JP6270339B2 - 撮像装置、撮像装置の製造方法、及び内視鏡システム - Google Patents

撮像装置、撮像装置の製造方法、及び内視鏡システム Download PDF

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Description

本発明は、光学部材が受光部の上に接着された撮像チップを具備する撮像装置、前記撮像装置の製造方法、及び前記撮像装置を具備する内視鏡システムに関する。
撮像チップを具備する撮像装置は、例えば電子内視鏡の先端部に配設されて使用される。電子内視鏡の先端部は細径化が重要な課題であるため、撮像装置の小型化が求められている。
最初に、比較のため、ウエハレベルパッケージング型の撮像装置について簡単に説明する。ウエハレベルパッケージング型の撮像装置は、複数の撮像チップを含む撮像ウエハとガラスウエハとを接着した接合ウエハを切断し個片化することで作製される。このため、撮像チップの受光部が形成された第1の主面の全面がカバーガラスで覆われている。受光部と信号を送受信するための電極パッドは貫通配線を介して第2の主面(裏面)に形成する必要がある。しかし、貫通配線形成工程は、貫通孔形成、絶縁層形成、導体層形成等を含む複雑な工程である。
特開2008−118568号公報には、第1の主面に受光部と電極パッドとが配設された撮像装置が開示されている。この撮像装置は、ウエハレベルパッケージング型の撮像装置と異なり貫通配線を形成する必要がないため、生産が容易である。しかし、撮像チップの受光部を保護するためのカバーガラスは、電極パッドを覆わないように位置決めして、接着する必要がある、しかし、撮像チップの一辺が数mm以下と小型の場合、カバーガラスを受光部を覆い電極パッドを覆わないように正確に位置決めして接着することは容易ではない。
位置決め精度が十分でない場合、カバーガラスの側面が受光部に近接しすぎてしまうと、撮像光学系から入射した光がカバーガラス側面で反射して反射光となり受光部に到達することによって、光学的フレアが発生してしまうという問題がある。そのため、位置決め精度が低くなることを考慮して、撮像チップよりも大幅に平面視寸法が大きいカバーガラスを接着することも考えられるが、その場合、撮像装置の外径が大きくなってしまうという問題がある。
このため、主面に受光部と電極パッドとが配設され、受光部がカバーガラスで覆われた、製造が容易な撮像装置、前記撮像装置の製造方法、及び前記撮像装置を具備する内視鏡システムが求められていた。
特開2008−118568号公報
本発明は、主面に受光部と電極パッドとが配設され、受光部がカバーガラスで覆われた、製造が容易な撮像装置、前記撮像装置の製造方法、及び前記撮像装置を具備する内視鏡システムを提供することを目的とする。
本発明の実施形態の撮像装置は、受光部を含む複数の機能部パターンが第1の主面に形成された、半導体材料からなる直方体の撮像チップと、機能部パターンと所定の位置関係にある少なくとも2箇所に、それぞれ位置合わせマークが形成されており、前記受光部を覆うように接着層を介して接着されている透明材料からなる光学部材と、前記光学部材に配設された撮像光学系と、を具備し、それぞれの前記位置合わせマークが前記撮像光学系の像高が最大となる位置に形成されている
本発明の別の実施形態の撮像装置の製造方法は、それぞれが受光部を含む複数の機能部パターンからなる、複数の撮像チップパターンが第1の主面に形成された、半導体材料からなる撮像ウエハを作製する工程と、前記撮像ウエハを切断し個片化することで、複数の直方体の撮像チップを作製する工程と、前記撮像チップパターンの前記機能部パターンの少なくとも2箇所と所定の位置関係にある位置に、それぞれ位置合わせマークが形成されている1組の位置合わせマークセットを、光学部材ウエハに複数組形成する工程と、前記光学部材ウエハを切断し個片化することで、それぞれに前記1組の位置合わせマークセットが形成されている複数の平面視矩形の光学部材を作製する工程と、前記光学部材の位置合わせマークと、前記位置合わせマークと所定の位置関係にある前記機能部パターンとを位置合わせしながら、接着層を介して前記撮像チップと前記光学部材とを接着する工程と、前記位置合わせマークを位置合わせに利用して前記光学部材に撮像光学系を配設する工程と、を具備し、それぞれの前記位置合わせマークが前記撮像光学系の像高が最大となる位置に形成されている
本発明の別の実施形態の内視鏡システムは、受光部を含む複数の機能部パターンが第1の主面に形成された、半導体材料からなる直方体の撮像チップと、機能部パターンと所定の位置関係にある少なくとも2箇所に、それぞれ位置合わせマークが形成されており、前記受光部を覆うように接着層を介して接着されている透明材料からなる光学部材と、前記光学部材に配設された撮像光学系と、を具備し、それぞれの前記位置合わせマークが前記撮像光学系の像高が最大となる位置に形成されている撮像装置が挿入部の先端部に配設された内視鏡と、前記撮像装置が出力する矩形の撮像画像を処理し、前記撮像画像の角部をマスキングし表示しない内視鏡画像を出力する処理部を有するプロセッサと、を具備する。
本発明によれば、主面に受光部と電極パッドとが配設され、受光部がカバーガラスで覆われた、製造が容易な撮像装置、前記撮像装置の製造方法、及び前記撮像装置を具備する内視鏡システムを提供できる。
第1実施形態の撮像装置の斜視図である。 第1実施形態の撮像装置の製造方法を説明するための分解図である。 第1実施形態の撮像装置の製造方法を説明するためのフローチャートである。 第1実施形態の撮像装置の製造方法を説明するための平面図であり、(A)は撮像ウエハを、(B)は撮像チップを示している。 第1実施形態の撮像装置の製造方法を説明するための平面図であり、(A)はガラスウエハを、(B)はカバーガラスを示している。 第1実施形態の撮像装置の位置合わせパターンを説明するための平面図である。 第1実施形態の変形例1の撮像装置の位置合わせパターンを説明するための平面図である。 第1実施形態の変形例2の撮像装置の平面図である。 第1実施形態の変形例3の撮像装置の平面図である。 第1実施形態の変形例4の撮像装置の断面模式図である。 第1実施形態の変形例5の撮像装置の平面図である。 第1実施形態の変形例6の撮像装置の平面図である。 第1実施形態の変形例7の撮像装置を説明するための分解図である。 第2実施形態の内視鏡システムの構成図である。 第2実施形態の内視鏡システムによる、(A)は処理前の内視鏡画像、(B)は処理後の内視鏡画像を示している。
<第1実施形態>
図1に示すように、本実施形態の撮像装置1は、撮像チップ10と、撮像チップ10と接着層20を介して接着されている透明材料からなる光学部材であるカバーガラス30と、を具備する。なお、図1では信号線40も図示しているが、以下の説明では可撓性の長い信号線40は撮像装置1の構成要素とはしない。
直方体の撮像チップ10は、シリコン等の半導体材料からなり、第1の主面10SAに受光部11が形成された、CMOSイメージセンサ等の撮像素子である。第1の主面10SAには、受光部11と、信号を送受信するため配線(不図示)で接続された電極パターン(以下「電極パッド」ともいう)12も配設されている。それぞれに信号線40が接合された複数の電極パッド12は撮像チップ10の端辺にそって列設されている。以下、撮像機能のために第1の主面10SAに形成されているパターンを機能部パターンという。すなわち、撮像チップ10では、受光部11、配線、及び電極パターン12が機能部パターンである。
カバーガラス30は、受光部11を覆い、複数の電極パッド12からなる電極群12Sを覆わないように位置決めされて、撮像チップ10に接着されている。
撮像チップ10の外寸(平面視寸法)は一辺が、数mm、例えば1mmと極めて小さい。このため、すでに説明したように撮像チップ10とカバーガラス30との位置合わせは容易ではない。
しかし、撮像装置1では、カバーガラス30の接合面(第2の主面)30SBに、撮像チップ10の機能部パターンである受光部11と所定の位置関係にある2箇所に、それぞれ位置合わせマーク31A、31B(位置合わせマークセット31S)が形成されている。以下、位置合わせマーク31A、31Bのそれぞれを位置合わせマーク31という。
このため、撮像装置1は撮像チップ10とカバーガラス30との位置合わせを、精度よく、容易に行うことができる。このため、撮像装置1は製造が容易である。
例えば、撮像チップ10の外周部とカバーガラス30の外周部とを用いて位置合わせを行った場合の精度は、±20μm程度であるが、受光部11と位置合わせマークセット31Sとを用いて位置合わせを行った場合の精度は、±3μm以下である。
撮像装置1は、位置決め精度が高いので、カバーガラス側面が受光部に近接しすぎることで、反射光が受光部に到達して光学的フレアを発生させる、おそれがない。
さらに、撮像装置1では、機能部パターンである受光部11を位置合わせに用いる。このため、位置合わせだけを目的とするマーク(アライメントマーク)を撮像チップ10に形成する必要がないため、撮像装置1は小型化が容易である。
次に、図3のフローチャートに沿って撮像装置1の製造方法について説明する。
<ステップS11>撮像ウエハ作製
図4(A)に示すように、シリコン等の半導体からなるウエハの主面に公知の半導体製造技術を用いて、それぞれが受光部11及び電極群12Sを含む複数の機能部パターンからなる、複数の撮像チップパターンが形成された撮像ウエハ10Wが作製される。受光部11はCCD等でもよい。また、撮像信号を1次処理する半導体回路が受光部11の周囲に形成されていてもよい。この場合には、半導体回路パターンも機能部パターンのひとつとなる。
<ステップS12>撮像チップ作製
図4(B)に示すように、撮像ウエハ10Wを、幅10X、高さ10Yの間隔で切断することで、複数の直方体の撮像チップ10が作製される。すでに説明したように、それぞれの撮像チップ10には、受光部11と、信号を送受信するため配線(不図示)で接続された複数の電極パターン12からなる電極群12Sが配設されている。
<ステップS13>ガラスウエハ作製
図5(A)に示すように、光学部材ウエハであるガラスウエハ30Wが作製される。ガラスウエハ30Wには、撮像チップ10の機能部パターンである受光部11の対向する2つの角部と、所定の位置関係にある位置にそれぞれ形成された位置合わせマーク31A、31Bからなる1組の位置合わせマークセット31Sが複数組、形成されている。
すなわち、図6に示すように、十字型の位置合わせマーク31の中央31Xは、受光部11の角部11Xと一致する位置に形成されている。言い換えれば、カバーガラス30が、位置合わせマーク31が受光部11の角部11Xを覆うように接着される。なお、位置合わせマーク31Aと位置合わせマーク31Bとは、離れている方が精度の高い位置合わせが可能となるため、2つの位置合わせマーク31A、31Bは、受光部11の対向する2つの角部11Xと対応する位置に形成されている。
位置合わせマーク31は、金属、窒化シリコン、酸化シリコン、又は樹脂等の撮像ウエハ10Wの作製に用いられる材料、すなわち、半導体製造に用いられる材料により位置合わせマーク31が形成されると、撮像チップ10の汚染による劣化のおそれがない。
特に、アライメント装置により撮影された画像のコントラストが高く形成が容易であるため、位置合わせマーク31は、Cr、Ti、Cu等の金属からなることが好ましい。
位置合わせマーク31は、例えば、透明ガラスからなるガラスウエハの一面にTi/Crを蒸着したのち、フォトレジストでパターニングし、エッチングすることで作製される。
<ステップS14>カバーガラス作製
図5(B)に示すように、ガラスウエハ30Wを、幅方向30X、高さ方向30Yの間隔で切断することで、複数の直方体のカバーガラス30が作製される。撮像装置1では、カバーガラス30の幅30Xは、受光部11を覆い電極群12Sを覆わないように設定されている。すなわち、カバーガラス30の幅30Xは、撮像チップの幅10Xよりも小さい。なお、カバーガラス30の高さ30Yは、位置合わせ精度が、Dμmの場合、撮像チップ10の高さ10YよりもDμm小さく設定されることが好ましい。
すでに説明したように、それぞれのカバーガラス30には、撮像チップ10の機能部パターンと所定の位置関係にある2箇所に、それぞれ位置合わせマーク31A、31B(位置合わせマークセット31S)が形成されている。
なお、撮像チップ作製工程とカバーガラス作製工程とは順序が逆でもよいことはいうまでもない。また、図4(A)及び図5(A)に示すように、撮像ウエハ10Wとガラスウエハ30Wとは、大きさ及び形状が異なっていてもよい。
<ステップS15>位置合わせ
アライメント装置により撮影された画像を処理しパターン認識して、撮像チップ10とカバーガラス30との位置合わせ(アライメント)が行われる。すなわち、撮像チップ10の第1の主面10SAの画像と、カバーガラス30の第2の主面30SBの画像と、が撮影され、パターン認識されることにより、撮像チップ10の受光部11の角部11Xと、カバーガラス30の位置合わせマーク31の中央31Xとが認識され、両者が一致する位置に撮像チップ10とカバーガラス30との相対位置が移動する。
なお、カバーガラス30の厚さによる位置合わせ精度の低下を防止するために、位置合わせマーク31はカバーガラス30の接合面である第2の主面30SBに形成されている。
さらに、第2の主面30SBは撮像光学系の像高が最大となる位置であるため、位置合わせマーク31による光の反射及び散乱による悪影響が小さい。
<ステップS16>接着
撮像チップ10とカバーガラス30とは位置合わせされた状態で、接着層20を介して圧着しながら接着される。
接着層としては紫外線硬化樹脂又は熱硬化樹脂の中から、透明度及び耐湿性等を考慮して選定される。液状樹脂でもよいし、フィルム樹脂でもよい。フィルム樹脂の場合には、予め、カバーガラス30に接着しておいてもよい。
さらに、カバーガラス30で覆われていない電極パッド12に信号線40が接合される。
上記説明のよう、本実施形態の方法によれば、撮像チップ10の第1の主面10SAに受光部11と電極パッド12とが配設され、受光部11がカバーガラス30で覆われた撮像装置1が容易に製造できる。
また、撮像チップ10とカバーガラス30との位置合わせ精度が高いために、小さなカバーガラス30を用いることができるため、撮像装置1は小型である。
例えば、位置合わせ精度が2μmの場合、撮像装置1は、その平面視寸法の高さは(10Y)以下と、撮像チップ10の平面視寸法と同じである。また、撮像装置1は平面視寸法の幅も撮像チップ10の平面視寸法と同じである。
<第1実施形態の変形例>
次に第1実施形態の変形例の撮像装置及び変形例の撮像装置の製造方法について説明する。変形例の撮像装置等は、実施形態の撮像装置1と類似しているので同じ構成要素には同じ符号を付し説明は省略する。
本発明の撮像装置の製造では、位置合わせはアライメント装置により撮影された画像を処理しパターン認識して行われる。このため、撮像装置1のように、位置合わせマーク31の一部と受光部11の一部とが位置合わせ時に、位置が重複している必要はなく、両者は所定の位置関係にあればよい。
このため、以下の変形例1〜7の撮像装置1A〜1Gはいずれも撮像装置1の効果を有する。
<変形例1>
図7に示す変形例1の撮像装置1Aでは、L字型の位置合わせマーク31の内側角部31Cが、受光部11の角部11Xと、x、yだけ離れた所定関係の位置(距離d、相対角度θ)になるように形成されている。
例えば、所定関係の位置情報(距離d、相対角度θ)を、アライメント装置に予め入力しておくことで、精度の高い位置合わせが可能である。
<変形例2>
図8に示す変形例2の撮像装置1Bでは、位置合わせマーク31Aは撮像装置1Aと同様に受光部11の角部11Xと所定の位置関係にある。しかし位置合わせマーク31Bは、電極パッド12の角部12Xと所定の位置関係にある。
すなわち、位置合わせマーク31は、撮像チップ10の、いずれかの機能部パターンと所定の位置関係にあればよい。
また、カバーガラス30Bは、撮像チップ10の面内に配設されるように設定されており、撮像装置1Aの平面視寸法は撮像チップ10の平面視寸法と同じである。
例えば、位置合わせ精度が±2μmの場合、カバーガラス30Bの高さは(10Y−2μm)以下であり、幅も位置合わせ精度を考慮して設計されている。
<変形例3>
図9に示す変形例3の撮像装置1Cでは、位置合わせマークセット31Sは、受光部を11取り囲む防湿壁であるガードリング15と所定の位置関係にある位置に形成されている。
ガードリング15は、耐湿性、特に透湿性の低い材料、例えば、金属からなり、接着層20を介しての受光部11への水分の侵入を防止する機能を有する機能性パターンである。
なお、撮像装置1Cでは、カバーガラス30Cの高さ30Yは、撮像チップ10の高さ10Yよりも大きく、カバーガラス30Cの一部は撮像チップ10の側面からも突出している。すなわち、撮像装置の仕様に応じてカバーガラスの寸法は設定されていればよい。
<変形例4>
図10の断面模式図に示す変形例4の撮像装置1Dでは、接着層20Dが受光部11の上側を覆っていない。なお、図10は説明のための模式図であり、複数の断面線に沿った断面図を適宜、重畳して表示している。
撮像装置1Dでは、受光部11の上側に空洞部(キャビティ)20Xが形成されている。このような形状とするには、例えば、カバーガラス30面でフィルム状の樹脂31Dをパターニングすることによって、空洞である位置合わせマーク31、及び、受光部11の上側の空洞部20Xを形成し、除去されずに残った樹脂31Dが接着層20Dとなるように製作してもよいし、別体の部材をスペーサとして用いて空洞部20Xを形成した上で接着剤を用い、接着層20Dを介して撮像チップ10とカバーガラス30とを接合してもよい。
撮像装置1Dの受光部11は、受光部11と電極パッド12とを接続するための多層配線層12Dの透明絶縁層でも覆われており、さらにカラーフィルタ21Yとマイクロレンズ21Zとが配設されている。マイクロレンズ21Z上に接着層20Dが配設されているとレンズ機能が損なわれる。
接着層20Dの一部が空洞部20Xとなっている撮像装置1Dは、マイクロレンズ機能が損なわれることがない。
<変形例5>
図11に示す変形例5の撮像装置1Eでは、カバーガラス30Eは円形である。
さらに、カバーガラス30Eには、受光部11の4つの角部のそれぞれと所定の関係にある4箇所に、それぞれ位置合わせマーク31が形成されている。精度の高い位置合わせのためには、少なくとも2箇所に位置合わせマーク31が形成されていることが好ましいが、3箇所以上に形成されていてもよい。3箇所以上の位置合わせマーク31が形成されている場合には2箇所を用いて位置合わせを行い、他の位置合わせマーク31を用いて位置合わせ精度を算出したり、補正したりしてもよい。
なお、受光部11を覆う透明材料からなる光学部材としては、受光部11を覆い、かつ、位置合わせマーク31が形成できれば、その形状はもちろん、赤外カットフィルタ若しくはローパスフィルタ等のフィルタ、プリズム、又はレンズ機能を有する部材等であってもよい。
<変形例6>
図12に示す変形例6の撮像装置1Fは撮像光学系50を具備し、カバーガラス30に撮像光学系50を配設するときの位置合わせ(XYZ3軸方向)にも、位置合わせマーク31が利用される。
<変形例7>
図13に示す変形例7の撮像装置1Gでは、位置合わせマーク31Gはカバーガラス30の主面(接着面)30SBの外周部に形成された、受光部11への光入射を防止する金属からなる遮光パターン30Pを用いて形成されている、ネガ型パターンである。
遮光パターン30Pは、いわゆる光学的マスクであり、その一部を利用して形成される位置合わせマーク31Gは、遮光パターン30P形成時に同時に作製できるため、新たな工程追加の必要がない。
<第2実施形態>
図14に示すように、第2実施形態の内視鏡システム9は、内視鏡2と、プロセッサ3と、モニタ4と、を具備する。内視鏡2の挿入部2Bの先端部2Aには、すでに説明した撮像装置1等が配設されている。
撮像装置1等のように、カバーガラス30の位置合わせマーク31が受光部11の角部を覆うように接着されていると、図15(A)に示すように撮像装置1が撮像した矩形の内視鏡画像60の角部には位置合わせマーク31の画像31Qが表示される。
内視鏡システム9では、プロセッサ3の信号処理部3Aが撮像画像の角部を電子的な画像マスク61によりマスキングするため、モニタ4には、図15(B)に示すように、角部が表示されない内視鏡画像が表示される。
内視鏡システム9は、製造が容易な小型の撮像装置1等を具備し、さらに内視鏡画像60には、位置合わせマーク31の不要な画像31Qが表示されない。
本発明は上述した実施の形態及び変形例等に限定されるものではなく、本発明の要旨を変えない範囲において、種々の変更、改変、組み合わせ等ができる。
1、1A〜1G…撮像装置
2…内視鏡
3…プロセッサ
3A…信号処理部
9…内視鏡システム
10…撮像チップ
10W…撮像ウエハ
11…受光部
12…電極パターン
15…ガードリングパターン
20…接着層
30…カバーガラス
31…位置合わせマーク
40…信号線
50…撮像光学系
60…内視鏡画像

Claims (15)

  1. 受光部を含む複数の機能部パターンが第1の主面に形成された、半導体材料からなる直方体の撮像チップと、
    前記複数の機能部パターンのそれぞれと所定の位置関係にある少なくとも2箇所に、それぞれ位置合わせマークが形成されており、前記受光部を覆うように接着層を介して接着されている透明材料からなる光学部材と、
    前記光学部材に配設された撮像光学系と、を具備し、それぞれの前記位置合わせマークが前記撮像光学系の像高が最大となる位置に形成されていることを特徴とする撮像装置。
  2. 前記撮像チップの前記第1の主面に、前記受光部と接続された複数の電極パターンが、端辺にそって列設されており、
    前記光学部材が、前記複数の電極パターンを覆っていないことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記位置合わせマークが、前記光学部材の接着面に形成されていることを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。
  4. 前記位置合わせマークが、金属層により形成されていることを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。
  5. 前記光学部材が、カバーガラス、フィルタ、プリズム、またはレンズ機能を有する部材であることを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。
  6. 平面視寸法が、前記撮像チップの平面視寸法と同じであることを特徴とする請求項5に記載の撮像装置。
  7. 前記位置合わせマークが、前記受光部を取り囲む防湿壁であるガードリングと所定の位置関係にある位置に形成されていることを特徴とする請求項5に記載の撮像装置。
  8. 前記位置合わせマークが、平面視矩形の前記受光部の角部と所定の位置関係にある位置に形成されていることを特徴とする請求項5に記載の撮像装置。
  9. 前記光学部材が、前記位置合わせマークが前記受光部の前記角部を覆うように接着されていることを特徴とする請求項8に記載の撮像装置。
  10. 前記接着層が、前記受光部を覆っていないことを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の撮像装置。
  11. 前記位置合わせマークが、前記光学部材の接着面の外周部に形成された、前記受光部への光入射を防止する金属からなる遮光パターンを用いて形成されていることを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の撮像装置。
  12. それぞれが受光部を含む複数の機能部パターンからなる、複数の撮像チップパターンが第1の主面に形成された、半導体材料からなる撮像ウエハを作製する工程と、
    前記撮像ウエハを切断し個片化することで、複数の直方体の撮像チップを作製する工程と、
    前記撮像チップパターンの前記機能部パターンの少なくとも2箇所と所定の位置関係にある位置に、それぞれ位置合わせマークが形成されている1組の位置合わせマークセットを、光学部材ウエハに複数組形成する工程と、
    前記光学部材ウエハを切断し個片化することで、それぞれに前記1組の位置合わせマークセットが形成されている複数の平面視矩形の光学部材を作製する工程と、
    前記光学部材の位置合わせマークと、前記位置合わせマークと所定の位置関係にある前記機能部パターンとを位置合わせしながら、接着層を介して前記撮像チップと前記光学部材とを接着する工程と、
    前記位置合わせマークを位置合わせに利用して前記光学部材に撮像光学系を配設する工程と、を具備し、
    それぞれの前記位置合わせマークが前記撮像光学系の像高が最大となる位置に形成されていることを特徴とする撮像装置の製造方法。
  13. 前記撮像チップの前記第1の主面に、前記受光部と接続された複数の電極パターンが、端辺にそって列設されており、
    前記光学部材が、前記複数の電極パターンを覆わないように接着されることを特徴とする請求項12に記載の撮像装置の製造方法。
  14. 金属層により形成されている前記位置合わせマークが、前記光学部材の接着面に形成されていることを特徴とする請求項13に記載の撮像装置の製造方法。
  15. 請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の撮像装置が挿入部の先端部に配設された内視鏡と、
    前記撮像装置が撮像する矩形の内視鏡画像を処理し、前記内視鏡画像の角部をマスキングし、前記角部を表示しない内視鏡画像を出力する処理部を有するプロセッサと、を具備する内視鏡システム。
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