JP6113507B2 - 座標位置測定装置による測定エラーの修正 - Google Patents
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Description
(i)各々が第一の物体の表面上のある位置を表す1つまたは複数の、設計データまたは、第一の基準座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の高い第一のデータ値を含む第一のデータセットを取得するステップと、
(ii)各々が前記第一の物体の表面上のある位置を表す1つまたは複数の、第二の座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の低い第二のデータ値を含む第二のデータセットを取得するステップと、
(iii)各々が前記第一のデータセットにより表される表面と前記第二のデータセットにより表される表面の間の位置差を表す1つまたは複数のエラー値を含むエラーマップを計算するステップと、を含み、
前記第一の物体の面法線が第一のデータ値の各々により表される各位置において既知であり、ステップ(iii)が、実質的に既知の面法線の方向の位置差を判断することによって、各エラー値を計算するステップを含み、
前記方法が、前記第二の座標位置測定装置を用いて、前記第一の物体または、前記第一の物体と名目上同一の物体について加工または測定作業を実行するステップ(iv)をさらに含み、測定精度の低い前記表面上の位置が、ステップ(iii)で計算された前記エラーマップを使って修正されることを特徴とする。
Claims (10)
- 座標位置測定装置のためのエラー修正方法であって、
(i)各々が第一の物体の表面上のある位置を表す1つまたは複数の、第一の基準座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の高い第一のデータ値を含む第一のデータセットを取得するステップと、
(ii)前記第一の基準座標位置測定装置によって前記第一の物体の前記表面上で測定された点を使用して、第一のデータ値の各々によって表される各位置における前記第一の物体の面法線を計算するステップと、
(iii)各々が前記第一の物体の表面上のある位置を表す1つまたは複数の、第二の座標位置測定装置を使って取得される前記第一の物体の測定値から導き出される測定精度の低い第二のデータ値を含む第二のデータセットを取得するステップと、
(iv)各々が前記第一のデータセットにより表される表面と前記第二のデータセットにより表される表面の間の位置差を表す1つまたは複数のエラー値を含むエラーマップを計算するステップと、を含み、
ステップ(iv)が、前記面法線の方向の位置差を判断することによって、各エラー値を計算するステップを含み、
前記方法が、前記第二の座標位置測定装置を用いて、前記第一の物体または、前記第一の物体と名目上同一の物体について加工または測定作業を実行するステップ(v)をさらに含み、測定精度の低い前記表面上の位置が、ステップ(iv)で計算された前記エラーマップを使って修正されることを特徴とする方法。 - ステップ(v)が、前記第一の物体と名目上同一の別の物体を得るステップと、前記第二の座標位置測定装置を使って、前記別の物体を測定するステップと、前記エラーマップを用いて、前記別の物体の前記測定値を修正するステップと、を含むことを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- ステップ(v)は、加工作業を実行して、前記第一の物体または前記第一の物体と名目上同一の物体の表面形状を改変するステップと、前記エラーマップを用いて、前記加工作業により生成される前記表面形状を調整するステップと、を含むことを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記加工作業が、前記第一の物体または前記第一の物体と名目上同一の物体に材料を追加するステップ、またはそこから材料を除去するステップを含むことを特徴とする、請求項3に記載の方法。
- 前記1つまたは複数の第一のデータ値および/または前記1つまたは複数の第二のデータ値を、第二のデータ値の各々が確実に第一のデータ値の前記面法線上にあるようにするための補間工程を用いて生成するステップを含み、ステップ(iv)で計算したエラー値の各々が、第一のデータ値と、それに関連する、前記面法線に沿った第二のデータ値の間の位置差を含むことを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第二の座標位置測定装置は、測定プローブを備えることを特徴とする、請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第一の基準座標位置測定装置が、校正された座標測定機を含むことを特徴とする、請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第二の座標位置測定装置がパラレル座標位置測定装置であることを特徴とする、請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。
- ステップ(iii)が補間工程を用いて、前記第二の座標位置測定装置により測定された前記第一の物体の前記表面上の複数の点の位置から前記1つまたは複数の第二のデータ値を計算するステップを含み、ステップ(iii)で計算された第二のデータ値の各々が、第一のデータ値の前記面法線上に存在するように構成されることを特徴とする、請求項8に記載の方法。
- 各々が前記第一の物体の前記表面上のある点を表す1つまたは複数の第三のデータ値を含む第三のデータセットを取得するステップと、
各々が第二のデータ値と第三のデータ値の位置差を表す1つまたは複数のエラー値を含む第二のエラーマップを計算するステップと、を含み、前記位置差が、実質的に、前記第一のデータ値に関連する前記面法線の方向に判断される
ことを特徴とする、請求項1〜9のいずれか一項に記載の方法。
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