JP6320983B2 - 硫化物ガラスセラミックスの製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、硫化物固体電解質の製造方法に関する。
近年におけるパソコン、ビデオカメラ、及び携帯電話等の情報関連機器や通信機器等の急速な普及に伴い、その電源として利用される電池の開発が重要視されている。該電池の中でも、エネルギー密度が高いという観点から、リチウム電池が注目を浴びている。
現在市販されているリチウム電池は、可燃性の有機溶媒を含む電解液が使用されているため、短絡時の温度上昇を抑える安全装置の取り付けや短絡防止のための構造・材料面での改善が必要となる。これに対し、電解液を固体電解質層に変えて、電池を全固体化したリチウム電池は、電池内に可燃性の有機溶媒を用いないので、安全装置の簡素化が図れ、製造コストや生産性に優れると考えられている。
このような固体電解質層に用いられる固体電解質としては、例えば、硫化リチウム、五硫化二リン、ヨウ化リチウム、及び臭化リチウムを原料とする硫化物固体電解質が知られている(例えば、特許文献1)。
硫化リチウム、五硫化二リン等を原料とする硫化物固体電解質の製造方法としては、例えば、特許文献2及び3には、炭化水素系溶媒を用いた方法が提案されている。
また、特許文献4には、硫化物及び1種以上のハロゲン化物を含有する硫化物固体電解質と、エーテル化合物と、溶媒とを含む混合物を粉砕することにより、微粒化前の硫化物固体電解質の付着及び造粒を防止する方法が開示されている。
一方、有機溶媒を用いた硫化物固体電解質の製造方法では、得られた硫化物固体電解質中に有機溶媒が残存した場合、Liイオン伝導度を低下させる原因となるため、このような残留溶媒を低減させる必要性があることが知られている(例えば、特許文献5)。
WO2014/208239号公報 WO2009/047977号公報 特開2009−110920号公報 特開2015−56333号公報 特開2014−127388号公報
特許文献2及び3のように炭化水素系溶媒を用いた場合には、条件によっては、得られた硫化物固体電解質中に含まれる残留溶媒の量を低減させることが十分ではない場合があった。
本発明は、このような実情に鑑みてなされたものであり、溶媒を用いた製造方法で、溶媒含有量が低減されたLi元素、P元素、S元素、及び1以上のハロゲン元素を含有する硫化物固体電解質の製造方法を提供することを目的とする。
本発明者らは、上記の課題を解決するべく鋭意検討した結果、炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒を用いることにより、上記課題を解決することを見出した。
本発明は、かかる知見に基づいて完成したものである。
すなわち、本発明は、以下の[1]〜[10]を提供する。
[1]リチウム化合物、リン化合物、及ハロゲン化合物を、炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で反応させLi元素、P元素、S元素、及び1以上のハロゲン元素を含有する硫化物ガラスを製造し、前記硫化物ガラスを加熱して硫化物ガラスセラミックスを製造する、硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
[2]前記リチウム化合物が硫化リチウムである、上記[1]に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
[3]前記リン化合物が五硫化二リンである、上記[1]又は[2]に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
[4]前記ハロゲン化合物がヨウ化リチウム及び臭化リチウムのうち少なくとも1種である、上記[1]〜[3]のいずれかに記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
[5]前記加熱が、前記硫化物ガラスが結晶化率1%以上50%以下の硫化物ガラスセラミックスとなる第1の加熱と、該第1の加熱後の結晶化率より結晶化率をさらに向上させる第2の加熱とを含む、上記[1]〜[4]のいずれかに記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
[6]前記炭化水素が芳香族炭化水素である、上記[1]〜[5]のいずれかに記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
[7]前記芳香族炭化水素がトルエンである、上記[6]に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
[8]前記エーテル化合物が鎖状エーテルである、上記[1]〜[7]のいずれかに記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
[9]前記鎖状エーテルがジブチルエーテルである、上記[8]に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
[10]リチウム化合物、リン化合物、及びハロゲン化合物を、炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で反応させることを含む、Li元素、P元素、S元素、及び1以上のハロゲン元素を含有する、硫化物固体電解質の製造方法。
本発明によれば、溶媒含有量が低減されたLi元素、P元素、S元素、及び1以上のハロゲン元素を含有する硫化物固体電解質の製造方法を提供することができる。
本発明により得られる硫化物固体電解質は、硫化物ガラスと硫化物ガラスセラミックスとを含むが、硫化物ガラスセラミックスであることが好ましい。
ここで、「硫化物ガラス」とは、X線回折測定において、X線回折パターンが、実質的に固体電解質原料由来のピーク以外のピークが観測されないハローパターンである硫化物固体電解質である。なお、固体電解質原料由来のピークの有無は問わないものとする。また、「硫化物ガラスセラミックス」とは、X線回折測定において、X線回折パターンに前記硫化物固体電解質の結晶構造由来のピークが観測される硫化物固体電解質である。なお、固体電解質原料由来のピークの有無は問わないものとする。すなわち、硫化物ガラスセラミックスは、硫化物固体電解質由来の結晶構造を含み、一部が硫化物固体電解質由来の結晶構造であっても、全部が硫化物固体電解質由来の結晶構造であってもよい。
硫化物ガラスセラミックスは、例えば、硫化物ガラスを結晶化して得ることができる。
本発明の硫化物固体電解質の製造方法により得られる硫化物固体電解質は、Li元素、P元素、S元素、及び1以上のハロゲン元素を含む。硫化物固体電解質を構成する元素の種類は、例えば、ICP発光分析装置により確認できる。
本発明により得られる硫化物固体電解質の結晶構造としては、例えば、LiPS結晶構造、Li結晶構造、LiPS結晶構造、Li11結晶構造、Li4−xGe1−x系チオリシコンリージョンII型結晶構造(Kannoら、Journal of The Electrochemical Society,148(7)A742−746(2001)参照)、Li4−xGe1−x系チオリシコンリージョンII型と類似の結晶構造(SolidStateIonics 177(2006)2721−2725参照)等が挙げられる。
CuKα線を用いたX線回折測定において、LiPS結晶構造の回折ピークは、例えば2θ=17.5°、18.3°、26.1°、27.3°、30.0°付近に現れ、Li結晶構造の回折ピークは、例えば2θ=16.9°、27.1°、32.5°付近に現れ、LiPS結晶構造の回折ピークは、例えば2θ=15.3°、25.2°、29.6°、31.0°付近に現れ、Li11結晶構造の回折ピークは、例えば2θ=17.8°、18.5°、19.7°、21.8°、23.7°、25.9°、29.6°、30.0°付近に現れ、Li4−xGe1−x系チオリシコンリージョンII型結晶構造の回折ピークは、例えば2θ=20.1°、23.9°、29.5°付近に現れ、Li4−xGe1−x系チオリシコンリージョンII型と類似の結晶構造の回折ピークは、例えば2θ=20.2、23.6°付近に現れる。
本発明により得られる硫化物固体電解質は、CuKα線を用いたX線回折測定において、2θ=20.2°、23.6°にピークを有することが好ましい。すなわち、Li4−xGe1−x系チオリシコンリージョンII型と類似の結晶構造を有することが好ましい。なお、この結晶相を高Liイオン伝導相と称する場合がある。ここで、2θ=20.2°のピークとは、厳密な2θ=20.2°のピークのみならず、2θ=20.2°±0.5°の範囲内にあるピークをいう。結晶の状態によって、ピークの位置が多少前後する可能性があるため、上記のように定義する。同様に、2θ=23.6°のピークとは、厳密な2θ=23.6°のピークのみならず、2θ=23.6°±0.5°の範囲内にあるピークをいう。また、高Liイオン伝導相は、2θ=20.2°、23.6°の他に、通常、2θ=29.4°、37.8°、41.1°、47.0°にピークを有する。これらのピーク位置についても、±0.5°の範囲内で前後していてもよい。また、特に硫化物固体電解質は、高Liイオン伝導相のピークのみを有すること、すなわち、高Liイオン伝導相を単相として有することが好ましい。Liイオン伝導性が高い硫化物固体電解質とすることができるからである。
以下、本発明の硫化物固体電解質の製造方法について詳細に説明する。
本発明のLi元素、P元素、S元素、及び1以上のハロゲン元素を含有する硫化物固体電解質の製造方法は、リチウム化合物、リン化合物、及びハロゲン化合物を、炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で反応させること(工程)を含む。
ここで、本発明における各工程の中には、本明細書中で説明した以外の工程が含まれていてもよく、それらを排除するものではない。
本発明で用いる原料は、リチウム化合物、リン化合物、ハロゲン化合物を含んでいれば特に限定されない。
リチウム化合物としては、例えば、硫化リチウム(LiS)、酸化リチウム(LiO)、炭酸リチウム(LiCO)等が挙げられ、中でも、硫化リチウム(LiS)が好ましい。リチウム化合物は、リチウム金属単体を含んでいてもよい。
上記硫化リチウムは、特に制限なく使用できるが、高純度のものが好ましい。硫化リチウムは、例えば、特開平7−330312号、特開平9−283156号、特開2010−163356、特願2009−238952に記載の方法により製造することができる。
具体的には、炭化水素系有機溶媒中で水酸化リチウムと硫化水素とを70℃〜300℃で反応させて、水硫化リチウムを生成し、次いでこの反応液を脱硫化水素化することにより硫化リチウムを合成できる(特開2010−163356)。
また、水溶媒中で水酸化リチウムと硫化水素とを10℃〜100℃で反応させて、水硫化リチウムを生成し、次いでこの反応液を脱硫化水素化することにより硫化リチウムを合成できる(特願2009−238952)。
リン化合物としては、例えば、三硫化二リン(P)、五硫化二リン(P)等の硫化リン、リン酸ナトリウム(NaPO)、リン酸リチウム(LiPO)等が挙げられ、中でも、硫化リンが好ましく、五硫化二リン(P)がより好ましい。リン化合物は、リン単体を含んでいてもよい。また、五硫化二リン(P)等のリン化合物は、工業的に製造され、販売されているものであれば、特に限定なく使用することができる。
なお、リチウム化合物とリン化合物との組合せは、リチウム化合物及びリン化合物の少なくとも一方が硫黄元素を含むことが好ましい。中でも、リチウム化合物と硫化リンとの組合せがより好ましく、硫化リチウムと硫化リンとの組合せが更に好ましい。
ハロゲン化合物としては、ヨウ素化合物、フッ素化合物、塩素化合物、臭素化合物が挙げられる。ハロゲン化合物として、ヨウ素化合物及び臭素化合物のうち少なくとも1つを用いることが好ましい。ハロゲン化合物として、ヨウ素化合物及び臭素化合物を用いることがより好ましい。
ハロゲン化合物に含まれるハロゲン元素としては、ヨウ素元素、フッ素元素、塩素元素、臭素元素が挙げられる。
ハロゲン化合物としては、例えば、NaI、NaF、NaCl、NaBr等のハロゲン化ナトリウム;LiF、LiCl、LiBr、LiI等のハロゲン化リチウム;BCl、BBr、BI等のハロゲン化ホウ素;AlF、AlBr、AlI、AlCl等のハロゲン化アルミニウム;SiF、SiCl、SiCl、SiCl、SiBr、SiBrCl、SiBrCl、SiI等のハロゲン化ケイ素;PF、PF、PCl、PCl、POCl、PBr、POBr、PI、PCl、P等のハロゲン化リン;SF、SF、SF、S10、SCl、SCl、SBr等のハロゲン化硫黄;GeF、GeCl、GeBr、GeI、GeF、GeCl、GeBr、GeI等のハロゲン化ゲルマニウム;AsF、AsCl、AsBr、AsI、AsF等のハロゲン化ヒ素;SeF、SeF、SeCl、SeCl、SeBr、SeBr等のハロゲン化セレン;SnF、SnCl、SnBr、SnI、SnF、SnCl、SnBr、SnI等のハロゲン化スズ;SbF、SbCl、SbBr、SbI、SbF、SbCl等のハロゲン化アンチモン;TeF、Te10、TeF、TeCl、TeCl、TeBr、TeBr、TeI等のハロゲン化テルル;PbF、PbCl、PbF、PbCl、PbBr、PbI等のハロゲン化鉛;BiF、BiCl、BiBr、BiI等のハロゲン化ビスマス等が挙げられる。
中でも、塩化リチウム(LiCl)、臭化リチウム(LiBr)、ヨウ化リチウム(LiI)等のハロゲン化リチウム、五塩化リン(PCl)、三塩化リン(PCl)、五臭化リン(PBr)、三臭化リン(PBr)等のハロゲン化リンが好ましく挙げられる。中でも、塩化リチウム(LiCl)、臭化リチウム(LiBr)、ヨウ化リチウム(LiI)等のハロゲン化リチウム、三臭化リン(PBr)が好ましく、塩化リチウム(LiCl)、臭化リチウム(LiBr)、ヨウ化リチウム(LiI)等のハロゲン化リチウムがより好ましく、特に臭化リチウム(LiBr)及びヨウ化リチウム(LiI)のうち少なくとも1種が好ましい。
ハロゲン化合物は、上記の化合物の中から一種を単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。すなわち上記の化合物の少なくとも1つを用いることができる。また、この場合において、ハロゲン元素は、上記のハロゲン元素の中から一種を単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。
上記各原料の全原料中の割合は特に限定されるものではない。例えば、原料としてLiS及びPを用いる場合、LiS及びPの合計に対するLiSの割合は、68mol%〜82mol%の範囲内であることが好ましく、72mol%〜78mol%の範囲内であることがより好ましく、74mol%〜76mol%の範囲内であることが更に好ましい。後述するオルト組成近傍の組成を採用することで、化学的安定性の高い硫化物固体電解質とすることができるからである。
また、原料としてLiI及びLiBrを用いる場合、LiI及びLiBrの全原料中の合計割合は、所望の硫化物固体電解質を得ることができる割合であれば特に限定されるものではないが、例えば、5mol%〜40mol%の範囲内であることが好ましく、10mol%〜35mol%の範囲内であることがより好ましく、15mol%〜30mol%の範囲内であることが更に好ましい。
また、LiI及びLiBrの合計に対するLiBrの割合(LiBr/LiI+LiBr)は、特に限定されるものではなく、任意の割合を採用することができる。上記LiBrの割合は特に限定されるものではないが、LiBrをLiIに置換した組成にしたこと以外は同様にして作製した硫化物固体電解質(比較対象としての硫化物固体電解質)に対して、同程度以上のLiイオン伝導度が得られる割合であることが好ましく、比較対象としての硫化物固体電解質よりも高いLiイオン伝導度が得られる割合であることがより好ましい。上記LiBrの割合は、例えば、1mol%〜99mol%の範囲内であり、5mol%〜95mol%の範囲内であることが好ましく、10mol%〜90mol%の範囲内であることがより好ましく、20mol%〜80mol%の範囲内であることが更に好ましい。例えば、30mol%〜75mol%、40mol%〜75mol%である。
また、本発明においては、全原料に対するLiIの割合が、3mol%以上20mol%以下が好ましく、5mol%以上15mol%以下がより好ましい。
また、本発明においては、全原料に対するLiBrの割合が、5mol%以上30mol%以下が好ましく、10mol%以上20mol%以下がより好ましい。
なお、硫化物固体電解質が、a((1−b)LiI・bLiBr)・(1−a)(cLiS・(1−c)P)の組成を有する場合、aが上記LiI及びLiBrの合計の割合に該当し、bが上記LiBrの割合に該当し、cが上記LiSの割合に該当する。
本発明で用いる溶媒は炭化水素及びエーテル化合物を含む。溶媒として炭化水素と共にエーテル化合物を併用することにより、乾燥時に炭化水素を除去しやすくし、得られる硫化物固体電解質中に含まれる溶媒含有量を低減することができる。
炭化水素は、炭素原子と水素原子からなる溶媒であり、該炭化水素として、例えば、飽和炭化水素、不飽和炭化水素、芳香族炭化水素等が挙げられる。
飽和炭化水素としては、例えば、ヘキサン、ペンタン、2−エチルヘキサン、ヘプタン、オクタン、デカン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサン等が挙げられ、市販品としては、IPソルベント1016((株)出光興産製)、IPソルベント1620((株)出光興産製)等が挙げられる。これらは一種を単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。
不飽和炭化水素としては、例えば、ヘキセン、ヘプテン、シクロヘキセン等が挙げられる。
芳香族炭化水素としては、例えば、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、デカリン、1,2,3,4−テトラヒドロナフタレン等が挙げられ、市販品としては、イプゾール100((株)出光興産製)、イプゾール150((株)出光興産製)等が挙げられる。
上記炭化水素は、一種を単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。
炭化水素は、好ましくは芳香族炭化水素であり、さらに好ましくは下記一般式(1)で表わされる芳香族炭化水素である。
Ph−(R)n (1)
(式中、Phは、芳香族炭化水素基であり、Rは炭素数1〜3のアルキル基である。nは1〜5から選択される整数である。)
上記Phの芳香族炭化水素基としては、置換又は無置換の環形成炭素数が6〜30である芳香族炭化水素基が挙げられる。具体的には、フェニル基、ナフチル基、アントラセニル基、ナフタセニル基等が挙げられ、中でも、フェニル基、ナフタセニル基が好ましい。置換基としては、例えば、メチル基、エチル基等が挙げられ、中でもメチル基が好ましい。
上記Rの炭素数1〜3のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基等が挙げられ、中でも、メチル基、エチル基が好ましい。
また、nは1〜5から選択される整数であり、好ましくは1又は2である。
上記一般式(1)で表わされる芳香族炭化水素としては、例えばトルエン、キシレン、エチルベンゼン等が挙げられ、好ましくはトルエンである。
炭化水素中の水分量は、原料及び得られる硫化物固体電解質との反応を考慮して、50ppm(重量)以下であることが好ましい。水分は反応により硫化物固体電解質の変性を引き起こし、該硫化物固体電解質の性能を悪化させる。そのため、水分量は低いほど好ましく、炭化水素中の水分量は、より好ましくは30ppm以下であり、さらに好ましくは20ppm以下である。
エーテル化合物は、エーテル基(C−O−C)を有するものであれば特に限定されるものではない。中でも、エーテル化合物は、酸素元素に結合した2つの炭化水素基を有することが好ましい。原料及び得られる硫化物固体電解質との反応性が低いからである。また、上記炭化水素基の炭素数は、それぞれ10以下であることが好ましい。炭素数が大きすぎると、乾燥によるエーテル化合物の除去が困難になる可能性があるからである。上記エーテル化合物は、一種を単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。
上記炭化水素基は、鎖状であってもよく、環状であってもよいが、鎖状であることが好ましい。また、上記炭化水素基は、飽和炭化水素基または芳香族炭化水素基であることが好ましい。上記炭化水素基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基等のアルキル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等のシクロアルキル基、フェニル基、ベンジル基等の芳香族炭化水素基等を挙げることができる。
エーテル化合物の分子量は、例えば46〜278の範囲内であることが好ましく、74〜186の範囲内であることがより好ましい。
エーテル化合物の具体例としては、ジメチルエーテル、メチルエチルエーテル、ジプロピルエーテル、ジブチルエーテル、シクロペンチルメチルエーテル、アニソール等を挙げることができ、好ましくはジブチルエーテル(DBE)である。
エーテル化合物の添加量は、原料の全量に対して、例えば0.01重量%〜100重量%の範囲内であることが好ましく、0.1重量%〜100重量%の範囲内であることがより好ましく、1重量%〜50重量%の範囲内であることがさらに好ましい。エーテル化合物の添加量を0.01重量%以上とすることで、脱溶媒効果を発揮し、得られる硫化物固体電解質中に含まれる溶媒含有量を低減することができる。また、エーテル化合物の添加量を100重量%以下とすることで、エーテル化合物を除去し易くすることができる。
炭化水素とエーテル化合物との混合比は、本発明の効果を発揮する観点から、体積比で480:1〜50:1であることが好ましく、400:1〜120:1であることが好ましく、240:1〜150:1であることがより好ましい。
なお、本発明の効果を阻害しない範囲で他の溶媒を添加してもよい。他の溶媒としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン等のケトン類;エタノール、ブタノール、ヘキサノール、2-メチルヘキサノール、2-エチルヘキサノール等のアルコール類;酢酸エチル、酢酸ブチル、酪酸ブチル等のエステル類;ジクロロメタン、クロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素等が挙げられる。
前記原料であるリチウム化合物、リン化合物、及びハロゲン化合物を、炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で反応させること(工程)は、特に制限はないが、該原料を非晶質化すること(工程)を含むことが好ましい。具体的には、該原料を炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で反応させること(工程)、該原料を炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で機械力を付与し反応させること(工程)等が好ましい。
また、上記工程において、上記原料を炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で反応させる方法としては、例えば、メカニカルミリング法(以下、MM法ともいう)、スラリー法等が挙げられる。
以下、これらの方法を説明する。
(I)メカニカルミリング法(MM法)
MM法は、例えば、特開平11−134937号公報、特開2004−348972号公報、特開2004−348973号公報に記載されている。
具体的には、例えば、LiS、P、LiI、LiBr等の硫化物固体電解質の原料を所定量乳鉢にて混合し、得られた混合物と、炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒とを各種ボールミル等を使用して所定時間反応させることにより、硫化物ガラスが得られる。
上記原料を用いたMM法は、室温(25℃)で反応させることができる。そのため、原料の熱分解が起らず、仕込み組成の硫化物ガラスを得ることができるという利点がある。
また、MM法では硫化物ガラスの製造と同時に、微粉末化できるという利点もある。
MM法には、回転ボールミル、転動ボールミル、振動ボールミル、遊星ボールミル等種々の形式を用いることができる。
MM法の条件としては、例えば、遊星型ボールミル機を使用した場合、回転速度を数十〜数百回転/分とし、0.5時間〜100時間処理すればよい。
また、特開2010−90003号公報に記載されているように、ボールミルのボールは異なる径のボールを混合して使用してもよい。特開2010−30889号公報に記載のようにMM処理の際のミル内の温度を調整してもよい。MM処理時の原料温度は、60℃以上160℃以下になるようにすることが好ましい。
(II)スラリー法
スラリー法は、国際公開第2004/093099号パンフレット、国際公開第2009/047977号パンフレットに記載されている。
具体的には、例えば、所定量のLiS、P、LiI、LiBr等の硫化物固体電解質の原料を炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で所定時間反応させることにより、硫化物ガラスが得られる。
LiI、及びLiBrは、炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒に溶解するか、又は粒子であることが好ましい。
ここで、特開2010−140893号公報に記載されているように、反応を進行させるため、原料を含むスラリーを粉砕機と反応槽との間で循環させながら反応させてもよい。
上記硫化物ガラスは、LiS、P、LiI、LiBr等の硫化物固体電解質の原料を、炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で粉砕しつつ反応させるステップと、LiS、P、LiI、LiBr等の硫化物固体電解質の原料を、炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で反応させるステップとを交互に行うことによっても製造できる。
例えば、粉砕機中で、上記原料を炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で粉砕しつつ反応させて硫化物ガラスを合成し、別途、反応槽中で、原料を炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で反応させて硫化物ガラスを合成し、反応中の原料を、粉砕機と反応槽との間を循環させる。
また、国際公開第2009/047977号パンフレットに記載されているように、原料の硫化リチウムを予め粉砕しておくと効率的に反応を進行させることができる。
反応温度は、好ましくは20℃以上80℃以下、より好ましくは20℃以上60℃以下である。反応時間は、好ましくは1時間以上16時間以下、より好ましくは2時間以上14時間以下である。
上記MM法、及びスラリー法の温度条件、処理時間、仕込み量等の製造条件は、使用設備等に合わせて適宜調整することができる。
また、上記原料を非晶質化する方法としては、低コストの観点から、スラリー法が好ましい。
また、前記反応後に、反応物から炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒を取り除くことが、得られる硫化物固体電解質中に含まれる溶媒含有量を低減させる観点から好ましい。
本発明の硫化物固体電解質の製造方法は、リチウム化合物、リン化合物、及びハロゲン化合物を炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で反応させる工程の後に、該工程で得られた硫化物ガラスを加熱して硫化物ガラスセラミックスとすること(熱処理工程)を有することが好ましい。
硫化物ガラスに熱処理を施すことにより、溶媒含有量が低減された硫化物ガラスセラミックスを得ることができる。
熱処理工程における熱処理温度は、通常、150℃以上である。中でも、熱処理温度は、170℃以上であることが好ましく、190℃以上であることがより好ましい。一方、熱処理温度の上限値は特に限定されるものではないが、300℃以下であることが好ましく、280℃以下であることがより好ましい。
なお、熱処理時間は、所望の硫化物ガラスセラミックスが得られる時間であれば特に限定されるものではないが、例えば、1分間〜24時間の範囲内であり、中でも、1分間〜10時間の範囲内であることが好ましい。また、熱処理は、Arガス、窒素ガス等の不活性ガス雰囲気下、または乾燥空気雰囲気下で、露点が好ましくは−60℃以下、より好ましくは−75℃以下である露点環境で行う。
熱処理の方法は、特に限定されるものではないが、例えば、ホットプレート、チューブヒーター、真空乾燥器等を用いる方法を挙げることができる。また、工業的には、加熱手段と送り機構を有する横型乾燥機、横型振動流動乾燥機等を用いることもできる。
また、上記硫化物ガラスの加熱(熱処理)は、硫化物ガラスが結晶化率50%以下の硫化物ガラスセラミックスとなる第1の加熱(第一の熱処理)と、硫化物ガラスセラミックスの結晶化率が向上する第2の加熱(第二の熱処理)とを含むことが好ましい。第1の加熱における硫化物ガラスセラミックスの結晶化率の下限は特に無いが、例えば1%以上である。
硫化物ガラスに上記特定の条件により2段階で熱処理を行うことで、得られる硫化物ガラスセラミックス中に含まれる溶媒含有量をより低減させることができる。
ここで、硫化物ガラスセラミックスの結晶化率とは、硫化物ガラスセラミックス中に含まれる硫化物固体電解質由来の結晶構造の割合を意味する。結晶化率は、X線回折(XRD)装置により測定することができ、具体的には実施例に記載の方法により測定することができる。
第1の加熱は、硫化物ガラスセラミックスの結晶化率が好ましくは50%以下、より好ましくは40%以下、さらに好ましくは38%以下となる条件で行う。下限は特に無いが、例えば1%以上、好ましくは5%以上、より好ましくは10%以上である。硫化物ガラスセラミックスの結晶化率が50%以下であれば、該硫化物ガラスセラミックスが適度に結晶化し、該硫化物ガラスセラミックス中に含まれる溶媒を除去しやすくすることができる。
第1の加熱における熱処理温度は、硫化物ガラスセラミックスの結晶化率が上記範囲内となる温度で行えば特に限定されないが、例えば、100℃以上、得られる硫化物ガラスセラミックスが有する結晶構造の結晶化温度(Tc)以下とすることが好ましく、120℃以上140℃以下とすることがより好ましい。100℃以上とすることで、得られる硫化物ガラスセラミックス中に含まれる溶媒を除去しやすくし、結晶化温度(Tc)以下とすることで、得られる硫化物ガラスセラミックスを適度に結晶化させることができる。
ここで、本発明における結晶化温度(Tc)は、硫化物ガラスセラミックスが有する結晶構造の結晶化温度、すなわち硫化物ガラスセラミックスを得るために必要な原料を用いて得られる硫化物ガラスの結晶化温度であり、示差熱分析(DTA)により確認、測定することができる。例えば、示差熱分析装置(DTA装置)を用いて、10℃/分の昇温条件で示差熱分析(DTA)を行い測定される、最も低温側で観測される発熱ピークを示す温度が結晶化温度である。
第1の加熱における熱処理時間は、所望の硫化物ガラスセラミックスが得られる時間であれば特に限定されるものではないが、例えば、1分間〜10時間の範囲内であることが好ましく、10分間〜5時間の範囲内であることがより好ましく、30分間〜4時間の範囲内であることが更に好ましく、30分間〜3時間の範囲内であることがより更に好ましい。また、熱処理条件及び熱処理の方法は、前述のとおりである。
第2の加熱は、第1の加熱で得られた硫化物ガラスセラミックスの結晶化率より、さらに結晶化率が向上する条件で行う。具体的には、硫化物ガラスセラミックスの結晶化率が、第1の加熱により得られた硫化物ガラスセラミックスの結晶化率よりも、好ましくは10%以上、より好ましくは20%以上増加する条件で行う。
第2の加熱における熱処理温度は、得られる硫化物固体電解質が有する結晶構造の結晶化温度(Tc)以上、結晶化温度(Tc)+60℃以下とすることが好ましく、Tc+15℃以上Tc+45℃以下とすることがより好ましい。上記範囲内とすることにより、得られる硫化物ガラスセラミックスを十分に結晶化させることができ、該硫化物ガラスセラミックス中に含まれる溶媒含有量をより低減させることができる。
第2の加熱における熱処理時間は、所望の硫化物ガラスセラミックスが得られる時間であれば特に限定されるものではないが、例えば、1分間〜10時間の範囲内であることが好ましく、30分〜5時間の範囲内であることがより好ましい。また、熱処理条件及び熱処理の方法は、前述のとおりである。
なお、硫化物ガラスセラミックスの製造方法で用いられる原料及び溶媒は、前記で説明したものを用いることができる。
このようにして得られる硫化物ガラスセラミックス(硫化物固体電解質)中に含まれる溶媒含有量は、硫化物ガラスセラミックス全量に対し、好ましくは2.0重量%以下、より好ましくは1.0重量%以下、更に好ましくは0.5重量%以下とすることができる。
なお、溶媒含有量は、具体的には実施例に記載の方法により測定できる。
また、上記硫化物ガラスセラミックスは、Liイオン伝導性が高いことが好ましく、常温におけるLiイオン伝導度は、3.0×10−3S/cm以上であることが好ましく、4.0×10−3S/cm以上であることがより好ましく、5.0×10−3S/cm以上であることが更に好ましい。
なお、Liイオン伝導度は、具体的には実施例に記載の方法により測定できる。
本発明により得られる硫化物固体電解質は、各元素のモル量が下記式を満たすことが好ましい。
2.2≦(Li/P)≦6.5が好ましく、3.1≦(Li/P)≦4.0がより好ましく、3.2≦(Li/P)≦3.7が更に好ましい。
3.5≦(S/P)≦4.8が好ましく、3.8≦(S/P)≦4.5がより好ましく、3.9≦(S/P)≦4.1が更に好ましい。
0.07≦(Y/P)≦1.9(ここで、Yはヨウ素元素及び臭素元素の合計モル量)が好ましく、0.2≦(Y/P)≦0.8がより好ましく、0.3≦(Y/P)≦0.7が更に好ましい。
本発明により得られる硫化物固体電解質は、リチウム元素(Li)、リン元素(P)、及び硫黄元素(S)を有するイオン伝導体と、ヨウ化リチウム(LiI)と、臭化リチウム(LiBr)とから構成されていることが好ましい。
上記イオン伝導体は、リチウム元素(Li)、リン元素(P)、及び硫黄元素(S)を有するものであれば特に限定されるものではないが、中でも、オルト組成を有することが好ましい。化学的安定性の高い硫化物固体電解質とすることができるからである。ここで、オルトとは、一般的に、同じ酸化物を水和して得られるオキソ酸の中で、最も水和度の高いものをいう。本発明においては、硫化物で最もLiSが付加している結晶組成をオルト組成という。例えば、LiS−P系ではLiPSがオルト組成に該当する。なお、LiS−P系の硫化物固体電解質の場合、オルト組成を得るLiSおよびPの割合は、モル基準で、LiS:P=75:25である。
また、本発明において、「オルト組成を有する」とは、厳密なオルト組成のみならず、その近傍の組成をも含むものである。具体的には、オルト組成のアニオン構造(PS 3−構造)を主体とすることをいう。オルト組成のアニオン構造の割合は、イオン伝導体における全アニオン構造に対して、60mol%以上であることが好ましく、70mol%以上であることがより好ましく、80mol%以上であることが更に好ましく、90mol%以上であることが特に好ましい。なお、オルト組成のアニオン構造の割合は、ラマン分光法、核磁気共鳴法(NMR法)、X線光電子分光法(XPS法)等により決定することができる。
また、本発明により得られる硫化物固体電解質は、LiSを実質的に含有しないことが好ましい。硫化水素発生量の少ない硫化物固体電解質とすることができるからである。LiSは水と反応することで、硫化水素が発生する。例えば、全原料におけるLiSの割合が大きいと、LiSが残存しやすい。「LiSを実質的に含有しない」ことは、X線回折により確認することができる。具体的には、LiSのピーク(2θ=27.0°、31.2°、44.8°、53.1°)を有しない場合は、LiSを実質的に含有しないと判断することができる。
また、本発明により得られる硫化物固体電解質は、架橋硫黄を実質的に含有しないことが好ましい。硫化水素発生量の少ない硫化物固体電解質とすることができるからである。「架橋硫黄」とは、LiSとPとが反応してなる化合物における架橋硫黄をいう。例えば、LiS及びPが反応してなるSP−S−PS構造の架橋硫黄が該当する。このような架橋硫黄は、水と反応しやすく、硫化水素が発生しやすい。例えば、全原料におけるLiSの割合が少ないと、架橋硫黄が生じやすい。「架橋硫黄を実質的に含有しない」ことは、ラマン分光スペクトルの測定により、確認することができる。例えば、LiS−P系の硫化物固体電解質の場合、SP−S−PS構造のピークが、通常402cm−1に現れる。そのため、このピークが検出されないことが好ましい。また、PS 3−構造のピークは、通常417cm−1に現れる。本発明においては、402cm−1における強度I402が、417cm−1における強度I417よりも小さいことが好ましい。より具体的には、強度I417に対して、強度I402は、例えば、70%以下であることが好ましく、50%以下であることがより好ましく、35%以下であることが更に好ましい。
本発明により得られる硫化物固体電解質の形状としては、特に制限はないが、例えば、粒子状を挙げることができる。粒子状の硫化物固体電解質の平均粒径(D50)は、例えば、0.1μm〜50μmの範囲内であることが好ましい。平均粒径(D50)は、粒子径分布積算曲線を描いた時に粒子径の最も小さい粒子から順次積算して全体の50%に達するところの粒子径であり、体積分布は、例えば、レーザー回折/散乱式粒子径分布測定装置を用いて測定することができる。
本発明により得られる硫化物固体電解質は、Liイオン伝導性を必要とする任意の用途に用いることができる。中でも、上記硫化物固体電解質は、電池に用いられることが好ましい。上記硫化物固体電解質は、正極層に用いてもよく、負極層に用いてもよく、電解質層に用いてもよい。なお、各層は、公知の方法により製造することができる。
正極層は、正極活物質と本発明により得られる硫化物固体電解質と導電助剤とを含むことが好ましい。また、バインダーを含んでいてもよい。
上記正極活物質としては、リチウムイオンの挿入脱離が可能な物質、電池分野において正極活物質として公知のものが使用できる。
例えば、V、LiCoO、LiNiO、LiMnO、LiMn、Li(NiCoMn)O(ここで、0<a<1、0<b<1、0<c<1、a+b+c=1)、LiNi1−YCo、LiCo1−YMn、LiNi1−YMn(ここで、0≦Y<1)、Li(NiCoMn)O(0<a<2、0<b<2、0<c<2、a+b+c=2)、LiMn2−ZNi、LiMn2−ZCo(ここで、0<Z<2)、LiCoPO、LiFePO、酸化ビスマス(Bi)、鉛酸ビスマス(BiPb)、酸化銅(CuO)、酸化バナジウム(V13)、LiCoO、LiNiO、LiMn、LiFePO、LiCoPO、LiMn1/3Ni1/3Co1/3、LiMn1.5Ni0.5等の酸化物が挙げられる。それ以外の正極活物質としては、例えば、硫化物系では、単体硫黄(S)、硫化チタン(TiS)、硫化モリブデン(MoS)、硫化鉄(FeS、FeS)、硫化銅(CuS)及び硫化ニッケル(Ni)、硫化リチウム(LiS)、有機ジスルフィド化合物、カーボンスルフィド化合物、硫黄等が使用できる。好ましくは、高い理論容量を有するS、LiSが使用できる。
上記導電助剤は、導電性を有していればよく、例えば、導電率は、好ましくは1×10S/cm以上、より好ましくは1×10S/cm以上である。
導電助剤としては、炭素材料、金属粉末及び金属化合物から選択される物質や、これらの混合物が挙げられる。
導電助剤の具体例としては、炭素、ニッケル、銅、アルミニウム、インジウム、銀、コバルト、マグネシウム、リチウム、クロム、金、ルテニウム、白金、ベリリウム、イリジウム、モリブデン、ニオブ、オスニウム、ロジウム、タングステン及び亜鉛からなる群より選択される少なくとも1つの元素を含む物質が挙げられ、これらが好ましい。より好ましくは、導電性が高い炭素単体、炭素、ニッケル、銅、銀、コバルト、マグネシウム、リチウム、ルテニウム、金、白金、ニオブ、オスニウム又はロジウムを含む金属単体、混合物又は化合物である。
炭素材料の具体例としては、ケッチェンブラック、アセチレンブラック、デンカブラック、サーマルブラック、チャンネルブラック等のカーボンブラック、黒鉛、炭素繊維、活性炭等が挙げられる。これらは単独でも2種以上でも併用可能である。
中でも、電子伝導性が高いアセチレンブラック、デンカブラック、ケッチェンブラックが好適である。
上記バインダーとしては、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、ポリフッ化ビニリデン(PVdF)、フッ素ゴム等の含フッ素樹脂、或いはポリプロピレン、ポリエチレン等の熱可塑性樹脂、エチレン−プロピレン−ジエンマー(EPDM)、スルホン化EPDM、天然ブチルゴム(NBR)等を単独で、又は2種以上の混合物として用いることができる。また、水系バインダーであるセルロース系やスチレンブタジエンゴム(SBR)の水分散体等を用いることもできる。
また、正極層において、正極活物質、硫化物固体電解質、導電助剤等の割合は、特に制限はなく公知の割合を用いることができる。
正極層の厚さは、0.01mm以上10mm以下であることが好ましい。
また、正極層は、公知の方法により製造することができる。例えば、塗布法、静電法(静電スプレー法、静電スクリーン法等)により製造することができる。
負極層は、負極活物質、本発明により得られる硫化物固体電解質、及び導電助剤を含むことが好ましい。また、バインダーを含んでいてもよい。
上記負極活物質としては、リチウムイオンの挿入脱離が可能な物質、電池分野において負極活物質として公知のものが使用できる。
例えば、炭素材料、具体的には、人造黒鉛、黒鉛炭素繊維、樹脂焼成炭素、熱分解気相成長炭素、コークス、メソカーボンマイクロビーズ(MCMB)、フルフリルアルコール樹脂焼成炭素、ポリアセン、ピッチ系炭素繊維、気相成長炭素繊維、天然黒鉛、及び難黒鉛化性炭素等が挙げられ、また、これらの混合物でもよい。好ましくは、人造黒鉛である。
また、金属リチウム、金属インジウム、金属アルミ、金属ケイ素等の金属自体や他の元素、化合物と組み合わせた合金を、負極材として用いることができる。中でも、高い理論容量を有するケイ素、スズ、リチウム金属が好ましい。
上記導電助剤、及びバインダーは、上記正極層で挙げたものと同じものを挙げることができる。
なお、負極層の形成法や厚さは正極層の場合と同様である。
電解質層は、本発明により得られる硫化物固体電解質を含み、バインダーを含有していてもよく、更に、他の電解質を含有していてもよい。バインダーは、上記正極層で挙げたものと同じものを挙げることができる。
他の電解質としては、ポリマー系固体電解質、酸化物系固体電解質等が挙げられる。
ポリマー系固体電解質は、特に制限はない。例えば、特開2010−262860に開示されているように、フッ素樹脂、ポリエチレンオキサイド、ポリアクリロニトリル、ポリアクリレートやこれらの誘導体、共重合体等のポリマー電解質として用いられる材料が挙げられる。
フッ素樹脂としては、例えば、フッ化ビニリデン(VdF)、ヘキサフルオロプロピレン(HFP)、テトラフルオロエチレン(TFE)や、これらの誘導体等を構成単位として含むものが挙げられる。具体的には、ポリフッ化ビニリデン(PVdF)、ポリヘキサフルオロプロピレン(PHFP)、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)等のホモポリマーや、VdFとHFPとの共重合体等の2元共重合体や3元共重合体等が挙げられる。
酸化物系固体電解質には、LiN、LISICON類、Thio−LISICON類、La0.55Li0.35TiO等のペロブスカイト構造を有する結晶や、NASICON型構造を有するLiTi12、さらにこれら結晶化させた電解質等を用いることができる。
上記電解質層は、例えば、本発明により得られる硫化物固体電解質、バインダー及び溶媒を含むスラリーを塗布して製造してもよく、また、粒状の硫化物固体電解質を用いて静電スクリーン印刷法により製造してもよい。
上記電解質層の硫化物固体電解質は、融着していていることが好ましい。ここで、融着とは、硫化物固体電解質粒子の一部が溶解し、溶解した部分が他の硫化物固体電解質粒子と一体化することを意味する。
また、電解質層は、硫化物固体電解質の板状体であってもよい。なお、硫化物固体電解質粒子の一部又は全部が溶解し、板状体になっている場合も含む。
電解質層の厚さは、0.001mm以上1mm以下であることが好ましい。
上記電池は、正極層、電解質層及び負極層の他に集電体を使用することが好ましい。集電体は公知のものを用いることができる。例えば、Au、Pt、Al、Ti、又は、Cu等のように、上記硫化物固体電解質と反応するものをAu等で被覆した層が使用できる。
次に実施例により、本発明を具体的に説明するが、本発明は、これらの例によってなんら限定されるものではない。
[残留溶媒量の測定]
残留溶媒量は、ガスクロマトグラフィー装置(GC)を用いて測定した。測定の概要は、メタノールで分解された硫化物固体電解質をGCで測定し、各溶媒を絶対検量線で定量する。
試料0.1gを精秤しバイアル瓶に入れる。バイアル瓶にメタノールを10ml入れ、試料を完全に分解し溶解させる。溶解された試料をGC用バイアル瓶に約1.5ml入れ、蓋をかぶせてクリンパーで止める。GCのオートサンプラーにセットし測定する。検量線は、使用する溶媒を0.5g秤量し、メタノール50ml(10000μg/ml相当)で定容する。これを希釈して、2500,1000,250,25,2.5μg/mlに調整して(標準液)GC測定し、ピーク面積と標準液の濃度から、最小二乗法により検量線を作成する。試料液のGCピーク面積値を検量線にあてはめ、下記式に従い、試料液中の濃度を算出した。
硫化物固体電解質中の残留溶媒量(wt%)=[検量線より求めた濃度(μg/ml)×試料溶解に使用したメタノール量(10ml)]÷試料量(g)
[Liイオン伝導度(σ)の測定]
実施例及び比較例で得られた硫化物固体電解質をそれぞれ断面10mmφ(断面積S=0.785cm)、高さ(L)0.1〜0.3cmの形状に成形し、試料片を作成した。当該試料片の上下から電極端子を取り、交流インピーダンス法により測定し(周波数範囲:5MHz〜0.5Hz、振幅:10mV)、Cole−Coleプロットを得た。高周波側領域に観測される円弧の右端付近で、−Z’’(Ω)が最小となる点での実数部Z’(Ω)を電解質のバルク抵抗R(Ω)とし、下記式に従い、Liイオン伝導度σ(mS/cm)を計算した。
R=ρ(L/S)
σ=1/ρ
本発明ではリードの距離を約60cmとして測定した。
[硫化物ガラスセラミックスの結晶化率の測定]
硫化物ガラスセラミックスの結晶化率は、X線回折(XRD)で測定した。XRDで得られたピークの総面積と結晶面積の割合から算出した。
参考例1)
製造装置として、撹拌機付きの1.5Lガラス製反応器と、ビーズミル装置(アシザワ・ファインテック(株)製、スターミルミニツェア、0.15L、直径0.5mmのジルコニアボール444gを投入)とを接続した、下記混合物(スラリー)が循環できる製造装置を使用した。
硫化リチウム(LiOH含有量0.1質量%以下)を29.7g、五硫化二リンを47.8g、ヨウ化リチウムを15.4g、及び臭化リチウムを15.0gに、脱水トルエン1200ml及びジブチルエーテル(DBE)7.2mlを加えた混合物を上記製造装置に充填した。
ポンプにより、製造装置に充填された混合物(スラリー)を480ml/minの流量で上記反応器とビーズミル装置との間を循環させ、上記反応器を80℃になるまで昇温した。ビーズミル装置本体は、液温が70℃に保持できるように外部循環により温水を通水し、周速12m/sの条件で運転した。2時間毎にスラリーを採取し、X線回折(XRD)装置(SmartLab装置、(株)リガク製)を用いて粉末X線回折を行い、原料の残量を確認した。XRD分析の結果から、原料のXRDピークが消失し、硫化物ガラスが得られたことを確認し、48時間後に運転を終了した。
得られたスラリーをグローブボックス(露点−75℃、Ar雰囲気下)中で金属バットに入れ、粉末が沈殿したのち、上澄みの溶媒を除去し、目視で溶媒がほぼ無くなったことを確認した。得られた沈殿物をホットプレート上で、80℃で乾燥し、粉末状の硫化物ガラスを得た。得られた粉末状の硫化物ガラスを採取し、残留溶媒量をガスクロマトグラフィーを用いて測定した結果、硫化物ガラス全量に対するトルエン含有量が1.43重量%、DBE含有量が1.91重量%、トルエン及びDBEの合計含有量が3.34重量%であった。
次に、得られた粉末状の硫化物ガラスを、グローブボックス(露点−75℃、Ar雰囲気下)中に配置したホットプレートを用いて、185℃で3時間加熱した。加熱後のXRD分析により、硫化物ガラスセラミックスが得られたことを確認した。得られた硫化物ガラスセラミックスを採取し、残留溶媒量を測定した結果、硫化物ガラスセラミックス全量に対するトルエン含有量が0.54重量%、DBE含有量が0.77重量%、トルエン及びDBEの合計含有量が1.31重量%であった。また、該硫化物ガラスセラミックスのLiイオン伝導度を測定したところ、4.29mS/cmであった。
(実施例2)
参考例1と同様にして粉末状の硫化物ガラスを得た。得られた粉末状の硫化物ガラスを採取し、残留溶媒量を測定した結果、硫化物ガラス全量に対するトルエン含有量が1.43重量%、DBE含有量が1.91重量%、トルエン及びDBEの合計含有量が3.34重量%であった。
次に、得られた粉末状の硫化物ガラスをグローブボックス(露点−75℃、Ar雰囲気下)中に配置したホットプレートを用いて、130℃で1時間加熱処理し(第1の加熱)、次いで195℃で3時間加熱処理した(第2の加熱)以外は参考例1と同様にして硫化物ガラスセラミックスを製造した。
第1の加熱処理後の加熱処理物をXRD分析した結果、結晶化率32%の硫化物ガラスセラミックスが得られたことを確認した。得られた硫化物ガラスセラミックスを採取し、残留溶媒量を測定した結果、硫化物ガラスセラミックス全量に対するトルエン含有量が0.43重量%、DBE含有量が1.29重量%、トルエン及びDBEの合計含有量が1.72重量%であった。
また、第2の加熱処理後の硫化物ガラスセラミックスをXRD分析した結果、硫化物ガラスセラミックスの結晶化率が増えて、結晶化率59%の硫化物ガラスセラミックスが得られたことを確認した。得られた硫化物ガラスセラミックスを採取し、残留溶媒量を測定した結果、硫化物ガラスセラミックス全量に対するトルエン含有量が0.10重量%未満、DBE含有量が0.16重量%、トルエン及びDBEの合計含有量が0.16重量%であった。また、該硫化物ガラスセラミックスのLiイオン伝導度を測定したところ、5.18mS/cmであった。
(比較例1)
DBEを添加しなかった以外は参考例1と同様にして粉末状の硫化物ガラスを得た。得られた粉末状の硫化物ガラスを採取し、残留溶媒量を測定した結果、硫化物ガラス全量に対するトルエン含有量が2.32重量%であった。
次に、得られた粉末状の硫化物ガラスを203℃で3時間加熱した以外は参考例1と同様にして硫化物ガラスセラミックスを製造した。加熱後のXRD分析により、硫化物ガラスセラミックスが得られたことを確認した。得られた硫化物ガラスセラミックスを採取し、残留溶媒量を測定した結果、硫化物ガラスセラミックス全量に対するトルエン含有量が2.20重量%であった。また、該硫化物ガラスセラミックスのLiイオン伝導度を測定したところ、4.87mS/cmであった。
(比較例2)
DBEを添加しなかった以外は実施例2と同様にして粉末状の硫化物ガラスを得た。得られた粉末状の硫化物ガラスを採取し、残留溶媒量を測定した結果、硫化物ガラス全量に対するトルエン含有量が2.32重量%であった。
次に、得られた粉末状の硫化物ガラスを130℃で1時間加熱処理し(第1の加熱)、次いで203℃で3時間加熱処理した(第2の加熱)以外は実施例2と同様にして硫化物ガラスセラミックスを製造した。
第1の加熱処理後の加熱処理物をXRD分析した結果、硫化物ガラスセラミックスが得られたことを確認した。得られた硫化物ガラスセラミックスを採取し、残留溶媒量を測定した結果、硫化物ガラスセラミックス全量に対するトルエン含有量が2.26重量%であった。
また、第2の加熱処理後の硫化物ガラスセラミックスを採取し、残留溶媒量を測定した結果、硫化物ガラスセラミックス全量に対するトルエン含有量が2.06重量%であった。また、該硫化物ガラスセラミックスのLiイオン伝導度を測定したところ、4.85mS/cmであった。
以上説明したように、炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒を用いた参考例1では、溶媒として炭化水素のみを用いた比較例1と比較すると、得られた硫化物ガラスセラミックス中に含まれる溶媒含有量が低減された。また、硫化物ガラスを特定の条件で、2段階で熱処理することにより、得られた硫化物ガラスセラミックス中に含まれる溶媒含有量が更に低減された(実施例2)。
本発明により得られる硫化物固体電解質は、溶媒含有量が少なく、高いLiイオン伝導度を有するため、固体電解質層等、電池の構成材料として好適である。

Claims (17)

  1. リチウム化合物、リン化合物、及ハロゲン化合物を、炭化水素及びエーテル化合物を含む溶媒中で反応させLi元素、P元素、S元素、及び1以上のハロゲン元素を含有する硫化物ガラスを製造し、
    前記硫化物ガラスを加熱して硫化物ガラスセラミックスを製造する、硫化物ガラスセラミックスの製造方法であって、
    前記加熱が、前記硫化物ガラスを、100℃以上、得られる硫化物ガラスセラミックスが有する結晶構造の結晶化温度(Tc)以下で加熱する第1の加熱と、その後に、前記結晶化温度(Tc)以上前記結晶化温度(Tc)+60℃以下で加熱する第2の加熱とからなる
    硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  2. 前記リチウム化合物が硫化リチウムである、請求項1に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  3. 前記リン化合物が五硫化二リンである、請求項1又は2に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  4. 前記ハロゲン化合物がヨウ化リチウム及び臭化リチウムのうち少なくとも1種である、請求項1〜3のいずれか一項に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  5. 前記硫化リチウム及び前記五硫化二リンの合計に対する該硫化リチウムの割合が、68mol%〜82mol%である、請求項3又は4に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  6. 原料としてヨウ化リチウム及び臭化リチウムを用いる場合、前記ヨウ化リチウム及び前記臭化リチウムの合計に対する該臭化リチウムの割合が、1mol%〜99mol%である、請求項4に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  7. 前記第1の加熱における熱処理温度が、100℃以上140℃以下であり、前記第2の加熱における熱処理温度が、150℃以上300℃以下である、請求項1〜6のいずれか一項に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  8. 前記第1の加熱が、120℃以上140℃以下であり、前記第2の加熱が170℃以上280℃以下である請求項に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  9. 前記第1の加熱における熱処理時間が1分間以上10時間以下であり、前記第2の加熱における熱処理時間が1分間以上10時間以下である、請求項7又は8に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  10. 前記第1の加熱における熱処理時間が30分間以上10時間以下であり、前記第2の加熱における熱処理時間が30分間以上10時間以下である、請求項7又は8に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  11. 前記第1の加熱が、前記硫化物ガラスが結晶化率1%以上50%以下の硫化物ガラスセラミックスとなる条件で行われ、前記第2の加熱が、該第の加熱で得られた硫化物ガラスセラミックスの結晶化率をさらに向上させる条件で行われる、請求項7〜10のいずれか一項に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  12. 前記炭化水素が芳香族炭化水素である、請求項1〜11のいずれか一項に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  13. 前記芳香族炭化水素がトルエンである、請求項12に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  14. 前記エーテル化合物が鎖状エーテルである、請求項1〜13のいずれか一項に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  15. 前記鎖状エーテルがジブチルエーテルである、請求項14に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  16. 前記エーテル化合物の添加量が、原料の全量に対して、0.01重量%〜100重量%である、請求項1〜15のいずれか一項に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
  17. 前記炭化水素と前記エーテル化合物との混合比が、体積比で480:1〜50:1である、請求項1〜16のいずれか一項に記載の硫化物ガラスセラミックスの製造方法。
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101930992B1 (ko) * 2016-02-15 2018-12-19 한양대학교 산학협력단 황화물계 고체 전해질의 제조방법, 이로부터 제조된 황화물계 고체 전해질 및 이를 포함하는 전고체 리튬 이차전지
JP6934042B2 (ja) * 2017-03-08 2021-09-08 出光興産株式会社 硫化物固体電解質粒子
JP7154743B2 (ja) * 2017-09-20 2022-10-18 出光興産株式会社 固体電解質の製造方法及び製造設備
JP6819559B2 (ja) * 2017-12-08 2021-01-27 トヨタ自動車株式会社 硫化物固体電解質材料の製造方法
US11664530B2 (en) * 2018-07-17 2023-05-30 Idemitsu Kosan Co., Ltd. Production method for solid electrolyte
DE102018218618A1 (de) 2018-10-31 2020-04-30 Robert Bosch Gmbh Elektrochemische Festkörperzelle mit verbessertem sulfidischen Festelektrolyt und Verfahren zu dessen Herstellung
EP3886119A4 (en) * 2018-11-22 2022-08-10 Idemitsu Kosan Co.,Ltd. SOLID ELECTROLYTE CAPACITOR AND METHOD OF TREATMENT THEREOF
CN109638347A (zh) * 2018-12-02 2019-04-16 桂林理工大学 一种纳米级Argyrodite型固态电解质材料的制备及应用
JP7319900B2 (ja) * 2018-12-05 2023-08-02 出光興産株式会社 アルジロダイト型結晶構造を有する固体電解質の製造方法
CN113508096B (zh) * 2019-03-01 2024-04-09 康宁股份有限公司 用于制造中的玻璃陶瓷的相品质控制的方法
US20220140385A1 (en) * 2019-03-29 2022-05-05 Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd. Solid electrolyte
JP2021180174A (ja) * 2020-05-07 2021-11-18 出光興産株式会社 硫化物固体電解質の製造方法
EP4152463A1 (en) * 2020-05-13 2023-03-22 Idemitsu Kosan Co., Ltd Solid electrolyte production method
CN117121124A (zh) * 2021-03-30 2023-11-24 三井金属矿业株式会社 固体电解质及其制造方法
CN114628685B (zh) * 2021-08-09 2023-10-03 万向一二三股份公司 一种超亲锂高稳定的金属锂复合负极片及电池
WO2024010078A1 (ja) * 2022-07-07 2024-01-11 出光興産株式会社 硫化物固体電解質の製造方法

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3528866B2 (ja) 1994-06-03 2004-05-24 出光石油化学株式会社 硫化リチウムの製造方法
JP3510420B2 (ja) 1996-04-16 2004-03-29 松下電器産業株式会社 リチウムイオン伝導性固体電解質およびその製造方法
JP3233345B2 (ja) 1997-10-31 2001-11-26 大阪府 全固体型電池用イオン伝導性硫化物ガラス微粉末の製造方法、全固体型電池用イオン伝導性硫化物ガラス微粉末、固体型電解質及び全固体型二次電池
JP4621139B2 (ja) 2003-04-15 2011-01-26 出光興産株式会社 リチウムイオン導電性固体電解質の製造方法
JP4580149B2 (ja) 2003-04-24 2010-11-10 出光興産株式会社 リチウムイオン伝導性硫化物ガラスの製造方法及びリチウムイオン伝導性硫化物ガラスセラミックスの製造方法
JP4498688B2 (ja) 2003-04-24 2010-07-07 出光興産株式会社 リチウムイオン伝導性硫化物ガラス及びガラスセラミックスの製造方法
US8518585B2 (en) 2007-10-11 2013-08-27 Idemitsu Kosan Co., Ltd. Method for producing lithium ion conductive solid electrolyte
JP5396033B2 (ja) 2007-10-11 2014-01-22 出光興産株式会社 硫化物系固体電解質の製造方法、全固体リチウム二次電池、全固体リチウム一次電池及びこれらを備えた装置
JP5431809B2 (ja) 2008-07-01 2014-03-05 出光興産株式会社 リチウムイオン伝導性硫化物ガラスの製造方法、リチウムイオン伝導性硫化物ガラスセラミックスの製造方法及び硫化物ガラス製造用のメカニカルミリング処理装置
JP5577028B2 (ja) 2008-10-09 2014-08-20 出光興産株式会社 硫化物系固体電解質の製造方法
JP5396239B2 (ja) 2008-11-17 2014-01-22 出光興産株式会社 固体電解質の製造装置及び製造方法
JP5460283B2 (ja) 2008-12-15 2014-04-02 出光興産株式会社 硫化リチウムの製造方法
JP5313761B2 (ja) 2009-05-08 2013-10-09 パナソニック株式会社 リチウムイオン電池
JP5303428B2 (ja) 2009-10-16 2013-10-02 出光興産株式会社 硫化リチウム及びその製造方法
JP5445527B2 (ja) * 2011-07-13 2014-03-19 トヨタ自動車株式会社 硫化物固体電解質材料の製造方法
JP6234665B2 (ja) * 2011-11-07 2017-11-22 出光興産株式会社 固体電解質
WO2013073035A1 (ja) * 2011-11-17 2013-05-23 トヨタ自動車株式会社 硫化物固体電解質の製造方法
JP5757284B2 (ja) 2012-12-27 2015-07-29 トヨタ自動車株式会社 硫化物固体電解質材料、リチウム固体電池、および、硫化物固体電解質材料の製造方法
JP6259617B2 (ja) * 2013-04-24 2018-01-10 出光興産株式会社 固体電解質の製造方法
JP6003831B2 (ja) 2013-06-28 2016-10-05 トヨタ自動車株式会社 硫化物固体電解質材料、硫化物ガラス、リチウム固体電池、および、硫化物固体電解質材料の製造方法
JP5673760B1 (ja) 2013-09-13 2015-02-18 トヨタ自動車株式会社 硫化物固体電解質の製造方法
JP6131851B2 (ja) * 2013-12-26 2017-05-24 トヨタ自動車株式会社 硫化物固体電解質材料の製造方法

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