JP6441759B2 - 分光分析器に用いられる光検出器の出力補正方法 - Google Patents
分光分析器に用いられる光検出器の出力補正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6441759B2 JP6441759B2 JP2015146359A JP2015146359A JP6441759B2 JP 6441759 B2 JP6441759 B2 JP 6441759B2 JP 2015146359 A JP2015146359 A JP 2015146359A JP 2015146359 A JP2015146359 A JP 2015146359A JP 6441759 B2 JP6441759 B2 JP 6441759B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output value
- photodetector
- wave number
- light
- incident
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 72
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 21
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 21
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 11
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 11
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 7
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 3
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000004868 gas analysis Methods 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0297—Constructional arrangements for removing other types of optical noise or for performing calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J2003/1213—Filters in general, e.g. dichroic, band
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J2003/2866—Markers; Calibrating of scan
- G01J2003/2876—Correcting linearity of signal
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N2021/3595—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using FTIR
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/068—Optics, miscellaneous
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
- G01N2201/127—Calibration; base line adjustment; drift compensation
- G01N2201/12746—Calibration values determination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
- G01N2201/127—Calibration; base line adjustment; drift compensation
- G01N2201/12746—Calibration values determination
- G01N2201/12784—Base line obtained from computation, histogram
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
そこで、従来は、所定の基準光を光検出器に入射してそのときの光検出器の出力値を取得し、検量線を作成する。
また、前記工数や設備の問題から、メンテナンスや修理時に、製品納入先での検量線の点検や再作成が難しいという問題も生じる。
そして、これは、MCT光検出器のみならず、他の種類の光検出器にも共通する問題である。
前記光源から射出された光を、その強度が前記範囲内になるように、波数透過特性又は波数反射特性が既知の光学素子を介在させて前記光検出器に入射させ、該入射光に含まれる複数の所定波数の光のそれぞれに対する前記光検出器の出力値である第1出力値を取得する一方、
同光源から射出された光を、前記光学素子を介在させることなく、前記光検出器に入射させ、該入射光に含まれる前記各所定波数の光のそれぞれに対する前記光検出器の出力値である第2出力値を取得し、
前記所定波数毎の第1出力値及び第2出力値の比と、前記光学素子の波数透過又は反射特性とをパラメータとして、前記光検出器の出力値から入射光の強度を算出するための演算式を求めることを特徴とするものである。
Y1(k)/{C(y)・Y2(k)}=F(k)・・・(1)
ここで、kは波数、Y1(k)は前記第1出力値、Y2(k)は前記第2出力値、F(k)は前記光学素子の波数透過特性又は波数反射特性、yは光検出器の出力値、C(y)は前記演算式である。
前記光源から射出された光を、その強度が前記範囲内になるように、波数透過特性が既知の光学素子を介在させて前記光検出器に入射させたときの、該入射光に含まれる複数の所定波数の光のそれぞれに対する前記光検出器の出力値である第1出力値を取得するとともに、同光源から射出された光を、前記光学素子を介在させることなく、前記光検出器に入射させたときの、該入射光に含まれる前記各所定波数の光のそれぞれに対する前記光検出器の出力値である第2出力値を取得する出力値取得部と、
前記所定波数毎の第1出力値及び第2出力値の比と、前記光学素子の波数透過特性とをパラメータとして、前記光検出器の出力値から入射光の強度を算出するための演算式を算出する演算式算出部とをさらに具備することを特徴とするものである。
入射光強度を所定範囲内にするための好ましい光学素子としては、バンドパスフィルタを挙げることができる。
光検出器4は、ここでは、いわゆるMCT光検出器4と称されるものである。
この分析部51は、光スペクトルを以下のようにして算出する。
そこで、本実施形態では、前記検量線(演算式)を予め求めるために、以下のような機構をこの分光分析器100に設けている。
まず、図2に示すように、試料設置部3から光検出器4に至る光路上に、光学素子たる光学フィルタ6を挿脱可能に設けている。
光学フィルタ6は平板状をなすものであり、ここでは、例えば図3に示すような波数透過特性を有する、いわゆるバンドパスフィルタである。
また、前記演算処理装置5には、図2に示すように、出力値取得部52と演算式算出部53とをさらに設けている。
このような構成の分光分析器100の動作の一例を詳細に説明する。
なお、図5に、第1位置(光学フィルタ有)、第2位置(光学フィルタ無)、第3位置(光遮断)でそれぞれ得られたインターフェログラムの一例を掲載する。
評価関数は、式(1)で表されるものである。
Y1(k)/{C(y)・Y2(k)}=F(k)・・・(1)
C(y)=C1・y+C2・y2+C3・y3・・・(2)
前記第1出力値Y1(k)は、以下の式(3)で表すことができる。
Y1(k)=S(I1)・F(k)・L(k)・・・(3)
ここで、L(k)は波数毎の入射光強度、S(I1)は波数毎の検出器特性、I1は入射光強度、F(k)は光学フィルタ6の波数毎の透過率(フィルタ特性)である。
したがって、S(I1)=α=一定値・・・(4)
が成り立つ。ここでαは一定値の係数である。
これを言い換えれば、この入射光強度が所定範囲内での光検出器4の出力値は、入射光強度I1を相対的に表すものとなる。
Y2(k)=S(I2)・L(k)・・・(5)
ここで、I2は入射光強度である。
すなわち、S(I2)は一定値ではなく、光検出器4への入射光強度I2によってその値が変化する。
すなわち、以下の式(6)が成り立つような関数C’(I)を求めればよい。
C’(I)・S(I2)=S(I1)・・・(6)
C’(I)・Y2(k)=C’(I)・S(I2)・L(k)・・・(7)
式(3)の各辺を式(7)の各辺で割ると、以下の式(8)となる。
Y1(k)/{C’(I)・Y2(k)}=
S(I1)・F(k)・L(k)/{C’(I)・S(I2)・L(k)}
・・・(8)
Y1(k)/{C’(I)・Y2(k)}=F(k)・・・(9)
以上が、光検出器4の出力値yをC(y)で補正した補正検出器出力値xが、相対的な光強度となる理由である。実際にガス分析を行って線形性が向上した結果を図6に示す。
また、その結果、メンテナンスや修理時に、製品納入先での検量線の点検や再作成を容易に行えるというメリットも生じる。
光学フィルタを、第1位置〜第3位置に自動的に移動させるなどして、全自動で演算式を求めるような構成にしても構わない。
また、本発明は、フーリエ変換型赤外分光分析器に限られず、他のタイプの分光分析器や分光器(前記実施形態で言えば光スペクトルを求めるまでの構成のもの)に適用して同様の効果を奏し得るものである。
その他、本発明は前記実施形態に限られること無く、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能である。
1・・・光源
2・・・分光部(干渉計)
4・・・光検出器
52・・・出力値取得部
53・・・演算式算出部
6・・・光学フィルタ(光学素子)
7・・・フィルタ支持部材(支持機構)
Claims (6)
- 光源と、該光源から射出された光を分光する分光部と、該分光部から出た光の強度を測定するための光検出器とを具備し、該光検出器は、所定範囲内での入射光強度と出力値との関係が実質的に線形となるものである分光分析器又は分光器に用いられるものであって、
前記光源から射出された光を、その強度が前記範囲内になるように、波数透過特性又は波数反射特性が既知の光学素子を介在させて前記光検出器に入射させ、該入射光に含まれる複数の所定波数の光のそれぞれに対する前記光検出器の出力値である第1出力値を取得する一方、
同光源から射出された光を、前記光学素子を介在させることなく、前記光検出器に入射させ、該入射光に含まれる前記各所定波数の光のそれぞれに対する前記光検出器の出力値である第2出力値を取得し、
前記所定波数毎の第1出力値及び第2出力値の比と、前記光学素子の波数透過特性又は波数反射特性とをパラメータとして、前記光検出器の出力値から入射光の強度を算出するための演算式を求めることを特徴とする、光検出器の出力補正方法。 - 前記演算式が以下の式(1)を所定の範囲で満たすものである請求項1記載の光検出器の出力補正方法。
Y1(k)/{C(y)・Y2(k)}=F(k)・・・(1)
ここで、kは波数、Y1(k)は前記第1出力値、Y2(k)は前記第2出力値、F(k)は前記光学素子の波数透過特性又は波数反射特性、yは光検出器の出力値、C(y)は前記演算式である。 - 光源と、該光源から射出された光を分光する分光部と、該分光部から出た光を検出する光検出器とを具備し、該光検出器は、所定範囲内での入射光強度と出力値との関係が実質的に線形となる分光分析器又は分光器において、
前記光源から射出された光を、その強度が前記範囲内になるように、波数透過特性又は波数反射特性が既知の光学素子を介在させて前記光検出器に入射させたときの、該入射光に含まれる複数の所定波数の光のそれぞれに対する前記光検出器の出力値である第1出力値を取得するとともに、同光源から射出された光を、前記光学素子を介在させることなく、前記光検出器に入射させたときの、該入射光に含まれる前記各所定波数の光のそれぞれに対する前記光検出器の出力値である第2出力値を取得する出力値取得部と、
前記所定波数毎の第1出力値及び第2出力値の比と、前記光学素子の波数透過特性又は波数反射特性とをパラメータとして、前記光検出器の出力値から入射光の強度を算出するための演算式を算出する演算式算出部とをさらに具備することを特徴とする分光分析器又は分光器。 - 前記光学素子を移動可能に支持する支持機構をさらに具備し、該支持機構が、前記光学素子を、光源から光検出器に至る光路上に位置する第1位置と、前記光路上から退避した第2位置とのいずれかに選択的に移動させるものである請求項3記載の分光分析器又は分光器。
- 前記光学素子がバンドパスフィルタである請求項3又は4記載の分光分析器又は分光器。
- 光源と、該光源から射出された光を分光する分光部と、該分光部から出た光の強度を測定するための光検出器とを具備し、該光検出器は、所定範囲内での入射光強度と出力値との関係が実質的に線形となるものである分光分析器又は分光器に用いられるプログラムであって、
前記光源から射出された光を、その強度が前記範囲内になるように、波数透過特性又は波数反射特性が既知の光学素子を介在させて前記光検出器に入射させ、該入射光に含まれる複数の所定波数の光のそれぞれに対する前記光検出器の出力値である第1出力値を取得する一方、
同光源から射出された光を、前記光学素子を介在させることなく、前記光検出器に入射させ、該入射光に含まれる前記各所定波数の光のそれぞれに対する前記光検出器の出力値である第2出力値を取得し、
前記所定波数毎の第1出力値及び第2出力値の比と、前記光学素子の波数透過特性又は波数反射特性とをパラメータとして、前記光検出器の出力値から入射光の強度を算出するための演算式を求める機能を該分光分析器又は分光器に発揮させることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015146359A JP6441759B2 (ja) | 2015-07-24 | 2015-07-24 | 分光分析器に用いられる光検出器の出力補正方法 |
CN201610577108.6A CN106370303B (zh) | 2015-07-24 | 2016-07-20 | 光检测器的输出修正方法和光谱分析装置或分光器 |
EP16180886.0A EP3133380B1 (en) | 2015-07-24 | 2016-07-22 | Photodetector output correction method used for spectroscopic analyzer or spectroscope, spectroscopic analyzer or spectroscope using this method and program for spectroscopic analyzer or spectroscope instructing this method |
US15/218,580 US10066992B2 (en) | 2015-07-24 | 2016-07-25 | Photodetector output correction method used for spectroscopic analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015146359A JP6441759B2 (ja) | 2015-07-24 | 2015-07-24 | 分光分析器に用いられる光検出器の出力補正方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017026506A JP2017026506A (ja) | 2017-02-02 |
JP2017026506A5 JP2017026506A5 (ja) | 2018-08-23 |
JP6441759B2 true JP6441759B2 (ja) | 2018-12-19 |
Family
ID=56567407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015146359A Active JP6441759B2 (ja) | 2015-07-24 | 2015-07-24 | 分光分析器に用いられる光検出器の出力補正方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10066992B2 (ja) |
EP (1) | EP3133380B1 (ja) |
JP (1) | JP6441759B2 (ja) |
CN (1) | CN106370303B (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103974710B (zh) | 2011-11-15 | 2016-07-06 | 旭化成制药株式会社 | 用于败血症的治疗和/或改善的药物 |
EP3413021B1 (en) * | 2016-02-04 | 2022-09-21 | Jasco Corporation | Spectrum measurement method using fourier-transform-type spectrometer |
DE102017110269A1 (de) * | 2017-05-11 | 2018-11-15 | B. Braun Avitum Ag | Online Linearisierung eines optischen Sensors |
JP6863831B2 (ja) * | 2017-06-15 | 2021-04-21 | 株式会社堀場製作所 | 光検出器の出力補正用演算式の算出方法、及び光検出器の出力補正方法 |
WO2019014020A1 (en) | 2017-07-14 | 2019-01-17 | Zume, Inc. | MULTI-MODAL FOOD PREPARATION IMPLEMENTATION IN VEHICLE, COOKING, AND DISTRIBUTION SYSTEMS AND METHODS |
US10436709B2 (en) * | 2018-01-19 | 2019-10-08 | Endress+Hauser Conducta Inc. | Calibration unit for optical detector |
JP7014701B2 (ja) | 2018-12-14 | 2022-02-01 | 株式会社堀場製作所 | 光学分析装置、並びに光学分析装置に用いられる機械学習装置及びその方法 |
US20230304859A1 (en) * | 2022-03-22 | 2023-09-28 | Thermo Electron Scientific Instruments Llc | Linearization of mercury cadmium telluride photodetectors |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2797797B2 (ja) * | 1991-12-16 | 1998-09-17 | 信越半導体株式会社 | フーリエ変換赤外分光測定方法 |
JPH0915156A (ja) * | 1995-06-28 | 1997-01-17 | Kdk Corp | 分光測定方法及び測定装置 |
JP3660472B2 (ja) | 1997-07-08 | 2005-06-15 | 日本分光株式会社 | インターフェログラム補正方法 |
DE19824277C2 (de) * | 1998-05-29 | 2000-03-23 | Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt | Verfahren zur spektroskopischen Untersuchung einer elektromagnetischen Strahlung mittels eines Fourier-Spektrometers |
US6359278B1 (en) * | 1999-12-29 | 2002-03-19 | Ge Marquette Medical Systems, Inc. | Optical stabilization of temperature effects on an infrared gas analyzer |
US6512223B1 (en) * | 2000-10-16 | 2003-01-28 | Wedgewood Technology, Inc. | Photometric detector assembly with internal calibration filters |
US7088388B2 (en) * | 2001-02-08 | 2006-08-08 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for calibrating a sensor for highlights and for processing highlights |
US6785002B2 (en) * | 2001-03-16 | 2004-08-31 | Optical Coating Laboratory, Inc. | Variable filter-based optical spectrometer |
KR100798518B1 (ko) * | 2002-12-24 | 2008-01-28 | 가부시끼 가이샤 구보다 | 과채류의 품질 평가 장치 |
CN1212259C (zh) * | 2003-05-14 | 2005-07-27 | 汕头市远东轻化装备有限公司 | 一种气动牵引展平装置 |
EP1784625B1 (en) * | 2004-08-26 | 2009-11-18 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Autonomous calibration for optical analysis system |
CN101625458B (zh) * | 2008-07-11 | 2011-12-21 | 财团法人工业技术研究院 | 复合式分光元件 |
JP5150939B2 (ja) * | 2008-10-15 | 2013-02-27 | 大塚電子株式会社 | 光学特性測定装置および光学特性測定方法 |
DK2634551T3 (da) * | 2010-10-28 | 2021-07-12 | Foss Analytical As | Interferometer og apparat til fourier-transformations spektroskopisk analyse |
WO2013129519A1 (ja) * | 2012-02-29 | 2013-09-06 | 国立大学法人香川大学 | 分光特性測定装置及び分光特性測定方法 |
FI125762B (en) * | 2012-10-11 | 2016-02-15 | Teknologian Tutkimuskeskus Vtt Oy | Method for determining calibration parameters for a spectrometer |
CN103792764B (zh) * | 2012-10-31 | 2016-02-10 | 中强光电股份有限公司 | 照明*** |
US20140253921A1 (en) * | 2013-03-07 | 2014-09-11 | Qiushui Chen | Spectroscopic systems and methods |
JP2015087108A (ja) * | 2013-10-28 | 2015-05-07 | 株式会社島津製作所 | フーリエ変換分光光度計及び光量制御方法 |
-
2015
- 2015-07-24 JP JP2015146359A patent/JP6441759B2/ja active Active
-
2016
- 2016-07-20 CN CN201610577108.6A patent/CN106370303B/zh active Active
- 2016-07-22 EP EP16180886.0A patent/EP3133380B1/en active Active
- 2016-07-25 US US15/218,580 patent/US10066992B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017026506A (ja) | 2017-02-02 |
CN106370303B (zh) | 2020-12-04 |
CN106370303A (zh) | 2017-02-01 |
US10066992B2 (en) | 2018-09-04 |
EP3133380A1 (en) | 2017-02-22 |
EP3133380B1 (en) | 2020-08-19 |
US20170023408A1 (en) | 2017-01-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6441759B2 (ja) | 分光分析器に用いられる光検出器の出力補正方法 | |
JP2017026506A5 (ja) | ||
JP6863831B2 (ja) | 光検出器の出力補正用演算式の算出方法、及び光検出器の出力補正方法 | |
AU2005318683B2 (en) | A method for standardising a spectrometer | |
JP7070567B2 (ja) | 分光測定方法、分光測定装置及び広帯域パルス光源ユニット | |
JP7014701B2 (ja) | 光学分析装置、並びに光学分析装置に用いられる機械学習装置及びその方法 | |
US11231271B2 (en) | Interferometer system and application thereof | |
JP2014142299A (ja) | ガス濃度測定装置 | |
JP5974929B2 (ja) | 迷光補正方法、及びこれを用いたフーリエ変換型分光装置 | |
US8873040B2 (en) | Raman apparatus and method for real time calibration thereof | |
RU51742U1 (ru) | Газоанализатор | |
US20230236123A1 (en) | Far-Infrared Spectroscopy Device | |
JP2006300664A (ja) | フーリエ分光装置,測定タイミング検出方法 | |
US20240027332A1 (en) | Spectroscopic measurement method | |
JP2013160651A (ja) | ライン分光測定装置 | |
von Niederhäusern et al. | Instantaneous coherence length measurement of a swept laser source using a Mach-Zehnder interferometer | |
Gunji et al. | Improvement of Frequency Accuracy of Spatially-resolved Spectroscopy/Tomographic Spectroscopy | |
Zeng et al. | Spectral irradiance responsivity calibration of InSb radiometers using the improved IR-SIRCUS at NIST | |
JP5994593B2 (ja) | 分光光度計 | |
JP2020143972A (ja) | インターフェログラムデータ補正方法、インターフェログラムデータ補正プログラム、分光測定装置、及び分光測定方法 | |
JP2020159951A (ja) | 測定方法及び装置 | |
Zhang et al. | Research on methods of spectral calibration and radiometric calibration of the windowing Fourier transform imaging spectrometer | |
JPS5934975B2 (ja) | 石炭の揮発分を測定する方法 | |
CZ2009274A3 (cs) | Fourieruv spektrometr s rozlišením zubu frekvencního hrebene |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180712 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180712 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20180903 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20181026 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181101 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20181122 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6441759 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |