JP6307011B2 - 移動手摺り劣化診断装置 - Google Patents

Description

本発明は、エスカレーターや移動歩道などの乗客コンベアに備えられている移動手摺りの損傷を診断する移動手摺り劣化診断装置に関する。

この種の技術として例えば特開平１０−２１８５４１号公報（特許文献１）に記載された発明が知られている。この特許文献１に記載された発明は、乗客コンベアを稼働させて、その欄干の周囲を周回する移動手摺りを踏段と同期させて周回移動させ、前記移動手摺りに近接配置した損傷検出装置により、前記移動手摺りの内部のスチールコードより漏洩する漏洩磁束を測定して前記スチールコードの損傷位置を検出する乗客コンベアの移動手摺りの損傷位置検出方法において、前記移動手摺りの外面の任意の位置に磁性体を取り付けて、前記損傷検出装置により該磁性体からの磁束をも検出させ、これにより得られた検出信号を前記移動手摺りの基準位置を認識するための基準信号としたことを特徴とするものである。

特開平１０−２１８５４１号公報

前記特許文献１記載の発明では、エスカレーターの移動手摺り内部のスチールコードの損傷部を移動手摺りを傷つけずに検出できるように移動手摺りの内部のスチールコードを走行方向に磁化する励磁手段と励磁手段により磁化されたスチールコードより漏洩する漏洩磁束を検出するための検出コイルを設け、周回移動させる移動手摺りの外側の任意の位置に磁性体を貼り付けて損傷検出装置により移動手摺り内部のスチールコードより漏洩する漏洩磁束と共に磁性体からの磁束検出により得られた検出信号をスチールコードの損傷位置を検出する際の基準位置を認識するための基準信号としている。

しかし、エスカレーター移動手摺りの損傷検出装置に１箇所のみ励磁手段を用いているため、移動手摺り内部の１本のスチールコードの撚りが一部だけほどけるような劣化の場合、正常のものとの判別が難しかった。これは、移動手摺りに張力が働いているため、当該スチールコードも張った状態であり、著しい蛇行や、切断などが発生しないからである。

そこで、本発明が解決しようとする課題は、移動手摺り内部の１本のスチールコードの撚りが一部だけほどけるような場合でも確実に劣化診断を可能とすることにある。

前記課題を解決するため、本発明は、乗客コンベアの移動手摺りに埋設したスチールコードの劣化を診断する移動手摺り劣化診断装置において、前記移動手摺りの直線走行部に対向して配置され、前記スチールコードをセンシングして第１の信号データを出力する第１の検出部と、前記移動手摺りの曲線走行部に対向して配置され、前記スチールコードをセンシングして第２の信号データを出力する第２の検出部と、前記第１の検出部からの前記第１の信号データの出力波形と前記第２の検出部からの前記第２の信号データの出力波形とを比較するデータ処理装置と、を備え、前記データ処理装置は、前記第１の検出部によってセンシングした前記第１の信号データの中の計測開始点をセンシングした時の第１のピーク値、及び前記第２の検出部によってセンシングした前記第２の信号データの中の前記計測開始点をセンシングした時の第２のピーク値を基準に、前記第１及び第２の信号データの出力波形を並べ、前記第１の信号データと前記第２の信号データの出力波形の差分をとり、差分が生じた場合、当該差分が生じている部分が劣化していると診断することを特徴とする。

本発明によれば、移動手摺り内部の１本のスチールコードの撚りが一部だけほどけるような場合でも確実に劣化診断を行うことができる。なお、前記以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明において明らかにされる。

本発明の一実施形態に係る移動手摺り劣化診断装置が取り付けられるエスカレーターの構成の概略を示す斜視図である。 図１のエスカレーターの概略構成を示す側面図である。 本発明の一実施形態に係る移動手摺り劣化診断装置をエスカレーターに取り付けた状態の概略を示す要部側面図である。 移動手摺り劣化診断装置で取得したデータをデータ処理装置で処理した探傷装置からの信号データの波形を示す図である。

以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。

図１は本発明の一実施形態に係る移動手摺り劣化診断装置が取り付けられる乗客コンベアとしてのエスカレーターの概要構成を示す斜視図である。乗客コンベアとしては、エスカレーターの他に例えば移動歩道などもあるが、本実施形態では、エスカレーターを例にとって説明する。

同図において、エスカレーター１は、乗客が乗るステップ２と、ステップ２の進行方向と同方向に移動する移動手摺り３を備えている。移動手摺り３は、ステップ２の進行方向に対してステップ２の左右両側に設けられている。

移動手摺り３は無端状に構成され、ステップ２の両側にステップ２の移動方向と平行に設けられた欄干４に沿って周回するようになっている。すなわち、移動手摺り３は、欄干４の上方側ではステップ２の進行方向と同方向に移動し、欄干４の端部に至ると円弧状に下方に移動して上下逆の状態でスカートガード等を備えたデッキ５内部に引き入れられる。そして、デッキ５内を通って欄干４の反対端部に至り、上下逆の状態でデッキ５から外部に出て円弧状に上方に移動して欄干４の上方側に戻るという循環をしている。またデッキ５内部には移動手摺り３を駆動する駆動装置等が設けられている。

図２は図１のエスカレーター１の概略構成を示す図で、側面から見た状態を示す。エスカレーター１は上階の床下と下階の床下に埋め込まれると共にその間に掛け渡されたフレーム６を備えている。そして、上階の床下に設けられた図示しない駆動装置により回転されるスプロケット７と下階の床下に設けられた従動スプロケット８に図示しないチェーンを巻きかけ、そのチェーンに図１に示す複数のステップ２を無端状に設けている。

移動手摺り３は図２に示すように移動手摺り駆動用のターミナルギア９によって駆動される。ターミナルギア９は図示しない駆動装置によって回転するスプロケット７とチェーン１０により構成され、同期回転するようになっている。これによりスプロケット７による駆動力を受けて、移動手摺り３とステップ２は同じ速度で同方向に駆動される。この移動手摺り３はテンション装置及び移動手摺り支持ガイド１１で張力を保持している。

さらに移動手摺り３には図２に示すように上階及び下階に水平部（直線走行部）Ａがあり、水平部Ａの間は傾斜状態にある。さらに移動手摺りは乗客が乗降する箇所の欄干４の端部に至る円弧状に曲げられた曲げ部（曲線走行部）Ｂで大きく曲げられスカートガード等を備えたデッキ５内部に引き入れられる。移動手摺り３は、内部に複数本のスチールコード（鋼製コード）が埋設され、移動手摺り３の劣化は、例えばスチールコートの破損、断線、撚りの一部だけのほどけ等によって生じる。スチールコードの形態は、水平部Ａと曲げ部Ｂでスチールコードに加わる荷重が異なることから異なってくると考えられる。

そこで、このような構成を有するエスカレーター１に対して、本実施形態に係る移動手摺り劣化診断装置１００はデッキ５およびフレーム６内を移動してくる移動手摺り３の往路側の移動手摺り水平部Ａ及び曲げ部Ｂの箇所で移動手摺り３の劣化診断のための計測を行う。そして、両者の検出データを比較して相違があると、その相違が生じた部分に劣化が生じていると診断する。具体的には、以下のように構成される。

図３は移動手摺り劣化診断装置１００をエスカレーター１に取り付けた状態を示すエスカレーターの要部側面図である。同図に示すように、探傷装置１２には、検出部として磁気センサからなる移動手摺り劣化診断装置センサ部（以下、「第１のセンサ部」と称す。）１３と、同じく磁気センサからなる移動手摺り曲げ部用劣化診断装置センサ部（以下、「第２のセンサ部」と称す。）１４が接続されている。この第１のセンサ部１３は移動手摺り３の水平部Ａに配置され、第２のセンサ部１４は移動手摺り３の曲げ部Ｂに配置される。

第１のセンサ部１３と探傷装置１２は第１のケーブル１５で接続され、第２のセンサ部１４と探傷装置１２とは第２のケーブル１６で接続されている。ただし、これら第１及び第２のケーブル１５，１６に代えて無線を使用して信号の送受信を行うこともできる。

第１のセンサ部１３でセンシングした信号データ及び第２のセンサ部１４でセンシングした信号データは、探傷装置１２内に設けた図示しないメモリに格納され、計測後、データ処理装置（例えば、パソコン）１７に探傷装置１２と第３のケーブル１８で接続し、データ処理装置１７内のプログラムにより読み出される。探傷装置１２とデータ処理装置１７を第３のケーブル１８により接続してデータ処理装置１７で計測デーを処理すれば、計測データをタイムラグなしにデータ処理装置１７の画面１７ａに表示することもできる。計測の際には、移動手摺り３に開始点としてマーカーＭを貼ってから行う。

図４はデータ処理装置１７で処理された探傷装置１２から信号データの波形を示す図である。探傷装置１２内のメモリからデータ処理装置１７に読み出された信号データは、図４に示すように、データ処理装置１７内のプログラムにより第１のセンサ部１３でセンシングした第１の信号データ（波形）Ｎ１の中のマーカーＭをセンシングした時の第１のピーク値Ｐ１と第２のセンサ部１４でセンシングした第２の信号データ（波形）Ｎ２の中のマーカーＭをセンシングした時の第２のピーク値Ｐ２を基準に並べる。その際、第１の信号データＮ１と第２の信号データＮ２に差分Ｑがあった場合に、劣化と診断する。差分Ｑを生じるような磁気変動は、例えばスチールコードの形態変化、埋設深さの変化等によって発生し、磁気センサで検出することができる。このとき、劣化あるいは正常品の判定はプログラムで行うのではなく、マーカーＭを基準に並べたデータを保守員が確認して判断するようにしてもよい。

なお、データ処理装置１７はＣＰＵ（Central Processing Unit) と、ＲＯＭ(Read Only Memory)及びＲＡＭ(Random Access Memory)を含む記憶装置とを備え、ＣＰＵはＲＯＭに格納され、あるいはネットワーク、公衆電話通信網などからダウンロードされ、あるいはＣＤ−ＲＯＭから読み出したプログラムコードを読み込み、ＲＡＭあるいはＨＤＤ(Hard Disc Drive)に展開し、当該ＲＡＭあるいはＨＤＤをワークエリアとして使用しながら、展開したプログラムコードに従って処理を実行する。

また、探傷装置１２も同様にＣＰＵ、ＲＯＭ及びＲＡＭを搭載し、プログラムににより画像処理を実行し、あるいは探傷用のＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit)を搭載し、このＡＳＩＣにより探傷処理を実行する。

本実施形態においては第１及び第２のセンサ１３，１４が磁気センサであり、探傷装置１２が第１及び第２の磁気センサ１３，１４からの磁気変化に基づく出力変動から探傷する例を挙げて説明したが、本発明はこれに限られるものではない。例えば、探傷装置１２としてＸ線装置を用いることも可能であるし、磁気センサとＸ線探傷装置を合わせて同時に用いて（併用して）もよい。 また、本実施形態では、エスカレーター１を例にとっているが、移動歩道を含む公知の乗客コンベア全般に適用できることは言うまでもない。

以上のように、本実施形態によれば、次のような効果を奏する。なお、以下の実施形態における効果の説明では、本実施形態の各部について、特許請求の範囲における各構成要素をかっこ書きで示し、若しくは参照符号を付し、両者の対応関係を明確にした。

（１）エスカレーター（乗客コンベア）１の移動手摺り３に埋設したスチールコードの劣化を診断する移動手摺り劣化診断装置において、移動手摺り３の水平部（直線走行部）Ａに対向して配置された第１のセンサ（第１の検出部）１３と、移動手摺り３の曲げ部（曲線走行部）Ｂに対向して配置された第２のセンサ（第２の検出部）１４と、第１及び第２のセンサ（第１及び第２の検出部）１３，１４からの信号データ（出力波形）Ｎ１，Ｎ２を比較するデータ処理装置１７と、を備え、データ処理装置１７で前記信号データ（出力波形）Ｎ１，Ｎ２の差分Ｑをとり、差分Ｑが生じた場合、当該差分Ｑが生じている部分が劣化していると診断するので、移動手摺り内部の１本のスチールコードの撚りが一部だけほどけるような場合でも確実に劣化を診断することができる。その際、移動手摺りを稼動させた状態で作業を行うので、作業性に優れ、効率の良い劣化診断が可能となる。

（２）前記差分Ｑがスチールコードの形態変化によって生じるので、劣化が形態変化にとして現れた場合でも、確実に劣化診断することができる。

（３）前記差分Ｑがスチールコードの埋設深さの変化によって生じるので、劣化が埋設深さの変化として現れわれた場合でも、確実に劣化診断することができる。

（４）前記第１及び第２のセンサ（第１及び第２の検出部）１３，１４が、磁気センサ又はＸ線探傷装置、あるいは磁気センサ及びＸ線探傷装置であるので、磁気探傷、Ｘ線探傷を単独で行った場合でも、両者を組み合わせた場合でも、本発明の劣化診断を適用することができ、応用範囲が広い。

さらに、本発明は前述した実施形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能であり、特許請求の範囲に記載された技術思想に含まれる技術的事項の全てが本発明の対象となる。前記実施形態は、好適な例を示したものであるが、当業者ならば、本明細書に開示の内容から、各種の代替例、修正例、変形例あるいは改良例を実現することができ、これらは添付の特許請求の範囲に記載された技術的範囲に含まれる。

１ エスカレーター
３ 移動手摺り
１２ 探傷装置
１３ 第１のセンサ部（第１の検出部）
１４ 第２のセンサ部（第２の検出部）
１７ データ処理装置
Ａ 水平部（直線走行部）
Ｂ 曲げ部（曲線走行部）
Ｎ１，Ｎ２ 信号データ（出力波形）
Ｑ 差分

Claims (4)

1. 乗客コンベアの移動手摺りに埋設したスチールコードの劣化を診断する移動手摺り劣化診断装置において、
   前記移動手摺りの直線走行部に対向して配置され、前記スチールコードをセンシングして第１の信号データを出力する第１の検出部と、
   前記移動手摺りの曲線走行部に対向して配置され、前記スチールコードをセンシングして第２の信号データを出力する第２の検出部と、
   前記第１の検出部からの前記第１の信号データの出力波形と前記第２の検出部からの前記第２の信号データの出力波形とを比較するデータ処理装置と、
   を備え、
   前記データ処理装置は、前記第１の検出部によってセンシングした前記第１の信号データの中の計測開始点をセンシングした時の第１のピーク値、及び前記第２の検出部によってセンシングした前記第２の信号データの中の前記計測開始点をセンシングした時の第２のピーク値を基準に、前記第１及び第２の信号データの出力波形を並べ、前記第１の信号データと前記第２の信号データの出力波形の差分をとり、差分が生じた場合、当該差分が生じている部分が劣化していると診断することを特徴とする移動手摺り劣化診断装置。
2. 請求項１に記載の移動手摺り劣化診断装置において、
   前記差分が前記スチールコードの形態変化によって生じることを特徴とする移動手摺り劣化診断装置。
3. 請求項１に記載の移動手摺り劣化診断装置において、
   前記差分が前記スチールコードの埋設深さの変化によって生じることを特徴とする移動手摺り劣化診断装置。
4. 請求項１ないし３のいずれか１項に記載の移動手摺り劣化診断装置において、
   前記第１及び第２の検出部が、磁気センサ又はＸ線探傷装置、あるいは磁気センサ及びＸ線探傷装置であることを特徴とする移動手摺り劣化診断装置。