム付着物を除去液により除去する除去工程、を含み、上記除去液が、オルト過ヨウ素酸を、除去液の全質量に対し、0.05〜8質量%含み、上記除去液のpHが、3.5以下であることを特徴とする。
本発明の半導体素子の製造方法の好ましい第2の実施態様は、ルテニウム含有膜が形成されたNANDフラッシュメモリ製造用基板に対して、ルテニウム含有物を除去液により除去する除去工程、を含み、上記除去液が、オルト過ヨウ素酸を含み、上記除去液のpHが、3.5以下であることを特徴とする。
また、本発明の半導体素子の製造方法は、NANDフラッシュメモリの製造方法であることが好ましい。上記態様であると、本発明の効果をより発揮することができる。
本発明の半導体素子の製造方法は、上記除去工程及び上記準備工程及び以外に、公知の工程を含んでいてもよい。
その他の工程としては、特に制限はなく、半導体素子を製造する際に行われる公知の工程が挙げられる。例えば、金属配線、ゲート構造、ソース構造、ドレイン構造、絶縁層、強磁性層及び/又は非磁性層等の各構造の形成工程(層形成、エッチング、化学機械研磨、変成等)、レジストの形成工程、露光工程及び除去工程、熱処理工程、洗浄工程、検査工程等が挙げられる。
また、上述したように、本発明の半導体素子の製造方法におけるその他の工程は、必要に応じ、上記準備工程及び上記除去工程の前及び/若しくは後、並びに/又は、上記準備工程と上記除去工程との間に行うことができる。
上述したように、本発明の半導体素子の製造方法において、NANDフラッシュメモリ製造用基板を用いる場合、上記除去工程は、NANDフラッシュメモリ製造におけるバックエンドプロセス(BEOL)中で行っても、フロントエンドプロセス(FEOL)中で行ってもよいが、本発明の効果をより発揮できる観点から、フロントエンドプロセス中で行うことが好ましい。
上記のような多結晶シリコン膜上に金属膜を形成する際に、バリアメタル膜を用いることができる。この場合、バリアメタル膜の材料は、金属膜と多結晶シリコン膜とが反応するのを抑制する材料であればよい。例えば、窒化タングステン(WN)、窒化タングステンシリサイド(WSiN)、窒化チタン(TiN)、ルテニウム(Ru)、酸化ルテニウム(RuO)、タンタル(Ta)、窒化タンタル(TaN)、窒化タンタルシリサイド(TaSiN)、マンガン(Mn)、酸化マンガン(MnO)、ニオブ(Nb)、窒化ニオブ(NbN)、窒化モリブデン(MoN)、バナジウム(Vn)などのさまざまな材料を用いることができる。
このような構成のNANDフラッシュメモリにおける機能層にルテニウムが含まれる場合、本発明に係る基板処理方法が有効である。
<除去液の調製>
下記表1に記載の配合で各試験に適用する除去液をそれぞれ調製した。
<Ruエッチング試験>
市販のシリコンウエハ(直径:12インチ)上に、CVD法によりルテニウム層を形成した基板をそれぞれ準備した。各層の厚さは20nmとした。
得られた基板を、除去液を満たした容器に入れ、250rpmで撹拌した。処理温度は25℃とし、処理時間は5分とした。エリプソメトリー(分光エリプソメーター、ジェー・エー・ウーラム・ジャパン(株)製Vaseを使用した)を用いて処理前後の膜厚を測定することにより、Ruエッチング速度(単位:Å/min.)を算出した。5点の平均値を採用した(測定条件 測定範囲:1.2−2.5eV、測定角:70度,75度)。
なお、1Å=0.1nmである。
基板サイズを2cm角とした以外は、上記Ruエッチング試験と同様のルテニウム層を形成した基板を準備した。
基板上に、SiO2粒子(扶桑化学工業(株)製PL−3、平均一次粒径:35nm)を1ml滴下した後、200ml/min.で除去液を2分間基板上にあてて、洗浄した。更に、30秒間、500ml/min.の流水で洗浄し、窒素ガンで乾燥した後、走査型電子顕微鏡(SEM)にて基板表面の観察を行い、1μm2内の粒子の個数をカウントした。
評価基準を以下に示す。
A:粒子の個数が10個未満
B:粒子の個数が10個以上50個未満
C:粒子の個数が50個以上
除去液を調製した後、室温(25℃)で1ヶ月保管し、以下の基準で評価した。
A:室温(25℃)1ヶ月保管後であっても、除去液調製直後のものと比較し、Ruエッチング速度及び異物除去性が変化しない。
B:室温(25℃)1ヶ月保管後の除去液が、除去液調製直後のものと比較し、Ruエッチング速度及び異物除去性が劣化している。
オルト過ヨウ素酸:Aldrich社製
A:テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(Sachem社製)
B:アンモニア水(表1に記載の濃度はアンモニア換算である。関東化学(株)製)
C:2−アミノエタノール(林純薬工業(株)製)
D:ジグリコールアミン(2−(2−アミノエトキシ)エタノール、Huntuman社製)
Claims (17)
- ルテニウム含有膜が形成された基板に対して、前記基板の前記ルテニウム含有膜が形成された面の外縁部及び/又は裏面に付着したルテニウム付着物を除去液により除去する除去工程、を含み、
前記除去液が、オルト過ヨウ素酸を、除去液の全質量に対し、0.05〜8質量%含み、
前記除去液が、第四級アンモニウム塩化合物又はアミン化合物を更に含み、
前記除去液中のオルト過ヨウ素酸の濃度CIと、第四級アンモニウム塩化合物及びアミン化合物の総濃度CAとの比が、質量比で、CI:CA=100:0.1〜10であり、
前記除去液のpHが、3.5以下であることを特徴とする
基板処理方法。 - 前記基板における前記ルテニウム含有膜の厚みが、10nm以下である、請求項1に記載の基板処理方法。
- 前記除去工程における除去時の処理温度が、30℃以下である、請求項1又は請求項2に記載の基板処理方法。
- 前記除去液のpHが、1.9以下である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の基板処理方法。
- 前記除去工程前において、前記基板の前記ルテニウム含有膜が形成された面の外縁部又は裏面に無機粒子が付着している、請求項1〜4のいずれか1項に記載の基板処理方法。
- 前記無機粒子が、SiO2粒子を含む、請求項5に記載の基板処理方法。
- ルテニウム含有膜が形成されたNANDフラッシュメモリ製造用基板に対して、ルテニウム含有物を除去液により除去する除去工程、を含み、
前記除去液が、オルト過ヨウ素酸を、除去液の全質量に対し、0.05〜8質量%含み、
前記除去液が、第四級アンモニウム塩化合物又はアミン化合物を更に含み、
前記除去液中のオルト過ヨウ素酸の濃度CIと、第四級アンモニウム塩化合物及びアミン化合物の総濃度CAとの比が、質量比で、CI:CA=100:0.1〜10であり、
前記除去液のpHが、3.5以下であることを特徴とする
基板処理方法。 - 前記基板における前記ルテニウム含有膜の厚みが、10nm以下である、請求項7に記載の基板処理方法。
- ルテニウム含有膜が形成された基板に対して、前記基板の前記ルテニウム含有膜が形成された面の外縁部及び/又は裏面に付着したルテニウム付着物を除去液により除去する除去工程、を含み、
前記除去液が、オルト過ヨウ素酸を、除去液の全質量に対し、0.05〜8質量%含み、
前記除去液が、分子内に第一級アミノ基、第二級アミノ基、第三級アミノ基のいずれかを有するアミン化合物を更に含み、
前記除去液中のオルト過ヨウ素酸の濃度C I と、アミン化合物の濃度C A との比が、質量比で、C I :C A =100:0.1〜10であり、
前記除去液のpHが、3.5以下であることを特徴とする
基板処理方法。 - 前記基板における前記ルテニウム含有膜の厚みが、10nm以下である、請求項9に記載の基板処理方法。
- 前記除去工程における除去時の処理温度が、30℃以下である、請求項9又は10に記載の基板処理方法。
- 前記除去液のpHが、1.9以下である、請求項9〜11のいずれか1項に記載の基板処理方法。
- 前記除去工程前において、前記基板の前記ルテニウム含有膜が形成された面の外縁部又は裏面に無機粒子が付着している、請求項9〜12のいずれか1項に記載の基板処理方法。
- 前記無機粒子が、SiO2粒子を含む、請求項13に記載の基板処理方法。
- ルテニウム含有膜が形成されたNANDフラッシュメモリ製造用基板に対して、ルテニウム含有物を除去液により除去する除去工程、を含み、
前記除去液が、オルト過ヨウ素酸を、除去液の全質量に対し、0.05〜8質量%含み、
前記除去液が、分子内に第一級アミノ基、第二級アミノ基、第三級アミノ基のいずれかを有するアミン化合物を更に含み、
前記除去液中のオルト過ヨウ素酸の濃度C I と、アミン化合物の濃度C A との比が、質量比で、C I :C A =100:0.1〜10であり、
前記除去液のpHが、3.5以下であることを特徴とする
基板処理方法。 - 前記基板における前記ルテニウム含有膜の厚みが、10nm以下である、請求項15に記載の基板処理方法。
- 請求項1〜16のいずれか1項に記載の基板処理方法を含む、半導体素子の製造方法。
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