JP5932310B2 - 撮像装置及びその制御方法、並びにプログラム - Google Patents
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Description
図1は、第1の実施の形態に係る撮像装置202の概略構成を示す図である。
ΔEv : 外光(定常光)輝度値と適正輝度値の差
YDL :外光(定常光)輝度値
YFL :プリ発光時の輝度値
Yref : 基準となる適正輝度値
上記式において、YFLはLED発光部135がプリ発光で発した光と外光(定常光)が重なることによって測光された輝度値である。適正輝度値に対する純粋なストロボ光のみの光量を求めるため、外光(定常光)のみから測光した輝度値を、LED発光部135がプリ発光した際に測光した輝度値から差し引く。
…(式2)
AvDG = 2( ΔAv + ΔDG )
AvTvDG = 2( ΔAv + ΔTv + ΔDG )
ΔAv = EFPreAv − EFHAv
ΔTv = EFPreTv − EFHTv
ΔDG = − ( EFPreDG − EFHDG )
Ka : 露出補正係数
Kb : 感度補正係数
EFPreAv : プリ発光測光用のAv値
EFHAv : 本発光測光用のAv値
EFPreTv : プリ発光測光用のTv値
EFHTv : 本発光測光用のTv値
EFPreDG : プリ発光用のDeltaGain
EFHDG : 本発光用のDeltaGain
上記式1、または式2のいずれかにより、本発光量の演算を行う。
f = Σ a i ・ sin t i…(式4)
上記和は、i=1〜mまでの和である
ここで、複合波である振れ信号は、約1Hz〜10Hzの低域における振幅が最も大きくなる傾向がある事が広く知られており、本実施の形態においては複合波である振れ信号を、図3に示されるように、最大振幅を包含する1Hzの単周波に近似して考える。
また、図4(A)と図4(C)において、レンズから撮像素子までの焦点距離をD0とすると、上述した撮像素子上で仮想的な点光源から放たれた光がもっとも強く収束する点qとrは、pを中心とする同一円周上にある。そして、その時の半径ΔDは、式6となる。
このΔDは、撮像装置202が近似した1Hzの単周波で振れている場合の、仮想的な点光源から放たれた光がもっとも強く収束する点が撮像素子上に結像する錯乱円の半径である。
上記ステップS108で演算するのは、撮像画像のブレが所定の範囲内に収まる時の最長時間であるから、上述したnD1とΔDが等しくなる時の時間を演算すればいい。よって、式(式5)、(式6)、(式7)より時間について解くと、tは、式8で示される。
ここで求めた時間がLED発光部135を本発光制御する際の最長発光時間となる。この最長発光時間で発光制御すれば、適正輝度を得るために必要な光量となる発光電流を最小にすることができる。
図7は、第2の実施の形態に係る撮像装置202の概略構成を示す図である。
図10は、第3の実施の形態に係る撮像装置202の概略構成を示す図である。
図12は、第4の実施の形態に係る撮像装置202の概略構成を示す図である。
Vm :LEDのAnodeに印加されるメインキャパシタからの電圧値
Vc : メインキャパシタの充電完了電圧値
RESR: メインキャパシタの等価直列抵抗値
R : 発光経路の配線抵抗値
ILED: 発光電流値
Vr : 電流制御部で降下する電圧値
Cm : メインキャパシタの容量値
t : 発光時間
また、発光時には、式10を満足する必要がある。
VF:LEDの順方向電圧
具体例として、充電電圧が5.0V、配線抵抗値が50mΩ、メインキャパシタのESRが75mΩ、メインキャパシタの容量が0.4F、電流制御部で降下する電圧が150mV、LEDが5灯並列接続の場合について考える。そのような条件において発光電流1Aで2msのプリ発光時間では、発光後のメインキャパシタの電圧が4.975Vとなる。その後、本発光量を演算した結果が、プリ発光量の40倍の発光量だとすると、本発光終了前のVmが3.075Vとなる。仮に、最低発光電流が0.5Aで、その時の順方向電圧値が3.6Vだったとすると、本発光制御中にVmが最低順方向電圧値を下回ってしまうため、所望の発光量が得られないことになる。
第5の実施の形態に係る撮像装置202の概略構成は第4の実施の形態に係る撮像装置と同様であるため説明は省略する。
本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)をネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(又はCPUやMPU等)がプログラムコードを読み出して実行する処理である。この場合、そのプログラム、及び該プログラムを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
104 CPU
105 ROM
107 撮像素子
109 撮像レンズ
111 シフトレンズ
113 シフトレンズ駆動制御部
115 振れ検出部
117 動きベクトル検出部
138 昇圧部
200 演算部
204 A/D部
206 被写体動き量予測部
Claims (6)
- 被写体に対してLEDを光源とする発光手段からの光を照射させて撮像画像の撮影を行う撮像装置であって、
前記撮像装置の振れの度合いを検出する検出手段と、
前記撮像装置の振れによる前記撮像画像への影響を光学的に補正する補正手段と、
前記発光手段が発光する発光時間を演算する第1演算手段と、
前記第1演算手段により演算された発光時間に基づいて前記発光手段に供給する電流の電流値を演算する第2演算手段と、
前記第1演算手段により演算された発光時間、及び前記第2演算手段により演算された電流値により、前記発光手段を制御する制御手段とを備え、
前記第1演算手段は、前記検出手段により検出された振れの度合い及び前記補正手段によって補正された補正量に基づいて前記発光手段が発光する発光時間を演算することを特徴とする撮像装置。 - 前記第1演算手段は、前記補正手段によって補正しきれない振れ残りの度合いに基づいて前記発光手段が発光する発光時間を演算することを特徴とする請求項1記載の撮像装置。
- 前記被写体に対して発光する光量が第1の閾値以上の場合、前記発光手段に印加する電圧を昇圧するための昇圧制御を行い、前記被写体に対して発光する光量が前記第1の閾値未満の場合、前記発光手段に印加する電圧を昇圧するための昇圧制御を行わないことを特徴とする請求項1又は2記載の撮像装置。
- 前記第2演算手段により演算された電流値が第2の閾値以上の場合、あるいは、前記第2演算手段により演算された電流値が前記第2の閾値未満であって前記被写体に対して発光する光量が前記第1の閾値以上の場合、前記発光手段に印加する電圧を昇圧するための昇圧制御を行い、前記被写体に対して発光する光量が前記第1の閾値未満の場合、前記発光手段に印加する電圧を昇圧するための昇圧制御を行わないことを特徴とする請求項3記載の撮像装置。
- 被写体に対してLEDを光源とする発光手段からの光を照射させて撮像画像の撮影を行う撮像装置の制御方法であって、
前記撮像装置の振れの度合いを検出する検出ステップと、
前記撮像装置の振れによる前記撮像画像への影響を光学的に補正する補正ステップと、
前記発光手段が発光する発光時間を演算する第1演算ステップと、
前記第1演算ステップにより演算された発光時間に基づいて前記発光手段に供給する電流の電流値を演算する第2演算ステップと、
前記第1演算ステップにより演算された発光時間、及び前記第2演算ステップにより演算された電流値により、前記発光手段を制御する制御ステップとを備え、
前記第1演算ステップは、前記検出ステップで検出された振れの度合い及び前記補正ステップで補正された補正量に基づいて前記発光手段が発光する発光時間を演算することを特徴とする撮像装置の制御方法。 - 被写体に対してLEDを光源とする発光手段からの光を照射させて撮像画像の撮影を行う撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記撮像装置の制御方法は、
前記撮像装置の振れの度合いを検出する検出ステップと、
前記撮像装置の振れによる前記撮像画像への影響を光学的に補正する補正ステップと、
前記発光手段が発光する発光時間を演算する第1演算ステップと、
前記第1演算ステップにより演算された発光時間に基づいて前記発光手段に供給する電流の電流値を演算する第2演算ステップと、
前記第1演算ステップにより演算された発光時間、及び前記第2演算ステップにより演算された電流値により、前記発光手段を制御する制御ステップとを備え、
前記第1演算ステップは、前記検出ステップで検出された振れの度合い及び前記補正ステップで補正された補正量に基づいて前記発光手段が発光する発光時間を演算することを特徴とするプログラム。
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