JP6137982B2 - 漏電遮断器 - Google Patents

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Description

この発明は、漏電動作テストを行うテスト装置を備えた漏電遮断器に関するものである。
漏電遮断器は、その動作能力を定期的に試験するために、模擬電流を検出装置に通電させるテスト装置を備えている必要がある。
一方検出装置は、電路の高調波成分、例えばインバータのスイッチングノイズによる不要な動作を防ぐために、ローパスフィルターを内蔵しているものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
また、サージ成分、例えば落雷による不要な動作を防ぐために、波形の幅検出機能を内蔵しているものが知られている。
このため、従来の漏電遮断器のテスト装置は商用周波数近辺の擬似交流信号、例えば正弦波、矩形波、三角波等の電流を零相変流器に通電し動作確認を行うものが知られている(例えば、特許文献2参照)。
特開2007−220381号公報 特開2003−219552号公報
上記のようにテスト装置は擬似交流信号を零相変流器に通電させるが、漏電遮断器の定格感度電流(動作電流)は、例えば30mA、100mA、500mA等、検出回路の消費電流、例えば数mAに対して非常に大きな電流となる。
このため、電源回路はこの消費電流に耐えうる必要があり、電源回路の小形化、薄形化が困難となるという問題があった。
また、テスト電流を小さくするため、通電のための電線を零相変流器に複数回巻く方式が知られているが、この場合は零相変流器の小形化、薄形化が困難となるという問題があった。
この発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、テスト電流の平均値を小さくすることを可能とし、電源回路部の小形化、薄形化を図ることができる漏電遮断器を得ることを目的とするものである。
この発明に係る漏電遮断器は、漏電検出対象の交流電路を1次巻線とする零相変流器、
この零相変流器の二次出力が変換されたパルス状の信号の波形幅が所定値t1以上であるかどうかによって前記交流電路の漏電の有無を判定する漏電検出部、前記交流電路に漏電が発生したときの前記漏電検出部の出力に基づいて作動するスイッチング要素、前記漏電検出部の出力に基づく前記スイッチング要素の作動により作動する引外し装置、定常時は前記交流電路を閉路し前記引外し装置の前記作動により前記交流電路を開路する開閉接点、前記零相変流器に巻回されたテスト巻線にテストスイッチのON操作によってパルス状の模擬漏電電流を供給するテスト回路、及び前記漏電検出部の動作特性を前記漏電動作テスト時に変更する設定部を備え、前記テストスイッチがON操作され前記テスト巻線にパルス状の模擬漏電電流を供給されると、前記設定部により、前記所定値が前記t1より小さいt2に変更され、この変更された所定値t2に基づいて前記漏電検出部が作動するものである。
この発明は、漏電検出対象の交流電路を1次巻線とする零相変流器、この零相変流器の二次出力が変換されたパルス状の信号の波形幅が所定値t1以上であるかどうかによって前記交流電路の漏電の有無を判定する漏電検出部、前記交流電路に漏電が発生したときの前記漏電検出部の出力に基づいて作動するスイッチング要素、前記漏電検出部の出力に基づく前記スイッチング要素の作動により作動する引外し装置、定常時は前記交流電路を閉路し前記引外し装置の前記作動により前記交流電路を開路する開閉接点、前記零相変流器に巻回されたテスト巻線にテストスイッチのON操作によってパルス状の模擬漏電電流を供給するテスト回路、及び前記漏電検出部の動作特性を漏電動作テスト時に変更する設定部を備え、前記テストスイッチがON操作され前記テスト巻線にパルス状の模擬漏電電流を供給されると、前記設定部により、前記所定値が前記t1より小さいt2に変更され、この変更された所定値t2に基づいて前記漏電検出部が作動するので、また、漏電検出対象の交流電路を1次巻線とする零相変流器、この零相変流器の二次出力が変換されたパルス状の信号の波形幅が所定値t1以上であるかどうかによって前記交流電路の漏電の有無を判定する漏電検出部、前記交流電路に漏電が発生したときの前記漏電検出部の出力に基づいて作動するスイッチング要素、前記漏電検出部の出力に基づく前記スイッチング要素の作動により作動する引外し装置、定常時は前記交流電路を閉路し前記引外し装置の前記作動により前記交流電路を開路する開閉接点、前記零相変流器に巻回されたテスト巻線にテストスイッチのON操作によってパルス状の模擬漏電電流を供給するテスト回路、及び前記テスト巻線に供給された前記パルス状の模擬漏電電流に基づく前記零相変流器の二次出力に応動して前記スイッチング要素を作動させるテストパルス判定部を備え、前記テストスイッチがON操作され前記テスト巻線にパルス状の模擬漏電電流を供給されると、前記所定値が前記t1より小さいt2に変更され、この変更された所定値t2に基づいて前記テストパルス判定部が作動するので、テスト時の疑似信号の平均値を増大させることなく、疑似信号のピーク値を大きくでき、従って零相変流器のテスト巻線数を削減でき、零相変流器の小形化、薄形化を図ることができ、電源回路部の小形化、薄形化を図ることができる。
本発明の実施の形態1における漏電遮断器の内部回路構成の一例を示すブロック図である。 本発明の実施の形態1における漏電遮断器の漏電検出動作の一例を説明するための説明図である。 本発明の実施の形態1における漏電遮断器の漏電テスト動作の一例を説明するための説明図である。 本発明の実施の形態2における漏電遮断器の内部回路構成の他の例を示すブロック図である。 本発明の実施の形態2における漏電遮断器の漏電検出動作の他の例を説明するための説明図である。 本発明の実施の形態2における漏電遮断器の漏電テスト動作の他の例を説明するための説明図である。
実施の形態1.
以下この発明の実施の形態1を図1〜図3により説明する。図1は漏電遮断器の内部回路構成の一例を示すブロック図、図2は図1に示す漏電遮断器の漏電検出動作の例を説明するための説明図、図3は図1に示す漏電遮断器の漏電テスト動作の例を説明するための説明図である。
図1において、漏電遮断器100は、交流電路1を開閉する開閉接点2と、交流電路1を貫通させた零相変流器3と、零相変流器3の検出信号に基づいて漏電を検出する漏電検出部7と、この漏電検出部7の出力信号によりスイッチング要素8を介して付勢される引き外しコイル6aおよびこの引き外しコイル6aの付勢時に開閉接点2を開離駆動する引き外し機構6bを有した引き外し装置6と、テストスイッチ10からの信号により、所定のテスト信号を零相変流器に出力し、かつ、漏電検出部7に制御信号を出力するテスト装置9と、テスト信号を零相変流器3に通電するためのテスト巻線11と、交流電路1から入力される交流電圧を直流電圧に変換する整流回路4と、整流回路4の出力を所定の直流電圧に変換して、漏電検出部7、テスト装置9および引き外し装置6に給電する定電圧回路5とを有している。
漏電検出部7は、零相変流器3の出力電流を電圧信号に変換する入力部7aと、入力部7aからの出力信号に重畳されている周波数の高い雑音信号を除去するローパスフィルタ7bと、ローパスフィルタ7bの出力に接続され、ローパスフィルタ7bの出力がしきい値以上のときオンするレベル検出部7cと、レベル検出部7cの出力に接続され、レベル検出部7cのオン出力が所定の時間t1以上持続した場合にオンする波形幅検出部7dと、波形幅検出部7dの出力に接続され、波形幅検出部7dの出力に応じスイッチング要素8を駆動する引き外し判定部7eと、テスト装置9からの制御信号に基づきローパスフィ
ルタ7bの両端を短絡するスイッチ7fと、テスト装置9からの制御信号に基づき波形幅検出部7dに所定の時間t1を設定する設定部である検出幅設定部(以下、「検出幅設定部」と記す)7gとから構成されている。
テスト装置9は、テストスイッチ10が押下されたことを検出し、漏電検出部7に制御信号を出力するテスト入力回路9aと、テスト入力回路9aの出力に接続され、テスト巻線11にテスト信号を零相変流器3に通電するテスト信号発生回路9bとから構成されている。
以下、漏電検出部7の動作を、図1〜図3に基づいて説明する。漏電が発生し、交流電路1に流れる電流に差分が生じると、零相変流器3に出力が発生する。入力部7aは零相変流器3の出力に応じた電圧に変換する。ローパスフィルタ7bは入力部7aの電圧を、高調波成分を除去し商用周波数成分を抽出した信号を出力する。レベル検出部7cはローパスフィルタ7の出力を所定のしきい値電圧と比較する。しきい値は正側、負側があり、ローパスフィルタ7の出力が正側のしきい値以上となった場合、またはローパスフィルタ7の出力が負側のしきい値以下となった場合、出力する。波形幅検出部7dはレベル検出部7cの出力有無を監視し、出力有りの時間が所定の時間t1以上持続した場合、出力する。引き外し判定部7eは波形幅検出部7からの出力回数をカウントし、所定の回数に達した場合、スイッチング要素8に出力する。スイッチング要素8はその出力によりオンとなり定電圧回路5からスイッチング要素8を介して引外しコイル6aに励磁電流が流れ、引き外し機構6bが動作することにより、開閉接点2が開路する。
なお、引き外し判定部7eは漏電遮断器の特性に合わせ、正側-負側が交互であることを判別するものや、一方向、例えば正-正の信号を判別する等の機能を有する。
また、引き外し判定部7eは波形幅検出部7bの出力が所定の期間ない場合、カウント数をリセットする機能を有する。
次に本実施の形態のテスト装置9の動作について説明する。テスト入力回路9aはテストスイッチ10が閉路されたことを判別し出力する。テスト入力回路9aの出力は波形幅検出部7dに接続されており、これにより上記所定の時間t1をt2(t1>>t2)に変更する。また、テスト入力回路9aの出力はLPFバイパス部7fにも接続されており、LPFに並列に接続されたスイッチを閉路し、入力部7aの出力をバイパスさせる。
さらにテスト入力回路9aの出力は引き外し判定部7eに接続され、テスト動作時は一方向の信号にて判別する機能に切り替える。テスト信号発生回路9bはテスト入力回路9aの出力により、所定の周期、所定のパルス幅(≧t2)のパルス信号を出力する。テスト信号発生回路9bの信号はパルス電流に変換され、テスト巻線11に印加され、零相変流器3は、信号に応じたパルス出力を発生する。
入力部7aは零相変流器3のパルス出力に応じたパルス電圧に変換する。ここでローパスフィルタ7はLPFバイパス部7fによりバイパスされているので入力7aの信号は元波形のままレベル検出部7cに入力される。レベル検出部7cは前述と同じく、しきい値と比較し、出力する。波形幅検出部7dはレベル検出部7cの出力が所定の時間t2以上持続した場合、出力する。後は前述と同じく判定、出力し開閉接点2を開路させることにより、テスト動作、すなわち漏電遮断器の動作能力を試験する。
本実施の形態によれば、零相変流器3に通電する疑似信号はパルス波形(パルス状の模擬漏電電流)となるので、正弦波、矩形波、三角波等に比べ、信号の平均値は大幅に低減されるため、電力容量も低減され、電源回路部(零相変流器3、テスト巻線11、等)の小形化、薄形化を図ることができる。例えば、図2(b)の正弦波出力を得るために、テスト巻線11に流す正弦波電流の実効値をAとすれば、その波高値は(√2×A)となる。この波高値(√2×A)の大きさを持ち、周期T、パルス幅t2のパルス電流をテスト巻線11に流した場合、 その実効値は、(√2×A×√(t2/T))となり、電力容量は大幅に低減される。
また、パルス幅検出の検出時間を短くすることによりパルス波形のONデューティーを短くできるため、信号の平均値を増大させることなく、疑似信号のピーク値を大きくできる。したがって零相変流器のテスト巻線数を削減でき、零相変流器の小形化、薄形化を図ることができる。
実施の形態2.
以下この発明の実施の形態2を図4〜図6により説明する。図4は漏電遮断器の内部回路構成の他の例を示すブロック図、図5は図4に示す漏電遮断器の漏電検出動作の例を説明するための説明図、図6は図4に示す漏電遮断器の漏電テスト動作の例を説明するための説明図である。
本実施の形態では、実施の形態1の漏電検出部7について、スイッチ7fおよび検出幅設定部7gに代えてテストパルス判定部17hを設けた漏電検出部に変更したものである。
漏電検出部は、零相変流器3の出力電流を電圧信号に変換する入力部17aと、入力部17aからの出力信号に重畳されている周波数の高い雑音信号を除去するローパスフィルタ17bと、ローパスフィルタ17bの出力に接続され、ローパスフィルタ17bの出力がしきい値以上のときオンするレベル検出部17cと、レベル検出部17cの出力に接続され、レベル検出部17cのオン出力が所定の時間t1以上持続した場合にオンする波形幅検出部17dと、波形幅検出部17dの出力に接続され、波形幅検出部17dの出力に応じスイッチング要素8を駆動する引き外し判定部17eと、入力部17aの出力に接続され、テスト装置9からの制御信号がオン時のみ動作しスイッチング要素8を駆動するテストパルス判別部17hと、から構成されている。
テストパルス判別部17hは、入力部17aの出力がしきい値以上のときオンするレベル検出部17h1と、レベル検出部17h1の出力に接続され、レベル検出部17h1のオン出力が所定の時間t2以上持続した場合にオンする波形幅検出部17h2と、波形幅検出部17h2の出力に接続され、波形幅検出部17h2の出力に応じスイッチング要素8を駆動する引き外し判定部17h3と、から構成されている。その他の構成については、実施の形態1と同様であるので、説明は省略する。
以下、漏電検出部の動作を、図4〜図6に基づいて説明する。漏電が発生し、交流電路1に流れる電流に差分が生じると、零相変流器3に出力が発生する。入力部17aは零相変流器3の出力に応じた電圧に変換する。ローパスフィルタ17bは入力部17aの電圧を、高調波成分を除去し商用周波数成分を抽出した信号を出力する。レベル検出部17cはローパスフィルタ17bの出力を所定のしきい値電圧と比較する。しきい値は正側、負側があり、ローパスフィルタ17bの出力が正側のしきい値以上となった場合、またはローパスフィルタ17bの出力が負側のしきい値以下となった場合、出力する。
波形幅検出部17dはレベル検出部17cの出力有無を監視し、出力有りの時間が所定の時間t1以上持続した場合、出力する。引き外し判定部17eは波形幅検出部17からの出力回数をカウントし、所定の回数に達した場合、スイッチング要素8に出力する。(図5)スイッチング要素8はその出力によりオンとなり定電圧回路5からスイッチング要素8を介して引外しコイル6aに励磁電流が流れ、引き外し機構6bが動作することにより、開閉接点2が開路する。
次に本実施の形態のテスト装置9の動作について説明する。テスト入力回路9aはテストスイッチ10が閉路されたことを判別し出力する。テスト入力回路9aの出力はテストパルス判別部17hに接続されており、テスト入力回路9aの出力がオンになるとテストパルス判別部17hが動作する。 また、引き外し判定部17h3は、一方向の信号にて判別する機能を有する。
テスト信号発生回路9bはテスト入力回路9aの出力により、所定の周期、所定のパルス幅(≧t2)のパルス信号を出力する。テスト信号発生回路9bの信号はパルス電流に変換され、テスト巻線11に印加され、零相変流器3は、信号に応じたパルス出力を発生する。
次に本実施の形態のテストパルス判別部17hの動作について説明する。テスト入力回路9aはテストスイッチ10が閉路されると、テスト入力回路9aの出力がオンとなり、テストパルス判別部17hが動作する。レベル検出部17h1は入力部17aの出力を所定のしきい値電圧と比較する。しきい値は正側、負側があり、入力部17aの出力が正側のしきい値以上となった場合、または入力部17aの出力が負側のしきい値以下となった場合、出力する。
波形幅検出部17h2はレベル検出部17h1の出力有無を監視し、出力有りの時間が所定の時間t2(t1>>t2)以上持続した場合、出力する。引き外し判定部17h3は波形幅検出部17h2からの出力回数をカウントし、所定の回数に達した場合、スイッチング要素8に出力する。(図5)スイッチング要素8はその出力によりオンとなり定電圧回路5からスイッチング要素8を介して引外しコイル6aに励磁電流が流れ、引き外し機構6bが動作することにより、開閉接点2が開路する。
本実施の形態2によれば、零相変流器3に通電する疑似信号はパルス波形(パルス状の模擬漏電電流)となるので、正弦波、矩形波、三角波等に比べ、信号の平均値は大幅に低減されるため、電力容量も低減され、電源回路部(零相変流器3、テスト巻線11、等)の小形化、薄形化を図ることができる。
また、パルス幅検出の検出時間を短くすることによりパルス波形のONデューティーを短くできるため、信号の平均値を増大させることなく、疑似信号のピーク値を大きくできる。したがって零相変流器のテスト巻線数を削減でき、零相変流器の小形化、薄形化を図ることができる。
なお、前述の実施の形態1および前述の実施の形態2は、観点を変えると以下のような特徴1〜4を有している。
特徴1:漏電検出対象の交流電路を1次巻線とする零相変流器、この零相変流器の二次出力に基づいて前記交流電路の漏電の有無を判定する漏電検出部、前記交流電路に漏電が発生したときの前記漏電検出部の出力に基づいて作動するスイッチング要素、前記漏電検出部の出力に基づく前記スイッチング要素の作動により作動する引外し装置、定常時は前記交流電路を閉路し前記引外し装置の前記作動により前記交流電路を開路する開閉接点、前記零相変流器に巻回されたテスト巻線に漏電動作テスト時に漏電動作テストのための模擬漏電電流を供給するテスト装置、及び前記漏電検出部の動作特性を前記漏電動作テスト時に変更する設定部を備えた漏電遮断器である。
特徴2:特徴1の漏電遮断器において、前記テスト装置が、前記模擬漏電電流としてパルス状の模擬漏電電流を前記テスト巻線に供給し、前記設定部が、前記漏電検出部の動作特性を、前記パルス状の模擬漏電電流に応動するように変更する漏電遮断器である。
特徴3:漏電検出対象の交流電路を1次巻線とする零相変流器、この零相変流器の二次出力に基づいて前記交流電路の漏電の有無を判定する漏電検出部、前記交流電路に漏電が発生したときの前記漏電検出部の出力に基づいて作動するスイッチング要素、前記漏電検出部の出力に基づく前記スイッチング要素の作動により作動する引外し装置、定常時は前記交流電路を閉路し前記引外し装置の前記作動により前記交流電路を開路する開閉接点、前記零相変流器に巻回されたテスト巻線に漏電動作テスト時に漏電動作テストのための模擬漏電電流としてパルス状電流を供給するテスト装置、及び前記テスト巻線に供給された前記パルス状電流に基づく前記零相変流器の二次出力に応動して前記スイッチング要素を作動させるテストパルス判定部を備えた漏電遮断器である。
特徴4:交流電路に設置された開閉接点と、上記交流電路を1次巻線とする零相変流器と、該零相変流器の二次出力から前記交流電路の漏電有無を判定し、漏電が発生した場合に信号を出力する漏電検出部と、この漏電検出部の出力信号に基づき前記開閉接点を引き外すように設けられた引外し装置と、前記引外し装置と直列に接続されその導通に応じて前記引外し装置を動作させるスイッチング素子(スイッチング要素、スイッチング手段)と、テストスイッチのON操作により前記零相変流器に巻回したテスト巻線に模擬漏電電流を供給するテスト回路(テスト装置)と、を備えたものにおいて、前記模擬漏電電流のONデューティは、前記テストスイッチのON操作されていない時には前記漏電検出回路が検出できない小さいデューティとし、前記テストスイッチのON操作時には、前記漏電検出回路が前記模擬漏電電流の検出可能な検出感度に変更する回路遮断器である。
なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を適宜、変形、省略することができる。
なお、各図中、同一符合は同一または相当部分を示す。
2 開閉接点、 3 零相変流器、 6 引き外し装置、
7 漏電検出部、 7g 設定部、 8 スイッチング要素、
テスト回路(テスト装置、 10 テストスイッチ、 11 テスト巻線、
100 漏電遮断器。

Claims (2)

  1. 漏電検出対象の交流電路を1次巻線とする零相変流器、
    この零相変流器の二次出力が変換されたパルス状の信号の波形幅が所定値t1以上であるかどうかによって前記交流電路の漏電の有無を判定する漏電検出部、
    前記交流電路に漏電が発生したときの前記漏電検出部の出力に基づいて作動するスイッチング要素、
    前記漏電検出部の出力に基づく前記スイッチング要素の作動により作動する引外し装置、
    定常時は前記交流電路を閉路し前記引外し装置の前記作動により前記交流電路を開路する開閉接点、
    前記零相変流器に巻回されたテスト巻線にテストスイッチのON操作によってパルス状の模擬漏電電流を供給するテスト回路、及び
    前記漏電検出部の動作特性を漏電動作テスト時に変更する設定部
    を備え
    前記テストスイッチがON操作され前記テスト巻線にパルス状の模擬漏電電流を供給されると、前記設定部により、前記所定値が前記t1より小さいt2に変更され、この変更された所定値t2に基づいて前記漏電検出部が作動する
    ことを特徴とする漏電遮断器。
  2. 漏電検出対象の交流電路を1次巻線とする零相変流器、
    この零相変流器の二次出力が変換されたパルス状の信号の波形幅が所定値t1以上であるかどうかによって前記交流電路の漏電の有無を判定する漏電検出部、
    前記交流電路に漏電が発生したときの前記漏電検出部の出力に基づいて作動するスイッチング要素、
    前記漏電検出部の出力に基づく前記スイッチング要素の作動により作動する引外し装置、
    定常時は前記交流電路を閉路し前記引外し装置の前記作動により前記交流電路を開路する開閉接点、
    前記零相変流器に巻回されたテスト巻線にテストスイッチのON操作によってパルス状の模擬漏電電流を供給するテスト回路、及び
    前記テスト巻線に供給された前記パルス状の模擬漏電電流に基づく前記零相変流器の二次出力に応動して前記スイッチング要素を作動させるテストパルス判定部
    を備え、
    前記テストスイッチがON操作され前記テスト巻線にパルス状の模擬漏電電流を供給されると、前記所定値が前記t1より小さいt2に変更され、この変更された所定値t2に基づいて前記テストパルス判定部が作動する
    ことを特徴とする漏電遮断器。
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