JP6241094B2 - 画像読取装置、画像形成装置及び画像読取り方法 - Google Patents
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Description
図8は、白補正部505の第1実施例を示す機能ブロック図である。なお、図8には記載していないが、原稿読取期間はXSFGATE期間、濃度基準部材読取期間はXSHGATE期間とする(図9参照)。
原稿読取前では、XSHGATE期間がカウンタ602の規定数を超える為、濃度基準部材を読んでいる白板データは、平均値の算出と、第1判定部604による比較とが実施された後に第1記憶部603に格納される。そして、白補正部505は、XSHGATEがカウンタ602で設定した規定数9ブロックに達する為、XSHGATEネゲート後に、第2記憶部605に上書きを行い、第2記憶部605に格納したシェーディングデータを用いて1枚目原稿をシェーディング補正する(図10参照)。
1枚目の原稿通紙後からは紙間(前の原稿読取終了後から次の原稿読取開始まで)を狭めて、生産性の向上を図る。紙間が狭まるため、XSHGATEアサート期間も狭まる(図中では一例として3ブロックとしている)。そして、2枚目のXSHGATEアサート期間終了時にはカウンタ602がカウントした回数が3となり、第1記憶部603には2枚目で読取った合計3ブロックの中の最大値が格納される。XSHGATEのアサート期間はカウンタ602がカウントした回数が規定数に未達の為、第1記憶部603のデータを第2記憶部605には上書きしない。よって、シェーディングデータ補正部606は、2枚目の原稿に対しては第2記憶部605に格納されている1枚目で生成したシェーディングデータを用いてシェーディング補正を実施する。
3枚目のXSHGATEアサート期間終了時にはカウンタ602がカウントした回数が6となり、第1記憶部603には2枚目と3枚目で読取った合計6ブロックの中の最大値が格納される。しかし、ブロック数が規定数に未達の為、第1記憶部603のデータを第2記憶部605には上書きしない。よって、2枚目の原稿に対しては第2記憶部605に格納されている1枚目で生成したシェーディングデータを用いてシェーディング補正を実施する。
4枚目のXSHGATEアサート期間終了時にはカウンタ602がカウントした回数が9となり、第1記憶部603には2枚目、3枚目と4枚目で読取った合計9ブロックの中の最大値が格納される。白補正部505は、ブロック数が規定数に達する為、XSHGATEネゲートのタイミングで第1記憶部603のデータを第2記憶部605に上書きし、第2記憶部605に格納した更新したシェーディングデータを用いて原稿をシェーディング補正する。また、ブロック数が規定数に達するので、XSHGATEネゲートのタイミングでカウンタ602はクリアされて回数が0となる。
5枚目のXSHGATEアサート期間終了時にはカウンタ602がカウントした回数が3となり、第1記憶部603には5枚目で読取った合計3ブロックの中の最大値が格納される。しかし、白補正部505は、ブロック数が規定数に未達の為、第1記憶部603のデータを第2記憶部605には上書きせず、5枚目の原稿に対しては第2記憶部605に格納されている4枚目で生成したシェーディングデータを用いてシェーディング補正を実施する。
図11は、白補正部505の第2実施例を示す機能ブロック図である。ゴミ検知部(判断部)607は、第1記憶部603が記憶しているシェーディングデータを第2記憶部605が記憶する前に、濃度基準部材に付着しているゴミの影響がシェーディングデータにあるか否かを判断する(ゴミの有無を検知する)。つまり、ゴミ検知部607は、カウンタ602がカウントした回数が規定値を超え、XSHGATEがネゲートしたタイミングで、第1記憶部603に格納されているシェーディングデータに対するゴミの影響を検知する。
平均値算出部601は、ブロック2〜ブロック5の領域で、濃度基準部材70に付着した汚れの影響を受けた状態で副走査方向の平均値を算出する。しかし、ブロック1及びブロック6〜9では、平均値算出部601が汚れの影響を受けずに副走査方向の平均値を算出する為、第1記憶部603には汚れの影響を受けないシェーディングデータが格納され、そのシェーディングデータを第2記憶部605が上書きし、第2記憶部605に格納されたシェーディングデータを用いてシェーディングデータ補正部606が1枚目原稿をシェーディング補正する為、汚れによるスジは発生しない。
2枚目のXSHGATEアサート期間で取得する入力データはいずれも汚れの影響を受けている。第1記憶部603には2枚目で読んだブロック1〜3の中で汚れの影響が最も少なかったブロックのシェーディングデータが格納される。しかし、シェーディングデータ補正部606は、第2記憶部605に格納されているシェーディングデータで2枚目原稿をシェーディング補正する為、汚れによるスジは発生しない。
3枚目のXSHGATEアサート期間で取得する入力データはいずれも汚れの影響を受けている。第1記憶部603には1,2枚目で読んだブロック1〜6の中で汚れの影響が最も少なかったブロックのデータが格納される。シェーディングデータ補正部606は、第2記憶部605に格納されているシェーディングデータで3枚目原稿をシェーディング補正する為、汚れによるスジは発生しない。
まず、比較のために、図8に示した白補正部505の第1実施例の場合について示す。4枚目のXSHGATEアサート期間で取得する入力データはいずれも汚れの影響を受けている。第1記憶部603には1,2,3枚目で読んだブロック1〜9の中で汚れの影響が最も少なかったブロックのデータが格納される。そして、ブロック数が規定数に達する為、第1記憶部603に格納されたシェーディングデータによって第2記憶部605に格納されたシェーディングデータは上書きされる。シェーディングデータ補正部606は、汚れの影響を受けたシェーディングデータを用いて4枚目原稿をシェーディング補正する為、汚れによるスジが発生する(図13(a)参照)。
図11に示した白補正部505の第2実施例では、4枚目のXSHGATEアサート期間で取得する入力データはいずれも汚れの影響を受けている。第1記憶部603には1,2,3枚目で読んだブロック1〜9の中で汚れの影響が最も少なかったブロックのデータが格納される。そして、ブロック数が規定数に達する為、ゴミ検知部607は、第1記憶部603が格納しているシェーディングデータに対するゴミの影響を検知する。
ブロック2〜ブロック5の領域に汚れがある場合、平均値算出部601は、濃度基準部材70に付着した汚れの影響を受けた状態で副走査方向の平均値を算出する。しかし、平均値算出部601は、ブロック1及びブロック6〜9では汚れの影響を受けずに副走査方向の平均値を算出する。よって、第1記憶部603には汚れの影響を受けないシェーディングデータが格納され、そのシェーディングデータが第2記憶部605に上書きされる。シェーディングデータ補正部606が第2記憶部605に格納されたシェーディングデータを用いて1枚目原稿をシェーディング補正する為、汚れによるスジは発生しない。なお、カウンタ602の規定数は1ブロックであるが、XSHGATEネゲートタイミングまでは副走査方向の算出された平均値と比較して値が大きいと第1判定部604が判定したシェーディングデータが第1記憶部603に記憶される。
第1記憶部603には2枚目(又は3枚目、4枚目、5枚目のいずれか)で読んだブロック1のシェーディングデータが第1記憶部603に格納される。ゴミ検知部607は、第1記憶部603に格納されたシェーディングデータに対してゴミの影響を検知する。ここで、第1記憶部603に格納されたシェーディングデータが閾値未満であるとゴミ検知部607が判断した場合、第2記憶部605は、第1記憶部603に格納されたシェーディングデータによる上書きを行わない。シェーディングデータ補正部606は、1枚目で第2記憶部605に格納したシェーディングデータをそのまま使用する。つまり、シェーディングデータ補正部606が汚れの影響を受けていない第2記憶部605に格納されたシェーディングデータを用いて4枚目原稿をシェーディング補正する為、汚れによるスジが発生しない。
図15は、白補正部505の第3実施例を示す機能ブロック図である。ゴミ検知&補正部(第2補正部)608は、第1記憶部603が記憶しているシェーディングデータを第2記憶部605が記憶する前に、濃度基準部材に付着しているゴミの影響がシェーディングデータにあるか否かを判断し、補正を行う。つまり、第2補正部608は、例えばゴミ検知部(判断部)607の機能を包含し、カウンタ602がカウントした回数が規定値を超え、XSHGATEがネゲートしたタイミングで、第1記憶部603に格納されているシェーディングデータに対するゴミの影響を検知し、補正を行う。
図16は、白補正部505の第4実施例を示す機能ブロック図である。白補正部505の第4実施例において、第2補正部608は、閾値未満のシェーディングデータを識別した場合、該当画素位置(又は主走査方向において複数に分割したエリア位置)を示す情報をエラーカウンタ(警告部)610に対して出力するものとする。エラーカウンタ(警告部)610は、第2補正部608が連続して同一画素位置を示す情報を出力した場合にカウントを加算し、カウント数が所定の閾値に達したら、ユーザーへ濃度基準部材70及びADF10の読取ガラス面(図示せず)の清掃を促す情報を出力する。
図18は、白補正部505の第5実施例を示す機能ブロック図である。第2算出部611は、平均値算出部601が算出した平均値、及び第1記憶部603が格納した平均値を用いて光量の変化量(変化比率)を算出し、光量補正部(第3補正部)612に対して出力する。
Dout:シェーディング補正後のデータ
Din :4枚目の光量で取得した原稿データ
SD :2枚目の光量で取得した濃度基準部材データ
α :係数(グレーバランス調整など)
図20は、白補正部505の第6実施例を示す機能ブロック図である。第2判定部613は、第2算出部611が算出した副走査方向の平均値を用いて算出した所定のエリアの平均値と、第3記憶部614に格納されたデータと比較し、値が大きい方を第3記憶部614に上書きする。
図23は、ADF10の変形例の動作を示す図である。第2読取ローラー146(又は濃度基準部材70)は、図示しないアクチュエータ等を用いて各紙間で狙いのローラー位置の読取データを取得するように構成されてもよい。即ち、アクチュエータ等の自動駆動制御機構を用いて濃度基準部材70の回転とシェーディングデータの読取りタイミングの同期をとることにより、濃度基準部材70の各ブロックのデータを取得する位置を、1枚目のシェーディングデータを取得した位置と同じ位置にすることが可能である。
10 ADF(画像読取装置)
11 コントローラ
40、500 光源部
41 導光体
42 ロッドレンズアレイ
43 センサ基板
70 濃度基準部材
113 第2読取部
146 第2読取ローラー
420 ロッドレンズ
430、501 センサ
503 A/D変換部
505 白補正部
600 画素加算部
601 平均値算出部
602 カウンタ
603 第1記憶部
604 第1判定部
605 第2記憶部
606 シェーディングデータ補正部
607 ゴミ検知部
608 ゴミ検知&補正部
609 第1算出部
610 エラーカウンタ
611 第2算出部
612 第3補正部
613 第2判定部
614 第3記憶部
615 第4補正部
Claims (9)
- 光を照射する照射部と、
主走査方向に配列され、前記照射部が照射する光の反射光を結像する複数のレンズと、
前記複数のレンズが結像した反射光の光量を、主走査方向に配列された複数の画素を示す電気信号に変換する光電変換部と、
前記光電変換部が変換した電気信号を前記複数の画素それぞれの画素値に変換する変換部と、
前記複数のレンズの配列方向に沿って設けられた軸を中心として回転可能に設けられ、前記照射部が照射する光を前記複数のレンズに向けて周方向の反射面で反射する柱状の濃度基準部材と、
搬送される原稿間において、前記濃度基準部材の反射面の周方向の一部であるブロックで反射した光の光量に対応する前記画素値が加算され、加算された前記画素値の平均値を算出する平均値算出部と、
搬送される原稿間における複数の前記ブロックそれぞれで算出された平均値の最大値を記憶する第1記憶部と、
前記平均値算出部が新たに算出した平均値、及び前記第1記憶部が記憶した平均値のいずれの平均値が大きいかを判定し、値が大きい平均値を前記最大値として前記第1記憶部に記憶する判定部と、
搬送される原稿間において平均値を算出した前記ブロックの数の合計が、予め定められた規定数に達した場合に、前記第1記憶部が記憶する平均値を上書きして記憶する第2記憶部と、
前記第2記憶部が記憶する平均値に基づいて、シェーディング補正を行う第1補正部と、
を有することを特徴とする画像読取装置。 - 前記第1記憶部が記憶する平均値が予め定められた閾値を超えているか否かを判断する判断部をさらに有し、
前記第2記憶部は、
前記判断部が閾値を超えていないと判断した場合、前記第1記憶部が記憶する平均値を記憶しないこと
を特徴とする請求項1に記載の画像読取装置。 - 前記反射面の予め定められた領域に対する電気信号の平均値の変化比率に応じて前記第2記憶部が記憶する平均値を補正する第2補正部をさらに有すること
を特徴とする請求項1又は2に記載の画像読取装置。 - 主走査方向の予め定められた領域において、前記判断部が閾値未満であると判断した回数が予め定められた回数以上となった場合に、少なくとも前記濃度基準部材に対する清掃を促す警告を発する警告部をさらに有すること
を特徴とする請求項2に記載の画像読取装置。 - 前記反射面の予め定められた領域に対する電気信号の平均値の変化比率に応じて前記第1記憶部が記憶する平均値を補正する第3補正部をさらに有し、
前記判定部は、
前記平均値算出部が新たに算出した平均値と、前記第3補正部が補正した平均値とを比較し、値が大きいと判定した平均値を前記第1記憶部に記憶させること
を特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の画像読取装置。 - 前記反射面の予め定められた領域に対し、前記平均値算出部が新たに算出した平均値に基づいて、前記第2記憶部が記憶する平均値を補正する第4補正部をさらに有すること
を特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の画像読取装置。 - 前記濃度基準部材は、
原稿が搬送される毎に、反射面の周方向の一部がずれるように回転が制御されていること
を特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の画像読取装置。 - 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の画像読取装置を有する画像形成装置。
- 照射された光の反射光を主走査方向に配列された複数のレンズが結像した光量を、主走査方向に配列された複数の画素を示す電気信号に変換する工程と、
変換した電気信号を前記複数の画素それぞれの画素値に変換する工程と、
搬送される原稿間において、前記複数のレンズの配列方向に沿って設けられた軸を中心として回転可能に設けられ、照射された光を前記複数のレンズに向けて周方向の反射面で反射する柱状の濃度基準部材の反射面の周方向の一部であるブロックで反射した光の光量に対応する前記画素値が加算され、加算された前記画素値の平均値を算出する工程と、
搬送される原稿間における複数の前記ブロックそれぞれで算出された平均値の最大値を第1記憶部に記憶させる工程と、
新たに算出した平均値、及び前記第1記憶部が記憶した平均値のいずれの平均値が大きいかを判定し、値が大きい平均値を前記最大値として前記第1記憶部に記憶させる工程と、
搬送される原稿間において平均値を算出した前記ブロックの数の合計が、予め定められた規定数に達した場合に、前記第1記憶部が記憶する平均値を第2記憶部に上書きして記憶させる工程と、
前記第2記憶部が記憶する平均値に基づいて、シェーディング補正を行う工程と、
を含むことを特徴とする画像読取り方法。
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JP2013137455A JP6241094B2 (ja) | 2013-06-28 | 2013-06-28 | 画像読取装置、画像形成装置及び画像読取り方法 |
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