JP6259254B2 - 検査装置および検査方法 - Google Patents
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Description
それに対し、例えば、TSV技術では、積層された半導体チップ間の電気的な接続をTSVによって行う。TSV技術を利用することにより、ワイヤ・ボンディングのための配線スペースを不要にできる。したがって、TSV技術を用いた場合、3次元実装されたチップを収めた半導体パッケージを、従来に比べて、より小さく且つ薄く形成することができる。
絶縁性材料からなる基板と、その基板の表面から一部が露出して電気的な接続部を構成するようにその基板中に設けられた第1の電極と、その基板中に設けられた第2の電極とを有し、
第1の電極および第2の電極は、互いに平行となる部分を有して離間配置され、電気的に絶縁するように構成されることを特徴とする検査装置に関する。
第1の電極は、被検査体の複数の配線の端部のそれぞれが1つの接続部と対をなすように、複数設けられて、相互に電気的に絶縁するように配列され、
第2の電極は複数が設けられて、相互に電気的に接続するように構成されており、
第1の電極は、最も近くにある第2の電極と、互いに平行となる部分を有するように構成されることが好ましい。
導電性の材料からなる基板と、
基板に設けられた凹部と、
凹部の壁面を被覆する絶縁性部材と、
凹部に挿入されて絶縁性部材により周囲を覆われるとともに基板の表面から一部が露出して電気的な接続部を構成する電極とを有し、
凹部の壁面および電極は、互いに平行となる部分を有するとともに、絶縁性部材によって互いに離間され、電気的に絶縁するように構成されることを特徴とする検査装置に関する。
凹部および電極は、複数の配線の端部のそれぞれが1つの電極の接続部と対をなすように、それぞれ複数設けられることが好ましい。
絶縁性材料からなる基板と、
基板の表面から一部が露出して電気的な接続部を構成するようにその基板中に設けられた第1の電極と、
基板中に設けられた第2の電極とを有し、
第1の電極は、複数の配線の端部のそれぞれが1つの接続部と対をなすように複数が設けられ、複数の第1の電極が相互に電気的に絶縁されるように配列され、
第2の電極は、複数が設けられて相互に電気的に接続されて配列され、
第1の電極および第2の電極は、第1の電極が最も近くにある第2の電極と平行となる部分を有するとともに、互いに離間配置されて電気的に絶縁するように構成された検査装置を用い、
被検査体の複数の配線の一方の端部のそれぞれと、それと対をなす検査装置の第1の電極の接続部とを電気的に接続する接続工程と、
被検査体の複数の配線から順次1つずつを選択し、選択された1つの配線のもう一方の端部と、相互に接続された複数の第2の電極との間の電気容量を測定する電気容量測定工程とを含んでなることを特徴とする検査方法に関する。
導電性の材料からなる基板と、
基板に設けられた凹部と、
凹部の壁面を被覆する絶縁性部材と、
凹部に挿入されて絶縁性部材により周囲を覆われるとともに基板の表面から一部が露出して電気的な接続部を構成する電極とを有し、
凹部および電極は、凹部の壁面と電極とが互いに平行となる部分を有して絶縁性部材によって離間され、互いに電気的に絶縁されるとともに、複数の配線の各端部が1つの電極の接続部と対をなすように、それぞれが複数設けられて構成された検査装置を用い、
被検査体の複数の配線の一方の端部のそれぞれと、それと対をなす検査装置の電極の接続部とを電気的に接続する接続工程と、
被検査体の複数の配線から順次1つずつを選択し、選択された1つの配線のもう一方の端部と、基板との間の電気容量を測定する電気容量測定工程とを含んでなることを特徴とする検査方法に関する。
図1は、本発明の第1実施形態である検査装置の構成を示す図である。
図4は、本発明の第2実施形態である検査装置の構成を示す図である。
したがって、検査装置11は、共通電極14を両端部に配置して、図5の左右方向に、共通電極14と電気容量電極13とが交互に配置される構造の電極列を、基板12中、図5の上下方向に複数配置して有する。
図8は、本発明の第3実施形態である検査装置の構成を示す図である。
したがって、絶縁性部材29は、凹部28の壁面と、凹部28に挿入された電極23との間に配置され、凹部28の壁面を被覆するとともに電極23の周囲を覆うように設けられている。
2、12、22 基板
3、13 電気容量電極
4、14 共通電極
5、15、25 電極パッド
6、16 共通電極端子
7、17 接続配線
23 電極
28 凹部
29 絶縁性部材
101、111 配線基板
102、112 基体
103、113 配線
104、114 端子
200 電気容量計
201、202 プローブ
Claims (7)
- 基体と前記基体を貫通する配線とを有する被検査体に組み合わされて前記被検査体を検査する検査装置であって、
絶縁性材料からなる基板と、前記基板の表面から一部が露出して電気的な接続部を構成するように前記基板中に設けられた第1の電極と、前記基板中に設けられた第2の電極とを有し、
前記第1の電極および前記第2の電極は、互いに平行となる部分を有して離間配置され、電気的に絶縁するように構成されており、前記第1の電極は、前記基板中で、前記接続部が構成される前記基板の表面と垂直な方向に伸びるように設けられることを特徴とする検査装置。 - 前記被検査体は、前記基体を貫通する配線を複数有し、
前記第1の電極は、前記被検査体の複数の配線の端部のそれぞれが1つの前記接続部と対をなすように、複数設けられて、相互に電気的に絶縁するように配列され、
前記第2の電極は複数が設けられて、相互に電気的に接続するように構成されており、
前記第1の電極は、最も近くにある前記第2の電極と、互いに平行となる部分を有するように構成されることを特徴とする請求項1に記載の検査装置。 - 前記複数の第2の電極は、1つの前記第1の電極を少なくとも一対の前記第2の電極が挟持する構造を含むように配列されることを特徴とする請求項2に記載の検査装置。
- 基体と前記基体を貫通する配線とを有する被検査体に組み合わされて前記被検査体を検査する検査装置であって、
導電性の材料からなる基板と、
前記基板に設けられた凹部と、
前記凹部の壁面を隙間なく被覆する絶縁性部材と、
ライン状または棒状であり、前記凹部に挿入されて前記絶縁性部材により周囲を隙間なく覆われるとともに前記基板の表面から一部が露出して電気的な接続部を構成する電極とを有し、
前記凹部の壁面および前記電極は、互いに平行となる部分を有するとともに、前記絶縁性部材によって互いに離間され、電気的に絶縁するように構成されており、前記電極は、前記基板の前記凹部の内部で、前記接続部が構成される前記基板の表面と垂直な方向に伸びるように設けられることを特徴とする検査装置。 - 前記被検査体は、前記基体を貫通する配線を複数有し、
前記凹部および前記電極は、前記複数の配線の端部のそれぞれが1つの前記接続部と対をなすように、それぞれ複数設けられることを特徴とする請求項4に記載の検査装置。 - 基体と前記基体を貫通する複数の配線とを有する被検査体を検査する検査方法であって、
絶縁性材料からなる基板と、
前記基板の表面から一部が露出して電気的な接続部を構成するように前記基板中に設けられた第1の電極と、
前記基板中に設けられた第2の電極とを有し、
前記第1の電極は、前記複数の配線の端部のそれぞれが1つの前記接続部と対をなすように複数が設けられ、前記複数の第1の電極が相互に電気的に絶縁されるように配列され、
前記第2の電極は、複数が設けられて相互に電気的に接続されて配列され、
前記第1の電極および前記第2の電極は、前記第1の電極が最も近くにある前記第2の電極と平行となる部分を有するとともに、互いに離間配置されて電気的に絶縁するように構成されており、前記第1の電極は、前記基板中で、前記接続部が構成される前記基板の表面と垂直な方向に伸びるように設けられた検査装置を用い、
前記被検査体の前記複数の配線の一方の端部のそれぞれと、それと対をなす前記検査装置の前記第1の電極の前記接続部とを電気的に接続する接続工程と、
前記被検査体の複数の配線から順次1つずつを選択し、前記選択された1つの配線のもう一方の端部と、前記相互に接続された複数の第2の電極との間の電気容量を測定する電気容量測定工程とを含んでなることを特徴とする検査方法。 - 基体と前記基体を貫通する複数の配線とを有する被検査体を検査する検査方法であって、
導電性の材料からなる基板と、
前記基板に設けられた凹部と、
前記凹部の壁面を隙間なく被覆する絶縁性部材と、
ライン状または棒状であり、前記凹部に挿入されて前記絶縁性部材により周囲を隙間なく覆われるとともに前記基板の表面から一部が露出して電気的な接続部を構成する電極とを有し、
前記凹部および前記電極は、前記凹部の壁面と前記電極とが互いに平行となる部分を有して前記絶縁性部材によって離間され、互いに電気的に絶縁されており、前記電極は、前記基板の前記凹部の内部で、前記接続部が構成される前記基板の表面と垂直な方向に伸びるように設けられるとともに、前記複数の配線の各端部が1つの前記電極の前記接続部と対をなすように、それぞれが複数設けられて構成された検査装置を用い、
前記被検査体の前記複数の配線の一方の端部のそれぞれと、それと対をなす前記検査装置の前記電極の前記接続部とを電気的に接続する接続工程と、
前記被検査体の複数の配線から順次1つずつを選択し、前記選択された1つの配線のもう一方の端部と、前記基板との間の電気容量を測定する電気容量測定工程とを含んでなることを特徴とする検査方法。
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