JP6683118B2 - X線位相撮影装置 - Google Patents
X線位相撮影装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6683118B2 JP6683118B2 JP2016246689A JP2016246689A JP6683118B2 JP 6683118 B2 JP6683118 B2 JP 6683118B2 JP 2016246689 A JP2016246689 A JP 2016246689A JP 2016246689 A JP2016246689 A JP 2016246689A JP 6683118 B2 JP6683118 B2 JP 6683118B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grating
- ray
- phase
- image
- subject
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 91
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 27
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 26
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 16
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 12
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 64
- 238000000034 method Methods 0.000 description 21
- 230000008569 process Effects 0.000 description 15
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H lead(2+);trioxido(oxo)-$l^{5}-arsane Chemical compound [Pb+2].[Pb+2].[Pb+2].[O-][As]([O-])([O-])=O.[O-][As]([O-])([O-])=O LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000010190 G1 phase Effects 0.000 description 1
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000003702 image correction Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 210000004872 soft tissue Anatomy 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/44—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis
- A61B6/4429—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/06—Diaphragms
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4035—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis the source being combined with a filter or grating
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4291—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/041—Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/025—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using multiple collimators, e.g. Bucky screens; other devices for eliminating undesired or dispersed radiation
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
- G21K1/067—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators using surface reflection, e.g. grazing incidence mirrors, gratings
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K2207/00—Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
- G21K2207/005—Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Pathology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Surgery (AREA)
- Public Health (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
図1を参照して、本発明の第1実施形態によるX線位相コントラスト撮影装置100の構成について説明する。なお、X線位相コントラスト撮影装置100は、特許請求の範囲の「X線位相撮影装置」の一例である。
図1に示すように、X線位相コントラスト撮影装置100は、X線源1と、位相格子G1と、吸収格子G2と、検出部2と、制御部3と、格子移動ステージ4aおよび4bと、被写体回転ステージ5と、を備えている。X線位相コントラスト撮影装置100は、X線源1と、位相格子G1と、吸収格子G2と、検出部2とが、X線の照射軸方向(光軸方向、Z方向)に、この順に並んで配置されている。なお、本明細書において、X線の照射軸方向をZ方向とし、Z方向と直交する面内において互いに直交する方向をそれぞれX方向およびY方向とする。なお、位相格子G1および吸収格子G2はそれぞれ、特許請求の範囲の「第1格子」および「第2格子」の一例である。また、格子移動ステージ4aおよび4bは、特許請求の範囲の「移動機構」の一例である。また、被写体回転ステージ5は、特許請求の範囲の「回転機構」の一例である。
次に、図2〜図5を参照して、複数の強度変調信号の位相差を用いてX線位相コントラスト画像42を生成する方法を説明する。
次に、図6を参照して、格子移動ステージ4aおよび4bの初期位置の位置ずれを補正する方法を説明する。
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
次に、図8を参照して、第2実施形態について説明する。この第2実施形態では、上記第1実施形態の構成に加えて、X線源1と位相格子G1との間に、マルチスリットG3をさらに備えるように構成されている。なお、上記第1実施形態と同一の構成については、図中において同じ符号を付して図示し、その説明を省略する。
本発明の第2実施形態のX線位相コントラスト撮影装置200では、上記第1実施形態のX線位相コントラスト撮影装置100の構成に加えて、マルチスリットG3と、格子移動ステージ4cと、を備える。また、X線位相コントラスト撮影装置200では、X線源11は、上記第1実施形態のX線位相コントラスト撮影装置100のX線源1よりも高出力のX線源である。なお、X線位相コントラスト撮影装置200は、特許請求の範囲の「X線位相撮影装置」の一例である。また、マルチスリットG3は、特許請求の範囲の「第3格子」の一例である。また、格子移動ステージ4cは、特許請求の範囲の「移動機構」の一例である。
第2実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
2 検出部
4a、4b、4c 格子移動ステージ(移動機構)
5 被写体回転ステージ(回転機構)
6 画像生成部
7、17 撮影系
31 複数画素の領域
20(21、22) ステップカーブ(強度変調信号)
42 X線位相コントラスト画像(画像)
100、200 X線位相コントラスト撮影装置(X線位相撮影装置)
d0、d1、d2 格子ピッチ
G1 位相格子または吸収格子(第1格子)
G2 吸収格子(第2格子)
G3 マルチスリット(第3格子)
T 被写体
ΔD1、ΔD2、ΔD3 ずれ量
Δφ 位相差
Claims (9)
- X線源と、
前記X線源からX線が照射される第1格子と、前記第1格子を通過した前記X線が照射される第2格子と、を少なくとも含む複数の格子と、
前記第2格子を通過した前記X線を検出する検出部と、
前記X線源と前記第1格子の間もしくは前記第1格子と前記第2格子の間に被写体を配置した場合の、前記検出部により検出される前記X線の強度変化を表す強度変調信号と、前記被写体を配置しない場合の、前記強度変調信号と、の間の位相差に基づいて、画像を生成する画像生成部と、を備え、
複数の前記強度変調信号に基づいて、前記複数の格子の相対位置のずれ量を取得するとともに、取得した前記ずれ量が予め設定されたしきい値を越えたか否かを判断するように構成されており、
前記しきい値は、単一の画素の前記位相差、および、前記位相差の複数画素の領域または全域における前記位相差の代表値の少なくともいずれかがπ未満となるように設定されている、X線位相撮影装置。 - 前記複数画素の領域は、前記被写体の縁部を含まない領域である、請求項1に記載のX線位相撮影装置。
- 前記ずれ量が予め設定されたしきい値を超えた場合に、前記ずれ量を補正するように構成されている、請求項1または2に記載のX線位相撮影装置。
- 前記複数の格子は、前記X線源と前記第1格子との間に設けられる第3格子をさらに含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載のX線位相撮影装置。
- 前記検出部により検出される前記X線の強度を変化させるために、前記複数の格子の少なくともいずれかを移動させる移動機構をさらに備える、請求項1〜4のいずれか1項に記載のX線位相撮影装置。
- 前記移動機構により、前記複数の格子の少なくともいずれかを移動させることによって、前記ずれ量を補正するように構成されている、請求項5に記載のX線位相撮影装置。
- 前記移動機構により、前記複数の格子の中で最大の格子ピッチを有する前記格子を移動させることによって、前記ずれ量を補正するように構成されている、請求項5または6に記載のX線位相撮影装置。
- 前記移動機構により、前記複数の格子の中で前記画像を生成するために移動させた前記格子を移動させることによって、前記ずれ量を補正するように構成されている、請求項5〜7のいずれか1項に記載のX線位相撮影装置。
- 前記X線源と、前記複数の格子と、前記検出部とを備えた撮影系と、前記被写体とを相対回転させる回転機構をさらに備え、
前記回転機構により、前記撮影系と前記被写体とを相対回転させることによって、前記被写体を断層撮影するように構成されている、請求項1〜8のいずれか1項に記載のX線位相撮影装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016246689A JP6683118B2 (ja) | 2016-12-20 | 2016-12-20 | X線位相撮影装置 |
US15/704,345 US10656103B2 (en) | 2016-12-20 | 2017-09-14 | X-ray phase imaging apparatus |
CN201710833669.2A CN108201444B (zh) | 2016-12-20 | 2017-09-15 | X射线相位摄影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016246689A JP6683118B2 (ja) | 2016-12-20 | 2016-12-20 | X線位相撮影装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018099269A JP2018099269A (ja) | 2018-06-28 |
JP6683118B2 true JP6683118B2 (ja) | 2020-04-15 |
Family
ID=62561504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016246689A Active JP6683118B2 (ja) | 2016-12-20 | 2016-12-20 | X線位相撮影装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10656103B2 (ja) |
JP (1) | JP6683118B2 (ja) |
CN (1) | CN108201444B (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019073760A1 (ja) * | 2017-10-11 | 2019-04-18 | 株式会社島津製作所 | X線位相差撮影システムおよび位相コントラスト画像補正方法 |
JP7060090B2 (ja) * | 2018-04-24 | 2022-04-26 | 株式会社島津製作所 | 光イメージング装置および画像処理方法 |
JP7147346B2 (ja) | 2018-08-08 | 2022-10-05 | 株式会社島津製作所 | X線位相イメージング装置 |
EP3782551A1 (en) * | 2019-08-23 | 2021-02-24 | Koninklijke Philips N.V. | System for x-ray dark-field, phase contrast and attenuation image acquisition |
CN115804612B (zh) * | 2022-12-09 | 2023-09-26 | 北京朗视仪器股份有限公司 | 一种成像装置 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7949095B2 (en) * | 2009-03-02 | 2011-05-24 | University Of Rochester | Methods and apparatus for differential phase-contrast fan beam CT, cone-beam CT and hybrid cone-beam CT |
JP5438649B2 (ja) * | 2010-03-26 | 2014-03-12 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影システム及び位置ずれ判定方法 |
JP5548085B2 (ja) * | 2010-03-30 | 2014-07-16 | 富士フイルム株式会社 | 回折格子の調整方法 |
JP2012020107A (ja) * | 2010-06-16 | 2012-02-02 | Fujifilm Corp | 放射線位相画像撮影装置 |
JP5601909B2 (ja) | 2010-07-06 | 2014-10-08 | 国立大学法人 東京大学 | X線撮像装置及びこれを用いるx線撮像方法 |
JP2012125343A (ja) * | 2010-12-14 | 2012-07-05 | Fujifilm Corp | 放射線撮影システム及び画像処理方法 |
JP2012148068A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-08-09 | Fujifilm Corp | 放射線画像取得方法および放射線画像撮影装置 |
JP5204857B2 (ja) * | 2011-01-14 | 2013-06-05 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影システム及びその制御方法 |
JP5702236B2 (ja) * | 2011-07-06 | 2015-04-15 | 富士フイルム株式会社 | X線撮影装置およびそのキャリブレーション方法 |
RU2598310C2 (ru) * | 2011-08-31 | 2016-09-20 | Конинклейке Филипс Н.В. | Формирование дифференциальных фазовых контрастных изображений с помощью чувствительного к энергии обнаружения |
JP5475737B2 (ja) * | 2011-10-04 | 2014-04-16 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影装置及び画像処理方法 |
JP2013116313A (ja) * | 2011-11-01 | 2013-06-13 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置及び放射線撮影方法 |
US9775575B2 (en) * | 2012-06-27 | 2017-10-03 | Koninklijke Philips N.V. | Dark-field imaging |
JP6388587B2 (ja) * | 2012-08-17 | 2018-09-12 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 微分位相コントラストイメージングにおけるミスアライメントの対処 |
RU2631183C2 (ru) * | 2012-08-20 | 2017-09-19 | Конинклейке Филипс Н.В. | Юстировка расстояния от решетки источника до фазовой решетки для фазовой настройки в несколько порядков при дифференциальной фазово-контрастной визуализации |
JP2014079518A (ja) * | 2012-10-18 | 2014-05-08 | Konica Minolta Inc | X線撮影装置及びモアレ画像生成方法 |
JP2015213665A (ja) * | 2014-05-12 | 2015-12-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
-
2016
- 2016-12-20 JP JP2016246689A patent/JP6683118B2/ja active Active
-
2017
- 2017-09-14 US US15/704,345 patent/US10656103B2/en active Active
- 2017-09-15 CN CN201710833669.2A patent/CN108201444B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018099269A (ja) | 2018-06-28 |
US10656103B2 (en) | 2020-05-19 |
US20180172607A1 (en) | 2018-06-21 |
CN108201444A (zh) | 2018-06-26 |
CN108201444B (zh) | 2021-04-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6683118B2 (ja) | X線位相撮影装置 | |
JPWO2018016369A1 (ja) | X線位相差撮像装置 | |
JP5475737B2 (ja) | 放射線撮影装置及び画像処理方法 | |
JP2012090944A (ja) | 放射線撮影システム及び放射線撮影方法 | |
JP2012024339A (ja) | 放射線画像撮影システム及びコリメータユニット | |
CN111465841B (zh) | X射线相位摄像*** | |
CN112955735B (zh) | X射线相位摄像*** | |
JP6835242B2 (ja) | X線位相差撮影システムおよび位相コントラスト画像補正方法 | |
JP6881682B2 (ja) | X線イメージング装置 | |
JP6631707B2 (ja) | X線位相差撮像システム | |
WO2012057022A1 (ja) | 放射線撮影システム及び放射線撮影方法 | |
JP2018128579A (ja) | 回折格子の製造方法 | |
JP2011206188A5 (ja) | ||
JP6619268B2 (ja) | 放射線画像生成装置 | |
JP6813107B2 (ja) | X線位相差撮像システム | |
JP2018179969A (ja) | X線位相差撮像システム | |
JP7021676B2 (ja) | X線位相差撮像システム | |
JP2014079518A (ja) | X線撮影装置及びモアレ画像生成方法 | |
WO2020188856A1 (ja) | X線イメージング装置 | |
JP2018099175A (ja) | 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム | |
WO2012057023A1 (ja) | 放射線画像撮影システム及びその制御方法 | |
CN109328035B (zh) | 放射线摄影装置 | |
JP6783702B2 (ja) | X線断層撮影装置 | |
JP7060090B2 (ja) | 光イメージング装置および画像処理方法 | |
WO2013084659A1 (ja) | 放射線撮影装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190404 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191119 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200106 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200225 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200309 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6683118 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |