JP6102941B2 - 光学装置及びその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、光学装置及びその製造方法に関する。
スマートフォン及びタブレット機器の小型化の要望から、それらに搭載されるCCD(Charge Coupled Device)又はCMOS(Complementary Metal−Oxide Semiconductor)からなる固体撮像素子は、近年益々小型化が要求されている。
これらの小型化の要求に答えるには、従来のセラミックパッケージ及び樹脂モールドパッケージでは対応が困難であり、小型のパッケージングを行える固体撮像装置が提案されている(例えば、特許文献1、2及び3を参照。)。
図10は特許文献1に記載された固体撮像装置の断面構成を示している。特許文献1に記載の固体撮像装置は、基板202と、基板202の第一の表面202a上又は基板202の内部に設けられた電子部品203と、電子部品203に電気的に接続されていると共に基板202の第一の表面202a上に設けられた接続電極204と、接続電極204の裏面に達するように基板202の厚さ方向に貫通する第一の貫通孔部205と、第一の貫通孔部205の内部に設けられていると共に第一の貫通孔部205の内部から基板202の第二の表面202b上へ延びるように設けられた貫通電極206と、基板202の第二の表面202b上に設けられ、基板202の第二の表面202b上において貫通電極206と電気的に接続された配線電極207と、配線電極207の表面を覆うように基板202の第二の表面202b上に設けられた絶縁層208とを備えている。
図11は特許文献2に記載された固体撮像装置の断面構成を示している。特許文献2に記載の固体撮像装置は、デジタル器機等に用いられるウェーハレベルのイメージセンサモジュール301において、イメージセンサに流入される光から特定波長の光を除去する光学フィルタ310、光学フィルタ310に付着されてフィルタ用コーティング層310aを保護し、その後面には複数のパッド電極330が形成されるガラス層320、ガラス層320のパッド電極330に付着され、パッド電極330からその後面に再分配パッド342が形成されるイメージセンサ、及び該イメージセンサの後面側に配置され、パッド電極330に電気的に連結されるソルダボール370を含んでいる。イメージセンサの外側は樹脂層350で覆われており、樹脂層350には複数のビアホール352が形成され、ビアホール352には導電性材料が充填又はめっき処理されてパッド電極330と再分配パッド342とを電気的に連結している。
図12は特許文献3に記載された固体撮像装置の断面構成を示している。特許文献3に記載の固体撮像装置は、複数の半導体パッケージに対応するサイズを持つガラス基板409上の透明接着層432の上には、それぞれが下面に光電変換デバイス領域を有する複数のシリコン基板401が相互に離間して接着されている。シリコン基板401の下面周辺部及びその周囲には、接続用配線407がシリコンからなる接続パッド431に接続されて設けられている。絶縁膜、再配線、柱状電極412、封止膜413及び半田ボール414を順次形成した後に、シリコン基板401同士の間で切断し、それぞれが光電変換デバイス領域を備えた複数の半導体パッケージを得る。
特許第4713602号公報 特開2006−216935号公報 特許第4126389号公報
しかしながら、特許文献1に記載された方法は、基板を貫通する電極が必要であり、さらに、絶縁層、シード層及び導電層を設けなければならないため、その製造工程が複雑となる。また、貫通電極を設ける電極の下側には、配線及びトランジスタ素子を配置することができないという設計上の制約があり、撮像素子チップに特殊な設計が必要となる。このため、設計コストが増大し、また、仕様変更に対して柔軟に対応ができないという問題がある。さらに、生産過程において、不良品であるアウトダイ(Out Die)のイメージセンサまでパッケージングすることになり、該アウトダイをパッケージングする費用も良品であるグッドダイ(Good Die)のパッケージング費用に含まれてしまう。その結果、生産原価が高くなるという問題がある。
また、特許文献2及び特許文献3は、特許文献1に係る基板の貫通電極に伴う問題を解決するため、撮像素子の周辺領域に樹脂部を配置し、該樹脂部内に貫通電極を形成している。しかし、撮像素子の機能を向上するために、画素数を増加すると共にノイズ補正機能及び信号処理機能等を追加した場合には、チップサイズが大きくなり、パッケージのサイズも大きくなってしまう。パッケージのサイズの増加を抑えるために、撮像素子の周辺領域に配置される樹脂部の体積を小さくしてしまうと、該樹脂部とガラス部材及び撮像素子の周辺部との密着面積が少なくなるため、樹脂部の脱落等による貫通電極の接続の信頼性が低下するという問題がある。
本発明は、上記の問題を解決し、高生産性、高信頼性及び小型化を実現できる光学装置を安定且つ容易に得られるようにすることを目的とする。
上記の目的を達成するため、本発明は、光学機能を備えた光学素子(光学チップ)と、周辺回路等を備えた半導体素子(半導体チップ)とを透明部材上に積層し、両チップの周囲を樹脂材によって封止する構成とする。
具体的に、本発明に係る光学装置は、主面に光学部を有する光学素子と、光学部と対向して配置された透明部材と、光学素子における主面と反対側の裏面上に配置され、光学素子と電気的に接続された半導体素子と、透明部材における光学素子と対向する面上で、光学素子と半導体素子との周辺領域に設けられた樹脂部とを備えている。
本発明の光学装置において、樹脂部は、光学素子の側面と、光学素子の裏面の少なくとも一部と、半導体素子の側面とを覆っていてもよい。
本発明の光学装置において、樹脂部は、光学素子の側面と、半導体素子の側面と、半導体素子における回路形成面と反対側の面の一部とを覆っていてもよい。
本発明の光学装置において、光学素子の主面には、第1の電極が設けられ、樹脂部における透明部材と反対側の面上には、第1の電極と電気的に接続された外部電極端子とが設けられていてもよい。
本発明の光学装置において、光学素子の主面には、第1の電極が設けられ、透明部材における光学素子と対向する面上には、第2の電極、該第2の電極の外側に位置する第3の電極、及び第2の電極と第3の電極とを電気的に接続する第1の配線部が設けられ、第1の電極と第2の電極とは互いに対向し、第1の電極と第2の電極との間に配された第1の突起電極により電気的に接続され、樹脂部における光学素子及び半導体素子の外方には、光学素子と電気的に接続された第1の貫通電極が設けられ、第1の貫通電極の一方の端部は、第3の電極と接続され、樹脂部における透明部材と反対側の面上には、第1の貫通電極の他方の端部と接続された第2の配線部と外部電極端子とが設けられていてもよい。
この場合に、外部電極端子は、光学素子の主面側からの平面視において、半導体素子と重ならない位置に設けられていてもよい。
本発明の光学装置において、光学素子は、固体撮像素子であってもよい。
本発明の光学装置において、半導体素子は、透明部材の中央部に配置されていてもよい。
本発明の光学装置において、光学素子の裏面には、第4の電極、該第4の電極の外側に位置する第5の電極、及び第4の電極と第5の電極とを電気的に接続する第3の配線部が設けられ、半導体素子は、第2の突起電極を介して第4の電極とフリップチップ接続されており、樹脂部には、一方の端部が第5の電極と接続された第2の貫通電極が設けられていてもよい。
本発明の光学装置において、樹脂部において、光学素子の周辺の領域を覆う樹脂の構成材料と半導体素子の周辺の領域を覆う樹脂の構成材料とは、同一であってもよい。
本発明の光学装置において、第1の突起電極を有する場合に、樹脂部において、光学素子及び半導体素子の周辺の領域を覆う樹脂の構成材料と第1の突起電極の周辺の領域を覆う樹脂の構成材料とは、同一であってもよい。
本発明の光学装置は、樹脂部における光学素子の裏面に設けられ、樹脂部を貫通する放熱用部材をさらに備えていてもよい。
この場合に、放熱用部材は、第1の貫通電極よりも径が大きくてもよい。
本発明に係る光学装置の製造方法は、複数の素子形成領域を含む板状の透明部材の上に、各素子形成領域のそれぞれに電極を有する第1の配線部を形成する工程と、透明部材の各素子形成領域の上に、それぞれ主面に光学部を有する複数の光学素子を主面と第1の配線部の電極とをそれぞれ対向させて配置する工程と、光学素子における主面と反対側の面である裏面上に、半導体素子を配置する工程と、光学素子の側面及び該光学素子の裏面の少なくとも一部と半導体素子の側面とを樹脂材により覆うことにより、樹脂部を形成する工程と、樹脂部の透明部材と反対側の面から樹脂部を貫通して、第1の配線部の電極と電気的に接続される第1の貫通電極を形成する工程と、樹脂部における透明部材と反対側の面上に、電極を有する第2の配線部と、該第2の配線部と電気的に接続される外部電極端子とを形成する工程と、各素子形成領域ごとに、透明部材及び樹脂部を切断して、それぞれ個片化する工程とを備えている。
本発明の光学装置の製造方法において、第1の貫通電極を形成する工程は、樹脂部における透明部材と反対側の面から樹脂部を貫通して、光学素子の裏面と接続される放熱用部材を形成する工程を含んでいてもよい。
本発明の光学装置の製造方法は、光学素子を透明部材の上に配置する工程よりも前に、光学素子の裏面上に電極を有する第3の配線部を形成する工程をさらに備え、光学素子の裏面上に半導体素子を配置する工程において、半導体素子は、第3の配線部の電極と電気的に接続されるように配置し、第1の貫通電極を形成する工程は、樹脂部における透明部材と反対側の面から樹脂部を貫通して、光学素子の第3の配線部の電極と電気的に接続される第2の貫通電極を形成する工程を含んでいてもよい。
本発明に係る光学装置の製造方法は、複数の素子形成領域を含む板状の透明部材の上に、各素子形成領域のそれぞれに電極を有する第1の配線部を形成する工程と、透明部材の各素子形成領域の上に、それぞれ主面に光学部を有する複数の光学素子を主面と第1の配線部の電極とをそれぞれ対向させて配置する工程と、光学素子における主面と反対側の面である裏面上に、半導体素子を配置する工程と、光学素子の側面と、半導体素子の側面と、半導体素子における回路形成面と反対側の面の一部とを樹脂材により覆うことにより、樹脂部を形成する工程と、樹脂部の透明部材と反対側の面から樹脂部を貫通して、第1の配線部の電極と電気的に接続される第1の貫通電極を形成する工程と、樹脂部における透明部材と反対側の面上に、電極を有する第2の配線部と、第2の配線部と電気的に接続される外部電極端子とを形成する工程と、各素子形成領域ごとに、透明部材及び樹脂部を切断して、それぞれ個片化する工程とを備えている。
本発明の光学装置の製造方法は、第1の配線部を形成する工程と、透明部材の上に各光学素子を配置する工程との間に、第1の配線部の電極の上に突起電極を形成すると共に、透明部材における光学部と対向する領域の周囲に、樹脂材の光学部上への流入を阻止するダム部を形成する工程をさらに備えていてもよい。
この場合に、ダム部の構成材料と突起電極の構成材料とは、同一であってもよい。
本発明に係る光学装置及びその製造方法によると、高生産性、高信頼性及び小型化を実現できる光学装置を安定且つ容易に得ることができる。
図1は、第1の実施形態に係る光学装置を示す断面図である。 図2は、第1の実施形態の第1変形例に係る光学装置を示す断面図である。 図3は、第1の実施形態の第2変形例に係る光学装置を示す断面図である。 図4は、第1の実施形態の第3変形例に係る光学装置を示す断面図である。 図5Aは、第1の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図5Bは、第1の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図5Cは、第1の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図5Dは、第1の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図6Aは、第1の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図6Bは、第1の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図6Cは、第1の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図6Dは、第1の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図6Eは、第1の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図7は、第2の実施形態に係る光学装置を示す断面図である。 図8Aは、第2の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図8Bは、第2の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図8Cは、第2の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図8Dは、第2の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図9Aは、第2の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図9Bは、第2の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図9Cは、第2の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図9Dは、第2の実施形態に係る光学装置の製造方法を示す工程順の断面図である。 図10は、従来例に係る固体撮像装置を示す断面図である。 図11は、他の従来例に係る固体撮像装置を示す断面図である。 図12は、他の従来例に係る固体撮像装置を示す断面図である。
(第1の実施形態)
第1の実施形態に係る光学装置について図1を参照しながら説明する。
図1に示すように、本実施形態に係る光学装置は、光を透過するガラス材又は樹脂材である透明部材7と、主面に光学部である撮像領域1と第1の電極2とが設けられた光学素子としての撮像素子3と、撮像素子3における主面と反対側の裏面上に配置され、回路面を撮像素子3と反対側の面とする半導体素子9とから構成されている。
透明部材7における撮像素子3の主面と対向する面上には、第2の電極4、該第2の電極4の外側に配置される第3の電極5、及び第2の電極4と第3の電極5とを電気的に接続する第1の配線部6が設けられている。撮像素子3の第1の電極2は、透明部材7に設けられた第2の電極4との間で突起電極8を介して電気的に接続されている。突起電極8は、金(Au)又ははんだ材等の電気的な接続を満たす、いずれの形態であってもよい。
半導体素子9の回路面には、複数の素子電極13が設けられている。
半導体素子9と撮像素子3とを固着するには、ペースト状若しくはシート状のダイボンド材を用いたダイスボンド工法、又はシリコン同士の結合による表面活性化接合等のいずれの方法を用いてもよい。また、半導体素子9の撮像素子3の裏面上への配置位置に制約はなく、任意に配置することができる。なお、半導体素子9は、光学装置の中心位置、すなわち透明部材7の中央部に合わせて配置することが望ましい。
透明部材7における撮像素子3との対向面上で、撮像素子3と半導体素子9との周辺領域には樹脂部10が設けられている。樹脂部10は、撮像素子3の側面及びその裏面の少なくとも一部と、半導体素子9の側面とを覆っている。なお、樹脂部10を構成する樹脂材は、撮像素子3の主面に設けられた撮像領域1を覆わないように、該撮像領域1の周辺部で堰き止められる。この堰き止め方法の一例を後述する。
樹脂部10には、撮像素子3及び半導体素子9の側方又は周囲の領域を貫通し、その一端が透明部材7に設けられた第3の電極5と接続された複数の貫通電極11が設けられている。なお、本願明細書においては、「2つの導電性部材が接続されている」とは、「2つの導電性部材が直接に接した状態」をいい、「2つの導電性部材が電気的に接続されている」とは、「直接に接した状態」だけでなく「2つの導電性部材の間に他の導電性部材が介在した状態」をも含めていう。貫通電極11には、銅(Cu)又ははんだ材等の導電性材料を用いることができる。但し、これらの導電性材料に限定されず、他の導電性材料であってもよい。
樹脂部10における透明部材7と反対側の面上には、複数の貫通電極11のそれぞれの他端と接続される第2の配線部12と、半導体素子9の素子電極13と接続される素子配線部14と、第2の配線部12と接続される電極15と、該電極15の上に形成された、例えばボール状の外部電極端子16とが設けられている。
半導体素子9の回路面上、並びに樹脂部10における透明部材7と反対側の面上の第2の配線部12、素子配線部14及び外部電極端子16を除く領域には、保護樹脂層17が設けられている。
このように、第1の実施形態に係る光学装置は、撮像素子(撮像チップ)3には撮像機能を持たせ、撮像素子3からの信号処理機能及び撮像素子3への制御機能等を半導体素子(半導体チップ)9に持たせて、2つのチップに分割していている。さらに、分割した2つのチップを積層し、積層された2つのチップを樹脂部10によって一括に覆っている。この構成により、貫通電極11の周辺に形成される樹脂部10の撮像素子3及び半導体素子9との接着面積を確保することができる。このため、樹脂部10が両チップから剥離しにくくなるという効果を得られるので、貫通電極11の接続の信頼性を低下させることなく、光学装置の小型化を容易に実現することができる。
また、高機能化を目的とした脆弱な微細プロセスによって形成される回路部を含む半導体素子9を、熱変形等により発生する応力が小さい光学素子(パッケージ)の中央部に配置することにより、熱変形等によるダメージを回避することができる。このため、高機能な光学素子を搭載した、信頼性が高い小型パッケージを容易に実現することができる。
さらに、本実施形態に係る光学装置においては、従来は撮像領域の周辺に配置されていた回路部を分割し、回路面を外部電極端子16側に配置している。これにより、回路部の熱影響を撮像素子3に与えることがないシステム構成が可能となるため、撮像素子3の感度の低下を容易に防ぐことができる。
(第1の実施形態の第1変形例)
図2に、第1の実施形態の第1変形例に係る光学装置の断面構成を示す。
図2の第1変形例に示すように、光学装置を構成する半導体素子9の平面形状が撮像素子3の平面形状よりも大きい場合であっても、貫通電極11の周辺に形成される樹脂部10の撮像素子3及び半導体素子9との接着面積を確保することができる。このため、樹脂部10が撮像素子3及び半導体素子9との両チップから剥離しにくくなるという効果を得ることができる。その結果、貫通電極11の接続の信頼性を低下させることなく、光学装置の小型化を容易に実現することができる。
また、回路部を含む半導体素子9を、熱変形等により発生する応力が小さい光学装置の中央部に配置することにより、熱変形等によるダメージを回避することができる。
(第1の実施形態の第2変形例)
図3に、第1の実施形態の第2変形例に係る光学装置の断面構成を示す。
図3に示すように、第2変形例に係る光学装置は、透明部材7に配置された第3の電極5から樹脂部10を貫通する貫通電極11に加え、一方の端子が撮像素子3の裏面と接続され、他方の端子が樹脂部10の裏面の電極15と接続され、樹脂部10を貫通する放熱用部材11Aが設けられている。複数の電極15の上には外部電極端子16がそれぞれ設けられている。
この構成により、撮像素子3の裏面から電極15及び外部電極端子16を介して光学装置の外部へ効率良く熱を逃がすことができる。このため、光学装置における放熱特性を向上することができる。
貫通電極11及び放熱用部材11Aは、銅(Cu)又ははんだ材等の導電性材料によって形成することができる。但し、これらに限定されず、他の導電材料であってもよい。また、放熱用部材11Aは、貫通電極11よりも径を大きくすることにより、その放熱性をより向上させることができる。
(第1の実施形態の第3変形例)
図4に、第1の実施形態の第3変形例に係る光学装置の断面構成を示す。
図4に示すように、第3変形例に係る光学装置は、各外部電極端子16が半導体素子9の直下の領域を避けて樹脂部10の直下の領域に配置されている。このようにすると、通常、有機材料からなる実装基板と樹脂部10との熱膨張係数の差は小さいため、温度の変化に対して発生するひずみ応力が緩和される。これにより、外部電極端子16の破壊の進行を防ぐことができ、外部電極端子16の接続の信頼性が高い小型パッケージを容易に実現することができる。
なお、本実施形態及びその変形例においては、撮像素子3の裏面に配置される半導体素子9を1つに設定しているが、これに限定されない。例えば、図1に示す構成において、撮像素子3の裏面に2つの半導体素子9を並列に配置する構造であっても、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。
また、撮像素子3の裏面上に、複数の半導体素子9を積層した場合でも、第1の実施形態及びその変形例と同様の効果を得ることができる。
(第1の実施形態の製造方法)
以下、第1の実施形態に係る光学装置の製造方法について図5A〜図5D及び図6A〜図6Eを参照しながら説明する。
まず、図5Aに示すように、複数の光学装置と対応する複数の素子形成領域を含む板状の透明部材7Aの上に、第2の電極4と第3の電極5とを形成する。より詳細には、物理気相堆積(Physical Vapor Deposition:PVD)法である、例えばスパッタ法を用いて、透明部材7Aの上の全面に、チタンタングステン(TiW)、アルミニウム(Al)、銅(Cu)又はニッケル(Ni)等のシードメタル(Seed metal)層を形成する。続いて、リソグラフィ法及びエッチング法により、シードメタル層に対して複数の電極にパターニングする。続いて、パターニングされたシードメタル層の上に、めっき法により本メタル層を形成して、電極4、5及び第1の配線部6を形成する。このとき、後工程で形成する複数のダム部の形成領域には、レジスト膜等によってそれぞれマスクすることにより、ダム部よりも各電極4、5の高さを大きくすることができる。めっきは、Niの上に金(Au)を形成するのが一般的である。本メタル層の形成には、スパッタ法を用いることもできるが、電解めっき法の方が、大量生産には有利である。
次に、図5Bに示すように、撮像素子における撮像領域の周囲と対向する領域にダム部20を形成する。これと同時に、各第2の電極4の上に、撮像素子との接続用の突起電極8をそれぞれ形成する。ダム部20と突起電極8とは同一の部材で且つ同時に形成されることが望ましい。例えば、ダム部20と突起電極8との形成には、Cu又はNiの上にはんだ材をめっきしてもよく、また、Auからなるスタッドバンプを形成してもよい。さらには、突起電極8は、撮像素子に形成される第1の電極の上に、スタッドバンプ法等で形成してもよい。
次に、図5Cに示すように、撮像素子3をフリップチップボンディング方式により、透明部材7Aと接続する。このとき、第2の電極4の上の突起電極8と、撮像素子3の第1の電極2とを互いに接続する。また、実装される撮像素子3として、良品の撮像素子3のみを選択してボンディングすることができる。これにより、生産コストを抑えることが可能となる。また、この時点で、撮像素子3の透明部材7Aとの対向領域におけるダム部20の外側部分に、アンダーフィル材を充填しておいてもよい。これにより、突起電極8からなる接続部の保護と撮像素子3の保護とにそれぞれに適した材料を選択することができる。
次に、図5Dに示すように、撮像素子3の裏面上に半導体素子9をその回路面と反対側の面を対向させて固着する。撮像素子3の裏面上に半導体素子9を固着するには、前述したように、ペースト状若しくはシート状のダイボンド材を用いたダイスボンド工法、又はシリコン同士の結合による表面活性化接合等のいずれの方法を採ってもよい。また、半導体素子9の撮像素子3の裏面上への搭載位置に制約はなく、任意の位置に配置することができる。なお、素子形成領域(光学装置)の中心位置に合わせて配置することが望ましい。
次に、図6Aに示すように、透明部材7Aの主面上であって、透明部材7Aの主面と撮像素子3との間、並びに撮像素子3及び半導体素子9の側方の領域を樹脂材10Aにより一括に覆う。樹脂材10Aの充填方法としては、コンプレッションモールド法又若しくはトランスファモールド方式、又は樹脂材10Aを複数の島状に塗布して、毛管現象により広げて充填する方法等があり、樹脂材10Aの粘度又は濡れ広がり性によって適切な方法を選択することができる。また、本製造方法においては、撮像素子3と透明部材7Aとの接続部である突起電極8と撮像領域1との間にダム部20を形成している。これにより、樹脂材10Aの撮像領域1への侵入を防ぐことができる。なお、本実施形態に係る製造方法では、ダム部20は、製造後もこのまま残存することになる。また、本構成と同一の構成のダム部20を設ける他に実施形態においても同様である。
樹脂材10Aは、例えばシリカ等のフィラーを添加した絶縁性のエポキシ系樹脂等からなる。
次に、図6Bに示すように、樹脂材10Aに、複数の貫通電極11を形成する。貫通電極11を形成するための開口部をエッチングする方法には種々の方法がある。例えば、レーザ光により開口部を形成する方法、反応性イオンエッチング(Reactive Ion Etching:RIE)法により開口部を形成する方法、又は感光性樹脂材によりマスクして露光する方法等がある。
このとき、図6Cに示すように、複数の貫通電極11を形成する際の工程において、撮像素子3の裏面と接続される放熱用部材11Aをそれぞれ形成してもよい。これにより、上述した第3変形例に係る構成を実現することができる。
次に、図6Dに示すように、樹脂材10Aの上の所定の位置及び放熱用部材11Aの上に、複数の電極15をそれぞれ形成する。続いて、貫通電極11の上に第2の配線部12を形成する。その後、樹脂材10Aの上の電極15を除く領域に保護樹脂層17を成膜して絶縁する。
次に、図6Eに示すように、外部との電気的な接続に用いる複数の外部電極端子16を電極15の上にそれぞれ形成する。各外部電極端子16は、樹脂材10Aの裏面上に等間隔で配置することが可能である。このとき、各外部電極端子16は、半導体素子9の素子形成面と重ならないように、樹脂材10Aの上に配置されることが望ましい。
次に、図示はしていないが、樹脂材10A及び透明部材7Aに対して、それぞれに1つの素子形成領域、すなわち1つの光学装置が含まれるようにダイシングを行って、それぞれ個片化する。この個片化により、透明部材7Aから透明部材7が得られ、樹脂材10Aから樹脂部10が得られて、所望の光学装置を得ることができる。
なお、図6Cの工程で示した、放熱用部材11Aは必ずしも形成する必要はなく、該放熱用部材11Aを形成しない場合は、図1に示す構成を持つ光学装置を得ることができる。
以上説明した製造方法によると、撮像機能を含む撮像素子3と、周辺回路機能を含む半導体素子9とに分割し、これら少なくとも2つのチップを積層し、さらに樹脂材10Aで一括に被覆している。これにより、貫通電極11が形成された樹脂材10Aの撮像素子3及び半導体素子9との接着面積を確保することができる。このため、樹脂材10Aの撮像素子3及び半導体素子9からの剥離が抑止されるので、貫通電極11の接続の信頼性を低下させることなく、光学装置の小型化を容易に実現することができる。
また、高機能化を目的とした脆弱な微細プロセスによって形成される回路部を含む半導体素子9を、熱変形等により発生する応力が小さいパッケージの中央部に配置することにより、熱変形等によるダメージを回避することができる。このため、高機能な光学素子を搭載した信頼性が高い小型パッケージを容易に実現することができる。
さらに、透明部材7Aの主面の上方からの平面視において、外部電極端子16を半導体素子9と重ならないように配置することができる。このため、通常、有機材料からなる実装基板は、樹脂材10Aとの熱膨張係数の差が小さいことから、温度変化で発生するひずみ応力が緩和される。このため、外部電極端子16の破壊の進行が防止されて、外部電極端子16の接続の信頼性が高い小型パッケージを容易に実現することができる。
(第2の実施形態)
以下、第2の実施形態に係る光学装置について図7を参照しながら説明する。
図7において、図1に示した構成部材と同一の構成部材には同一の符号を付すことより説明を簡略にする。
図7に示すように、本実施形態に係る光学装置は、撮像素子3における撮像領域1の反対側の面である裏面に、第4の電極22、該第4の電極22の外側に位置する第5の電極23、及び第4の電極22と第5の電極23とを電気的に接続する第3の配線部24が設けられている。半導体素子9は、素子電極13上の突起電極8を介して第4の電極22とフリップチップ接続されている。突起電極8は、本実施形態においても、金(Au)又ははんだ材等の電気的な接続を満たす、いずれの形態であってもよい。
撮像素子3の第5の電極23は、樹脂部10を貫通する貫通電極11Bの一端と接続されている。貫通電極11Bの他端は、樹脂部10の裏面上に形成された電極15と接続されている。貫通電極11、11Bは、銅(Cu)又ははんだ材等の導電性材料で形成される。但し、これらに限定されず、他の導電材料であってもよい。
なお、半導体素子9の撮像素子3の裏面上への配置位置に制約はなく、任意に配置することができる。なお、光学装置の中心位置、すなわち透明部材7の中央部に合わせて配置することが望ましい。
また、複数の外部電極端子16は、樹脂部10の裏面上に等間隔で配置することが可能である。このとき、各外部電極端子16は、平面視で半導体素子9と重ならないように、樹脂部10の上に配置されることが望ましい。
このように、第2の実施形態に係る光学装置は、撮像素子(撮像チップ)3には撮像機能を持たせ、撮像素子3からの信号処理機能及び撮像素子3への制御機能等を半導体素子(半導体チップ)9に持たせて、2つのチップに分割していている。さらに、分割した2つのチップを積層し、積層された2つのチップを樹脂部10によって一括に覆っている。この構成により、貫通電極11の周辺に形成される樹脂部10の撮像素子3及び半導体素子9との接着面積を確保することができる。このため、樹脂部10が両チップから剥離しにくくなるという効果を得られるので、貫通電極11の接続の信頼性を低下させることなく、光学装置の小型化を容易に実現することができる。
また、高機能化を目的とした脆弱な微細プロセスによって形成される回路部を含む半導体素子9を、熱変形等により発生する応力が小さい光学素子(パッケージ)の中央部に配置することにより、熱変形等によるダメージを回避することができる。このため、高機能な光学素子を搭載した信頼性が高い小型パッケージを容易に実現することができる。
また、各外部電極端子16は、半導体素子9の直下の領域を避けて樹脂部10の直下の領域に配置される。このようにすると、通常、有機材料からなる実装基板と樹脂部10との熱膨張係数の差が小さいため、温度の変化に対して発生するひずみ応力が緩和される。これにより、外部電極端子16の破壊の進行を防ぐことができ、外部電極端子16の接続の信頼性が高い小型パッケージを容易に実現することができる。
本実施形態においては、撮像素子3の裏面に配置される半導体素子9を1つとしているが、これに限定されない。例えば、図7に示す構成において、撮像素子3の裏面に2つ以上の半導体素子9を並列に配置する構造であっても、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。
また、撮像素子3の裏面上に、複数の半導体素子9を積層した場合でも、本実施形態と同様の効果を得ることができる。
(第2の実施形態の製造方法)
以下、第2の実施形態に係る光学装置の製造方法について図8A〜図8D及び図9A〜図9Dを参照しながら説明する。
まず、図8Aに示すように、複数の光学装置と対応する複数の素子形成領域を含む板状の透明部材7Aの上に、第2の電極4と第3の電極5とを形成する。より詳細には、PVD法の、例えばスパッタ法を用いて、透明部材7Aの上の全面に、TiW、Al、Cu又はNi等のシードメタル(Seed metal)層を形成する。続いて、リソグラフィ法及びエッチング法により、シードメタル層に対して複数の電極にパターニングする。続いて、パターニングされたシードメタル層の上に、めっき法により本メタル層を形成して、電極4、5及び第1の配線部6を形成する。このとき、後工程で形成する複数のダム部の形成領域には、レジスト膜等によってそれぞれマスクすることにより、ダム部よりも各電極4、5の高さを大きくすることができる。前述したように、めっきは、Niの上にAuを形成するのが一般的である。本メタル層の形成には、スパッタ法を用いることもできるが、電解めっき法の方が、大量生産には有利である。
次に、図8Bに示すように、撮像素子における撮像領域の周囲と対向する領域にダム部20を形成する。これと同時に、各第2の電極4の上に、撮像素子との接続用の突起電極8をそれぞれ形成する。ダム部20と突起電極8とは同一の部材で形成され、同時に形成されることが望ましい。例えば、ダム部20と突起電極8との形成には、Cu又はNiの上にはんだ材をめっきしてもよく、また、Auからなるスタッドバンプを形成してもよい。さらには、突起電極8は、撮像素子に形成される第1の電極の上に、スタッドバンプ法等で形成してもよい。
次に、図8Cに示すように、撮像素子3をフリップチップボンディング方式により、透明部材7Aと接続する。このとき、透明部材7Aにおける第2の電極4の上の突起電極8と、撮像素子3の第1の電極2とを互いに接続する。また、実装される撮像素子3として、良品の撮像素子3のみを選択してボンディングすることができる。これにより、生産コストを抑えることが可能となる。
撮像素子3の裏面上には、あらかじめ、後工程で実装される半導体素子との接続のための第4の電極22と、第5の電極23と、それらを接続する第3の配線部24とを形成しておく。これら電極22、23及び第3の配線部24は、半導体素子が個片化される前のウェーハ状態で形成する。その形成方法は、透明部材7A上に形成した電極4、5及び第1の配線部6と同様に、スパッタ法によるTiW、Al、Cu又はNi等を用いたシードメタル層の形成、エッチング法によるシードメタル層のパターニング、及びめっき法による本メタル層の形成を行う。
また、撮像素子3を透明部材7Aの上にフリップチップボンディングを行う際に、撮像素子3の透明部材7Aとの対向領域におけるダム部20の外側部分に、アンダーフィル材を充填しておいてもよい。これにより、突起電極8からなる接続部の保護と撮像素子3の保護とにそれぞれに適した材料を選択することができる。
次に、図8Dに示すように、撮像素子3の裏面上に半導体素子9を、突起電極8を介したフリップチップボンディング方式により接続する。この接合方式は、Au−Au接合又ははんだ接合等のいずれの接合方式でもよく、特に限定されない。また、半導体素子9の撮像素子3の裏面上への搭載位置に制約はなく、任意の位置に配置することができる。なお、素子形成領域(光学装置)の中心位置に合わせて配置することが望ましい。
次に、図9Aに示すように、透明部材7Aの主面上であって、透明部材7Aの主面と撮像素子3との間、並びに撮像素子3及び半導体素子9の側方の領域を樹脂材10Aにより一括に覆う。樹脂材10Aの充填方法としては、コンプレッションモールド法若しくはトランスファモールド方式、又は樹脂材10Aを複数の島状に塗布して、毛管現象により広げて充填する方法等があり、樹脂材10Aの粘度又は濡れ広がり性によって適切な方法を選択することができる。また、本製造方法においては、撮像素子3と透明部材7Aとの接続部である突起電極8と撮像領域1との間にダム部20を形成している。これにより、樹脂材10Aの撮像領域1への侵入を防ぐことができる。
このとき、樹脂材10Aの表面と、該樹脂材10Aから露出する各半導体素子9の裏面とをバックグラインド法又は化学機械研磨(Chemical Mechanical Polishing:CMP)法等によって研磨し、光学装置のさらなる薄型化を図ってもよい。
次に、図9Bに示すように、樹脂材10Aに、複数の貫通電極11、11Bを形成する。このとき、透明部材7A上の第3の電極5と接続される貫通電極11と、撮像素子3の裏面上の第5の電極23と接続される貫通電極11Bとが形成される。また、貫通電極11、11Bを形成するための開口部をエッチングする方法には、例えば、レーザ光若しくはRIE法により開口部を形成する方法、又は感光性樹脂材によりマスクして露光する方法等がある。
次に、図9Cに示すように、樹脂材10Aの上で且つ各貫通電極11、11Bの上に、それぞれ電極15を選択的に形成する。その後、樹脂材10Aの上の電極15を除く領域に保護樹脂層17を成膜して絶縁する。
次に、図9Dに示すように、外部との電気的な接続に用いる複数の外部電極端子16を電極15の上にそれぞれ形成する。各外部電極端子16は、樹脂材10Aの裏面上に等間隔で配置することが可能である。このとき、各外部電極端子16は、半導体素子9の素子形成面と重ならないように、樹脂材10Aの上に配置されることが望ましい。
次に、図示はしていないが、樹脂材10A及び透明部材7Aに対して、それぞれに1つの素子形成領域、すなわち1つの光学装置が含まれるようにダイシングを行って、それぞれ個片化する。この個片化により、透明部材7Aから透明部材7が得られ、樹脂材10Aから樹脂部10が得られて、所望の光学装置を得ることができる。
以上説明した製造方法によると、撮像機能を含む撮像素子3と、周辺回路機能を含む半導体素子9とに分割し、これら少なくとも2つのチップを積層し、さらに樹脂材10Aで一括に被覆している。これにより、貫通電極11が形成された樹脂材10Aの撮像素子3及び半導体素子9との接着面積を確保することができる。このため、樹脂材10Aの撮像素子3及び半導体素子9からの剥離が抑止されるので、貫通電極11の接続の信頼性を低下させることなく、光学装置の小型化を容易に実現することができる。
また、高機能化を目的とした脆弱な微細プロセスによって形成される回路部を含む半導体素子9を、熱変形等により発生する応力が小さいパッケージの中央部に配置することにより、熱変形等によるダメージを回避することができる。このため、高機能な光学素子を搭載した信頼性が高い小型パッケージを容易に実現することができる。
さらに、透明部材7Aの主面の上方からの平面視において、外部電極端子16を半導体素子9と重ならないように配置することができる。このため、通常、有機材料からなる実装基板は、樹脂材10Aとの熱膨張係数の差が小さいことから、温度変化で発生するひずみ応力が緩和される。このため、外部電極端子16の破壊の進行が防止されて、外部電極端子16の接続の信頼性が高い小型パッケージを容易に実現することができる。
なお、上記の各実施形態及び変形例においては、光学装置として撮像素子(固体撮像素子)を例に挙げて説明したが、撮像素子に限られず、発光素子である発光ダイオード(LED)及びレーザダイオード(LD)、又は受光素子等の光学素子にも適用可能である。
また、光学素子3の主面に設けられた第1の電極2と、樹脂部に設けられた外部電極端子16との電気的接続は、貫通電極11を用いる手段に限られない。例えば、第1の配線部6を透明部材7の側端部まで、第2の配線部12も樹脂部10の側端部まで形成し、両者を接続する導体を樹脂部10の側端面に形成する。この構成は、光学素子3の外側に第3の電極5、貫通電極11を設ける構成と比して、光学装置の幅を小さくすることができ、小型化を可能にする。
本発明に係る光学装置及びその製造方法は、デジタル光学機器等に使用される発光素子又は受光素子等に有用である。
1 撮像領域(光学部)
2 第1の電極
3 撮像素子(光学素子)
4 第2の電極
5 第3の電極
6 第1の配線部
7,7A 透明部材
8 突起電極
9 半導体素子
10 樹脂部
10A 樹脂材
11,11B 貫通電極
11A 放熱用部材
12 第2の配線部
13 素子電極
14 素子配線部
15 電極
16 外部電極端子
17 保護樹脂層
20 ダム部
22 第4の電極
23 第5の電極
24 第3の配線部

Claims (13)

  1. 主面に光学部を有する光学素子と、
    前記光学部と対向して配置された透明部材と、
    前記光学素子における主面と反対側の裏面上に配置され、前記光学素子と電気的に接続された半導体素子と、
    前記透明部材における前記光学素子と対向する面上で、前記光学素子と前記半導体素子との周辺領域に設けられた樹脂部と、
    前記樹脂部における前記光学素子の裏面に設けられ、前記樹脂部を貫通する放熱用部材とを備え、
    前記半導体素子における回路形成面には、第1の電極が設けられ、
    前記樹脂部における前記透明部材と反対側の面上には、前記第1の電極と電気的に接続された第1の外部電極端子が設けられ、
    前記放熱用部材の一方の端部は前記第1の外部電極端子に接続しており、
    さらに、前記光学素子の裏面には、第5の電極、該第5の電極の外側に位置する第6の電極、及び前記第5の電極と前記第6の電極とを電気的に接続する第3の配線部が設けられ、
    前記半導体素子は、第2の突起電極を介して前記第5の電極とフリップチップ接続されており、
    前記放熱用部材は、他方の端部が前記第6の電極を介して前記光学素子の裏面と接続され、第2の貫通電極として機能することを特徴とする光学装置。
  2. 前記樹脂部は、前記光学素子の側面と、前記光学素子の裏面の少なくとも一部と、前記半導体素子の側面とを覆っていることを特徴とする請求項1に記載の光学装置。
  3. 前記光学素子の主面には、第2の電極が設けられ、
    前記樹脂部における前記透明部材と反対側の面上には、前記第2の電極と電気的に接続された第2の外部電極端子とが設けられていることを特徴とする請求項1又は2に記載の光学装置。
  4. 前記光学素子の主面には、第2の電極が設けられ、
    前記透明部材における前記光学素子と対向する面上には、第3の電極、該第3の電極の外側に位置する第4の電極、及び前記第3の電極と前記第4の電極とを電気的に接続する第1の配線部が設けられ、
    前記第2の電極と前記第3の電極とは互いに対向し、前記第2の電極と前記第3の電極との間に配された第1の突起電極により電気的に接続され、
    前記樹脂部における前記光学素子及び前記半導体素子の外方には、前記光学素子と電気的に接続された第1の貫通電極が設けられ、
    前記第1の貫通電極の一方の端部は、前記第4の電極と接続され、
    前記樹脂部における前記透明部材と反対側の面上には、前記第1の貫通電極の他方の端部と接続された第2の配線部と第2の外部電極端子とが設けられていることを特徴とする請求項1又は2に記載の光学装置。
  5. 前記樹脂部において、前記光学素子及び前記半導体素子の周辺の領域を覆う樹脂の構成材料と、前記第1の突起電極の周辺の領域を覆う樹脂の構成材料とは、同一であることを特徴とする請求項に記載の光学装置。
  6. 前記第2の外部電極端子は、前記光学素子の主面側からの平面視において、前記半導体素子と重ならない位置に設けられていることを特徴とする請求項のいずれか1項に記載の光学装置。
  7. 前記光学素子は、固体撮像素子であることを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載の光学装置。
  8. 前記半導体素子は、前記透明部材の中央部に配置されていることを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載の光学装置。
  9. 前記樹脂部において、前記光学素子の周辺の領域を覆う樹脂の構成材料と、前記半導体素子の周辺の領域を覆う樹脂の構成材料とは、同一であることを特徴とする請求項1〜のいずれか1項に記載の光学装置。
  10. 前記放熱用部材は、前記第1の貫通電極よりも径が大きいことを特徴とする請求項又はに記載の光学装置。
  11. 複数の素子形成領域を含む板状の透明部材の上に、前記各素子形成領域のそれぞれに第1の電極を有する第1の配線部を形成する工程と、
    前記透明部材の前記各素子形成領域の上に、それぞれ主面に光学部を有する複数の光学素子を前記主面と前記第1の配線部の前記第1の電極とをそれぞれ対向させて配置する工程と、
    前記光学素子における主面と反対側の面である裏面上に、半導体素子を配置する工程と、
    前記光学素子の側面及び該光学素子の裏面の少なくとも一部と前記半導体素子の側面とを樹脂材により覆うことにより、樹脂部を形成する工程と、
    前記樹脂部の前記透明部材と反対側の面から前記樹脂部を貫通して、前記第1の配線部の前記第1の電極と電気的に接続される第1の貫通電極を形成するとともに、前記樹脂部における前記透明部材と反対側の面から前記樹脂部を貫通して、前記光学素子の前記裏面と接続される第2の貫通電極を形成する工程と、
    前記樹脂部における前記透明部材と反対側の面上に、第2の電極を有する第2の配線部と、該第2の配線部と電気的に接続される第1の外部電極端子とを形成するとともに、第3の電極を有する第3の配線部と、該第3の配線部と電気的に接続される第2の外部電極端子を形成する工程と、
    前記各素子形成領域ごとに、前記透明部材及び前記樹脂部を切断して、それぞれ個片化する工程とを備え、
    前記第2の配線部および前記第3の配線部を形成する工程では、前記第1の貫通電極の一方の端部と前記第2の電極とが接続されるとともに、前記第2の貫通電極の一方の端部と前記第3の電極とが接続され、
    前記光学素子を前記透明部材の上に配置する工程よりも前に、前記光学素子の裏面上に第4の電極を有する第4の配線部を形成する工程をさらに備え、
    前記光学素子の裏面上に前記半導体素子を配置する工程において、前記半導体素子は、前記第4の配線部の前記第4の電極と電気的に接続されるように配置し、
    前記第2の貫通電極を形成する工程では、前記第2の貫通電極を前記光学素子の前記第4の配線部の前記第4の電極と電気的に接続されるように形成することを特徴とする光学装置の製造方法。
  12. 前記第1の配線部を形成する工程と、前記透明部材の上に前記各光学素子を配置する工程との間に、
    前記第1の配線部の前記第1の電極の上に突起電極を形成すると共に、前記透明部材における前記光学部と対向する領域の周囲に、前記樹脂材の前記光学部上への流入を阻止するダム部を形成する工程をさらに備えていることを特徴とする請求項11に記載の光学装置の製造方法。
  13. 前記ダム部の構成材料と前記突起電極の構成材料とは、同一であることを特徴とする請求項12に記載の光学装置の製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190072319A (ko) * 2017-12-15 2019-06-25 삼성전기주식회사 팬-아웃 센서 패키지

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101488608B1 (ko) * 2013-07-19 2015-02-02 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 반도체 디바이스 및 그 제조 방법
JP6554338B2 (ja) * 2014-07-28 2019-07-31 ローム株式会社 半導体装置
US11310402B2 (en) * 2015-08-25 2022-04-19 Gingy Technology Inc. Image capturing device and fingerprint image capturing device
US9899442B2 (en) * 2014-12-11 2018-02-20 Invensas Corporation Image sensor device
JP6518457B2 (ja) * 2015-02-26 2019-05-22 京セラ株式会社 撮像素子、撮像装置、および撮像素子の製造方法
WO2017094777A1 (ja) * 2015-12-02 2017-06-08 マイクロモジュールテクノロジー株式会社 光学装置及び光学装置の製造方法
JP6741419B2 (ja) * 2015-12-11 2020-08-19 株式会社アムコー・テクノロジー・ジャパン 半導体パッケージおよびその製造方法
CN109314122B (zh) * 2016-06-20 2023-06-16 索尼公司 半导体芯片封装件
US20180226515A1 (en) * 2017-02-06 2018-08-09 Semiconductor Components Industries, Llc Semiconductor device and method of forming embedded thermoelectric cooler for heat dissipation of image sensor
US10522505B2 (en) * 2017-04-06 2019-12-31 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor device package and method for manufacturing the same
JP2019040893A (ja) 2017-08-22 2019-03-14 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置およびその製造方法、並びに電子機器
CN109698208B (zh) * 2017-10-20 2023-06-30 新加坡有限公司 图像传感器的封装方法、图像传感器封装结构和镜头模组
US10418396B1 (en) * 2018-04-03 2019-09-17 Semiconductor Components Industries, Llc Stacked image sensor package
IT201800005106A1 (it) * 2018-05-07 2019-11-07 Dispositivo, procedimento e sistema elettro-ottico corrispondenti
CN110752225B (zh) * 2018-07-23 2022-07-12 宁波舜宇光电信息有限公司 感光组件及其制作方法
WO2020105119A1 (ja) 2018-11-20 2020-05-28 オリンパス株式会社 内視鏡用撮像装置、および内視鏡
US11276724B2 (en) * 2019-06-27 2022-03-15 Semiconductor Components Industries, Llc Electrical interconnection of image sensor package
CN111276503B (zh) * 2020-02-26 2023-01-17 南通通富微电子有限公司 一种光学器件的扇出型封装方法及光学器件
TWI747218B (zh) * 2020-03-27 2021-11-21 勝麗國際股份有限公司 晶片級感測器封裝結構
KR20220060380A (ko) * 2020-11-04 2022-05-11 삼성전자주식회사 이미지 센서 패키지
KR20240032742A (ko) * 2021-07-21 2024-03-12 소니 세미컨덕터 솔루션즈 가부시키가이샤 반도체 패키지
WO2023007797A1 (ja) * 2021-07-27 2023-02-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像素子、撮像装置、および電子機器
WO2023145389A1 (ja) * 2022-01-27 2023-08-03 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 半導体装置及び電子機器

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06204442A (ja) * 1993-01-07 1994-07-22 Matsushita Electron Corp 固体撮像装置およびその製造方法
JP2001358997A (ja) 2000-06-12 2001-12-26 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JP3540281B2 (ja) * 2001-02-02 2004-07-07 シャープ株式会社 撮像装置
JP4126389B2 (ja) 2002-09-20 2008-07-30 カシオ計算機株式会社 半導体パッケージの製造方法
JP2004296453A (ja) 2003-02-06 2004-10-21 Sharp Corp 固体撮像装置、半導体ウエハ、光学装置用モジュール、固体撮像装置の製造方法及び光学装置用モジュールの製造方法
JP2005101484A (ja) * 2003-09-02 2005-04-14 Kyocera Corp 光半導体装置
JP2006128625A (ja) * 2004-09-30 2006-05-18 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
KR100616670B1 (ko) * 2005-02-01 2006-08-28 삼성전기주식회사 웨이퍼 레벨의 이미지 센서 모듈 및 그 제조방법
JP4771092B2 (ja) * 2005-06-03 2011-09-14 コニカミノルタホールディングス株式会社 撮像装置
TWI305036B (en) * 2006-09-28 2009-01-01 Siliconware Precision Industries Co Ltd Sensor-type package structure and fabrication method thereof
JP2008130603A (ja) * 2006-11-16 2008-06-05 Toshiba Corp イメージセンサ用ウェハレベルパッケージ及びその製造方法
TWI332790B (en) * 2007-06-13 2010-11-01 Ind Tech Res Inst Image sensor module with a three-dimensional dies-stacking structure
US20090166831A1 (en) * 2007-12-28 2009-07-02 Siliconware Precision Industries Co., Ltd. Sensor semiconductor package and method for fabricating the same
JP5690466B2 (ja) * 2008-01-31 2015-03-25 インヴェンサス・コーポレイション 半導体チップパッケージの製造方法
JP4713602B2 (ja) 2008-02-21 2011-06-29 パナソニック株式会社 基板モジュールおよびその製造方法ならびに電子機器
JP2011243612A (ja) 2010-05-14 2011-12-01 Sony Corp 半導体装置及びその製造方法並びに電子機器
US20120194719A1 (en) * 2011-02-01 2012-08-02 Scott Churchwell Image sensor units with stacked image sensors and image processors
TWI414062B (zh) * 2011-02-24 2013-11-01 Kingpaktechnology Inc 降低透光板傾斜度之影像感測器製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190072319A (ko) * 2017-12-15 2019-06-25 삼성전기주식회사 팬-아웃 센서 패키지
KR102052804B1 (ko) 2017-12-15 2019-12-05 삼성전기주식회사 팬-아웃 센서 패키지

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