JP6050779B2 - 試験システム及び密着性試験方法 - Google Patents
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Description
のロゴタイプ等が製品表面から簡単に剥がれてしまうと出所がわからなくなるため、製品
表面とロゴタイプ等との密着度が規定以上の製品を出荷するようにしている。この密着度
を測定するために密着性試験が行われている。密着性試験は、製品表面に設けられたロゴ
タイプ等に傷を形成し、接着テープを貼り付け、剥離することにより、製品表面に設けら
れたロゴタイプ等の剥がれ率を検査するものである。
することである。
移動機構と、記被検査物を撮影して第1の画像を得る第1の撮影装置と、印字体に傷を形
成するカット装置と印字体に所定の押圧力でテープを接着するプラテンローラと、
貼り付けられたテープを被検査物の面に対し所定の角度を有して剥がすように設けられた
ガイドローラと、テープが剥がされた後に被検査物を撮影して第2の画像を得る第2の撮
影装置と、第1の画像と第2の画像を比較して良否を判断する印字確認部と、上記を移動
機構、第1の撮影装置、第2の撮影装置、カット装置、プラテンローラ及びガイドローラ
、を制御する制御装置とを備える。
様の構成要素については同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
第1の実施形態の図1を参照して説明する。第1の実施形態の試験システムの例を示し
(a)は横方向から見た模式図。(b)は上方向から見た模式図。
被検査物1は例えばメモリカードやUSBメモリなどである。被検査物1は第1の面1aと
第1の面1aとは反対側の第2の面1bを有する。以後、メモリカード1を例に説明する。
メモリカード1の第1の面1aには例えば文字「あ」が印字されている。印字体としての
文字「あ」について、本実施形態の試験システムは密着性試験を行う。本実施形態では、
印字体を文字として説明するが、例えばロゴタイプや絵等、被検査物1の表面に設けられ
ていれば限定しない。また本実施形態で説明する印字体の形成方法として、例えば吹き付
けや塗装、印刷などの手段に限られず、被検査物1に設けられていればその方法は問わな
い。
本実施形態の試験システムは、移動機構としての移動部5、第1の撮影装置6a、第2
の撮影装置6b、カット装置7、センサ装置8、第1のローラ9、接着テープ11、ガイ
ドローラ12a、12b、12c、プラテンローラ13、第1の部材14、第2のローラ1
5、印字認識部16、ディスプレイ17、演算装置A及び、制御装置C及び記憶装置M等を
備えている。
装置Cがメモリカード1の面積に応じて窪みを調整する。また、台2には、表面から裏面
まで貫通する孔を有する。台2の裏側には、吸引装置3及び駆動装置4が設けられる。
に動作指令を発すると、吸引装置3は台2の裏面側から孔を介してメモリカード1を吸着
する。その結果メモリカード1は台2に固定される。
軸が回転すると、車輪Wが軸と連動して回転し、移動部5が動く。移動部5が各工程に移
動するために例えばレールLが設けられており、車輪WはこのレールLに上を回転する。
れているか確認する機能を有する。ここでX方向とは移動部5が進む方向であり、Y方向は
X方向と直交する方向で、図1(a)の図面に対して奥行き方向である。Z方向はX方向及び
Y方向に対して垂直方向である。
、カット装置7は第1の面1aに印字された「あ」に傷を形成する。この場合に限定され
ることなく、多重刃で構成されていてもよい。多重刃は、例えば1mm又は2mm間隔で、6枚
刃から構成される。またメモリカード1の面積の大きさに応じて刃を変更することが可能
である。カット装置7がメモリカード1に傷を形成する際、メモリカード1が位置した場
所に応じて、カット装置7の位置を変更することができる。
る部分に向けて常時レーザを出力する。メモリカード1が所定位置に到達するとレーザが
遮断され、センサ装置8はメモリカード1が所定位置に到達したことを検知する。センサ
装置8は、移動部5が所定位置に到達したことを制御装置Cに通知をする。なお、センサ
装置8は、例えば位置センサ等であってもよい。
ている。第1のローラ9には、ロール状の接着テープ11が取り付けられている。制御装
置Cがモータに指令を出すと、駆動軸10aは回転する。駆動軸10aが回転することによ
り、第1のローラ9が回転する。第1のローラ9の回転に伴い、接着テープ11が送り出
される。
ガイドローラ12bを介して剥がした接着テープ11を回収する。
している。制御装置Cがモータに指令を出すと、駆動軸10bは回転する。駆動軸10bが
回転することにより、第2のローラ15が回転する。第2のローラ15の回転に伴い、使
用後の接着テープ11を回収する。接着テープ11がメモリカード1に接着している場合
、接着テープ11とメモリカード1の移動速度が同一となるように駆動装置4等が制御装
置Cにより制御される。
。メモリカード1に貼る接着テープ11の面は、メモリカード1の全面を覆えればよい。
着テープ11が緩んだ状態では、接着テープ11を第1の面1aに均一に貼り付けること
ができない。そのため、接着テープ11を第1の面1aに貼り付ける際に、接着テープ1
1が張った状態である必要である。この状態で、プラテンローラ13(後述)がメモリカ
ード1上を転がることにより、接着テープ11がメモリカード1に貼り付く。また第1の
面1aから接着テープ11を剥がす際、接着テープ11が緩んだ状態では、接着テープ1
1を均一に剥がすことができない。そこで、制御装置Cは、ガイドローラ12a、12b、
12cが接着テープ11の張りを保つ角度になるように調整する。制御装置Cが、密着性試
験の規格で定められた接着テープ11を剥離する角度にガイドローラcを調整することが
できる。
1上を接着テープ11を介して回転し、接着テープ11とメモリ1とを貼り付ける。制御
装置Cの指令により、プラテンローラ13は、メモリカード1の厚さに合わせてZ方向に動
く。これにより、メモリカード1に厚みがあっても接着テープ11がメモリカード1全面
に均一に貼り付くことができる。
ンと同等の形状であってもよい。接着テープ11は、プラテンローラ13が接着テープ1
1を介して第1の面1aを回転することによりメモリカード1に貼り付くが、第1の面1a
が荒れている場合など、接着テープ11とメモリカード1の密着性は十分ではない場合が
ある。第1の部材14が、第1の面上1aを接着テープ11を介して押しながら接着テー
プ11とメモリカード1とが均一に貼り付くように往復運動することができる。第1の部
材14が、例えばロボットアームのような場合は、組み込まれたプログラムにより、接着
テープ11を介してメモリカード1上を任意に動作することが可能である。これにより、
接着テープ11と第1の面1aとの密着性を均一に高めることができる。
タル変換したデータを保管する機能を有する。
次に図3に試験システムの動作を示す。図4〜図9に試験方法のそれぞれの工程図を示
す。
図4に示すように、まず、制御装置Cは吸引装置3に始動するよう指令を発する。吸引
装置3はメモリカード1を吸引して、吸引力でメモリカード1を台2に固定する。この状
態で、制御装置Cは第1の撮影装置6aに撮影指令を発し、第1の撮影装置6aはメモリカ
ード1の第1の面1aを撮影する。演算装置Aは撮影画像をデータに変換し記憶装置Mで保
管する。
動部5は、メモリカード1を台2に固定した状態でX方向に搬送する。
、メモリカード1が所定位置に到達したことを制御装置Cに通知する。制御装置Cは駆動装
置4aに指令を出し、移動部5を止める。
図5に示すように、制御装置Cがカット装置7に動作指令を発し、カット装置7は第1
の面1aの文字「あ」に傷を形成する。カット装置7は、密着性試験の規格に応じた傷を
第1の面1aに例えば縦方向と、縦方向に直交する方向に複数入れる。このとき、メモリ
カード1が台2からずれた位置にあっても、カット装置7が、メモリカード1の位置して
いる位置及び向きに応じてメモリカード1に傷を形成する。また、例えばメモリカード1
の傷を形成する面が小さい場合、その面積に合わせて刃を入れ替え対応することができる
。
のを止めさせ、元の位置に戻す。
図6に示すように、制御装置Cは、第1のローラ9の駆動軸10a及び10b、のモータ
に動作指令を発する。モータが発動することにより、駆動軸10a及び駆動軸10bが回転
し第1のローラ9及び第2のローラ15が回転する。第1のローラ9が回転することによ
り接着テープ11を送り出す。第2のローラ15が回転することにより試験に用いた接着
テープ11を巻き取る。
よりガイドローラ12a、12b、は送り出された接着テープ11の張りを保つように動く
。
で到達する。プラテンローラ13は接着テープ11を介して第1の面1a上を回転する。
これにより接着テープ11と第1の面1aは貼り付く。プラテンローラ13は、メモリカ
ード1の厚さに合わせてZ方向に動く。これにより、ある程度厚みのあるメモリカードに
おいても対応することができる。
図7及び図8に示すように、制御装置Cは第1の部材14に動作指令を発し、第1の部
材14を第1の面1aに下す。図8は、第1の部材の動作を示す平面図である。接着テー
プ11とメモリカード1が均一に密着させるため、接着テープ11を介して第1の面1a
上を押しながらメモリカード1の面をX方向、Y方向の全面に均一に往復運動する。このた
め、例えば第1の面1aが荒れている場合などでも、接着テープ11と第1の面1aとの密
着性を高める。
制御装置Cは、第1の部材14の所定往復運動が終了した後、第1の部材14に停止指
令を発し、第1の部材14の往復運動を止める。ガイドローラ12cは、使用後の接着テ
ープ11を第1の面1aから剥離する角度θを調整する。この角度θは、密着性試験おい
て、60度と規定されている。このため、制御装置Cが第1の面1aを基準としてガイドロ
ーラ12cに導かれる角度が60度となるようにガイドローラ12cに動作指令を発する。
ガイドローラ12bは接着テープ11をメモリカード1の表面から剥がす角度の作用点で
ある。ガイドローラ12bの半径はガイドローラ12bに対して小さい。半径が小さいこと
により、接着テープ11をメモリカード1から剥離する時のガイドローラ12bの曲率か
ら受ける作用を低減することができる。このように、ガイドローラ12b及びガイドロー
ラ12cにより、接着テープ11をメモリカード1から剥がす角度を規格内に統一して剥
がすことができる。その後、接着テープ11は、駆動軸10bが回転し第2のローラ15
に回収される。
制御装置Cは、移動部5が第1の面の文字1a「あ」を撮影する所定位置に到達したとき
、移動部5に停止指令を発し、移動部5を止める。
6bは、接着テープ11を着脱した第1の面1aの文字「あ」の撮影を行う。なお、第1の
撮影装置6a及び第2の撮影装置6bが、それぞれの工程に応じて用いられてもよいし、一
つの撮影装置が同一の機能を有していてもよい。
印字認識部16において、記憶装置Mに保管した撮影画像の画像処理を行う。その際、
密着性試験前に撮影した位置と、密着性試験後の位置の位置合わせを行うための演算装置
Aで調整を行う。その後、印字認識部16で、記憶装置Mに保管した密着性試験前の撮影画
像と比較し、印字結果判定を行う。印字結果判定は、例えばマークの塗料が密着性試験前
と比べ何%残っているか判定する。
印字結果判定後、データが定められた基準を超えた場合、例えばディスプレイ17に正
常である旨を通知し終了する。一方、比較したデータがある基準を満たさない場合は、異
常である通知を例えばディスプレイ17に通知する。
、規格に応じた傷をメモリカード1に入れることができる。カット装置7が自動でメモリ
カード1表面に傷を形成することができるので、例えばメモリカード1が台2からずれた
位置にあったとしても、規格通りに傷をいれることができる。また、手作業では傷を入れ
ることが困難な小さいメモリカードにも対応できる為、より精度の高い密着性試験を行え
る。
着テープ11を介してメモリカード1全面を覆うように転がる。またプラテンローラ13
がメモリカード13の厚さに応じて調整可能である。このため、ある程度厚みのあるメモ
リカード1にも接着テープ11を均一に貼り付けることができる。
れている。そのため、制御装置Cがガードローラの位置を接着テープ11を剥がす角度を
60度に調整することで、接着テープ11を剥がす角度を60度の規格内に統一して剥が
すことができる。
テープ11を貼り付け、同一条件で接着テープ11を剥がすことができる。このため、文
字に傷を形成する前の画像データと接着テープ11を剥がした後の文字の画像の比較を一
定条件のもとで行うことができる。これにより、従来手作業で行っていた工程を自動化す
ることで、手作業による力加減や経験値に応じた能力などの人的影響を低減させることが
できる。また、人的影響を低減させることにより精度の高い密着性試験を行うことができ
るため、試験の信頼性が向上する。さらに試験システムにより一定の速さで作業を行うこ
とができるため作業効率向上する効果が期待できる。
第1の実施形態の変形例について説明する。
8であることである。第1の実施形態の変形例の図10を参照して説明する。図10は、
第1の実施形態変形例の試験システムにおいて、各工程毎に示す各装置の模式的側面図で
ある。
図10に示すように、搬送路18は、吸引装置3及び駆動軸10c、移動機構面、ロー
ル部材19を有する。搬送路18は例えばベルトコンベアである。移動機構面はロール部
材を介して繋がっている。このロール部材19は駆動軸10cに固定され、駆動軸10cは
モータ等の回転軸に接続している。制御装置Cがモータに指令を出すと、駆動軸10cは回
転する。駆動軸10cが回転することにより、ローる部材19が回転する。ロール部材1
9の回転に伴い、搬送路18が動く。搬送路18の長さを、Y方向に伸ばし面積を大きく
することにより、メモリカード1を搬送路18に多く乗せて搬送することが可能である。
これに伴い、第1のローラ9及び第2のローラ15の長さをY方向に伸ばすことで、接着
テープ11を一度に複数のメモリカード1に張り付けることが可能である。又、第1のロ
ーラ9及び第2のローラ15の数を、メモリカード1をY方向の搬送路18上に乗せた数
と同じ数だけ設けることも可能である。
うにXY方向に自由に動作する物であってもよい。
に搬送路18を伸ばすことにより、メモリカード1の試験を行える数が増えるため作業効
率の更に向上する効果が期待できる。
のであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その
他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の趣旨を逸脱しない範囲で、種々の
省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や
要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる
。
1a・・・第1の面
1b・・・第2の面
2・・・台
3・・・吸引装置
4・・・駆動装置
5・・・移動部
6a・・・第1の撮影装置
6b・・・第2の撮影装置
7・・・カット装置
8・・・センサ装置
9・・・第1のローラ
10a、10b、10c、・・・駆動軸
11・・・接着テープ
12a、12b、12c・・・ガイドローラ
13・・・プラテンローラ
14・・・第1の部材
15・・・第2のローラ
16・・・印字認識部
17・・・ディスプレイ
18・・・移動路
19・・・ロール部材
A・・・演算装置
C・・・制御装置
L・・・レール
M・・・記憶装置
W・・・車輪
Claims (7)
- 印字体を有する被検査物を配置するとともに移動させる移動機構と、
前記被検査物を撮影して第1の画像を得る第1の撮影装置と、
前記印字体に傷を形成するカット装置と
前記印字体に所定の押圧力でテープを接着するプラテンローラと、
貼り付けられた前記テープを前記被検査物の面に対し所定の角度を有して剥がすように
設けられたガイドローラと、
前記テープが剥がされた後に前記被検査物を撮影して第2の画像を得る第2の撮影装置
と、
前記第1の画像と前記第2の画像を比較して良否を判断する印字確認部と、
上記を前記移動機構、前記第1の撮影装置、前記第2の撮影装置、前記カット装置、前記
プラテンローラ及びガイドローラ、を制御する制御装置と
を備えた試験システム。 - 前記カット装置は、前記被検査物の位置に応じて刃の位置を調整でき、更に複数の刃を
備えている
請求項1に記載の試験システム。 - 前記テープを介して前記被検査物上を任意に移動し、前記テープと前記被検査物とを押
圧する第1の部材と、
をさらに備える請求項1又は2に記載の試験システム。 - 前記移動機構は、ベルトコンベアであること
を特徴とする請求項1乃至3のいずれか一に記載の試験システム。 - 前記テープが巻かれた第1のローラと
前記テープを巻き取る第2のローラと、
をさらに備える請求項1乃至4のいずれか一に記載の試験システム。 - 前記第1の撮影装置は前記第2の撮影装置を兼ねることができる
請求項1乃至5いずれか一に記載の試験システム。 - 印字体を有する被検査物を移動させる工程と、
前記被検査物を撮影して第1の画像を得る工程と、
前記印字体に傷を形成する工程と、
前記印字体に所定の押圧力でテープを接着する工程と、
前記被検査物に貼り付けられた前記テープを前記被検査物の面に対し所定の角度を有し
て剥がす工程と、
前記テープが剥がされた後に前記被検査物を撮影して第2の画像を得る工程と、
前記第1の画像と前記第2の画像を比較して良否を判断する工程と、
を備えた密着性試験方法。
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