JP6173457B2 - 微分位相コントラスト撮像における複数オーダの位相調整のためのソース格子対位相格子距離の位置合わせ - Google Patents
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Description
a)第1のステップでは、X線源と、X線検出器と、ソース格子、位相格子、及び分析格子を有する格子アレンジメントとを具備する微分位相コントラストセットアップを有する、微分位相コントラスト撮像用のX線撮像システムを用いて、少なくとも第1の微分位相コントラスト撮像のX線スキャン画像が取得される。ソース格子は、検出器の平面においてモアレ縞が検出可能であるように、干渉計ユニットに対して位置ずれされる。
b)第2のステップでは、X線放射に際して検出器によって提供される信号内にモアレパターンが検出される。
c)第3のステップでは、所定のモアレパターンを達成するために、ソース格子を並進するための並進信号が計算される。
d)第4のステップでは、並進信号に基づいて、ソース格子の位置決めが少なくともX線投射方向に調節される。
e)第5のステップでは、少なくとも1つの更なる微分位相コントラスト撮像のX線スキャン画像が取得される。
ここでnは検出器アレイ全体当たりの縞周期の数である。したがって、位相のためのサンプリング点の数は、λ/D=N/nによって与えられ、少なくとも4を下らないものでなければならず、したがって、N=20の検出器ラインに対しては、nは最大で5、典型的には2でなければならない。
Claims (10)
- X線源及びX線の検出器と、
ソース格子、位相格子、及び分析格子を有し、前記ソース格子は前記X線源と前記位相格子との間に配置され、前記分析格子は前記位相格子と前記検出器との間に配置される、格子アレンジメントと、
検査中の対象物と、前記ソース格子、前記位相格子、及び前記分析格子のうちの少なくとも1つとの間の相対的移動のための移動アレンジメントと、
を具備する微分位相コントラストセットアップと、
プロセッサと、
前記ソース格子を並進させるための並進アレンジメントと、
を有し、
前記位相格子、前記分析格子、及び前記検出器は、干渉計内に前記位相格子と前記分析格子とが互いに平行に据え付けられる固定の当該干渉計として提供され、
前記ソース格子は、前記検出器の平面においてモアレ縞が検出可能であるように、前記干渉計に対して位置ずれされ、
前記プロセッサは、X線放射に際して前記検出器によって提供される信号内のモアレパターンを検出し、
前記プロセッサは更に、所定のモアレパターンを達成するために前記ソース格子を並進させるための並進信号を計算し、
前記並進アレンジメントは、少なくとも2πの位相変化が前記検出器の幅にわたるモアレ縞でカバーされるように前記ソース格子を位置ずれさせるために、前記並進信号の値に基づいて、前記ソース格子の位置決めを少なくともX線投射方向に調節する、
微分位相コントラスト撮像用のX線撮像システム。 - 前記並進アレンジメントは、前記ソース格子を傾ける、請求項1に記載のX線撮像システム。
- 前記並進アレンジメントは、前記X線源又は前記検出器を位置合わせするための少なくとも1つのアクチュエータを有する、請求項1又は2に記載のX線撮像システム。
- 前記少なくとも1つのアクチュエータは、約1マイクロメートル〜約10ミリメートルの範囲での移動を提供する圧電アクチュエータ又はモータ駆動のマイクロメータねじとして提供される、請求項1乃至3の何れか一項に記載のX線撮像システム。
- i)前記移動アレンジメントは、前記ソース格子、前記位相格子、及び前記分析格子のうちの少なくとも1つの格子をそれぞれの格子面においてステッピングさせるためのステッピングアレンジメントとして提供され、又は
ii)対象物支持体は、前記対象物支持体と前記微分位相コントラストセットアップとの間の相対的移動を提供され、少なくとも1つの画像取得のためのスキャンの間、前記ソース格子、前記位相格子、及び前記分析格子は互いに一定の位置合わせで提供され、
ii1)前記対象物支持体は固定されて提供され、前記微分位相コントラストセットアップがX線方向に対して横断方向に移動され、若しくは
ii2)前記微分位相コントラストセットアップは固定されて提供され、前記対象物支持体が前記X線方向に対して横断方向に移動される、
請求項1乃至4の何れか一項に記載のX線撮像システム。 - a)X線源と、X線の検出器と、ソース格子、位相格子、及び分析格子を有する格子アレンジメントと、を具備する微分位相コントラストセットアップを有するX線撮像システムを用いて、少なくとも微分位相コントラスト撮像のX線スキャン画像を取得するステップであって、ここでは前記ソース格子は、前記検出器の平面においてモアレ縞が検出可能であるように、干渉計に対して位置ずれされるステップと、
b)X線放射に際して前記検出器によって提供される信号におけるモアレパターンを検出するステップと、
c)所定のモアレパターンを達成するために、前記ソース格子を並進させるための移動信号を計算するステップと、
d)少なくとも2πの位相変化が前記検出器の幅にわたるモアレ縞でカバーされるように前記ソース格子を位置ずれさせるために、前記移動信号に基づいて、前記ソース格子の位置決めを少なくともX線投射方向に調節するステップと、
e)少なくとも1つの更なる微分位相コントラスト撮像のX線スキャン画像を取得するステップと、
を有する、微分位相コントラスト撮像用のX線撮像システムにおいて位置ずれを処理するための方法。 - プロセッサによって実行されるときに、請求項6に記載の方法を実施するコンピュータプログラムを記憶した非一時的コンピュータ可読媒体。
- 並進アレンジメントが、前記ソース格子の位置決めを前記X線投射方向に調節し、前記ソース格子を傾ける、請求項6に記載の方法。
- 並進アレンジメントが、前記ソース格子の位置決めを前記X線投射方向に調節し、当該並進アレンジメントは、前記X線源又は前記X線の検出器を位置合わせするためのアクチュエータを有する、請求項6に記載の方法。
- 前記アクチュエータは、約1マイクロメートル〜約10ミリメートルの範囲での移動を提供する圧電アクチュエータ又はモータ駆動のマイクロメータねじである、請求項9に記載の方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10837922B2 (en) | 2017-09-01 | 2020-11-17 | Shimadzu Corporation | X-ray imaging apparatus |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9861330B2 (en) | 2010-10-19 | 2018-01-09 | Koninklijke Philips N.V. | Differential phase-contrast imaging |
US10578563B2 (en) | 2012-12-21 | 2020-03-03 | Carestream Health, Inc. | Phase contrast imaging computed tomography scanner |
US9357975B2 (en) * | 2013-12-30 | 2016-06-07 | Carestream Health, Inc. | Large FOV phase contrast imaging based on detuned configuration including acquisition and reconstruction techniques |
US9494534B2 (en) | 2012-12-21 | 2016-11-15 | Carestream Health, Inc. | Material differentiation with phase contrast imaging |
US9907524B2 (en) | 2012-12-21 | 2018-03-06 | Carestream Health, Inc. | Material decomposition technique using x-ray phase contrast imaging system |
US9724063B2 (en) | 2012-12-21 | 2017-08-08 | Carestream Health, Inc. | Surrogate phantom for differential phase contrast imaging |
US9700267B2 (en) | 2012-12-21 | 2017-07-11 | Carestream Health, Inc. | Method and apparatus for fabrication and tuning of grating-based differential phase contrast imaging system |
US10096098B2 (en) | 2013-12-30 | 2018-10-09 | Carestream Health, Inc. | Phase retrieval from differential phase contrast imaging |
RU2674650C2 (ru) * | 2014-08-05 | 2018-12-12 | Конинклейке Филипс Н.В. | Устройство-решетка для устройства рентгеновской визуализации |
RU2720292C2 (ru) * | 2015-06-30 | 2020-04-28 | Конинклейке Филипс Н.В. | Сканирующее рентгеновское устройство с полноформатным детектором |
JP6581713B2 (ja) * | 2015-07-21 | 2019-09-25 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 位相コントラスト及び/又は暗視野撮像のためのx線検出器、該x線検出器を有する干渉計、x線撮像システム、位相コントラストx線撮像及び/又は暗視野x線撮像を行う方法、コンピュータプログラム、コンピュータ読取可能な媒体 |
WO2017212000A1 (en) * | 2016-06-08 | 2017-12-14 | Koninklijke Philips N.V. | Analyzing grid for phase contrast imaging and/or dark-field imaging |
WO2018016369A1 (ja) | 2016-07-20 | 2018-01-25 | 株式会社島津製作所 | X線位相差撮像装置 |
EP3510563B1 (en) * | 2016-09-08 | 2021-11-10 | Koninklijke Philips N.V. | Improved phase-contrast and dark-field ct reconstruction algorithm |
CN109788928B (zh) * | 2016-09-27 | 2022-03-25 | 株式会社岛津制作所 | 放射线相位差摄影装置 |
WO2018096759A1 (ja) | 2016-11-22 | 2018-05-31 | 株式会社島津製作所 | X線位相イメージング装置 |
EP3551078B1 (en) * | 2016-12-06 | 2020-10-21 | Koninklijke Philips N.V. | Interferometer grating support for grating-based x-ray imaging and/or a support bracket therefor |
JP6683118B2 (ja) * | 2016-12-20 | 2020-04-15 | 株式会社島津製作所 | X線位相撮影装置 |
EP3378397A1 (en) * | 2017-03-24 | 2018-09-26 | Koninklijke Philips N.V. | Sensitivity optimized patient positioning system for dark-field x-ray imaging |
EP3391821B1 (en) | 2017-04-20 | 2024-05-08 | Shimadzu Corporation | X-ray phase contrast imaging system |
JP6780592B2 (ja) | 2017-06-22 | 2020-11-04 | 株式会社島津製作所 | X線位相差イメージング装置 |
EP3459461A1 (en) * | 2017-09-25 | 2019-03-27 | Koninklijke Philips N.V. | X-ray imaging reference scan |
CN107748341A (zh) * | 2017-10-23 | 2018-03-02 | 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 | 高衬度低剂量相位衬度ct成像装置 |
CN110832309B (zh) | 2017-10-31 | 2022-08-23 | 株式会社岛津制作所 | X射线相位差摄像*** |
JP6813107B2 (ja) * | 2017-12-06 | 2021-01-13 | 株式会社島津製作所 | X線位相差撮像システム |
WO2019123758A1 (ja) * | 2017-12-22 | 2019-06-27 | 株式会社島津製作所 | X線位相差撮像システム |
CN108469443A (zh) * | 2018-04-18 | 2018-08-31 | 北京航空航天大学 | 基于二维错位吸收光栅的x射线光栅差分相位衬度成像方法及装置 |
JP6881682B2 (ja) * | 2018-05-16 | 2021-06-02 | 株式会社島津製作所 | X線イメージング装置 |
WO2020039654A1 (ja) * | 2018-08-22 | 2020-02-27 | 株式会社島津製作所 | X線位相イメージング装置 |
JP7111166B2 (ja) * | 2018-08-22 | 2022-08-02 | 株式会社島津製作所 | X線位相イメージング装置 |
WO2020054151A1 (ja) * | 2018-09-11 | 2020-03-19 | 株式会社島津製作所 | X線位相イメージング装置 |
CN109273131B (zh) * | 2018-10-31 | 2024-07-02 | 同方威视技术股份有限公司 | 准直器组件和射线检测设备 |
CN111721786B (zh) * | 2019-03-22 | 2023-05-26 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 一种x射线干涉仪及成像*** |
JP7200816B2 (ja) * | 2019-04-22 | 2023-01-10 | 株式会社島津製作所 | X線位相イメージング装置およびx線位相コントラスト画像生成方法 |
JP7180566B2 (ja) * | 2019-07-25 | 2022-11-30 | 株式会社島津製作所 | X線イメージング装置およびx線イメージング方法 |
EP3821810A1 (en) * | 2019-11-13 | 2021-05-19 | Koninklijke Philips N.V. | Active gratings position tracking in gratings-based phase-contrast and dark-field imaging |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4445397B2 (ja) * | 2002-12-26 | 2010-04-07 | 敦 百生 | X線撮像装置および撮像方法 |
EP1731099A1 (en) * | 2005-06-06 | 2006-12-13 | Paul Scherrer Institut | Interferometer for quantitative phase contrast imaging and tomography with an incoherent polychromatic x-ray source |
EP1879020A1 (en) | 2006-07-12 | 2008-01-16 | Paul Scherrer Institut | X-ray interferometer for phase contrast imaging |
JP2008200361A (ja) * | 2007-02-21 | 2008-09-04 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | X線撮影システム |
WO2008102685A1 (ja) * | 2007-02-21 | 2008-08-28 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影システム |
CN101576515B (zh) * | 2007-11-23 | 2012-07-04 | 同方威视技术股份有限公司 | X射线光栅相衬成像***及方法 |
RU2543994C2 (ru) * | 2009-03-27 | 2015-03-10 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Формирование ахроматического фазоконтрастного изображения |
WO2010146503A1 (en) * | 2009-06-16 | 2010-12-23 | Koninklijke Philips Electronics N. V. | Correction method for differential phase contrast imaging |
WO2011114845A1 (ja) * | 2010-03-18 | 2011-09-22 | コニカミノルタエムジー株式会社 | X線撮影システム |
JP5548085B2 (ja) * | 2010-03-30 | 2014-07-16 | 富士フイルム株式会社 | 回折格子の調整方法 |
JP2012024339A (ja) * | 2010-07-23 | 2012-02-09 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影システム及びコリメータユニット |
WO2012029340A1 (ja) * | 2010-08-31 | 2012-03-08 | コニカミノルタエムジー株式会社 | X線撮影システム |
JP5150711B2 (ja) * | 2010-12-07 | 2013-02-27 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影装置及び放射線撮影システム |
JP2012148068A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-08-09 | Fujifilm Corp | 放射線画像取得方法および放射線画像撮影装置 |
JP6353361B2 (ja) | 2011-07-04 | 2018-07-04 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 位相コントラストイメージング装置 |
JP6265914B2 (ja) | 2012-01-24 | 2018-01-24 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 多方向位相コントラストx線撮像 |
JP2014178130A (ja) * | 2013-03-13 | 2014-09-25 | Canon Inc | X線撮像装置及びx線撮像システム |
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Cited By (1)
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