JP2014157025A - 標準光源および測定方法 - Google Patents
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 65
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims abstract description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 35
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 65
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 7
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 3
- TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L barium sulfate Chemical compound [Ba+2].[O-]S([O-])(=O)=O TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 229920000995 Spectralon Polymers 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N krypton atom Chemical compound [Kr] DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/06—Restricting the angle of incident light
- G01J2001/061—Baffles
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J2001/4247—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources
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Abstract
【解決手段】標準光源10は、発光部14と、発光部と電気的に接続された給電部と、発光部と給電部との間に設けられ、発光部から放射された光の給電部の側へ伝搬を規制する規制部とを含む。規制部の発光部からの光が入射する表面は、拡散反射するように構成される。
【選択図】図4
Description
あるいは好ましくは、規制部は、発光部からの光が入射する凹状の表面を有する。
まず、本実施の形態に関連する背景技術について説明する。
本実施の形態に従えば、従来の標準光源とは異なる配光特性を有するLED電球などの光源の全光束測定に適した標準光源が提供される。本実施の形態に従う標準光源は、後述するように、より簡素な構成で実現される。
図4は、実施の形態1に従う標準光源10を説明するための模式図である。図4(a)は、標準光源10の断面模式図を示し、図4(b)は、標準光源10の配光特性を示す。
次に、前方へより多くの光を放射させて、完全な2π配光を実現できる構成について例示する。図5は、実施の形態2に従う標準光源30を説明するための模式図である。図5(a)は、標準光源30の断面模式図を示し、図5(b)は、標準光源30の配光特性を示す。
上述の実施の形態1および2において、配光制御板の表面に形成された拡散反射層が汚損すると、再度の校正が必要になる。そのため、このような配光制御板の表面の汚損を防止するための構成を実施の形態3として説明する。
本実施の形態に従う標準光源は、配光制御板の有無によって、4π配光と2π配光とを切り替えることができるので、標準光源のメーカなどにおいては、本体部、発光部、電極部を共通にする標準電球を画一的に製造するとともに、要求される配光特性に応じて、配光制御板をさらに付加する工程を追加するようにしてもよい。このような製造方法を採用することで、標準光源の製造コストを低減できる。
次に、本実施の形態に従う標準光源を用いたサンプル光源に対する全光束測定の処理手順の一例について説明する。
本実施の形態に従う標準光源によれば、比較的簡素な構成を維持しつつ、LED電球などの2π配光の配光特性を有するサンプル光源に適した配光特性を実現できる。これによって、LED電球などの全光束測定をより高い精度で行うことができる。
Claims (6)
- 発光部と、
前記発光部と電気的に接続された給電部と、
前記発光部と前記給電部との間に設けられ、前記発光部から放射された光の前記給電部の側へ伝搬を規制する規制部とを備え、
前記規制部の前記発光部からの光が入射する表面は、拡散反射するように構成される、標準光源。 - 前記発光部および前記給電部を通る光軸に垂直な方向における前記規制部の断面積は、前記発光部の配光分布に応じて決定される、請求項1に記載の標準光源。
- 前記規制部は、前記発光部からの光が入射する平坦な表面を有する、請求項1または2に記載の標準光源。
- 前記規制部は、前記発光部からの光が入射する凹状の表面を有する、請求項1または2に記載の標準光源。
- 前記規制部の表面および前記発光部を含む空間を覆うフードをさらに備える、請求項1〜4のいずれか1項に記載の標準光源。
- 校正された標準光源を用意するステップと、
前記標準光源を測定装置に装着させるとともに、点灯した状態で前記標準光源の光学特性値を測定するステップと、
測定対象の光源を前記測定装置に装着させるとともに、点灯した状態で前記測定対象の光源の光学特性値を測定するステップと、
前記標準光源の測定された光学特性値、前記測定対象の光源の測定された光学特性値、および前記標準光源に値付けされた光学特性値に基づいて、前記測定対象の光源の光学特性値を決定するステップとを備え、
前記標準光源は、
発光部と、
前記発光部と電気的に接続された給電部と、
前記発光部と前記給電部との間に設けられ、前記発光部から放射された光の前記給電部の側へ伝搬を規制する規制部とを含み、
前記規制部の前記発光部からの光が入射する表面は、拡散反射するように構成される、測定方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013026571A JP6154153B2 (ja) | 2013-02-14 | 2013-02-14 | 標準光源および測定方法 |
TW102148622A TWI622756B (zh) | 2013-02-14 | 2013-12-27 | 標準光源及使用標準光源的測量方法 |
US14/161,690 US9377352B2 (en) | 2013-02-14 | 2014-01-23 | Standard light source having restriction portion for diffuse reflection and measurement method |
KR20140014619A KR20140102604A (ko) | 2013-02-14 | 2014-02-10 | 표준 광원 및 측정 방법 |
CN201410052143.7A CN103994874A (zh) | 2013-02-14 | 2014-02-14 | 标准光源以及测量方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013026571A JP6154153B2 (ja) | 2013-02-14 | 2013-02-14 | 標準光源および測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014157025A true JP2014157025A (ja) | 2014-08-28 |
JP6154153B2 JP6154153B2 (ja) | 2017-06-28 |
Family
ID=51296842
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013026571A Expired - Fee Related JP6154153B2 (ja) | 2013-02-14 | 2013-02-14 | 標準光源および測定方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9377352B2 (ja) |
JP (1) | JP6154153B2 (ja) |
KR (1) | KR20140102604A (ja) |
CN (1) | CN103994874A (ja) |
TW (1) | TWI622756B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021071339A (ja) * | 2019-10-30 | 2021-05-06 | 大塚電子株式会社 | 光学測定方法および処理装置 |
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-
2013
- 2013-02-14 JP JP2013026571A patent/JP6154153B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2013-12-27 TW TW102148622A patent/TWI622756B/zh not_active IP Right Cessation
-
2014
- 2014-01-23 US US14/161,690 patent/US9377352B2/en active Active
- 2014-02-10 KR KR20140014619A patent/KR20140102604A/ko not_active Application Discontinuation
- 2014-02-14 CN CN201410052143.7A patent/CN103994874A/zh active Pending
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9377352B2 (en) | 2016-06-28 |
CN103994874A (zh) | 2014-08-20 |
KR20140102604A (ko) | 2014-08-22 |
JP6154153B2 (ja) | 2017-06-28 |
TW201443402A (zh) | 2014-11-16 |
TWI622756B (zh) | 2018-05-01 |
US20140224970A1 (en) | 2014-08-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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