JP6368536B2 - 自動分析装置および分析方法 - Google Patents
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Description
以下、実施例を図面を用いて説明する。
図1において、1はサンプルディスク、2は試薬ディスク、3は反応ディスク、4は反応槽、5はサンプリング機構、6は試薬分注機構、7は攪拌機構、8は測光機構、9は洗浄機構、10はコンピュータ(PC)、11は電解質測定部、12は記憶装置、13は制御部、14は圧電素子ドライバ、15は攪拌機構コントローラ、16は試料容器、17は円形サンプルディスク、18は試薬ボトル、19は円形試薬ディスク、20は保冷庫、21は反応容器、22は反応容器ホルダ、23は駆動機構、24はサンプルプローブ、25はサンプルプローブ支承軸、26はサンプルプローブアーム、27は試薬プローブ、28は試薬プローブ支承軸、29は試薬プローブアーム、30は電解質測定用サンプリング機構、31は固定部、33はノズル、34は上下駆動機構、35は電解質測定用サンプルプローブ、36は電解質測定用サンプルプローブ支承軸、37は電解質測定用サンプルプローブアームである。
本実施の形態に係る自動分析装置は、主に、複数の試料容器16が載置されるサンプルディスク1と、複数の試薬ボトル18が載置される試薬ディスク2と、複数の反応容器21が載置される反応ディスク3と、サンプルディスク1と反応ディスク3との近傍に設置されたサンプリング機構5と、試薬ディスク2と反応ディスク3との近傍に設置された試薬分注機構6と、反応ディスク3の近傍に設置された攪拌機構7、測光機構8、洗浄機構9、電解質測定部11、および電解質測定用サンプリング機構30等を有して構成される。
サンプルディスク1は、円形サンプルディスク17上に、分析対象の試料(サンプルとも記す)を収容する複数の試料容器16が円周上に並んで載置されている。このサンプルディスク1の近傍には、サンプリング機構5が設置されている。このサンプリング機構5は、該当する試料容器16から試料を吸入し、この試料を該当する反応容器21に吐出するサンプルプローブ24がサンプルプローブ支承軸25に固定されたサンプルプローブアーム26に取り付けられている。
試薬ディスク2は、円形試薬ディスク19上に、試薬を収納する複数の試薬ボトル18が円周上に並んで載置されている。この試薬ディスク2には、保冷庫20が設置されている。また、この試薬ディスク2の近傍には、試薬分注機構6が設置されている。この試薬分注機構6は、該当する試薬ボトル18から試薬を吸入し、この試薬を該当する反応容器21に吐出する試薬プローブ27が試薬プローブ支承軸28に固定された試薬プローブアーム29に取り付けられている。
反応ディスク3は、複数の反応容器21が保持される複数の反応容器ホルダ22が円周上に並んで載置されている。この反応ディスク3には、反応槽4が設置されている。この反応ディスク3は、駆動機構23により間欠回転可能となっている。また、この反応ディスク3の近傍には、攪拌機構7、測光機構8、洗浄機構9、電解質測定部11、電解質測定用サンプリング機構30等が設置されている。
攪拌機構7は、反応容器21内の内容物(試料と試薬)を攪拌するための機構であり、圧電素子ドライバ14、攪拌機構コントローラ15等から構成される。測光機構8は、反応容器21内の内容物を透過した透過光および内容物にて散乱した散乱光を測定するための機構であり、図示しない光源や検出器等から構成される。洗浄機構9は、反応容器21内を洗浄するための機構であり、ノズル33、上下駆動機構34等から構成される。
電解質測定部11は、試料の電解質測定を行うための装置であり、イオン選択電極や比較電極等から構成される。電解質測定用サンプリング機構30は、試料を電解質測定部11に分注するための機構であり、試料を吸入する電解質測定用サンプルプローブ35が電解質測定用サンプルプローブ支承軸36に固定された電解質測定用サンプルプローブアーム37に取り付けられている。
<従来の電解質測定装置>
図2は、従来の電解質測定部の流路構成を示す図である。
〔式1〕 E=E0+RT/nF・ln(f・C)
E:起電力、E0:基準電位、R:気体定数、T:絶対温度、n:イオンの電荷数、F:ファラデー定数、ln:自然対数、f:活量係数、C:イオンの濃度
なお、REF電極12は毎回、一定の電解質濃度を持つ比較電極液と接触する為、常に一定の基準電位E0を生じる。よって、REF電極の電位を基準電位E0としたISE電極の電位を計測することができ、試料溶液中のイオン(電解質)濃度Cを算出することが出来る。
<本発明の第一実施例>
本実施例では、エアギャップ除去流路を備えた電解質測定装置の例を説明する。図5に、本実施例の第一の実施の形態にかかわる電解質測定部の構成図の例を示す。
<本発明の第二実施例>
本実施例では、吸引ノズルから吸引した流体をエアギャップ除去流路204およびISE流路202へと連通するノズル直結分岐流路211の形状について規定した実施例について説明する。
<本発明の第三実施例>
本実施例では、気泡検出器によりエアギャップの存在を検知し、除去する分析装置の例を説明する。図9は、本実施例の第三の実施の形態にかかわる装置の構成例を示す図である。
2 試薬ディスク
3 反応ディスク
4 反応槽
5 サンプリング機構
6 試薬分注機構
7 攪拌機構
8 測光機構
9 洗浄機構
10 コンピュータ(PC)
11 電解質測定部
12 記憶装置
13 制御部
14 圧電素子ドライバ
15 攪拌機構コントローラ
16 試料容器
17 円形サンプルディスク
18 試薬ボトル
19 円形試薬ディスク
20 保冷庫
21 反応容器
22 反応容器ホルダ
23 駆動機構
24 サンプルプローブ
25 サンプルプローブ支承軸
26 サンプルプローブアーム
27 試薬プローブ
28 試薬プローブ支承軸
29 試薬プローブアーム
30 電解質測定用サンプリング機構
31 固定部
33 ノズル
34 上下駆動機構
35 電解質測定用サンプルプローブ
36 電解質測定用サンプルプローブ支承軸
37 電解質測定用サンプルプローブアーム
201 吸引ノズル部
202 ISE流路
203 REF流路
204 エアギャップ除去流路
205,206,207,208 電磁弁
209 ピンチ弁
210 シリンジポンプ
211 ISE電極
212 REF電極
213 試料容器
214 比較電極液ボトル
215 廃液容器
216 気泡検出器
217 液絡部
218 電圧計
219 エアギャップ除去流路入口
220 廃液流路
221 ノズル直結分岐流路
Claims (9)
- イオン感応膜を有するISE電極と、
検体を収容する容器から該検体を吸引するノズルと、
前記ノズルと前記ISE電極を連結する第一流路と、
前記ISE電極とポンプを連結する第二流路と、
前記第一流路から分岐して前記ポンプに連結される第三流路と、
前記ポンプにより吸引する流路を前記第一流路と前記第三流路の間で切り替える切替部と、
前記検体を前記第一流路に導入した後、前記ノズルから吸引された気体を前記第三流路に導入するよう前記切替部を制御する制御部と、を備え、
前記第三流路の断面積は、前記第一流路の断面積よりも大きい、自動分析装置。 - 前記ノズルを前記容器に対して上下に駆動させるノズル駆動部を備え、
前記制御部は、
前記ノズルを前記容器内の検体に浸漬させて該検体を吸引し前記ISE電極へ導入する第一の吸引動作と、
前記ノズルを前記容器内の検体に浸漬させずに気体を吸引する第二の吸引動作と、
吸引した気体を前記第三流路へ導入する第三の吸引動作と、を有し、
前記第一の吸引動作を実行する前に前記第三の吸引動作を実行するよう、前記切替部、前記ポンプ、及び、前記ノズル駆動部の動作を制御する、請求項1記載の自動分析装置。 - 前記第三流路は、前記第一流路に対して重力方向上向きに分岐して連結されている、請求項1又は2に記載の自動分析装置。
- 前記ノズル、及び、前記第三流路への分岐部を一体的に形成した部材を有する、請求項1乃至3何れか一に記載の自動分析装置。
- 前記第三流路への分岐部と前記ノズル先端との間に気体の有無を検出する検出器を備える、請求項1乃至4何れか一に記載の自動分析装置。
- 前記制御部は、前記検出器で気体の存在を検出したタイミングに基づいて、前記切替部を制御する、請求項5記載の自動分析装置。
- ISE電極を用いて、連続的に検体を分析する分析方法において、
前記ISE電極に連結された第一流路に第一検体を導入する第一検体導入工程と、
前記ISE電極に導入された前記第一検体中の成分を分析する分析工程と、
測定が完了した第一検体を前記ISE電極から排出する排出工程と、
連続的に測定する第二検体を前記第一流路に導入する第二検体導入工程と、を有し、
前記第一検体導入工程の後、前記第二検体導入工程を実施する前に、前記第一流路に気体を導入する気体導入工程と、前記第一流路に導入された気体を該第一流路から分岐した第二流路を介して前記第一流路から除去する気体除去工程と、を有し、
前記第二流路の断面積は、前記第一流路の断面積よりも大きい、分析方法。 - 前記第二流路は、前記第一流路に対して重力方向上向きに分岐して連結されている、請求項7記載の分析方法。
- 前記第一流路内に気体があるか否かを判断する判断工程を有し、
前記判断工程により気体があると判断された場合に前記気体除去工程を実施する、請求項7又は8に記載の分析方法。
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