JP6422805B2 - 切削装置 - Google Patents

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Description

本発明は、ウエーハを構成するデバイス領域と該デバイス領域を囲繞する外周余剰領域との境界部を適正に切削することができる切削装置に関する。
半導体デバイス製造工程においては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に形成され分割予定ラインによって複数の領域が区画され、この区画された領域にIC、LSI等のデバイスを形成する。そして、半導体ウエーハを分割予定ラインに沿って切断することによりデバイスが形成された領域を分割して個々のデバイスを製造している。
上述したように分割されるウエーハは、分割予定ラインに沿って切断する前に裏面を研削またはエッチングによって所定の仕上がり厚さに形成される。近年、電気機器の軽量化、小型化を達成するためにウエーハの厚さを50μm以下に形成することが要求されている。
しかるに、ウエーハの厚さを50μm以下に形成すると破損し易くなり、ウエーハの搬送等の取り扱いが困難になるという問題がある。
上述した問題を解消するために、ウエーハの裏面におけるデバイス領域に対応する領域を研削してデバイス領域の厚さを所定の仕上がり厚さに形成するとともに、ウエーハの裏面における外周部を残存させて環状の補強部を形成することにより、剛性を有するウエーハを形成することができるウエーハの加工方法が下記特許文献1に開示されている。
上述したようにウエーハの裏面における外周部を残存させて環状の補強部が形成されたウエーハを個々のデバイスに分割する際には、ウエーハの裏面をダイシングテープに貼着して分割予定ラインに沿って切断するが、環状の補強部は不要となるためダイシングテープから環状の補強部を除去してデバイス領域のみをダイシングテープに残す工程が必要となる。このため、ダイシングテープに貼着されたウエーハを、デバイス領域と外周余剰領域との境界部に沿って切断することによりデバイス領域と外周余剰領域とを分離する外周余剰領域分離工程を実施する(例えば、特許文献2参照)。
特開2007−19379号公報 特開2007−59829号公報
上記外周余剰領域分離工程は、ダイシングテープを介してウエーハを保持し回転可能に構成されたチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持されたウエーハを切削する環状の切れ刃を備え回転可能に構成された切削ブレードを備えた切削手段とを具備し、チャックテーブルが通気性を有する保持プレートと該保持プレートを収容し上記環状の補強部の内径より僅かに小さい外径を有し通電性を有する枠体とによって構成されている切削装置を用いて実施する。
このような切削装置を用いて上記外周余剰領域分離工程を実施する際には、切削ブレードを回転しつつ環状の切れ刃をチャックテーブルを構成する枠体の上面に接触させ通電させた時点における切削ブレードの高さ位置を基準位置と定め、切削ブレードの切り込み送り量を決定している。
しかるに、上述した基準位置を検出する都度、回転する切削ブレードの環状の切れ刃をチャックテーブルを構成する枠体の上面に接触させるため、枠体の上面に傷が付き、デバイス領域と外周余剰領域との境界部に沿って切削する際に、枠体の上面に形成された傷によってデバイス領域と外周余剰領域との境界部が浮き上がり、境界部を適正に切削できないという問題がある。
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、ウエーハを構成するデバイス領域と外周余剰領域との境界部を適正に切削することができる切削装置を提供することである。
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、表面に格子状に形成された複数の分割予定ラインによって複数の領域が区画されるとともに該区画された領域にデバイスが形成されたデバイス領域と該デバイス領域を囲繞する外周余剰領域とを備え、該デバイス領域に対応する裏面に凹部加工が施され該外周余剰領域に対応する裏面に環状の補強部が形成されたウエーハを加工する切削装置であって、
表面にウエーハの裏面を貼着し外周部が環状のフレームに装着されたダイシングテープを介してウエーハを吸引保持し回転可能に構成されたチャックテーブルと、
該チャックテーブルに該ダイシングテープを介して保持されたウエーハの該デバイス領域と該外周余剰領域との境界部を切削する環状の切れ刃を備え回転可能に構成された切削ブレードを備えた切削手段と、を具備し、
該チャックテーブルは、通気性を有し中央部に開口部を備えた保持プレートと、該保持プレートを収容し該環状の補強部の内径より僅かに小さい外径を有するとともに該保持プレートの該開口部に嵌合する検出部を備えた通電性を有する枠体とからなっており、
該チャックテーブルの該検出部の上面に該切削ブレードの該環状の切れ刃が接触した状態における該切削ブレードの基準高さ位置を検出する基準高さ位置検出手段と、を具備している、
ことを特徴とする切削装置が提供される。
本発明によるデバイス領域に対応する裏面に凹部加工が施され外周余剰領域に対応する裏面に環状の補強部が形成されたウエーハを加工する切削装置は、表面にウエーハの裏面を貼着し外周部が環状のフレームに装着されたダイシングテープを介してウエーハを吸引保持し回転可能に構成されたチャックテーブルと、該チャックテーブルにダイシングテープを介して保持されたウエーハのデバイス領域と外周余剰領域との境界部を切削する環状の切れ刃を備え回転可能に構成された切削ブレードを備えた切削手段とを具備し、チャックテーブルは、通気性を有し中央部に開口部を備えた保持プレートと、該保持プレートを収容し環状の補強部の内径より僅かに小さい外径を有するとともに保持プレートの開口部に嵌合する検出部を備えた通電性を有する枠体とからなっており、チャックテーブルの検出部の上面に切削ブレードの環状の切れ刃が接触した状態における切削ブレードの基準高さ位置を検出する基準高さ位置検出手段とを具備しているので、基準高さ位置検出手段によって切削ブレードの基準高さ位置を確実に検出することができる。
この切削ブレードの基準高さ位置の検出においては、切削ブレードの環状の切れ刃がチャックテーブルを構成する枠体の検出部の上面に接触するが、枠体の外周部上面には環状の切れ刃が接触しない。従って、外周余剰領域を分離する際には、ウエーハのデバイス領域と外周余剰領域との境界部が位置付けられているチャックテーブルを構成する枠体の外周部上面には傷が形成されていないので、デバイス領域と外周余剰領域との境界部が浮き上がることがないため、該境界部において適正に切断される。
なお、切削ブレードの基準高さ位置を検出する際に、切削ブレードの環状の切れ刃がチャックテーブルを構成する枠体の検出部の上面に接触して該検出部の上面には傷が形成されるが、外周余剰領域を分離する際には検出部の上面に位置付けられたデバイス領域を切削しないので支障はない。
被加工物であるウエーハとしての半導体ウエーハの斜視図。 図1に示す半導体ウエーハの表面に保護部材を貼着した状態を示す斜視図。 本発明によるウエーハの加工方法における裏面研削工程を実施するための研削装置の斜視図。 本発明によるウエーハの加工方法における裏面研削工程の説明図。 図4に示す裏面研削工程を実施することによって形成された半導体ウエーハの断面図。 本発明によるウエーハの加工方法におけるウエーハ支持工程の説明図。 本発明によるウエーハの加工方法における外周余剰領域分離工程を実施するための切削装置の斜視図。 図7に示す切削装置に装備されるチャックテーブルの断面図。 図7に示す切削装置に装備される基準位置検出回路図。 図7に示す切削装置に装備される制御手段のブロック構成図。 図7に示す切削装置によって実施する基準高さ位置検出工程の説明図。 図7に示す切削装置によって実施する外周余剰領域分離工程の説明図。
以下、本発明に従って構成された切削装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1には、本発明に従って構成された切削装置によって加工されるウエーハとしての半導体ウエーハの斜視図が示されている。図1に示す半導体ウエーハ10は、例えば厚さが700μmのシリコンウエーハからなっており、表面10aに複数の分割予定ライン101が格子状に形成されているとともに、該複数の分割予定ライン101によって区画された複数の領域にIC、LSI等のデバイス102が形成されている。このように構成された半導体ウエーハ10は、デバイス102が形成されているデバイス領域103と、該デバイス領域103を囲繞する外周余剰領域104を備えている。
次に、上記半導体ウエーハ10のデバイス領域103に対応する裏面に凹部加工を施し外周余剰領域104に対応する裏面に環状の補強部を形成する加工方法の一実施形態について、図2乃至図3を参照して説明する。
先ず、上記のように構成された半導体ウエーハ10の表面10aには、図2に示すように保護部材11を貼着する(保護部材貼着工程)。従って、半導体ウエーハ10の裏面10bが露出する形態となる。
上述した保護部材貼着工程を実施したならば、半導体ウエーハ10のデバイス領域103に対応する裏面に凹部加工を施して該外周余剰領域104に対応する裏面に環状の補強部を形成する裏面研削工程を実施する。この裏面研削工程は、図3に示す研削装置によって実施する。図3に示す研削装置12は、被加工物としてのウエーハを保持するチャックテーブル121と、該チャックテーブル121に保持されたウエーハの加工面を研削する研削手段122を具備している。チャックテーブル121は、上面にウエーハを吸引保持し図3において矢印121aで示す方向に回転せしめられる。研削手段122は、スピンドルハウジング123と、該スピンドルハウジング123に回転自在に支持され図示しない回転駆動機構によって回転せしめられる回転スピンドル124と、該回転スピンドル124の下端に装着されたマウンター125と、該マウンター125の下面に取り付けられた研削ホイール126とを具備している。この研削ホイール126は、円板状の基台127と、該基台127の下面に環状に装着された研削砥石128とからなっており、基台127がマウンター125の下面に取り付けられている。
上述した研削装置12を用いて裏面研削工程を実施するには、チャックテーブル121の上面(保持面)に図示しないウエーハ搬入手段によって搬送された上記半導体ウエーハ10の保護部材11側を載置し、半導体ウエーハ10をチャックテーブル121上に吸引保持する。ここで、チャックテーブル121に保持された半導体ウエーハ10と研削ホイール126を構成する環状の研削砥石128の関係について、図4を参照して説明する。チャックテーブル121の回転中心P1と環状の研削砥石128の回転中心P2は偏芯しており、環状の研削砥石128の外径は、半導体ウエーハ10のデバイス領域103と外周余剰領域104との境界線105の直径より小さく境界線105の半径より大きい寸法に設定され、環状の研削砥石128がチャックテーブル121の回転中心P1(半導体ウエーハ10の中心)を通過するようになっている。
次に、図3および図4に示すようにチャックテーブル121を矢印121aで示す方向に300rpmで回転速度で回転しつつ、研削ホイール126を矢印126aで示す方向に6000rpmの回転速度で回転するとともに、研削ホイール126を下方に移動して研削砥石128を半導体ウエーハ10の裏面に接触させる。そして、研削ホイール126を所定の研削送り速度で下方に所定量研削送りする。この結果、半導体ウエーハ10の裏面には、図5に示すようにデバイス領域103に対応する領域が研削除去されて所定厚さ(例えば30μm)の円形状の凹部103bに形成されるとともに、外周余剰領域104に対応する領域が図示の実施形態においては厚さ670μm残存されて環状の補強部104bに形成される(裏面研削工程)。
次に、上述した裏面研削工程が実施された半導体ウエーハ10のデバイス領域103と外周余剰領域104との境界部に沿って半導体ウエーハ10を切断するためには、ダイシングテープの表面に半導体ウエーハ10の裏面を貼着しダイシングテープの外周部を環状のフレームによって支持するウエーハ支持工程を実施する。即ち、図6の(a)に示すように環状のフレーム13の内側開口部を覆うように外周部が装着されたポリオレフィン等の合成樹脂シートからなるダイシングテープ14の表面14aに半導体ウエーハ10の裏面10bを貼着する。従って、図6の(b)に示すようにダイシングテープ14の表面14aに貼着された半導体ウエーハ10は、表面10aが上側となる。そして、保護テープ11を剥離する。
上述したウエーハ支持工程を実施したならば、ダイシングテープ14に貼着された半導体ウエーハ10を、表面側からデバイス領域103と外周余剰領域104との境界部105に沿って切断することによりデバイス領域103と外周余剰領域104とを分離する外周余剰領域分離工程を実施する。この外周余剰領域分離工程は、図7に示す本発明に従って構成された加工装置2を用いて実施する。
図7には、本発明に従って構成された切削装置の斜視図が示されている。図7に示された切削装置2は、静止基台20と、該静止基台20に切削送り方向(X軸方向)である矢印Xで示す方向に移動可能に配設され被加工物を保持するチャックテーブル機構3と、静止基台20に切削送り方向(X軸方向)と直交する割り出し送り方向(Y軸方向)である矢印Yで示す方向に移動可能に配設されたスピンドルユニット支持機構6と、該スピンドルユニット支持機構6の後述するチャックテーブルの被加工物保持面に対して垂直な切り込み送り方向(Z軸方向)である矢印Zで示す方向に移動可能に配設された切削手段としてのスピンドルユニット7が配設されている。
上記チャックテーブル機構3は、被加工物を吸引保持するチャックテーブル4と、該チャックテーブル4を支持しX軸方向に移動せしめるチャックテーブル移動機構5とからなっている。チャックテーブル移動機構5は、静止基台2上にX軸方向に沿って平行に配設された一対の案内レール51、51と、該案内レール51、51上にX軸方向に移動可能に配設されたチャックテーブル支持基台52と、該チャックテーブル支持基台52を一対の案内レール51、51に沿って移動せしめる切削送り手段53を具備している。
上記チャックテーブル支持基台52は矩形状に形成され、その下面には上記一対の案内レール51、51と嵌合する被案内溝521、521が形成されている。この被案内溝521、521を一対の案内レール51、51に嵌合することにより、チャックテーブル支持基台52は一対の案内レール51、51に沿って移動可能に配設される。
上記切削送り手段53は、上記一対の案内レール51と51の間に平行に配設された雄ネジロッド531と、該雄ネジロッド531を回転駆動するためのパルスモータ532等の駆動源を含んでいる。雄ネジロッド531は、その一端が上記静止基台2に固定された軸受ブロック533に回転自在に支持されており、その他端が上記サーボモータ532の出力軸に連結されている。なお、雄ネジロッド531は、チャックテーブル支持基台52の中央部に形成された雌ネジ522に螺合されている。従って、パルスモータ532によって雄ネジロッド531を正転および逆転駆動することにより、チャックテーブル支持基台52は案内レール51、51に沿ってX軸方向に移動せしめられる。
次に、上記チャックテーブル4について、図7および図8を参照して説明する。
図7および図8に示すチャックテーブル4は、チャックテーブル支持基台52の上面に配設された円筒状の支持筒体55に図8に示すように軸受56を介して回転可能に支持されている。チャックテーブル4は、保持プレート41と、該保持プレート41を収容する枠体42と、該枠体42を支持する支持部43とからなっている。保持プレート41は、通気性を有するポーラスなセラミックス等の多孔性部材によって円形状に形成され、中央部に円形の開口部411が設けられている。このように形成された保持プレート41を収容する枠体42は、通電性を有するステンレス鋼等の金属材によって形成されており、上記半導体ウエーハ10の裏面に形成された環状の補強部104bの内径より僅かに小さい外径を有している。このように形成された枠体42は、上面に上記保持プレート41が嵌合する環状の嵌合凹部421が設けられているとともに、中央部に上記保持プレート41に形成された開口部411に嵌合する円形状の検出部422が設けられている。枠体42の上面に形成された環状の嵌合凹部421には、底面の内周部および外周部に保持プレート41が載置される環状の載置棚421aおよび421bが設けられている。このように形成された環状の嵌合凹部421に保持プレート41が嵌合し環状の載置棚421aおよび421bに載置するとともに、保持プレート41に形成された開口部411に円形状の検出部422が嵌合すると、図8に示すように枠体42の検出部422および外周部の上面と保持プレート41の上面が同一平面をなすように構成されている。
図8を参照して説明を続けると、チャックテーブル4を構成する枠体42には環状の嵌合凹部421に開口する吸引通路423が設けられており、この吸引通路423は支持部43に設けられた連通路431を介して図示しない吸引手段に連通されている。従って、図示しない吸引手段が作動すると、連通路431および吸引通路423を通して嵌合凹部421に負圧が作用せしめられる。このように構成されたチャックテーブル4は、支持部43が軸受56を介して支持筒体55に回転可能に支持され、図示しない回転駆動手段によって適宜回動せしめられるように構成されている。
上記チャックテーブル4を構成する枠体42と支持部43との間には、環状の溝44が形成されている。この環状の溝44内には4個(図7参照)のクランプ45の基部が配設され、このクランプ45の基部が支持部43に適宜の固定手段によって取付けられている。また、支持筒体55の上端には、カバー57が配設されている。
図7を参照して説明を続けると、上記スピンドルユニット支持機構6は、静止基台20上に矢印Yで示す割り出し送り方向に沿って平行に配設された一対の案内レール61、61と、該案内レール61、61上に矢印Yで示す方向に移動可能に配設された可動支持基台62を具備している。この可動支持基台62は、案内レール61、61上に移動可能に配設された移動支持部621と、該移動支持部621に取り付けられた装着部622とからなっている。移動支持部621の下面には案内レール61、61と嵌合する一対の被案内溝621a、621aが形成されており、この被案内溝621a、621aを案内レール61、61に嵌合することにより、可動支持基台62は案内レール61、61に沿って移動可能に構成される。また、装着部622は、一側面に矢印Zで示す方向に延びる一対の案内レール622a、622aが平行に設けられている。
図示の実施形態におけるスピンドルユニット支持機構6は、可動支持基台62を一対の案内レール61、61に沿って矢印Yで示す割り出し送り方向に移動させるための割り出し送り手段63を具備している。割り出し送り手段63は、上記一対の案内レール61、61の間に平行に配設された雄ネジロッド631と、該雄ねじロッド631を回転駆動するためのパルスモータ632等の駆動源を含んでいる。雄ネジロッド631は、その一端が上記静止基台20に固定された図示しない軸受ブロックに回転自在に支持されており、その他端が上記パルスモータ632の出力軸に連結されている。なお、雄ネジロッド631は、可動支持基台62を構成する移動支持部621の中央部下面に突出して設けられた図示しない雌ネジブロックに形成された雌ネジ穴に螺合されている。このため、パルスモータ632によって雄ネジロッド631を正転および逆転駆動することにより、可動支持基台62は案内レール61、61に沿って矢印Yで示す割り出し送り方向に移動せしめられる。
図示の実施形態のおけるスピンドルユニット7は、ユニットホルダ71と、該ユニットホルダ71に取り付けられたスピンドルハウジング72と、該スピンドルハウジング72に回転可能に支持された回転スピンドル73を具備している。ユニットホルダ71は、上記装着部622に設けられた一対の案内レール622a、622aに摺動可能に嵌合する一対の被案内溝71a、71aが設けられており、この被案内溝71a、71aを上記案内レール622a、622aに嵌合することにより、矢印Zで示す切り込み送り方向に移動可能に支持される。上記回転スピンドル73はスピンドルハウジング72の先端から突出して配設されており、この回転スピンドル73の先端部に切削ブレード74が装着されている。切削ブレード74が装着された回転スピンドル73は、サーボモータ75等の駆動源によって回転駆動せしめられる。なお、切削ブレード74の両側には、切削ブレード74による切削部に切削水を供給する切削水供給ノズル76が配設されている。
上記回転スピンドル73の先端部に装着された切削ブレード74は、図9に示すようにアルミニウムによって形成されたブレード基台741と、該ブレード基台741の側面に形成された環状の切れ刃742とからなっている。このように構成された切削ブレード74は、回転スピンドル73に装着されたマウンター731にナット732によって取り付けられる。なお、切削ブレード74を構成する環状の切れ刃742は、ブレード基台741の側面に砥粒をニッケル等の金属メッキで結合した電鋳ブレードからなっている。
図9を参照して説明を続けると、切削ブレード74の円環状の切れ刃742がチャックテーブル4を構成する検出部422の上面に接触したことを検出する基準位置検出回路740を具備している。基準位置検出回路740は直流電源740aを具備しており、直流電源740aの陽極(+)が電源スイッチ740bおよび配線740cを介して上記チャックテーブル4に接続されている。また、直流電源740aの陰極(−)が配線740dを介して切削ブレード74を装着した回転スピンドル73に接続されている。また、上記配線740dには電流計740eが配設されており、該電流計740eは後述する制御手段に電流信号を送る。
図7を参照して説明を続けると、上記スピンドルハウジング72の先端部には、上記チャックテーブル4上に保持された被加工物を撮像し、上記切削ブレード74によって切削すべき領域を検出するための撮像手段77を具備している。この撮像手段77は、顕微鏡やCCDカメラ等の光学手段からなっており、撮像した画像信号を後述する制御手段に送る。
図示の実施形態におけるスピンドルユニット7は、ホルダ71を一対の案内レール622a、622aに沿ってZ軸方向に移動させるための切込み送り手段78を具備している。切込み送り手段78は、上記切削送り手段53および割り出し送り手段63と同様に案内レール622a、622a の間に配設された雄ネジロッド(図示せず)と、該雄ネジロッドを回転駆動するためのパルスモータ782等の駆動源を含んでおり、パルスモータ782によって図示しない雄ネジロッドを正転および逆転駆動することにより、ユニットホルダ71とスピンドルハウジング72および回転スピンドル73を案内レール622a、622a に沿ってZ軸方向に移動せしめる。
図示の実施形態におけるスピンドルユニット7は、切削ブレード74の切り込み送り位置(Z軸方向位置)を検出するためのZ軸方向位置検出手段59を具備している。Z軸方向位置検出手段59は、上記案内レール622a、622aと平行に配設されたリニアスケール79aと、上記ユニットホルダ71に取り付けられユニットホルダ71とともにリニアスケール79aに沿って移動する読み取りヘッド79bとからなっている。このZ軸方向位置検出手段79の読み取りヘッド79bは、図示の実施形態においては0.1μm毎に1パルスのパルス信号を後述する制御手段に送る。
図示の実施形態における切削装置は、図10に示す制御手段8を具備している。制御手段8はコンピュータによって構成されており、制御プログラムに従って演算処理する中央処理装置(CPU)81と、制御プログラム等を格納するリードオンリメモリ(ROM)82と、演算結果等を格納する読み書き可能なランダムアクセスメモリ(RAM)83と、入力インターフェース84および出力インターフェース85とを備えている。制御手段8の入力インターフェース84には、上記Z軸方向位置検出手段59、基準位置検出回路740の電流計740e、撮像手段77等からの検出信号が入力される。そして、制御手段7の出力インターフェース85からは、上記切削送り手段53のパルスモータ532、割り出し送り手段63のパルスモータ632、切込み送り手段78のパルスモータ782等に制御信号を出力する。
図示の実施形態における切削装置2は以上のように構成されており、以下切削装置2を用いて実施する上記外周余剰領域分離工程について説明する。
上記外周余剰領域分離工程を実施するに際し、切削ブレード74の基準高さ位置を検出する基準位置検出工程を実施する。即ち、制御手段8は切削送り手段53および割り出し送り手段63を作動して、図11に示すようにチャックテーブル4を構成する枠体42の検出部422を切削ブレード74の直下に位置付ける。そして、基準位置検出回路740の電源スイッチ740bを閉路(ON)する。次に、制御手段8は切削手段としてのスピンドルユニット7のサーボモータ75を駆動して回転スピンドル73に装着された切削ブレード74を74aで示す方向に回転する。このようにして制御手段8は、切削ブレード74を回転しつつ切込み送り手段78のパルスモータ782を作動してスピンドルユニット7を図9に示す待機位置から下降させ、切削ブレード74の環状の切れ刃742が図11に示すようにチャックテーブル4を構成する枠体42の検出部422の上面に接触するまでスピンドルユニット7を下降せしめる。そして、環状の切れ刃742が検出部422の上面に接触すると、基準位置検出回路740の直流電源740aから電源スイッチ740b、配線740c、チャックテーブル4、環状の切れ刃742を含む切削ブレード74、回転スピンドル73、配線740dを通して電流が流れ、配線740dに配設された電流計740eが所定の電流値を制御手段8に送る。制御手段8は、電流計740eからの電流信号に基づいて切削ブレード74の環状の切れ刃742がチャックテーブル4を構成する枠体42の検出部422の上面に接触したと判断して、そのときZ軸方向位置検出手段59から入力した切削ブレード74の切り込み送り位置(Z軸方向位置)を基準位置としてランダムアクセスメモリ(RAM)83に格納する。以上のように検出部422の上面に切削ブレード74の環状の切れ刃74が接触したことを検出する基準位置検出回路740および切削ブレード74の切り込み送り位置(Z軸方向位置)を検出するZ軸方向位置検出手段59は、チャックテーブル4を構成する枠体42の検出部422の上面に切削ブレード74の環状の切れ刃742が接触した状態における切削ブレード74の基準高さ位置を検出する基準高さ位置検出手段として機能する。
このようにして、基準位置検出工程を実施したならば、制御手段8は切込み送り手段78のパルスモータ782を作動してスピンドルユニット7を上昇し、上記図9に示す待機位置に位置付ける。
上述した基準位置検出工程を実施したならば、制御手段8は切削送り手段53および割り出し送り手段63を作動して、チャックテーブル4を図7に示す被加工物着脱位置に位置付ける。次に、図12の(a)に示すようにチャックテーブル4上に半導体ウエーハ10の裏面10bが貼着されたダイシングテープ14側を載置する。このとき、チャックテーブル4を構成する枠体42は半導体ウエーハ10の裏面に形成された環状の補強部104bの内径より僅かに小さい外径を有しているので、半導体ウエーハ10の裏面に形成された円形状の凹部103bがチャックテーブル4を構成する枠体42の上部に嵌合され、デバイス領域103と外周余剰領域104との境界部がチャックテーブル4を構成する枠体42の外周部上面に位置付けられた状態となる。そして、図示しない吸引手段を作動することにより、連通路431および吸引通路423を通して嵌合凹部421に負圧が作用せしめられる。この結果、嵌合凹部421に嵌合された通気性を有する保持プレート41の上面に負圧が作用し、チャックテーブル4上にダイシングテープ14を介して半導体ウエーハ10が吸引保持される。従って、チャックテーブル4上に吸引保持された半導体ウエーハ10は、表面10aが上側となる。そして、ダイシングテープ14が装着された環状のフレーム13をクランプ45によって固定する。
次に、切削送り手段53および割り出し送り手段63を作動して、チャックテーブル4を撮像手段77の直下に位置付ける。そして、撮像手段77および制御手段8によって半導体ウエーハ10の切削すべき領域を検出するアライメント工程を実行する。即ち、撮像手段77および制御手段8は、半導体ウエーハ10のデバイス領域103と外周余剰領域104との境界部と切削ブレード74との位置合わせを行うためのアライメント作業を遂行する。
上述したアライメント作業を実施したならば、図12(a)に示すようにチャックテーブル4に保持された半導体ウエーハ10のデバイス領域103と外周余剰領域104との境界部を切削ブレード74の直下に位置付ける。そして、チャックテーブル4を矢印4aで示す方向に回転するとともに、切削ブレード74を矢印74aで示す方向に回転しつつ矢印Z1で示す方向に切り込み送りする。この切り込み送り位置は、切削ブレード74を構成する環状の切れ刃742の下縁がダイシングテープ14に達する位置に設定されている。このとき、切削ブレード74の切り込み送り位置は、上記基準位置検出工程において検出された基準位置に基づいて決定される。この結果、図12(b)に示すように半導体ウエーハ10は、デバイス領域103と外周余剰領域104との境界部で切断され、外周余剰領域104が除去される。この外周余剰領域分離工程においては、半導体ウエーハ10のデバイス領域103と外周余剰領域104との境界部が位置付けられているチャックテーブル4を構成する枠体42の外周部上面には傷が形成されていないので、デバイス領域104と外周余剰領域104との境界部が浮き上がることがないため、該境界部において適正に切断される。なお、上記基準位置検出工程を実施することにより、切削ブレード74の環状の切れ刃742が接触するチャックテーブル4を構成する枠体42の検出部422の上面には傷が形成されるが、外周余剰領域分離工程においては検出部422の上面に位置付けられたデバイス領域103を切削しないので支障はない。
2:切削装置
3:チャックテーブル機構
4:チャックテーブル
41:保持プレート
42:枠体
421嵌合凹部
422:検出部
5:チャックテーブル移動機構
53:切削送り手段
6:スピンドルユニット支持機構
63:割り出し送り手段
7:スピンドルユニット
73:回転スピンドル
74:切削ブレード
742:環状の切れ刃
740:基準位置検出回路
78:切込み送り手段
79:Z軸方向位置検出手段
8:制御手段8
10:半導体ウエーハ
101:分割予定ライン
102:デバイス
103:デバイス領域
104:外周余剰領域
11:保護部材
12:研削装置
121:研削装置のチャックテーブル
122:研削手段
13:環状のフレーム
14:ダイシングテープ

Claims (1)

  1. 表面に格子状に形成された複数の分割予定ラインによって複数の領域が区画されるとともに該区画された領域にデバイスが形成されたデバイス領域と該デバイス領域を囲繞する外周余剰領域とを備え、該デバイス領域に対応する裏面に凹部加工が施され該外周余剰領域に対応する裏面に環状の補強部が形成されたウエーハを加工する切削装置であって、
    表面にウエーハの裏面を貼着し外周部が環状のフレームに装着されたダイシングテープを介してウエーハを吸引保持し回転可能に構成されたチャックテーブルと、
    該チャックテーブルに該ダイシングテープを介して保持されたウエーハの該デバイス領域と該外周余剰領域との境界部を切削する環状の切れ刃を備え回転可能に構成された切削ブレードを備えた切削手段と、を具備し、
    該チャックテーブルは、通気性を有し中央部に開口部を備えた保持プレートと、該保持プレートを収容し該環状の補強部の内径より僅かに小さい外径を有するとともに該保持プレートの該開口部に嵌合する検出部を備えた通電性を有する枠体とからなっており、
    該チャックテーブルの該検出部の上面に該切削ブレードの該環状の切れ刃が接触した状態における該切削ブレードの基準高さ位置を検出する基準高さ位置検出手段と、を具備している、
    ことを特徴とする切削装置。
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