JP6454495B2 - 半導体装置及びその故障検出方法 - Google Patents

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Description

本発明は半導体装置及びその故障検出方法に関し、例えば音声出力と音声入力とを行う半導体装置及びその故障検出方法に関する。
近年、音声認識技術の進歩により、音声により機器を制御する技術が多く提案されている。このように音声による機器制御を行う場合、音声を出力するばかりではなく、外部で生じた音声を的確に取り込む必要がある。そこで、音声の入出力を行う音声入出力装置の例が特許文献1、2に開示されている。
特許文献1に記載の車載装置は、自動車に搭載されるスピーカやアンプの自己診断を迅速に行う。より具体的には、特許文献1では、ドアが開かれたことに応じてスピーカから発せられたチャイム音を、別のスピーカで収音する。そして、特許文献1では、別のスピーカでチャイム音が収音されたか否かに基づきスピーカの故障を検出する。
特許文献2に記載のカーナビゲーション装置は、音声入出力機能を備え、音声出力装置の一時的な異常をも診断する。より具体的には、特許文献2では、音声出力装置からの合成音声の出力時に、マイクを動作させて音声入力装置から音声入力信号を取込み、A/D変換器及び音声認識部による音声認識を実行させ、その音声認識結果と元の音声データとを比較してそれらが一致するかどうかを判定する。そして、特許文献1では、それと同時に、D/A変換器の出力する合成音声信号を、そのままA/D変換器に取込んで音声認識部による音声認識を実行させ、その音声認識結果と元の音声データとを比較してそれらが一致するかどうかを判定する。
特開2011−251626号公報 特開2005−292401号公報
しかしながら、特許文献1、2では、音声入出力経路の故障は診断できるものの、複数の音声入出力経路がある場合にいずれの経路で故障が発生しているかを特定できない問題がある。その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。
一実施の形態によれば、半導体装置は、メモリとサウンドユニットとの間のデータ転送を制御するメモリ転送制御ユニットを有し、1つのメモリ転送制御ユニットと1つのサウンドユニットとにより音声データ転送経路を複数構成し、少なくとも1つの音声データ転送経路を介して再生音声データを出力し、かつ、少なくとも2つの音声データ転送経路により1つの再生音声データに起因して生じる少なくとも2つの録音音声データを取得する。
なお、上記実施の形態の装置を方法やシステムに置き換えて表現したもの、該装置または該装置の一部の処理をコンピュータに実行せしめるプログラムなども、本発明の態様としては有効である。
前記一実施の形態によれば、半導体装置は、故障が生じた音声データ転送経路を特定できる。
実施の形態1にかかる半導体装置のブロック図である。 実施の形態1にかかる半導体装置の経路切替部のブロック図である。 実施の形態1にかかる半導体装置の動作を示すタイミングチャートである。 実施の形態1にかかる半導体装置におけるWS周波数計測値の更新タイミングを示すタイミングチャートである。 実施の形態1にかかる半導体装置における音声データ転送経路の故障検査時の経路を説明するブロック図である。 実施の形態1にかかる半導体装置における音声データ転送経路の故障検査方法のフローチャートである。 実施の形態1にかかる半導体装置における音声データ転送経路の故障モジュール特定処理及び経路組み替え処理のフローチャートである。 実施の形態1にかかる半導体装置における音声データ転送経路の組み替え態様の一例を示すブロック図である。 実施の形態2にかかる半導体装置における音声データ転送経路の故障検査時の経路を説明するブロック図である。 実施の形態3にかかる半導体装置における音声データ転送経路の故障検査時の経路を説明するブロック図である。
説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略、及び簡略化がなされている。また、様々な処理を行う機能ブロックとして図面に記載される各要素は、ハードウェア的には、CPU、メモリ、その他の回路で構成することができ、ソフトウェア的には、メモリにロードされたプログラムなどによって実現される。したがって、これらの機能ブロックがハードウェアのみ、ソフトウェアのみ、またはそれらの組合せによっていろいろな形で実現できることは当業者には理解されるところであり、いずれかに限定されるものではない。なお、各図面において、同一の要素には同一の符号が付されており、必要に応じて重複説明は省略されている。
また、上述したプログラムは、様々なタイプの非一時的なコンピュータ可読媒体(non−transitory computer readable medium)を用いて格納され、コンピュータに供給することができる。非一時的なコンピュータ可読媒体は、様々なタイプの実体のある記録媒体(tangible storage medium)を含む。非一時的なコンピュータ可読媒体の例は、磁気記録媒体(例えばフレキシブルディスク、磁気テープ、ハードディスクドライブ)、光磁気記録媒体(例えば光磁気ディスク)、CD−ROM(Read Only Memory)CD−R、CD−R/W、半導体メモリ(例えば、マスクROM、PROM(Programmable ROM)、EPROM(Erasable PROM)、フラッシュROM、RAM(Random Access Memory))を含む。また、プログラムは、様々なタイプの一時的なコンピュータ可読媒体(transitory computer readable medium)によってコンピュータに供給されてもよい。一時的なコンピュータ可読媒体の例は、電気信号、光信号、及び電磁波を含む。一時的なコンピュータ可読媒体は、電線及び光ファイバ等の有線通信路、又は無線通信路を介して、プログラムをコンピュータに供給できる。
まず、実施の形態1にかかる半導体装置1のブロック図を図1に示す。図1では、半導体装置1の外付け部品として、メモリ(例えば、外部メモリ2)、DA変換器31、32、AD変換器33、AD変換器34、スピーカ41、42、マイクロフォン43、44を示した。しかし、外部メモリ2、DA変換器31、32、AD変換器33、34は、半導体装置1に内蔵しても良い。
図1に示した例では、外部メモリ2は、外部端子TMEを介して半導体装置1と接続される。DA変換器31は、外部端子TM1を介して半導体装置1と接続される。DA変換器32は、外部端子TM2を介して半導体装置1と接続される。AD変換器33は、外部端子TM3を介して半導体装置1と接続される。AD変換器34は、外部端子TMnを介して半導体装置1と接続される。DA変換器31、32は、半導体装置1が出力する音声データをデコードしてアナログ音声信号を生成してスピーカ41、42から音声を出力する。AD変換器33、34は、マイクロフォン43、44が収集したアナログ音声信号をデジタル信号に変換して半導体装置1に出力する。
図1に示すように、実施の形態1にかかる半導体装置1は、DMAコントローラ10、サウンドインタフェース11、演算部(例えば、CPU12)、メモリインタフェース13を有する。また、DMA(Direct Memory Access)コントローラ10、サウンドインタフェース11、CPU12、メモリインタフェース13は、バスにより互いに通信可能に構成されている。
CPU12は、外部メモリ2等から読み出したプログラムを実行して、読み出したプログラムに従って各種処理を行う。特に、実施の形態1にかかる半導体装置1では、後述する音声データを用いた故障検出処理及び当該故障検出処理結果に基づいたDMAコントローラ10及びサウンドインタフェース11の設定を行う。また、実施の形態1にかかる半導体装置1では、DMAコントローラ10及びサウンドインタフェース11内でいずれのユニットを利用するかどのような音声データの伝達経路を構成するかの設定をCPU12からの指示に基づき行うものとする。
DMAコントローラ10は、外部メモリ2とサウンドインタフェース11との間のデータの送受信を制御する。なお、実施の形態1にかかる半導体装置1では、外部メモリ2が半導体装置1とは異なる部品として実装されているため、DMAコントローラ10は、メモリインタフェース13を介して外部メモリ2へのデータの送受信を行う。メモリインタフェース13は、DMAコントローラ10或いはCPU12からのリード命令又はライト命令に従って外部メモリ2へのリード指示又はライト指示を行う。
また、図1に示すように、DMAコントローラ10は、メモリ転送制御ユニット101〜10n(nは、ユニットの数を示す整数。以下同じとする)、及び、ユニット制御部110を有する。メモリ転送制御ユニット101〜10nは、ユニット制御部110から与えられた指示に基づき外部メモリ2と指示されたサウンドインタフェース11内のサウンドユニットとの間のデータの送受信を行う。また、メモリ転送制御ユニット101〜10nは、TCRモニタ部を有する。TCRモニタ部は、外部メモリとサウンドユニットとの間で連続して音声データが転送された数を数えるTCRカウントをカウントする。また、TCRモニタ部は、音声データの転送間隔の長さを示す第2のカウント値(例えば、TCR周波数計測値)を生成する。
また、ユニット制御部110は、メモリ転送制御ユニット101〜10nを制御する。より具体的には、ユニット制御部110は、メモリ転送制御ユニット101〜10nが音声データを転送する際の転送元アドレス、転送先アドレス及び連続転送回数の設定値を各メモリ転送制御ユニットに設定する。メモリ転送制御ユニット101〜10nは、これら設定値に基づき動作する。また、ユニット制御部110は、dreqモニタ部を有する。dreqモニタ部は、サウンドインタフェース11内の複数のサウンドユニットが出力するデータ制御信号の発生間隔の長さを示す第3のカウント値(例えば、DREQ周波数計測値)を生成する。
なお、TCR周波数計測値及びDREQ周波数計測値は、メモリ転送制御ユニット101〜10n及び後述するサウンドユニット211〜21nの故障検出で用いられるものである。
サウンドインタフェース11は、半導体装置1の外部に設けられる音声入出力装置と半導体装置1との音声データの入出力を行う。サウンドインタフェース11は、経路切替部20及びサウンドユニット211〜21nを有する。
経路切替部20は、サウンドユニット211〜21nと外部端子TM1〜TMnとの間に設けられ、サウンドユニット211〜21nに入出力される音声データの転送経路を切り換える。より具体的には、経路切替部20は、第1から第3の経路切替機能を有する。第1の経路切替機能では、1つのサウンドユニットから出力される音声データを外部端子TM1〜TMnのいずれか1つに出力する。第2の経路切替機能では、1つのサウンドユニットから他のサウンドユニットに音声データをループバックさせる。第3の経路切替機能では、1つの外部端子から入力される音声データをサウンドユニット211〜21nのいずれか1つに出力する。この経路切替部20の詳細は後述する。
サウンドユニット211〜21nは、外部メモリ2に格納された音声データの外部端子への出力と、外部端子から入力される音声データのメモリへの転送を行う。また、サウンドユニット211〜21nは、音声データのサンプリング周波数の周期の長さを示す第1のカウント値(例えば、WS周波数計測値)を生成する。
より具体的には、サウンドユニット211〜21nは、再生する音声データ(以下、再生音声データと称す)を受信した場合には、受信した再生音声データに含まれるサンプリング周波数情報に基づきWS信号を生成する。このWS信号は、再生チャンネルを示すものである。また、サウンドユニット211〜21nは、受信した再生音声データ中の音声成分の情報をパラレル信号からシリアル信号に変換する。そして、サウンドユニット211〜21nは、WS信号とシリアル信号とを同時に出力する。
また、サウンドユニット211〜21nは、録音すべき音声データ(以下、録音音声データと称す)を受信した場合には、受信した音声データをシリアル信号からパラレル信号に変換する。また、サウンドユニット211〜21nは、録音音声データと共に受信したWS信号に基づきパラレル信号にサンプリング周波数情報を付加して出力する。
そして、サウンドユニット211〜21nは、サンプリング周波数検出部211a〜21naを有する。サンプリング周波数検出部211a〜21naは、音声データのサンプリング周波数の周期の長さを示す第1のカウント値(例えば、WS周波数計測値)を生成する。このWS周波数計測値は、ユニット制御部110に送信される。CPU12は、ユニット制御部110に保持されているWS周波数計測値を参照することで、サウンドユニット211〜21nが生成するSW周波数計測値を取得する。
続いて、経路切替部20の詳細について説明する。図2に実施の形態1にかかる経路切替部20のブロック図を示す。図2に示すように、経路切替部20は、セレクタユニット51〜5n、入出力バッファ61〜6nを有する。また、図2では、サウンドユニット211〜21nに入出力される信号を示した。図2に示すように、サウンドユニット211〜21nは、ENABLE信号、OUTPUT信号を出力し、INPUT信号が入力される。ENABLE信号は、入出力バッファ61〜6nを入力バッファとして機能させるか、出力バッファとして機能させるかを切り替える信号である。OUTPUT信号は、サウンドユニット側から出力端子側に伝達される音声データである。INPUT信号は、出力端子側からサウンドユニット側に伝達される音声データである。なお、OUTPUT信号及びINPUT信号には、WS信号とシリアル信号(音声データ)が含まれる。
セレクタユニット51〜5nは、入出力される信号の組み合わせが異なるのみであり、同じ構成であるため、ここではセレクタユニット51について説明する。セレクタユニット51は、セレクタSEL1、SEL2、SEL3、経路設定レジスタ511を有する。経路設定レジスタ511は、音声データの出力先を示す経路設定値を格納する。この経路設定値は、例えば、CPU12により経路設定レジスタ511に格納される、或いは、書き換えられる。セレクタSEL1、SEL2、SEL3は、経路設定値の値に基づき音声データの伝達経路を切り換える。各セレクタは、以下のような経路切替を行う。
セレクタSEL1は、サウンドユニット211〜21nが出力するENABLE信号(図2のEN11〜ENn1)のいずれか1つを選択して入出力バッファ61に出力する。セレクタSEL2は、サウンドユニット211〜21nが出力するOUTPUT信号(図2のSI11〜SOn1)のいずれか1つを選択して入出力バッファ61に出力する。セレクタSEL3は、選択した信号の出力先となるサウンドユニットのOUTPUT信号以外のOUTPUT信号(図2のSO21〜SOn1)及び入出力バッファ61〜6nが出力するINPUT信号(図72のSIo1〜SIon)のいずれか1つを選択する。そして、セレクタSEL3は、選択した信号を対応する出力先となるサウンドユニット(図2の場合は、サウンドユニット211)に出力する。なお、セレクタSEL1、SEL2、SEL3は、経路設定レジスタ511に格納された経路設定値に基づき選択する信号を出力する。
入出力バッファ61〜6nは、入力バッファと出力バッファとを有する。入力バッファは、外部端子から入力される信号を半導体装置1内に伝達する。出力バッファは、ENABLE信号の論理レベルによりOUTPUT信号を出力する状態と、出力端子をハイインピーダンスとする状態とに切り換える。
続いて、実施の形態1にかかる半導体装置1の動作について説明する。実施の形態1にかかる半導体装置1は、半導体装置1の故障を自己検出する故障検査処理と、外部メモリ2に格納されている再生音声データの出力と外部から入力される音声を録音音声データとして外部メモリ2への記録とを行う通常動作処理と、の2つの動作モードを有する。また、実施の形態1にかかる半導体装置1は、故障検査では、故障が発生した音声データ転送経路(以下、場合に応じてレーンと称す)における故障モジュールを特定して、当該故障モジュールを正常なモジュールに置き換える自己修復処理を行う。実施の形態1にかかる半導体装置1は、通常動作モードにおいては、再生録音データの再生と音声の録音とにいずれのレーンを使用するかをCPU12により任意に設定できるものとする。
実施の形態1にかかる半導体装置1では、故障検査において、通常動作モードの動作を用いた検査を行う。より具体的には、故障検査における再生音声データの再生処理及び外部に設けられるマイクロフォンで取得した音声を録音した録音音声データの取得処理は、通常動作モードにおける再生処理及び録音処理と実質的に同じである。そこで、以下では、実施の形態1にかかる半導体装置1の故障検査について詳細に説明する。
実施の形態1にかかる半導体装置1は、故障検査において検査用のレーン設定を行い、検査用レーン設定で再生音声データを再生すると共に、当該再生音声データに基づき録音音声データを生成して、再生音声データと録音音声データに基づき故障レーンを検出する。また、実施の形態1にかかる半導体装置1は、故障レーン中の故障モジュールを特定して故障モジュールを他のモジュールに置き換える自己修復処理を行う。
ここで、自己修復処理においては、故障モジュールの特定でメモリ転送制御ユニット101〜10n、ユニット制御部110、サウンドユニット211〜21n内で生成される値を用いる。そこで、故障検査の説明の前にメモリ転送制御ユニット101〜10n、ユニット制御部110、サウンドユニット211〜21n内で生成される各値について説明する。図3に、実施の形態1にかかる半導体装置1の動作を示すタイミングチャートを示す。
図3に示すように、実施の形態1にかかる半導体装置1では、音声データのサンプリング周波数に応じた周期で再生処理及び録音処理に関わるデータの送受信を行う。図3では、サンプリング周波数に応じて生成される信号としてWS信号を示した。このWS信号は、サウンドユニット211〜21n内で生成される信号である。
そして、実施の形態1にかかる半導体装置1は、録音処理を行う場合、外部に設けられるマイクロフォン43等から得た音声データをWS信号の周期に応じて出力する。一方、実施の形態1にかかる半導体装置1は、再生処理を行う場合、サウンドユニット211〜21nがWS信号の周期に応じてDREQ信号を出力する。このDREQ信号は、サウンドユニット211〜21nが出力する制御信号の1つである。そして、当該DREQ信号に応じて、DMAコントローラ10のユニット制御部110がメモリ転送制御ユニット101〜10nにサウンドユニット211〜21nに転送することを指示する。このとき、メモリ転送制御ユニット101〜10nは、サンプリング周波数に応じた周期で音声データの転送を行う。
そして、実施の形態1にかかる半導体装置1では、サウンドユニット211〜21n内のサンプリング周波数検出部211a〜21naにおいて、WS信号の1周期中に、サンプリング周波数よりも高い周波数の信号をカウントすることでWS信号の1周期の長さを示すWS周波数計測値を生成する。また、DMAコントローラ10内のユニット制御部110は、DREQ信号の1周期中に、サンプリング周波数よりも高い周波数の信号をカウントすることでDREQ信号の1周期の長さを示すDREQ周波数計測値を生成する。また、DMAコントローラ10内のメモリ転送制御ユニット101〜10nは、連続してデータ転送回数を示すTCRカウント値が更新されるタイミングの間の長さをサンプリング周波数よりも高い周波数の信号をカウントしてTCR周波数計測値を生成する。
ここで、WS周波数計測値、DREQ周波数計測値及びTCR周波数計測値の生成方法について説明する。なお、WS周波数計測値、DREQ周波数計測値及びTCR周波数計測値の生成方法は、実質的に同じであるため、以下では、WS周波数計測値の生成方法について説明する。図4に実施の形態1にかかる半導体装置1におけるWS周波数計測値の更新タイミングを示すタイミングチャートに示す。
図4に示すように、実施の形態1にかかる半導体装置1では、WS周波数計測値を生成するために、WS信号よりも高い周波数を有するオーバーサンプリングクロックを用いる。そして、WS信号の1周期中のオーバーサンプリングクロックの立ち上がりエッジの数をカウントすることでWS周波数計測値を生成する。また、m周期目のWS周波数計測値は、m+1周期目にサウンドユニット211〜21n内の周波数レジスタに格納される。
続いて、実施の形態1にかかる半導体装置1の故障検査時の動作について詳細に説明する。実施の形態1にかかる半導体装置1では、故障検査時に、CPU12がプログラムに従って、経路切替部20を制御する。そして、この制御により、半導体装置1は、1つのサウンドユニットと、1つのメモリ転送制御ユニットと、により構成される音声データ転送経路を少なくとも3つ構成する。より具体的には、再生音声データの出力経路として少なくとも2つの音声データ伝達経路を構成し、録音音声データを取得するための経路として少なくとも2つの音声データ伝達経路を構成する。そして、実施の形態1にかかる半導体装置1は、少なくとも1つの音声データ転送経路を介してメモリに格納された再生音声データを外部メモリ2から外部端子側に転送する。また、実施の形態1にかかる半導体装置1は、転送した再生音声データに起因して生じる録音音声データを、少なくとも2つの音声データ転送経路を介して外部端子側から外部メモリ2に転送する。そこで、実施の形態1にかかる半導体装置1の故障検査時における音声データ伝達経路の設定の一例を図5に示す。なお、図5に示す例では、nを5とした例について説明する。
図5に示す例では、メモリ転送制御ユニット101とサウンドユニット211により構成される音声データ転送経路(以下、第1のレーンと称す)により再生音声データを外部メモリ2から外部端子側に転送する。また、第1のレーンの先に接続されるDA変換器及びスピーカにより第1のレーンを介して転送した再生音声データを再生する。
また、図5に示す例では、サウンドユニット213とメモリ転送制御ユニット103によって構成される音声データ転送経路(以下、第2のレーンと称す)により録音音声データを外部端子側から外部メモリ2に転送する。この第2のレーンは、第1のレーンを介して転送した再生音声データを経路切替部20内でループバックさせることで生成される録音音声データを外部メモリ2に記録するための経路である。この第2のレーンを介して記録された録音音声データを実施の形態1では第2の録音データと称す。
また、図5に示す例では、サウンドユニット215とメモリ転送制御ユニット105によって構成される音声データ転送経路(以下、第3のレーンと称す)により録音音声データを外部端子側から外部メモリ2に転送する。この第3のレーンは、第1のレーンの先に設けられるスピーカから出力された音声をマイクロフォンにより録音することで生成される録音音声データを外部メモリ2に記録するための経路である。この第3のレーンを介して記録された録音音声データを実施の形態1では第3の録音データと称す。
上記構成により、実施の形態1にかかる半導体装置1は、少なくとも2つの音声データ転送経路を用いて転送された少なくとも2つの録音音声データを前記メモリに蓄積する。そして、実施の形態1にかかる半導体装置1は、CPU12において、再生音声データと少なくとも2つの録音音声データとを比較して音声データ転送経路の故障を検出する。
続いて、実施の形態1にかかる半導体装置1における故障検出方法について、フローチャートを用いて説明する。そこで、実施の形態1にかかる半導体装置1における音声データ転送経路の故障検査方法のフローチャートを図6に示す。
図6に示すように、実施の形態1にかかる半導体装置1は、故障検査を開始したことに応じて、検査用の経路設定を行う(ステップS1)。より具体的には、ステップS1では、CPU12がプログラムに従って、経路切替部20の経路を切り換えて、例えば、図5に示した第1のレーンから第3のレーンを構成する。
次いで、実施の形態1にかかる半導体装置1は、第1のレーンを介して再生音声データを再生し、第2のレーン及び第3のレーンを介して第1の録音音声データ及び第2の録音音声データを取得する(ステップS2)。そして、実施の形態1にかかる半導体装置1は、ステップS2で取得した音声データの比較処理を開始する(ステップS3)。
ステップS3で開始されるデータ比較処理では、ステップS4〜S7の比較判断処理を行う。ステップS4では、3つの音声データのうち再生音声データのみが異なるかを判断する。このステップS4において、再生音声データのみが異なると判断された場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、第1のレーンに不具合が発生したと判断する(ステップS10)。一方、ステップS4において、異なる音声データが再生音声データのみではないと判断された場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、ステップS5の比較判断処理を行う。
ステップS5では、3つの音声データのうち第1の録音音声データのみが異なるかを判断する。このステップS5において、第1の録音音声データのみが異なると判断された場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、第2のレーンに不具合が発生したと判断する(ステップS11)。一方、ステップS5において、異なる音声データが第1の録音音声データのみではないと判断された場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、ステップS6の比較判断処理を行う。
ステップS6では、3つの音声データのうち第2の録音音声データのみが異なるかを判断する。このステップS6において、第2の録音音声データのみが異なると判断された場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、第3のレーンに不具合が発生したと判断する(ステップS12)。一方、ステップS6において、異なる音声データが第2の録音音声データのみではないと判断された場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、ステップS7の比較判断処理を行う。
ステップS7では、3つの音声データが全て異なるものであるか否かを判断する。このステップS7において、全ての音声データが異なると判断された場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、全てのレーンに不具合が発生したと判断する(ステップS13)。一方、ステップS7において、全てのデータが一致すると判断された場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、全てのレーンが正常と判断し(ステップS8)、初期設定等の通常動作用の経路設定値に基づき経路を設定して(ステップS9)故障検査を終了する。
ここで、ステップS10〜S13において、検査用に設定した3つのレーンのいずれかに故障が発生したと判断された場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、不具合があると判断されたレーンについての故障モジュールの特定処理(ステップS14)と、経路組み替え処理(ステップS15)を行う。この故障モジュールの特定処理と経路組み替え処理の詳細を以下で説明する。
図7に実施の形態1にかかる半導体装置における音声データ転送経路の故障モジュール特定処理及び経路組み替え処理のフローチャートを示す。図7に示すように、実施の形態1にかかる半導体装置1では、ステップS14の故障モジュール特定処理としてステップS20〜S22の処理を行い、ステップS15の経路組み替え処理としてステップS23〜S25の処理を行う。なお、ステップS20〜S25の処理は、CPU12により行われる。
ステップS20では、WS周波数計測値が予め設定した期待値(例えば、WS周波数期待値)と一致しているか否かを判断する。このステップS20で、WS周波数計測値がWS周波数期待値と一致していなかった場合、故障レーンに含まれるサウンドユニットが正常に動作していないと考えられる。そのため、WS周波数計測値がWS周波数期待値と一致していなかった場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、故障レーンに含まれるサウンドユニットが故障していると判断し、故障レーンに含まれるサウンドユニットを他のサウンドユニットに置き換える(ステップS25)。一方、ステップS20で、WS周波数計測値がWS周波数期待値と一致していると判断された場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、ステップS21の処理を行う。
ステップS21では、DREQ周波数計測値が予め設定した期待値(例えば、DREQ周波数期待値)と一致しているか否かを判断する。このステップS21で、DREQ周波数計測値がDREQ周波数期待値と一致していなかった場合、故障レーンに含まれるメモリ転送制御ユニットが正常に動作していないと考えられる。そのため、DREQ周波数計測値がDREQ周波数期待値と一致していなかった場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、故障レーンに含まれるメモリ転送制御ユニットが故障していると判断し、故障レーンに含まれるメモリ転送制御ユニットを他のメモリ転送制御ユニットに置き換える(ステップS24)。一方、ステップS21で、DREQ周波数計測値がDREQ周波数期待値と一致していると判断された場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、ステップS22の処理を行う。
ステップS22では、TCR周波数計測値が予め設定した期待値(例えば、TCR周波数期待値)と一致しているか否かを判断する。このステップS21で、TCR周波数計測値がTCR周波数期待値と一致していなかった場合、故障レーンに含まれるメモリ転送制御ユニットが正常に動作していないと考えられる。そのため、TCR周波数計測値がDREQ周波数期待値と一致していなかった場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、故障レーンに含まれるメモリ転送制御ユニットが故障していると判断し、故障レーンに含まれるメモリ転送制御ユニットを他のメモリ転送制御ユニットに置き換える(ステップS24)。一方、ステップS22で、TCR周波数計測値がTCR周波数期待値と一致していると判断された場合、故障レーンに含まれるサウンドユニット及びメモリ転送制御ユニットの両方が故障しているものと判断できる。これは、サウンドユニット及びメモリ転送制御ユニットの両方が故障が故障している場合、いずれの計測値もゼロとなっているためである。この場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、故障レーンに含まれるサウンドユニット及びメモリ転送制御ユニットの両方を他のユニットに切り換える(ステップS23)。
そして、ステップS23〜S25が完了したことに応じて半導体装置1は、故障モジュール特定処理と経路組み替え処理を終了する。なお、ステップS23〜S25の処理は、CPU12が経路切替部20の経路設定値を変更することで経路切替が行われるまた、ステップS20〜S22における比較処理では、一定の長さの検査期間中に得られた複数の計測値の変動を考慮して行うことが好ましい。1つの計測値のみに基づいて期待値との一致判断を行った場合、値の揺らぎ等の影響により誤判定が発生する可能性があるためである。
ここで、上記ステップS24、S25のユニットの切り替え処理を図を用いて説明する。そこで、図8に実施の形態1にかかる半導体装置における音声データ転送経路の組み替え態様の一例を示すブロック図を示す。
図8は、第1のレーンのサウンドユニット211と第3のレーンのメモリ転送制御ユニット105が故障している例である。この場合、実施の形態1にかかる半導体装置1は、サウンドユニット211をサウンドユニット212に置き換え、メモリ転送制御ユニット105をメモリ転送制御ユニット104に置き換えることができる。
上記説明より、実施の形態1にかかる半導体装置1は、経路切替部20を有することで、再生音声データを転送する音声データ転送経路を少なくとも1つ構成し、さらに、この再生音声データに起因して生じる少なくとも2つの録音音声データを転送する少なくとも2つの音声データ転送経路を構成することができる。これにより、実施の形態1にかかる半導体装置1は、複数の音声データ転送経路のいずれで故障が発生しているかを特定することができる。ここで、複数の音声データ転送経路を経路毎に故障確認をした場合、故障が発生した音声データ転送経路を特定するためには、複数回の再生・録音処理が必要となる。しかしながら、実施の形態1にかかる半導体装置1では再生音声データを一度再生するのみで複数の音声データ伝達経路の故障の有無を判定することができる。
また、実施の形態1にかかる半導体装置1では、故障検出処理において、音声データの転送状態をモニタする計測値(例えば、WS周波数計測値、DREQ周波数計測値、及びTCR周波数計測値)を生成し、これら計測値に基づき各ユニットの故障の有無を判断する。そして、実施の形態1にかかる半導体装置1は、音声データ伝達経路中のいずれのユニットで故障が発生しているかを特定することができる。
また、実施の形態1にかかる半導体装置1では、故障が発生したユニットを特定することができるため、故障したユニットを別の正常なユニットに置き換えて通常動作を行うことができる。これにより、実施の形態1にかかる半導体装置1は、装置の信頼性を向上させることができる。特に、自動車等の信頼性が要求される用途では、半導体装置の一部で故障が発生したときに動作を継続することが重要になる。そのため、故障の有無の検出にとどまらず、故障したユニットを別のユニットに置き換えて動作を継続することが出来る機能の効果は大きい。
実施の形態2
実施の形態2では、故障検査時の音声データ伝達経路の設定方法について別の形態を説明する。なお、実施の形態2の説明では、実施の形態1で説明した構成要素と同じ構成要素については、実施の形態1と同じ符号を付して説明を省略する。
図9に実施の形態2にかかる半導体装置1における音声データ転送経路の故障検査時の経路を説明するブロック図を示す。図9に示すように、実施の形態2では、故障検査時に音声データ転送経路の本数を、異なるサウンドユニットと、異なるメモリ転送制御ユニットと、を含む最大数となるように設定する。より具体的には、実施の形態2では再生音声データを伝達する音声データ伝達経路(第1のレーン)を1つ設定する。また、実施の形態2では、当該第1のレーンを介して伝達する音声データを経路切替部20でループバックさせる音声データ伝達経路を2つ設定(第2のレーン及び第3のレーン)し、第1のレーンを介してスピーカから出力された音声をマイクロフォンを介して録音する音声データ伝達経路を2つ設定(第4のレーン及び第5のレーン)する。
つまり、実施の形態2では、半導体装置内で音声データ伝達経路を構成するメモリ転送制御ユニット及びサウンドユニットをすべて利用して故障検査時の音声データ伝達経路を構成する。これにより、実施の形態2にかかる半導体装置1では、一度の検査で音声データ伝達経路を構成する全てのユニットを検査することができる。従って、実施の形態2にかかる半導体装置1では、検査時間を短縮しながら、故障したユニットを代替するユニットの信頼性を向上させることができる。
実施の形態3
実施の形態3では、故障検査時の音声データ伝達経路の設定方法について別の形態を説明する。なお、実施の形態3の説明では、実施の形態1で説明した構成要素と同じ構成要素については、実施の形態1と同じ符号を付して説明を省略する。
図10に実施の形態3にかかる半導体装置1における音声データ転送経路の故障検査時の経路を説明するブロック図を示す。実施の形態3では、外部端子を介してスピーカから出力される音声をマイクロフォンにより録音した録音音声データを転送する第1の音声データ転送経路と、経路切替部20内で再生音声データをループバックさせることで生じる録音音声データを転送する第2の音声データ転送経路との少なくとも一方を2つ以上有するように経路を設定する。図10に示す例は、第1のデータ転送経路を2ほん設定した例である。より具体的には、実施の形態3では再生音声データを伝達する音声データ伝達経路(第1のレーン)を1つ設定する。また、実施の形態3では、第1のレーンを介してスピーカから出力された音声をマイクロフォンを介して録音する音声データ伝達経路を2つ設定(第2のレーン及び第3のレーン)する。
つまり、実施の形態3では、1つのスピーカから出力された音声を1つのマイクロフォンで集音し、当該マイロフォンへの入力に基づき生成される録音音声データを2つの音声データ伝達経路を介して外部メモリ2に伝達する。そして、1つのマイクロフォンからの入力に対して2つの録音音声データを生成する。これにより、実施の形態3にかかる半導体装置1では、例えば、2つの録音音声データが無音で一致していれば、外部のDA変換器或いはマイクで故障が発生した判断することができる。そして、このような故障が発生した場合には、実施の形態3にかかる半導体装置1は、利用するDA変換器とスピーカの組み合わせを変更することができるため、半導体装置1を用いたサウンドシステムの信頼性を向上させることができる。
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は既に述べた実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能であることはいうまでもない。
1 半導体装置
2 外部メモリ
10 DMAコントローラ
101〜10n メモリ転送制御ユニット
110 ユニット制御部
11 サウンドインタフェース
12 CPU
13 メモリインタフェース
20 経路切替部
211〜21n サウンドユニット
211a〜21na サンプリング周波数検出部
31、32 DA変換器
33、34 AD変換器
41、42 スピーカ
43、44 マイクロフォン
51〜5n セレクタユニット
511 経路設定レジスタ
61〜6n 入出力バッファ

Claims (15)

  1. プログラムを実行する処理を行う演算部と、
    メモリに格納された音声データの外部端子への出力と、前記外部端子から入力される前記音声データの前記メモリへの転送を行う複数のサウンドユニットと、
    前記複数のサウンドユニットと前記外部端子との間に設けられ、前記複数のサウンドユニットに入出力される音声データの転送経路を切り換える経路切替部と、
    前記メモリと前記複数のサウンドユニットとの間のデータの送受信を制御する複数のメモリ転送制御ユニット、及び、前記複数のメモリ転送制御ユニットを制御するユニット制御部を有するメモリ転送コントローラと、を有し、
    前記演算部は、
    前記プログラムに従って、前記経路切替部を制御して、1つの前記サウンドユニットと、1つの前記メモリ転送制御ユニットと、により構成される音声データ転送経路を少なくとも3つ構成し、
    少なくとも1つの前記音声データ転送経路を介して前記メモリに格納された再生音声データを前記メモリから前記外部端子側に転送し、
    少なくとも2つの前記音声データ転送経路を介して前記再生音声データに起因して生じる少なくとも2つの録音音声データを前記外部端子側から前記メモリに転送する半導体装置。
  2. 前記演算部は、
    少なくとも2つの前記音声データ転送経路を用いて転送された少なくとも2つの前記録音音声データを前記メモリに蓄積し、
    前記再生音声データと少なくとも2つの前記録音音声データとを比較して前記音声データ転送経路の故障を検出する請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記複数のサウンドユニットは、前記音声データのサンプリング周波数の周期の長さを示す第1のカウント値を生成し、
    前記複数のメモリ転送制御ユニットは、前記音声データの転送間隔の長さを示す第2のカウント値を生成し、
    前記ユニット制御部は、前記サウンドユニットが出力するデータ制御信号の発生間隔の長さを示す第3のカウント値を生成し、
    前記演算部は、
    前記第1のカウント値と、予め設定した前記第1のカウント値の期待値を示す第1の期待値とが不一致となった場合に前記サウンドユニットが故障したと判断し、
    前記第2のカウント値と、予め設定した前記第2のカウント値の期待値を示す第2の期待値とが不一致となった場合、又は、前記第3のカウント値と、予め設定した前記第3のカウント値の期待値を示す第3の期待値とが不一致となった場合に前記メモリ転送制御ユニットが故障したと判断し、
    前記第3のカウント値と、前記第3の期待値とが一致したことに応じて前記音声データ転送経路が故障したと判断する請求項2に記載の半導体装置。
  4. 前記演算部は、
    前記経路切替部を制御して、故障が発生したユニット又は前記音声データ転送経路を他のユニット又は他の音声データ転送経路に切り換えて前記外部端子を介した前記音声データの出力又は入力を行う通常動作を開始する請求項3に記載の半導体装置。
  5. 前記経路切替部は、
    前記音声データの出力先を示す経路設定値を格納する経路設定レジスタと、
    前記経路設定値の値に基づき、前記音声データの伝達経路を切り換える複数のセレクタと、を有する請求項1に記載の半導体装置。
  6. 前記経路設定値は、前記演算部により書き換えられる請求項5に記載の半導体装置。
  7. 複数の前記音声データ転送経路のうち前記録音音声データを転送する前記音声データ転送経路は、前記外部端子を介してスピーカから出力される音声をマイクロフォンにより録音した第1の録音音声データを転送する第1の音声データ転送経路と、前記経路切替部内で前記再生音声データをループバックさせることで生じる第2の録音音声データを転送する第2の音声データ転送経路と、のいずれか一方を含む請求項1に記載の半導体装置。
  8. 前記第1の音声データ転送経路と前記第2の音声データ転送経路との少なくとも一方を2つ以上有する請求項7に記載の半導体装置。
  9. 前記音声データ転送経路の本数は、異なるサウンドユニットと、異なるメモリ転送制御ユニットと、を含む最大数が設定される請求項1に記載の半導体装置。
  10. プログラムを実行する処理を行う演算部と、
    メモリに格納された音声データの外部端子への出力と、前記外部端子から入力される前記音声データの前記メモリへの格納を行う複数のサウンドユニットと、
    前記メモリと前記複数のサウンドユニットとの間のデータの送受信を制御する複数のメモリ転送制御ユニットと、を有する半導体装置における故障検出方法であって、
    1つの前記サウンドユニットと、1つの前記メモリ転送制御ユニットと、により構成される音声データ転送経路を少なくとも3つ構成し、
    少なくとも1つの前記音声データ転送経路を介して前記メモリに格納された再生音声データを前記メモリから前記外部端子側に転送し、
    少なくとも2つの前記音声データ転送経路を介して前記再生音声データに起因して生じる少なくとも2つの録音音声データを前記外部端子側から前記メモリに転送し、
    前記再生音声データと少なくとも2つの前記録音音声データとを前記演算部において比較して前記音声データ転送経路の故障を検出する故障検出方法。
  11. 前記複数のサウンドユニットにおいて、前記音声データの転送周期を計測する第1のカウント値を生成し、
    前記複数のメモリ転送制御ユニットにおいて、前記サウンドユニットから前記メモリへの前記音声データの転送周期を計測する第2のカウント値、及び、前記メモリから前記サウンドユニットへの前記音声データの転送周期を計測する第3のカウント値を生成し、
    前記演算部において、
    前記第1のカウント値と、予め設定した前記第1のカウント値の期待値を示す第1の期待値とが不一致となった場合に前記サウンドユニットが故障したと判断し、
    前記第2のカウント値と、予め設定した前記第2のカウント値の期待値を示す第2の期待値とが不一致となった場合、又は、前記第3のカウント値と、予め設定した前記第3のカウント値の期待値を示す第3の期待値とが不一致となった場合に前記メモリ転送制御ユニットが故障したと判断し、
    前記第3のカウント値と、前記第3の期待値とが一致したことに応じて前記音声データ転送経路が故障したと判断する請求項10に記載の故障検出方法。
  12. 前記演算部において、故障が発生したユニット又は前記音声データ転送経路を、他のユニット又は他の音声データ転送経路に切り換えて前記外部端子を介した前記音声データの出力又は入力を行う通常動作を開始する請求項11に記載の故障検出方法。
  13. 複数の前記音声データ転送経路のうち前記録音音声データを転送する前記音声データ転送経路は、前記外部端子を介してスピーカから出力される前記音声データをマイクロフォンにより録音した第1の録音音声データを転送する第1の音声データ転送経路と、前記再生音声データをループバックさせることで生じる第2の録音音声データを転送する第2の音声データ転送経路と、のいずれか一方を含む請求項10に記載の故障検出方法。
  14. 前記第1の音声データ転送経路と前記第2の音声データ転送経路との少なくとも一方を2つ以上有する請求項13に記載の故障検出方法。
  15. 前記音声データ転送経路の本数は、異なるサウンドユニットと、異なるメモリ転送制御ユニットと、を含む最大数が設定される請求項10に記載の故障検出方法。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107861847A (zh) * 2017-10-31 2018-03-30 郑州云海信息技术有限公司 一种路径动态检测方法、装置及设备
US10012691B1 (en) * 2017-11-07 2018-07-03 Qualcomm Incorporated Audio output diagnostic circuit
US10687159B2 (en) 2018-03-12 2020-06-16 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Noise reduction device, noise reduction system, and fault detection method for noise reduction device
US10580288B2 (en) * 2018-06-12 2020-03-03 Blackberry Limited Alert fault detection system and method

Family Cites Families (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL278652A (ja) * 1961-05-29
CA1123955A (en) * 1978-03-30 1982-05-18 Tetsu Taguchi Speech analysis and synthesis apparatus
US4536886A (en) * 1982-05-03 1985-08-20 Texas Instruments Incorporated LPC pole encoding using reduced spectral shaping polynomial
US5146539A (en) * 1984-11-30 1992-09-08 Texas Instruments Incorporated Method for utilizing formant frequencies in speech recognition
JPH0213096A (ja) * 1988-06-30 1990-01-17 Toshiba Corp 電子交換機
JPH0469700A (ja) * 1990-07-11 1992-03-04 Hitachi Ltd 情報記憶再生装置及び記憶再生方法
KR950002672B1 (ko) * 1992-04-11 1995-03-24 삼성전자주식회사 음성 데이타 보간회로
JP3463352B2 (ja) * 1993-07-23 2003-11-05 ソニー株式会社 再生装置
US5625747A (en) * 1994-09-21 1997-04-29 Lucent Technologies Inc. Speaker verification, speech recognition and channel normalization through dynamic time/frequency warping
WO1997014148A1 (fr) * 1995-10-13 1997-04-17 Sony Corporation Appareil de reproduction sur disque optique pour procede de reproduction sur disque optique
US5918180A (en) * 1995-12-22 1999-06-29 Dimino; Michael Telephone operable global tracking system for vehicles
JP3390824B2 (ja) * 1997-03-19 2003-03-31 株式会社日立製作所 多重化制御装置及びその障害回復方法
JPH10271082A (ja) * 1997-03-21 1998-10-09 Mitsubishi Electric Corp 音声データ復号装置
JPH10290200A (ja) * 1997-04-11 1998-10-27 Fujitsu Ltd 音声符号化/復号化回路及びこれを用いた移動体通信装置
US6085257A (en) * 1997-10-16 2000-07-04 Lsi Logic Corporation Enhanced receiving chip for a computer monitor
US7085710B1 (en) * 1998-01-07 2006-08-01 Microsoft Corporation Vehicle computer system audio entertainment system
US6572531B2 (en) * 2000-06-17 2003-06-03 Alfred E. Mann Foundation For Scientific Reseach Implantable middle ear implant
US20020135815A1 (en) * 2001-01-22 2002-09-26 Time Domain Corporation Hand-held scanner with impulse radio wireless interface
US20020097884A1 (en) * 2001-01-25 2002-07-25 Cairns Douglas A. Variable noise reduction algorithm based on vehicle conditions
US7937118B2 (en) * 2001-10-30 2011-05-03 Unwired Technology Llc Wireless audio distribution system with range based slow muting
EP1616460A1 (en) * 2003-04-11 2006-01-18 Koninklijke Philips Electronics N.V. System comprising sound reproduction means and ear microphones
JP2005292401A (ja) 2004-03-31 2005-10-20 Denso Corp カーナビゲーション装置
JP2005339675A (ja) * 2004-05-27 2005-12-08 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JP2005341384A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Sony Corp 音場補正装置、音場補正方法
JP3939715B2 (ja) * 2004-08-20 2007-07-04 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 位相同期ループ回路
US7430158B1 (en) * 2004-12-13 2008-09-30 Chris Tanner Music player with adjustable pitch controller
JP2006235727A (ja) * 2005-02-22 2006-09-07 Sony Corp 電子機器及びその自己診断方法
JP2007101811A (ja) * 2005-10-03 2007-04-19 Fujitsu Ltd 固定歪み補正機能を持つ記録再生装置
JP4301270B2 (ja) * 2006-09-07 2009-07-22 ヤマハ株式会社 オーディオ再生装置およびオーディオ再生方法
JP4940887B2 (ja) * 2006-10-20 2012-05-30 富士通株式会社 音声入力支援プログラム、音声入力支援装置、音声入力支援方法
US20080162150A1 (en) * 2006-12-28 2008-07-03 Vianix Delaware, Llc System and Method for a High Performance Audio Codec
JP4722878B2 (ja) * 2007-04-19 2011-07-13 ソニー株式会社 ノイズ低減装置および音響再生装置
JP5093648B2 (ja) * 2007-05-07 2012-12-12 国立大学法人電気通信大学 再生装置
JP2009096259A (ja) * 2007-10-15 2009-05-07 Fujitsu Ten Ltd 音響システム
JP4438857B2 (ja) * 2007-12-11 2010-03-24 ソニー株式会社 通信システム、受信装置、および受信方法
KR101453074B1 (ko) * 2008-04-08 2014-10-23 삼성전자주식회사 디스플레이 인터페이스 시스템, 디스플레이 장치 및디스플레이 시스템
JP4893722B2 (ja) * 2008-10-15 2012-03-07 ソニー株式会社 携帯端末システム、携帯端末、並びに外部機器
DE202010001322U1 (de) * 2009-11-23 2010-06-24 Pfannenberg Gmbh Vorrichtung zur Überwachung eines Schallgebers, insbesondere eines Alarmschallgebers, und ein entsprechender Schallgeber
JP2011142537A (ja) * 2010-01-08 2011-07-21 Toyota Motor Corp 電子制御システム及びその故障検出方法
KR101422980B1 (ko) * 2010-04-07 2014-07-23 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 송신기 및 송신 방법
US9053697B2 (en) * 2010-06-01 2015-06-09 Qualcomm Incorporated Systems, methods, devices, apparatus, and computer program products for audio equalization
JP2011251626A (ja) 2010-06-02 2011-12-15 Sony Corp 車載装置
US8958571B2 (en) * 2011-06-03 2015-02-17 Cirrus Logic, Inc. MIC covering detection in personal audio devices
US20140046891A1 (en) * 2012-01-25 2014-02-13 Sarah Banas Sapient or Sentient Artificial Intelligence
JP6182895B2 (ja) * 2012-05-01 2017-08-23 株式会社リコー 処理装置、処理方法、プログラム及び処理システム
US9076427B2 (en) * 2012-05-10 2015-07-07 Cirrus Logic, Inc. Error-signal content controlled adaptation of secondary and leakage path models in noise-canceling personal audio devices
US9538285B2 (en) * 2012-06-22 2017-01-03 Verisilicon Holdings Co., Ltd. Real-time microphone array with robust beamformer and postfilter for speech enhancement and method of operation thereof
US9113243B2 (en) * 2012-08-16 2015-08-18 Cisco Technology, Inc. Method and system for obtaining an audio signal
JP5999839B2 (ja) * 2012-09-10 2016-09-28 ルネサスエレクトロニクス株式会社 音声案内システム及び電子機器
US9959865B2 (en) * 2012-11-13 2018-05-01 Beijing Lenovo Software Ltd. Information processing method with voice recognition
US9107011B2 (en) * 2013-07-03 2015-08-11 Sonetics Holdings, Inc. Headset with fit detection system
CN103701465B (zh) * 2013-12-02 2016-09-21 苏州上声电子有限公司 一种基于多比特△—σ调制的数字扬声器***实现方法和装置

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