JP6456205B2 - 測定対象物の断面形状測定方法 - Google Patents

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Description

測定対象物に対して設定される軸線と直交する方向の当該測定対象物の断面形状を測定する方法に関し、特に、軸線と交差する方向に突出した部位を有する測定対象物の断面形状を測定する方法に関する。
近年、工作機械によって加工されるワークの材料が多様化しており、例えば、タービンブレードのように高い耐熱性が要求される製品を製造する場合には、ニッケル基超合金がワークの材料になるといったように、一般的な炭素鋼の価格の数十倍以上高価な材料がワークの材料となる機会も増加している。このような高価な材料からなるワークを加工する場合、材料の浪費を抑えてコストの削減を図るためには、除去量を削減することが極めて重要である。そこで、特に、ワークが高価な材料からなる場合には、ワークからの除去量を極力少なくするために、製品の最終形状に近い形状(ニアネットシェイプ)のワークを鍛造や鋳造によって予め製造し、これを工作機械によって製品形状に加工することが行われている。
ところで、ニアネットシェイプのワークを最小限の除去量で製品の形状に加工する場合、工作機械上に取り付けられるワークの三次元空間内における位置を正確に定義しておくことが必要不可欠である。そこで、従来、ワークを特定の位置に保持するための特別な取付具を使用する、或いは、特開平8−313242号に開示されたようなタッチプローブを用いてワークの三次元空間内における位置を測定するようにして、工作機械上に取り付けたワークの三次元空間内における位置を定義するようにしている。
特開平8−313242号公報
ところが、特別な取付具を使用するようにして、取り付けたワークの三次元空間内における位置を定義するようにした場合、最終製品の形状ごとに専用の取付具を用意しなければならない。そのため、取付具を設計・製造するための時間や費用が必要になり、その分だけ製品の製造コストが増加するという問題がある。また、三次元空間におけるワークの位置を定義することはできるが、ワークの形状の適否を判断するためには、ワークの形状を測定するための測定手段を別途用意しなければならない。
また、取り付けたワークの位置をタッチプローブによって測定することにより、当該ワークの位置を定義する場合には、以下のような問題がある。
即ち、タッチプローブは参照領域のみを測定するようになっているため、タッチプローブを用いたとしてもワーク全体の形状を認識することができず、三次元空間におけるワークの位置を定義した際に誤差が生じ易い。したがって、ニアネットシェイプのワークを製造する際に、本来であれば削り代を少なくすることができるにもかかわらず、上記誤差が生じることを考慮して削り代を余分に確保する必要があるため、余分なコストがかかるという問題がある。
更に、上述したように、タッチプローブを用いたとしてもワーク全体の形状を認識することができないため、ワーク形状の適否を正確に判断することができないという問題もある。
ここで、ワークの位置を定義したり、ワーク形状の適否を判断する方法としては、上述した方法以外にも、ワークの断面形状を測定したり、測定した断面形状を基にしてワークの三次元モデルを生成する方法がある。しかしながら、これらの方法についても、ワークの位置を正確に定義したり、ワーク形状の適否を正確に判断するためには、ワークの断面形状を正確に測定することが必要不可欠である。
本発明は以上の実情に鑑みなされたものであり、測定対象物の断面形状を正確に測定することができる測定対象物の断面形状測定方法の提供を、その目的とする。
上記課題を解決するための本発明は、
レーザ光を照射して、測定対象物までの距離を検出するように構成されたレーザ測長器を用い、
前記測定対象物に対して設定される軸線と直交する方向の断面形状が、前記軸線と交差する方向に突出した部位を有する該測定対象物の、前記断面形状を測定する方法であって、
前記測定対象物を、前記軸線を中心として回転可能に、回転軸に保持させるとともに、前記レーザ測長器を、前記軸線に対して進退可能であり、且つこの進退方向に移動可能に、更に前記レーザ光が前記軸線と直交するように、支持機構に支持させる準備工程と、
前記測定対象物を回転させるとともに、前記レーザ測長器を、前記軸線に接近させて、該レーザ測長器によって前記測定対象物が検出された後、前記測定対象物の回転を停止させ、ついで、前記レーザ測長器の三次元空間内における位置と、該レーザ測長器を前記進退方向及び前記軸線と直交するスキャン方向に移動、又は前記測定対象物を再度回転させながら該レーザ測長器から得られる距離データとを基に、前記測定対象物の突出部位に係る三次元位置情報を取得する第1測定工程と、
次に、前記測定対象物の突出部位とは異なる突出部位に前記レーザ光が照射可能となるように、前記測定対象物を第1の角度回転させた後、前記レーザ測長器の三次元空間内における位置と、該レーザ測長器を前記スキャン方向に移動、又は前記測定対象物を再度回転させながら該レーザ測長器から得られる距離データとを基に、前記測定対象物の前記異なる突出部位に係る三次元位置情報を取得する第2測定工程と、
少なくとも、前記第1測定工程及び第2測定工程の各工程で得られたそれぞれの三次元位置情報を基に、前記測定対象物の前記断面形状を算出する断面形状算出工程とを実施するようにした、測定対象物の断面形状測定方法に係る。
この測定対象物の断面形状測定方法においては、第1測定工程及び第2測定工程を行うことによって、測定対象物における突出部位をスキャンして、取得した三次元位置情報を基にして、適宜設計データ等を参照するなどし、測定対象物の断面形状を算出する。
また、上記測定対象物の断面形状測定方法は、
前記測定対象物の突出部位と前記異なる突出部位との間である、中間部位に前記レーザ光が照射可能となるように、前記測定対象物を第2の角度回転させた後、前記レーザ測長器の三次元空間内における位置と、該レーザ測長器を前記スキャン方向に移動、又は前記測定対象物を再度回転させながら該レーザ測長器から得られる距離データとを基に、前記中間部位に係る三次元位置情報を取得する第3測定工程と、
次に、前記測定対象物の前記中間部位とは異なる中間部位に前記レーザ光が照射可能となるように、前記測定対象物を第3の角度回転させた後、前記レーザ測長器の三次元空間内における位置と、該レーザ測長器を前記スキャン方向に移動、又は前記測定対象物を再度回転させながら該レーザ測長器から得られる距離データとを基に、前記測定対象物の前記異なる中間部位に係る三次元位置情報を取得する第4測定工程とを更に実施し、
前記断面形状算出工程において、少なくとも、前記第1測定工程、第2測定工程、第3測定工程及び第4測定工程の各工程で得られたそれぞれの三次元位置情報を基に、前記測定対象物の前記断面形状を算出するようにしても良い。
この場合、第1測定工程から第4測定工程を行うことによって、測定対象物の全周をスキャンして、取得した三次元位置情報を基にして測定対象物の断面形状を算出するようになっている。したがって、測定対象物の断面形状を正確に測定することができる。
また、第1及び第2測定工程を行って測定対象物における前記突出部位の三次元位置情報を取得した後、第3及び第4測定工程を行って前記中間部位の三次元位置情報を取得するようにしており、予め取得した突出部位の三次元位置情報を基にして、前記中間部位の三次元空間内における位置に「当たり」をつけ、第3及び第4測定工程を実施することができるようになるため、測定対象物の断面形状を算出するまでに要する時間を、全体として短縮することも可能となる。
そして、この断面形状測定方法によって正確な断面形状を測定することで、測定した断面形状に基づいて、測定対象物の加工用の基準姿勢(位相)を決定することができるようになり、また、軸線方向に沿って測定対象物の断面形状を測定することで、測定した複数の断面形状を基にして三次元モデルを生成し、この三次元モデルによって測定対象物の位置の定義や測定対象物の形状の適否を正確に判断することもできるようになる。
以上のように、本発明に係る測定対象物の断面形状測定方法によれば、測定対象物の断面形状を正確且つ短時間で測定でき、測定した断面形状を基にして、測定対象物の加工用の基準姿勢を決定する、或いは三次元モデルを生成して測定対象物の位置する又は測定対象物の形状の適否を判断することができるようになる。したがって、従来のように、測定対象物の三次元空間内における位置を定義するために専用の取付具を用いる必要もなく、測定対象物の全周をスキャンして得られた正確な断面形状を基にして、三次元モデルを高精度に構築し、この三次元モデルを基にすることで、誤差を極力抑えた上で測定対象物の位置を定義できる。更に、三次元モデルと製品形状とを比較することによって、測定対象物の形状の適否を精度良く判断することもできるようになる。
尚、「第1の角度」とは、前記異なる突出部位に対してレーザ光が照射されるようになる位相まで、第1測定工程後の測定対象物を回転させるのに必要な角度であり、「第2の角度」とは、前記中間部位に対してレーザ光が照射されるようになる位相まで、第2測定工程後の測定対象物を回転させるのに必要な角度であり、「第3の角度」とは、前記異なる中間部位に対してレーザ光が照射されるようになる位相まで、第3測定工程後の測定対象物を回転させるのに必要な角度である。
ところで、測定対象物の形状によっては、第1測定工程において検出した突出部位の表面から軸線までの距離よりも、第2、第3、第4測定工程で検出される突出部位又は中間部位の表面から軸線までの距離の方が極端に短く、第2、第3、第4測定工程で検出される突出部位又は中間部位がレーザ測長器の測長領域外に位置している場合がある。
この場合、上記断面形状測定方法では、前記第2、第3、第4測定工程のそれぞれにおいて前記レーザ測長器によって前記測定対象物が検出できなかった場合、前記レーザ測長器を前記軸線に接近させるようにして、第2、第3、第4測定工程で検出される突出部位又は中間部位をレーザ測長器の測長領域内に位置させるようにする。
尚、前記準備工程、並びに第1測定工程から第4測定工程では、測定対象物の一端部を回転軸に保持させるようにしても良いし、測定対象物の両端部をそれぞれ対応する回転軸に保持させるようにしても良い。
尚、前記測定対象物としては、例えば、その断面形状が、前記軸線を中心とするほぼ線対称の位置に2つの突出部位を有するブレードを挙げることができる。このブレードのように、軸線を中心とする線対称の位置に2つの突出部位を有した形状の測定対象物の断面形状を測定する場合には、前記第1の角度を180°、前記第2の角度を90°、前記第3の角度を180°とする。
これにより、第1測定工程で突出部位の三次元位置情報を取得した後、第2測定工程において、測定対象物を第1の角度である180°回転させることにより、軸線を挟んだ反対側にある突出部位(異なる突出部位)がレーザ測長器と対向した状態となり、当該異なる突出部位の三次元位置情報を取得することができる。ついで、第3測定工程において、測定対象物を第2の角度である90°回転させることによって、2つの突出部位の間にある中間部位がレーザ測長器と対向した状態となり、当該中間部位の三次元位置情報を取得することができる。しかる後、第4測定工程において、測定対象物を第3の角度である180°回転させることによって、軸線を挟んだ反対側にある中間部位(異なる中間部位)がレーザ測長器と対向した状態となり、当該異なる中間部位の三次元位置情報を取得することができる。
また、前記測定対象物としては、その断面形状が正多角形であるものを例示することもできる。このように、断面形状が正多角形である場合には、正多角形の頂点の数をnとし、前記第1の角度を360°/n、前記第2の角度を180°/n、前記第3の角度を360°/nとする。
この場合、前記第1測定工程を実施した後、第2測定工程を(n−1)回繰り返し実施し、ついで、第3測定工程を実施し、その後、第4測定工程を(n−1)回繰り返し実施するようにして、n個の突出部位及びn個の中間部位の三次元位置情報を取得し、これらを基に測定対象物の断面形状を算出することができる。
具体的に言えば、まず、第1測定工程で突出部位の三次元位置情報を取得する。次に、第2測定工程において、第1の角度である360°/nだけ測定対象物を回転させ、第1測定工程で三次元位置情報を取得した突出部位の隣の突出部位(異なる突出部位)の三次元位置情報を取得し、(n−1)個の突出部位の三次元位置情報を取得するまで、即ち、計(n−1)回の第2測定工程を繰り返し行う。次に、第3測定工程において、第2の角度である180°/nだけ測定対象物を回転させ、前記中間部位の三次元位置情報を取得する。その後、第4測定工程において、第3の角度である360°/nだけ測定対象物を回転させ、第3測定工程で三次元位置情報を取得した中間部位の隣の中間部位(異なる中間部位)の三次元位置情報を取得し、(n−1)個の中間部位の三次元位置情報を取得するまで、計(n−1)回の第4測定工程を繰り返し行う。しかる後、取得したn個の突出部位及びn個の中間部位の三次元位置情報を基にして、測定対象物の断面形状を算出する。
尚、前記「正多角形」とは、厳密な意味での正多角形に限られるものではなく、各辺の長さが多少異なる、或いは、頂点が丸みを帯びているようなほぼ正多角形も含む概念である。
また、上記断面形状測定方法における第2測定工程は、前記測定対象物を回転させない状態で、前記レーザ測長器と対向する位置に反射鏡を配置し、前記レーザ測長器を前記軸線に接近させた後、前記レーザ測長器から照射されるレーザ光を前記反射鏡により反射させて、前記測定対象物の突出部位とは異なる突出部位に照射させるとともに、前記反射鏡を前記軸線と平行な軸を中心に回転させて、前記測定対象物の突出部位とは異なる突出部位をレーザ光によってスキャンし、前記レーザ測長器の三次元空間内の位置と、該レーザ測長器から得られる距離データとを基に、前記測定対象物の突出部位とは異なる突出部位に係る三次元位置情報を取得する工程であっても良い。
このようにすれば、測定対象物を回転させることになく、前記異なる突出部位の三次元位置情報を取得することができ、第1測定工程及び第2測定工程の各工程で得られた突出部位の三次元位置情報を基にして、測定対象物の断面形状を正確且つ短時間で算出することができる。
以上のように、本発明に係る測定対象物の断面形状測定方法によれば、第1測定工程から第4測定工程の各工程において、突出部位又は中間部位の三次元位置情報を測定するようにして、測定対象物の全周に亘る三次元位置情報を取得し、この三次元位置情報を基にして測定対象物の断面形状を算出するようにしているため、正確な断面形状を測定することができる。
そして、この断面形状測定方法によって測定対象物の正確な断面形状を測定することにより、測定された断面形状を基にして、測定対象物の加工用の基準姿勢を正確に定義できる。また、正確に測定された断面形状を基に三次元モデルを構築し、これを基に測定対象物の三次元空間内における位置を正確に定義できるとともに、測定対象物の形状の適否を正確に判断することも可能となる。
本発明に係る測定対象物の断面形状測定方法の実施に用いる旋盤の構成の一部を示した概略図である。 制御装置による一連の処理の流れを示したフローチャートである。 制御装置による一連の処理の流れを示したフローチャートである。 制御装置による一連の処理の流れを示したフローチャートである。 制御装置による一連の処理の流れを示したフローチャートである。 制御装置による一連の処理の流れを示したフローチャートである。 ブレード形状の測定対象物の断面形状の測定し、三次元モデルを生成する過程を説明するための説明図である。 ブレード形状の測定対象物の断面形状の測定し、三次元モデルを生成する過程を説明するための説明図である。 ブレード形状の測定対象物の断面形状の測定し、三次元モデルを生成する過程を説明するための説明図である。 ブレード形状の測定対象物の断面形状の測定し、三次元モデルを生成する過程を説明するための説明図である。 他の実施形態に係る断面形状測定方法の実施に用いる旋盤の構成の一部を示した概略図である。 制御装置による一連の処理の流れを示したフローチャートである。 制御装置による一連の処理の流れを示したフローチャートである。 制御装置による一連の処理の流れを示したフローチャートである。 制御装置による一連の処理の流れを示したフローチャートである。 断面形状が五角形である測定対象物を測定する過程を説明するための説明図である。 断面形状が五角形である測定対象物を測定する過程を説明するための説明図である。 断面形状が五角形である測定対象物を測定する過程を説明するための説明図である。 突出部位及び中間部位をスキャンする他の態様を説明するための説明図である。
以下、具体的な実施の形態につき、図面を参照して説明する。尚、本例においては、旋盤の主軸に取り付けられた測定対象物の断面形状を測定する態様を一例として説明する。
図1は、旋盤1の構成の一部を示した概略図であり、この旋盤1は、測定対象物Wの一端部を水平に把持する第1チャック2や、この第1チャック2と対向するように配置され、前記測定対象物Wの他端部を水平に把持する第2チャック3、軸線中心に回転自在に支持される工具主軸を備えた刃物台4、刃物台4の工具主軸に保持されたレーザ測長器5、刃物台4を支持するクイル6などを備えており、前記レーザ測長器5は、レーザ光を照射するレーザ発振器5aと、レーザ光を受光する複数の受光素子からなる受光部5bとから構成されている。尚、図1においては、図示の都合上、第2チャック3の図示を省略した。
また、図1において特に図示していないが、旋盤1は、ベッドや、ベッド上に固設される第1主軸台、水平な軸線中心に回転自在に第1主軸台に保持される第1主軸、第1主軸と対向するように配設される第2主軸台、第1主軸の軸線と同軸且つ軸線中心に回転自在に第2主軸台に保持される第2主軸、ベッド上に固設されるフレーム、第1主軸の軸線方向たるZ軸方向に移動自在に前記フレームに配設される第1サドル、上下方向たるX軸方向に移動自在に前記第1サドルに配設される第2サドルを備えており、前記第1チャック2は前記第1主軸の先端に装着され、前記第2チャック3は前記第2主軸の先端に装着され、前記クイル6は、前記X軸方向及びZ軸方向の双方と直交するY軸方向に移動自在に第2サドルに配設されている。
前記旋盤1は、更に、第1及び第2主軸をその軸線中心にそれぞれ回転させる2つの回転駆動機構(図示せず)、第1サドルをZ軸方向に移動させる第1送り機構(図示せず)、第2サドルをX軸方向に移動させる第2送り機構(図示せず)、クイル6をY軸方向に移動させる第3送り機構(図示せず)、及びこれら回転駆動機構や送り機構の作動を制御するための機能部や、測定対象物Wに関する断面形状の算出や三次元モデルの生成などを行うための機能部を備えた制御装置10などを備えている。尚、前記各回転駆動機構はサーボモータからなり、前記各送り機構は、サーボモータやボールねじ、ナットなどから構成されている。
前記レーザ測長器5は、レーザ発振器5aから照射されるレーザ光が前記第1及び第2主軸の軸線と直交するように、即ち、照射されるレーザ光の光軸が前記X軸方向と沿うように、前記工具主軸に取り付けられている。そして、このレーザ測長器5は、レーザ発振器5aから照射されたレーザ光が測定対象物Wに反射され、この反射されたレーザ光を受光部5bが受光すると、レーザ光を受光した受光素子の位置を基にして、所謂三角測量法によりレーザ測長器5の所定の基準点から測定対象物Wまでの距離を測定し、当該距離に関するデータ(距離データ)を後述する制御装置10の位置情報算出部12に送信するとともに、前記測定対象物Wに反射されたレーザ光を受光部5bが受光しているか否かに関する信号を、後述するNC制御部11に送信するように構成されている。
前記制御装置10は、図1に示すように、NC制御部11、位置情報算出部12、位置情報記憶部13、断面形状算出部14、断面形状記憶部15及び三次元モデル生成部16から構成されている。
前記NC制御部11は、前記各回転駆動機構及び各送り機構の作動を制御する機能部であり、各回転駆動機構及び各送り機構に適宜動作指令を送信する。また、当該NC制御部11は、前記各回転駆動機構及び各送り機構に送信した動作指令などを基にして、前記第1及び第2主軸の位相(測定対象物Wの位相)を取得し、当該位相を前記位置情報算出部12に送信するとともに、前記第1サドル、第2サドル及びクイル6の三次元空間内における位置を取得し、この取得した位置を基にレーザ測長器5の前記基準点の位置を算出して、この算出した基準点の位置を前記位置情報算出部12に送信する。尚、NC制御部11は、レーザ測長器5に対して、測定開始の引き金となるトリガ信号を送信するように構成されており、また、前記測定対象物Wの位相及び基準点の位置を取得するタイミングは、前記レーザ測長器5において距離データを得るタイミングと同期されるようになっている。
前記位置情報算出部12は、前記レーザ測長器5から送信された距離データと、前記NC制御部11から送信された前記基準点の位置とを基にして、前記測定対象物Wにおけるレーザ光が反射された箇所(検出箇所)の三次元位置情報(三次元空間における座標)を算出するとともに、この算出した三次元位置情報と前記NC制御部11から送信された測定対象物Wの位相とを関連付け、この位相が関連付けられた三次元位置情報を前記位置情報記憶部13に送信する。
前記位置情報記憶部13は、前記位置情報算出部12から送信された三次元位置情報が記憶される機能部であり、記憶された三次元位置情報を断面形状算出部14に適宜送信する。
前記断面形状算出部14は、測定対象物Wの任意の位相を基準とし、前記位置情報記憶部13から送信された三次元位置情報及びこれに関連付けられた測定対象物Wの位相を基にして、三次元位置情報を、前記基準とした位相におけるものへと座標変換し、変換した三次元位置情報を繋ぎ合せて断面形状を算出し、算出した断面形状を前記断面形状記憶部15に送信する。
前記断面形状記憶部15は、前記断面形状算出部14から送信された断面形状が記憶される機能部であり、記憶された断面形状を三次元モデル生成部16に適宜送信する。
前記三次元モデル生成部16は、前記断面形状記憶部15から送信された断面形状を基にして、測定対象物Wの三次元モデルを生成する。
次に、その断面形状が主軸の軸線と交差する方向に突出した部位を2カ所有するブレードが測定対象物Wである場合の、制御装置10によって行われる断面形状の測定及び三次元モデルの生成に関する一連の処理を図2〜図6を参照して、以下説明する。
まず、前記第1及び第2送り機構に動作指令を送信して、この第1及び第2送り機構によって、第1サドル及びクイル6を移動させる、即ち、レーザ測長器5を移動させて、測定対象物Wの一端部の上方に当該レーザ測長器5を配置する(ステップS1)。
次に、回転駆動機構に動作指令を送信して、第1及び第2主軸の回転、言い換えれば、測定対象物Wの回転を開始するとともに(ステップS2)、第2送り機構に動作指令を送信して、レーザ測長器5を所定の距離だけX軸方向に沿って測定対象物Wに向け移動させ(ステップS3)、測定対象物Wが検出されたか否かを判断し(ステップS4)、検出されたと判断した場合には、検出された箇所が前記2つの突出部位のうちの一方であると判断して、測定対象物Wの回転を停止し(ステップS5)、ステップS6に進み、検出されていないと判断した場合には、再度ステップS3の処理を実行する。
尚、レーザ発振器5aは、レーザ測長器5を測定対象物Wに向けて移動させる前からレーザ光の照射を開始するようにしても良いし、移動後に開始するようにしても良い。また、測定対象物Wが検出されたか否かの判断は、測定対象物Wの表面で反射されたレーザ光を受光部5bが受光したか否かに基づいて行う。
また、ステップS4において、レーザ測長器5の測長領域内に測定対象物Wが入っているにもかかわらず、レーザ測長器5に生じたエラーによって、測定対象物Wが検出されていないと判断されると、レーザ測長器5をX軸方向に移動させ続けることになり、レーザ測長器5と測定対象物Wとが衝突するという事態が発生し得る。したがって、レーザ測長器5を主軸軸線から所定の距離まで移動させた時点で測定対象物Wを検出できなかった場合には、処理を一時停止して、アラームを出すようにしておくことが好ましい。
次に、ステップS6では、第3送り機構に動作指令を送信して、第3送り機構によってクイル6を移動させる、即ち、レーザ測長器5をY軸方向に沿って移動させて、前記一方の突出部位をスキャンし(ステップS7)、当該一方の突出部位に係る三次元位置情報を算出して(ステップS8)、算出した三次元位置情報を格納する(ステップS9)。しかる後、一方の突出部位全体の三次元位置情報を算出したか否かを判断し(ステップS10)、算出したと判断した場合には、ステップS11に進み、算出していないと判断した場合には、再度ステップS6の処理を実行する。
尚、レーザ測長器5にエラーが生じて、測定対象物Wの全体を検出することができなくなるといった事態が生じる可能性があるため、ステップS6〜ステップS10までの処理を所定回数繰り返しても、突出部位全体の三次元位置情報を算出していないと判断された場合には、処理を一時停止して、アラームを出すようにしておくことが好ましい。
次に、ステップS11では、回転駆動機構に動作指令を送信して、測定対象物Wを180°回転させて、2つの突出部位の内の他方が検出されているか否かを判断し(ステップS12)、検出されていると判断した場合には、ステップS15に進み、検出されていないと判断した場合には、ステップS13に進む。
尚、測定対象物Wを回転させる際に、測定対象物Wとレーザ測長器5の距離が近すぎると、これらが衝突する可能性がある。そこで、予め測定対象物Wの最大径を設定しておき、ステップS10の処理後において、レーザ測長器5と測定対象物Wの最大径との間の距離が所定の距離より短い場合には、ステップS11の処理を実行する前に、少なくとも両者が干渉しない位置までレーザ測長器5をX軸方向に移動させるようにする。
ステップS13では、第2送り機構に動作指令を送信して、レーザ測長器5を所定の距離だけX軸方向に沿って測定対象物Wに向け移動させ、前記他方の突出部位が検出されたか否かを判断し(ステップS14)、検出されたと判断した場合には、ステップS15に進み、検出されていないと判断した場合には、再度ステップS13の処理を実行する。
次に、ステップS15では、第3送り機構に動作指令を送信して、レーザ測長器5をY軸方向に沿って移動させて、前記他方の突出部位をスキャンし(ステップS16)、当該他方の突出部位の三次元位置情報を算出し(ステップS17)、算出した三次元位置情報を格納する(ステップS18)。ついで、他方の突出部位全体の三次元位置情報を算出したか否かを判断し(ステップS19)、算出したと判断した場合には、ステップS20に進み、算出していないと判断した場合には、再度ステップS15の処理を実行する。
ステップS20では、回転駆動機構に動作指令を送信して、測定対象物Wを90°回転させて、2つの突出部位の間にある2つの中間部位のうちの一方が検出されているか否かを判断し(ステップS21)、検出されていると判断した場合には、ステップS24に進み、検出されていないと判断した場合には、ステップS22に進む。
ステップS22では、第2送り機構に動作指令を送信し、測定対象物Wに向けて、レーザ測長器5を所定の距離だけX軸方向に沿って移動させ、前記一方の中間部位が検出されたか否かを判断し(ステップS23)、検出されたと判断した場合には、ステップS24に進み、検出されていないと判断した場合には、再度ステップS22の処理を実行する。
ステップS24では、第3送り機構に動作指令を送信して、レーザ測長器5をY軸方向に沿って移動させ、前記一方の中間部位をスキャンして(ステップS25)、当該一方の中間部位の三次元位置情報を算出し(ステップS26)、算出した三次元位置情報を格納する(ステップS27)。しかる後、一方の中間部位全体の三次元位置情報を算出したか否かを判断し(ステップS28)、算出したと判断した場合には、ステップS29に進み、算出していないと判断した場合には、再度ステップS24の処理を実行する。
次に、ステップS29では、回転駆動機構に動作指令を送信して、測定対象物Wを180°回転させ、他方の中間部位が検出されているか否かを判断し(ステップS30)、検出されていると判断した場合には、ステップS33に進み、検出されていないと判断した場合には、ステップS31に進む。
ステップS31では、第2送り機構に動作指令を送信して、測定対象物Wに向けて、レーザ測長器5を所定の距離だけX軸方向に移動させ、他方の中間部位が検出されたか否かを判断し(ステップS32)、検出されたと判断した場合には、ステップS33に進み、検出されていないと判断した場合には、再度ステップS31の処理を実行する。
ついで、ステップS33では、第3送り機構に動作指令を送信し、レーザ測長器5をY軸方向に沿って移動させて、前記他方の中間部位をスキャンし(ステップS34)、この他方の中間部位の三次元位置情報を算出した後(ステップS35)、算出した三次元位置情報を格納する(ステップS36)。その後、他方の中間部位全体の三次元位置情報を算出したか否かを判断し(ステップS37)、算出したと判断した場合には、ステップS38に進み、算出していないと判断した場合には、再度ステップS33の処理を実行する。尚、突出部位及び中間部位の全体に係る三次元位置情報を算出したか否かは、予めY軸方向に沿ってスキャン領域を設定しておき、その領域のスキャンが完了しているか否かによって行うことができる。
そして、ステップS38においては、格納された2つの突出部位及び2つの中間部位の三次元位置情報を基に断面形状を算出し、その後、算出した断面形状を格納し(ステップS39)、ステップS40に進む。
ステップS40では、測定対象物Wの一端部から他端部までの断面形状(Z軸方向における全断面形状)を算出した否かを判断し、算出したと判断した場合には、格納された断面形状を基に測定対象物Wの三次元モデルを生成して(ステップS42)、処理を終了する。一方、算出していないと判断した場合には、第1送り機構に動作指令を送信して、レーザ測長器5を所定の距離だけZ軸方向に移動させ(ステップS41)、ステップS2からの処理を再度実行する。尚、ステップS41において、レーザ測長器5をZ軸方向に移動させる際の移動距離は、取得したい断面形状の数に応じて、予め設定しておくことができる。
以上の構成を備えた旋盤1において、その断面形状が2つの突出部位W1,W2を有した測定対象物Wの断面形状を測定するとともに、測定対象物Wの三次元モデルを生成する過程を図7〜図10を参照しつつ説明する。尚、図7(a)を除き、図示の都合上、第1及び第2チャック2,3の図示を省略した。また、図中の点線は、レーザ光の光路を示しており、図7(a)及び図10(c)における一点鎖線lは、第1及び第2主軸の軸線を示している。
まず、準備工程を行う。当該準備工程においては、図7(a)に示すように、まず、第1及び第2チャック2,3によって測定対象物Wを把持する。また、レーザ発振器5aから照射されるレーザ光の光軸が第1及び第2主軸の軸線lと直交するX軸方向に沿うように、工具主軸にレーザ測長器5を取り付けた後、第1サドル、第2サドル及びクイル6を移動させて、測定対象物Wの一端部上方にレーザ測長器5を配置する。
ついで、第1測定工程を実施する。具体的には、回転駆動機構によって第1及び第2チャック2,3を所定の方向に回転させ、測定対象物Wを回転させつつ、レーザ発振器5aからレーザ光を照射した状態で、第2送り機構によって第2サドルをX軸方向に沿って所定の距離だけ下方に移動させ、レーザ測長器5を測定対象物Wに所定の距離だけ近づける(図7(b)参照)。
そして、レーザ発振器5aから照射されたレーザ光が測定対象物Wの表面で反射され、受光部5bが反射したレーザ光を受光するまで、レーザ測長器5を測定対象物Wに対して徐々に近づけ、受光部5bがレーザ光を受光し、測定対象物Wが検出された時点で、測定対象物Wの回転を停止する。
次に、図8(a)に示すように、第3送り機構によってクイル6をY軸方向に沿って移動させ、測定対象物Wの突出部位W1に対してレーザ光を照射してスキャンし、スキャン結果を基にして、突出部位W1の三次元位置情報を取得し、第1測定工程が終了する。
ついで、第2測定工程を実施する。具体的には、まず、測定対象物Wを所定の方向に180°回転させ(図8(b)参照)、その後、図8(c)に示すように、クイル6をY軸方向に移動させて、突出部位W2に対してレーザ光を照射してスキャンし、その結果を基にして、突出部位W2に係る三次元位置情報を取得する。
次に、第3測定工程を実施する。第3測定工程においては、まず、測定対象物Wを所定の方向に90°回転させる(図9(a)参照)。
ここで、本例においては、回転後の測定対象物Wにおけるレーザ測長器5と対向する部分が当該レーザ測長器5の測長領域外に位置し、測定対象物Wが検出されていない状態となっている。
そこで、測定対象物Wを回転させた後、図9(b)に示すように、測定対象物Wが検出される(受光部5bがレーザ光を受光する)まで、レーザ測長器5を測定対象物Wに所定の距離ずつ徐々に近づける。測定対象物Wが検出されたら、クイル6をY軸方向に移動させて、中間部位W3に対してレーザ光を照射してスキャンし(図9(c)参照)、その結果を基に当該中間部位W3の三次元位置情報を取得する。
しかる後、第4測定工程を実施する。具体的には、図10(a)に示すように、測定対象物を所定の方向に180°回転させた後、クイル6をY軸方向に移動させ、中間部位W4に対してレーザ光を照射してスキャンし(図10(b)参照)、その結果を基にして、中間部位W4に係る三次元位置情報を取得する。
続いて、第1測定工程から第4測定工程で取得した2つの突出部位W1,W2及び2つの中間部位W3,W4に係る三次元位置情報を基にして断面形状を算出する。具体的に言えば、測定対象物Wが取り付けられた状態での当該測定対象物Wの位相を基準の位相とし、前記突出部位W1,W2及び中間部位W3,W4の三次元位置情報を取得した際の測定対象物Wの位相を基にして、取得した各三次元位置情報を前記基準の位相におけるものへと座標変換して断面形状を算出する。
しかる後、第1送り機構によって第1サドルをZ軸方向に所定の距離だけ移動させ、レーザ測長器5のZ軸方向における位置を第2チャック3側にずらし(図10(c)参照)、第1測定工程から第4測定工程までを再度実施する。以後、測定対象物Wの他端側の断面形状を算出するまで、これを繰り返し行う。
そして、測定対象物Wの他端側の断面形状まで算出したら、算出した断面形状を繋ぎ合せることにより、測定対象物Wの三次元モデルを生成する。
以上のように、本例の、測定対象物の断面形状測定方法によれば、第1測定工程から第4測定工程を実施し、突出部位及び中間部位の三次元位置情報を測定して、測定対象物の全周に亘る三次元位置情報を取得し、この取得した三次元位置情報を基にして、測定対象物の断面形状を算出するようにしているため、正確な断面形状を測定することができる。
したがって、この測定した断面形状を基に、測定対象物の加工用の基準姿勢を決定することができる。
また、三次元モデルを生成する際に、当該断面形状測定方法によって測定された正確な断面形状を基にすることができるため、精度の高い三次元モデルを生成することができる。
したがって、生成した三次元モデルと製品形状とを比較することにより、例えば、測定対象物の一部が製品形状における対応する部分よりも小さく、削り代がマイナスとなるようなものである場合、当該測定対象物がワークとして不適であることを正確に判断することができ、また、生成した三次元モデルを基にして、測定対象物の三次元空間内における位置や位相を正確に定義することも可能である。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明の採り得る具体的な態様は、何らこれに限定されるものではない。
例えば、上例においては、測定対象物Wの両端部を2つのチャック2,3によって把持するようにしているが、一端部のみを1つのチャックで把持するようにしても良い。
また、上例では、旋盤のチャックに取り付けられた測定対象物の断面形状を算出する態様を示したが、これに限られるものではなく、本発明に係る断面形状測定方法によって、他の工作機械に取り付けられたワークの断面形状も測定することが可能である。
また、上例においては、測定対象物Wの突出部位及び中間部位に係る三次元位置情報を算出し、算出した突出部位及び中間部位に係る三次元位置情報を基にして断面形状を算出するようにしているが、第1測定工程及び第2測定工程を実施し、突出部位に係る三次元位置情報のみを算出し、この算出した突出部位に係る三次元位置情報と、予め適宜記憶部に格納された設計データ等とを基にして、断面形状を算出するようにしても良い。
更に、前記位置情報算出部12は、距離データとレーザ測長器5の基準点の位置とから算出した三次元位置情報を、NC制御部11から送信された測定対象物Wの位相を基にして、前記基準の位相におけるものへと座標変換し、座標変換後の三次元位置情報を位置情報記憶部13に送信するようにしても良い。この場合、断面形状算出部14は、各三次元位置情報を繋ぎ合せて断面形状を算出する。
また、図11に示すように、第1及び第2主軸の軸線を含む平面よりも下方に、軸線と平行な軸周りに回転自在な反射鏡20を配設し、レーザ発振器5aから照射したレーザ光を反射鏡20に反射させて測定対象物Wに導き、測定対象物Wで反射されたレーザ光を反射鏡20に反射させて受光部5bに導くようにして、前記他の突出部位をスキャンするようにしても良い。尚、反射鏡20は、タレット21に取り付けられた支持アーム22によって支持され、任意の位置に配置することができるようになっている。また、反射鏡20の回転は、NC制御部10により作動が制御される反射鏡回転駆動機構によって行う。
この場合、制御装置10は、ステップS10の処理を行って一方の突出部位の三次元位置情報を算出した後、図12に示すように、第3送り機構に動作指令を送信して、前記反射鏡20に対向する位置までレーザ測長器5をY軸方向に沿って移動させ(ステップS45)、前記他方の突出部位が検出されているか否かを判断し(ステップS46)、検出されていると判断した場合には、ステップS49に進み、検出されていないと判断した場合には、ステップS47に進む。
ステップS47においては、第2送り機構に動作指令を送信して、レーザ測長器5を所定の距離だけX軸方向に移動させるとともに、反射鏡回転駆動機構に動作指令を送信して、反射鏡20を回転させてその位相を調整し、前記他方の突出部位が検出されたか否かを判断し(ステップS48)、検出されたと判断した場合には、ステップS49に進み、検出されていないと判断した場合には、ステップS47の処理を再度実行する。
次に、ステップS49では、反射鏡回転駆動機構に動作指令を送信して、反射鏡20を回転させ、前記他方の突出部位をスキャンし(ステップS50)、当該他方の突出部位の三次元情報を算出して(ステップS51)、算出した三次元位置情報を格納する(ステップS52)。その後、他方の突出部位全体の三次元位置情報を算出したか否かを判断し(ステップS53)、算出したと判断した場合には、ステップS54に進み、算出していないと判断した場合には、再度ステップS49からの処理を実行する。
そして、ステップS54では、第2及び第3送り機構に動作指令を送信し、レーザ測長器5をX軸及びY軸方向に移動させて、ステップS45の処理を開始する前の位置に配置し、ステップS20に進み、以後、ステップS20からの処理を実行する。
即ち、この場合、第2測定工程においては、測定対象物Wを回転させることなく、前記他方の突出部位の三次元位置情報を算出することができる。
また、上例においては、その断面形状が2つの突出部位W1,W2を有する測定対象物Wの断面形状を測定し、三次元モデルを生成する態様を示したが、その断面形状がn個の頂点(突出部位)を有した多角形である測定対象物W’の断面形状を測定し、三次元モデルを生成することも可能である。以下、この場合に制御装置10によって行われる一連の処理を図13〜図15を参照して説明する。尚、測定対象物W’の頂点の数は、オペレータが目視によって確認し、適宜入力手段を介して事前に制御装置10に入力するようにしても良いし、一連の処理に先立って、測定対象物に対する簡易的な測定を行い、頂点の数を取得するようにしても良い。
ステップS1からステップS10までは、上例と同様に処理を実行し、n個の突出部位の内の1つについて、その全体の三次元位置情報を算出する。そして、ステップS10の処理を実行後、ステップS55に進む。ステップS55では、回転駆動機構に動作指令を送信して、測定対象物W’を360°/n回転させ、前記三次元位置情報を算出した突出部位と異なる他の突出部位(言い換えれば、隣の突出部位)が検出されているか否かを判断し(ステップS56)、検出されていると判断した場合には、ステップS59に進み、検出されていないと判断した場合には、ステップS57に進む。
ステップS57では、第2送り機構に動作指令を送信し、測定対象物W’に向けて、レーザ測長器5を所定の距離だけX軸方向に沿って移動させ、他の突出部位が検出されたか否かを判断し(ステップS58)、検出されたと判断した場合には、ステップS59に進み、検出されていないと判断した場合には、再度ステップS57の処理を実行する。
次に、ステップS59では、第3送り機構に動作指令を送信して、レーザ測長器5をY軸方向に沿って移動させ、他の突出部位をスキャンし(ステップS60)、当該他の突出部位の三次元位置情報を算出して(ステップS61)、算出した三次元位置情報を格納する(ステップS62)。ついで、他の突出部位全体の三次元位置情報を算出したか否かを判断し(ステップS63)、算出したと判断した場合には、ステップS64に進み、算出していないと判断した場合には、ステップS59の処理を再度実行する。ステップS64では、(n−1)個の突出部位の三次元位置情報を算出したか否か、言い換えれば、全ての突出部位の三次元位置情報を算出したか否かを判断し、算出したと判断した場合には、ステップS65に進み、算出していないと判断した場合には、再度ステップS55からの処理を実行する。
ステップS65では、回転駆動機構に動作指令を送信し、測定対象物W’を180°/n回転させ、各突出部位間にあるn個の中間部位の内の1つが検出されているか否かを判断し(ステップS66)、検出されていると判断した場合には、ステップS69に進み、検出されていないと判断した場合には、ステップS67に進む。
そして、ステップS67においては、第2送り機構に動作指令を送信し、レーザ測長器5を測定対象物W’に向けX軸方向に沿って移動させ、中間部位が検出されたか否かを判断し(ステップS68)、検出されたと判断した場合には、ステップS69に進み、検出されていないと判断した場合には、ステップS67の処理を再度実行する。
ステップS69では、第3送り機構に動作指令を送信し、レーザ測長器5をY軸方向に沿って移動させ、中間部位をスキャンし(ステップS70)、当該中間部位に係る三次元位置情報を算出して(ステップS71)、この三次元位置情報を格納する(ステップS72)。ついで、中間部位全体の三次元位置情報を算出したか否かを判断し(ステップS73)、算出したと判断した場合には、ステップS74に進み、算出していないと判断した場合には、再度ステップS69からの処理を実行する。
次に、ステップS74においては、回転駆動機構に動作指令を送信し、測定対象物W’を360°/n回転させ、ステップS71で三次元位置情報を算出した中間部位とは異なる中間部位(言い換えれば、隣の中間部位)が検出されているか否かを判断し(ステップS75)、検出されていると判断した場合には、ステップS78に進み、検出されていないと判断した場合には、ステップS76に進む。
ステップS76では、第2送り機構に動作指令を送信し、測定対象物W’に向けて、レーザ測長器5を所定の距離だけX軸方向に移動させ、他の中間部位が検出されたか否かを判断し(ステップS77)、検出されたと判断した場合には、ステップS78に進み、検出されていないと判断した場合には、ステップS76の処理を再度実行する。
ステップS78においては、第3送り機構に動作指令を送信して、レーザ測長器5をY軸方向に移動させ、前記他の中間部位をスキャンし(ステップS79)、当該他の中間部位の三次元位置情報を算出して(ステップS80)、算出した三次元位置情報を格納する(ステップS81)。しかる後、他の中間部位全体の三次元位置情報を算出したか否かを判断し(ステップS82)、算出したと判断した場合には、ステップS83に進み、算出していないと判断した場合には、再度ステップS78の処理を実行する。ステップS83では、(n−1)個の中間部位の三次元情報を算出したか否か、言い換えれば、全ての中間部位の三次元位置情報を算出したか否かを判断し、算出したと判断した場合には、ステップS38に進み、以後、ステップS38からの処理を実行し、算出していないと判断した場合には、ステップS74からの処理を再度実行する。
具体的に、測定対象物W’が、その断面形状が五角形、即ち、5つの突出部位W1’,W2’,W3’,W4’,W5’を有している場合を例にとり、当該測定対象物W’の断面形状を算出する過程について、図16〜図18を参照しつつ以下説明する。尚、図16〜図18の測定対象物W’に描写した黒丸は、5つの突出部位W1’,W2’,W3’,W4’,W5’の内の1つである突出部位W1’の位置を示しており、点線は、レーザ光の光路を示している。
まず、上例と同様に、第1及び第2チャック2,3によって測定対象物W’を把持するとともに、測定対象物W’の一端部上方にレーザ測長器5を配置する準備工程を行った後、測定対象物W’を回転させつつ、レーザ測長器5を測定対象物W’に徐々に近づけ、突出部位W1’を検出し、測定対象物W’の回転を停止する。
続いて、図16(a)に示すように、クイル6をY軸方向に移動させ、突出部位W1’に対してレーザ光を照射してスキャンし、スキャン結果を基にして、突出部位W1’の三次元位置情報を取得する(第1測定工程)。
ついで、図16(b)に示すように、測定対象物W’を所定の方向に72°(360°/5)回転させた後、図16(c)に示すように、クイル6をY軸方向に移動させ、突出部位W1’の隣にある突出部位W2’に対してレーザ光を照射してスキャンし、その結果を基にして、当該突出部位W2’に係る三次元位置情報を取得する。以後、同様にして、測定対象物W’を72°ずつ回転させて、残り3つの突出部位W3’,W4’,W5’に係る三次元位置情報を取得する。このように、突出部位が5個ある場合には、第1測定工程及び4回の第2測定工程を行うことで、5個の突出部位W1’,W2’,W3’,W4’,W5’の三次元位置情報を取得する、即ち、突出部位の数がn個である場合には、第1測定工程及び(n−1)回の第2測定工程を行うことで、n個の突出部位に係る三次元位置情報を取得する。
全ての突出部位W1’,W2’,W3’,W4’,W5’に係る三次元位置情報を取得した後、図17(a)に示すように、測定対象物W’を所定の方向に36°(180°/5)回転させる。
ここで、本例においては、回転後の測定対象物W’におけるレーザ測長器5と対向する部分が当該レーザ測長器5の測長領域内に位置し、測定対象物W’が正常に検出されている。
そのため、上例のようにレーザ測長器5を測定対象物W’に近づけることなく、クイル6をY軸方向に移動させて、中間部位W6’に対してレーザ光を照射してスキャンし(図17(b)参照)、スキャン結果を基に当該中間部位W6’の三次元位置情報を取得する(第3測定工程)。
次に、図17(c)に示すように、測定対象物W’を所定の方向に72°(360°/5)回転させた後、クイル6をY軸方向に沿って移動させ、中間部位W6’の隣にある中間部位W7’に対してレーザ光を照射してスキャンし、その結果を基に当該中間部位W7’の三次元位置情報を取得する。しかる後、測定対象物W’を72°ずつ回転させて、残り3つの中間部位W8’,W9’,W10’の三次元位置情報を順次取得する。このように、5つの中間部位W6’,W7’,W8’,W9’,W10’については、第3測定工程及び4回の第4測定工程を行うことにより、三次元位置情報を取得する。これを一般化すると、中間部位がn個ある場合には、第3測定工程及び(n−1)回の第4測定工程を行って、全ての中間部位に係る三次元位置情報を取得する。
そして、得られた全ての突出部位W1’,W2’,W3’,W4’,W5’及び中間部位W6’,W7’,W8’,W9’,W10’に係る三次元位置情報を基にして、断面形状を算出する。
尚、本例においては、クイル6をY軸方向に移動させることによって、突出部位及び中間部位をスキャンするようにしているが、図19に示すように、測定対象物W’を回転させることによって、突出部位及び中間部位をスキャンするようにしても良い。
1 旋盤
2 第1チャック
3 第2チャック
4 刃物台
5 レーザ測長器
5a レーザ発振器
5b 受光部
6 クイル
10 制御装置
11 位置情報算出部
12 位置情報記憶部
13 断面形状算出部
14 断面形状記憶部
15 三次元モデル生成部


Claims (13)

  1. レーザ光を照射して、測定対象物までの距離を検出するように構成されたレーザ測長器を用い、
    前記測定対象物に対して設定される軸線と直交する方向の断面形状が、前記軸線と交差する方向に突出した部位を有する該測定対象物の、前記断面形状を測定する方法であって、
    前記測定対象物を、前記軸線を中心として回転可能に、回転軸に保持させるとともに、前記レーザ測長器を、前記軸線に対して進退可能であり、且つこの進退方向に移動可能に、更に前記レーザ光が前記軸線と直交するように、支持機構に支持させる準備工程と、
    前記測定対象物を回転させるとともに、前記レーザ測長器を、前記軸線に接近させて、該レーザ測長器によって前記測定対象物が検出された後、前記測定対象物の回転を停止させ、ついで、前記レーザ測長器の三次元空間内における位置と、該レーザ測長器を前記進退方向及び前記軸線と交差するスキャン方向に移動、又は前記測定対象物を再度回転させながら該レーザ測長器から得られる距離データとを基に、前記測定対象物の突出部位に係る三次元位置情報を取得する第1測定工程と、
    次に、前記測定対象物の突出部位とは異なる突出部位に前記レーザ光が照射可能となるように、前記測定対象物を第一の角度回転させた後、前記レーザ測長器の三次元空間内における位置と、該レーザ測長器を前記スキャン方向に移動、又は前記測定対象物を再度回転させながら該レーザ測長器から得られる距離データとを基に、前記測定対象物の前記異なる突出部位に係る三次元位置情報を取得する第2測定工程と、
    少なくとも、前記第1測定工程及び第2測定工程の各工程で得られたそれぞれの三次元位置情報を基に、前記測定対象物の前記断面形状を算出する断面形状算出工程とを実施するようにしたことを特徴とする、測定対象物の断面形状測定方法。
  2. 前記測定対象物はブレードであり、前記第一の角度は180°であることを特徴とする請求項1記載の、測定対象物の断面形状測定方法。
  3. 前記測定対象物の断面形状が正多角形であり、前記第一の角度は前記正多角形の頂点の数をnとした場合、360°/nであることを特徴とする請求項1記載の、測定対象物の断面形状測定方法。
  4. 前記第2測定工程をn−1回繰り返すことを特徴とする請求項記載の、測定対象物の断面形状測定方法。
  5. レーザ光を照射して、測定対象物までの距離を検出するように構成されたレーザ測長器を用い、
    前記測定対象物に対して設定される軸線と直交する方向の断面形状が、前記軸線と交差する方向に突出した部位を有する該測定対象物の、前記断面形状を測定する方法であって、
    前記測定対象物を、前記軸線を中心として回転可能に、回転軸に保持させるとともに、前記レーザ測長器を、前記軸線に対して進退可能であり、且つこの進退方向に移動可能に、更に前記レーザ光が前記軸線と直交するように、支持機構に支持させる準備工程と、
    前記測定対象物を回転させるとともに、前記レーザ測長器を、前記軸線に接近させて、該レーザ測長器によって前記測定対象物が検出された後、前記測定対象物の回転を停止させ、ついで、前記レーザ測長器の三次元空間内における位置と、該レーザ測長器を前記進退方向及び前記軸線と交差するスキャン方向に移動、又は前記測定対象物を再度回転させながら該レーザ測長器から得られる距離データとを基に、前記測定対象物の突出部位に係る三次元位置情報を取得する第1測定工程と、
    次に、前記測定対象物を回転させない状態で、前記レーザ測長器と対向する位置に反射鏡を配置し、前記レーザ測長器を前記軸線に接近させた後、前記レーザ測長器から照射されるレーザ光を前記反射鏡により反射させて、前記測定対象物の突出部位とは異なる突出部位に照射させるとともに、前記反射鏡を前記軸線と平行な軸を中心に回転させて、前記測定対象物の突出部位とは異なる突出部位をレーザ光によってスキャンし、前記レーザ測長器の三次元空間内における位置と、該レーザ測長器から得られる距離データとを基に、前記測定対象物の突出部位とは異なる突出部位に係る三次元位置情報を取得する第2測定工程と、
    少なくとも、前記第1測定工程及び第2測定工程の各工程で得られたそれぞれの三次元位置情報を基に、前記測定対象物の前記断面形状を算出する断面形状算出工程とを実施するようにしたことを特徴とする、測定対象物の断面形状測定方法。
  6. 前記第2測定工程において前記レーザ測長器によって前記測定対象物が検出出来なかった場合、前記レーザ測長器を前記軸線に接近させるようにしたことを特徴とする請求項1乃至の何れか1項に記載の、測定対象物の断面形状測定方法。
  7. 前記準備工程、第1測定工程及び第2測定工程では、測定対象物の両端部をそれぞれ対応する回転軸に保持させるようにしたことを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項に記載の、測定対象物の断面形状測定方法。
  8. 前記測定対象物の突出部位と前記異なる突出部位との間である、中間部位に前記レーザ光が照射可能となるように、前記測定対象物を第二の角度回転させた後、前記レーザ測長器の三次元空間内における位置と、該レーザ測長器を前記スキャン方向に移動、又は前記測定対象物を再度回転させながら該レーザ測長器から得られる距離データとを基に、前記中間部位に係る三次元位置情報を取得する第3測定工程と、
    次に、前記測定対象物の前記中間部位とは異なる中間部位に前記レーザ光が照射可能となるように、前記測定対象物を前記第三の角度回転させた後、前記レーザ測長器の三次元空間内における位置と、該レーザ測長器を前記スキャン方向に移動、又は前記測定対象物を再度回転させながら該レーザ測長器から得られる距離データとを基に、前記測定対象物の前記異なる中間部位に係る三次元位置情報を取得する第4測定工程とを更に実施し、
    前記断面形状算出工程において、少なくとも、前記第1測定工程、第2測定工程、第3測定工程及び第4測定工程の各工程で得られたそれぞれの三次元位置情報を基に、前記測定対象物の前記断面形状を算出するようにしたことを特徴とする請求項1記載の、測定対象物の断面形状測定方法。
  9. 前記第2、第3、第4測定工程のそれぞれにおいて前記レーザ測長器によって前記測定対象物が検出出来なかった場合、前記レーザ測長器を前記軸線に接近させるようにしたことを特徴とする請求項8記載の、測定対象物の断面形状測定方法。
  10. 前記準備工程、並びに第1測定工程から第4測定工程では、測定対象物の両端部をそれぞれ対応する回転軸に保持させるようにしたことを特徴とする請求項8又は9に記載の、測定対象物の断面形状測定方法。
  11. 前記測定対象物はブレードであり、前記第一の角度は180°、前記第二の角度は90°、前記第三の角度は180°であることを特徴とする請求項8乃至10の何れか1項に記載の、測定対象物の断面形状測定方法。
  12. 前記測定対象物の断面形状が正多角形であり、前記第一の角度は前記正多角形の頂点の数をnとした場合、360°/nであり、前記第二の角度は180°/n、前記第三の角度は360°/nであることを特徴とする請求項8乃至10の何れか1項に記載の、測定対象物の断面形状測定方法。
  13. 前記第2測定工程をn−1回繰り返した後、前記第3測定工程を実施し、その後、前記第4測定工程をn−1回繰り返すことを特徴とする請求項12に記載の、測定対象物の断面形状測定方法。
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