JP6237032B2 - 色と三次元形状の計測方法及び装置 - Google Patents
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Description
まず、照度差ステレオの原理について述べる。照度差ステレオでは、物体に対して3つ以上の方向から光を照射してそれぞれについて撮影を行い、得られたセンサ応答から画素単位で対象物体の拡散アルベドと法線ベクトルを導出する。
次に、撮影時の光源位置が未知の場合、すなわち、対象物体表面上の各点における光源ベクトルli及び入射光の放射輝度Riが未知の場合の照度差ステレオについて、本発明に係る自己校正照度差ステレオの装置構成及び処理方法を説明する。
まず、本発明に係る撮影システムの第1の装置構成例について、図1を参照しながら説明する。図1は、本発明に係る撮影システムの第1の装置構成例を表す説明図である。
図1において、第1の装置は、デジタルカメラ11と、LEDランプ12〜15と、コンピュータ16と、キーボード17と、モニタ18とを備えている。デジタルカメラ11は、R、G、Bの3チャンネルのデジタル画像を撮影するためのデジタルカメラであり、対象物体を撮影するための適切なレンズが装着されている。LEDランプ12〜15は、デジタルカメラ11によって対象物体を撮影する際の照明光源として使用する。コンピュータ16は、外部記憶装置としてのハードディスク、一時記憶装置としてのメモリ、演算装置としてのCPUなどを備えており、デジタルカメラ11を制御して撮影画像を取り込み、LEDランプ12〜15の点灯/消灯を制御する。また、コンピュータ16は、撮影画像を用いて対象物体の三次元形状や色情報を計算する処理を行う。ただし、撮影画像を取り込むコンピュータと、データ処理用のコンピュータは、それぞれ別のコンピュータであっても構わない。キーボード17は、ユーザがコンピュータ16を操作するための入力インタフェースである。モニタ18は、コンピュータ16の処理結果を表示するための出力インタフェースである。
次に、本発明に係る撮影システムの第2の装置構成例について、図2及び図3を参照しながら説明する。図2は、本発明に係る撮影システムの第2の装置構成例を表す説明図である。図3は、図2の第2の装置構成に用いられる光源セットの構造例を説明する図である。
次に、本発明に係る撮影システムによって得られた画像群から、対象物体の色情報と三次元形状を求める処理方法について、図4、図5、ならびに図6を参照しながら説明する。なお、図1に示す本発明第1の装置構成例は、図2の本発明第1の装置構成例において光源セット上に配されたLEDランプの数が1つの場合と等価であるとみなすことができるため、以下では、図2の本発明第1の装置構成例に基づいて処理方法を説明する。また、一般性を考慮して、使用する光源セットの数をMとし、j番目の光源セット(j=1,2,...,M)に設置されているLEDランプの数をDjとする。以降では、j番目の光源セットを光源セットjと表記し、光源セットjにおけるk番目の光源(k=1,2,...,Dj)を光源jkと表記する。
[ステップP01]
撮影画像において対象物体に対応する画像領域からG個の画素を抽出する。以降では、これらの画素をサンプル画素と表記する。抽出方法は特に限定するものではなく、例えば、モニタに表示された画像をユーザが見ながら、マウスを用いて適当な画素を選択する方法や、画素をランダムに選択するプログラムを使用する方法などを用いればよい。
ステップP01で選択された全てのサンプル画素について、各光源下で撮影された画像のセンサ応答を抽出する。これは、上記式(3)のSをG個の画素について取得することに相当する。抽出したセンサ応答は、評価関数で使用するために保持しておく。
対象物体の粗い三次元形状を計算する。高精細な三次元形状は照度差ステレオ法に基づいて最終的に得られるが、後述するステップS02において対象物体の大まかな三次元形状の情報が必要となるため、適当な方法で三次元形状を計算しておく。粗い三次元形状を取得するための手段としては、例えば、前述のパターン投影法などが適用可能である。あるいは、対象物体が平面に近いものであれば、図7に示すように、対象物体と同時に位置関係が既知のマーカーを撮影する方法も採ることができる。図7の例では、マーカー41〜44は同一平面上の十字交差線分であり、各マーカーの交点の三次元座標はZ成分を0とすることで規定することができる。これらのマーカー41〜44を、撮影対象面とほぼ同一の平面上に設置する。撮影画像において各マーカーの交点に対応する画素位置を抽出することにより、4つのマーカー41〜44が示す平面から撮影画像に対する射影変換を得ることができるため、逆の変換により、撮影画像における任意の画素に対応する対象物体上の点の概ねの三次元座標を特定することができる。
[ステップP04]
[ステップS01]
光源セットjに対して、回転パラメータθX;j、θY;j、θZ;jと移動パラメータtX;j、tY;j、tZ;jを用いて上記式(6)により姿勢変換を行い、光源セットjに設置された全ての光源の位置を計算する。光源から照射される光が指向性を持つ場合には、回転パラメータから光源の向きも計算する。これを全てのjについて行う。
ステップP01で選択した全てのサンプル画素について、各光源に対する光源ベクトル及び入射光放射輝度を計算する。
ステップS01で求めた光源の位置(及び向き)と、ステップS02で求めた光源ベクトル及び入射光放射輝度と、ステップP02で得たセンサ応答とを用いて、上記式(5)に基づき、全てのサンプル画素に対して法線ベクトルと拡散アルベドを求める。
ステップS03で得られた法線ベクトル及び拡散アルベドと、ステップS02で得られた光源ベクトル及び入射光放射輝度とを用いて、全てのサンプル画素と全ての光源との組み合わせについて、式(1)に基づき、ランバートモデル仮定におけるセンサ応答を計算する。この計算も、ステップS03と同様にR、G、Bの各チャンネルについて行う。
ステップS04で計算したセンサ応答のランバートモデル値と、ステップP02で得た実際の撮影画像から抽出したセンサ応答(実測値)との差を、式(10)により計算し、評価値Eとする。
12〜15、31〜34 LEDランプ
16、26 コンピュータ
17、27 キーボード
18、28 モニタ
22、23 光源セット
41〜44 マーカー
Claims (10)
- 物体の色と三次元形状を計測する計測装置であって、
計測対象となる物体の粗い三次元形状を計測する粗形状計測手段と、
計測対象となる物体の画像を3チャンネル以上のチャンネル数で撮像する撮像手段と、
前記物体を撮像する際に使用する4個以上の照明光源からなる照明手段と、
前記照明手段における前記4個以上の照明光源を排他的に点灯し、前記撮像手段にて前記物体を順次撮像して、照明光源毎の撮像画像を得る画像入力手段と、
前記複数の撮像画像と前記粗い三次元形状とから、前記4個以上の照明光源のそれぞれについて撮像時の位置を推定する光源位置推定手段と、
前記光源位置推定手段によって得られたそれぞれの照明光源の位置に基づき、前記物体の色情報と三次元形状情報を算出する物体復元手段とを備える、計測装置。 - 前記4個以上の照明光源の少なくとも1つは、他の1つ以上の照明光源との相対位置関係が固定されていることを特徴とする、請求項1に記載の計測装置。
- 前記光源位置推定手段は、
前記撮像画像の中で計測対象となる物体が含まれる領域から複数のサンプル画素を選択するサンプル画素抽出手段と、
前記照明光源の位置と向きを三次元物体の回転と移動で表し、回転パラメータと移動パラメータから前記4個以上の照明光源のそれぞれについて位置と向きを計算する光源姿勢計算手段と、
前記光源姿勢計算手段で計算された光源の位置と向き、及び計測対象物体の粗い三次元形状情報を用いて、前記サンプル画素に対応する計測対象物体表面上の各点における各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度とを計算する入射光計算手段と、
前記入射光計算手段で計算された各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度、及び前記サンプル画素におけるセンサ応答を用いて、全ての前記サンプル画素について、計測対象物体の法線ベクトル及び拡散アルベドを計算する表面計算手段と、
前記表面計算手段で計算された法線ベクトルと拡散アルベド、及び前記入射光計算手段で計算された各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度とを用いて、全ての前記サンプル画素及び全ての光源について、センサ応答のモデル値を計算するセンサ応答モデル値計算手段と、
前記センサ応答モデル値計算手段で計算されたセンサ応答のモデル値と前記撮像画像のセンサ応答との誤差を計算する誤差計算手段と、
前記誤差計算手段で計算された誤差が最小となる前記照明光源の位置と向きを表す回転パラメータと移動パラメータを、非線形最適化によって決定する光源姿勢計算手段とを含む、請求項1に記載の計測装置。 - 4個以上の照明光源を排他的に点灯して物体を照明し、撮像機器によって物体を順次撮像して得た照明光源毎の撮像画像から当該照明光源の位置と向きを推定する光源姿勢推定装置であって、
前記撮像画像の中で計測対象となる物体が含まれる領域から複数のサンプル画素を選択するサンプル画素抽出手段と、
前記照明光源の位置と向きを三次元物体の回転と移動で表し、回転パラメータと移動パラメータから前記4個以上の照明光源のそれぞれについて位置と向きを計算する光源姿勢計算手段と、
前記光源姿勢計算手段で計算された光源の位置と向き、及び計測対象物体の粗い三次元形状情報を用いて、前記サンプル画素に対応する計測対象物体表面上の各点における各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度とを計算する入射光計算手段と、
前記入射光計算手段で計算された各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度、及び前記サンプル画素におけるセンサ応答を用いて、全ての前記サンプル画素について、計測対象物体の法線ベクトル及び拡散アルベドを計算する表面計算手段と、
前記表面計算手段で計算された法線ベクトルと拡散アルベド、及び前記入射光計算手段で計算された各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度とを用いて、全ての前記サンプル画素及び全ての光源について、センサ応答のモデル値を計算するセンサ応答モデル値計算手段と、
前記センサ応答モデル値計算手段で計算されたセンサ応答のモデル値と前記撮像画像のセンサ応答との誤差を計算する誤差計算手段と、
前記誤差計算手段で計算された誤差が最小となる前記照明光源の位置と向きを表す回転パラメータと移動パラメータを、非線形最適化によって決定する光源姿勢計算手段とを備える、光源姿勢推定装置。 - 物体の色と三次元形状を計測する計測方法であって、
計測対象となる物体の粗い三次元形状を計測する粗形状計測ステップと、
4個以上の照明光源を排他的に点灯し、3チャンネル以上のチャンネル数を有する撮像機器によって前記物体を順次撮像し、照明光源毎の撮像画像を得る画像入力ステップと、
前記複数の撮像画像と前記粗い三次元形状とから、前記4個以上の照明光源のそれぞれについて撮像時の位置を推定する光源位置推定ステップと、
前記光源位置推定ステップによって得られたそれぞれの照明光源の位置に基づき、前記物体の色情報と三次元形状情報を算出する物体復元ステップとを備える、計測方法。 - 前記光源位置推定ステップは、
前記撮像画像の中で計測対象となる物体が含まれる領域から複数のサンプル画素を選択するサンプル画素抽出ステップと、
前記照明光源の位置と向きを三次元物体の回転と移動で表し、回転パラメータと移動パラメータから前記4個以上の照明光源のそれぞれについて位置と向きを計算する光源姿勢計算ステップと、
前記光源姿勢計算ステップで得られた光源の位置と向き、及び計測対象物体の粗い三次元形状情報を用いて、前記サンプル画素に対応する計測対象物体表面上の各点における各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度とを計算する入射光計算ステップと、
前記入射光計算ステップで得られた各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度、及び、前記サンプル画素におけるセンサ応答を用いて、全ての前記サンプル画素について、計測対象物体の法線ベクトル及び拡散アルベドを計算する表面計算ステップと、
前記表面計算ステップで得られた法線ベクトルと拡散アルベド、及び前記入射光計算ステップで得られた各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度を用いて、全ての前記サンプル画素及び全ての光源について、センサ応答のモデル値を計算するセンサ応答モデル値計算ステップと、
前記センサ応答モデル値計算ステップで得られたセンサ応答のモデル値と前記撮像画像のセンサ応答との誤差を計算する誤差計算ステップと、
前記誤差計算ステップで得られた誤差が最小となる前記照明光源の位置と向きを表す回転パラメータと移動パラメータを、非線形最適化によって決定する光源姿勢計算ステップとを含む、請求項5に記載の計測方法。 - 4個以上の照明光源を排他的に点灯して物体を照明し、撮像機器によって物体を順次撮像して得た照明光源毎の撮像画像から当該照明光源の位置と向きを推定する光源姿勢推定方法であって、
前記撮像画像の中で計測対象となる物体が含まれる領域から複数のサンプル画素を選択するサンプル画素抽出ステップと、
前記照明光源の位置と向きを三次元物体の回転と移動で表し、回転パラメータと移動パラメータから前記4個以上の照明光源のそれぞれについて位置と向きを計算する光源姿勢計算ステップと、
前記光源姿勢計算ステップで得られた光源の位置と向き、及び計測対象物体の粗い三次元形状情報を用いて、前記サンプル画素に対応する計測対象物体表面上の各点における各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度とを計算する入射光計算ステップと、
前記入射光計算ステップで得られた各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度、及び、前記サンプル画素におけるセンサ応答を用いて、全ての前記サンプル画素について、計測対象物体の法線ベクトル及び拡散アルベドを計算する表面計算ステップと、
前記表面計算ステップで得られた法線ベクトルと拡散アルベド、及び前記入射光計算ステップで得られた各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度を用いて、全ての前記サンプル画素及び全ての光源について、センサ応答のモデル値を計算するセンサ応答モデル値計算ステップと、
前記センサ応答モデル値計算ステップで得られたセンサ応答のモデル値と前記撮像画像のセンサ応答との誤差を計算する誤差計算ステップと、
前記誤差計算ステップで得られた誤差が最小となる前記照明光源の位置と向きを表す回転パラメータと移動パラメータを、非線形最適化によって決定する光源姿勢計算ステップとを備える、光源姿勢推定方法。 - 物体の色と三次元形状を計測する計測装置のコンピュータに実行させる計測プログラムであって、
計測対象となる物体の粗い三次元形状を計測する粗形状計測処理と、
4個以上の照明光源を排他的に点灯し、3チャンネル以上のチャンネル数を有する撮像機器によって前記物体を順次撮像し、照明光源毎の撮像画像を得る画像入力処理と、
前記複数の撮像画像と前記粗い三次元形状とから、前記4個以上の照明光源のそれぞれについて撮像時の位置を推定する光源位置推定処理と、
前記光源位置推定処理によって得られたそれぞれの照明光源の位置に基づき、前記物体の色情報と三次元形状情報を算出する物体復元処理とを、コンピュータに実行させるための、計測プログラム。 - 前記光源位置推定処理は、
前記撮像画像の中で計測対象となる物体が含まれる領域から複数のサンプル画素を選択するサンプル画素抽出処理と、
前記照明光源の位置と向きを三次元物体の回転と移動で表し、回転パラメータと移動パラメータから前記4個以上の照明光源のそれぞれについて位置と向きを計算する光源姿勢計算処理と、
前記光源姿勢計算処理で得られた光源の位置と向き、及び計測対象物体の粗い三次元形状情報を用いて、前記サンプル画素に対応する計測対象物体表面上の各点における各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度とを計算する入射光計算処理と、
前記入射光計算処理で得られた各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度、及び、前記サンプル画素におけるセンサ応答を用いて、全ての前記サンプル画素について、計測対象物体の法線ベクトル及び拡散アルベドを計算する表面計算処理と、
前記表面計算処理で得られた法線ベクトルと拡散アルベド、及び前記入射光計算処理で得られた各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度を用いて、全ての前記サンプル画素及び全ての光源について、センサ応答のモデル値を計算するセンサ応答モデル値計算処理と、
前記センサ応答モデル値計算処理で得られたセンサ応答のモデル値と前記撮像画像のセンサ応答との誤差を計算する誤差計算処理と、
前記誤差計算処理で得られた誤差が最小となる前記照明光源の位置と向きを表す回転パラメータと移動パラメータを、非線形最適化によって決定する光源姿勢計算処理とを含む、請求項8に記載の計測プログラム。 - 4個以上の照明光源を排他的に点灯して物体を照明し、撮像機器によって物体を順次撮像して得た照明光源毎の撮像画像から当該照明光源の位置と向きを推定する光源姿勢推定装置のコンピュータに実行させる光源姿勢推定プログラムであって、
前記撮像画像の中で計測対象となる物体が含まれる領域から複数のサンプル画素を選択するサンプル画素抽出処理と、
前記照明光源の位置と向きを三次元物体の回転と移動で表し、回転パラメータと移動パラメータから前記4個以上の照明光源のそれぞれについて位置と向きを計算する光源姿勢計算処理と、
前記光源姿勢計算処理で得られた光源の位置と向き、及び計測対象物体の粗い三次元形状情報を用いて、前記サンプル画素に対応する計測対象物体表面上の各点における各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度とを計算する入射光計算処理と、
前記入射光計算処理で得られた各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度、及び、前記サンプル画素におけるセンサ応答を用いて、全ての前記サンプル画素について、計測対象物体の法線ベクトル及び拡散アルベドを計算する表面計算処理と、
前記表面計算処理で得られた法線ベクトルと拡散アルベド、及び前記入射光計算処理で得られた各光源の方向と各光源から照射される光の放射輝度を用いて、全ての前記サンプル画素及び全ての光源について、センサ応答のモデル値を計算するセンサ応答モデル値計算処理と、
前記センサ応答モデル値計算処理で得られたセンサ応答のモデル値と前記撮像画像のセンサ応答との誤差を計算する誤差計算処理と、
前記誤差計算処理で得られた誤差が最小となる前記照明光源の位置と向きを表す回転パラメータと移動パラメータを、非線形最適化によって決定する光源姿勢計算処理とを、コンピュータに実行させるための、光源姿勢推定プログラム。
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