JP6373035B2 - ガス処理装置 - Google Patents

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Description

本発明は、低温プラズマと触媒体を利用して、有害なガスを分解する装置に関する。特に、触媒体とガスの接触効率を高めた構造に関する。
近年、地球環境や人体に影響を及ぼす可能性がある有害ガスが問題視されるようになっている。例えば、自動車分野においては、特にディーゼル車などについて、排気ガスの規制が年々厳しくなっている。また、室内環境の分野においても、シックハウス症候群の原因となる、揮発性有機化合物(VOC)の使用が制限されている。
このような有害ガスの除去方法としては、活性炭やゼオライトなどの吸着剤を用いて有害ガスを吸着除去する方法(特許文献1)や、空気にオゾンを混合し、紫外線を照射することで発生する活性酸素によって有害ガスを分解する方法(特許文献2)が提案されている。
また、低温プラズマを用いた方法や装置も提案されている。低温プラズマは装置が簡単であること、および反応性に富んだ活性種が利用できる化学反応であることから、反応が瞬時に進行するため、効率よくガス中に存在する有害ガスを分解することが期待できる。例えば、ハニカム構造の触媒を設置する方法(特許文献3)などが提案されている。
特開昭58−133820号公報 特開平6−385号公報 特開2000−140562号公報
しかしながら、活性炭やゼオライトなどの吸着剤を用いて吸着除去する場合には、初期は高い吸着能を示しても、飽和状態になると性能が落ちるため、新しい吸着剤と交換したり、吸着剤を再生するためのシステムを併設するなどの必要がある。また、空気にオゾンを混合し、紫外線を照射することで発生する活性酸素によって有害ガスを分解する場合、大量の空気を処理する際の処理後の気体排出時に、微量のオゾンが同時に流出する可能性があり、不快なオゾン臭の発生や人体への影響が懸念される。
一方、ハニカム状の触媒を設置する方法では有害ガスと触媒との接触を確保することが必要となる。そのため、放電電極とアース電極間距離が長くなり、安定にプラズマを発生させるために高い電圧を印加してエネルギーを多量に投与することが必要となることから、空気から窒素酸化物や多量のオゾンが生成されるという問題がある。エネルギー投与を低く抑えつつ安定にプラズマを発生させようとすると放電電極とアース電極間距離を短くする必要があり、ガスの処理空間が小さくなり処理効率が低くなるといった問題がある。
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、小さな空間でも処理効率の高い、ガス処理装置を提供することを目的とする。
すなわち第1の発明は、第1の電極と、前記第1の電極に対向する第2の電極と、両電極の互いに対向する対向面をそれぞれ覆う誘電体と、を備える電極間にプラズマを発生させるプラズマ発生部と、
前記電極間に導入される処理対象のガスが流れる、前記電極間に形成される蛇行した蛇行流路と、
前記蛇行流路に配置される処理対象のガスの分解反応を促進する触媒が固定された触媒体と、を備えることを特徴とするガス処理装置である。
第2の発明は、前記両電極間においてガスを誘導し、前記蛇行した流路を形成するガス誘導部を備え、前記触媒体は前記触媒が固定されたフィルタであり、前記フィルタは前記ガス誘導部に保持されることを特徴とする第1の発明に記載のガス処理装置である。
第3の発明は、前記フィルタの形態が、繊維構造体、ハニカム構造体、多孔質構造体であることを特徴とする第2の発明に記載のガス処理装置である。
第4の発明は、前記ガス誘導部は前記両電極の一方の電極から他方の電極の方向に形成される壁状の部材であり、前記蛇行した流路はガスを前記両電極の対向方向に蛇行させることを特徴とする第2または第3の発明に記載のガス処理装置である。
第5の発明は、前記ガス誘導部は電極に沿った方向に延びる壁状の部材であり、前記蛇行した流路はガスを電極に沿った方向に蛇行させることを特徴とする第2または第3の発明に記載のガス処理装置である。
第6の発明は、前記電極間に、前記触媒体であるフィルタと、複数の開口部が並んで形成されるガス誘導板と、が交互に重ねられ、重なった複数の前記ガス誘導板の前記両電極の対向方向に重なる開口部によって前記両電極の対向方向に沿った流路が複数形成され、隣り合う前記流路が互いに連結されて前記蛇行流路を構成することを特徴とする第1の発明に記載のガス処理装置である。
第7の発明は、重なった前記ガス誘導板のうち、前記第1の電極を覆う前記誘電体に接する前記ガス誘導板と、前記第2の電極を覆う前記誘電体に接するガス誘導板と、が、前記隣り合う流路を連結する連結用開口部を有することを特徴とする第6の発明に記載のガス処理装置である。
第8の発明は、前記第1の電極を覆う前記誘電体に接する前記ガス誘導板と、前記第2の電極を覆う前記誘電体に接するガス誘導板のいずれかが前記電極間にガスを取り込む導入口を形成し、前記第1の電極を覆う前記誘電体に接する前記ガス誘導板と、前記第2の電極を覆う前記誘電体に接するガス誘導板のいずれかが前記電極間からガスを排出する排出口を形成することを特徴とする第7の発明に記載のガス処理装置。
本発明によれば、限られた空間内においてフィルタと触媒の接触機会を増やすことで、処理効率の高いガス処理装置を提供するものである。
実施形態のガス処理装置の構成図である。 他の実施形態のガス処理装置の構成図である。 他の実施形態のガス処理装置の構成図である。 他の実施形態のガス処理装置の構成を示す分解斜視図である。 比較例のガス処理装置の構成を示す分解斜視図である。
以下、本発明のガス処理装置の実施形態について詳述する。本発明の実施形態に係るガス処理装置は、限られた空間内で、処理対象のガスと触媒の接触効率を高めたことを特徴とする。
(第1実施形態)
図1は、本実施形態のガス処理装置10の断面を模式的に表した図である。ガス処理装置10は、処理対象ガスを含むガスが供給される流路内に配置される。そして、ガス処理装置10は、図1において、ガス処理装置10に対して矢印A方向に供給される処理対象ガスを含むガスを、ガス処理装置10において発生させるプラズマと、触媒体4の機能によって処理する装置である。
ガス処理装置10は、印加電極1と、接地電極2と、誘電体3と、触媒体4と、電源部である(高圧)電源6と、ガス誘導部である隔壁5を備える。そして側壁部8によって周囲が覆われて、印加電極1、接地電極2、誘電体3、側壁部8等によってガスが流通する空間が形成される。なお、印加電極1、接地電極2、誘電体3等が筐体(ケース)に収められてガス処理空間が形成されてもよい。
ガス処理装置10において、印加電極1と接地電極2と誘電体3と電源6は、プラズマを発生させるための部材・装置(プラズマ発生部)である。電源6によって電圧が印加されることで、印加電極1と接地電極2と誘電体3とによって、印加電極1と設置電極2との間に放電による低温プラズマ反応層が形成される。低温プラズマ(Non−Thermal Plasma)とは、電子温度だけが高く、イオンや中性粒子の温度が低い非平衡プラズマである。
本実施形態では、両電極間の一端側からガスが導入され他端側から排出されるが、その電極間に形成される流路が蛇行した流路となっている。処理ガスはその蛇行流路を通過しながらガス処理され、電極間のガス処理空間から排出される。本実施形態の蛇行流路は、導入されたガスが電極間の対向方向に蛇行しながら排出口に流れる流路である。
印加電極1と接地電極2の距離(間隔)は、より長い方がガス処理装置の容量を大きく出来る。風速を一定とした場合、電極間距離が長いほど単位時間当たりに処理できるガス量を増やせる利点がある。しかし、電極間距離をより長くすると、プラズマを発生させるために印加電圧をより大きくする必要があり、それに応じてエネルギー消費量が大きくなるだけでなく、電源のサイズも大きくなるという欠点がある。その場合、電源も含めたガス処理装置全体が大きくなるため、例えば、自動車用途のように、設置場所の大きさに制限がある場合は、ガス処理装置を設置できなくなる。そのため、電極間距離は、10mm以下にすることが好ましい。電極間の距離はより好ましくは5mm以下である。5mm以下であれば、プラズマの発生効率がより高く、効率よくガス処理を行うことができる。ガス処理量を確保するため、電極間の距離は1mm以上が好ましい。
印加電極1は、電源6によって電圧が印加される電極である。接地電極2は、接地線2aによって接地されている。印加電極1と接地電極2の構造としては、プラズマが発生する構造であれば特に限定されず、板状、格子状や簾状、パンチング加工などによる多孔状やエキスパンドメッシュ状、針状の構造が挙げられ、これらの構造を2種以上組み合わせた構造であってもよい。また、印加電極1と接地電極2は、上記した形状・構造のうち、同じ形状・構造であってもよいし、互いに異なる形状・構造であってもよい。本実施形態では一例として、図1に示すように印加電極1と接地電極2は同じ形状の板状の構造としている。
印加電極1および接地電極2としては、電極として機能する材料を用いることができる。印加電極1、接地電極2の材料としては、例えば、Cu、Ag、Au、Ni、Cr、Fe、Al、Ti、W、Ta、Mo、Coなどの金属やその合金を用いることができる。
誘電体3は、印加電極1と接地電極2の互いに対向する面を覆う。誘電体3は絶縁体となる性質を有していればよい。誘電体3の材料としては、例えば、ZrO2、γ−Al23、α−Al23、θ−Al23、η−Al23、アモルファスのAl23、アルミナナイトライド、ムライト、ステアライト、フォルステライト、コーディエライト、チタン酸マグネシウム、チタン酸バリウム、SiC、Si34、Si−SiC、マイカ、ガラスなどの無機材料や、ポリイミド、液晶ポリマー、PTFE(poly tetra fluoro ethylene)、ETFE(ethylene tetra fluoro ethylene)、PVF(poly vinyl fluoride)、PVDF(poly vinylidene difluoride)、ポリエーテルイミド、ポリアミドイミドなどの高分子材料が挙げられる。耐プラズマ性、耐熱性を考慮すると無機材料がより好ましい。なお、側壁部8の一部または全部が誘電体3で形成されてもよい。
触媒体4は、処理対象ガスを分解する反応を促進する触媒が担持されており、本実施形態では触媒体4に対してプラズマを作用させるため、触媒体4によって促進される反応がさらに促進される。
本発明の触媒体4の形態としては、通気性があれば特に限定されるものではなく、触媒が固定されたフィルタでよい。具体的には板状、シート状、プレート状の部材にパンチング加工などの穿孔処理がされた複数の穴を有するものや、メッシュ状、繊維構造体、通気性を有するハニカム構造体、通気性を有する焼結体などが挙げられる。この中でも圧力損失がより小さなものが好ましく、例えば、繊維構造体、ハニカム構造体、焼結体などが挙げられる。
図1の触媒体4の形態は繊維構造体の場合である。本実施形態の触媒体4は繊維構造体からなる基体と、基体に固定される触媒などから構成される。触媒体4の基体としては、ガスが通過可能な繊維構造体であり、具体的には、不織布、混抄紙、編み物や織物などが挙げられる。触媒体4は、プラズマ発生部によって発生したプラズマが存在する位置(範囲)に配置されている。具体的には、本実施形態では、印加電極1と接地電極2の間(放電空間)に配置されている。そして触媒体4は、蛇行する流路の少なくとも一部に配置されていればよいが、流路の全域にわたって配置あるいは充填されていることが好ましい。触媒体4が流路全体に配置されていることで、より効率よくガスを処理することができる。触媒体4は、図1において矢印で示す方向にガスが通過可能である。触媒は、基体表面に固定されてもよいし、基体内部に固定されてもよく、また基体の表面と内部の両方に固定されてもよい。
本実施形態における触媒体4の基体である繊維構造体の材料としては、繊維形成能があれば特に限定されるものではない。たとえば、合成繊維や、綿、麻、絹等の天然繊維や、ガラス、金属、セラミックス等の無機材料や、パルプ、炭素繊維などが挙げられるが、中でも耐プラズマ性と耐熱性に優れた無機材料が好ましい。耐プラズマ性については、触媒体4の基体はプラズマが存在する領域に配置されるため、耐プラズマ性を有することで、触媒体4の触媒機能を長期間維持できるためである。耐熱性については、ガス処理装置10の処理対象のガスが、燃料を燃焼して排出される排ガスなど比較的温度の高いガスである場合もあり、耐熱性が必要であるためである。なお、耐プラズマ性とは、プラズマ雰囲気中での耐久性であり、プラズマによる侵食のされにくさである。
触媒体4の繊維構造体に用いられる無機材料としては、具体的には上述のように金属材料や、セラミックスや、ガラスなどが好ましい。金属材料としては、タングステン、モリブデン、タンタル、ニオブ、TZM(Titanium Zirconium Molybdenum)、W−Re(tungsten-rhenium)などの高融点金属や、銀、ルテニウムなどの貴金属、及び高融点金属や貴金属の合金または酸化物、チタン、ニッケル、ジルコニウム、クロム、インコネル、ハステロイなどの特殊金属、アルミニウム、銅、ステンレス鋼、亜鉛、マグネシウム、鉄などの汎用金属およびこれら汎用金属を含む合金またはこれら汎用金属の酸化物を用いることができる。また、各種めっき法及び真空蒸着法や、CVD法や、スパッタ法などにより、上述した金属、合金または酸化物の被膜が形成された部材(被膜を形成する部材自体は、金属材料あるいはそれ以外の材料でよい。)を金属材料として用いてもよい。
さらに、本実施形態の触媒体4の繊維構造体に用いられるセラミックスとしては、チタン酸バリウム、チタン酸ジルコン酸鉛、フェライト、アルミナ、フォルステライト、ジルコニア、ジルコン、ムライト、ステアタイト、コーディエライト、窒化アルミニウム、窒化ケイ素、炭化ケイ素、ニューカーボン、ニューガラスなどや、高強度セラミックス、機能性セラミックス、超伝導セラミックス、非線形光学セラミックス、抗菌性セラミックス、生分解性セラミックス、及びバイオセラミックスなどのセラミックスを用いることができる。また、上述のセラミックスの複合物でもよい。
また、触媒体4を構成する触媒は、基体(繊維構造体)に固定できる形態、材料であれば特に限定されない。基体(繊維構造体)が酸化アルミニウム、酸化ジルコニウムなどの金属酸化物であれば、触媒を直接基体に固定してもよいし、触媒微粒子が担体微粒子に担持されたものでもよい。触媒微粒子としては、反応を促進する触媒機能を有すれば、限定されるものではない。好ましくは触媒能の高い、Au、Pt、CeO2、PdO、MnO2、CuO、あるいはこれらを組み合わせてもよい。
この触媒微粒子は、粒径が0.5nm以上200nm以下程度であればよい。また、これらの触媒微粒子は担体微粒子に対して、0.1〜20質量%分固定されることが好ましく、0.5〜10質量%とするのがより好ましい。20質量%以上担持させると、触媒微粒子である触媒微粒子同士が凝集し、触媒活性が減少するからである。0.1質量%以下では十分な触媒活性が得られないので好ましくない。
なお、触媒微粒子としては、上述のように、少なくとも処理対象ガスを分解する反応を促進する触媒機能を有する微粒子が含まれている必要があるが、他の物質と組み合わせてもよい。具体的には、触媒微粒子に助触媒を組み合わせた助触媒粒子と触媒微粒子が混在するものとすることができる。また、触媒微粒子と他の材料の粒子とを複合化させた複合触媒としてもよい。触媒微粒子単独の場合や触媒微粒子に助触媒を混合させた場合には、触媒微粒子が上述の大きさの範囲内であればよい。また、他の材料の粒子と複合した複合触媒の場合には、触媒微粒子の大きさが上述の大きさの範囲内であればよい。
助触媒や複合触媒における他の材料の粒子としては、金属や金属酸化物を用いることができる。金属としては、Pt、Pd、Irなどといった貴金属、または卑金属が挙げられる。金属酸化物としては、これらの貴金属や卑金属の酸化物が挙げられる。これらの貴金属およびその酸化物、卑金属およびその酸化物は2種以上混合されて用いてよい。触媒微粒子を担体微粒子に担持する構成とする場合には、助触媒として2種以上が担体微粒子の表面に担持されてもよいし、複合触媒の場合には2種以上の他の材料の粒子と触媒微粒子が複合化したものが担体微粒子の表面に担持されてもよい。
担体微粒子は、触媒微粒子を担持させるとともに、担体微粒子を介して触媒微粒子を基体(繊維構造体)に固定するための粒子である。担体微粒子は、触媒微粒子を担持させることができればどのようなものでもよいが、金属酸化物を用いることができる。また、主に物理的な吸着性によって担持させる物質を固定できる無機化合物を用いることが好ましい。ただし、基体である繊維構造体として、金属酸化物または主に物理的な吸着性を有する無機化合物を用いる場合には、担体微粒子はなくてもよい。触媒微粒子を直接繊維構造体に固定すればよい。
担体微粒子に用いる金属酸化物としては、例えば、γ-Al2O3、α- Al2O3、θ- Al2O3、η- Al2O3、アモルファスのAl2O3、TiO2、ZrO2、SnO2、SiO2、MgO、ZnO2、Bi2O3、In2O3、MnO2、Mn2O3、Nb2O5、FeO、Fe2O3、Fe3O4、Sb2O3、CuO、Cu2O、NiO、Ni3O4、Ni2O3、CoO、Co3O4、Co2O3、WO3、CeO2、Pr6O11、Y2O3、In2O3、PbO、ThO2などの単一の無機酸化物が挙げられる。また、金属酸化物としては、例えば、SiO2−Al2O3、SiO2−B2O3、SiO2−P2O5、SiO2−TiO2、SiO2−ZrO2、Al2O3−TiO2、Al2O3−ZrO2、Al2O3−CaO、Al2O3−B2O3、Al2O3−P2O5、Al2O3−CeO2、Al2O3−Fe2O3、TiO2−CeO2、TiO2−ZrO2、TiO2−WO3、ZrO2−WO3、SnO2−WO3、CeO2−ZrO2、SiO2−TiO2−ZrO2、Al2O3−TiO2−ZrO2、SiO2−Al2O3−TiO2、SiO2−TiO2−CeO2、セリウム・ジルコニウム・ビスマス複合酸化物などの複合酸化物でもよい。尚、セリウム・ジルコニウム・ビスマス複合酸化物は一般式Ce1-X-YZrXBiY2-δで表わされる固溶体であり、X、Y、δの値がそれぞれ0.1≦X≦0.3、0.1≦Y≦0.3、0.05≦δ≦0.15の範囲である。
また、担体微粒子に用いる物理的な吸着性を有する無機化合物としては、例えば、ケイ酸塩としては、ゼオライトA、ゼオライトP、ゼオライトX、ゼオライトYなどの合成ゼオライトや、クリノプチルライトやセピオラオライト、モルデナイトなどの天然ゼオライトなどや、カオリナイト、モンモリロナイト、酸性白土、珪藻土などの層状ケイ酸塩化合物や、オラストナイト、ネプツナイトなどの環状ケイ酸塩化合物が挙げられる。また、リン酸3カルシウム、リン酸水素カルシウム、ピロリン酸カルシウム、メタリン酸カルシウム、ハイドロキシアパタイトなどのリン酸塩化合物や、活性炭や、多孔質ガラスなども挙げられる。
これらの担体微粒子は処理対象のガス等の種類に応じて、上述した物質から適宜選択して使用されるものである。担体微粒子の平均粒子径は、0.1μm以上500μm以下であれば良い。また、これらの担体微粒子は単体で用いても、2種類以上混合して用いてもよい。なお、ここでいう平均粒子径とは、体積平均粒子径のことをいう。本明細書において、特に記載しない限りは、平均粒子径は体積平均粒子径とする。
触媒体4の繊維構造体に固定する触媒の製造方法を説明する。触媒は、触媒微粒子が、多面体構造で担体微粒子に固定できる方法であればよい。共沈法、析出沈殿法、ゾル−ゲル法、滴下中和沈殿法、還元剤添加法、pH制御中和沈殿法、カルボン酸金属塩添加法等の方法が挙げられ、これらの方法は担体の種類により適宜使い分けることができる。
触媒の繊維構造体に対する固定方法については、公知の方法を用いることができる。例えば、一般的な樹脂などで構成されるバインダーによって固定してもよい。また、化学結合以外にも、ファンデルワールス力や物理的吸着などで固定してもよい。
つぎに、ガス処理装置10に用いられる電源6は、高電圧を印加可能な電源である。電源6としては、交流高電圧、パルス高電圧などの高電圧電源、DCバイアスに交流あるいはパルスを重畳させた電源などを用いることができる。交流高電圧の例としては、正弦波交流、矩形波交流、三角波交流、鋸波交流などが挙げられる。この電源6により、印加電極1と接地電極2と側壁部8等によって形成される放電空間にプラズマを発生させることができるように、印加電極1と接地電極2に所定の電圧を印加すればよい。電源6による印加電圧は、処理対象ガスの濃度などにより変動するが、通常1〜20kV、好ましくは2〜10kVである。なお、プラズマを発生させるために電源6から供給される電力により発生させる放電の種類としては、プラズマを発生させることができれば特に限定されないが、たとえば無声放電や沿面放電やコロナ放電やパルス放電などであればよい。また、これらの放電が2種類以上組み合わされて発生してプラズマを発生させてもよい。
また、その電源の出力周波数は高周波数が好ましく、具体的には0.5kHz以上であればよい。さらには0.5kHz以上15kHz以下が好ましく、より好ましくは1kHz以上10kHz以下がよい。周波数が0.5kHzよりも小さいと中間生成物やオゾンの生成量が増え、15kHzよりも大きいと処理対象とするいずれのガスについても分解が抑制されてしまう。
そして本実施形態のガス処理装置10は、内部にガス誘導部として隔壁5を1つ以上有しており、隔壁5によって筐体内は複数の空間に仕切られている。この隔壁5は、電極(の表面の誘電体3)や側壁部8によって形成される放電空間内を流れる処理対象のガスの流れをガイドする部材である。電極と隔壁5と側壁部8とによって蛇行流路が形成され、ガスを触媒体4に複数回通過させる。図1では、隔壁5は3つ配置される。隔壁5は、図1の紙面に垂直方向に一方の側壁(紙面手前側にある側壁部8)から他方の側壁(紙面奥側にある側壁部8)まで延びており、印加電極1の内面(印加電極1表面の誘電体3の表面)あるいは接地電極2の内面(接地電極2の誘電体3の表面)との間に開口部(ガスが流通する隙間)が形成されるように配置されている。これにより、矢印のAからガス処理装置10に入ったガスが、図の矢印のように流れ、触媒体4を4回通過する構造になっている。すなわち、処理対象ガスは導入口からガス処理空間内に導入され、1つ目の隔壁5によって仕切られる最初の空間に入る。空間内には触媒体4があり、処理対象ガスは触媒体4を通過する。最初の隔壁5は、印加電極1側の面との間が開口しているので、触媒体4を通過したガスはガスの流れ方向下流側(図1の右側)の空間に流れる。そして、ガスは次の隔壁5によって接地電極2側にガイドされることで、触媒体4を通って下方に流れ、さらに隔壁5と電極との隙間を通って右側に流れていく。これを繰り返して、最後の空間に流れたガスが、排出口から処理空間外へ排出される。このように、隔壁5と電極や側壁部8等によって形成される内壁面とによって、処理対象のガスを電極間において蛇行させて流し、触媒体4に複数回通過させて分解処理することができる。
本実施形態の隔壁5は、上述の通り一方の電極側から他方の電極側の方向に延びる板状の部材である。上述のように、隔壁5の図1の紙面に垂直方向の幅は、一方の側壁から他方の側壁までの長さであり、隔壁5の両側の側壁との間に隙間ができないように配置される。隔壁5の高さ(図1の上下方向の幅)は上述のように、電極間の間隔(一方の誘電体3の表面と他方の誘電体3の表面との間隔)よりも小さく、印加電極側の内壁または接地電極側の内壁との間に隙間が形成される高さである。隔壁5は、ガス処理装置10の導入口から排出口までの間に少なくとも1つ配置されることが好ましい。1つ以上配置されることで、ガスを触媒体4に対して接触させる機会をより増やして効果的にガス処理することができる。隔壁5の配置位置は特に限定されないが、たとえば導入口から排出口までの空間を等分する位置に配置することができる。たとえば、隔壁5が1つであれば中間位置であり、3つであれば空間を4等分する位置に配置されればよい。
本実施形態では隔壁5は一方の電極側から垂直に他方の電極の方向に延びる板状の部材としたがこれに限られない。たとえば、垂直方向からガス処理装置10全体でのガスの流れ方向(図1の左右方向)に傾斜して配置されてもよい。また、本実施形態の隔壁5は板状の部材としたが、ガスを触媒体4を複数回通過するようにガイドできる形状であれば板状に限られない。たとえば、三角柱状や角柱状や円柱状などでもよい。
また、隔壁5としては、用いる材料は特に限定されず、誘電体3と同じ材料でもよい。
なお、隔壁5の配置数や形状や材料等は、処理するガスの種類やガスの流量等に応じて設定されればよい。
以上が、本実施形態のガス処理装置10の構成である。
次に、以上に説明した本発明におけるガス処理装置によるガスの分解処理について説明する。まず、本実施形態のガス処理装置における処理対象ガスとしては、VOC(揮発性有機化合物:Volatile Organic Compounds)などの燃料や溶剤などに含まれる揮発性を有する物質、炭化水素、一酸化炭素、あるいはアンモニアなどのうち少なくともいずれかを含むガスである。つまり、これら複数種類のガスを含む混合ガスや、単独のガスである。VOCの具体例としては、ベンゼン、キシレン、トルエン、エチルベンゼン、スチレン、パラジクロロベンゼン、フタル酸ジ-2-エチルヘキシルなどの芳香族化合物が挙げられる。また、C=Oの二重結合(カルボニル基)を持つ化合物では、アセトン、メチルエチルケトン(MEK)などのケトン類や、イソプロピルアルコール、メタノールなどのアルコール類や、酢酸エチル、フタル酸ジ-n-ブチルなどのエステル類や、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒドなどのアルデヒド類などがある。また、エチレン、テトラデカン、プロピレン、プロパンなどの炭化水素類や、クロルピリホス、ダイアジノンなどの有機リン化合物、その他、トリクロロエチレン、テトラクロロエチレン等が挙げられる。
ガスを処理する場合には、まず、電源6によって、印加電極1に電圧を印加した状態で、図1において矢印A方向に処理対象ガスを含むガスを供給することにより、プラズマと触媒により加温することなく常温で処理対象ガスを分解する。触媒のみであれば、ガスとの接触により触媒微粒子表面が被毒し、触媒活性が失われたり、一酸化炭素やホルムアルデヒドなどの反応中間体を生じたりする。しかし、プラズマを併用することにより触媒表面がクリーニングされ触媒活性が保たれ、反応中間体の生成量もほとんどなく、処理対象のガスは分解される。
なお、本実施形態のガス処理装置10は、対象ガスを分解することで無害化して、常温で大気中に排出できる。ここで無害化とは、例えば処理対象ガスがVOCや炭化水素、一酸化炭素などの場合は、二酸化炭素に分解することである。また、処理対象ガスがアンモニアや窒素酸化物などの場合は、窒素に分解することである。本実施形態のガス処理装置10において処理可能なガスであるVOCや炭化水素としては、たとえば、工場や事業所で使用される塗料、接着剤、洗浄剤などの有機溶剤から揮発する物質が挙げられる。また、重油や灯油や液化石油ガス(LPG)や都市ガスなどの燃料から揮発する物質、あるいはこれらの燃料を燃焼した際の未燃焼のガスが挙げられる。また、農産物から発生するエチレンも挙げられる。さらに、自動車の内装材、住宅の建材・内装材、家電の筐体・部材などの素材から揮発する物質などがある。また、処理対象である一酸化炭素としては、たとえば、工場や厨房の燃焼工程、あるいは家庭用暖房器具などで、不完全燃焼により生じる。また、アンモニアは、トイレなどで発生する。このような処理対象ガスを含むガスを、触媒体4に対して流すとともにプラズマを作用させることにより、加温することなく、効率的に処理対象ガスを分解して無害化することができ、大気中へ排出することができる。
触媒体4の他の実施形態について説明する。上述の実施形態では、繊維構造体に触媒微粒子を固定した例を示したが、別の実施形態の触媒体4としては、ハニカム構造体が好ましい。本実施形態におけるハニカム構造体とは、一方の端面から他方の端面まで貫通する流体の流路となる複数のセルを区画形成する壁を備えたものであって、壁には触媒が固定されている。一方の端面からセル内に流入した排ガスは、壁に固定された触媒と接触することで分解された後、他方の端部から流出する。触媒体4として触媒が固定されたハニカム構造体を用いることで、圧力損失を低減することができる。
ハニカム構造体に用いる材料としては、特に限定されないが、耐プラズマ性、耐熱性を考慮すると無機材料が好ましく、中でもセラミックスが好ましい。セラミックス材料としては、炭化珪素、珪素−炭化珪素系複合材料、コージェライト化原料、ムライト、アルミナ、スピネル、炭化珪素−コージェライト系複合材料、リチウムアルミニウムシリケート、およびアルミニウムチタネート、チタン酸バリウム、チタン酸ジルコン酸鉛、フェライト、フォルステライト、ジルコニア、ジルコン、ステアタイト、窒化アルミニウム、窒化ケイ素、ニューカーボンなどや、高強度セラミックス、機能性セラミックス、超伝導セラミックス、非線形光学セラミックス、抗菌性セラミックス、生分解性セラミックス、及びバイオセラミックスなどのセラミックスからなる群から選択される少なくとも1種であることが好ましい。
触媒体4において触媒を固定する基体として焼結体を用いる場合には、触媒としては、基体が繊維構造体の場合と同様の触媒を使用すればよい。具体的には焼結体の表面(外表面および細孔内)に繊維構造体の場合と同様の方法で固定されればよい。焼結体がハニカム構造体の場合も同様に、ハニカム構造を構成する各セルの壁の表面に繊維構造体と同様の方法で触媒を固定すればよい。
また、さらに触媒体4の他の実施形態としては、多孔質構造体が挙げられる。多孔質構造体とは、細孔を有する材料を用いた構造体で、通気性を有していればよい。多孔質構造体の表面(外表面および細孔内)には、触媒が固定されている。
多孔質構造体に用いる材料としては、細孔を有していれば特に限定されないが、耐プラズマ性、耐熱性を考慮すると無機材料が好ましい。例えば、シリカ、アルミナ、マグネシア、チタニア、ジルコニア等の酸化物や、アルミノシリケート、チタノシリケート等の複合酸化物、MCM−41、SBA−15、FSM−16等の規則性メソ多孔体、結晶性アルミノシリケート、メタロシリケート、アルミノフォスフェート、シリカアルミノフォスフェート等のゼオライトまたはメソ多孔体、あるいは多孔質ガラスや粘土鉱物等などから選択される少なくとも1種であればよい。
触媒体4において基体として多孔質構造体を用いる場合には、触媒としては、繊維構造体の場合と同様の触媒を使用すればよく、多孔質構造体の表面に繊維構造体と同様の方法で固定すればよい。
(第2実施形態)
次に、第2実施形態を説明する。図2は、本実施形態におけるガス処理装置10の断面の一部を模式的に表した図である。なお、以下の説明において第1の実施形態と共通する構成については、同じ符号を付して説明を省略する。
本発明の第2実施形態であるガス処理装置10は電極間の中間の位置に導入口を有しており、導入口に最も近い隔壁5によって上下に流路が分かれ、次の隔壁5によって合流するという流れを繰り返して蛇行する流路を構成するものである。導入口に最も近い隔壁5は開口部を図面における上側と下側の位置に有しており、さらに隣の隔壁5の開口部は中間部に位置している。導入口から導入された処理対象ガスは、図面の上下方向の中間部から触媒体4を通って上下方向に流れ、隔壁5の上下の開口部(電極表面の誘電体3との隙間)から次の空間に流れる。その空間内では触媒体4を通過して、図面における上下方向の中間部に集まり、隔壁5の中間部に形成される開口部からその次の空間に流れる。これを繰り返して、排出口からガス処理装置10の外部へ排出される。
本実施形態の構成のガス処理装置10によっても、第1実施形態の場合と同様に効率的にガスを分解処理することができる。
(第3実施形態)
次に、第3実施形態を説明する。図3は、本実施形態のガス処理装置の10の断面の一部を模式的に表した図である。なお、以下の説明において第1の実施形態と共通する構成については、同じ符号を付して説明を省略する。
本発明の第3実施形態であるガス処理装置10は、電極間に形成されるガス処理のための蛇行流路が、印加電極1と接地電極2に沿った方向に蛇行する流路であることを特徴とする。図3に示すように、一例として接地電極2側から処理対象ガスが導入され、電極に沿った方向(図3では左右方向)に電極に挟まれた範囲内で蛇行しながら印加電極1側に流れる。そして、印加電極1側の導入口とは反対側の排出口から排出される。
隔壁5は電極と平行に配置され、電極の対向方向に放電空間を複数の空間に区切る。そして隔壁5は、ガスの導入口側と排出口側の一方の側壁部8に対しては隙間なく配置され、他方の側壁との間に隙間を形成するように配置する。図3に示すように、隔壁5と側壁部8との隙間が、導入口側と排出口側(電極の一端側と他端側)に交互に形成されることで、蛇行流路を形成できる。
触媒体4は電極(印加電極1または接地電極2)と隔壁5とで形成される流路あるいは2つの隔壁5によって形成される流路の途中に配置される。触媒体4は第1の実施形態で示した触媒が固定されたフィルタでよい。図3では、蛇行流路を構成する各流路において、一方の側壁部8側から他方の側壁部8側の間に4か所触媒体4が固定されているものを例示している。触媒体4は少なくとも蛇行流路の一部に配置されていればよいが、上述のように蛇行流路の全域にわたって配置されるのがより好ましい。
本実施形態のガス処理装置10では、図面の下部に備えられている導入口から処理対象ガスを含むガスが導入され、触媒体4を通って排出口側の側壁部8まで流れ、隔壁5の開口部(隔壁5と側壁部8との隙間)から図面上側の次の空間に流れる。次の空間に流れたガスはその空間内の触媒体4を通って、ガス処理装置10の導入口側に流れ、さらに次の空間へと流れていく。このように、導入口側と排出口側(電極の一端側と他端側)との間をガスが繰り返して行き来して流れることで、ガスは触媒体4を複数回通過して排出されることができる。なお導入口が図面の上側に形成され、排出口が図面下側にあってもよい。また、本実施形態の場合には、ガスの導入口と排出口が電極の同じ端部側にあってもよい。
以上説明した第1から第3の実施形態において、ガス処理装置10の印加電極1と接地電極2と側壁部8等で形成されるガス処理空間は、略直方体であっても、略円筒形のような形状であってもよい。円筒形の場合は、導入口が形成される側面と排出口が形成される側面(図面のA側から見た面)が円形となる円筒形である。
(第4の実施形態)
本実施形態は、触媒体4であるフィルタとガス誘導板7を交互に複数枚重ねることで、蛇行流路を形成するものである。図4は本実施形態のガス処理装置10の構成を示す分解斜視図である。
ガス誘導板7は、複数の開口部70が並んで形成される板である。このガス誘導板7とフィルタ状の触媒体4とが交互に複数枚重ねられて印加電極1と接地電極2の間に配置されている。そして、ガス誘導板7の開口部70によって電極の対向方向に開口部70が重なっている範囲にガスが通過可能な流路が形成される。また、ガス誘導板7が複数枚重ねられることで、ガス誘導板7の開口部70と開口部70の間の枠部が、第1の実施形態等の隔壁5と同様の役割を果たし、ガスを誘導するガス誘導部を形成する。
複数枚重ねられたガス誘導板7のうち、印加電極1側と接地電極2側には、枠部の形状が異なるガス誘導板が重ねられている。具体的にはガスを矢印Aで示すように導入する導入口を形成する導入口用誘導板71と、ガスを矢印Bで示すように排出する排出口を形成する排出口用誘導板72が配置される。導入口用誘導板71と排出口用誘導板72は同じ形状であり、互いに方向が逆向きに配置されている。図4では、接地電極2に対向して導入口用誘導板71が配置され、印加電極1に対向して排出口用誘導板72が配置される。
導入口用誘導板71と排出口用誘導板72はそれぞれ電極の一方の端部側の位置における枠部がなく、外部に開放している。この枠部が無い部分が導入口用誘導板71では接地電極2の表面(誘電体3の表面)と共にガスの導入口を形成し、排出口用誘導板72では印加電極1の表面(誘電体3の表面)と共にガスの排出口を形成する。導入口用誘導板71の枠部とその上に重ねられたガス誘導板7の枠部がガス誘導部として働く。導入口から導入されたガスは図4において上方向に誘導され、枠部によって規定される開口部70を通って印加電極1側に流れる。また、排出口用誘導板72の排出口側まで流れたガスは、排出口用誘導板72(と印加電極1)によって形成される排出口から外部に排出される。
また、導入口用誘導板71と、排出口用誘導板72は、他のガス誘導板7と異なる大きさの連結用開口部74を有する。連結用開口部74では、上流側の流路と次の隣接する下流側の流路とを連結するための開口部であり、電極の表面と連結用開口部74によって隣の流路にガスが流れる空間が形成される。連結用開口部74において蛇行流路におけるガスの流れが逆方向になり、ガスが蛇行して流れることができる。連結用開口部74は図4では2つの開口部70に跨るような大きさであり、図4に示すように2つの開口部70とその間の枠部を含む領域と一致する開口であることが好ましい。
以上の構成のガス処理装置では、まずガスが矢印Aで示すように導入口に導入され、周囲の枠部によって上方向に誘導される。そして、上方向に重なっている開口部70によって形成される次の流路を、ガス誘導板7と交互に配置される触媒体4を通過しながら印加電極1側(上方)にガスが流れる。最初の連結用開口部74と印加電極1によって形成される空間において、上方向の流れが下方向に変わり、同じく開口部70によって形成される流路を触媒体4を通過しながら接地電極側2(下方)に流れる。そして、2つ目の連結用開口部74と接地電極2によって形成される空間によってガスの流れが下方向から上方向に変わる。そして、上方向に流れるガスが排出口に到達し、矢印Bで示すように電極間から排出される。したがって、このような本実施形態の構成の場合にも、ガスが電極間を蛇行しながら流れ、さらに流路の全体にわたって触媒体と接触しながら流れることができる。したがって、効率よくガス分解処理を行うことができる。
なお、導入口と排出口は印加電極1と接地電極2のどちら側に形成されてもよい。導入口と排出口が形成される位置が逆であれば、印加電極1に接して(向かい合って)導入口用誘導板71が配置され、接地電極2に接して(向かい合って)排出口用誘導板72が配置されてもよい。導入口と排出口が共に印加電極1側、あるいは導入口と排出口が共に接地電極2側にあってもよい。この場合、導入口用誘導板と、排出口用誘導板とは一体化したものになる。また、図4において導入口を排出口とし、排出口を導入口として逆方向にガスを流してもよい。また、図4の構成の場合に、ガスが一部、蛇行した流路ではなく触媒体4内を流れる場合もあるが、ごく微量であるので十分に分解処理は行われる。
以上の本実施形態の構造の場合であっても、第1の実施形態と同等の構造の蛇行流路を有するガス処理装置10を形成することができる。本実施形態によれば、同じ構造の部材(ガス誘導板7や触媒体4)を用いて蛇行流路を形成することができる。また、重ねる枚数を調整することで流路の長さも調整できる。なお、ガス誘導板7に形成される開口部の数を変えることで蛇行する回数も適宜変更可能である。図4の場合には3つの開口部70であるが、開口部70をさらに増やせば電極間の蛇行回数をより増やすことができる。
次に実施例を挙げて本発明をより具体的に説明する。ただし、本発明はこれらの実施例のみに限定されるものではない。
(金微粒子を担持した触媒体の作製)
無機微粒子として、市販のジルコニア微粒子(日本電工株式会社製、PCS)を溶媒であるメタノールに対して10.0質量%加えて、塩酸を用いてpHを3.0に調整した。調整後ビーズミルにより平均粒子径20nmに粉砕分散し、ジルコニア微粒子分散液を作製した。
次に、表面をアルカリ洗剤で洗浄後、イオン交換水で洗浄し、メタノールに浸漬後、乾燥機で乾燥させたアルミナ織物(株式会社ニチビ製)を、上記ジルコニア微粒子分散液に浸漬させ、エアーブロアーで余剰分を除去した後、110℃、2分間乾燥した。
続いて、無機微粒子に金を担持する処理として、0.5mmolの塩化金酸(HAuCl4・4H2O)を100mlの水に溶解させ、70℃に加温して水酸化ナトリウム(NaOH)水溶液でpH7に調製し、上記前駆体を1時間浸漬させた。次に、上記水溶液からアルミナ織物を取り出し、水洗処理を3回行った。その後、窒素雰囲気下、300℃で2時間加熱し、金微粒子を担持したアルミナ織物を得た。
作製した金微粒子を担持した触媒体を用いてアンモニアの分解反応を実施形態で示したガス処理装置により行った。アンモニアを10,000ppm含む窒素ガス、トリメチルアミンを10,000ppm含む窒素ガス、室内空気を混合して反応ガスを調製し、それぞれのガス流量はサーマルマスフローコントローラーで制御した。反応ガスの分析は長光路(20m)のガスセルを装填した赤外分光光度計(FTIR−6000、日本分光株式会社製)を用いた。反応条件はアンモニア濃度5ppm、トリメチルアミン濃度10ppm、酸素濃度20%、相対湿度50%、ガス流量250L/min、触媒量100cm3、反応温度室温とした。
プラズマの発生には、誘電体バリア放電による平行平板電極(誘電体マイカに銅テープを貼り付けた電極)を用いた。印加電圧は〜17kVpk−pkの範囲に設定し、周波数は10kHzに固定した。放電電力は、V-Qリサージュ法により求めた。
上記の作成した触媒体を用いてガス分解処理を行ったガス処理装置の実施例、比較例の構成は以下のとおりである。
(実施例1)
平行平板電極間に下方から順次に触媒体である金微粒子を担持したアルミナ織物、ガス誘導板、金微粒子を担持したアルミナ織物、ガス誘導板、と交互に図4のように多段に積層したものを挿入した。金微粒子を担持したアルミナ織物(触媒体)は2段目、4段目、6段目、8段目、10段目とした。ガスの経路は入口の1段目から入り、出口の11段目から排出される。実施例1では重ねるガス誘導板7の開口部70の数を、図4と同じく3つとした。つまり、電極の対向方向に延びる隔壁を2つ配置した場合と同様の構造とした。この場合、電極間に導入されたガスは、1段目から入って上方向、下方向、上方向と蛇行して11段目から排出される。
(実施例2)
開口部70を4つ有するガス誘導板7を用いて蛇行流路を構成した。つまり、電極対向方向に延びる隔壁を3つ配置した場合と同様の構造とした。それ以外は、実施例1と同様にして分解反応を行った。
(実施例3)
開口部70を5つ有するガス誘導板7を用いて蛇行流路を構成した。つまり、電極対向方向に延びる隔壁を4つ配置した場合と同様の構造とした。それ以外は、実施例1と同様にして分解反応を行った。
(比較例1)
金微粒子を担持したアルミナ織物のみを実施例と同数になるように1段目から5段目まで積層し、さらにガスを通すための6段目にスペーサ12を図5のように1段分積層して、ガスの経路が6段目に形成される導入口から導入され、6段目の排出口から排出される構成とした。ガス流れ方向に垂直に配列する隔壁はなく、矢印で示すような蛇行しない流路とした。流量は実施例と同様に250L/minにして分解反応を行った。
ガス分解処理の結果として、処理対象のガスに含まれるアンモニアとトリメチルアミンの除去率を表1に示す。
上記の結果から、比較例はアンモニア、トリメチルアミンを分解するが、除去率が不十分である。これは、ガスが5段目の触媒フィルタの表面でしか接触していないと考えられる。これに対して実施例はアンモニア、トリメチルアミンを効率良く除去することが確認された。これは、ガスが触媒フィルタを通る(通過する)流路であることによって、触媒フィルタと有害ガスの接触効率が向上し、さらに蛇行流路によってガス滞留時間を増加させることができ、有害ガスを効率良く分解すると考えられる。
1:印加電極
2:接地電極
3:誘電体
4:触媒体
5:隔壁
6:電源
7:ガス誘導板
70:開口部
71:導入口用誘導板
72:排出口用誘導板
74:連結用開口部
8:側壁部
10:ガス処理装置

Claims (5)

  1. 第1の電極板と、前記第1の電極板に対向する第2の電極板と、両電極板の互いに対向する対向面をそれぞれ覆う誘電体と、を備える電極間にプラズマを発生させるプラズマ発生部と、
    前記電極間に導入される処理対象のガスが流れる、前記電極間に形成される蛇行した蛇行流路と、
    前記蛇行流路に配置される処理対象のガスの分解反応を促進する触媒が固定された触媒体と、を備え
    前記電極間に、複数の開口部が並んで形成されるガス誘導板と、前記開口部を塞ぐように配置される、前記触媒体である通気性を有するフィルタシートと、が交互に重ねられ、重なった複数の前記ガス誘導板の前記両電極板の対向方向に重なる開口部によって前記両電極板の対向方向に沿った流路が複数形成され、隣り合う前記流路が互いに連結されて前記蛇行流路を構成することを特徴とするガス処理装置。
  2. 前記フィルタシートの形態が、繊維構造体、ハニカム構造体、多孔質構造体であることを特徴とする請求項に記載のガス処理装置。
  3. 重なった前記ガス誘導板のうち、前記第1の電極板を覆う前記誘電体に接する前記ガス誘導板と、前記第2の電極板を覆う前記誘電体に接するガス誘導板と、が、前記隣り合う流路を連結する連結用開口部を有することを特徴とする請求項に記載のガス処理装置。
  4. 前記第1の電極板を覆う前記誘電体に接する前記ガス誘導板と、前記第2の電極板を覆う前記誘電体に接するガス誘導板のいずれかが前記電極間にガスを取り込む導入口を形成し、前記第1の電極板を覆う前記誘電体に接する前記ガス誘導板と、前記第2の電極板を覆う前記誘電体に接するガス誘導板のいずれかが前記電極間からガスを排出する排出口を形成することを特徴とする請求項に記載のガス処理装置。
  5. 前記第1の電極板と前記第2の電極板の距離が、1mm以上10mm以下であることを
    特徴とする請求項1からのいずれか一つに記載のガス処理装置。
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