JP6401747B2 - 半導体スイッチ制御装置 - Google Patents

半導体スイッチ制御装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6401747B2
JP6401747B2 JP2016131731A JP2016131731A JP6401747B2 JP 6401747 B2 JP6401747 B2 JP 6401747B2 JP 2016131731 A JP2016131731 A JP 2016131731A JP 2016131731 A JP2016131731 A JP 2016131731A JP 6401747 B2 JP6401747 B2 JP 6401747B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fet
semiconductor switch
body diode
current
switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016131731A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018007030A (ja
Inventor
充晃 森本
充晃 森本
英一郎 大石
英一郎 大石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yazaki Corp
Original Assignee
Yazaki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yazaki Corp filed Critical Yazaki Corp
Priority to JP2016131731A priority Critical patent/JP6401747B2/ja
Priority to US15/621,746 priority patent/US10296024B2/en
Priority to DE102017210457.0A priority patent/DE102017210457A1/de
Priority to CN201710516844.5A priority patent/CN107565518B/zh
Publication of JP2018007030A publication Critical patent/JP2018007030A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6401747B2 publication Critical patent/JP6401747B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/12Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is ac
    • G05F1/40Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is ac using discharge tubes or semiconductor devices as final control devices
    • G05F1/44Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is ac using discharge tubes or semiconductor devices as final control devices semiconductor devices only
    • G05F1/45Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is ac using discharge tubes or semiconductor devices as final control devices semiconductor devices only being controlled rectifiers in series with the load
    • G05F1/455Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is ac using discharge tubes or semiconductor devices as final control devices semiconductor devices only being controlled rectifiers in series with the load with phase control
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05DSYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
    • G05D23/00Control of temperature
    • G05D23/19Control of temperature characterised by the use of electric means
    • G05D23/20Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing elements having variation of electric or magnetic properties with change of temperature
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66992Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable only by the variation of applied heat
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/70Bipolar devices
    • H01L29/74Thyristor-type devices, e.g. having four-zone regenerative action
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02JCIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
    • H02J7/00Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries
    • H02J7/0029Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries with safety or protection devices or circuits
    • H02J7/0031Circuit arrangements for charging or depolarising batteries or for supplying loads from batteries with safety or protection devices or circuits using battery or load disconnect circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/08Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
    • H03K17/082Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit
    • H03K17/0822Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/72Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices having more than two PN junctions; having more than three electrodes; having more than one electrode connected to the same conductivity region
    • H03K17/722Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices having more than two PN junctions; having more than three electrodes; having more than one electrode connected to the same conductivity region with galvanic isolation between the control circuit and the output circuit
    • H03K17/723Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices having more than two PN junctions; having more than three electrodes; having more than one electrode connected to the same conductivity region with galvanic isolation between the control circuit and the output circuit using transformer coupling
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02JCIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
    • H02J1/00Circuit arrangements for dc mains or dc distribution networks
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/08Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
    • H03K2017/0806Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage against excessive temperature
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K2217/00Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
    • H03K2217/0054Gating switches, e.g. pass gates

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Description

本発明は、半導体スイッチ制御装置に関する。
従来、電気自動車やハイブリッド電気自動車等は、駆動モータ等の高電圧負荷と、当該高電圧負荷を駆動するための高電圧バッテリとが搭載され、保安を目的として高電圧バッテリから高電圧負荷に流れる電流を通電又は遮断するスイッチが設けられている。このスイッチは主に機械式リレーが用いられるが、近年、半導体スイッチを用いることも考えられている(例えば、特許文献1)。
特開2012−235629号公報
ところで、半導体スイッチは、通電により発熱して温度が上昇するので、半導体スイッチの温度状態を判定して温度上昇を抑制する必要がある。しかしながら、半導体スイッチの温度状態を判定する点でさらなる改善の余地がある。
そこで、本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、半導体スイッチの温度状態を正確に判定することができる半導体スイッチ制御装置を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る半導体スイッチ制御装置は、電源と負荷との間に設置され、前記電源と前記負荷との間に流れる電流を通電又は遮断する半導体スイッチモジュールと、前記半導体スイッチモジュールを制御し一定のプリチャージ電流を流して突入電流を防ぐプリチャージ回路と、前記半導体スイッチモジュールを制御する制御部と、を備え、前記半導体スイッチモジュールは、前記電流が流れる方向である順方向にボディダイオードが配置される順方向スイッチと、前記順方向スイッチと隣接して配置され、前記電流が流れる方向とは逆方向にボディダイオードが配置される逆方向スイッチと、を有し、前記順方向スイッチと前記逆方向スイッチとは、ソース端子同士が直列に接続され、一方のドレイン端子が前記電源に接続され、他方のドレイン端子が前記負荷に接続されるか、又は、ドレイン端子同士が直列に接続され、一方のソース端子が前記電源に接続され、他方のソース端子が前記負荷に接続され、前記プリチャージ回路は、前記半導体スイッチモジュールの異常を診断する診断期間後の電圧よりも小さいプリチャージ電圧を前記逆方向スイッチに印加して前記一定のプリチャージ電流を流し、前記制御部は、前記プリチャージ回路によりプリチャージ制御が行われている場合、前記順方向スイッチの前記ボディダイオードの順方向電圧と、前記順方向スイッチの前記ボディダイオードの温度を判定するための閾値とから前記半導体スイッチモジュールの過熱を判定することを特徴とする。
また、上記半導体スイッチ制御装置において、前記制御部は、前記半導体スイッチモジュールの温度状態を判定する前に、前記順方向スイッチの前記ボディダイオードの順方向電圧が当該順方向電圧の基準となる基準電圧の範囲外である場合、前記順方向スイッチが故障であると判定し、前記逆方向スイッチをオフして前記電流を遮断することが好ましい。
本発明に係る半導体スイッチ制御装置は、順方向スイッチのボディダイオードの順方向電圧に基づいて半導体スイッチモジュールの温度状態を判定することにより、半導体スイッチモジュールの温度状態を正確に判定することができる。
図1は、実施形態1に係る半導体スイッチ制御装置の構成例を示すブロック図である。 図2は、実施形態1に係るFETの制御例を示す図である。 図3は、実施形態1に係る順方向特性マップを示す図である。 図4は、実施形態1に係る半導体スイッチ制御装置の動作例を示すタイミングチャートである。 図5は、実施形態1に係る半導体スイッチ制御装置の動作例を示すフローチャートである。 図6は、実施形態2に係る半導体スイッチ制御装置の要部の構成例を示すブロック図である。 図7は、実施形態2に係る半導体スイッチ制御装置の動作例を示すタイミングチャートである。
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。
〔実施形態1〕
電気自動車やハイブリッド電気自動車等の車両電源システム100は、図1に示すように、直流を交流に変換し電力を駆動モータに供給するインバータ21等の高電圧負荷2と、当該高電圧負荷2を駆動するための電源である高電圧バッテリ3とが搭載され、保安を目的として高電圧バッテリ3と高電圧負荷2との間に流れる電流を通電又は遮断する半導体スイッチ制御装置1(1A、1B)が設けられている。
実施形態1に係る半導体スイッチ制御装置1Aは、高電圧バッテリ3のプラス電極側に設置され、半導体スイッチモジュールとしてのプラス側メインリレー10Aを切り替えて、高電圧バッテリ3から高電圧負荷2に流れる電流を通電又は遮断する。半導体スイッチ制御装置1Bは、高電圧バッテリ3のマイナス電極側に設置され、半導体スイッチモジュールとしてのマイナス側メインリレー10Bを切り替えて、高電圧負荷2から高電圧バッテリ3に流れる電流を通電又は遮断する。半導体スイッチ制御装置1Aは、半導体スイッチ制御装置1Bと同様な構成を有すると共に同様に制御するので、詳細な説明は省略する。以下、半導体スイッチ制御装置1Bについて説明する。半導体スイッチ制御装置1Bは、マイナス側メインリレー10Bと、差動増幅回路20と、駆動回路部30と、電流検出部40と、制御部50とを備える。
マイナス側メインリレー10Bは、高電圧バッテリ3のマイナス電極側と高電圧負荷2との間に設置され、高電圧負荷2から高電圧バッテリ3のマイナス電極側に流れる電流を通電又は遮断する。なお、マイナス側メインリレー10Bの上流側には、プラス側メインリレー10Aが設けられている。プラス側メインリレー10Aは、高電圧バッテリ3のプラス電極側と高電圧負荷2との間に設置され、高電圧バッテリ3のプラス電極側から高電圧負荷2に流れる電流を通電又は遮断する。
マイナス側メインリレー10Bは、FET(Field-effect transistor;電界効果トランジスタ)11と、FET12とを備える。FET11、12は、例えば、Nチャネル型のMOS(Metal-Oxide-Semiconductor)FETである。FET11は、高電圧負荷2から高電圧バッテリ3のマイナス電極側に流れる電流I(以下、断りのない限り同じ。順方向電流I、Ia、Ibともいう。)が流れる方向とは逆方向にボディダイオード(寄生ダイオード)D1が配置される逆方向スイッチである。ボディダイオードD1は、アノード端子が高電圧バッテリ3のマイナス電極側に接続され、カソード端子が高電圧負荷2側に接続される。FET11は、後述する駆動回路部30により駆動され、高電圧負荷2から高電圧バッテリ3のマイナス電極側に流れる電流Iを通電又は遮断する。FET12は、FET11と同様のFETであり、電流Iが流れる方向である順方向にボディダイオードD2が配置される順方向スイッチである。ボディダイオードD2は、カソード端子が高電圧バッテリ3のマイナス電極側に接続され、アノード端子が高電圧負荷2側に接続される。FET12は、駆動回路部30により駆動され、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaに基づいてボディダイオードD2の接合箇所の温度であるジャンクション温度(以下、温度ともいう。)が計測される。ここで、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaは、順方向電流Iを流したときのボディダイオードD2の電圧降下(電位差)を示すものである。FET11とFET12とは、隣接して配置されており、ソース端子同士が直列に接続され、FET12のドレイン端子が高電圧バッテリ3に接続され、FET11のドレイン端子が高電圧負荷2に接続される。FET11とFET12とは、例えば、接近した状態で並べて配置され、ベアチップ実装されたり、樹脂により封止されて実装されたりすることによってモジュール化された状態で基板に搭載される。
差動増幅回路20は、FET12のボディダイオードD2の順方向電圧Vfaを出力するものである。差動増幅回路20は、ボディダイオードD2のアノード端子及びカソード端子に接続され、アノード端子側とカソード端子側との電位差を増幅し順方向電圧Vfaとして制御部50に出力する。
駆動回路部30は、FET11を駆動する駆動回路31と、FET12を駆動する駆動回路32と、FET11をプリチャージ制御するプリチャージ回路33とを備える。駆動回路31は、FET11のゲート端子に接続され、FET11のスイッチをONする制御として、FET11のゲート端子にON電圧を印加してドレイン端子からソース端子に電流を流す。また、駆動回路31は、FET11のスイッチをOFFする制御として、FET11のゲート端子にOFF電圧を印加し、ドレイン端子からソース端子に流れる電流を遮断する。駆動回路32は、FET12のゲート端子に接続され、FET12のスイッチをONする制御として、FET12のゲート端子にON電圧を印加してソース端子からドレイン端子に電流を流す。また、駆動回路32は、FET12のスイッチをOFFする制御として、FET12のゲート端子にOFF電圧を印加し、ソース端子からドレイン端子に流れる電流を遮断する。
プリチャージ回路33は、高電圧バッテリ3と高電圧負荷2とを有する高電圧回路を起動させるときに、高電圧バッテリ3から高電圧負荷2に流れる突入電流を防ぐものである。プリチャージ回路33は、FET11のゲート端子に接続され、FET11のゲート端子にプリチャージ電圧を印加し、一定のプリチャージ電流を流す。プリチャージ回路33は、例えば、高電圧負荷2のインバータ21のコンデンサCLをチャージする間だけプリチャージ電流を流す。
電流検出部40は、高電圧バッテリ3と高電圧負荷2との間に流れる順方向電流Iを検出するものである。電流検出部40は、例えば、マイナス側メインリレー10Bと高電圧負荷2との間に流れる順方向電流Iを検出し、検出した順方向電流Iの電流値を制御部50に出力する。
制御部50は、駆動回路部30を介してマイナス側メインリレー10Bを制御するものである。制御部50は、CPU、記憶部を構成するROM、RAM及びインターフェースを含む周知のマイクロコンピュータを主体とする電子回路を含んで構成される。制御部50は、マイナス側メインリレー10Bの異常を診断する異常診断モードを有している。制御部50は、異常診断モードを所定の周期で実行する。制御部50は、異常診断モードではない場合、図2に示すように、FET11をONに設定すると共にFET12をONに設定し、順方向電流IaをFET11、12のソース端子とドレイン端子との間を通過させ、高電圧負荷2から高電圧バッテリ3に順方向電流Iaを流す。制御部50は、異常診断モードである場合、FET11をONに設定すると共にFET12をOFFに設定し、順方向電流IbをFET11のソース端子とドレイン端子との間を通過させると共に、順方向電流IbをFET12のソース端子とドレイン端子との間を通過させずにFET12のボディダイオードD2を通過させ、高電圧負荷2から高電圧バッテリ3に順方向電流Ibを流す。このとき、制御部50は、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaと順方向電流Ibとに基づいて求められるボディダイオードD2の温度からFET11(マイナス側メインリレー10B)の温度状態を判定する。また、制御部50は、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaに基づいてFET12の故障を判定する。
具体的に、制御部50は、温度計算部51と、過熱検知部52と、FET故障検知部53とを備える。温度計算部51は、FET12のボディダイオードD2の温度を計算するものである。温度計算部51は、FET12の順方向電圧Vfaと順方向電流Ibとに基づいてボディダイオードD2の温度を計算する。例えば、温度計算部51は、図3に示すように、ボディダイオードD2の順方向特性を示す順方向特性マップ(Kファクタ)を記憶部に記憶している。順方向特性マップは、順方向電圧Vfaと順方向電流Ibと温度との関係を示すものである。順方向特性マップは、縦軸が順方向電流Ibを示し、横軸が順方向電圧Vfaを示し、順方向電流Ibと順方向電圧Vfaとから定まる範囲に温度が示されている。順方向特性マップは、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaと順方向電流IbとからボディダイオードD2の温度が定まる。例えば、順方向特性マップは、或る順方向電流Ibの電流値において、順方向電圧Vfaが低いほどボディダイオードD2の温度が高い傾向を示す。温度計算部51は、順方向特性マップを参照し、順方向電圧Vfaと順方向電流IbとからボディダイオードD2の温度を計算し、計算結果を過熱検知部52に出力する。なお、本実施形態1では、温度計算部51は、順方向特性マップを用いてボディダイオードD2の温度を計算したがこれに限定されない。
過熱検知部52は、FET12(マイナス側メインリレー10B)の温度状態を検知するものである。過熱検知部52は、ボディダイオードD2の温度とボディダイオードD2の温度閾値とを比較する。ここで、ボディダイオードD2の温度閾値は、FET12が過熱状態であるか否かを判定するための値であり、実験等に基づいて予め設定される。過熱検知部52は、ボディダイオードD2の温度が温度閾値を超えている場合、FET12が過熱状態と判定する。また、過熱検知部52は、ボディダイオードD2の温度が温度閾値以下である場合、FET12が適正温度状態と判定する。制御部50は、FET12が過熱状態である場合、当該FET12と隣接して配置されたFET11も過熱状態であると判定(推定)することができる。これは、FET11とFET12とは、同様のFETが用いられ、隣接した状態でモジュール化されているためである。制御部50は、FET11が過熱状態であると判定した場合、駆動回路31を制御してFET11をOFFに設定し、FET11のドレイン端子からソース端子に流れる電流を遮断する。一方、制御部50は、FET12が適正温度状態である場合、FET11も適正温度状態であると判定(推定)することができる。制御部50は、FET11が適正温度状態であると判定した場合、FET11のONを継続する。
FET故障検知部53は、マイナス側メインリレー10Bの故障を検知するものである。FET故障検知部53は、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaと当該順方向電圧Vfaの基準となる基準電圧Vfbとを比較し、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaが基準電圧Vfbの範囲外である場合、FET12が故障していると判定する。ここで、基準電圧Vfbは、正常なボディダイオードD2の順方向電圧Vfaが変化する範囲である。制御部50は、FET12が故障している場合、駆動回路31を制御してFET11をOFFに設定する。一方、FET故障検知部53は、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaが基準電圧Vfbの範囲内である場合、FET12が故障していないと判定する。制御部50は、FET12が故障していない場合、FET11の温度状態を判定する。
次に、図4、図5を参照して半導体スイッチ制御装置1Bの動作例について説明する。制御部50は、図4に示す時刻t1でプラス側メインリレー10AをONに設定する(ステップS1)。次に、制御部50は、時刻t2でマイナス側メインリレー10BのFET11及びFET12をONに設定する(ステップS2)。次に、制御部50は、異常診断モードの開始時刻t3でFET12をOFFに設定する(ステップS3)。次に、制御部50は、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaが基準電圧Vfbの範囲内であるか否かを判定する(ステップS4)。制御部50は、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaが基準電圧Vfbの範囲内である場合(ステップS4;Yes)、ボディダイオードD2のジャンクション温度を計算する(ステップS5)。例えば、制御部50は、順方向特性マップを参照し、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaと順方向電流IbとからボディダイオードD2の温度を計算する。次に、制御部50は、ボディダイオードD2のジャンクション温度が温度閾値を超えているか否かを判定する(ステップS6)。制御部50は、ボディダイオードD2のジャンクション温度が温度閾値を超えている場合(ステップS6;Yes)、FET11が過熱状態であると判定する(ステップS7)。つまり、制御部50は、ボディダイオードD2のジャンクション温度が温度閾値を超えている場合、FET12が過熱状態と判定し、FET12と隣接して配置されたFET11も過熱状態であると判定(推定)する。次に、制御部50は、FET11をOFFに設定し、高電圧負荷2から高電圧バッテリ3のマイナス電極側に流れる電流Iを遮断し(ステップS8)、処理を終了する。このとき、制御部50は、図示しない車両内警報灯等の報知手段により車両の運転者に報知する。
また、制御部50は、上述のステップS4で、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaが基準電圧Vfbの範囲外である場合(ステップS4;No)、FET12が故障していると判定し(ステップS9)、FET11をOFFに設定して高電圧負荷2から高電圧バッテリ3のマイナス電極側に流れる電流Iを遮断し(ステップS8)、処理を終了する。また、制御部50は、上述のステップS6で、ボディダイオードD2のジャンクション温度が温度閾値以下である場合(ステップS6;No)、FET11が適正温度状態であると判定し(ステップS10)、時刻t4でFET12をOFFからONに切り替え(ステップS11)、所定の周期で再度異常診断モードを実行する(ステップS3)。
以上のように、実施形態1に係る半導体スイッチ制御装置1(1A、1B)は、FET11とFET12とが隣接して配置されており、ソース端子同士が直列に接続され、FET12のドレイン端子が高電圧バッテリ3に接続され、FET11のドレイン端子が高電圧負荷2に接続される。そして、制御部50は、FET12のボディダイオードD2の順方向電圧Vfaに基づいてFET11(マイナス側メインリレー10B)の温度状態を判定する。
これにより、半導体スイッチ制御装置1は、従来のサーミスタ等により半導体スイッチの周囲の温度を計測する場合と比較して、ボディダイオードD2のジャンクション温度に基づいてFET11の温度状態を正確に判定することができる。従来は、サーミスタ等により半導体スイッチの周囲の温度を計測するので、半導体スイッチのパッケージの熱抵抗の値を元に熱設計を行っているが、この場合十分なマージンを取る必要があり、半導体スイッチの性能を十分に発揮する上で妨げになっていた。これに対して、半導体スイッチ制御装置1は、FET12のボディダイオードD2の温度に基づいてFET11のジャンクション温度を判定することができるので、FET11の熱設計においてマージンを大きく取る必要がなく、FET11の性能を十分に発揮することができる。また、FET11とFET12とは、隣接した状態で配置されるが、FET11とFET12との距離が近いほどFET11のジャンクション温度を精度よく判定することができる。
また、半導体スイッチ制御装置1は、FET12のボディダイオードD2の順方向電圧Vfaと、FET12に流れる順方向電流Ibとに基づいて求められるボディダイオードD2の温度からFET11の温度状態を判定する。これにより、半導体スイッチ制御装置1は、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaと順方向電流Ibとに基づいて計算されたボディダイオードD2のジャンクション温度に基づいてFET11の温度状態を判定することができる。
また、半導体スイッチ制御装置1は、FET12のボディダイオードD2の順方向電圧Vfaが当該順方向電圧Vfaの基準となる基準電圧Vfbの範囲外である場合、FET12が故障であると判定し、FET11をOFFに設定する。これにより、半導体スイッチ制御装置1は、FET12の故障によりボディダイオードD2の温度が計測不能な状態で、FET11の過熱状態を判定することを防止することができる。
なお、半導体スイッチ制御装置1は、順方向電圧Vfaに基づいてFET11の温度状態を判定したが、FET11を含むマイナス側メインリレー10Bとして温度状態を判定してもよい。
〔実施形態2〕
次に、実施形態2に係る半導体スイッチ制御装置1Cについて説明する。なお、実施形態2の半導体スイッチ制御装置1Cは、実施形態1の半導体スイッチ制御装置1と同様の構成には同一符号を付し、詳細な説明は省略する。半導体スイッチ制御装置1Cは、プリチャージ回路33によりプリチャージ制御が行われている場合に、順方向電流Ibを用いずにFET12のボディダイオードD2の順方向電圧VfaからボディダイオードD2の温度を判定する点で実施形態1と異なる。半導体スイッチ制御装置1Cは、温度計算部51及び過熱検知部52の代わりにコンパレータ54を備える。コンパレータ54は、図6に示すように、差動増幅回路20から出力されるボディダイオードD2の順方向電圧VfaとボディダイオードD2の温度を判定するための電圧閾値Vtとを比較し、比較結果を出力する比較器である。ここで、電圧閾値Vtは、例えば、プリチャージ電流の大きさに基づいて予め設定される。コンパレータ54は、ボディダイオードD2の順方向電圧VfaとボディダイオードD2の電圧閾値Vtとを比較し、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaが電圧閾値Vtより低い場合、ボディダイオードD2の温度が相対的に高いのでFET12が過熱状態であることを示す過熱遮断信号を制御部50に出力する。制御部50は、コンパレータ54から過熱遮断信号が出力されると、FET11が過熱状態であると判定し、FET11をOFFに設定する。一方、コンパレータ54は、ボディダイオードD2の順方向電圧Vfaが電圧閾値Vtより高い場合、ボディダイオードD2の温度が相対的に低いので過熱遮断信号を制御部50に出力しない。このように、実施形態2に係る半導体スイッチ制御装置1Cは、プリチャージ制御が行われている場合、順方向電流Ibを用いずにFET12のボディダイオードD2の順方向電圧VfaからボディダイオードD2の温度を判定する。なお、制御部50は、プリチャージ制御を行う場合、図7に示すように、FET12をOFFに設定した状態で、時刻t10でFET11にプリチャージ電圧を印加し、定電流である順方向電流Ibを流す。
以上のように、実施形態2に係る半導体スイッチ制御装置1Cは、プリチャージ回路33によりプリチャージ制御が行われている場合、FET12のボディダイオードD2の順方向電圧Vfaと、FET12のボディダイオードD2の温度を判定するための電圧閾値VtとからFET11(マイナス側メインリレー10B)の温度状態を判定する。これにより、半導体スイッチ制御装置1Cは、プリチャージ制御が行われる場合、順方向電流Ibを用いずにボディダイオードD2の順方向電圧Vfaに基づいてボディダイオードD2の温度を判定することができるので、順方向電流Ibと順方向電圧Vfaとを用いてボディダイオードD2の温度を算出する必要がない。これにより、半導体スイッチ制御装置1Cは、実施形態1に係る半導体スイッチ制御装置1(1A、1B)よりも演算量が少ないのでボディダイオードD2の温度を容易に判定することができる。なお、半導体スイッチ制御装置1Cは、順方向電圧Vfaと電圧閾値Vtとに基づいてFET11の温度状態を判定したが、FET11を含むマイナス側メインリレー10Bの温度状態として判定してもよい。
〔変形例〕
次に、変形例について説明する。半導体スイッチ制御装置1は、マイナス側メインリレー10Bの温度状態を判定する例について説明したが、プラス側メインリレー10Aの温度状態を判定する構成としてもよい。
また、FET11とFET12とは、ソース端子同士が直列に接続される例について説明したが、これに限定されない。例えば、FET11とFET12とは、ドレイン端子同士が直列に接続されてもよい。この場合、FET11とFET12とは、FET11のソース端子が高電圧バッテリ3に接続され、FET12のソース端子が高電圧負荷2に接続される。
また、高電圧バッテリ3を放電する例について説明したが、高電圧負荷2により高電圧バッテリ3を充電する場合にも本発明を適用することができる。高電圧バッテリ3を充電する場合は、順方向電流Ibの向きが高電圧バッテリ3を放電する場合と逆向きになる。この場合、順方向電流Ibは、高電圧バッテリ3のマイナス側から高電圧負荷2に向けて流れる。FET11は、高電圧バッテリ3を充電する場合、順方向電流Ibが流れる方向である順方向にボディダイオードD1が配置され、温度を検出するための順方向スイッチとして機能する。FET12は、高電圧バッテリ3を充電する場合、順方向電流Ibが流れる方向とは逆方向にボディダイオードD2が配置され、電流を通電又は遮断するための逆方向スイッチとして機能する。制御部50は、FET11のボディダイオードD1の順方向電圧Vfaを検出することでボディダイオードD1の温度を計測し、計測されたボディダイオードD1の温度に基づいてFET12の温度状態を判定する。
また、FET故障検知部53は、FET12の故障を判定するために用いるものであるので、FET11の温度状態を判定する上で必須の構成要素としなくてもよい。
また、半導体スイッチ制御装置1は、高電圧バッテリ3と高電圧負荷2とを有する高電圧回路以外に適用してもよい。例えば、半導体スイッチ制御装置1は、DC−DCコンバータ回路に適用し、DC−DCコンバータ回路のスイッチング素子の温度状態を判定してもよい。
1、1A、1B 半導体スイッチ制御装置
2 高電圧負荷(負荷)
3 高電圧バッテリ(電源)
10A プラス側メインリレー(半導体スイッチモジュール)
10B マイナス側メインリレー(半導体スイッチモジュール)
11 FET(逆方向スイッチ)
12 FET(順方向スイッチ)
33 プリチャージ回路
40 電流検出部
50 制御部
D1、D2 ボディダイオード
I、Ia、Ib 電流、順方向電流
Vt 電圧閾値(閾値)

Claims (2)

  1. 電源と負荷との間に設置され、前記電源と前記負荷との間に流れる電流を通電又は遮断する半導体スイッチモジュールと、
    前記半導体スイッチモジュールを制御し一定のプリチャージ電流を流して突入電流を防ぐプリチャージ回路と、
    前記半導体スイッチモジュールを制御する制御部と、を備え、
    前記半導体スイッチモジュールは、
    前記電流が流れる方向である順方向にボディダイオードが配置される順方向スイッチと、
    前記順方向スイッチと隣接して配置され、前記電流が流れる方向とは逆方向にボディダイオードが配置される逆方向スイッチと、を有し、
    前記順方向スイッチと前記逆方向スイッチとは、
    ソース端子同士が直列に接続され、一方のドレイン端子が前記電源に接続され、他方のドレイン端子が前記負荷に接続されるか、又は、
    ドレイン端子同士が直列に接続され、一方のソース端子が前記電源に接続され、他方のソース端子が前記負荷に接続され、
    前記プリチャージ回路は、
    前記半導体スイッチモジュールの異常を診断する診断期間後の電圧よりも小さいプリチャージ電圧を前記逆方向スイッチに印加して前記一定のプリチャージ電流を流し、
    前記制御部は、
    前記プリチャージ回路によりプリチャージ制御が行われている場合、前記順方向スイッチの前記ボディダイオードの順方向電圧と、前記順方向スイッチの前記ボディダイオードの温度を判定するための閾値とから前記半導体スイッチモジュールの過熱を判定することを特徴とする半導体スイッチ制御装置。
  2. 前記制御部は、
    前記半導体スイッチモジュールの温度状態を判定する前に、前記順方向スイッチの前記ボディダイオードの順方向電圧が当該順方向電圧の基準となる基準電圧の範囲外である場合、前記順方向スイッチが故障であると判定し、前記逆方向スイッチをオフして前記電流を遮断する請求項に記載の半導体スイッチ制御装置。
JP2016131731A 2016-07-01 2016-07-01 半導体スイッチ制御装置 Active JP6401747B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016131731A JP6401747B2 (ja) 2016-07-01 2016-07-01 半導体スイッチ制御装置
US15/621,746 US10296024B2 (en) 2016-07-01 2017-06-13 Semiconductor switch control device
DE102017210457.0A DE102017210457A1 (de) 2016-07-01 2017-06-22 Halbleiterschalter-Steuervorrichtung
CN201710516844.5A CN107565518B (zh) 2016-07-01 2017-06-29 半导体开关控制装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016131731A JP6401747B2 (ja) 2016-07-01 2016-07-01 半導体スイッチ制御装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018007030A JP2018007030A (ja) 2018-01-11
JP6401747B2 true JP6401747B2 (ja) 2018-10-10

Family

ID=60662142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016131731A Active JP6401747B2 (ja) 2016-07-01 2016-07-01 半導体スイッチ制御装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10296024B2 (ja)
JP (1) JP6401747B2 (ja)
CN (1) CN107565518B (ja)
DE (1) DE102017210457A1 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10840899B2 (en) * 2017-01-31 2020-11-17 Nidec Corporation Motor drive device and electric power steering device
DE112018006195T5 (de) * 2017-12-04 2020-08-27 Gs Yuasa International Ltd. Ladesteuervorrichtung, energiespeichervorrichtung und ladeverfahren
JP7118531B2 (ja) * 2018-04-26 2022-08-16 矢崎総業株式会社 電源装置
DE102018222554A1 (de) * 2018-12-20 2020-06-25 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum richtungsabhängigen Betreiben eines elektrochemischen Energiespeichers
DE102019204134A1 (de) * 2019-03-26 2020-10-01 Vitesco Technologies Germany Gmbh Phasenstrombestimmung mit Hilfe des Einschaltwiderstandes und der Sperrschichttemperatur eines Feldeffekttransistors
JP7074717B2 (ja) * 2019-04-25 2022-05-24 矢崎総業株式会社 電力供給システム
US11349294B2 (en) * 2020-01-29 2022-05-31 Eaton Intelligent Power Limited Solid state circuit interrupter
US11239649B2 (en) 2020-01-29 2022-02-01 Eaton Intelligent Power Limited Solid state circuit interrupter

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3087705B2 (ja) * 1997-11-10 2000-09-11 日本電気株式会社 バッテリー逆接続保護付きipdを備えた駆動装置
US6392859B1 (en) * 1999-02-14 2002-05-21 Yazaki Corporation Semiconductor active fuse for AC power line and bidirectional switching device for the fuse
JP3845261B2 (ja) * 2001-02-28 2006-11-15 矢崎総業株式会社 自動車用電気負荷駆動制御装置
JP2003019964A (ja) * 2001-07-09 2003-01-21 Yazaki Corp ステアリングヒーター
JP2004117260A (ja) * 2002-09-27 2004-04-15 Nissan Motor Co Ltd 半導体モジュールの温度検出装置
DE102006022158A1 (de) * 2006-05-12 2007-11-15 Beckhoff Automation Gmbh Leistungsschaltung mit Kurzschlussschutzschaltung
JP2008052564A (ja) * 2006-08-25 2008-03-06 Advics:Kk 負荷駆動装置
JP5061935B2 (ja) * 2008-02-12 2012-10-31 ミツミ電機株式会社 電池パック
JP5804763B2 (ja) 2011-05-02 2015-11-04 三菱電機株式会社 空気調和装置用制御装置
JP5743739B2 (ja) 2011-06-22 2015-07-01 株式会社東芝 蓄電装置
US8941418B2 (en) * 2011-11-16 2015-01-27 Mediatek Inc. Driving circuits with power MOS breakdown protection and driving methods thereof
JP5790606B2 (ja) * 2012-08-20 2015-10-07 株式会社デンソー 過熱保護回路
JP2015065767A (ja) 2013-09-25 2015-04-09 東芝ライテック株式会社 整流回路、電子回路及び電子機器
JP2015095442A (ja) * 2013-11-14 2015-05-18 株式会社オートネットワーク技術研究所 スイッチ診断装置、スイッチ回路及びスイッチ診断方法
JP5784251B1 (ja) 2015-01-20 2015-09-24 秀一 佐竹 唾液分泌促進マウスピース

Also Published As

Publication number Publication date
CN107565518B (zh) 2019-03-15
US20180004237A1 (en) 2018-01-04
DE102017210457A1 (de) 2018-01-04
US10296024B2 (en) 2019-05-21
JP2018007030A (ja) 2018-01-11
CN107565518A (zh) 2018-01-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6401747B2 (ja) 半導体スイッチ制御装置
JP4964536B2 (ja) モータ異常検出装置及び方法
JP4411897B2 (ja) 直流昇圧回路の故障判定装置
JP6358304B2 (ja) 車両用電源装置
US10284193B2 (en) Semiconductor switch control device
US8497728B2 (en) Electronic control apparatus having switching element and drive circuit
US8294402B2 (en) Bridge rectifier circuit
US10703221B2 (en) Power supply control apparatus for electric vehicle
JP6663813B2 (ja) 半導体スイッチ制御装置
JP5821727B2 (ja) 電気自動車
JP6396041B2 (ja) 車両及び故障検知方法
US11097621B2 (en) Power source system for electric-powered vehicle
US9270106B2 (en) Temperature protection device of electronic device
JP2015171305A (ja) 電源供給回路
JP2019088121A (ja) 半導体リレー制御装置
US11201460B2 (en) Power source switch control device
JP2018113777A (ja) 半導体スイッチ制御装置
JP2015027127A (ja) 電力変換器
JP6322123B2 (ja) 電流制限回路
US10291157B2 (en) Controller for electric rotating machine that interrupts a current flow to an inverter
JP2015100158A (ja) Dc−dcコンバータ
JP6400186B2 (ja) 電動パワーステアリング装置
JP2023053563A (ja) 電力供給装置
JP2006149131A (ja) 車両用発電制御装置
JP5549255B2 (ja) エレベータの制御装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20171019

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180612

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180703

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180809

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180828

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180907

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6401747

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250