JP6104711B2 - ワーク搬送装置 - Google Patents

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この発明は、チップを収容する外囲器の開口部にキャップをシーム接合して半導体パッケージを気密封止するなどの所定の処理を、密閉室内で行うのに適するワーク搬送装置に関するものである。
従来より、半導体をパッケージ内に気密封止する際にマイクロパラレルシーム接合装置が用いられている。この装置は、パッケージの外囲器の開口を上向きにして保持し、この開口部に金属製(コバールなど)のキャップを載せ、一対のマイクロローラ電極をこのキャップの周縁に転接させつつ両マイクロローラ電極間に接合電流を流すことによりシーム接合するものである(特許文献1)。
多数のパッケージをキャリヤに永久磁石を用いて位置決めし、このキャリヤをワークテーブルに搬送してキャップの仮止めおよびシーム接合を行うものも公知である(特許文献2、3)。この場合に、キャリヤは搬送レールに乗せて搬送され、ワークテーブルの上方に移動されるとこの搬送レールに設けたシリンダ(エアシリンダ)により下降され、ワークテーブルに設けた位置決めピンによりキャリヤを位置決めしてワークテーブルに保持している。すなわちキャリヤを搬送レールに載せてワークテーブルの位置まで移動させる間は、キャリヤはシリンダによって上昇位置に保持されるものであった(特許文献2の段落0024〜0028)。従ってシリンダはキャリヤと共に搬送レールに載せて(X−Y方向に)移動するものであった。
特開2007−53192号公報 特開平8−162556号公報 特開平8−255849号公報
半導体パッケージの気密封止は、真空(あるいは減圧)雰囲気中あるいは窒素などのガス雰囲気中で行うが、これらの雰囲気に保った気密室(密閉室)内での封止処理では、シリンダ(エアシリンダ)を使うことは望ましくない。すなわち、仮にエアシリンダ周辺からのエア漏れがあると気密室の雰囲気に影響を及ぼすおそれが有り、また真空雰囲気下(減圧下)で使えるエアシリンダは特殊で仕様が限られるため、特別な機構設計が求められ設計自由度が制限されるからである。またこのようなエアシリンダなどの真空用部品は高価でもある。
さらに、エアシリンダをキャリヤと共に搬送すると、エアシリンダの配線、配管が移動することになり、これに伴い配線、配管がこすれるなどしてゴミ発生のおそれが生じ、半導体の性能などに影響を及ぼすそおそれが考えられる。またこれらの引き回し空間を設ける必要も生じるため、装置の小型化の障害になるという問題もある。一方複数の(左右の)エアシリンダを用いてキャリヤを昇降させる場合には、各エアシリンダの動き、特に昇降スピードにムラが生じやすく、左右の速度調整が難しい。この場合に、速度ムラがあるとワークが跳ね上がって、所定の位置決め位置からこぼれたりするおそれもあった。
この発明はこのような事情に鑑みなされたものであり、気密室の雰囲気に影響を与えるおそれが無く、高価な部品を用いる必要を無くし、設計自由度を大きくし、装置の小型化に適し、さらに昇降速度調整が容易であり、左右の昇降速度のムラが生じにくくすることが出来るようにするワーク搬送装置を提供することを目的とする。
この発明によればこの目的は、所定雰囲気の気密室内で、所定の処理位置で多数のワークに所定の処理を施す処理装置にワークを搬入出するためのワーク搬送装置であって、
前記多数のワークを載置した複数枚のキャリヤを収容する多段のマガジンと、
このマガジンから前記キャリヤを受け取り保持する移動ステージと、
前記気密室の外側に取り付けたモータにより送りネジ機構を介して駆動され前記移動ステージをX−Y方向に移動させるX−Y搬送手段と、
気密室の外側に取り付けたモータにより回転される偏芯カムにより前記キャリヤを前記移動ステージの復帰位置でZ方向に昇降させる昇降手段と、
この移動ステージにより前記所定の処理位置に搬送された前記キャリヤに所定の処理を施す処理装置と、を備え、
前記昇降手段は、前記復帰位置で、前記偏芯カムが前記キャリヤを上昇させてキャリヤの搬入出を可能にすると共に、前記偏芯カムが前記キャリヤを下降させて位置決めしつつ移動ステージのX−Y方向への移動を許容することを特徴とするワーク搬送装置、により達成される。
キャリヤをマガジンから受け取る移動ステージを搬送するX−Y搬送手段を送りネジ機構とし、これを気密室の外側に設けたモータで駆動すると共に、キャリヤを上下動させる昇降手段を偏芯カム機構としてこれを気密室の外側に設けたモータで駆動するから、搬送系の全てのモータが気密室の外に位置することになる。このためモータに使われている樹脂や金属などの表面から出る吸着ガスが気密室に入ることが無く、気密室の雰囲気を安定させることが出来る。このためワークの処理が安定し不良品の発生を防ぐことが出来る。
また高価な真空用部品が不要になるので設計自由度が大きくなり、装置の小型化が可能になる。さらに昇降機構には偏芯カムを用いるので、移動ステージの昇降が滑らかになり昇降時の衝撃を小さくできる。従って、ワークの位置ずれを防いで処理装置での処理を円滑に行えるようにすることが出来る。
本発明の一実施例を示す平面図(A)と側面図(B)の概念図 同じく昇降手段の概念を示す分解斜視図 同じく移動ステージの搬送例を示す平面図 移動ステージの搬送機構を示す平面図 同じく移動ステージの搬送機構を示す正面図 同じく一実施例の動作流れ図
移動ステージにはキャリヤの対向2辺を下方から支持する一対のレールを設け、昇降手段はこれらのレールを昇降させることによってキャリヤを昇降させる構成とすることが出来る(請求項2)。この場合上下するのは一対の昇降レールだけあるいはこれに載せたキャリヤと昇降レールだけであり、昇降レールはキャリヤを保持する長さがあれば足りるから、可動部分が軽量である。このため昇降レールの昇降を短時間で効率良く行うことができ昇降手段のモータが小型になる。
2つの移動ステージを共通の受け台に固定し、この受け台をX−Y方向に移動するようにすれば、2つのキャリヤを同時に処理位置に移動し連続してあるいは同時並行して処理することにより処理能率を向上させることが出来る(請求項3)。例えば2つのキャリヤに対応して2つの処理装置を気密室に設けておき、これらのキャリヤを並行して処理することも可能になる(請求項4)。
ワークを半導体パッケージとし、処理装置をこのパッケージにキャップをシーム接合するマイクロパラレルシーム接合装置とすれば、半導体パッケージの気密封止を能率良く行うことができる(請求項5)。
図1、3において符号10はマガジンであり、ここには多数のキャリヤ12が多段に収納されている。このキャリヤ12には半導体素子を収納した多数の外囲器が保持されている。キャリヤ12は例えば特開平6−104347に開示されているものとすることが出来る。すなわち、外囲器を位置決めする位置決め孔を多数設けた位置決め板を保持基板に重ね、各位置決め孔の下方で保持基板に保持した永久磁石により外囲器を位置決め孔に吸着し保持するものである。
このキャリヤ12はマガジン10に多段にセットされ(図6のステップS100)、このマガジン10は、予め真空オーブンチャンバ(図示せず)内で加熱され脱気される(ステップS102)。すなわち外囲器や内部の半導体素子、キャリヤ12やマガジン10の表面に吸着したガスを除去するものである。
このマガジン10は図4に示す気密室14にセットされる(ステップS104)。キャリヤ12は1つずつマガジン10から引き出されて、中間バッファ部16(図1)に移され、さらに移動ステージ18に搬送される。この時には移動ステージ18は復帰位置(待機位置、ホームポジション)させておく(ステップS106)。中間バッファ部16はキャリヤ12の対向2辺を保持する一対のレール16a、16aを持ち(図1)、これらのレール16aにキャリヤ12を載せてX−Y方向に移動する。なおこの中間バッファ部16の搬送装置については公知のものでよいから、ここでは詳細な説明はしない。
20は2つの移動ステージ18を載せた受け台であり(図2)、この受け台20は、図4に示すモータ22、23によって水平面状でX方向と、Y方向とに移動可能であり、さらにモータ24によってキャリヤ12だけを上下方向に昇降可能である。なおモータ22、23は、気密室14となる筐体の外側に取り付けられ、X方向とY方向の移動はそれぞれ送りネジ機構により行われ、Z方向の昇降は気密室14の外側に取り付けたモータ24で駆動する偏芯カム機構により行われる。なお移動ステージ18はその復帰位置(ホームポジション、待機位置)だけで昇降する。X−Y搬送機構については後記する。まず昇降機構について以下に説明する。
2つの移動ステージ18は図2、3に示すように、共通の受け台20に左右(X)方向に並べて固定されている。これらの移動ステージ18には各キャリヤ12の左右2辺を支持する2対の昇降レール26(26a〜26d)が上下動可能に取り付けられている。すなわち移動ステージ18には、各キャリヤ12の左右2辺の下方に2個ずつ位置する合計8個のリニアブッシュ28が固定され(図1、2)、これらのリニアブッシュ28には下方からそれぞれリニアシャフト30が合計8本貫通している。左右各辺に対応する昇降レール26は前後(Y方向)の2本のリニアシャフト30の上端に取り付けられている。
ここに昇降レール26は、図2に示すように、キャリヤ12の左右2辺を載せてガイドする段部が形成された樹脂製のガイド部材27aと、このガイド部材27aの下面に固定された金属板27bとを一体にしたものである。なおこの金属板27bは、各キャリヤ12の搬入出側がガイド部材27aよりも突出していて、ここにキャリヤ12をガイドして昇降レール26の段部に導くガイドローラ32が取り付けられている。同じ昇降レール26を保持する2本のリニヤシャフト30の下端は、それぞれ昇降ブロック34(34a〜34d)に固定されている。左右両端の2つの昇降ブロック34a、34dの下端にはカムフォロワとなるローラ36a、36cが取り付けられ、中間の2つの昇降ブロック34b、34cの下端は連結板38で連結され、この連結板38の下面にローラ36bが取り付けられている。
これらのローラ36a〜36cは、移動ステージ18(従って受け台20)の復帰位置では、X方向に並行に配置した偏心カム軸40に同位相に固定した偏芯カム42(42a〜42c)の上方に位置し、偏芯カム42の回転によって同期して昇降する。従って4個の昇降レール26が同期して昇降する。なお偏芯カム42は、昇降レール26を下降位置にした時にローラ36が偏芯カム42から僅かに離れ(図1(B)に示す間隙A)、移動ステージ18(および受け台20)のX−Y方向への移動を可能にしている。
すなわち図1の(B)には上昇位置と下降位置(左側の仮想線内に示している)とを併記しているが、仮想線内に示した下降位置では偏芯カム42とローラ36との間に間隙Aが生じるようにしている。例えば下降位置では昇降レール26の下面がリニヤブッシュ28の上端面に当接してその下降が規制されるようにする。
また昇降レール26には、図1(B)および図2に示すように引っ張りコイルばね44によって常に下向きの復帰習性が付与されている。すなわちこのコイルばね44の上端は昇降レール26の下面に係止される一方、コイルばね44の下端は、リニヤブッシュ28を固定した移動ステージ18に係止されている。このため昇降レール26は偏芯カム42がローラ36から離れた下降位置(図1(B)の仮想線内)に保持され、この状態でX−Y方向に搬送される。なおこの時には、キャリヤ12に設けた位置決め孔(図示せず)が移動ステージ18に設けた位置決めピン(図示せず)に係合し、キャリヤ12が位置決めされる。
次に移動ステージ18をX−Y方向に移動させるX−Y搬送機構を説明する。移動ステージ18を保持する受け台20は、図4、5に示すX方向の2本の平行なリニヤ軸受け46に案内されてX方向に移動可能な下受け台48と、この下受け台48の上面から起立してY方向に伸びる2本のリニヤ軸受け50とに支持されている。従って受け台20は、リニヤ軸受け46と50に載ってX−Y方向に移動可能である。51はX方向のリニヤ軸受け46に載った下受け台48をX方向に移動させる送りネジ軸であり、前記モータ22によって回転駆動される。
Y方向の搬送機構は、図4、5に示す送りネジ軸52と、この送りネジ軸52によってY方向に移動する移動体54と、この移動体54から水平にX方向に伸びる2本のガイド軸56、56と、これらのガイド軸56、56にガイドされてX方向に摺動する摺動体58(図2)とを備え、この摺動体58の上面にスペーサである受け台20aを挟んで前記受け台20が固定されている。また前記移動ステージ18は、この受け台20の上面にスペーサとしての受け台20bを挟んで固定されている。
前記受け台20は前記のように、X方向のリニヤ軸受け46と、Y方向のリニヤ軸受け50とに載って移動するから、摺動体58はこの受け台20の下面に吊られて固定されていることになる。一方、この摺動体58と一体の受け台20には、前記昇降機構で昇降レール26を受け台20側に復帰させるコイルばね44により、常に上向きの押上げ力が加わることになる。そこでこの押し上げ力を、Y方向の送りネジ軸52を挟んで反対側に設けたY方向のリニヤ軸受け60に移動体54を上から摺動させることにより支持している。
次にこのX−Y搬送機構および昇降機構の動作例を図6を用いて説明する。前記したように、マガジン10を気密室14にセットし(S104)、移動ステージ18を復帰位置に復帰させたら(ステップS106)、昇降機構のモータ24が回転して偏芯カム42がローラ36(従って昇降レール26)を押し上げた状態とする(図1(B)、ステップS108)。中間バッファ部16は、マガジン10からキャリヤ12を抜き出して移動ステージ18に搬送する(ステップ110)。
キャリヤ12が移動ステージ18にセットされると、モータ24が起動して偏芯カム42が回転し、昇降レール26を下降させ、キャリヤ12を移動ステージ18に位置決めする(ステップS112)。次にX−Y搬送機構は、このステージ18を処理装置62(図3)に移動する。この処理は、半導体パッケージの封止処理の場合には、例えばYシーム処理(Y方向の2辺のシーム接合処理)の位置に移動する(ステップS114)。ここではまずキャップを外囲器に載せて対称位置に2つのローラ電極(図示せず)を押し当て接合パルスを供給することによってキャップの仮止めを行う(ステップS116)。そしてローラ電極をY方向に転接させつつ接合電流を供給することによって、Y方向のシーム接合を行う(ステップS118)。
キャリヤ12に同一の半導体パッケージを多数保持している場合には、ステップS114〜118の処理を連続して繰り返す。Yシーム接合が終わると移動ステージ18をXシーム接合位置に移動し(ステップS120)、X方向のシーム接合を行う(ステップS122)。全てのパッケージのシーム接合が終わるとX−Y搬送機構は移動ステージ18を復帰位置に移動する(ステップS124) 。すると昇降機構が起動して昇降レール26を上昇させ(ステップS126)、中間バッファ部16がこの移動ステージ18から処理済みのキャリヤ12を取り出してマガジン10に戻す(ステップS128)。Xシーム処理と,Yシーム処理とを同じローラ電極で行う場合には、移動ステージを90°回転したり、あるいはローラ電極を90°回転するようにしても良い。
10 マガジン
12 キャリヤ
14 気密室(真空室、筐体)
16 中間バッファ部
18 移動ステージ
20 受け台
22、23、24 モータ
26 昇降レール
28 リニヤブッシュ
30 リニヤシャフト
36 ローラ
40 偏芯カム軸
42 偏芯カム
44 コイルばね
46、50、60 リニヤ軸受け
51、52 送りネジ軸
54 移動体
56 ガイド軸
58 摺動体
62 処理装置

Claims (5)

  1. 所定雰囲気の気密室内で、所定の処理位置で多数のワークに所定の処理を施す処理装置にワークを搬入出するためのワーク搬送装置であって、
    前記多数のワークを載置した複数枚のキャリヤを収容する多段のマガジンと、
    このマガジンから前記キャリヤを受け取り保持する移動ステージと、
    前記気密室の外側に取り付けたモータにより送りネジ機構を介して駆動され前記移動ステージをX−Y方向に移動させるX−Y搬送手段と、
    気密室の外側に取り付けたモータにより回転される偏芯カムにより前記キャリヤを前記移動ステージの復帰位置でZ方向に昇降させる昇降手段と、
    この移動ステージにより前記所定の処理位置に搬送された前記キャリヤに所定の処理を施す処理装置と、を備え、
    前記昇降手段は、前記復帰位置で、前記偏芯カムが前記キャリヤを上昇させてキャリヤの搬入出を可能にすると共に、前記偏芯カムが前記キャリヤを下降させて位置決めしつつ移動ステージのX−Y方向への移動を許容することを特徴とするワーク搬送装置。
  2. 移動ステージにはキャリヤの対向2辺を下方から支持する一対の昇降レールが設けられ、前記昇降手段はこれらの昇降レールを昇降させる請求項1のワーク搬送装置。
  3. 2つの移動ステージが共通の受け台に固定され、前記受け台がX−Y方向へ移動される
    請求項1のワーク搬送装置。
  4. 気密室内には2つの処理装置が設けられ、X−Y搬送手段は2つのキャリヤをこれらの処理装置に搬送して処理する請求項3のワーク搬送装置。
  5. ワークは半導体パッケージであり、処理装置はこのパッケージにキャップをシーム接合する接合装置である請求項1のワーク搬送装置。
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