JP6318694B2 - 検査装置、検査方法、プログラムおよび記録媒体 - Google Patents
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Description
次に、図1〜図5を参照して、本実施形態の検査装置100によるバックライト200の検査方法について説明する。
本実施形態では、上記のように、バックライト200を帯電させる帯電部1と、帯電されたバックライト200を検査する検査部2とが設けられている。このように構成することによって、検査時に、導光板202、拡散シート203、プリズムシート204および205を互いに吸着させることにより、それらの間の隙間Hを減らすことができる。これにより、隙間Hに起因する輝度ムラを抑制することができるので、欠陥を検出しやすくすることができる。その結果、欠陥検出の精度向上を図ることができる。
次に、図6および図7を参照して、上記した本実施形態の効果を確認するために行った実験について説明する。この実験では、比較例による検査装置によりバックライトを検査するとともに、本実施形態に対応する実施例による検査装置によりバックライトを検査した。
なお、今回開示した実施形態は、すべての点で例示であって、限定的な解釈の根拠となるものではない。したがって、本発明の技術的範囲は、上記した実施形態のみによって解釈されるものではなく、特許請求の範囲の記載に基づいて画定される。また、本発明の技術的範囲には、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
2 検査部
3 除電部
5 保護回路
21 撮像部
23 判定部
100 検査装置
200 バックライト(被検査体)
202 導光板(光学部品)
203 拡散シート(光学部品)
204 プリズムシート(光学部品)
205 プリズムシート(光学部品)
Claims (8)
- シート状の光学部品が積層された被検査体を検査する検査装置であって、
前記光学部品を帯電させる帯電部と、
前記光学部品が帯電されることにより、前記光学部品が互いに吸着され、前記光学部品の間の隙間が減少された状態の前記被検査体を検査する検査部とを備えることを特徴とする検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置において、
前記検査部により検査された前記被検査体を除電する除電部を備えることを特徴とする検査装置。 - 請求項1または2に記載の検査装置において、
前記被検査体を保護する保護回路を備えることを特徴とする検査装置。 - 請求項1〜3のいずれか1つに記載の検査装置において、
前記検査部は、前記被検査体を撮像する撮像部と、前記撮像部による撮像結果に基づいて欠陥の有無を判定する判定部とを含むことを特徴とする検査装置。 - 請求項1〜4のいずれか1つに記載の検査装置において、
前記被検査体は、バックライトを含むことを特徴とする検査装置。 - シート状の光学部品が積層された被検査体を検査する検査方法であって、
前記光学部品を帯電させる工程と、
前記光学部品が帯電されることにより、前記光学部品が互いに吸着され、前記光学部品の間の隙間が減少された状態の前記被検査体を検査する工程とを備えることを特徴とする検査方法。 - 請求項6に記載の検査方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
- 請求項6に記載の検査方法をコンピュータに実行させるためのプログラムが記録された記録媒体。
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