JP6074256B2 - Quenching quality inspection equipment - Google Patents
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Description
この発明は、例えば、軸受および軸受部品などの転動装置部品における表面硬度および焼入れ深さなどの焼入れ品質を検査する焼入れ品質検査装置に関する。 The present invention relates to a quenching quality inspection apparatus for inspecting quenching quality such as surface hardness and quenching depth in rolling device parts such as bearings and bearing parts.
軸受などの転動部品には焼入れ処理や焼戻し処理が施される。これらの処理の中でも、高周波焼入れ処理や、浸炭処理、浸炭窒化処理などの表面硬化処理では、品質保証のために表面硬化層の検査が行われる。この検査では、実際の製品を切断して、その切断面上で、製品表面から深さ方向に硬度を測定して硬化層の深さを測定している。また、製品を切断することができないものでは、テストピースに製品と同じ炉で熱処理を施し、そのテストピースを切断して前記と同様に硬化層深さを測定して、製品の硬化層深さの保証を行っている。 A rolling part such as a bearing is subjected to a quenching process and a tempering process. Among these processes, in the surface hardening process such as induction hardening process, carburizing process, carbonitriding process, etc., the surface hardened layer is inspected for quality assurance. In this inspection, an actual product is cut and the depth of the cured layer is measured by measuring the hardness in the depth direction from the product surface on the cut surface. If the product cannot be cut, the test piece is heat-treated in the same furnace as the product, the test piece is cut, and the cured layer depth is measured in the same manner as described above. The guarantee is made.
製品を切断する破壊検査では、この検査により製品が破棄されるため、マテリアルコストが大きくなる問題がある。また、製品の切断、および硬度計による深さ方向の硬度測定に時間がかかり、工数が大きくなる問題点もある。
製品を切断することができないものは、実際の製品の検査ではないため、保証精度が悪い等の問題点がある。
In the destructive inspection for cutting a product, the product is discarded by this inspection, and there is a problem that the material cost is increased. In addition, there is a problem that it takes time to cut the product and to measure the hardness in the depth direction using a hardness meter, which increases the number of steps.
Since the product that cannot be cut is not an actual product inspection, there are problems such as poor guarantee accuracy.
このため、焼入れ硬化層を非破壊で検査する方法が提案されている(特許文献1,2)。その中に、測定対象に複数の探針を押し当て、通電用探針から電流を流し、他の探針間の電圧を測定する電位差法がある。この方法は、材料の透磁率や導電率が焼入れにより変化することを利用している。
For this reason, the method of inspecting a hardening hardening layer nondestructively is proposed (
しかし、導電率、透磁率は、測定対象の測定場所によりばらつきがある。このため、探針を押し当てる場所により測定電圧が変化し、焼入れ品質測定精度が悪くなる問題点がある。 However, the conductivity and permeability vary depending on the measurement location of the measurement object. For this reason, there is a problem that the measurement voltage changes depending on the place where the probe is pressed and the quenching quality measurement accuracy is deteriorated.
この発明の目的は、非破壊検査により検査対象物の焼入れ品質を精度良く検査することができる焼入れ品質検査装置を提供することである。 An object of the present invention is to provide a quenching quality inspection apparatus capable of accurately inspecting the quenching quality of an inspection object by nondestructive inspection.
この発明の焼入れ品質検査装置は、検査対象物1の表面に接触させた電流印加用探針3,3を介して電流を印加する電源2と、
この電源2により電流が印加された前記検査対象物1の表面における、前記電流印加用探針3,3とは異なる2点に接触させて、この2点間の電圧を測定する一対の電圧測定用探針4,4と、
これら電圧測定用探針4,4で測定された電圧から前記検査対象物1の焼入れ品質を測定する品質測定手段12と、
を備えた焼入れ品質検査装置において、
前記検査対象物1に対して、前記電流印加用探針3,3により電流を印加する位置を変化させる電流印加位置変化手段10を備え、この電流印加位置変化手段10は、前記電流印加用探針3,3と前記電圧測定用探針4,4とを一体としたヘッド8を回転させるヘッド回転部13を含み、前記品質測定手段12は、前記ヘッド回転部13で前記ヘッド8を回転させることにより複数測定した前記検査対象物1の表面における位置の電圧を平均することを特徴とする。
A quenching quality inspection apparatus according to the present invention includes a
A pair of voltage measurements in which the surface of the
Quality measuring means 12 for measuring the quenching quality of the
In quenching quality inspection equipment with
The current application position changing means 10 is provided for changing the position to which the current is applied to the
この構成によると、検査対象物1の表面に電流印加用探針3,3を接触させ、電源2から電流印加用探針3,3を介して電流を流す。この状態において、検査対象物1の表面に接触させた一対の電圧測定用探針4,4により2点間の電圧つまり電位差を測定する。品質測定手段12は、測定された電圧から検査対象物1の焼入れ品質を測定する。
検査対象物1に一定の電流を印加したとき、電圧測定用探針4,4間の電圧は、測定対象となる位置の導電率、透磁率により変化する。
焼入れにより鋼材の透磁率、導電率が変化する。一般に焼入れにより鋼材の硬度が高くなる程、透磁率、導電率共に小さくなる。この理由により、焼入れ硬度などの焼入れ品質によって前記2点間の電圧が変化する。したがって、前記2点間の電圧を測定することで、焼入れ品質に関する情報を得ることができる。この場合に、電流印加位置変化手段10,10Aは、検査対象物1に対して、前記電流印加用探針3,3による電流を印加する位置を変化させる。品質測定手段12は、これら変化させた位置でそれぞれ測定した電圧に基づき、焼入れ品質に関する情報を得ることで、測定場所による導電率や透磁率のばらつきの影響を小さくすることができる。
According to this configuration, the
When a constant current is applied to the
The permeability and conductivity of the steel material change due to quenching. Generally, the higher the hardness of a steel material by quenching, the smaller the permeability and conductivity. For this reason, the voltage between the two points varies depending on the quenching quality such as quenching hardness. Therefore, information on the quenching quality can be obtained by measuring the voltage between the two points. In this case, the current application position changing means 10, 10 </ b> A changes the position where the
前記品質測定手段12は、前記電流印加位置変化手段10,10Aにより複数測定した位置の電圧を、平均する機能を有するものとしても良い。このように複数測定した位置での電圧の平均をとることで、測定場所による導電率や透磁率のばらつきの影響を小さくし、非破壊検査の検査精度を、簡易に向上させることができる。
The quality measuring means 12 may have a function of averaging voltages at positions measured by the current application
前記電流印加位置変化手段10は、前記検査対象物1に対して、前記電圧測定用探針4,4により電圧を測定する位置を変化させる手段を有するものとしても良い。この場合、検査対象物1に対して、電圧測定用探針4,4を手動で変化させる必要なく、各測定場所での電圧を簡易に且つ確実に測定し得る。
The current application position changing means 10 may have means for changing the position at which the voltage is measured by the
前記電流印加位置変化手段10は、前記電流印加用探針3,3と前記電圧測定用探針4,4とを一体で回転自在としたものであっても良い。この場合、電流印加用探針3,3については、少なくとも一対の電流印加用探針3,3があれば足り、部品点数の低減を図れ、製造コストの低減を図れる。
前記電流印加位置変化手段10は、前記電流印加用探針3,3と前記電圧測定用探針4,4とを一体としたヘッド8を回転させる。この場合、電流印加用探針3,3と電圧測定用探針4,4とを別々に取り扱う必要がなく、測定の作業性を高めることができる。
The current application position changing means 10 may be configured such that the
The current applying position change means 10, Ru rotate the
参考提案例として、前記電流印加用探針3,3を複数対設け、前記電流印加位置変化手段10Aは、電流を印加する電流印加用探針対を切替えるものであっても良い。この場合、複数対の電流印加用探針3,3のうち、所定の電流印加用探針3,3間に別々に順次電流を印加することで、検査対象物1に対して、電圧測定用探針4,4による電圧を測定する位置を変化させ得る。
参考提案例として、前記電圧測定用探針4,4を複数対設け、前記電流印加位置変化手段10Aは、電流を印加する電流印加用探針対を切替えると共に、電圧を測定する電圧測定用探針対を切替えるものであっても良い。この場合、電圧の測定位置を変化させるとき、電流印加用探針対および電圧測定用探針対を検査対象物1の表面から都度離す必要がなく、ヘッド8を回転させる例よりもより簡便に各測定場所での電圧を測定し得る。
For reference Proposed Example, the pre-SL
For reference Proposed Example, a pre-Symbol
前記電流を印加する電流印加用探針対と、電圧を測定する電圧測定用探針対とは、これら探針の長手方向から見て、直線に並び、且つ、外側の2つの探針が電流印加用探針対であり、内側の2つの探針が電圧測定用探針対であっても良い。 The current application probe pair for applying the current and the voltage measurement probe pair for measuring the voltage are arranged in a straight line when viewed from the longitudinal direction of the probes, and the two outer probes are arranged in the current direction. An application probe pair, and the two inner probes may be voltage measurement probe pairs.
前記焼入れ品質として、前記検査対象物1の表面硬度および焼入れ深さの少なくとも一つを検査するものであっても良い。
前記品質測定手段12は、前記検査対象物1の表面硬度および焼入れ深さの少なくとも一つが、定められた値を下回るときに焼入れ異常と判定する判定部6aを有するものとしても良い。このように判定部6aを設けることで、品質異常の判定が容易に且つ客観的に行える。
As the quenching quality, at least one of the surface hardness and the quenching depth of the
The
この発明の焼入れ品質検査装置は、検査対象物の表面に接触させた電流印加用探針を介して電流を印加する電源と、この電源により電流が印加された前記検査対象物の表面における、前記電流印加用探針とは異なる2点に接触させて、この2点間の電圧を測定する一対の電圧測定用探針と、これら電圧測定用探針で測定された電圧から前記検査対象物の焼入れ品質を測定する品質測定手段とを備えた焼入れ品質検査装置において、
前記検査対象物に対して、前記電流印加用探針により電流を印加する位置を変化させる電流印加位置変化手段を備え、この電流印加位置変化手段は、前記電流印加用探針と前記電圧測定用探針とを一体としたヘッドを回転させるヘッド回転部を含み、前記品質測定手段は、前記ヘッド回転部で前記ヘッドを回転させることにより複数測定した前記検査対象物の表面における位置の電圧を平均する。このため、非破壊検査により検査対象物の焼入れ品質を精度良く検査することができる。
The quenching quality inspection apparatus according to the present invention includes a power source that applies a current via a current application probe brought into contact with the surface of the inspection object, and the surface of the inspection object to which a current is applied by the power source. A pair of voltage measurement probes for measuring the voltage between the two points in contact with two points different from the current application probe, and the voltage measured by these voltage measurement probes, In a quenching quality inspection apparatus equipped with a quality measuring means for measuring quenching quality,
Current application position changing means for changing a position to which current is applied to the inspection object by the current application probe , the current application position changing means includes the current application probe and the voltage measuring probe. A head rotating unit that rotates a head integrated with a probe; and the quality measuring means averages a voltage at a position on the surface of the inspection object measured by rotating the head by the head rotating unit. To do. For this reason, the quenching quality of the inspection object can be accurately inspected by nondestructive inspection.
この発明の第1の実施形態に係る焼入れ品質検査装置を図1ないし図4と共に説明する。以下の説明は、焼入れ品質検査方法についての説明をも含む。先ず、この実施形態に係る焼入れ品質検査装置の基本構造について説明する。
図1に示すように、この焼入れ品質検査方法は、検査対象物1の表面に、後述する直流電位差法または交流電位差法により電流を印加し、その検査対象物1の表面における、任意の2点間の電圧つまり電位差を測定することで、焼入れ品質を検査する。検査対象物1は、焼入れ処理が施された例えば軸受や軸受部品などの鋼材製品である。ただし、これらの鋼材製品に限定されるものではない。
A quenching quality inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The following description also includes a description of the quenching quality inspection method. First, the basic structure of the quenching quality inspection apparatus according to this embodiment will be described.
As shown in FIG. 1, this quenching quality inspection method applies current to the surface of the
検査対象物1に印加する電流は、後述する交流電流または直流電流である。電源2から一対の電流印加用探針3,3を介して検査対象物1に電流を印加する。この電流が印加された検査対象物1の表面における、前記電流印加用探針3とは異なる2点に、一対の電圧測定用探針4,4を接触させてこの2点間の電圧を、電圧測定部5で測定する。測定された電圧は、信号処理部6で処理され検査対象物1の焼入れ品質が評価され、表示装置7で評価結果が表示される。
The current applied to the
検査対象物1に一定の電流を印加したとき、電圧測定用探針4,4間の電圧は、検査対象物1の測定場所の導電率、透磁率により変化する。ここで電流が流れる深さδは、次式(1)で表される。
δ=√(1/πfσμ) …(1)
ただし、fは交流電流の周波数、σは導電率、μは透磁率である。
When a constant current is applied to the
δ = √ (1 / πfσμ) (1)
Where f is the frequency of the alternating current, σ is the conductivity, and μ is the magnetic permeability.
鋼材製品は焼入れにより鋼材の透磁率、導電率が変化する。一般に焼入れにより鋼材の硬度が高くなる程、透磁率、導電率共に小さくなる。この理由により、焼入れ硬度などの焼入れ品質によって前記2点間の電圧が変化する。したがって、前記2点間の電圧を測定することで、焼入れ品質に関する情報を得ることができる。 The permeability and conductivity of steel products change due to quenching of steel products. Generally, the higher the hardness of a steel material by quenching, the smaller the permeability and conductivity. For this reason, the voltage between the two points varies depending on the quenching quality such as quenching hardness. Therefore, information on the quenching quality can be obtained by measuring the voltage between the two points.
一方(1)式から、検査対象物1を流れる交流電流の侵入深さδは、交流電流の周波数fにより変化する。前記周波数fを変化させることで、交流電流の侵入深さδを変え得る。したがって、交流電流の侵入深さδを変えながら、2点間の電圧を測定することにより、焼入れ硬度について焼入れ深さ方向の分布を検査することができる。すなわち、例えば、検査対象物1に高周波交流電流を印加したときは、表皮効果により電流は、検査対象物1の表面近傍しか流れることができないので、検査対象物1の焼入れによる表面硬度などの表面情報を得ることができる。
検査対象物1に直流電流または低周波交流電流を印加したときは、電流が検査対象物1の内部まで流れるようになり、検査対象物1の焼入れによる焼入れ深さなどの内部情報を得ることができる。
On the other hand, from equation (1), the penetration depth δ of the alternating current flowing through the
When a direct current or a low-frequency alternating current is applied to the
直流電位差法は、検査対象物1に直流電流を印加する方法で、電圧測定用探針4,4間の電圧の大きさを測定する。
交流電位差法は、検査対象物1に交流電流を印加する方法で、電圧測定用探針4,4間の電圧の振幅と電流との位相差を測定する。
交流電位差法は、振幅と位相を測定することができ、さらに位相検波をすることで、ノイズの影響を受けにくくなるので、直流電位差法より精度が高い測定が可能である。
実際の測定では、焼入れ深さや表面硬度を変えた試料を測定して検量線をあらかじめ作成し、検査対象物1の測定結果と前記検量線とを比較することで、この検査対象物1の焼入れ深さや表面硬度を推定する。
The DC potential difference method is a method in which a DC current is applied to the
The AC potential difference method is a method in which an AC current is applied to the
In the AC potential difference method, amplitude and phase can be measured, and further, phase detection makes it less susceptible to noise, so measurement with higher accuracy than the DC potential difference method is possible.
In actual measurement, a calibration curve is prepared in advance by measuring a sample with different quenching depth and surface hardness, and the quenching of the
図1に示すように、この焼入れ品質検査装置は、ヘッド8と、測定装置9と、表示装置7と、電流印加位置変化手段10(図2)とを有する。ヘッド8は、一対の電流印加用深針3,3と一対の電圧測定用深針4,4とをハウジング11により一体としたものである。これらのうち電流印加用深針3,3は、検査対象物1の表面に接触させて測定装置9の電源2から前記検査対象物1に電流を印加する。電圧測定用深針4,4は、電流が印加された検査対象物1の表面における、前記電流印加用深針3,3とは異なる2点に接触させて、この2点間の電圧を測定するようになっている。
As shown in FIG. 1, this quenching quality inspection apparatus has a
図2に示すように、電流印加用深針対3,3と電圧測定用深針対4,4とは、所定距離離隔して平行に配置され、図3に示すように、これら深針3,4の長手方向から見て、直線に並び、且つ、外側の2つの深針が電流印加用深針対3,3で内側の2つの深針が電圧測定用深針対4,4となるように配置されている。図2に示すように、各電流印加用深針3、各電圧測定用深針4はそれぞれ棒状に形成され、各深針3,4の一端部がハウジング11の端面から突出して検査対象物1の表面に接触する。
As shown in FIG. 2, the current application deep needle pairs 3 and 3 and the voltage measurement deep needle pairs 4 and 4 are arranged in parallel at a predetermined distance, and as shown in FIG. , 4 are arranged in a straight line when viewed from the longitudinal direction, and the outer two deep needles are the current application deep needle pairs 3 and 3, and the inner two deep hands are the voltage measurement deep needle pairs 4 and 4. Are arranged as follows. As shown in FIG. 2, each current application
図1に示すように、各電流印加用深針3の他端部が、測定装置9の電源2に接続され、各電圧測定用深針4の他端部が、測定装置9における後述の電圧測定部5に接続されている。
測定装置9は、電源2と、品質測定手段12とを有する。
電源2として例えば、交流電源が用いられる。電源2は、例えば、周波数可変の発振回路と、この発振回路から出力された交流電流を増幅して検査対象物1に電流を印加する増幅回路とを含む。発振回路は、品質測定手段12の信号処理部6に接続され、この信号処理部6からの指示により周波数および振幅を変化させる。なお前記交流電源を用いて検査対象物1に直流電流を印加することも可能である。
As shown in FIG. 1, the other end of each current application
The measuring
For example, an AC power source is used as the
品質測定手段12は、一対の電圧測定用深針4,4間の電位差つまり電圧を測定する電圧測定部5と、この電圧測定部5で測定された電圧から検査対象物1の焼入れ品質を測定する信号処理部6とを有する。
信号処理部6は、前記焼入れ品質として、検査対象物1の表面硬度および焼入れ深さの少なくとも一つを、各品質項目毎に電圧値と、各品質項目毎の設定品質値との関係に照らして推定する。信号処理部6は、判定部6aと、周波数変更指令部6bと、後述する電流印加位置変更指令部6cとを有する。
The
The
判定部6aは、測定した検査対象物1の表面硬度および焼入れ深さの少なくとも一つが、定められた値(設定品質値)を下回るとき、焼入れ異常と判定する。判定部6aは、電圧測定部5で測定された電圧に比例する表面硬度等を算出する例えば電子回路等からなる。この判定部6aは、前記電圧に基づく信号と、表面硬度,焼入れ深さとの関係を演算式またはテーブル等で設定した図示外の関係設定手段を有し、測定した電圧に基づく信号を、前記関係設定手段に照らし検査対象物1の表面硬度または焼入れ深さを算出する。前記設定品質値は、種々の試験等により適宜設定される閾値であり、書換え可能な記憶媒体等に記憶される。
The
周波数変更指令部6bは、電源2の前記発振回路に交流信号の周波数および振幅を可変設定する指令を与える。周波数変更指令部6bにより、交流信号が例えば1kHz以上20kHz以下の高周波となるように電源2に指令を与えることで、検査対象物1の焼入れによる表面硬度などの表面情報を判定部6aで得ることが可能となる。周波数変更指令部6bにより、交流信号が例えば1Hz以上100Hz以下の低周波となるように電源2に指令を与えることで、検査対象物1の焼入れ深さなどの内部情報を判定部6aで得ることが可能となる。
なお周波数変更指令部6bは、例えば、周波数を変える変更幅、頻度、変更の繰り返し周期等の規則等が、目的とする焼入れ品質の種類や、検査対象物1の種類等に応じて複数種類設定されていて、適宜の入力により任意の規則が選択可能なものとしても良い。
The frequency
The frequency
測定装置9には、図示外の駆動回路を介して表示装置7が接続される。この表示装置7は、例えば、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、CRTディスプレイ、プリンタ等によって実現される。この表示装置7は、品質測定手段12の測定した焼入れ品質を表示する。
The
図2に示すように、電流印加位置変化手段10は、検査対象物1に対して、電流印加用探針3,3による印加する位置を変化させるものである。電流印加位置変化手段10は、前記ヘッド8をその回転軸心回りに回転させるヘッド回転部13と、例えばスリップリングやロータコネクタなどの端子14とを有する。ヘッド回転部13は例えばモータからなり、このヘッド回転部13の先端に、端子14を介してヘッド8が固着されている。したがって、電流印加位置変化手段10により、電流印加用探針3,3と電圧測定用探針4,4とは一体で回転自在となっている。
As shown in FIG. 2, the current application position changing means 10 changes the position applied by the current application probes 3, 3 with respect to the
ヘッド回転部13に、信号処理部6における電流印加位置変更指令部6c(図1)が接続され、この電流印加位置変更指令部6cは、ヘッド8をその回転軸心回りに定められた角度回転駆動させる回転指令を前記ヘッド8に与える。図4に示すように、電流印加位置変更指令部6cからの回転指令に基づき、検査対象物1に対しヘッド8を相対的に回転させ、検査対象物1の表面における複数位置の電圧を測定し得る。
A current application position change command unit 6c (FIG. 1) in the
図1、図2に示すように、信号処理部6における判定部6aは、電流印加位置変化手段10により複数測定した位置の電圧を平均する機能を有する。例えば、検査対象物1に対しヘッド8を対向させた任意の位置にて、一対の電圧測定用探針4,4で電圧を測定した後、検査対象物1に対するヘッド8の位置を変化させずに、同ヘッド8を検査対象物1の表面から離して、ヘッド回転部13によりヘッド8を決められた角度回転させる。その後、ヘッド8を再び検査対象物1の表面に接触させて一対の電圧測定用探針4,4で電圧を測定する。このようにヘッド8をその軸心回りに回転させつつ、各回転角度毎に電圧測定用探針4,4間に流れる電圧を測定し、これら測定値の平均値を判定部6aにて演算するようになっている。
As shown in FIGS. 1 and 2, the
作用効果について説明する。
検査対象物1の表面に電流印加用探針3,3を接触させ、電源2から電流印加用探針3,3を介して電流を流す。この状態において、検査対象物1の表面に接触させた一対の電圧測定用探針4,4により2点間の電圧つまり電位差を測定する。品質測定手段12は、測定された電圧から検査対象物1の焼入れ品質を測定する。
検査対象物1に一定の電流を印加したとき、電圧測定用探針4,4間の電圧は、測定対象となる位置の導電率、透磁率により変化する。
The effect will be described.
The current application probes 3 and 3 are brought into contact with the surface of the
When a constant current is applied to the
焼入れにより鋼材の透磁率、導電率が変化する。一般に焼入れにより鋼材の硬度が高くなる程、透磁率、導電率共に小さくなる。この理由により、焼入れ硬度などの焼入れ品質によって前記2点間の電圧が変化する。したがって、前記2点間の電圧を測定することで、焼入れ品質に関する情報を得ることができる。この場合に、電流印加位置変化手段10は、検査対象物1に対して、前記電流印加用探針3,3による電流を印加する位置を変化させる。品質測定手段12は、これら変化させた位置でそれぞれ測定した電圧に基づき、焼入れ品質に関する情報を得ることで、測定場所による導電率や透磁率のばらつきの影響を小さくすることができる。
The permeability and conductivity of the steel material change due to quenching. Generally, the higher the hardness of a steel material by quenching, the smaller the permeability and conductivity. For this reason, the voltage between the two points varies depending on the quenching quality such as quenching hardness. Therefore, information on the quenching quality can be obtained by measuring the voltage between the two points. In this case, the current application position changing means 10 changes the position to which the current is applied to the
品質測定手段12は、電流印加位置変化手段10により複数測定した位置の電圧を平均する。このように複数測定した位置での電圧の平均をとることで、測定場所による導電率や透磁率のばらつきの影響を小さくし、非破壊検査の検査精度を、簡易に向上させることができる。
電流印加位置変化手段10は、検査対象物1に対して、電圧測定用探針4,4による電圧を測定する位置を変化させる機能を有する。この場合、検査対象物1に対して、電圧測定用探針4,4を手動で変化させる必要なくモータからなるヘッド回転部13で駆動させることができるため、各測定場所での電圧を簡易に且つ確実に測定し得る。
The quality measuring means 12 averages the voltages at the positions measured by the current application position changing means 10. By taking the average of the voltages at a plurality of measured positions in this way, the influence of variation in conductivity and magnetic permeability depending on the measurement location can be reduced, and the inspection accuracy of nondestructive inspection can be easily improved.
The current application position changing means 10 has a function of changing the position at which the voltage is measured by the voltage measuring probes 4 and 4 with respect to the
電流印加位置変化手段10は、電流印加用探針3,3と電圧測定用探針4,4とを一体で回転自在としたため、電流印加用探針については、少なくとも一対の電流印加用探針3,3があれば足り、部品点数の低減を図れ、製造コストの低減を図れる。
前記電流印加位置変化手段10は、電流印加用探針3と電圧測定用探針4とを一体としたヘッド8を回転させるものとしたため、電流印加用探針3と電圧測定用探針4とを別々に取り扱う必要がなく、測定の作業性を高めることができる。
In the current application position changing means 10, the current application probes 3, 3 and the
Since the current application position changing means 10 rotates the
他の実施形態について説明する。
以下の説明においては、各形態で先行する形態で説明している事項に対応している部分には同一の参照符を付し、重複する説明を略する。構成の一部のみを説明している場合、構成の他の部分は、特に記載のない限り先行して説明している形態と同様とする。同一の構成から同一の作用効果を奏する。実施の各形態で具体的に説明している部分の組合せばかりではなく、特に組合せに支障が生じなければ、実施の形態同士を部分的に組合せることも可能である。
Another embodiment will be described.
In the following description, the same reference numerals are given to the portions corresponding to the matters described in the preceding forms in each embodiment, and the overlapping description is omitted. When only a part of the configuration is described, the other parts of the configuration are the same as those described in advance unless otherwise specified. The same effect is obtained from the same configuration. Not only the combination of the parts specifically described in each embodiment, but also the embodiments can be partially combined as long as the combination does not hinder.
図5は、参考提案例に係る焼入れ品質検査装置の要部の平面図である。図6は、同焼入れ品質検査装置の概念構成を示すブロック図である。図7は、同焼入れ品質検査装置のヘッド8と検査対象物1との位置関係を示す図である。図5に示すように、電流印加用探針3を複数対設け、電圧測定用探針4を複数対設け、図6に示すように、電流印加位置変化手段10Aは、電流を印加する電流印加用探針対3,3を切替えると共に、電圧を測定する電圧測定用探針対4,4を切替えるものであっても良い。この例では、前述のヘッド回転部が設けられていない。
FIG. 5 is a plan view of the main part of the quenching quality inspection apparatus according to the reference proposal example . FIG. 6 is a block diagram showing a conceptual configuration of the quenching quality inspection apparatus. FIG. 7 is a diagram showing a positional relationship between the
図5に示すように、ヘッド8には、電流印加用深針3と電圧測定用深針4とが、円周上に複数対(この例ではそれぞれ四対)設けられている。各対の電流印加用深針3,3間の中心と、各対の電圧測定用深針4,4の中心とが、ヘッド8の中心に一致するように配置されている。ヘッド8の端面における外周側に、電流印加用深針3が円周方向一定間隔(この例では45度間隔)おきに配置され、同ヘッド8の端面における内周側でこれら電流印加用深針3と同位相の位置に電圧測定用深針4が円周方向一定間隔おきに配置される。
As shown in FIG. 5, the
電流印加位置変化手段10Aは、対角となる電流印加用深針3,3に電流を流し、これらの電流印加用深針3,3と同位相にある対角の電圧測定用深針4,4間の電圧を測定し得るように探針対を順次に切替える。この電流印加位置変化手段10Aは、電流を流す電流印加用深針3,3、電圧を測定する電圧測定用深針4,4をそれぞれ切替えるスイッチ15,16からなる。電流印加位置変更指令部6c(図1)は、電流を流すべき一対の電流印加用深針3,3に電流を流すように、スイッチ15に切替指令を与える。これと共に、電流印加位置変更指令部6c(図1)は、電圧を測定すべき一対の電圧測定用深針4,4を測定可能に、スイッチ16に切替指令を与える。
The current application position changing means 10A causes a current to flow through the diagonal current application
この構成によると、複数対の電流印加用探針3,3のうち、所定の電流印加用探針3,3間に別々に順次電流を印加することで、検査対象物1に対して、電圧測定用探針4,4による電圧を測定する位置を変化させ得る。品質測定手段12は、電流印加位置変化手段10Aにより複数測定した位置の電圧を平均する。このように複数測定した位置での電圧の平均をとることで、測定場所による導電率や透磁率のばらつきの影響を小さくし、非破壊検査の検査精度を、簡易に向上させることができる。この例では、電圧の測定位置を変化させるとき、ヘッド8を検査対象物1の表面から都度離す必要がなく、第1の実施形態よりもより簡便に各測定場所での電圧を測定し得る。
According to this configuration, a voltage is applied to the
図8は、前記焼入れ品質検査装置を使用して行う非破壊検査の一例を示す。ここでは、軸受の内輪21の転走面21aの焼入れ品質を検査する。回転軸22の小径部に内輪21が嵌合され、この回転軸22は図示外の駆動源により軸線L1回りに回転可能に構成されている。ヘッド進退駆動源23の先端部に、ヘッ8を固定する固定部材22が設けられ、固定部材22に固定されたヘッド8がヘッド進退駆動源23の駆動により軸線L1方向に平行に移動可能に構成される。ヘッド進退駆動源23として、流体圧シリンダや、モータとボールねじ機構から成るもの等を適用し得る。
FIG. 8 shows an example of a nondestructive inspection performed using the quenching quality inspection apparatus. Here, the quenching quality of the rolling
固定部材22がヘッド8を適当な押し付け力で転走面21aに押し付ける。回転軸L1を回転させヘッド8を移動させることで、内輪21の転走面21aの全周面にヘッド8を摺動させて周上全ての箇所または数箇所の焼入れ品質を検査し得る。この場合、表示装置7(図1、図6)によりオンライン上で焼入れ品質を全数検査できるので、品質保証能力を高めることができる。なお、ヘッド進退駆動源23、固定部材22等を設けることなくヘッド8を例えば手動により移動させて、転走面21a等の焼入れ品質を検査しても良い。
The fixing
1…検査対象物
2…電源
3…電流印加用深針
4…電圧測定用深針
8…ヘッド
10,10A…電流印加位置変化手段
12…品質測定手段
13…ヘッド回転部
DESCRIPTION OF
Claims (4)
この電源により電流が印加された前記検査対象物の表面における、前記電流印加用探針とは異なる2点に接触させて、この2点間の電圧を測定する一対の電圧測定用探針と、
これら電圧測定用探針で測定された電圧から前記検査対象物の焼入れ品質を測定する品質測定手段と、
を備えた焼入れ品質検査装置において、
前記検査対象物に対して、前記電流印加用探針により電流を印加する位置を変化させる電流印加位置変化手段を備え、この電流印加位置変化手段は、前記電流印加用探針と前記電圧測定用探針とを一体としたヘッドを回転させるヘッド回転部を含み、前記品質測定手段は、前記ヘッド回転部で前記ヘッドを回転させることにより複数測定した前記検査対象物の表面における位置の電圧を平均することを特徴とする焼入れ品質検査装置。 A power supply for applying a current via a current application probe brought into contact with the surface of the inspection object;
A pair of voltage measuring probes for contacting the two points different from the current applying probe on the surface of the inspection object to which a current is applied by the power source and measuring a voltage between the two points;
Quality measuring means for measuring the quenching quality of the inspection object from the voltage measured by these voltage measuring probes,
In quenching quality inspection equipment with
Current application position changing means for changing a position to which current is applied to the inspection object by the current application probe , the current application position changing means includes the current application probe and the voltage measuring probe. A head rotating unit that rotates a head integrated with a probe; and the quality measuring means averages a voltage at a position on the surface of the inspection object measured by rotating the head by the head rotating unit. hardening quality inspection apparatus characterized that you.
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